JP2731179B2 - カツプラント保持装置 - Google Patents
カツプラント保持装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、超音波探傷用のカツプラント保持装置に係
り、特にカツプラントバツグの耐久性向上に好適なカツ
プラント保持装置に関するものである。
り、特にカツプラントバツグの耐久性向上に好適なカツ
プラント保持装置に関するものである。
従来の技術については、実開昭57−175056号公報に記
載のように超音波探触子と試験体との間に半透膜質の材
料でカツプラントを含んだカツプラントバツグを設けて
いた。
載のように超音波探触子と試験体との間に半透膜質の材
料でカツプラントを含んだカツプラントバツグを設けて
いた。
第３図は、従来のカツプラント保持装置の一例を示す
斜視図である。
斜視図である。
この第３図に示すように試験体５上で超音波探触子２
をＹ方向に走査して試験体５を検査するとき、カツプラ
ントバツグ３の同じ面が試験体と常に接触していた。超
音波探触子２の走査によりカツプラントバツグ３と試験
体５との摩擦のため、カツプラントバツグ３が摩耗し、
カツプラントバツグ３からのカツプラント４の流出量が
増大し、検査感度が悪化する点については配慮されてい
なかつた。
をＹ方向に走査して試験体５を検査するとき、カツプラ
ントバツグ３の同じ面が試験体と常に接触していた。超
音波探触子２の走査によりカツプラントバツグ３と試験
体５との摩擦のため、カツプラントバツグ３が摩耗し、
カツプラントバツグ３からのカツプラント４の流出量が
増大し、検査感度が悪化する点については配慮されてい
なかつた。
カツプラントバツグの耐久性を向上させるため、バツ
グの材質を厚くするとバツグ厚みによる超音波の減衰が
増加し欠陥の検出が困難になり、またカツプラントの流
出量が少なすぎるとカツプラントバツグと試験体間に空
気層が入り、超音波探触子と試験体間を超音波が通過す
るとき減衰が大きく試験体の検査はできなくなる。
グの材質を厚くするとバツグ厚みによる超音波の減衰が
増加し欠陥の検出が困難になり、またカツプラントの流
出量が少なすぎるとカツプラントバツグと試験体間に空
気層が入り、超音波探触子と試験体間を超音波が通過す
るとき減衰が大きく試験体の検査はできなくなる。
なお、原子力機器の超音波検査に関しては、特に厳密
な法規が定められている。例えば、原子炉圧力容器等の
超音波検査で使用する超音波探触子は、常時日本電気協
会の技術規定（JEAC）で、検査期間中４時間毎に超音波
探触子の感度校正を標準試験体を用いて行ない、変化が
±3dB以内であることを確認することが義務づけられて
いる。
な法規が定められている。例えば、原子炉圧力容器等の
超音波検査で使用する超音波探触子は、常時日本電気協
会の技術規定（JEAC）で、検査期間中４時間毎に超音波
探触子の感度校正を標準試験体を用いて行ない、変化が
±3dB以内であることを確認することが義務づけられて
いる。
上記従来技術では、超音波探触子を走査して試験体を
検査するとき、カツプラントバツグの耐久性については
配慮されておらず、カツプラントの流出量の増減により
検出感度が変化するという課題が残されていた。
検査するとき、カツプラントバツグの耐久性については
配慮されておらず、カツプラントの流出量の増減により
検出感度が変化するという課題が残されていた。
本発明の目的は、カツプラントバツグの摩耗を防止
し、耐久性を向上し、検査期間中カツプラントの流出量
を、常に一定量に保持することができるようなカツプラ
ント保持装置を提供することである。
し、耐久性を向上し、検査期間中カツプラントの流出量
を、常に一定量に保持することができるようなカツプラ
ント保持装置を提供することである。
上記課題を解決するために、本発明に係るカツプラン
ト保持装置の構成は、試験体と対向する側を半透性膜で
形成したカツプラントバツグ内に超音波探触子を収納し
たものであって、前記カツプラントバツグ内へ供給した
カツプラントを前記半透性膜を透して前記試験体表面へ
染み出させながら、前記超音波探触子から前記試験体表
面へ超音波を照射して、該試験体の所望領域を検査する
ようにしたカツプラント保持装置において、カツプラン
トバツグを、試験体と対向する側を半透性膜で形成し、
他の側面を板材で形成した直方体形状の箱形カツプラン
トバツグにし、この箱形カツプラントバツグの、前記半
透性膜と試験体表面との間に透過性のある帯を配設し、
この帯を、前記カツプラントバツグの走査速度と同一速
度で、この走査方向と反対方向へ送るようにして、前記
半透性膜および帯から試験体表面にカツプラントを染み
出させながら超音波探触子で検査するようにしたもので
ある。
ト保持装置の構成は、試験体と対向する側を半透性膜で
形成したカツプラントバツグ内に超音波探触子を収納し
たものであって、前記カツプラントバツグ内へ供給した
カツプラントを前記半透性膜を透して前記試験体表面へ
染み出させながら、前記超音波探触子から前記試験体表
面へ超音波を照射して、該試験体の所望領域を検査する
ようにしたカツプラント保持装置において、カツプラン
トバツグを、試験体と対向する側を半透性膜で形成し、
他の側面を板材で形成した直方体形状の箱形カツプラン
トバツグにし、この箱形カツプラントバツグの、前記半
透性膜と試験体表面との間に透過性のある帯を配設し、
この帯を、前記カツプラントバツグの走査速度と同一速
度で、この走査方向と反対方向へ送るようにして、前記
半透性膜および帯から試験体表面にカツプラントを染み
出させながら超音波探触子で検査するようにしたもので
ある。
超音波探傷装置を用いて、被検体内部の欠陥を探傷す
るには、通常、被検体と探触子との中間にカツプラント
（接触媒質）層を設けて音響的に結合させ、常時正常な
探傷波が得られるように試みられている。
るには、通常、被検体と探触子との中間にカツプラント
（接触媒質）層を設けて音響的に結合させ、常時正常な
探傷波が得られるように試みられている。
従来は、この目的のために使用されるカツプラント保
持装置の走査に伴ない、カツプラントバツグは被検体面
に接触しつつ検査を行なつていたので、その摩耗がはげ
しく、カツプラントの供給量は変動して、検査上、不都
合があつた。本発明では、カツプラントバツグが被検体
に対して走査方向へ相対移動する時に、半透性膜と被検
体面とが互いに摺動しないようにしたことにある。その
ための基本的方針として、 （１）カツプラントバツグを、カツプラント保持装置の
中心軸の周りに回転して、試験体面との摺動を避ける。
持装置の走査に伴ない、カツプラントバツグは被検体面
に接触しつつ検査を行なつていたので、その摩耗がはげ
しく、カツプラントの供給量は変動して、検査上、不都
合があつた。本発明では、カツプラントバツグが被検体
に対して走査方向へ相対移動する時に、半透性膜と被検
体面とが互いに摺動しないようにしたことにある。その
ための基本的方針として、 （１）カツプラントバツグを、カツプラント保持装置の
中心軸の周りに回転して、試験体面との摺動を避ける。
（２）カツプラントバツグの外側に移動帯を設けて、カ
ツプラントバツグと試験体面との直接の接触を避ける。
ツプラントバツグと試験体面との直接の接触を避ける。
（３）カツプラントバツグに設けた半透性膜部は、検査
時には、カツプラントを供給することにより、試験体と
接触することができ、走査時には、カツプラントを回収
することにより、試験体と接触しないようにする。
時には、カツプラントを供給することにより、試験体と
接触することができ、走査時には、カツプラントを回収
することにより、試験体と接触しないようにする。
以上のような方法を実施することによつて、目的を達
成することができるようになつた。
成することができるようになつた。
以下本発明に関連する技術ならびに本発明の各実施例
を、第１図ないし第11図を参照して説明する。
を、第１図ないし第11図を参照して説明する。
本発明の開発過程における関連技術の第一の実施例を
第１図と第２図を参照して説明する。第１図は、第一の
関連技術のカツプラント保持装置の一部破断斜視図、第
２図は、本発明を適用するカツプラント保持装置の検査
システムを示す模式平面図である。まず、第一の関連技
術の構成について説明する。第１図において、カツプラ
ント保持装置１の中心に軸11がある。超音波探触子２は
試験体５に超音波が入射角０゜で入るように軸11の中心
から放射方向に固定する。探触子２は探傷装置21（第２
図に説明）と探傷用信号線８で結合され、探傷用信号線
８は軸11にあけた信号線用穴を通る。軸11にはカツプラ
ント供給管７とカツプラント保持装置１内のカツプラン
ト４が通るように供給用穴13があいている。軸11,側板
９とベアリング10は同じ回転中心となるように配置し、
軸11とベアリング10の内輪は固定され、ベアリング10の
外輪と側板９も固定されている。カツプラント４は、側
板9,半透性膜６及び軸11で構成される、円筒形のカツプ
ラントバツグ３に入つている。半透性膜６は側板９の内
面で、その取付外径が側板９の外径よりもやや、大きく
なるように張り渡され、軸11と側板９間の隙間にシール
材12を入れる。カツプラント４には、水，グリセリン等
が用いられる。半透性膜６の材料としては、カツプラン
ト４が水の場合、洋傘用布地のような合成繊維が用いら
れる。
第１図と第２図を参照して説明する。第１図は、第一の
関連技術のカツプラント保持装置の一部破断斜視図、第
２図は、本発明を適用するカツプラント保持装置の検査
システムを示す模式平面図である。まず、第一の関連技
術の構成について説明する。第１図において、カツプラ
ント保持装置１の中心に軸11がある。超音波探触子２は
試験体５に超音波が入射角０゜で入るように軸11の中心
から放射方向に固定する。探触子２は探傷装置21（第２
図に説明）と探傷用信号線８で結合され、探傷用信号線
８は軸11にあけた信号線用穴を通る。軸11にはカツプラ
ント供給管７とカツプラント保持装置１内のカツプラン
ト４が通るように供給用穴13があいている。軸11,側板
９とベアリング10は同じ回転中心となるように配置し、
軸11とベアリング10の内輪は固定され、ベアリング10の
外輪と側板９も固定されている。カツプラント４は、側
板9,半透性膜６及び軸11で構成される、円筒形のカツプ
ラントバツグ３に入つている。半透性膜６は側板９の内
面で、その取付外径が側板９の外径よりもやや、大きく
なるように張り渡され、軸11と側板９間の隙間にシール
材12を入れる。カツプラント４には、水，グリセリン等
が用いられる。半透性膜６の材料としては、カツプラン
ト４が水の場合、洋傘用布地のような合成繊維が用いら
れる。
半透性膜６は、カツプラント４が内側から外側へ染み
出てゆくような特性を有する。側板９は試験体５上を軸
11の周りに回転して移動できるような試験体５上に置
く。
出てゆくような特性を有する。側板９は試験体５上を軸
11の周りに回転して移動できるような試験体５上に置
く。
試験体５と半透性膜６は接触し、その接触面は探触子
２の口径より大きくなるよう半透性膜６の外径は側板９
の外径より大きい。カツプラントバツグ３内にはカツプ
ラント４が満たされ、空気層はない。探触子２から試験
体５までは、カツプラントバツグ３内のカツプラント
４、半透性膜６及び半透性膜６から染み出たカツプラン
トにより音響的に結合している。第２図は本発明の実施
例の検査システムを示した模式平面図である。カツプラ
ント保持装置１の軸11と伸縮棒17は探触子２の超音波が
試験体５に入射角０゜で入射するように結合され、伸縮
棒17の他端と移動体15とが結合されている。伸縮棒17は
移動体制御装置19によつて伸縮され、駆動方法としてエ
アシリンダ等が用いられる。移動体制御装置19は、移動
体15の位置，速度を監視しながら、移動体15をあらかじ
め決めておいた通りに動くように制御する。移動体15の
制御信号は、移動体15と移動体制御装置19を結ぶ移動体
制御信号線22によつて双方向に伝達される。移動体15
は、モータ等の駆動源により車輪16を回転させて移動
し、移動体15の位置はエンコーダ、速度は、タコジエネ
レータ等により検出できる。移動体15は試験体５の面上
を移動する。試験体５が磁性体の場合、移動体５の車輪
は磁石を用いることにより試験体壁面を移動することが
できる。カツプラント供給装置20は供給管７を通して、
カツプラントバツグ３内にカツプラント４を供給する。
カツプラント供給装置20はポンプ等を用い、カツプラン
ト４の供給と共に回収もできる（第11図）。探傷装置21
は、超音波探触子２に探傷用信号線８を介して、送信信
号を送り、試験体５の表面、内部及び底面からの反射信
号を受信する部分、反射信号の処理部の処理結果を表示
する部分からなつている。二点鎖線18はカツプラント保
持装置１の移動した軌跡を示す。
２の口径より大きくなるよう半透性膜６の外径は側板９
の外径より大きい。カツプラントバツグ３内にはカツプ
ラント４が満たされ、空気層はない。探触子２から試験
体５までは、カツプラントバツグ３内のカツプラント
４、半透性膜６及び半透性膜６から染み出たカツプラン
トにより音響的に結合している。第２図は本発明の実施
例の検査システムを示した模式平面図である。カツプラ
ント保持装置１の軸11と伸縮棒17は探触子２の超音波が
試験体５に入射角０゜で入射するように結合され、伸縮
棒17の他端と移動体15とが結合されている。伸縮棒17は
移動体制御装置19によつて伸縮され、駆動方法としてエ
アシリンダ等が用いられる。移動体制御装置19は、移動
体15の位置，速度を監視しながら、移動体15をあらかじ
め決めておいた通りに動くように制御する。移動体15の
制御信号は、移動体15と移動体制御装置19を結ぶ移動体
制御信号線22によつて双方向に伝達される。移動体15
は、モータ等の駆動源により車輪16を回転させて移動
し、移動体15の位置はエンコーダ、速度は、タコジエネ
レータ等により検出できる。移動体15は試験体５の面上
を移動する。試験体５が磁性体の場合、移動体５の車輪
は磁石を用いることにより試験体壁面を移動することが
できる。カツプラント供給装置20は供給管７を通して、
カツプラントバツグ３内にカツプラント４を供給する。
カツプラント供給装置20はポンプ等を用い、カツプラン
ト４の供給と共に回収もできる（第11図）。探傷装置21
は、超音波探触子２に探傷用信号線８を介して、送信信
号を送り、試験体５の表面、内部及び底面からの反射信
号を受信する部分、反射信号の処理部の処理結果を表示
する部分からなつている。二点鎖線18はカツプラント保
持装置１の移動した軌跡を示す。
次に関連技術の第一の実施例の動作を説明する。カツ
プラントバツグ３にカツプラント供給装置20よりカツプ
ラント４を供給すると、カツプラントバツグ３内に空気
層がなくなり、半透性膜６よりカツプラント４が染み出
る。カツプラント４は試験体５上に流出し、半透性膜６
は試験体５と面接触し、探傷装置21により探触子２から
送信された超音波はカツプラント４および半透性膜６を
通つて、試験体５の表面、内部および底面で反射し、半
透性膜6,カツプラント４を通つて探触子２で受信され
る。受信信号は、探傷装置21で処理され、その結果を表
示する。カツプラント供給装置20は、半透性膜６と試験
体５が検査している間中、常に面接触させるため、半透
性膜６から流出するカツプラント４と等量のカツプラン
ト４を供給する。移動体15のＹ方向の移動と共に側板９
と半透性膜６は試験体５上を回転して移動する。このた
め、半透性膜６は試験体５との摩擦により摩耗すること
はない。このとき軸11はＹ方向に平行移動するのみで回
転することはないので、探傷用信号線8,供給管７はねじ
れ等により切断されることはない。軸11と側板９はベア
リング10で結合され、側板９のカツプラント４が入つて
いる内側の面と軸４間は隙間をあけているため、なめら
かに回転する。カツプラントバツグ３内のカツプラント
４は側板９の内側と軸11の隙間にシール材12があるた
め、この隙間とベアリング10を通つて、カツプラント４
が多量に流出することはない。移動体15のＹ方向の移
動、伸縮棒17のＸ方向の伸縮動作すなわち、二点鎖線18
に沿つてカツプラント保持装置１が移動するとき、常に
試験体５の検査を行なうことができる。
プラントバツグ３にカツプラント供給装置20よりカツプ
ラント４を供給すると、カツプラントバツグ３内に空気
層がなくなり、半透性膜６よりカツプラント４が染み出
る。カツプラント４は試験体５上に流出し、半透性膜６
は試験体５と面接触し、探傷装置21により探触子２から
送信された超音波はカツプラント４および半透性膜６を
通つて、試験体５の表面、内部および底面で反射し、半
透性膜6,カツプラント４を通つて探触子２で受信され
る。受信信号は、探傷装置21で処理され、その結果を表
示する。カツプラント供給装置20は、半透性膜６と試験
体５が検査している間中、常に面接触させるため、半透
性膜６から流出するカツプラント４と等量のカツプラン
ト４を供給する。移動体15のＹ方向の移動と共に側板９
と半透性膜６は試験体５上を回転して移動する。このた
め、半透性膜６は試験体５との摩擦により摩耗すること
はない。このとき軸11はＹ方向に平行移動するのみで回
転することはないので、探傷用信号線8,供給管７はねじ
れ等により切断されることはない。軸11と側板９はベア
リング10で結合され、側板９のカツプラント４が入つて
いる内側の面と軸４間は隙間をあけているため、なめら
かに回転する。カツプラントバツグ３内のカツプラント
４は側板９の内側と軸11の隙間にシール材12があるた
め、この隙間とベアリング10を通つて、カツプラント４
が多量に流出することはない。移動体15のＹ方向の移
動、伸縮棒17のＸ方向の伸縮動作すなわち、二点鎖線18
に沿つてカツプラント保持装置１が移動するとき、常に
試験体５の検査を行なうことができる。
本実施例の結果としては、カツプラント保持装置１が
Ｙ方向に移動するときカツプラントバツグ３の半透性膜
６は試験体５上を回転し、同じ面が接触せず、摩擦によ
り摩耗することがなく、耐久性が増大すると共に、探触
子２で検査するとき検査感度の変化を抑制することがで
きる。
Ｙ方向に移動するときカツプラントバツグ３の半透性膜
６は試験体５上を回転し、同じ面が接触せず、摩擦によ
り摩耗することがなく、耐久性が増大すると共に、探触
子２で検査するとき検査感度の変化を抑制することがで
きる。
次に、関連技術の第二の実施例を第４図，第５図を用
いて説明する。第４図は、第１図のカツプラント保持装
置１の軸11の軸方向に垂直な断面図、第５図は、第４図
のカツプラント保持装置１の軸11の軸方向に平行な断面
図である。また、検査システムは第２図と同じとする。
第二の実施例の構成を説明するにあたり、第一の実施例
と同一のものは省き、特有のものについてのみ説明す
る。
いて説明する。第４図は、第１図のカツプラント保持装
置１の軸11の軸方向に垂直な断面図、第５図は、第４図
のカツプラント保持装置１の軸11の軸方向に平行な断面
図である。また、検査システムは第２図と同じとする。
第二の実施例の構成を説明するにあたり、第一の実施例
と同一のものは省き、特有のものについてのみ説明す
る。
以下、第三〜第七の実施例についても同様とする。
この実施例は、超音波探触子の軸への取付け角を、可
変にしたものである。圧力容器等の試験体５の検査にお
いては、超音波の試験体５への入射角は、０゜,30゜,45
゜,60゜など異なる角度で行なわれる。第４図に示すよ
うに、例えば、試験体５に入射角β゜で入射するため、
探触子２は軸11に次に示す角度α゜で取付ける。
変にしたものである。圧力容器等の試験体５の検査にお
いては、超音波の試験体５への入射角は、０゜,30゜,45
゜,60゜など異なる角度で行なわれる。第４図に示すよ
うに、例えば、試験体５に入射角β゜で入射するため、
探触子２は軸11に次に示す角度α゜で取付ける。
但し、Vc:カツプラント中での音速 Vm:試験体中での音速 第５図に示すように、半透性膜６の外径は、側板９の
外径より大きく、側板９が試験体５と接触したとき、試
験体５と接触する半透性膜６は変形し、側板９の削られ
た部分に収納できるようにするため、側板９の外周内側
を切削する。
外径より大きく、側板９が試験体５と接触したとき、試
験体５と接触する半透性膜６は変形し、側板９の削られ
た部分に収納できるようにするため、側板９の外周内側
を切削する。
次に本発明の関連技術の第二の実施例の動作と効果を
説明する。角度α゜で軸11に取付けられた探触子２から
送信された超音波は、目標の入射角β゜で試験体５に入
り、試験体５で反射された信号は探傷装置で処理され
る。半透性膜６の外径のほうが側板９の外径より大きい
ので、半透性膜６と試験体５との接触面積は大きくな
る。移動体15のＹ方向の移動に伴い、半透性膜６の試験
体５との接触部は変形するが、変形部は側板９の削つた
外周内側に収納できるので、半透性膜６は側板９と試験
体５にはさまれることはない。探触子２から送信される
超音波は拡がり角をもつので、半透性膜６と試験体５と
の接触面を通して試験体５に入射される超音波のエネル
ギーは大きくなり、検査感度を向上させることができ
る。
説明する。角度α゜で軸11に取付けられた探触子２から
送信された超音波は、目標の入射角β゜で試験体５に入
り、試験体５で反射された信号は探傷装置で処理され
る。半透性膜６の外径のほうが側板９の外径より大きい
ので、半透性膜６と試験体５との接触面積は大きくな
る。移動体15のＹ方向の移動に伴い、半透性膜６の試験
体５との接触部は変形するが、変形部は側板９の削つた
外周内側に収納できるので、半透性膜６は側板９と試験
体５にはさまれることはない。探触子２から送信される
超音波は拡がり角をもつので、半透性膜６と試験体５と
の接触面を通して試験体５に入射される超音波のエネル
ギーは大きくなり、検査感度を向上させることができ
る。
次に、本発明の第一の実施例を第６図に参照して説明
する。
する。
第６図は、本発明の第一の実施例に係るカツプラント
保持装置の斜視図である。
保持装置の斜視図である。
第６図に示すカツプラントバツグ３は直方体形状の箱
形で、側板9,上板24で囲まれている。カツプラントバツ
グ３の上部は上板24と接着する。上板24にはカツプラン
ト供給管７用と超音波探触子２用の穴があけてあり、そ
れぞれの穴に供給管7,探触子２を設置する。探触子２の
振動子の面は上板24の下面より下にあり、カツプラント
バツグ３にカツプラント４が満たされると超音波探触子
２の振動子の全面がカツプラント４と接触する。側板９
−ａの上部には動輪27が動輪軸34でとめられ、動輪27は
動輪軸34を回転中心として回転し、従輪28は従輪軸31で
とめられ、従輪軸31を回転中心として回転する。動輪2
7,従輪28は円柱形状である。モータ25は側板９−ａの凸
部をはさんで動輪27の反対側にある。モータ25の回転軸
は動輪軸34と軸心を合せて結合する。動輪軸34と動輪27
は相対的に回転しないように固定され、モータ25の回転
により動輪27は回転する。従輪28と従輪軸31は相対的に
回転し、従輪軸31は側板９に固定されている。帯26は動
輪27,従輪28の外側を通り、無限軌道状帯、すなわち輪
になっている。帯26は隣りの動輪27,従輪28間でたるみ
がない長さである。帯26の一つの面は試験体５と面接
触、カツプラントバツグ３の底面とも面接触する。帯26
はカツプラント４を通しかつ、カツプラントバツグ３と
の摩擦係数が小さい繊維などの透過性のあるものであ
る。供給管7,探傷用信号線８は、帯26の上側と接しない
よう曲げてある。モータ25には、回転角の検出部分と回
転速度の検出部分を有する。モータ25の制御用信号は移
動体制御装置19（第２図）より双方向に送られる。な
お、カツプラント保持装置１の側板９と伸縮棒17（第２
図）とは結合している。
形で、側板9,上板24で囲まれている。カツプラントバツ
グ３の上部は上板24と接着する。上板24にはカツプラン
ト供給管７用と超音波探触子２用の穴があけてあり、そ
れぞれの穴に供給管7,探触子２を設置する。探触子２の
振動子の面は上板24の下面より下にあり、カツプラント
バツグ３にカツプラント４が満たされると超音波探触子
２の振動子の全面がカツプラント４と接触する。側板９
−ａの上部には動輪27が動輪軸34でとめられ、動輪27は
動輪軸34を回転中心として回転し、従輪28は従輪軸31で
とめられ、従輪軸31を回転中心として回転する。動輪2
7,従輪28は円柱形状である。モータ25は側板９−ａの凸
部をはさんで動輪27の反対側にある。モータ25の回転軸
は動輪軸34と軸心を合せて結合する。動輪軸34と動輪27
は相対的に回転しないように固定され、モータ25の回転
により動輪27は回転する。従輪28と従輪軸31は相対的に
回転し、従輪軸31は側板９に固定されている。帯26は動
輪27,従輪28の外側を通り、無限軌道状帯、すなわち輪
になっている。帯26は隣りの動輪27,従輪28間でたるみ
がない長さである。帯26の一つの面は試験体５と面接
触、カツプラントバツグ３の底面とも面接触する。帯26
はカツプラント４を通しかつ、カツプラントバツグ３と
の摩擦係数が小さい繊維などの透過性のあるものであ
る。供給管7,探傷用信号線８は、帯26の上側と接しない
よう曲げてある。モータ25には、回転角の検出部分と回
転速度の検出部分を有する。モータ25の制御用信号は移
動体制御装置19（第２図）より双方向に送られる。な
お、カツプラント保持装置１の側板９と伸縮棒17（第２
図）とは結合している。
次に第一の実施例の動作と効果を説明する。移動体15
（第２図）を移動体制御装置19（第２図）でＹ方向に移
動させるとき、移動体15の移動方向及び移動速度を移動
制御装置19で検出して、帯26の試験体５と接する面が移
動体15の移動方向の反対方向に移動体15と同じ速度で移
動するように、移動体制御装置19はモータ25を制御す
る。カツプラント４は、カツプラントバツグ３より染み
出て、帯26は染み出たカツプラントを適度に透過するの
で、探触子２から試験体５までは音響的に結合し、試験
体５を超音波で検査できる。移動体15のＹ方向に移動す
るとき、帯26とカツプラントバツグ３との摩擦係数は小
さいので帯26とカツプラントバツグ３の摩耗は少なく、
帯26と試験体５は擦れることはない。カツプラント保持
装置１で試験体５と接し、摩耗のため交換することが多
い帯26が外側にあり、補修が簡単にできる。
（第２図）を移動体制御装置19（第２図）でＹ方向に移
動させるとき、移動体15の移動方向及び移動速度を移動
制御装置19で検出して、帯26の試験体５と接する面が移
動体15の移動方向の反対方向に移動体15と同じ速度で移
動するように、移動体制御装置19はモータ25を制御す
る。カツプラント４は、カツプラントバツグ３より染み
出て、帯26は染み出たカツプラントを適度に透過するの
で、探触子２から試験体５までは音響的に結合し、試験
体５を超音波で検査できる。移動体15のＹ方向に移動す
るとき、帯26とカツプラントバツグ３との摩擦係数は小
さいので帯26とカツプラントバツグ３の摩耗は少なく、
帯26と試験体５は擦れることはない。カツプラント保持
装置１で試験体５と接し、摩耗のため交換することが多
い帯26が外側にあり、補修が簡単にできる。
次に、本発明の第二の実施例を第７図を参照して説明
する。
する。
第７図は、本発明の第二の実施例に係るカツプラント
保持装置の略示断面図である。第二の実施例の構成は、
第一の実施例（第６図）において、側板９−ｂに張り転
輪29を設け、下部の従輪28をより外側に配置し、帯26は
従輪28−ａ、転輪29−ａ、転輪29−b,従輪28−ｂの順序
で渡してある。転輪29は円柱形状で、軸中心に関して回
転できる。その動作は、モータ25を回転することにより
帯26は上記のような経路を通過して動輪27の外周と同じ
速度で回転する。また、その間に、試験体５と接し、カ
ツプラントを供給する。帯26の長さをカツプラント保持
装置１の外周より長くでき、帯26の寿命を長くすること
ができる。
保持装置の略示断面図である。第二の実施例の構成は、
第一の実施例（第６図）において、側板９−ｂに張り転
輪29を設け、下部の従輪28をより外側に配置し、帯26は
従輪28−ａ、転輪29−ａ、転輪29−b,従輪28−ｂの順序
で渡してある。転輪29は円柱形状で、軸中心に関して回
転できる。その動作は、モータ25を回転することにより
帯26は上記のような経路を通過して動輪27の外周と同じ
速度で回転する。また、その間に、試験体５と接し、カ
ツプラントを供給する。帯26の長さをカツプラント保持
装置１の外周より長くでき、帯26の寿命を長くすること
ができる。
次に、本発明の第三の実施例を第８図を参照して説明
する。
する。
第８図は、本発明の第三の実施例に係るカツプラント
保持装置の略示断面図である。第三の実施例の構成は、
第一の実施例（第６図）において、その１部を改良した
もので、側板９−ｂに従輪軸31の幅のスリットを設け、
従輪軸31−ｂとスリット底面間に、張力負荷装置に係る
ばね30を加えた例である。
保持装置の略示断面図である。第三の実施例の構成は、
第一の実施例（第６図）において、その１部を改良した
もので、側板９−ｂに従輪軸31の幅のスリットを設け、
従輪軸31−ｂとスリット底面間に、張力負荷装置に係る
ばね30を加えた例である。
その動作は、試験体５をカツプラント保持装置１で検
査し続けて帯26が伸びると、従輪軸31−ｂがばね30によ
り押し上げられ、従輪28と動輪27,従輪28の帯はたるむ
ことがなく、モータ25の回転により、帯26はカツプラン
ト保持装置１の外周を確実に回転することができる。
査し続けて帯26が伸びると、従輪軸31−ｂがばね30によ
り押し上げられ、従輪28と動輪27,従輪28の帯はたるむ
ことがなく、モータ25の回転により、帯26はカツプラン
ト保持装置１の外周を確実に回転することができる。
次に、本発明の第四の実施例を第９図を参照して説明
する。
する。
第９図は、本発明の第四の実施例に係るカツプラント
保持装置の略示断面図である。第四の実施例の構成は、
第一の実施例（第６図）において、これに改良を加え、
帯26の両端をそれぞれ巻き取りローラ32に接着し、巻き
取りローラ32は側板９（および９−ｂ）にそれぞれ付
け、巻き取りローラ32の回転軸とモータ25の回転軸を結
合した例である。その動作は、カツプラント保持装置１
の側板９−ｂと伸縮棒17（第２図）は結合し、伸縮棒17
の伸縮によりカツプラント保持装置１はＸ方向に移動す
る。帯26の巻き取りローラ32に巻いてある長さは、少な
くとも伸縮棒17のＸ方向のストロークより長くしてあ
る。モータ25はそれぞれの巻き取りローラ32にあり、移
動体制御装置19（第２図）により伸縮棒17がＸ方向に伸
びるときにモータ25−ａは時計回りに回転し、縮むとき
にモータ25−ｂは時計回りに回転し、帯26の巻き取り速
度は伸縮棒17の伸縮の速さと等しく制御される。
保持装置の略示断面図である。第四の実施例の構成は、
第一の実施例（第６図）において、これに改良を加え、
帯26の両端をそれぞれ巻き取りローラ32に接着し、巻き
取りローラ32は側板９（および９−ｂ）にそれぞれ付
け、巻き取りローラ32の回転軸とモータ25の回転軸を結
合した例である。その動作は、カツプラント保持装置１
の側板９−ｂと伸縮棒17（第２図）は結合し、伸縮棒17
の伸縮によりカツプラント保持装置１はＸ方向に移動す
る。帯26の巻き取りローラ32に巻いてある長さは、少な
くとも伸縮棒17のＸ方向のストロークより長くしてあ
る。モータ25はそれぞれの巻き取りローラ32にあり、移
動体制御装置19（第２図）により伸縮棒17がＸ方向に伸
びるときにモータ25−ａは時計回りに回転し、縮むとき
にモータ25−ｂは時計回りに回転し、帯26の巻き取り速
度は伸縮棒17の伸縮の速さと等しく制御される。
その効果は、帯26はカツプラント保持装置１がＸ方向
に移動するとき試験体５と擦れることはない。また、帯
26はカツプラント保持装置１の上側にないので、装置１
の高さを低くでき狭あい部の検査ができる。
に移動するとき試験体５と擦れることはない。また、帯
26はカツプラント保持装置１の上側にないので、装置１
の高さを低くでき狭あい部の検査ができる。
次に、本発明の第五の実施例を第10図，第11図を参照
して説明する。
して説明する。
第10図は、本発明の第五の実施例に係るカツプラント
保持装置の略示断面図、第11図は、同上装置の、カツプ
ラントバツグと試験体が離れた時の断面略示図である。
構成は、カツプラントバツグ３は半透性膜6,4方向（東
西南北）４枚の側板９、上板24からできている。半透性
膜６の端部は、側板９の内面と接着しており、カツプラ
ント４の流出は半透性膜６の底面側からのみである。カ
ツプラント供給管７は側板９から出ており、その管の最
上部は、上板24の底面より高い位置にある。ここでは、
探触子２としてＮ個×Ｍ個の二次元アレイ探触子33を用
いる。カツプラント供給装置20（第２図）は、供給管７
を通して、カツプラントバツグ３にカツプラント４を供
給又は回収し、供給又は回収の指示は移動体制御装置19
（第２図）が行なう。Ｎ個×Ｍ個の二次元アレイ探触子
33の検査領域をlN×lMとし、探触装置21（第２図）は探
傷用信号線８を通して二次元アレイ探触子33の各素子の
スイツチングのタイミングを制御する。つぎに、その動
作は、第10図に示すように、カツプラントバツグ３内に
供給管７からカツプラント４を十分供給して、半透性膜
６を試験体５と接触させ、二次元アレイ探触子33と試験
体５は音響的に結合し、lN×lMの領域を検査する。次に
第11図のようにカツプラントバツグ３内のカツプラント
４を供給管７から回収し、半透性膜６と試験体５とを完
全に離す。次にカツプラント保持装置１をＸ方向ならば
距離lMへ、Ｙ方向ならばlNへ移動させる。再びカツプラ
ントバツグ３にカツプラント４を供給して、第10図のよ
うにする。以上の動作を繰り返して検査する。
保持装置の略示断面図、第11図は、同上装置の、カツプ
ラントバツグと試験体が離れた時の断面略示図である。
構成は、カツプラントバツグ３は半透性膜6,4方向（東
西南北）４枚の側板９、上板24からできている。半透性
膜６の端部は、側板９の内面と接着しており、カツプラ
ント４の流出は半透性膜６の底面側からのみである。カ
ツプラント供給管７は側板９から出ており、その管の最
上部は、上板24の底面より高い位置にある。ここでは、
探触子２としてＮ個×Ｍ個の二次元アレイ探触子33を用
いる。カツプラント供給装置20（第２図）は、供給管７
を通して、カツプラントバツグ３にカツプラント４を供
給又は回収し、供給又は回収の指示は移動体制御装置19
（第２図）が行なう。Ｎ個×Ｍ個の二次元アレイ探触子
33の検査領域をlN×lMとし、探触装置21（第２図）は探
傷用信号線８を通して二次元アレイ探触子33の各素子の
スイツチングのタイミングを制御する。つぎに、その動
作は、第10図に示すように、カツプラントバツグ３内に
供給管７からカツプラント４を十分供給して、半透性膜
６を試験体５と接触させ、二次元アレイ探触子33と試験
体５は音響的に結合し、lN×lMの領域を検査する。次に
第11図のようにカツプラントバツグ３内のカツプラント
４を供給管７から回収し、半透性膜６と試験体５とを完
全に離す。次にカツプラント保持装置１をＸ方向ならば
距離lMへ、Ｙ方向ならばlNへ移動させる。再びカツプラ
ントバツグ３にカツプラント４を供給して、第10図のよ
うにする。以上の動作を繰り返して検査する。
その効果は、カツプラント保持装置１がＸ方向,Y方向
のどちらに移動するときも、半透性膜６と試験体５が擦
れることがなく、カツプラントバツグ３の耐久性を増す
ことができる。すなわち、カツプラントバツグは、検査
時にのみ試験体５と接触し、移動時には全く接触しない
ので、耐久性はきわめて増大する。
のどちらに移動するときも、半透性膜６と試験体５が擦
れることがなく、カツプラントバツグ３の耐久性を増す
ことができる。すなわち、カツプラントバツグは、検査
時にのみ試験体５と接触し、移動時には全く接触しない
ので、耐久性はきわめて増大する。
本発明によれば、従来例に比して、カツプラントバツ
グと被検体面との接触頻度を大幅に減少することがで
き、カツプラントバツグの半透性膜の摩耗，変形を低減
できる。特に、無限軌道状帯のカツプラントバツグにし
た場合には、耐久性のほかに変換性が良好なので、検査
期間中を通して一定量のカツプラントを供給することが
できるので、検査感度向上および検査効率の向上に有効
である。
グと被検体面との接触頻度を大幅に減少することがで
き、カツプラントバツグの半透性膜の摩耗，変形を低減
できる。特に、無限軌道状帯のカツプラントバツグにし
た場合には、耐久性のほかに変換性が良好なので、検査
期間中を通して一定量のカツプラントを供給することが
できるので、検査感度向上および検査効率の向上に有効
である。
また、使用後の原子炉用機器の検査の場合には、汚染
水（カツプラント）をできるだけ低減する必要があり、
本発明は、カツプラント使用量を制限するにも有効であ
る。
水（カツプラント）をできるだけ低減する必要があり、
本発明は、カツプラント使用量を制限するにも有効であ
る。
以上要するに、カツプラントバツグの摩耗を防止し、
耐久性を向上させ、検査期間中、カツプラントの流出量
を、常に一定値に保持することができるようなカツプラ
ント保持装置を提供することができる。
耐久性を向上させ、検査期間中、カツプラントの流出量
を、常に一定値に保持することができるようなカツプラ
ント保持装置を提供することができる。
第１図は、第一の関連技術のカツプラント保持装置の一
部破断斜視図、第２図は、本発明を適用するカツプラン
ト保持装置の検査システムを示す模式平面図、第３図
は、従来例の斜視図、第４図は、第１図のカツプラント
保持装置の軸方向に垂直な断面図、第５図は、第４図の
装置の軸方向に平行な断面図、第６図は、本発明の第一
の実施例に係るカツプラント保持装置の斜視図、第７図
は、本発明の第二の実施例に係るカツプラント保持装置
の略示断面図、第８図は、本発明の第三の実施例に係る
カツプラント保持装置の略示断面図、第９図は、本発明
の第四の実施例に係るカツプラント保持装置の略示断面
図、第10図は、本発明の第五の実施例に係るカツプラン
ト保持装置の略示断面図、第11図は、第10図の装置のカ
ツプラントバツグが試験体と離れたときの断面図であ
る。 １……カツプラント保持装置、２……探触子、３……カ
ツプラントバツグ、４……カツプラント、５……試験
体、６……半透性膜、15……移動体、20……カツプラン
ト供給装置。
部破断斜視図、第２図は、本発明を適用するカツプラン
ト保持装置の検査システムを示す模式平面図、第３図
は、従来例の斜視図、第４図は、第１図のカツプラント
保持装置の軸方向に垂直な断面図、第５図は、第４図の
装置の軸方向に平行な断面図、第６図は、本発明の第一
の実施例に係るカツプラント保持装置の斜視図、第７図
は、本発明の第二の実施例に係るカツプラント保持装置
の略示断面図、第８図は、本発明の第三の実施例に係る
カツプラント保持装置の略示断面図、第９図は、本発明
の第四の実施例に係るカツプラント保持装置の略示断面
図、第10図は、本発明の第五の実施例に係るカツプラン
ト保持装置の略示断面図、第11図は、第10図の装置のカ
ツプラントバツグが試験体と離れたときの断面図であ
る。 １……カツプラント保持装置、２……探触子、３……カ
ツプラントバツグ、４……カツプラント、５……試験
体、６……半透性膜、15……移動体、20……カツプラン
ト供給装置。
Claims (6)
- 【請求項１】試験体と対向する側を半透性膜で形成した
カツプラントバツグ内に超音波探触子を収納したもので
あって、前記カツプラントバツグ内へ供給したカツプラ
ントを前記半透性膜を透して前記試験体表面へ染み出さ
せながら、前記超音波探触子から前記試験体表面へ超音
波を照射して、該試験体の所望領域を検査するようにし
たカツプラント保持装置において、 カツプラントバツグを、試験体と対向する側を半透性膜
で形成し、他の側面を板材で形成した直方体形状の箱形
カツプラントバツグにし、 この箱形カツプラントバツグの、前記半透性膜と試験体
表面との間に透過性のある帯を配設し、 この帯を、前記カツプラントバツグの走査速度と同一速
度で、この走査方向と反対方向へ送るようにして、 前記半透性膜および帯から試験体表面にカツプラントを
染み出させながら超音波探触子で検査するようにしたこ
とを特徴とするカツプラント保持装置。 - 【請求項２】帯を、箱形カツプラントバツグの、半透性
膜を含む側面へ掛けた無限軌道状帯にしたことを特徴と
する請求項１記載のカツプラント保持装置。 - 【請求項３】帯の長さに余裕長をもたせ、箱形カツプラ
ントバツグの近傍に張り転輪を設け、前記帯を、この張
り転輪を迂回して掛けたことを特徴とする請求項２記載
のカツプラント保持装置。 - 【請求項４】箱形カツプラントバツグに、帯の途中へ張
力を付与することができる張力負荷装置を取付けたこと
を特徴とする請求項２記載のカツプラント保持装置。 - 【請求項５】帯を、その両端側を、箱形カツプラントバ
ツグに取付けた巻き取り転輪で巻き取るようにしたこと
を特徴とする請求項１記載のカツプラント保持装置。 - 【請求項６】試験体と対向する側を半透性膜で形成した
カツプラントバツグ内に超音波探触子を収納したもので
あって、前記カツプラントバツグ内へ供給したカツプラ
ントを前記半透性膜を透して前記試験体表面へ染み出さ
せながら、前記超音波探触子から前記試験体表面へ超音
波を照射して、該試験体の所望領域を検査するようにし
たカツプラント保持装置において、 前記カツプラントバツグを、試験体と対向する側を半透
性膜で形成し、他の側面を板材で形成した直方体形状の
箱形カツプラントバツグにしたものであり、 前記半透性膜は、前記箱形カツプラントバツグ内へカツ
プラントが供給されたときは、試験体表面と接触し、カ
ツプラントがないときは、前記試験片から離れるよう
に、前記板材へ取付けられており、 超音波探触子を、二次元アレイ型超音波探触子にしたこ
とを特徴とするカツプラント保持装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63249158A JP2731179B2 (ja) | 1988-10-04 | 1988-10-04 | カツプラント保持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63249158A JP2731179B2 (ja) | 1988-10-04 | 1988-10-04 | カツプラント保持装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0296656A JPH0296656A (ja) | 1990-04-09 |
| JP2731179B2 true JP2731179B2 (ja) | 1998-03-25 |
Family
ID=17188770
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63249158A Expired - Fee Related JP2731179B2 (ja) | 1988-10-04 | 1988-10-04 | カツプラント保持装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2731179B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6300618B2 (ja) * | 2014-04-23 | 2018-03-28 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 音響整合体、プローブアタッチメント、超音波プローブ及び超音波診断装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57175056U (ja) * | 1981-04-30 | 1982-11-05 | ||
| JPS5958359U (ja) * | 1982-10-08 | 1984-04-16 | キヤノン株式会社 | 回転型超音波探触子保持具 |
| JPS59128448A (ja) * | 1983-01-14 | 1984-07-24 | Hitachi Ltd | 配管検査装置 |
| JPS6210666U (ja) * | 1985-07-05 | 1987-01-22 |
-
1988
- 1988-10-04 JP JP63249158A patent/JP2731179B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0296656A (ja) | 1990-04-09 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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