JP2763639B2 - 半導体部品の樹脂被覆方法 - Google Patents

半導体部品の樹脂被覆方法

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JP2763639B2
JP2763639B2 JP2007686A JP768690A JP2763639B2 JP 2763639 B2 JP2763639 B2 JP 2763639B2 JP 2007686 A JP2007686 A JP 2007686A JP 768690 A JP768690 A JP 768690A JP 2763639 B2 JP2763639 B2 JP 2763639B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、基板表面に固定された半導体部品を樹脂被
覆する半導体部品の樹脂被覆方法に関する。
[従来の技術] 従来から、半導体部品を用いた装置の製造工程におい
て、耐湿性向上、機械的強度確保等のため、バンプ、ボ
ンディング等によって基板上に固定されたIC等の半導体
部品の樹脂被覆が行われている。
この樹脂被覆方法の一例が第2図に示されている。こ
の図において、第2図(a)は樹脂被着動作を示す図で
あり、第2図(b)は製品断面を示す図である。
まず、フィルム10が表面に接着されている基板12に
は、孔14が設けられており、基板12には半導体部品であ
るIC16がバンプ等の部材18によって電気的に接続され、
固定されているものとする。
まず、孔14側から、IC16にニードル20によってエポキ
シ系の樹脂22を吐出滴下する。
ニードルを図中の矢印100のように周回させつつこの
ような樹脂22の滴下を行えば、樹脂22の拡がり及び浸潤
によって、第2図(b)に示されるようにIC16の図中上
面及び裾部を覆う樹脂層24が形成されることになる。
この上で、オーブンに基板12ごと入れて加熱すれば、
樹脂層24が硬化して、安定な樹脂被覆が形成された半導
体装置を得ることができる。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、基板に搭載する半導体部品が表面に素
材がむき出した部品であるような場合、すなわち第2図
(b)におけるIC16の下面16aにSi層が向き出しになっ
ているような場合には、この面16aに樹脂22が被着され
ていないため、光が当たるとIC16内部のPN接合において
光起電力によりリークが生じてしまう等、基板に固定さ
れた半導体部品の性能劣化に係る問題点があった。
特にバックライト液晶を用いる装置にこれを供する場
合、バックライトにより、かかる障害が発生しやすい。
また、従来方法を基板の表裏両面について繰り返し行
うことも可能であるが、この場合、生産性が低下してし
まう。
本発明は、この様な問題点を解決することを課題とし
てなされたものであり、生産性を低下させること無く、
半導体部品の性能劣化を防止してより性能の高い半導体
装置を製造することが可能な半導体部品の樹脂被覆方法
を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 前記目的を達成するために本発明は、基板の孔を跨ぐ
ように基板に固定された半導体部品に、当該基板を半導
体部品が孔から見て下になるよう配置した上で、半導体
部品から見て孔の側からは滴下により、また孔とは逆の
側からはノズル吐出により、樹脂を被着し、半導体部品
を樹脂により被覆することを特徴とする。
[作用] 本発明においては、まず、基板の孔を跨ぐように基板
に固定された半導体部品に、半導体部品から見て孔の側
から滴下により樹脂が被着される。これと同時に又は相
前後して、半導体部品から見て孔とは逆側から半導体部
品にノズル吐出により樹脂が被着される。従って、半導
体部品において孔とは逆側の面に光などの外部刺激に敏
感な部分が存在し又は近接している場合にも、この外部
刺激が被着された樹脂により遮られ、性能劣化が防止さ
れる。
[実施例] 以下、本発明の一実施例について図面に基づいて説明
する。なお、第2図の従来例と同様の構成には同一の符
号を付し説明を省略する。
第1図には、本発明の一実施例に係る半導体部品の樹
脂被覆方法が示されており、第1図(a)には樹脂被服
動作が、第1図(b)には製品断面が、それぞれ示され
ている。
この実施例においては、第2図の従来例と同様にニー
ドル20による樹脂22の被覆が行われると共に、中心部に
樹脂吐出口26が穿設されたノズル28により、例えばエポ
キシ系の樹脂30の被覆が行われる。
すなわち、ニードル20による樹脂22の吐出滴下と同時
にあるいは相前後して、ノズル28の樹脂吐出口26から樹
脂30が吐出され、これがIC16の下面16aに接触するよう
図中の矢印200方向にノズル28が上昇する。これによ
り、樹脂30がIC16の下面16aに被着する。
この後、ノズル28は図中の矢印300方向に降下して、
樹脂30の被着が終了し、従来と同様に樹脂硬化が行われ
る。
従って、この実施例においてはIC16の下面16aにも樹
脂層24a(硬化後は樹脂被覆となる)が形成されるた
め、この面16aにSi層など、光に敏感な層がむき出して
いても、例えばPN接合のリーク等の障害が発生しない。
また、樹脂被覆に要する装置としても、従来装置にノ
ズル28及びその上下動機構を設けるだけでよく、わずか
な装置改良で前述の効果を得ることができる。
なお、ノズル28に代え、樹脂30を入れた容器によって
下側からIC16に樹脂30を塗布するようにしてもよい。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、半導体部品か
ら見て孔の側からは滴下により、また孔とは逆側からは
ノズル吐出により、半導体部品に樹脂を被着するように
したことにより、基板に搭載する半導体部品の表面に光
等の外部刺激に敏感な素材がむき出しているような場合
にも、半導体部品の性能劣化を防止してより性能の高い
半導体装置を製造することが可能であり、さらにこれを
製造装置のわずかな改造で、かつ生産性を低下させるこ
と無く実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例に係る半導体部品の樹脂被
覆方法の説明図であり、第1図(a)は工程説明図、第
1図(b)は製品断面図、 第2図は、従来の半導体部品の樹脂被覆方法の一例の説
明図であり、第2図(a)は工程説明図、第2図(b)
は製品断面図である。 12……フレームリード 16……IC 16a……ICの下面 22,30……樹脂

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板の孔を跨ぐように基板に固定された半
    導体部品に、当該基板を半導体部品が孔から見て下にな
    るよう配置した上で、半導体部品から見て孔の側からは
    滴下により、また孔とは逆の側からはノズル吐出によ
    り、樹脂を被着し、半導体部品を樹脂により被覆するこ
    とを特徴とする半導体部品の樹脂被覆方法。
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JPS58204547A (ja) * 1982-05-25 1983-11-29 Citizen Watch Co Ltd Icの封止方法

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