JP2743430B2 - Solid-state imaging device - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、固体撮像装置に関し、特に、品種によって
異なる固有情報を内蔵した固体撮像素子を備えた固体撮
像装置に関する。Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a solid-state imaging device, and more particularly, to a solid-state imaging device provided with a solid-state imaging device having unique information that varies depending on a product type.

［従来の技術］ 第７図は、この種従来の固体撮像装置のブロック図で
ある。第７図において、固体撮像素子1aは、他の品種の
固体撮像素子とは異なる固有情報の発生手段を内蔵して
いる。固有情報を含む固体撮像素子1aの出力信号は、サ
ンプルホールド回路２へ送られる。サンプルホールド回
路２の出力信号のうち、この固体撮像素子の固有情報
は、固有情報抽出回路５によって抽出され、モード選択
信号発生回路６へ送られる。モード選択信号発生回路６
は、受け入れた固有情報を解読してモード選択信号を駆
動信号発生回路４へ発信する。モード選択信号を受けて
駆動信号発生回路４は、固体撮像素子1aに適合した駆動
信号を発生し、固体撮像素子を駆動する。[Prior Art] FIG. 7 is a block diagram of a conventional solid-state imaging device of this kind. In FIG. 7, the solid-state imaging device 1a has a built-in means for generating unique information different from solid-state imaging devices of other types. The output signal of the solid-state imaging device 1a including the unique information is sent to the sample and hold circuit 2. The unique information of the solid-state imaging device out of the output signal of the sample and hold circuit 2 is extracted by the unique information extraction circuit 5 and sent to the mode selection signal generation circuit 6. Mode selection signal generation circuit 6
Decrypts the received unique information and transmits a mode selection signal to the drive signal generation circuit 4. Upon receiving the mode selection signal, the drive signal generation circuit 4 generates a drive signal suitable for the solid-state imaging device 1a and drives the solid-state imaging device.

［発明が解決しようとする問題点］ 上述した従来の固体撮像装置は、固体撮像素子のフォ
トダイオードに欠陥がない場合でも固有情報セルに欠陥
があれば、モード選択信号発生回路は本来発生すべき正
しいモード選択信号を発生できない。従って、その場合
には、駆動信号発生回路は固体撮像素子に適合した駆動
信号を発生できず、固体撮像装置は正常な動作ができな
い。そのため従来例では、固有情報セルに欠陥のある固
体撮像素子を、たといフォトダイオードに欠陥がなくて
も不良品としなければならないという問題があった。[Problems to be Solved by the Invention] In the above-mentioned conventional solid-state imaging device, even if the photodiode of the solid-state imaging device has no defect, if the specific information cell is defective, the mode selection signal generation circuit should be originally generated. The correct mode selection signal cannot be generated. Therefore, in that case, the drive signal generation circuit cannot generate a drive signal suitable for the solid-state imaging device, and the solid-state imaging device cannot operate normally. Therefore, in the conventional example, there is a problem that a solid-state imaging device having a defect in the unique information cell must be rejected even if the photodiode does not have a defect.

［問題点を解決するための手段］ 本発明の固体撮像装置は、各フィールド毎に所定のタ
イミングで読み出される誤り訂正可能な符号で記録され
た固有情報発生手段を内蔵する固体撮像素子と、前記固
体撮像素子の出力信号を受けるサンプルホールド回路
と、前記サンプルホールド回路の出力信号に含まれる前
記固有情報を取り出す固有情報抽出回路と、前記固有情
報抽出回路の出力信号に含まれる固有情報の誤りを検出
して訂正する誤り訂正回路と、前記誤り訂正回路の出力
信号を予め用意された基準情報と比較して解読し前記固
有情報に対応するモード選択信号を発生するモード選択
信号発生回路と、前記モード選択信号に対応する駆動信
号を発生してこれを前記固体撮像素子に供給する駆動信
号発生回路とを具備している。[Means for Solving the Problems] A solid-state imaging device according to the present invention includes: a solid-state imaging device including a unique information generating unit recorded with an error-correctable code read at a predetermined timing for each field; A sample-and-hold circuit that receives an output signal of the solid-state imaging device, a unique-information extracting circuit that extracts the unique information included in the output signal of the sample-and-hold circuit, and an error of the unique information included in the output signal of the unique information extracting circuit. An error correction circuit for detecting and correcting, a mode selection signal generation circuit for decoding the output signal of the error correction circuit by comparing it with reference information prepared in advance and generating a mode selection signal corresponding to the unique information; A drive signal generating circuit for generating a drive signal corresponding to the mode selection signal and supplying the drive signal to the solid-state imaging device.

［実施例］ 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明す
る。Example Next, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.

第１図は、本発明の一実施例を示すブロック図であ
る。同図に示すように、各フィールド毎に所定のタイミ
ングで読み出される誤り訂正可能な符号で記録された固
有情報発生手段を内蔵する固体撮像素子１の出力信号
は、サンプルホールド回路２にホールドされる。サンプ
ルホールド回路２の出力信号に含まれる固有情報は固有
情報抽出回路５から抽出される。固有情報抽出回路の出
力信号に誤りがある場合には、この誤りを検出して訂正
するために、固有情報抽出回路５の出力を誤り訂正回路
７へ送信する。誤り訂正回路７は、その入力信号に含ま
れる誤りを訂正した後、その出力信号をモード選択信号
発生回路６へ送る。モード選択信号発生回路６は、誤り
訂正回路７の出力信号を予め用意された基準情報と比較
して解読し、前述の固有情報に対応する駆動信号を発生
して固体撮像素子１に供給する。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention. As shown in the figure, the output signal of the solid-state imaging device 1 having a built-in unique information generating means recorded with an error-correctable code read at a predetermined timing for each field is held by a sample-and-hold circuit 2. . The unique information included in the output signal of the sample and hold circuit 2 is extracted from the unique information extraction circuit 5. If there is an error in the output signal of the unique information extraction circuit, the output of the unique information extraction circuit 5 is transmitted to the error correction circuit 7 in order to detect and correct the error. After correcting an error contained in the input signal, error correction circuit 7 sends the output signal to mode selection signal generation circuit 6. The mode selection signal generation circuit 6 compares the output signal of the error correction circuit 7 with reference information prepared in advance, decodes the signal, generates a drive signal corresponding to the above-described unique information, and supplies the drive signal to the solid-state imaging device 1.

第２図は、固有情報発生手段を内蔵する固体撮像素子
１の平面図である。第２図に示されるように、固体撮像
素子は、フォトダイオード24、垂直転送レジスタ23、水
平転送レジスタ25、オーバーフロードレインおよび誤り
訂正可能な符号を記録する固有情報セル22を有する。FIG. 2 is a plan view of the solid-state imaging device 1 including a unique information generating unit. As shown in FIG. 2, the solid-state imaging device has a photodiode 24, a vertical transfer register 23, a horizontal transfer register 25, an overflow drain, and a unique information cell 22 for recording an error-correctable code.

第３図は、第２図に示した固体撮像素子の固有情報セ
ル22部分の断面図である。固有情報セル22は、アルミニ
ウム配線32により電源電位または接地電位に固定された
N⁺型の電荷発生用ドレイン31を有している。電荷発生用
ドレイン31は、Ｎ型半導体基板36上に形成されたＰウェ
ル35内に設けられており、その電荷は、転送ゲート電極
33への印加電圧を操作することにより垂直転送レジスタ
34へ読み出される。この点ではフォトダイオード24に準
じた構成である。固有情報セル22は、第２図に示される
ように、各画素列毎に１個ずつ設けられている。固体撮
像素子に内蔵される固有情報は、誤り訂正可能な符号と
して例えばハミング符号で記録されている。FIG. 3 is a sectional view of a portion of the unique information cell 22 of the solid-state imaging device shown in FIG. The unique information cell 22 is fixed to the power supply potential or the ground potential by the aluminum wiring 32
It has an N ⁺ type charge generation drain 31. The charge generation drain 31 is provided in a P well 35 formed on an N-type semiconductor substrate 36, and the charge is transferred to a transfer gate electrode.
By operating the voltage applied to 33, the vertical transfer register
Read to 34. In this respect, the configuration is similar to that of the photodiode 24. As shown in FIG. 2, one unique information cell 22 is provided for each pixel column. The unique information contained in the solid-state imaging device is recorded as an error-correctable code such as a Hamming code.

第４図は、固有情報抽出回路５およびモード選択信号
発生回路６の例を示すブロック図である。固有情報抽出
回路５は、フリップフロップ501〜505、ANDゲート506〜
508およびシフトレジスタ509から構成されている。モー
ド選択信号発生回路６は、基準情報を複数個格納してい
る読み出し専用メモリである基準情報記憶回路62を含ん
でいる。この基準情報のうち１つは固体撮像素子１の固
有情報に対応している。基準情報回路62の基準情報は、
比較回路61に入力され誤り訂正回路７の出力と比較され
る。FIG. 4 is a block diagram showing an example of the unique information extraction circuit 5 and the mode selection signal generation circuit 6. The unique information extraction circuit 5 includes flip-flops 501 to 505 and AND gates 506 to
508 and a shift register 509. The mode selection signal generation circuit 6 includes a reference information storage circuit 62 which is a read-only memory storing a plurality of reference information. One of the reference information corresponds to the unique information of the solid-state imaging device 1. The reference information of the reference information circuit 62 is
The signal is input to the comparison circuit 61 and compared with the output of the error correction circuit 7.

第５図は、この実施例の動作を説明するための信号波
形図である。同図において、HD、VDおよびφＶは、それ
ぞれ、水平ドライブ信号、垂直ドライブ信号および駆動
パルスを意味している。垂直帰線期間の３つ目の水平出
力期間に、固有情報がサンプルホールド回路２の出力信
号として得られるものとする。この水平出力期間では、
フリップフロップ503の出力Q3およびフリップフロップ5
04の出力４がともに“H"であるので、ANDゲート507の
出力信号は“H"となり、水平転送クロックによってシフ
トレジスタ509に、固有情報が格納される。固有情報セ
ル22に欠陥があるとすると、シフトレジスタ509に格納
された固有情報には誤りが存在することになる。この誤
りは、誤り訂正回路７で訂正され正しい固有情報として
出力される。ハミング符号についての誤り訂正回路は周
知であるので誤り訂正回路７に関する説明は省略する。
誤り訂正回路７の出力信号と基準情報記憶回路62に格納
されている基準情報の内の１つとを比較し、不一致のと
きは比較回路61の出力信号は“H"となるものとする。次
の水平出力期間において、すなわち、垂直帰線期間の４
つ目の水平出力期間において、フリップフロップ504の
出力Q4とフリップフロップ505の出力５がともに“H"
となるのでANDゲート506の出力が“H"となるが、このと
き比較回路61の出力信号が“H"であれば、ANDゲート63
を介してカウンタ64の計数値に１が加えられる。その結
果、基準情報記憶回路62の基準情報は、次のものに切り
替えられる。固有情報と基準情報を比較し一致するまで
以上の手続きを繰り返し行う。カウンタ64の計数値はモ
ード選択信号として駆動信号発生回路４へ伝達される。
固体撮像素子１に適合した駆動回路が選択された後に
は、停止回路を作動させて駆動回路を選択するための一
連の回路の動作を停止せしめてもよい。FIG. 5 is a signal waveform diagram for explaining the operation of this embodiment. In the figure, HD, VD, and φV mean a horizontal drive signal, a vertical drive signal, and a drive pulse, respectively. It is assumed that unique information is obtained as an output signal of the sample and hold circuit 2 during the third horizontal output period of the vertical blanking period. In this horizontal output period,
Output Q3 of flip-flop 503 and flip-flop 5
Since both the outputs 4 of “04” are “H”, the output signal of the AND gate 507 becomes “H”, and the unique information is stored in the shift register 509 by the horizontal transfer clock. Assuming that the unique information cell 22 has a defect, an error exists in the unique information stored in the shift register 509. This error is corrected by the error correction circuit 7 and output as correct unique information. Since the error correction circuit for the Hamming code is well known, a description of the error correction circuit 7 will be omitted.
The output signal of the error correction circuit 7 is compared with one of the reference information stored in the reference information storage circuit 62, and when they do not match, the output signal of the comparison circuit 61 is set to "H". In the next horizontal output period, that is, 4 in the vertical retrace period
In the second horizontal output period, the output Q4 of the flip-flop 504 and the output 5 of the flip-flop 505 are both “H”.
Therefore, the output of the AND gate 506 becomes “H”. At this time, if the output signal of the comparison circuit 61 is “H”, the AND gate 63
1 is added to the count value of the counter 64 via. As a result, the reference information in the reference information storage circuit 62 is switched to the next one. The above procedure is repeated until the unique information and the reference information are compared and matched. The count value of the counter 64 is transmitted to the drive signal generation circuit 4 as a mode selection signal.
After a drive circuit suitable for the solid-state imaging device 1 is selected, a stop circuit may be operated to stop a series of circuits for selecting a drive circuit.

次に、第６図を参照して本発明の他の実施例について
説明する。第６図は、この実施例に用いられる誤り訂正
回路のブロック図である。Next, another embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a block diagram of an error correction circuit used in this embodiment.

固有情報セル22は、固体撮像素子の画素数まで設ける
ことができるがモード数は最大固有情報セル数の数分の
１以下であるので、この実施例では、固体撮像素子には
同一固有情報を繰り返しハミング符号で記録しておく。
シフトレジスタ509の出力信号を、誤り訂正部71で訂正
した後、カウンタ72により１ワードずつ分けて固有情報
記録部73に記録する。全ての固有情報が読み出された後
に、固有情報記録部73に記録された固有情報を多数決回
路74により比較し正しい固有情報を得てこれを出力す
る。The unique information cell 22 can be provided up to the number of pixels of the solid-state imaging device, but the number of modes is equal to or less than a fraction of the maximum number of unique information cells. In this embodiment, the same unique information is provided to the solid-state imaging device. It is recorded with a repeated Hamming code.
After correcting the output signal of the shift register 509 by the error correction unit 71, the counter 72 separates the output signal by one word and records it in the unique information recording unit 73. After all the unique information has been read, the majority information circuit 74 compares the unique information recorded in the unique information recording unit 73 to obtain correct unique information and outputs it.

この実施例によれば、誤り訂正が一層確実になり信頼
性が高まる。According to this embodiment, error correction is more reliable and reliability is improved.

［発明の効果］ 以上説明したように、本発明は、誤り訂正可能な符号
で記録された固有情報発生手段を所定個所に内蔵する固
体撮像素子を用い、読み出された固有情報に誤りがある
場合にはこれを訂正し、この訂正された固有情報に基づ
いて固体撮像素子に適合した駆動信号を発生せしめるも
のであるので、本発明によれば、固体撮像素子の固有情
報セルに欠陥があっても、誤り訂正回路によりこの誤り
を検出しこれを訂正して固体撮像素子を正常に動作させ
ることができる。したがって、本発明によれば、固有情
報セルの欠陥を固体撮像素子の良否に影響させないよう
にすることができ、結果的に製品の歩留まりを高めるこ
とができる。[Effects of the Invention] As described above, the present invention uses a solid-state imaging device having a built-in unique information generating means recorded in an error-correctable code at a predetermined location, and the read unique information has an error. In this case, this is corrected, and a drive signal suitable for the solid-state imaging device is generated based on the corrected unique information. Therefore, according to the present invention, there is no defect in the unique information cell of the solid-state imaging device. However, this error can be detected by the error correction circuit, corrected, and the solid-state imaging device can operate normally. Therefore, according to the present invention, it is possible to prevent the defect of the unique information cell from affecting the quality of the solid-state imaging device, thereby increasing the product yield.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第１図は、本発明の一実施例のブロック図、第２図は、
この実施例に用いられる固体撮像素子の平面図、第３図
は、第２図の部分断面図、第４図は、第１図の部分ブロ
ック図、第５図は、この実施例における各部の信号波形
図、第６図は、本発明の他の実施例を示すブロック図、
第７図は、従来例のブロック図である。 １、1a……固体撮像素子、２……サンプルホールド回
路、３……映像信号処理回路、４……駆動信号発生回
路、５……固有情報抽出回路、６……モード選択信号発
生回路、７……誤り訂正回路、21……オーバーフロード
レイン、22……固有情報セル、23……垂直転送レジス
タ、24……フォトダイオード、25……水平転送レジス
タ、31……電荷発生用ドレイン、32……アルミニウム配
線、33……転送ゲート電極、34……垂直転送レジスタ、
35……Ｐウェル、36……Ｎ型半導体基板、501〜505……
フリップフロップ、506〜508……ANDゲート、509……シ
フトレジスタ、61……比較回路、62……基準情報記憶回
路、63……ANDゲート、64……カウンタ、71……誤り訂
正部、72……カウンタ、73……固有情報記録部、74……
多数決回路。FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 3 is a partial cross-sectional view of FIG. 2, FIG. 4 is a partial block diagram of FIG. 1, and FIG. 5 is a partial block diagram of the solid-state imaging device used in this embodiment. FIG. 6 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a block diagram of a conventional example. 1, 1a: solid-state image pickup device, 2: sample-hold circuit, 3: video signal processing circuit, 4: drive signal generation circuit, 5, unique information extraction circuit, 6, mode selection signal generation circuit, 7 ... Error correction circuit, 21 Overflow drain, 22 Specific information cell, 23 Vertical transfer register, 24 Photodiode, 25 Horizontal transfer register, 31 Charge generation drain, 32 Aluminum wiring, 33 transfer gate electrode, 34 vertical transfer register,
35 ... P well, 36 ... N-type semiconductor substrate, 501-505 ...
Flip-flop, 506 to 508, AND gate, 509, shift register, 61, comparison circuit, 62, reference information storage circuit, 63, AND gate, 64, counter, 71, error correction unit, 72 …… Counter, 73 …… Unique information recording part, 74 ……
Majority circuit.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項１】誤り訂正可能な符号で記録された固有情報
発生手段を所定個所に内蔵する固体撮像素子と、前記固
体撮像素子の出力信号をうけるサンプルホールド回路
と、前記サンプルホールド回路の出力信号に含まれる前
記固有情報を取り出す固有情報抽出回路と、前記固有情
報抽出回路の出力信号に含まれる固有情報の誤りを訂正
する誤り訂正回路と、前記誤り訂正回路の出力信号を予
め用意された基準情報と比較して解読し前記固有情報に
対応するモード選択信号を発生するモード選択信号発生
回路と、前記モード選択信号に対応する駆動信号を発生
してこれを前記固体撮像素子に供給する駆動信号発生回
路とを具備することを特徴とする固体撮像装置。1. A solid-state imaging device having a built-in unique information generating means recorded in an error-correctable code at a predetermined position, a sample-and-hold circuit receiving an output signal of the solid-state imaging device, and an output signal of the sample-and-hold circuit. A unique information extraction circuit for extracting the unique information contained in the error information, an error correction circuit for correcting an error of the unique information included in an output signal of the unique information extraction circuit, and a reference prepared in advance for the output signal of the error correction circuit. A mode selection signal generation circuit that decodes the information in comparison with information to generate a mode selection signal corresponding to the unique information, and a driving signal that generates a driving signal corresponding to the mode selection signal and supplies the same to the solid-state imaging device A solid-state imaging device comprising a generation circuit.