JP2699911B2 - エアナイフ乾燥方法 - Google Patents

エアナイフ乾燥方法

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JP2699911B2 JP7040189A JP4018995A JP2699911B2 JP 2699911 B2 JP2699911 B2 JP 2699911B2 JP 7040189 A JP7040189 A JP 7040189A JP 4018995 A JP4018995 A JP 4018995A JP 2699911 B2 JP2699911 B2 JP 2699911B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、アクティブマトリクス
型液晶表示装置に用いられる薄膜トランジスタ基板など
の製造工程での枚葉式の洗浄,ウェットエッチング,レ
ジスト剥離等のリンス液のエアナイフ乾燥方法に関し、
特にウォータマークなどの汚染が残り基板欠陥が生じる
ことなくリンス液が乾燥できる方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の処理方法の例を図2に示す。図2
(a)は装置全体の構成例、図2(b)及び(c)は、
リンス槽の具体例の側面図及び上面図である。図2
(a)において、薄膜トランジスタ基板等のガラス基板
1は、ローダ100からアンローダ104まで自動的に
順次に搬送される。ローダ100より搬出されたガラス
基板1は、処理槽101で、洗浄,ウェットエッチン
グ,レジスト剥離等の処理が行われ、次にリンス槽10
2に搬送され純水等のリンスが行われる。そして乾燥槽
103に搬送され、高圧空気,高圧不活性ガス等を吹き
付けるエアナイフにより乾燥され、アンローダ104に
搬送される。
【0003】図2(b)及び(c)において、ガラス基
板1は、搬送ローラ5の上を図中の左側から右側に搬送
される。リンス槽102では、ガラス基板1は、リンス
液シャワー7によりリンス液を吹き付けられ、図2
(a)に示す処理槽101の処理液を洗い流す。続い
て、ガラス基板1は、乾燥槽103に搬送されるとエア
ナイフ3により高圧空気、高圧不活性ガス等を吹き付け
られ、リンス液9を吹き飛ばし、乾燥処理が行われる。
そして、ガラス基板1は、アンローダ104に搬送され
る。
【0004】従来の技術の他の例を図3に示す。乾燥槽
103のエアナイフ3の直前にピンホール式リンス液シ
ャワー11等を設け、更にエアナイフ乾燥する直前にガ
ラス基板1を傾斜搬送させる構成となっている(例え
ば、特開平4−337637号公報)。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】図2に示す従来のエア
ナイフ乾燥方法では、図2(b)に示すようにリンス槽
102のシャワー7と乾燥槽103のエアナイフ3との
間にはある程度の距離が有り、ガラス基板1の最表面に
揆水性の膜が露出している場合、リンス液例えば純水は
部分的にはじかれて水玉6を発生してしまう。その状態
でエアナイフ乾燥されると、図2(c)に示したように
乾燥のあとにウォータマーク10が生じる問題点があっ
た。
【0006】図3に示す従来の他のエアナイフ乾燥方法
では、ガラス基板1が水平搬送から傾斜搬送に変わる際
にガラス基板1が持ち上がり搬送不良が生じる問題点が
あり、更にガラス基板1の最表面に露出している膜の揆
水性が強い場合、エアナイフ乾燥の直前に水玉を発生し
てしまい、図2の従来例と同様にウォータマークが生じ
る問題点があった。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のエアナイフ乾燥
方法はエアナイフの直前にガラス基板とのクリアランス
ギャップを小さくしたスリット状リンス液シャワーを設
け、リンス液を搬送方向に吐出させ、エアナイフ乾燥の
直前までガラス基板を一様にリンス液で覆うようにした
ことを特徴とする。また、エアナイフの前後を隔離し、
ミストの再付着を防止してエアナイフ乾燥を行うことを
特徴とする。
【0008】
【作用】本発明によれば、ガラス基板の最表面に強い揆
水性を示す膜がある場合においても、エアナイフの直前
で水玉が発生することを抑えることができ、ウォータマ
ークの発生も防止できる。更に従来の技術の他の例の問
題点である搬送不良の発生も防止できる。
【0009】
【実施例】次に本発明について図面を参照にして説明す
る。図1(a),(b)は本発明の一実施例を示す側面
図と上面図である。図において、102はリンス槽、1
03は乾燥槽、104はアンローダ、2ははね返り隔離
板、4はスリット状リンス液シャワー、8はスリット状
リンス液シャワー4から吐出されたリンス液である。乾
燥槽の部分以外は図2の従来例と同じである。乾燥槽1
03にはスリット状リンス液シャワー4がエアナイフ3
の直前の位置に設けられている。乾燥槽103のスリッ
ト状リンス液シャワー4は、ガラス基板1とのクリアラ
ンスギャップを小さくし、ガラス基板1の搬送方向にリ
ンス液8が吐出されるように設置する。そしてエアナイ
フ3のエアがガラス基板1に吹きかかる部分まで、ガラ
ス基板1の表面をリンス液8で一様に覆う様にスリット
状リンス液シャワー4の流量を調整する。更にエアナイ
フ3には、リンス液8のはね返りミストがガラス基板1
に再付着することを防止するために、はね返り隔離板2
が設置されている。
【0010】これらによりガラス基板1の最表面の膜が
強い疏水性を示し、リンス槽102から搬出された時点
で水玉6が発生している場合においても、エアナイフ3
で高圧空気や高圧吹活性ガスを吹き付ける時点では、ガ
ラス基板1の最表面はリンス液8で覆れ、水玉6の発生
が無い状態でエアナイフ乾燥が行え、ウォータマークの
発生が防止できる。更にはね返り隔離板2によりリンス
液8のガラス基板1への再付着も防止できる。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、エアナイ
フ乾燥される時点では、リンス液でガラス基板の表面を
均一に覆い、水玉の発生を抑制し、ウォータマークの発
生を防止したので、製品の品質及び歩留りの向上がはか
れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a),(b)は本発明の一実施例を示す側面
図と上面図である。
【図2】従来の処理方法の例を示す図で、(a)は装置
全体の構成例,(b),(c)はリンス槽・乾燥槽の側
面図と上面図である。
【図3】従来の処理方法の他の例を示す図である。
【符号の説明】
100 ローダ 101 処理槽 102 リンス槽 103 乾燥槽 104 アンローダ 1 ガラス基板 2 はね返り隔離板 3 エアナイフ 4 スイット状リンス液シャワー 5 搬送ローラ 6 水玉 7 リンス液シャワー 8,9 リンス液 10 ウォータマーク

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 枚葉式で基板の洗浄、ウェットエッチン
    グ、レジスト剥離等を行うリンス液を空気又は不活性ガ
    ス等によりエアナイフ乾燥を行う方法において、エアナ
    イフの直前の位置にスリット状リンス液シャワーを設
    け、前記基板の進行方向にリンス液を吐出させて、エア
    ナイフ乾燥の直前まで基板が一様にリンス液で覆われる
    ようにしたことを特徴とするエアナイフ乾燥方法。
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