JP2673967B2 - 高強度を有する半導体装置のCu合金製リードフレーム材 - Google Patents

高強度を有する半導体装置のCu合金製リードフレーム材

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JP2673967B2 JP2146000A JP14600090A JP2673967B2 JP 2673967 B2 JP2673967 B2 JP 2673967B2 JP 2146000 A JP2146000 A JP 2146000A JP 14600090 A JP14600090 A JP 14600090A JP 2673967 B2 JP2673967 B2 JP 2673967B2
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錬成 二塚
誠司 熊谷
淳一 熊谷
益弘 泉田
誠司 野口
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三菱伸銅 株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、高強度を有し、したがって半導体装置の
高集積化および軽量化に十分対応することができ、かつ
導電性、耐熱性、およびはんだ付け性にもすぐれたCu合
金製リードフレーム材に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、ICやLSIなどの半導体装置のリードフレーム材
として、例えば特公昭64−449号公報に記載されるとお
りの、 Fe:2〜2.4%、P:0.001〜0.1%、 Zn:0.01〜1%、Mg:0.001〜0.1%、 を含有し、残りがCuと不可避不純物からなる組成(以上
重量%、以下%は重量%を示す)を有するCu合金で構成
されたものが知られている。
〔発明が解決しようとする課題〕
一方、近年の半導体装置の高集積化および軽量化はめ
ざましく、これに伴ない、これの構造部材であるリード
フレームにもより一層の薄肉化が要求されているが、上
記の従来Cu合金製リードフレーム材は、リードフレーム
に要求される導電性、耐熱性、およびはんだ付け性には
すぐれるものの、強度が十分でなく、このため上記従来
Cu合金製リードフレーム材の場合、満足な薄肉化をはか
ることができないのが現状である。
〔課題を解決するための手段〕
そこで、本発明者等は、上述のような観点から、上記
の従来Cu合金製リードフレーム材に着目し、これのより
一層の強度向上をはかるべく研究を行なった結果、上記
の従来Cu合金製リードフレーム財を構成するCu合金に、
合金成分としてSnを0.005〜0.05%含有させると、この
結果のリードフレーム材は、すぐれた導電性、耐熱性、
およびはんだ付け性を保持した状態で、一段と高強度を
もつようになり、したがって薄肉化が可能となり、半導
体装置の高集積化および軽量化に対応することができる
ようになるという研究結果を得たのである。
この発明は、上記研究結果にもとづいてなされたもの
であって、 Fe:2〜2.4%、P:0.035〜0.1%、 Zn:0.47〜1%、Mg:0.001〜0.05%、 Sn:0.005〜0.05%、 を含有し、残りがCuと不可避不純物からなる組成を有す
るCu合金で構成してなる半導体装置のCu合金製リードフ
レーム材に特徴を有するものである。
つぎに、この発明のリードフレーム材を構成するCu合
金において、成分組成を上記の通りに限定した理由を説
明する。
(A) Fe Fe成分には、強度を向上させる作用があるが、その含
有量が2%未満では所望の高強度を確保することができ
ず、一方その含有量が2.4%を越えると、導電率が低下
するようになると共に、素地中にFeの巨大析出物が形成
されるようになって圧延加工性が劣化するようになるこ
とから、その含有量を2〜2.4%と定めた。
(b) P P成分には、脱酸作用があるほか、Feと結合して素地
中に微細に分散する鉄りん化物を形成し、もって強度、
導電性、および耐熱性を向上させる作用があるが、その
含有量が0.035%未満では前記作用に所望のすぐれた効
果が得られず、一方その含有量が0.1%を越えると、導
電性が低下するようになることから、その含有量を0.03
5〜0.1%と定めた。
(c) Zn Zn成分には、P成分と同様に脱酸作用があるほか、強
度、伸び、および導電率の変化率を少なくする、すなわ
ちこれらの特性を安定化する作用があるが、その含有量
が0.47%未満では前記作用に所望のすぐれた効果が得ら
れず、一方1%を越えて含有させても前記作用が飽和
し、より一層の向上効果が得らればかりでなく、導電性
が低下するようになることから、その含有量を0.47〜1
%と定めた。
(d) Mg Mg成分には、伸びおよび導電性を損なうことなく、強
度、耐熱性、およびはんだ性付けを向上させる作用があ
るが、その含有量が0.001%未満では前記作用に所望の
効果が得られず、一方その含有量が0.05%を越えても、
Snによる強度改善に顕著な向上効果が得られないことか
ら、その含有量を0.001〜0.05%と定めた。
(e) Sn Sn成分には、FeおよびMgと共存した状態で、はんだ付
け性および伸びを損なうことなく、強度を著しく向上さ
せ、さらに耐熱性も向上させる作用があるが、その含有
量が0.005%未満では前記作用に所望の効果が得られ
ず、一方その含有量が0.05%を越えると導電性が低下す
るようになることから、その含有量を0.005〜0.05%と
定めた。
〔実施例〕
つぎに、この発明のCu合金製リードフレーム材を実施
例により具体的に説明する。
通常の低周波溝型誘導炉を用い、それぞれ第1表に示
される成分組成をもったCu合金溶湯を調製し、半連続鋳
造法にて厚さ:150mm×幅:400mm×長さ:1500mmの寸法を
もった鋳塊とした後、この鋳塊に圧延開始温度:900℃に
て熱間圧延を施して厚さ:11mmの熱延板とし、ついで水
冷後、前記熱延板の上下面を面削して厚さ:10mmとした
状態で、1次冷間圧延を施して、その厚さを2.5mmと
し、 続いて温度:550℃に3時間保持の条件で1次時効処理を
施した後、ロールバフ研磨にて表面の酸化膜および汚れ
を除去した状態で、2次冷間圧延を施して、厚さ:0.833
mmとし、さらに温度:500℃に2時間保持の2次時効処理
を施した後、同じくロールバフ研磨を施した状態で、仕
上圧延率:70%にて最終冷間圧延を行なって厚さ:0.25mm
の条材とし、これに最終的に250〜350℃の範囲内の所定
温度に15分間保持の条件で歪取り焼鈍を行ない、酸洗す
ることにより本発明Cu合金製リードフレーム材(以下、
本発明フレーム材という)1〜6および比較Cu合金製リ
ードフレーム材(以下、比較フレームという)1〜9を
それぞれ製造した。
なお、比較フレーム材1〜6は、いずれもこれを構成
するCu合金の合金成分のうちのいずれかの成分含有量
(第1表に※印を付す)がこの発明の範囲から外れた組
成をもつものである。
ついで、この結果得られた各種のフレーム材につい
て、引張強さ、伸び、導電率、および軟化点を測定し、
さらにはんだ付け性を評価する目的で、65%Sn−40%Pb
の組成を有するはんだ材を浸漬法によりめっきし、これ
を大気中、温度:150℃に500時間保持の実用条件にモデ
ィファイした条件で加熱した後、180゜曲げて再び元に
戻す曲げを行ない、曲げ部分におけるはんだ材の剥離の
有無を観察した。これらの結果を第1表に示した。
〔発明の効果〕
第1表に示される結果から、本発明フレーム材1〜6
は、いずれも上記従来Cu合金製リードフレーム材に相当
する組成を有する比較フレーム材8に比して一段と高強
度を有し、かつ導電性、耐熱性、およびはんだ付け性に
ついても、これと同等あるいはこれ以上のすぐれた特性
をもつことが明らかであり、一方、比較フレーム材1〜
9に見られるように、これを構成するCu合金の合金成分
のうちのいずれかの成分含有量でもこの発明の範囲から
外れると、上記特性のうちの少なくともいずれかの特性
が劣ったものになることが明らかである。
上述のように、この発明のCu合金製リードフレーム材
は、高強度を有し、かつ導電性、耐熱性、およびはんだ
付け性にもすぐれ、かつ上記従来Cu合金製リードフレー
ム材と比較して一段と高い強度を有するので、リードフ
レームの薄肉化および形状複雑化を可能とし、半導体装
置の高集積化および軽量化に寄与するところ大なる特性
を有するのである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 熊谷 淳一 福島県会津若松市扇町128―7 三菱伸 銅株式会社若松製作所内 (72)発明者 泉田 益弘 福島県会津若松市扇町128―7 三菱伸 銅株式会社若松製作所内 (72)発明者 野口 誠司 福島県会津若松市扇町128―7 三菱伸 銅株式会社若松製作所内 (56)参考文献 特開 昭63−93325(JP,A) 特開 平2−111828(JP,A) 特開 平2−111833(JP,A)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】Fe:2〜2.4%、P:0.035〜0.1%、 Zn:0.47〜1%、Mg:0.001〜0.05%、 Sn:0.005〜0.05%、 を含有し、残りがCuと不可避不純物からなる組成(以上
    重量%)を有するCu合金で構成したことを特徴とする高
    強度を有する半導体装置のCu合金製リードフレーム材。
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