JP2770766B2 - Atm導通特性試験装置および方法 - Google Patents
Atm導通特性試験装置および方法Info
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Description
置および方法に関し、特に擬似ランダムパタンを格納し
た導通特性試験用OAMセルを用いて仮想的に設定され
たバーチャルパスまたはバーチャルチャネルの導通特性
を試験するATM導通特性試験装置および方法に関する
ものである。
ransfer Mode:非同期転送モード)に基づいてATMセ
ル(以下、セルという)と呼ばれる固定長パケットによ
り通信を行うATM通信システムでは、2点間に設定し
た仮想的なパス(以下、VP:Virtual Pathという)お
よびチャネル(以下、VC:Virtual Channel という)
を介してデータ通信を行うものとなっている。従来、こ
のようなVPおよびVCの導通特性を試験する場合、試
験用OAM(Operation Administration Monitoring )
セルを試験対象となるVPおよびVCを介して受信し、
その正常性に基づいて導通特性を試験するものとなって
いた(例えば、特開平5−244196号公報など)。
示すブロック図であり、同図において、600は試験用
OAMセルに格納され送出順序を示すシーケンス番号を
検査するシーケンス番号検査部、605はシーケンス番
号検査部600で検出された異常セルをカウントする異
常セルカウンタ、610は試験用OAMセルに格納され
ている擬似ランダムパタン(Pseudo random pattern )
を検査する擬似ランダムパタン検査部である。
600の検査対象OAMセル抽出回路601に入力さ
れ、そのセルのヘッダ情報に基づいて検査対象となる試
験用OAMセルのみが抽出される。ここで抽出された検
査対象OAMセルはシーケンス番号抽出回路602に入
力されてシーケンス番号が抽出され、シーケンス番号照
合回路604に入力される。シーケンス番号カウンタ6
03はシーケンス番号を逐次カウントすることにより次
に受信すべきシーケンス番号を出力しており、シーケン
ス番号照合回路604では、受信した検査対象OAMセ
ルから抽出されたシーケンス番号と次に受信すべきシー
ケンス番号とが比較される。
場合には、受信されたOAMセルに異常が発生している
と判断され、異常セルカウンタ605でカウントされ
る。一方、受信されたセルは、擬似ランダムパタン検査
部610の擬似ランダムパタン検出回路611および比
較回路612にも入力される。擬似ランダムパタン検出
回路611では、シーケンス番号検査部600によりセ
ル受信順序が正常であると判断された場合に受信セルか
ら擬似ランダムパタンが検出される。
は、擬似ランダムパタンの同期外れ状態時には受信検出
された擬似ランダムパタンと予め取り込んでおいて擬似
ランダムパタンから生成されたパタンとの一致を所定ビ
ット数にわたって確認することにより擬似ランダムパタ
ンの同期が確認されその同期状態が出力される。また、
擬似ランダムパタンの同期状態時には、その巡回特性に
基づいて、直前に検出された擬似ランダムパタンから次
に受信すべき擬似ランダムパタンが生成される。
ルから検出された擬似ランダムパタンと次に受信すべき
擬似ランダムパタンとが比較される。比較の結果、両擬
似ランダムパタンの各ビットが相違する場合には、その
ビットをエラービットとしてエラービットカウンタ61
4によりカウントされてエラービット数として出力さ
れ、これら異常セル数およびエラービット数が導通特性
試験の結果として出力されるものとなっていた。
な従来のATM導通特性試験装置および方法では、受信
セルに対して比較的ビット数の多っい擬似ランダムパタ
ンの検査を逐次行うものとなっているため、次のセルが
入力されるまでに検査を終了しておく必要があり、高速
のATM通信ではセルのバースト性を予測して大規模容
量のメモリを受信セルバッファとして設け、処理遅れを
補う必要があった。また、受信セルが連続的に到着した
場合には装置の処理速度が間に合わない可能性がある。
このような場合には1セル内で処理結果が出力されず、
次の受信セルに対する処理の選択、すなわち同期引き込
み処理あるいは同期後の擬似ランダムパタン検査処理の
いずれを実施させるかという選択が遅れ正常動作しない
という問題点があった。
ンダムパタンが連続して到着するため、受信セルからの
擬似ランダムパタン検出処理、擬似ランダムパタンの所
定ビット比較による同期確認処理および1セル内での再
引き込み処理が間に合わない可能性もあり、ATM通信
の特徴である高速性、非同期に基づくセルのゆらぎ、ま
たはバースト性などに対応することができないという問
題点があった。本発明はこのような課題を解決するため
のものであり、セルが高速かつ連続的に到着した場合で
も、VPおよびVCの導通特性を正確に試験することが
できるATM導通特性試験装置および方法を提供するこ
とを目的としている。
るために、本発明によるATM導通特性試験装置および
方法は、受信セル入力に対して並列的に設けられ、検査
の対象となる検査対象セルに格納されている擬似ランダ
ムパタンの同期引き込み処理およびエラー検出処理を行
うとともに、その処理結果として同期状態およびエラー
ビット数を出力する導通試験セル検査手段と、各導通試
験セル検査部から出力される処理結果のうちいずれかを
前記検査対象セルに対する検査結果として選択出力する
第1の選択手段と、各導通試験セル検査手段のうちいず
れか一方に対し同期外れ時処理として同期引き込み処理
を指示するとともに、他方に対し同期時処理としてエラ
ー検出処理を指示し、現在処理中の検査対象セルの直前
に処理された検査対象セルの同期状態が同期外れである
場合には、現在処理中の検査対象セルの次の検査対象セ
ルに対する各導通試験セル検査手段の処理を切り換え指
示するとともに、現在処理中の検査対象セルの検査結果
に対する第1の選択手段の選択状態を切り換え指示する
制御手段とを備えるものである。
に対して並列的に設けられ、検査対象セルに格納されて
いる擬似ランダムパタンの同期引き込み処理およびエラ
ー検出処理を異なる位相で行うとともに、その処理結果
として同期状態およびエラービット数を出力する複数の
疑似ランダムパタン処理手段と、各疑似ランダムパタン
処理手段のうちのいずれかを選択し、その処理結果を前
記検査対象セルに対する処理結果として選択出力する第
2の選択手段とを備えるものである。
ムパタン処理手段から出力される同期状態を監視し、最
も早く同期引き込み状態となったものを選択するように
したものである。また、導通試験セル検査手段は、第2
の選択手段により選択された擬似ランダムパタン処理手
段からのエラービット数を検査対象セルごとに集計出力
するエラービット数集計手段を備えるものである。
ずれか一方に対して同期外れ時処理として同期引き込み
処理が指示されるとともに、他方に対して同期時処理と
してエラー検出処理が指示され、直前の検査対象セルの
同期状態が同期外れである場合には、次の検査対象セル
に対する各導通試験セル検査手段の処理が切り換え指示
されるとともに、現在処理中の試験対象セルに対する第
1の選択手段の選択状態が切り換え指示される。
複数の擬似ランダムパタン処理手段のうちのいずれかが
選択され、その処理結果が入力された検査対象セルに対
する処理結果として選択出力される。さらに、各擬似ラ
ンダムパタン処理手段から出力される同期状態が監視さ
れ、最も早く同期引き込み状態となったものが選択され
る。さらにまた、第2の選択手段により選択された擬似
ランダムパタン処理手段からのエラービット数が受信セ
ルごとに集計され出力される。
る。図1は本発明の一実施例であるATM導通特性試験
装置のブロック図であり、同図において、101は受信
されたセル120のヘッダ情報に基づいて検査対象とな
る試験用OAMセルを抽出する検査対象OAMセル抽出
回路、100は試験用OAMセルに格納され送出順序を
示すシーケンス番号を検査するシーケンス番号検査部、
105はシーケンス番号検査部100で検出された異常
セルをカウントする異常セルカウンタ、106は抽出さ
れた検査対象となる試験用OAMの受信タイミングに同
期してタイミングクロック122などの各種タイミング
信号を生成するタイミング生成回路である。
02は試験用OAMセルからシーケンス番号を抽出する
シーケンス番号抽出回路、103は直前に抽出されたシ
ーケンス番号に基づいて次に受信されるべきシーケンス
番号を生成するシーケンス番号カウンタ、104は試験
用OAMセルから抽出されたシーケンス番号と次に受信
されるべきシーケンス番号とを比較照合するシーケンス
番号照合回路である。
る擬似ランダムパタンを検査する擬似ランダムパタン検
査部であり、200A,200Bは受信セルに対して並
列的に設けられ、検査対象OAMセル抽出回路101か
らの対象セル信号121が検査対象となる試験用OAM
セルであることを示している場合、その受信セル120
に格納されている擬似ランダムパタンを抽出し、擬似ラ
ンダムパタンの同期外れ状態時にはその同期引き込みを
行うとともに、引き込み後に続く擬似ランダムパタンに
対するエラービットの検査を行い、また同期状態時には
擬似ランダムパタンのエラービットを検出する導通試験
セル検査部である。
試験セル検査部200A,200Bのいずれかの出力1
23A,123Bを選択し、エラービット数124およ
び擬似ランダムパタンの同期状態信号125を出力する
選択回路(第1の選択手段)、111は直前の検査対象
セルの同期状態に応じて導通試験セル検査部200A,
200Bのいずれかを選択する面制御信号126を出力
する面制御回路(制御手段)、113は面制御信号12
6に基づいて導通試験セル検査部200A,200Bの
動作を指示する動作制御信号127A,127Bを出力
する動作制御回路(制御手段)である。
0Bを示すブロック図であり、同図において、201〜
20Nは受信セル120に対して1〜N面として並列的
に設けられ、受信セル120に格納されている擬似ラン
ダムパタンの同期引き込みおよびエラービット検出をそ
れぞれ異なる位相で行う擬似ランダムパタン処理部、2
11は擬似ランダムパタンの同期外れ状態時に各面から
の引き込み検出信号231〜23Nを監視して、最初に
同期引き込みを完了したものを選択し同期引き込み検出
信号241として出力する引き込み検出回路(第2の選
択手段)、212は各面でカウントされた擬似ランダム
パタンエラービット数のうち同期引き込み完了が検出さ
れたものを選択する1/N選択回路(第2の選択手段)
である。
力されたエラービット数を1セル分集計するエラービッ
ト数集計回路、214は引き込み検出回路211からの
同期引き込み検出信号241および集計されたエラービ
ット数に基づいて同期外れを検出する同期外れ検出回
路、215は集計されたエラービット数および同期外れ
検出出力を保持出力するラッチ回路である。また擬似ラ
ンダムパタン処理部201〜20Nにおいて、221は
受信されたセルに格納されている擬似ランダムパタンま
たは内部で生成された擬似ランダムパタンのいずれかを
選択出力する入力選択回路、222は選択された擬似ラ
ンダムパタンに基づいて次に受信されるべき擬似ランダ
ムパタンを生成する擬似ランダムパタン生成回路であ
る。
生成された擬似ランダムパタンとを比較する比較回路、
224は擬似ランダムパタン同期外れ状態時に比較結果
および所定の同期引き込み条件に基づいて同期引き込み
状態を検出する引き込み保護回路、225はこの同期引
き込み状態および動作制御信号127に基づいて入力選
択回路221を制御する入力制御回路、226は同期引
き込みが確認された場合、および同期状態が確認されて
いる場合に比較結果のうち検査対象となるビットのみを
加算指示する加算制御回路、227は加算指示に基づい
て比較結果のうち所定のビットに対するエラーを加算す
るエラービット数加算回路である。
示す説明図であり、301,302はVPおよびVCを
識別するためのVP識別子(以下、VPIという)およ
びVC識別子(以下、VCIという)、303はVPI
301やVCI302からなるヘッダ情報の誤りを検査
するためのヘッダエラー情報(以下、HECという)、
304は試験用OAMセルの種別を示すOAM種別、3
05は導通試験セルの送出順序を示すシーケンス番号、
306はシーケンス番号305の誤りを検査するための
シーケンス番号保護情報、307は所定の生成多項式に
基づいて生成された擬似ランダムパタンである。
的なセルの検査方法について説明する。擬似ランダムパ
タンとは、所定の生成多項式に基づいて生成され比較的
長い周期を有するビット列(巡回符号)であり、その生
成多項式に基づいて擬似ランダムパタンのうち連続する
所定ビットから次に連続するビット列を生成することが
できるという性質を持っている。したがって、これら擬
似ランダムパタンを分割して各セルに順番に格納して送
信し、これを受信して擬似ランダムパタンの連続性を確
認することにより、VPおよびVCの導通特性を試験す
ることができる。
パタン307のうち所定位置から擬似ランダムパタン生
成に必要な数ビット、ここでは15ビットを生成ビット
311として取り込み、送信側と同じ生成多項式に基づ
いて生成ビット311から次に連続する擬似ランダムパ
タンを予測し、実際に受信した擬似ランダムパタンと比
較する。このように生成ビット311の直後から所定数
ビット、ここでは33ビットを引き込み検出ビット31
2として順次比較し、すべてのビットが一致した場合に
送信側で生成される擬似ランダムパタンと受信側で生成
される擬似ランダムパタンとが同期した、すなわち同期
引き込み状態となったと判断され、以後の擬似ランダム
パタンに対する比較の結果、不一致となった場合にはエ
ラービットとしてカウント出力される。
でも不一致が検出された場合には同期引き込み失敗と判
断され、また同期引き込み状態において所定の割合以上
でエラービットが検出された場合には同期外れと判断さ
れ、いずれの場合にも同期外れ状態となり、このような
場合には繰り返し前述の同期引き込み処理が行われるも
のとなる。なお、前述の引き込み検出ビット312の位
置およびビット数は同期引き込み条件と呼ばれ、エラー
ビットの検出率は同期外れ条件または同期後方保護条件
と呼ばれている。
て特に擬似ランダムパタン検査部110の動作について
説明する。なお、シーケンス番号検査部100の構成お
よび動作は、前述のシーケンス番号検査部600(図6
参照)とほぼ同様であり、ここでの説明は省略する。図
4は、導通試験セル検査部200A,200Bの動作を
示すタイミングチャートである。
査部200AをA面、導通試験セル検査部200BをB
面と呼ぶ。また、同期外れ時処理において、所定の検査
対象セルの擬似ランダムパタンについて同期引き込み条
件が成立し、そのセルの後続する擬似ランダムパタンす
べてについて検査が終了するまでを同期引き込み状態と
いい、そのセルの後続するすべての擬似ランダムパタン
について検査が終了した時点で同期していた場合、すな
わち同期が確定した場合を同期状態という。
は受信セル120が検査対象セルであることを示す対象
セル信号、128は対象セル信号121から生成され、
1つ前に処理されたセルが検査対象セルであることを示
す直前対象セル信号、200A,200BはA,B面の
動作状態、123A,123BはA,B面における同期
状態およびエラービット数を示す出力、122はタイミ
ングクロック、125は選択回路112からの同期状態
信号、126は面制御回路111からの面制御信号であ
る。
場合、同期状態信号125が同期外れ状態を示している
ことから、動作制御信号127A,127BによりA/
B面のいずれか、例えばA面に同期外れ時処理が割り当
てられている。ここで、受信セル#1が入力された場
合、A面により同期外れ時処理として擬似ランダムパタ
ンの同期引き込み処理が開始される。この場合A面によ
る同期引き込み処理の結果すなわち同期引き込み条件お
よび同期外れ条件の判定は、受信セル#1の受信終了と
同時に出力されず、その処理速度に起因して遅延する。
され、A面では受信セル#1での同期確立に備えて同期
時処理としてエラー検出処理が開始される。したがっ
て、図4に示すように、A面動作200Aでは、セル#
1の入力に応じてリアルタイムに実施される参照用擬似
ランダムパタンとの比較処理が終了した後も、この比較
処理回路部の後段に配置された別個の集計処理回路部に
よる同期確立の結果判定のための集計処理などにより、
セル#1への同期外れ時処理が遅延するため、セル#2
の入力に応じてリアルタイムに実施される参照用擬似ラ
ンダムパタンとの比較処理と一部オーバーラップする。
またB面では受信セル#1の同期引き込み失敗に備えて
同期外れ時処理として同期引き込み処理が開始されるも
のとなり、受信セル#2に対してそれぞれ並列的に実施
される。続いて、受信セル#2の受信途中で、A面によ
る受信セル#1に対する同期外れ時処理が完了し、この
処理結果が選択回路112に出力される。
グすなわちタイミングクロック122に基づいて選択回
路112にラッチされ、エラービット数124および同
期状態信号125として出力される。ここで、同期状態
信号125が同期状態を示している場合には、面制御回
路111から同期引き込みが完了した面すなわちA面を
選択する面制御信号126が出力され、選択回路112
は、受信セル#2に対して並列的に実施されている処理
のうちA面からの出力123Aを選択するものとなる。
様に、面制御信号126に基づく動作制御回路113か
らの動作制御信号127A,127Bにより、A面では
同期時処理、B面では同期外れ時処理が開始される。ま
た、受信セル#3に対する処理中に受信セル#2に対す
る処理が終了し、選択回路112により選択されている
A面からの出力123Aが選択回路112を介して出力
される。なお、B面からの出力123Bが受信セル#2
に対する同期確立を示しているがここでは無視される。
様に、それぞれ動作制御が実施される。ここで、受信セ
ル#3の擬似ランダムパタンに誤りが生じ、同期外れ条
件を満足した場合には、その結果出力がA面の出力12
3Aとして受信セル#4の処理中に出力されるものとな
る。この出力123Aは、タイミングクロック122に
基づいて、選択回路112によりラッチ出力され、この
場合には同期状態信号125が同期外れを示すものとな
る。
25が同期外れを示していることから、現在選択されて
いるA面で同期外れが発生したことを認識し、B面を選
択する面制御信号126を出力する。これにより、動作
制御回路113は、受信セル#5に対する処理として、
動作制御信号127AによりA面に対して同期外れ時処
理を指示するとともに、動作制御信号127BによりB
面に対して同期時処理を指示する。また選択回路112
は入力としてB面の出力123Bを選択する。
れ時処理を行ったB面からの出力123Bが選択回路1
12により選択される。この場合には、同期引き込み完
了を示す同期状態信号125が出力され、以降の処理と
して、B面で同期時処理が、またA面で同期外れ時処理
が、それぞれ並列して実施されるものとなる。なお、受
信セル#5に続いて検査対象とはならない非対象セルが
入力された場合、動作制御回路113は対象セル信号1
21に基づいてこれを認識し、動作制御信号127A,
127Bにより各A,B面に対して動作停止指示を出力
する。これによりA,B面は非対象セルの入力直前の状
態を保持して動作を停止する。
る受信セル#6が入力された場合、動作制御回路113
は動作制御信号127A,127Bにより、以前の指示
と同様にA面に対して同期外れ時処理を指示し、B面に
対して同期時処理を指示するこれにより、各面では、受
信セル#6に対する指示に応じて、保持していた処理内
容に基づいて動作を再開する。
似ランダムパタンの同期引き込み処理および同期引き込
み後のエラー検出処理を行う導通試験セル検査部を、受
信セルに対して並列的に設けて、一方では同期時処理を
行わせ他方では同期外れ時処理を行わせるとともに、直
前の検査対象セルに対する処理結果に基づいて次の検査
対象セルに対する各導通試験セル検査部への動作指示お
よび処理中セルの結果に対する選択を行うようにしたも
のである。したがって、従来のように1つの導通試験セ
ル検査部により、1つの受信セルに対する処理結果が出
力された後、擬似ランダムパタンを正確に読み込むこと
が可能な受信セルに対して処理を行うようにした場合と
比較して、より短時間で擬似ランダムパタンに対して同
期引き込みを行うことができるとともに、より正確なエ
ラー検出処理を実施することが可能となり、セルが高速
かつ連続的に到着した場合でも、VPおよびVCの導通
特性を正確に試験することが可能となる。特に、擬似ラ
ンダムパタンについては、前述したように、その連続性
を確保する必要があり、同一の導通試験セル検査部にお
いて、同期外れ時処理から同期時処理へ処理内容を切り
替えることにより、同期外れ時処理で引き込んだ擬似ラ
ンダムパターンに基づいてその後の同期時処理のための
擬似ランダムパターンが生成されるものとなり、容易か
つ確実に疑似ランダムパターンの連続性を確保でき、精
度よく同期時処理を実施できる。
部200A,200Bの動作について説明する。図5
は、導通試験セル検査部200A,200Bの動作を示
すタイミングチャートであり、250は受信セルに格納
されている擬似ランダムパタン、251〜25Nは擬似
ランダムパタン処理部201〜20Nすなわち1〜N面
が同期引き込み処理を行う擬似ランダムパタンの領域、
231,232は1,2面から出力される引き込み検出
信号、241は引き込み検出回路211で最初に同期引
き込みが検出された面の同期引き込み状態を示す同期引
き込み検出信号、501は生成ビット、502は引き込
み検出ビットである。
A,127Bに応じて、引き込み検出回路211は選択
状態を初期化していずれの面も選択していない状態とす
る。これにより1/N選択回路212も同様となる。ま
た各面の入力制御回路225および引き込み保護回路2
24は自面に割り当てられている所定の位相すなわちビ
ット位置から擬似ランダムパタンを読み込んで同期引き
込み処理を開始するとともに、エラービット数加算回路
227およびエラービット数集計回路213はカウント
数をクリアする。
込み条件が成立したか否かを検査するため、各1〜N面
は擬似ランダムパタン250から生成ビット501およ
び引き込み検出ビット502を読み込む。この場合各1
〜N面では動作位相が異なっており、擬似ランダムパタ
ン250から各位相に対応する位置のビットをそれぞれ
取り込むものとなっている。ここでは、1面から擬似ラ
ンダムパタン250の先頭ビットから生成ビット501
および引き込み検出ビット502を読み込んだ場合、2
面はその直後のビット位置から生成ビットおよび引き込
み検出ビットを読み込むものとなり、N面までそれぞれ
連続した位相で読み込むものとなっている。
路221をセル入力側に制御して擬似ランダムパタン2
50の先頭ビットから生成ビット501を読み込む。読
み込み終了後入力選択回路221を擬似ランダムパタン
生成回路222側に制御し、この生成ビット501に基
づいて擬似ランダムパタン生成回路222により次に受
信すべき擬似ランダムパタン、すなわち参照用の引き込
み検出ビットを順次生成する。比較回路223では、セ
ル入力側から入力される引き込み検出ビット502と参
照用の引き込み検出ビットとをそれぞれ比較する。
により同期引き込み条件が成立するか否か判断し、成立
した場合には引き込み検出信号231を出力する。な
お、引き込み検出ビットの読み込み終了後、その同期引
き込み完了を仮定してこれに続くビットを読み込んで前
述と同様に各ビットを比較することによりエラー検査処
理を継続して行うものとなっており、エラービット数加
算回路227は、加算制御回路226の制御により引き
込み検出ビット502の直後のビットから所定ビット数
(1ワード)ごとにその比較が不一致となったビット数
をカウント出力する。
場合には、入力選択回路221がセル入力側に切り換え
られ、前述と同様に擬似ランダムパタン250の所定ビ
ット位置から生成ビット501が読み込まれて、再び同
期引き込み処理が開始されるとともに、加算制御回路2
26の制御によりエラービット数加算回路227のカウ
ント数がクリアされる。このようにして、動作位相の異
なる各面からの引き込み検出信号231〜23Nは引き
込み検出回路211に入力され、最初に同期引き込みが
完了した面、例えば2面(202)の引き込み検出信号
232が選択され同期引き込み検出信号241として出
力される。
み検出回路211の制御により、最初に同期引き込みが
完了した面のエラービット数加算回路227の出力を現
在の受信セルに対するエラービット数として選択出力
し、このエラービット数が所定ビット数(1ワード)ご
とにエラービット数集計回路213に入力され受信セル
ごとに集計され出力される。同期外れ検出回路214
は、引き込み検出回路211からの同期引き込み信号2
41が同一セル内で同期引き込み失敗を示した場合ある
いは集計されたエラービット数が所定値を越えた場合す
なわち同期外れ条件を満たした場合、同期外れ発生と判
断する。
びエラービット数集計回路213の出力は、受信セルの
擬似ランダムパタンに対する検査判定処理が確定するタ
イミングで、ラッチ回路215によりラッチされ、導通
試験セル検査部200A,200B、すなわちA,B面
の出力123A,123Bとして出力される。なお、連
続する試験用OAMセルに分割格納されている擬似ラン
ダムパタンは、それぞれビットの連続性を有するものと
なっており、1セル分のビット比較動作が終了した場合
には次のセルに格納されている擬似ランダムパタンのビ
ット比較動作を行うため、擬似ランダムパタン生成回路
222の出力が保持される。
き込みおよびエラー検出を行う擬似ランダムパタン処理
部201〜20N(1〜N面)を受信セルに対して並列
的に複数設けてそれぞれ異なる位相で動作させるととも
に、いずれかの擬似ランダムパタン処理部を選択しその
出力を受信セルに対する同期状態およびエラー検出結果
として出力するようにしたので、従来のように1つの擬
似ランダムパタン処理部により同期引き込みを行うよう
にした場合と比較して、同期引き込みに失敗した場合に
同期引き込み条件の判定に要する時間をさらに待つこと
なく、僅かな時間ずれた位相に基づいて同期引き込み条
件の判定が並列的に実施され、同期引き込み失敗時に同
一セル内での再引き込み処理が実施されるものとなり、
比較的短い時間で同期引き込みを完了することが可能と
なる。
うち最も早く同期引き込みを完了したものを引き込み選
択回路211により選択するとともに、そこでカウント
されたエラービット数を1/N選択回路212により同
期引き込み状態の検出に先立って選択するようにしたの
で、より短い時間で同期引き込みを完了することが可能
となる。さらに、1/N選択回路212により選択出力
されたエラービット数をセル単位で集計するエラービッ
ト数集計回路213を設けて、各セルごとのエラービッ
ト数を出力するようにしたので、試験用OAMセルごと
に導通特性を検査することが可能となり、より詳細に導
通特性の確認を行うことが可能となる。
20N(1〜N面)の数は、生成ビット501および引
き込み検出ビット502の合計ビット数と、引き込み検
出ビット502の読み込み終了から同期引き込み結果に
基づいて入力選択回路221を制御できるようになるま
での所要時間tdに依存する。また、以上の説明におい
て、擬似ランダムパタンのうち連続するビット位相で各
面を動作させるようにした場合について説明したが、こ
れに限られるものではなく、例えば各位相の間隔として
数ビット設けるようにしてもよく、また各位相が部分的
に重複するようにしてもよく、それぞれ要求される試験
精度に応じて任意に設定することが可能である。
象セルに格納されている擬似ランダムパタンの同期引き
込み処理およびエラー検出処理を行う導通試験セル検査
手段を受信セルに対して並列的に設けるとともに、各導
通試験セル検査部から出力される処理結果のうちいずれ
かを選択出力する第1の選択手段を設けて、各導通試験
セル検査手段のうちいずれか一方に対して同期外れ時処
理として同期引き込み処理を指示するとともに、他方に
対して同期時処理としてエラー検出処理を指示し、直前
の検査対象セルの同期状態が同期外れである場合には、
次の検査対象セルに対する各導通試験セル検査手段の処
理および処理中セルの処理結果に対する第1の選択手段
の選択状態を切り換え指示するようにしたものである。
セル検査部により、1つの受信セルに対する処理結果が
出力された後、擬似ランダムパタンを正確に読み込むこ
とが可能な受信セルに対して処理を行うようにした場合
と比較して、より短時間で擬似ランダムパタンに対して
同期引き込みを行うことができるとともに、より正確な
エラー検出処理を実施することが可能となり、セルが高
速かつ連続的に到着する場合でも、大容量のセルバッフ
ァを必要とすることなくVPおよびVCの導通特性を正
確に試験することが可能となる。
る位相でセルに格納されている擬似ランダムパタンの同
期引き込み処理およびエラー検出処理を行うとともに、
その処理結果として同期状態およびエラービット数を出
力する複数の擬似ランダムパタン処理手段を受信セルに
対して並列的に設けて、各擬似ランダムパタン処理手段
のうちのいずれかを選択し、その処理結果を受信セルに
対する処理結果として選択出力するようにしたので、従
来のように1つの擬似ランダムパタン処理手段により同
期引き込みを行う場合と比較して、同期引き込みに失敗
した場合に同期引き込み条件の判定に要する時間をさら
に待つことなく、僅かな時間ずれた位相ごとに同期引き
込み条件の判定が実施され、比較的短い時間で同期引き
込みを完了することが可能となる。
出力される同期状態を監視し、最も早く同期引き込み状
態となったものを選択するようにしたので、さらに短い
時間で同期引き込みを完了することが可能となる。ま
た、選択手段により選択された擬似ランダムパタン処理
手段からのエラービット数を受信セルごとに集計出力す
るようにしたので、試験用OAMセルごとに導通特性を
検査することが可能となり、より詳細に導通特性の確認
を行うことが可能となる。
のブロック図である。
ック図である。
ングチャートである。
イミングチャートである。
る。
Mセル抽出回路、102…シーケンス番号抽出回路、1
03…シーケンス番号カウンタ、104…シーケンス番
号照合回路、105…異常セルカウンタ、106…タイ
ミング生成回路、110…擬似ランダムパタン検査部、
111…面制御回路(制御手段)、112…選択回路
(第1の選択手段)、113…動作制御回路(制御手
段)、200A,200B…導通試験セル検査部、20
1〜20N…擬似ランダムパタン処理部、211…引き
込み検出回路(第2の選択手段)、212…1/N選択
回路(第2の選択手段)、213…エラービット数集計
回路、214…同期外れ検出回路、215…ラッチ回
路、221…入力選択回路、222…擬似ランダムパタ
ン生成回路、223…比較回路、224…同期保護回
路、225…入力制御回路、226…加算制御回路、2
27…エラービット数加算回路。
Claims (5)
- 【請求項1】 バーチャルパスまたはバーチャルチャネ
ルを介して所定の試験用OAMセルを受信し、その試験
用OAMセルに格納されている擬似ランダムパタンの正
常性を検査することにより、前記バーチャルパスまたは
バーチャルチャネルの導通特性を試験するATM導通特
性試験装置において、 受信セル入力に対して並列的に設けられ、検査の対象と
なる検査対象セルに格納されている擬似ランダムパタン
の同期引き込み処理およびエラー検出処理を行うととも
に、その処理結果として同期状態およびエラービット数
を出力する導通試験セル検査手段と、 各導通試験セル検査部から出力される処理結果のうちい
ずれかを前記検査対象セルに対する検査結果として選択
出力する第1の選択手段と、 各導通試験セル検査手段のうちいずれか一方に対し同期
外れ時処理として同期引き込み処理を指示するととも
に、他方に対し同期時処理としてエラー検出処理を指示
し、現在処理中の検査対象セルの直前に処理された検査
対象セルの同期状態が同期外れである場合には、現在処
理中の検査対象セルの次の検査対象セルに対する各導通
試験セル検査手段の処理を切り換え指示するとともに、
現在処理中の検査対象セルの検査結果に対する第1の選
択手段の選択状態を切り換え指示する制御手段とを備え
ることを特徴とするATM導通特性試験装置。 - 【請求項2】 請求項1記載のATM導通特性試験装置
において、 導通試験セル検査手段は、 受信セルに対して並列的に設けられ、検査対象セルに格
納されている疑似ランダムパタンの同期引き込み処理お
よびエラー検出処理を異なる位相で行うとともに、その
処理結果として同期状態およびエラービット数を出力す
る複数の疑似ランダムパタン処理手段と、 各擬似ランダムパタン処理手段のうちのいずれかを選択
し、その処理結果を前記検査対象セルに対する処理結果
として選択出力する第2の選択手段とを備える ことを特
徴とするATM導通特性試験装置。 - 【請求項3】 請求項2記載のATM導通特性試験装置
において、 第2の選択手段は、各擬似ランダムパタン処理手段から
出力される同期状態を 監視し、最も早く同期引き込み状
態となったものを選択するようにした ことを特徴とする
ATM導通特性試験装置。 - 【請求項4】 請求項2または3記載のATM導通特性
試験装置において、 導通試験セル検査手段は、 第2の撰択手段により選択された擬似ランダムパタン処
理手段からのエラービット数を検査対象セルごとに集計
出力するエラービット数集計手段を備える ことを特徴と
するATM導通特性試験装置。 - 【請求項5】 バーチャルパスまたはバーチァルチャネ
ルを介して所定の試験用OAMセルを受信し、その試験
用OAMセルに格納されている疑似ランダムパタンの正
常性を検査することにより、前記バーチャルパスまたは
バーチャルチャネルの導通特性を試験するATM導通特
性試験方法において、 受信セル入力に対して並列的に設けられ、検査の対象と
なる検査対象セルに格納されている擬似ランダムパタン
の同期引き込み処理およびエラー検出処埋を行うととも
に、その処理結果として同期状熊およびエラービット数
を出力する導通試験セル検査手段と、 各導通試験セル検査部から出力される処理結果のうちい
ずれかを前記検査対象セルに対する検査結果として選択
出力する第1の選択手段とを設けて、 各導通試験セル検査手段のうちいずれか一方に対し同期
外れ時処理として同期引き込み処理を指示するととも
に、他方に対し同期時処理としてエラー検出処理を指示
し、現在処理中の検査対象セルの直前に処理された検査
対象セルの同期状態が同期外れである場合には、現在処
理中の検査対象セルの次の検査対象セルに対する各導通
試験セル検査手段の処理を切り換え指示するとともに、
現在処理中の検査対象セルの検査結果に対する第1の選
択手段の選択状態を切り換え指示するようにしたことを
備える ことを特徴とするATM導通特性試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7038188A JP2770766B2 (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | Atm導通特性試験装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7038188A JP2770766B2 (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | Atm導通特性試験装置および方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08237258A JPH08237258A (ja) | 1996-09-13 |
JP2770766B2 true JP2770766B2 (ja) | 1998-07-02 |
Family
ID=12518404
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP7038188A Expired - Fee Related JP2770766B2 (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | Atm導通特性試験装置および方法 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2770766B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2770793B2 (ja) * | 1995-06-30 | 1998-07-02 | 日本電気株式会社 | Atm導通特性試験装置 |
JP3479248B2 (ja) | 1999-12-17 | 2003-12-15 | 日本電気株式会社 | Atm伝送試験装置 |
Family Cites Families (3)
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---|---|---|---|---|
JPS63245032A (ja) * | 1987-03-31 | 1988-10-12 | Fujitsu Ltd | 高速フレ−ム同期方式 |
JP3170048B2 (ja) * | 1992-06-05 | 2001-05-28 | 日本電信電話株式会社 | Atm試験方式 |
JP2944319B2 (ja) * | 1992-08-13 | 1999-09-06 | 日本電気株式会社 | 並列展開型フレーム同期方式 |
-
1995
- 1995-02-27 JP JP7038188A patent/JP2770766B2/ja not_active Expired - Fee Related
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