JP2768934B2 - Ｘ線断層撮影装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はＸ線断層撮影装置
（以下「Ｘ線ＣＴ装置」という。）に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、Ｘ線ＣＴ装置で多断層像データを
効率良く収集する螺旋状走査（以下「ヘリカルスキャ
ン」という。）が行われている。このヘリカルスキャン
は、撮影面内で形成される扇状Ｘ線を連続回転させつ
つ、天板に載置した被検体（通常は患者）を撮影面に挿
通させ、患者についてヘリカルスキャンデータを収集す
るもので、この収集したデータを再構成して多断層像を
得ていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、得られ
た断層像と患者の撮影位置との対応付けができていない
という問題があった。

【０００４】また再構成を行った全ての断層像が診断に
必要なものではなく、無駄に再構成を行っていたため診
断効率が悪いという問題があった。

【０００５】更にヘリカルスキャンを行った領域全てが
診断に必要なものではなく、無駄なデータを収集するこ
とがあり、このため患者に不必要なＸ線を被曝させると
いう問題があった。

【０００６】そこで本発明は、上記事情に鑑みてなされ
たものであり、診断能向上を図ったＸ線断層撮影装置を
提供することを目的としている。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の構成は、曝射されるＸ線により被検体に対し
て螺旋状のスキャンを行うスキャン手段と、前記被検体
の所定の範囲の透視像を表示する表示手段と、この表示
手段における透視像に基づき所望の断層像形成範囲Ｅを
設定する設定手段と、この設定手段で設定された範囲情
報に基づき、前記断層像形成範囲Ｅと断層像を再構成す
るに必要な補正演算のための補正データ収集範囲Ｅｃと
に亘って前記螺旋状データを収集するよう前記スキャン
手段を制御する制御手段と、このスキャン手段により収
集された螺旋状のデータを記憶する記憶手段と、前記表
示手段における透視像に基づき所望の断層面位置を指定
する指定手段と、この指定手段で指定された位置に対応
する螺旋状データを前記記憶手段から抽出しこの抽出デ
ータに基づいて断層像を再構成する再構成手段と、を有
することを特徴とするものである。

【０００８】上記構成の本発明によれば、表示手段に表
示された透視像に基づき所望の断層像形成範囲を指定す
ると、スキャン手段は、制御手段の制御の下に、設定手
段で指定された断層像形成範囲Ｅと補正データ収集範囲
Ｅｃを含む範囲に亘る領域について螺旋状データを収集
し、この収集データが記憶手段に記憶される。そして、
表示手段上の透視像に所望の断層面位置を指定すると、
この指定位置に対応する螺旋状データが記憶手段から抽
出され、これに基づいて再構成が行われる。この結果必
要な範囲についてのデータ収集及び必要な範囲の再構成
が行われることになり、診断能向上及び被検体の被曝線
量低減が図れる。

【０００９】

【発明の実施の形態】以下に本発明の一実施の形態を図
面を参照して詳述する。

【００１０】図１は本実施の形態のＸ線断層撮影装置の
概略構成図を示すものである。

【００１１】本装置１は、被検体Ｍを配置し得る撮影孔
２，撮影面２ａ内で扇状Ｘ線４ａを検出器３に向けて発
生するＸ線管４を備えた撮影架台１０と、撮影孔２内で
被検体Ｍを載置した天板Ｔを移動する寝台部２０と、Ｘ
線管４の回転を制御するＸ線管回転制御部５と、Ｘ線管
４からのＸ線照射を制御する高圧発生部６と、検出器３
が検出したプロジェクションデータを収集，再構成を行
う処理系４０と、断層像又は透視像等の表示を行う表示
部７と、ヘリカルスキャンモード，透視モード等の撮影
モードの選択，断層像形成の位置設定等の操作を行う入
力部８と、この装置１各部を制御してヘリカルスキャン
モード又は透視モード等の撮影モードを実行するシステ
ム制御部９とを有している。

【００１２】前記Ｘ線検出器３は、斜めに配置された円
筒状の保持部材の円周面に沿って単体検出器が複数個ア
レイ状に配列されて構成されており、Ｘ線管４からの被
検体透過Ｘ線を常に検出器３の一部で受けるようになっ
ている。

【００１３】前記Ｘ線管回転制御部５は、システム制御
部９の制御の下に、ヘリカルスキャンモードにおいて
は、Ｘ線管４が撮影孔２の周囲を同一方向に連続回転す
るように制御し、透視モードにおいては、Ｘ線管４を所
定の位置に停止するように制御するものである。

【００１４】前記寝台部２０は、天板Ｔを移動する移動
部２１と、天板Ｔの撮影面２ａに対する位置を検出する
位置検出部２２とを有している。

【００１５】前記処理系４０は、ヘリカルスキャンモー
ドの際に、ヘリカルスキャンデータを収集するヘリカル
スキャンデータ収集部４１と、透視像モードの際に、透
視像データを収集する透視像データ収集部４２と、ヘリ
カルスキャンデータに基づいて断層画像を再構成する画
像再構成部４３とを有している。ヘリカルスキャンデー
タ収集部４１には、位置検出部２２からの天板Ｔの位置
情報に対応させてヘリカル状のスキャンデータＤｈが収
集，記憶される。画像再構成部４３は、図２に示すよう
に、指定された断層面Ｆｓ近傍の２／３乃至１周期のプ
ロジェクションデータＤｓと、このデータＤｓの前後の
各１周期前後のプロジェクションデータＤｃを補正用デ
ータとして、ヘリカルスキャンデータ収集部４１より取
り込み、再構成処理を行って、指定された断層面Ｆｓに
ついての断層像Ｇｓを得るものである。

【００１６】前記表示部７は、入力部８の選択操作によ
り、透視像データ収集部４２が収集したデータに基づく
透視像又は、画像再構成部４３の再構成処理に基づく断
層像を表示できるものである。

【００１７】前記システム制御部９は、入力部８の撮影
モード選択操作に基づきヘリカルスキャンモード又は透
視モードを実行するものであり、ヘリカルスキャンモー
ドにおいては、Ｘ線管４が１回転する間に天板Ｔが所定
長Ｓ連続的に移動するようＸ線管回転制御部５，移動部
２１を制御するものである。このように構成すれば、例
えば静止した被検体Ｍに対し扇状Ｘ線４ａが回転しつつ
体軸方向に並進運動したのと等価となり、扇状Ｘ線４ａ
が図２にＬｘで示すように、被検体Ｍの体軸Ｌｃを中心
に螺旋状に運動することになり、ヘリカルスキャンデー
タＤｈが検出器３より得られ、ヘリカルスキャンデータ
収集部４１に収集，記憶される。透視モードにおいて
は、Ｘ線管４が被検体Ｍの真上又は真横等の所定の位置
に停止するようＸ線管回転制御部５を制御し、天板Ｔが
連続的に移動するよう移動部２１を制御するものであ
る。

【００１８】次に上記構成の装置１の作用を図２及び図
３をも参照して説明する。

【００１９】図２はヘリカルスキャンモード，透視モー
ドを実行後断層像を得る場合についての流れを示す図、
図３は透視モード実行後、ヘリカルスキャンモードを実
行する場合についての流れを示す図である。

【００２０】ヘリカルスキャンモード，透視モードを実
行後断層像を得る場合について図２を参照して説明す
る。

【００２１】操作者が入力部８を操作してヘリカルスキ
ャンモードを選択すると、システム制御部９は、入力部
８からのヘリカルスキャンモード選択情報に基づき各部
を制御してヘリカルスキャンを実行する。撮影架台１
０，Ｘ線管回転制御部５，寝台部２０はシステム制御部
９の制御の下に、被検体Ｍについてヘリカルスキャンデ
ータの収集を行い、ヘリカルスキャンデータ収集部４１
に天板Ｔの位置に対応したヘリカルスキャンデータが収
集，記憶される。

【００２２】次に操作者が入力部８を操作して透視モー
ドを選択すると、システム制御部９は、入力部８からの
透視モード選択情報に基づき各部を制御して透視撮影を
実行する。撮影架台１０，Ｘ線管回転制御部５，寝台部
２０は、システム制御部９の制御の下に、被検体Ｍにつ
いて透視像データの収集を行い、透視像データ収集部４
２に天板Ｔの位置に対応した透視像データが収集，記憶
される。尚、透視モード選択後、ヘリカルスキャンモー
ドを選択してもよい。

【００２３】操作者が入力部８を操作し、透視像表示を
要求すると、図２に示すように表示部７に透視像Ｇｐが
表示される。

【００２４】操作者は、表示部７に表示された透視像Ｇ
ｐに重畳表示される断層像作成用ラインＬｓを移動させ
て設定すると、画像再構成部４３は、設定された断層像
作成用ラインＬｓに基づき、この位置に対応するデータ
Ｄｓ，Ｄｃをヘリカルスキャンデータ収集部４１より読
み出して、再構成処理を行い、表示部７に指定したライ
ンＬｓに対応する断層面Ｆｓについての断層像Ｇｓが表
示される。

【００２５】このように撮影した場合は、所望する被検
体撮影位置に対応する断層像を高精度で得ることができ
る。

【００２６】次に透視モード実行後、ヘリカルスキャン
モードを実行する場合について図３をも参照して説明す
る。

【００２７】システム制御部９が、操作者の選択操作に
基づいて透視モードを実行すると、透視像データ収集部
４２には、上述したように被検体Ｍについての透視像デ
ータが収集，記憶され、図３に示すように表示部７に透
視像Ｇｐが表示される。

【００２８】操作者は、表示部７に表示された透視像Ｇ
ｐに重畳表示される断層像作成用ラインＬｓ1 ，Ｌｓ2
を移動させ、このラインＬｓ1 ，Ｌｓ2 に挟まれた領域
を断層像を得たい断層像形成範囲Ｅとして指定したとす
ると、システム制御部９は、入力部８により指定された
範囲情報（Ｅ）に基づき、撮影架台１０，Ｘ線管回転制
御部５，寝台部２０を制御し、その指定された範囲Ｅ
と、この範囲Ｅの前後の補正データＤｃ収集範囲Ｅｃと
の両範囲Ｅ，Ｅｃについてのヘリカルスキャンデータ収
集を実行する。

【００２９】ヘリカルスキャンデータ収集部４１には、
上記両範囲Ｅ，Ｅｃついての天板Ｔの位置に対応したヘ
リカルスキャンデータが収集，記憶され、続いて画像再
構成部４３は、指定された範囲Ｅ内で所定間隔毎の断層
像Ｇｓ1 乃至Ｇｓｎを再構成し、表示部７に転送する。
入力部８の操作に基づき、被検体撮影位置に対応した各
断層像Ｇｓ1 乃至Ｇｓｎが表示部７に順次表示される。

【００３０】このように撮影した場合に、必要な範囲に
ついてヘリカルスキャンが行われるので、被検体の被爆
線量低減が図れる。

【００３１】尚、本発明は上記実施の形態に限定されず
その要旨を変更しない範囲で種々変形実施できる。

【００３２】例えば、スキャンはヘリカルスキャンモー
ド，透視モードを行えるものならば、Ｘ線管と検出器と
を相対位置を保ちながら連続回転する第３世代のスキャ
ナとしてもよい。

【００３３】

【発明の効果】以上のような本発明によれば、透視像上
で指定された断層像形成範囲Ｅとこれに関連する補正デ
ータ収集範囲Ｅｃを含む領域の螺旋状データのみを収集
するようにしており、また、透視像上で指定された断層
面位置のみについて螺旋状データを抽出して再構成を行
うので、診断能向上及び被曝線量低減を図ったＸ線断層
撮影装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態装置の概略構成図であ
る。

【図２】本発明の一実施の形態装置の作用を説明するた
めの図である。

【図３】本発明の一実施の形態装置の作用を説明するた
めの図である。

【符号の説明】

１ Ｘ線断層撮影装置 ２ａ 撮影面 ４ａ 扇状Ｘ線 ９ システム制御部 １０ 撮影架台 ２２ 位置検出部 ４１ ヘリカルスキャンデータ収集部 ４２ 透視像データ収集部 ４３ 画像再構成部 Ｍ 被検体 Ｔ 天板

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 曝射されるＸ線により被検体に対して螺
   旋状のスキャンを行うスキャン手段と、 前記被検体の所定の範囲の透視像を表示する表示手段
   と、 この表示手段における透視像に基づき所望の断層像形成
   範囲Ｅを設定する設定手段と、 この設定手段で設定された範囲情報に基づき、前記断層
   像形成範囲Ｅと断層像を再構成するに必要な補正演算の
   ための補正データ収集範囲Ｅｃとに亘って前記螺旋状デ
   ータを収集するよう前記スキャン手段を制御する制御手
   段と、 このスキャン手段により収集された螺旋状のデータを記
   憶する記憶手段と、 前記表示手段における透視像に基づき所望の断層面位置
   を指定する指定手段と、この指定手段で指定された位置
   に対応する螺旋状データを前記記憶手段から抽出しこの
   抽出データに基づいて断層像を再構成する再構成手段
   と、 を有することを特徴とするＸ線断層撮影装置。