JP2744081B2 - 測定支援装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

〔産業上の利用分野〕 本発明は、デイジタル出力付きの測定機に接続され、
測定作業者に、使用測定機、測定箇所、測定方法に関す
る指示を与え、測定作業者に代わつて測定のための情報
操作を行う測定支援装置に係り、特に、測定依頼者は、
使用測定機の使い方を意識することなく測定指示を行う
ことができ、一方、測定作業者は、この測定指示に基づ
いて行われる測定支援によつて、簡単な動作のみで測定
を行うことが可能な測定支援装置に関するものである。

【従来の技術】

最近の測定機の中には、３次元測定機、投影機、工具
顕微鏡、形状測定機など、マイクロプロセツサを内蔵
し、測定結果をデイジタル出力できるインテリジエント
測定機や、マイクロプロセツサは内蔵しないが、デイジ
タル出力できるデイジタルノギスなどの軽便な測定機が
あり、これらの測定機をコンピユータと接続して、測定
データを直接コンピユータ内に取り込もうとする要求が
多い。

【発明が達成しようとする課題】

ところがインテリジエント測定機は、コマンドと呼ば
れる動作命令を多数持つていて、測定の際には、どのコ
マンドをどんな順序で発行するかを測定作業者が考えな
ければならず、高度な測定技術を持つた技能者が測定を
行う必要があつた。 又、コマンドを用いる測定機であると否とに拘わら
ず、測定したデータが、どこの何を測つたものかの識別
は、一つでも測定の順序を間違えると別のデータと見誤
つてしまうという欠点をもつデータ順序による方法か、
測定の都度、測定者が測定箇所の記号を入力するという
手間のかかる方法による以外、適当な手段がなかつた。 本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされた
もので、測定依頼者が使用測定機の使い方を意識するこ
となく作成した測定指示データに基づいて、測定作業者
が単純で少ない動作によつて適切な測定を行うことがで
きる測定支援装置を提供することを課題とする。

【課題を達成するための手段】

本発明は、第１図に要旨構成を示す如く、デイジタル
出力付きの測定機10に接続され、測定作業者11に、使用
測定機、測定箇所、測定方法に関する指示を与え、測定
作業者11に代わつて測定のための情報操作を行う測定支
援装置において、測定依頼者12が、測定機10の使い方を
意識することなく、測定対象の測定箇所及び測定データ
を示すための測定記述テーブル作成手段13と、該測定記
述テーブル作成手段13によつて作成される、少なくとも
測定対象と測定箇所を要測定データと使用測定機種を記
述したレコードとを、測定順序に拘束されることなく並
べた測定記述テーブル14と、該測定記述テーブル14のレ
コードを、そのレコードで指定される測定機10の機種に
適合した測定コマンド及び作業指示に展開するための、
測定機種毎に用意されるコマンド展開テーブル16A、16
B、16C・・・と、前記測定記述テーブル14のレコードを
測定動作順に配列し直し、更にこれらのレコードを前記
コマンド展開テーブルによつて、少なくとも測定箇所と
要測定データとデータ記憶番地とそのデータに関する使
用測定機種と使用測定機に対応したコマンドと測定作業
者11に対する指示情報とを含む１個又は複数個のレコー
ドに自動的に展開して制御テーブル20とする手段18と、
該制御テーブル20の記憶内容に従つて測定作業者11に指
示を与えるためのデイスプレイ22と、同じく前記制御テ
ーブル20の記憶内容に従つて使用測定機10にコマンドを
与える手段24と、与えられたコマンドに基づいて測定さ
れたデータを測定順に吸い上げる手段26と、測定作業者
11からの装置への呼び掛け及び応答を入力する手段28と
を備えることにより、前記課題を達成したものである。

【作用及び効果】

本発明による装置を用いた測定では、測定の実行及び
測定データの吸い上げに必要なコマンドやデータ出力指
令の発行と、測定機10自身では実行できない動作につい
ての文字と絵による測定作業者11に対する作業指示と
が、制御テーブル20と呼ばれる、１測定動作ごとの制御
情報を１レコードとして、これを測定順序に従つて集積
したテーブルに基づいて、必要なタイミングに自動的に
行われる。測定作業は一般に、測定に使用する測定機の
機種によつて異なるので、発行されるコマンドとデータ
出力指令並びに作業指示は、機種に応じた適切なもので
なければならない。従つてこれらの元となる制御テーブ
ル20の内容も、機種に応じた適切なものでなければなら
ない。一方、測定の元になる測定記述テーブル14は、測
定依頼者12が作成するものなので、測定対象の測定箇所
及び要測定データを、測定機10の使い方や測定順序を意
識することなく無秩序に示せることが望ましい。この矛
盾した要求を満すために、本発明では、測定機種ごとに
異なるコマンド展開テーブル16A、16B、16C・・・と呼
ばれる一種の辞書を用意し、無秩序に記述された測定記
述テーブル14のレコードを、使用測定機及び使用アタツ
チメントを基準としてソートして作業の流れが円滑にな
るようにした後、レコード毎にレコードに記録されてい
る測定機種に対応するコマンド展開テーブルを用いて、
制御テーブル用のレコードに展開し、これを集積して制
御テーブル20とする。 この仕組みにより、測定依頼者12が測定記述テーブル
作成手段13を用いて、測定対象の測定箇所及び要測定デ
ータを、測定機10の使い方を意識することなく無秩序に
示すことによつて、測定現場では測定作業者11がデイス
プレイ22を見ながら、絵と文字によつて示される作業指
示に基づいて、測定機自身では実行できないが人間にと
つては簡単な作業、例えば測定プローブを指示された位
置に動かすなどの作業のみを行い、希望の箇所を測定し
て、必要なデータを全て獲得することができる。

【実施例】

以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明
する。 第２図は、３次元測定機10Aとデータ出力付きのノギ
ス10B及びデプスゲージ10Cを用いて、測定対象の寸法が
設計値に対してどのようになつているかを調べるシステ
ムである。なお第２図は発明の内容を分かり易く示すた
めに意図的に簡単化したモデルであつて、本発明の範囲
がこれによつて制約されるものではない。 このシステムは、第２図に示す如く、３次元測定機10
A、データ出力付きノギス10B、データ出力付きデプスゲ
ージ10C、測定ステーシヨン32、計測管理用ホストコン
ピユータ34、画像読取装置36、マウス38によつて構成さ
れる。前記３次元測定機10A、データ出力付きノギス10
B、データ出力付きデプスゲージ10Cの３台の測定機は、
それぞれデータ入出力線48によつて測定ステーシヨン32
に接続され、更に測定ステーシヨン32は、伝送ライン46
によつて計測管理用ホストコンピユータ34に接続されて
いる。又、計測管理用ホストコンピユータ34には、画像
読取装置36とマウス38が接続されている。第２図に示す
内容のうち、２次元測定機10A、データ出力付きノギス1
0B、データ出力付きデプスゲージ10Cを除いた部分が、
本発明の測定支援装置を構成する。 前記測定管理用ホストコンピユータ34の内部は、第３
図に詳細に示す如く、全体制御部50の下に、測定指示情
報入力部52、制御情報作成部54、計測ネツト制御部56、
データベース管理部が存在する。 前記測定指示情報入力部52は、測定依頼者12が測定記
述テーブルエデイターと称するエデイターを用いて、設
計図等の元情報60に基づいて、測定対象、測定箇所、要
測定データ、使用測定機などを記録した測定記述テーブ
ル14と呼ばれる測定指示のためのテーブルを作成すると
共に、該測定記述テーブル14に記載された測定要素名を
測定物に示す図面と結び付けるところで、内部にデイス
プレイ、画像読取装置（イメージスキヤナ）36、マウス
38（第２図参照）、キーボード等を制御するマン−マシ
ンインターフエイス部52Aを含んでいる。 前記制御情報作成部54は、測定記述テーブル14から要
素データテーブル66及び相関データテーブル68と称する
測定データ格納テーブルを自動作成すると共に、測定機
に囚われない汎用的な測定記述テーブル14、要素データ
テーブル66及び相関データテーブル68から、測定機に密
着した制御テーブル20と呼ばれる制御情報を作り出すと
ころで、記憶部62が付属している。この記憶部62に、コ
マンド展開テーブル16と呼ばれる、測定機種ごとに用意
される一種の辞書と、測定記述テーブル14の内容をコマ
ンド展開テーブル16に基づいて制御テーブル20に展開す
るプログラム64と、制御テーブル20と、前記要素データ
テーブル66及び相関データテーブル68が格納される。 前記計測ネツト制御部56には、各測定ステーシヨン36
毎に設けられた測定情報入出力部56A、56B、56C・・・
が付属している。 前記データベース管理部58には、測定結果を記憶する
ためのデータベース69が付属している。 前記測定ステーシヨン32には、第３図に示す如く、測
定作業者11によつて選択された作業に必要な情報を計測
管理用ホストコンピユータ34から引出すと共に、測定デ
ータを前記計測管理用ホストコンピュータ34に送出する
測定情報入出力部70と、前記情報と測定データを一時的
に記憶する情報記憶部71と、測定作業者11と必要な情報
の交換を行うための、例えば液晶デイスプレイに呼び掛
け及び応答入力手段としての透明タツチパネルを重ね合
わせ、更にマウスを備えたマン−マシンインターフエイ
ス部72と、CNC3次元測定機や他の自動測定機に対して測
定指示情報を与えて自動測定させると共に、各測定機か
らの測定結果を前記情報記憶部71に取り込むコマンド提
供手段及び吸い上げ手段としてのマシン−マシンインタ
ーフエイス部74と、測定ステーシヨン全体を制御する制
御部76とが存在する。 この測定ステーシヨン32は、計測管理用ホストコンピ
ユータ34の測定情報入出力部56Aから送り込まれる制御
テーブル20に基づいて、測定依頼者12に代わつて使用測
定機10に命令を与え、又、液晶デイスプレイに表示され
る画像と文字によつて測定作業者11に個別動作の指示を
与える。更に、使用測定機10から測定データやコマンド
を受け取つて、情報記憶部71に一旦格納し、測定データ
は、要素データテーブル66及び相関データテーブル68に
格納して、適当な大きさにまとめて計測管理用ホストコ
ンピユータ34に送り、そのデータベース69に格納する。
又、コマンドは必要に応じて制御テーブル20の所定位置
に挿入される。この他、座標系の設定やプローブの交
換、作業の中断や終了に伴う雑多な作業を行わせるため
のコマンドの発行と測定作業者11への指示も行う。 以下、各テーブルについて説明する。 前記測定記述テーブル14は、測定機10の使い方を意識
することなく、測定対象の測定箇所及び要測定データを
無秩序に測定記述テーブルエデイター上で示すこによつ
て作成されるものであつて、例えば第４図に示す如く、
全体に共通な事項を記載したヘツダー部と、個別に測定
箇所と測定内容とを指示した本表とで構成される。 前記ヘツダー部には、例えば、測定記述テーブル14の
識別符号となる測定対象の品番、測定対象の品名、使用
測定機の機種（Ａ欄は主測定機、Ｂ〜Ｅ欄は補助測定
機）等を記載する。 前記本表は、レコードの集合であり、各レコードは、
記述No.（レコードの番号）、定義要素、投影面、表示
面、第１要素の名称、同じく出力指定１〜３、特別指
定、コメント、第２要素の名称、相関の出力指令１〜３
で構成されている。 ここで要素とは、有限個の値を与えると一義的に決ま
る幾何学図形を意味し、例えば点、線、面、円、円筒、
円錐、球等がこれに当たる。 定義要素というものは、測定対象ではないが測定の都
合上必要な要素を定義するためのもので、例えば３次元
測定機で測定を行う場合の基準面や原点、仮の要素の記
号などであり、一定の約束に従つて記述される。 投影面の欄は、３次元測定機で測定を行う場合の投影
面を指示するもので、XY（XY面）、YX（YX面）、XZ（XZ
面）、ZX（ZX面）、ZY（ZY面）、YZ（Ｚ面）、PL××
（測定対象上の要素面）のいずれかが記述される。 表示面の欄は、測定対象をどの方向から見た図で測定
ステーシヨン32のデイスプレイ面に表示するかを指示す
るもので、XY（上面図）、YX（下面図）、XZ（前面
図）、ZX（背面図）、ZY（左側面図）、YZ（右側面
図）、MS（全体図）のいずれかが記述されるが、投影面
と同じ記号の場合は省略可能である。 第１要素の名称欄には、測定したい要素又は定義要素
に対応する要素の記号が記述される。 第１要素の出力指定１〜３欄には、第１要素の名称で
指定された要素の中の測るべき項目の記号と設計値と誤
差上限許容値と誤差下限許容値とが、コンマで区切つて
この順序に記述される。ただし項目の記号以外は記述し
なくても良い。又、測定したい項目の数が４個以上の場
合は、次のレコード記述No.欄にＣと記入して、次のレ
コードの出力指定欄を用いる。なお要素指定のために記
述されている要素で、測定の必要のないものについては
記述しない。 特別指定欄には、使うべき測定機やアタツチメントな
ど、特に指定したい条件があつた場合、Ｘ＝××の形式
でその内容が記述される。ここでＸは指定項目を示す記
号、××はその内容である。この欄で測定機の指定がな
い場合、ヘツダー部のＡ欄に記述された主測定機が使用
される。 コメント欄には、測定作業者11に伝えたい注意事項な
どが記述される。なおこの欄は、図では１文字分しかな
いが、記述時には画面上で拡張され、記述が終わると１
文字分の大きさに縮小する。 第２要素は、例えば円１と円２の中心間距離のよう
に、２個の要素の関係で決まる値を測定する場合にだけ
必要な要素で、第１要素との間で必要な関係を作り出す
要素の記号が記述される。 相関は、第１要素と第２要素で決まる関係の中の、測
定したい項目の記号と設計値、上限値、下限値が記述さ
れる。 本表の中の記号の意味は次の通りである。 XY:XY面、 YZ:YZ面、 ZX:ZX面、 Ｘ（定義要素欄及び名称欄にある場合）:X軸、 Ｙ（定義要素欄及び名称欄にある場合）:Y軸、 Ｚ（定義要素欄及び名称欄にある場合）:Z軸、 ORG:原点、 PT××：点××（××は番号、以下同様） PL××：線××、 CI××：円××、 SP××：球××、 CY××：円筒××、 Ｘ（出力指定欄にある場合）:X座標の値、 Ｙ（出力指定欄にある場合）:Y座標の値、 Ｚ（出力指定欄にある場合）:Z座標の値、 D:直径、 LS:第１要素と第２要素の内容で決まる、ある長さ、 LC:第１要素と第２要素の内容で決まる、別の長さ、 LL:第１要素と第２要素の内容で決まる、更に別の長
さ、 CA:第１要素と第２要素の内容で決まる交角、 XC:第１要素と第２要素の内容で決まる、ある点のＸ座
標、 YC:第１要素と第２要素の内容で決まる、ある点のＹ座
標、 ZC:第１要素と第２要素の内容で決まる、ある点のＺ座
標、 XD:第１要素の内容で決まるある点と、第２要素の内容
で決まるある点のＸ座標値の差、 YD:第１要素の内容で決まるある点と、第２要素の内容
で決まるある点のＹ座標値の差、 ZD:第１要素の内容で決まるある点と、第２要素の内容
で決まるある点のＺ座標値の差、 TP＝:3次元測定機の測定チツプの直径、 G ＝：測定機指定を現す記号、 Ｇ＝の後のＡ〜E:ヘツダー部の記述に対応する測定機の
機種、 以上の意味を更に具体的に説明すると、例えば記述N
o.3は、原点ORGを円CI11の中心で定義し、更にその円CI
11の直径Ｄを測定する必要があつて、その設計値は38m
m、誤差許容上限は＋0.0mm、誤差許容下限は−0.05mmで
あることを示す。又、記述No.6は、面PL16とＸ軸との交
角CAを測定する必要があつて、その設計値は30度、誤差
許容上限と誤差許容下限には特に制限のないことを示
す。 なお第４図は、要素に基づいて測定を行う場合の測定
記述テーブルの一例であり、例えば連続形状のように、
有限個の値では一義的に規定することができない形状な
どを測定する場合は、別の形態のテーブルになることは
言うまでもない。 前記測定記述テーブル14の本表は、測定依頼者12が、
要測定データ等を使用測定機等を意識することなく任意
の順番で測定指示情報入力部52の測定記述テーブルエデ
イターによつて作成した後、制御情報作成部54によつ
て、例えば第５図に示すような手順で、使用測定機等を
考慮して測定順に並べ変えられる。即ち、まずステツプ
800で、多種の測定機中でなるべく大型の測定機が優先
して連続的に使用されるようにする。これは、特に大型
測定機の切換えや測定物の移動が頻繁にあると作業が大
変であり、時間もかかるので、これらを少なくするため
である。次に、ステツプ810で、同一測定機では、なる
べく同一プローブが優先して連続的に使用されるように
する。これは、プローブ交換が頻繁にあると、作業が大
変であり、時間もかかるので、これを少なくするためで
ある。次に、ステツプ820で、なるべく測定対象の同じ
面が優先して連続的に測定されるようにする。これは、
測定対象の面が頻繁に変わると、プローブ姿勢変更等の
作業が大変であり、時間もかかるので、これを防ぐため
である。次いで、ステツプ830に進み、決定された測定
順に従つて、記述No.を付ける。勿論、ステツプ800乃至
820で測定順を決定するに際しては、測定基準（面、原
点等）の設定のための測定や、相関データを得る際の第
１要素の測定は、前記基準に拘わらず、他の測定や第２
要素の測定に優先して行われるようにする。 第６図は、前記要素データテーブル66の一例である。
この要素データテーブル66は、測定記述テーブル14に記
載されている全要素を抽出し、２個以上現れているもの
は１個にまとめた上、表示面によつてソートするという
方法で、制御情報作成部54により自動作成される。 第７図は、前記相関データテーブル68の一例である。
この相関データテーブル68は、測定記述テーブル14で相
関欄の中身が存在する行に付いて、順次テーブルに記入
するという方法で、制御情報作成部54により自動作成さ
れる。 本装置では、測定作業者11への指示に測定ステーシヨ
ン32の液晶デイスプレイ上で図が表示される。このため
に要素データ名と図との結合が、第８図に示すような手
順で行われる。 まずステツプ900で、測定依頼者12が、測定記述テー
ブルエデイターの画面編集機能を使つて、画像読取装置
36で測定対象の全体図を編集面に読み込ませ、続いて拡
大、縮小、回転、移動などを行つて、適度な位置に適度
なサイズで配置する。次いで、ステツプ910で、この作
業の完了を例えばマウス38の操作などによつて測定記述
テーブルエデイターに通知すると、ステツプ920で、こ
の図がMS（全体図）として登録され、続いて要素データ
テーブル66上の投影面が調べられて、全体図のうちのど
の部分がどの投影面の図か示すように指示される。そこ
でステツプ930で、マウス38などにより範囲を示すと、
ステツプ940で、それぞれXY、XZ、ZX、ZYなどと登録さ
れる。これが完了すると、ステツプ950で、要素データ
テーブル66に記載されている要素名の順に、例えば第９
図に示すような、要素名と図とを結合させる画面が自動
的に現れるので、ステツプ960で、マウス38などを操作
して質問に答えを与える。第９図は、画面の左下隅を原
点とするXY座標系を形成していて、上記操作により、カ
ーソルで示した位置の座標値が要素データテーブル66の
Ｘ値とＹ値として記録される。 なお上記の方法は、要素と図との結合方法として本実
施例で採用した方法であつて、CADで作成された図面を
利用するなどの方法を用いても、本発明の有効性は何等
変わらない。 更に又、要素と図とを結合する方式は、測定作業者11
に対する支援の能力を高めるための手段であつて、図を
用いない文字のみによる支援であつても、測定機10の操
作方法や測定順序に拘束されずに作成した測定記述テー
ブル14から、無駄のない測定順序で測定機10に沿つたコ
マンドと作業指示の発行を行う制御テーブル20を作成
し、この制御テーブル20によつて測定作業を支援すると
言う本発明の本質は何等損われるものではない。 前記制御テーブル20は実際の測定作業を支援するため
のものであり、前記測定記述テーブル14から自動作成さ
れる。この制御テーブル20は、例えば第10図に示す如
く、１行が１レコードで、１レコードはステツプ番号、
測定ステーシヨン32を通して測定機10に与えられるコマ
ンド又は測定指令、測定ステーシヨン32に対するデータ
の３個の大フイールドで構成される。 ステツプ番号は、メイン番号とサブ番号で構成されて
おり、メイン番号は、使用測定機に応じて必要な場合に
システムが自動生成するNo.0（測定準備）以外は、測定
記述テーブル14の番号に対応する。サブ番号は、メイン
番号に対応する測定記述テーブル14のレコードを、指定
された測定機に対する具体的コマンド又は測定指令に展
開した行毎に付けられる。 測定コマンドは、測定機を動作させる命令そのもので
ある。 測定ステーシヨン32に対するデータのフイールドは、
例えば10個のサブフイールドを含んでいる。 この中で測定機の欄は、そのレコードで使われる測定
機を示し、測定記述テーブル14のヘツダー部の記号で表
示する。 要素名称と出力指定１〜５の欄には、測定記述テーブ
ル14の内容に応じて測定する必要のある要素と出力指定
が入る。 テーブルNo.は、測定結果の入れるテーブルを示す番
号で、例えば１が要素データテーブル66、２が相関デー
タテーブル68とされる。 メモリーNo.の欄は、テーブルNo.で指定されるテーブ
ルにデータを保存するための行番号であり、同時に３次
元測定機などのインテリジエント測定機が測定結果を保
存するためのメモリー番地にもなつている。 図面、矢印、Ｘ値、Ｙ値の欄には、それぞれ測定ステ
ーシヨン32のデイスプレイ画面上に表示される図面の記
号、測定すべき要素を指し示す矢印の種類、その矢印の
先端のＸ及びＹ座標値が入る。 ガイドメツセージ欄には、測定作業者11に対する作業
ガイド入る。このガイド文は、測定記述テーブル14の内
容と、そこから展開される測定コマンドによつて一義的
に決まるものであり、辞書の形で保存されていて必要な
ときにここに入れられる。 この制御テーブル20は、前記測定記述テーブル14、要
素データテーブル66、相関データテーブル68から自動に
作られる。具体的には、第１図に示した如く、使用測定
機毎に動作の種類（測定基準、測定、データ処理）に応
じて必要なコマンドのセツトを、コマンド展開テーブル
16A、16B、16C・・・として予め準備しておき、前記測
定記述テーブル14で指定された動作の種類に応じて、測
定順に前記コマンドを展開して並べていくことによつ
て、制御テーブル20が自動的に作成される。これに対し
て従来は、例えば３次元測定機の場合、測定作業者11自
身で３次元測定機に対するコマンドをキーボードから一
々入力する必要があり、３次元測定機を熟知していなけ
ればならず、高度な測定技術が要求されていた。 第11図は、測定ステーシヨン32における動作の流れを
示している。 使用されるべき測定ステーシヨン32の電源を入れる
か、１単位の作業が終了すると、計測ネツト制御部56と
の通信が行われて制御部76が動き、例えば第12図に示す
ような作業選択用の初期メニユーがマン−マシンインタ
ーフエイス部72の透明タツチパネル付き液晶デイスプレ
イに表示される。そこで、測定作業者11は希望の作業を
示すアイコンにタツチして、これを選択する（ステツプ
1000）。例えば測定作業者11が、通常のシングル測定を
選択した場合には、例えば第13図に示すような画面が液
晶デイスプレイに表示されるので、測定対象の品番を入
力する（ステツプ110）。なお品番は、バーコードや磁
気カードを読み取るなどの方法で入力しても差支えな
い。 測定作業者11が選択した品番に合わせて、計測管理用
ホストコンピユータ34より、対応する制御テーブル20が
測定ステーシヨン32に送り込まれ、情報記憶部71に記憶
され、そこから測定支援情報が液晶デイスプレイに表示
される（ステツプ1020）。例えば主測定機が３次元測定
機の場合には、第14図に示すような画面が表示される。
この第14図の画面では、プローブヘツドに取り付けるべ
きチツプの種類が示されているが、これは制御テーブル
20のステツプ0/10によるものである。 指示された作業を実行すると、続いて測定ステーシヨ
ン32の液晶デイスプレイには、前記制御テーブル20に従
つて、例えば第15図に示すような、機械座標系設定のた
めの画面（ステツプ0/14）、機械座標系の設定の副産物
として得られるプローブチツブの直径を示す画面（ステ
ツプ0/15）、測定準備完了を知らせる画面、チツプ姿勢
変更のアラーム画面（ステツプ0/16）等が表示されるの
で、その指示に従つて必要な測定を行う（ステツプ103
0）。 制御テーブル20に記憶された内容に従つて測定を行う
と、その結果が、例えば第16図（SP11の測定の場合）に
示す如く表示される（ステツプ1040）。ここで、例えば
設計値が括弧書きで示されると共に、例えば測定値が許
容範囲を越えている場合にはNGマークが表示されるの
で、測定結果の妥当性を測定作業者11が容易に知ること
ができる。ここで取り消しアイコンを押せば、もう一度
同じ測定に戻り、実行アイコンを押せば次の測定に進む
（ステツプ1050）。 なお、補助情報を求めたり、測定作業者11の判断で指
示と異なる行動を取りたい場合には、補助アイコンを押
すと、例えば第17図のような、より詳細な測定支援情報
が表示されるので、この情報を利用して詳細な支援情報
を得たり、あるいは、独自な作業を行うことができる。
補助作業終了時は、リターンアイコンを押すことで、元
の画面に戻ることができる。 なお、主測定機以外によつて測定を行う場合、例えば
円筒CY11の直径をマイクロメータで測定する場合には、
例えば第18図に示す如く、画面でマイクロメータで測定
するよう指示し、測定値をマイクロメータに保持させた
後、マイクロメータアイコンを押すと、その値が読み込
まれ、情報記憶部71に格納される。 一連の測定が終了すると、データが測定ステーシヨン
の情報記憶部71の要素データテーブル66及び相関データ
テーブル68にまとめられた形で、計測管理用ホストコン
ピユータ34に送られ（ステツプ1060）、データベース管
理部58によつてデータベース69として蓄積される。 以上はシングル測定の例であるが、この他、同一品番
を持つ測定対象の二回目以降の測定を自動で行うための
ラーン測定、該ラーン測定で作られたデータに基づいて
実際に自動測定を行うリピート測定、その他のいろいろ
な応用があり得る。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の要旨構成を示す線図、 第２図は、本発明の実施例の構成を示すブロツク図、 第３図は、前記実施例で用いられている計測管理用ホス
トコンピユータ及び測定ステーシヨンの構成を示すブロ
ツク線図、 第４図は、同じく測定記述テーブルの一例を示す線図、 第５図は、前記実施例における測定順の決定方法を示す
流れ図、 第６図は、前記実施例で用いられている要素データテー
ブルの一例を示す線図、 第７図は、同じく相関データテーブルの一例を示す線
図、 第８図は、前記実施例における要素位置指定方法を示す
流れ図、 第９図は、同じく表示面と測定要素を指定する際のデイ
スプレイ上の表示画面の一例を示す線図、 第10図は、前記実施例で用いられている制御テーブルの
一例を示す線図、 第11図は、前記実施例の測定ステーシヨンにおける動作
を示す流れ図、 第12図は、同じく測定ステーシヨンの電源投入時の初期
画面の一例を示す線図、 第13図は、同じくシングル測定の初期画面の一例を示す
線図、 第14図は、同じく主測定機が３次元測定機である場合の
測定開始画面の一例を示す線図、 第15図は、同じくXY基準面の設定画面の一例を示す線
図、 第16図は、同じく測定結果の表示画面の一例を示す線
図、 第17図は、同じく補助画面の一例を示す線図、 第18図は、同じく補助測定機による測定を指示する画面
の一例を示す線図である。 10……測定機、 10A……３次元測定機、 10B……データ出力付きノギス、 10C……データ出力付きデプスゲージ、 11……測定作業者、 12……測定依頼者、 13……測定記述テーブル作成手段、 14……測定記述テーブル、 16、16A、16B、16C……コマンド展開テーブル、 18……制御テーブル作成手段、 20……制御テーブル、 22……デイスプレイ、 24……コマンド提供手段、 26……データ吸い上げ手段、 28……呼びかけ及び応答入力手段、 32……測定ステーシヨン、 34……計測管理用ホストコンピユータ、 36……画像読取装置、 38……マウス、 52……測定指示情報入力部、 52A、72……マン−マシンインターフエイス部、 74……マシン−マシンインターフエイス部。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】デイジタル出力付きの測定機に接続され、
   測定作業者に、使用測定機、測定箇所、測定方法に関す
   る指示を与え、測定作業者に代わつて測定のための情報
   操作を行う測定支援装置であつて、 測定依頼者が、測定機の使い方を意識することなく、測
   定対象の測定箇所及び測定データを示すための測定記述
   テーブル作成手段と、 該測定記述テーブル作成手段によつて作成される、少な
   くとも測定対象と測定箇所と要測定データと使用測定機
   種を記述したレコードとを、測定順序に拘束されること
   なく並べた測定記述テーブルと、 該測定記述テーブルのレコードを、そのレコードで指定
   される測定機の機種に適合した測定コマンド及び作業指
   示に展開するための、測定機種毎に用意されるコマンド
   展開テーブルと、 前記測定記述テーブルのレコードを測定動作順に配列し
   直し、更にこれらのレコードを前記コマンド展開テーブ
   ルによつて、少なくとも測定箇所と要測定データとデー
   タ記憶番地とそのデータに関する使用測定機種と使用測
   定機に対応したコマンドと測定作業者に対する指示情報
   とを含む１個又は複数個のレコードに自動的に展開して
   制御テーブルとする手段と、 該制御テーブルの記憶内容に従つて測定作業者に指示を
   与えるためのデイスプレイと、 同じく前記制御テーブルの記憶内容に従つて使用測定機
   にコマンドを与える手段と、 与えられたコマンドに基づいて測定されたデータを測定
   順に吸い上げる手段と、 測定作業者からの装置への呼び掛け及び応答を入力する
   手段と、 を含むことを特徴とする測定支援装置。