JP2667065B2 - 光学式エンコーダ - Google Patents

光学式エンコーダ

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JP2667065B2 JP8618091A JP8618091A JP2667065B2 JP 2667065 B2 JP2667065 B2 JP 2667065B2 JP 8618091 A JP8618091 A JP 8618091A JP 8618091 A JP8618091 A JP 8618091A JP 2667065 B2 JP2667065 B2 JP 2667065B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば旋盤、フライス
盤等の工作機械や半導体製造装置の位置計測に利用する
ことができる光学式エンコーダに関する。
【0002】
【従来の技術】図7は従来の光学式エンコーダの光学系
の一例を示す斜視構造図であり、光源である例えばLD
(Laser Diode)等の発光素子11から発せ
られる可干渉性を有する測定光Laがコリメータレンズ
12を透過して平行光Lbにされ、この平行光Lbが光
を透過させる部分(以下、透過部という)及び光を透過
させない部分(以下、非透過部という)が所定の長さ
(以下、格子ピッチという)で繰返されている回折格子
部を有する第1スケール13にて回折される。第1スケ
ール13にて回折された回折光は回折格子部が所定の位
相差をもって複数(この例では4個)配置されている第
2スケール14にてさらに回折され、この回折光Lcが
光電変換素子15に受光されて回折光強度に応じた電気
信号に変換されるようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の光学式
エンコーダの光学系10においては、第2スケール14
にて回折された回折光Lcの回折光強度に応じた電気信
号により、第1スケール13と第2スケール14との間
の相対変位量を求めている。従って、第1スケール13
と第2スケール14との相対変位以外の要因により上記
回折光強度が変動すると、そのときの電気信号は不安定
な波形となってしまう。この相対変位以外の要因として
は、第2スケール14内部でのレーザ光の反射、干渉に
よるレーザ光の透過量の不均一性等がある。ここで第2
スケール14内部でのレーザ光の反射、干渉について説
明すると、図8の(a)に示すように第1スケール13
を透過後に第2スケール14に入射した平行光Lbは、
そのまま透過して回折される光(以下、透過回折光とい
う)Ldと内部反射を経て回折される光(以下、反射回
折光という)Lrとに分かれる。尚、内部反射を複数回
繰返してから回折される光は微弱であるため無視でき
る。
【0004】第2スケール14の厚さが上記回折光Ld
及びLrの波長λの1/2程度の製造誤差を含んでいる
とすると、各回折光Ld及びLrは互いに強め合う位相
(同図(b))となったり、弱め合う位相(同図
(c))となったりする。さらに、温度変化や湿度変化
によってスケール材料が伸縮すると厚みが変わって位相
の変化を発生させる。そのため、温度や湿度の変化によ
って第2スケール14の実質的な透過率も変わってしま
う。このような回折光が光電変換素子15で電気信号に
変換されると、図9に示すように実質的な透過率Erd
は変動するので、それに応じた電気信号Eも不安定と
なる。結局、このような電気信号Eにより求まる位置
Poは誤差成分を含んだものとなってしまうという欠点
があった。本発明は上述のような事情から成されたもの
であり、本発明の目的は、スケール内部での反射・干渉
による回折光強度の変動を除き、安定した高精度の位置
検出を行なうことができる光学式エンコーダを提供する
ことにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、可干渉性を有
する平行光を発する光源装置と、前記平行光を回折する
第1スケールと、この第1スケールに対して相対変位
し、前記第1スケールにて回折された回折光を回折する
第2スケールと、この第2スケールにて回折された回折
光を受光して電気信号に変換する光電変換手段とを備
え、前記電気信号の変化により前記相対変位後の位置を
検出する光学式エンコーダに関するものであり、本発明
の上記目的は、前記第2スケールの厚み方向の断面形状
をくさび状に形成することによって達成される。
【0006】
【作用】本発明にあっては、第2スケールの面が傾斜し
ているので、反射回折光を透過回折光とは別方向に放射
させることが可能となり、反射回折光と透過回折光の相
互干渉を防止することができるので、高精度の位置検出
を行なうことができる。
【0007】
【実施例】図1は本発明の光学式エンコーダの光学系の
第1の例を図7に対応させて示す斜視構造図であり、同
一構成箇所は同符号を付して説明を省略する。この光学
系100では、第2スケール114の厚み方向の断面形
状がくさび状に成っており、図2に示すように第1スケ
ール13に入射した平行光Lbはa面及びb面をそのま
ま透過し、第2スケール114に入射してc面をそのま
ま透過し、d面で屈折してから透過回折光Lcとして出
射する。一方、d面とc面で反射された光は再びd面で
屈折してから反射回折光Lrcとして出射する。そし
て、透過回折光Lcは光電変換素子15に受光されて第
1スケール13の変位に相当した電気信号に変換され、
反射回折光Lrcは光電変換素子15には受光されずに
系外に放射される。この実施例によれば、変位信号に変
換される透過回折光Lcと、この透過回折光Lcと干渉
を起こして回折光強度の変動の原因となる反射回折光L
rcを第2スケール114で分離することができるため
安定した変位信号を得ることができる。
【0008】図3は本発明の光学式エンコーダの光学系
の第2の例を図1に対応させて示す斜視構造図であり、
同一構成箇所は同符号を付して説明を省略する。この光
学系200では、第2スケール214が第1の例と同様
に断面形状がくさび状に成っていると共に第1スケール
213の厚み方向の断面形状もくさび状と成っている。
そして、これら2つのスケール213、214はくさび
角が等しく、かつ、断面形状が回転対称となるように設
置されている。そして、図4に示すように第1スケール
213に入射した平行光Lbはa面及びb面で屈折し、
所定の角度で第2スケール214に入射してc面及びd
面でも屈折してから透過回折光Lcとして出射する。第
1スケール213と第2スケール214のくさび角が等
しいので各スケール213、214での屈折角が打消し
合い、結局、第1スケール213へ入射する平行光Lb
と第2スケール214から出射する透過回折光Lcは平
行になる。一方、d面とc面で反射された光は再びd面
で屈折してから反射回折光Lrcとして出射する。そし
て、透過回折光Lcは光電変換素子15に受光されて第
1スケール213の変位に相当した電気信号に変換さ
れ、反射回折光Lrcは光電変換素子15には受光され
ずに系外に放射される。この実施例によれば、変位信号
に変換される透過回折光Lcと、この透過回折光Lcと
干渉を起こして回折光強度の変動の原因となる反射回折
光Lrcを第2スケール214で分離することができる
ため安定した変位信号を得ることができる。さらには、
2枚のスケール213、214を透過しても光軸の方向
が変化しないので特に受光系の設計や製作が容易にな
る。
【0009】図5は本発明の光学式エンコーダの光学系
の第3の例を図3に対応させて示す斜視構造図であり、
同一構成箇所は同符号を付して説明を省略する。この光
学系300は、平均化回折モアレ型として提案されてい
る光学系であり、第2の例と同様に第1スケール313
と第2スケール314の厚み方向の断面形状がくさび状
と成っているが、第2スケール314の格子が施された
面cが第1スケール313の面aの傾斜角と同角度で傾
斜している点が第2の例と異なる。この傾斜角は第1ス
ケール313の格子面bとの間隙G1及びG2の差が平
均化回折モアレ型の効果を得るのに適したものとなるよ
うに決定される。そして、図6に示すように第1スケー
ル313に入射した平行光Lbはa面及びb面で屈折
し、所定の角度で第2スケール314に入射してc面及
びd面でも屈折してから透過回折光Lcとして出射す
る。このとき透過回折光Lcは、第2スケール314の
格子部での回折によって格子線に垂直な平面内で複数の
回折光に分かれるが、高さ方向について見れば、第1ス
ケール313と第2スケール314のくさび角が等しい
ので各スケール313、314での屈折角が打消し合
い、結局、第1スケール313へ入射する平行光Lbと
第2スケール314から出射する透過回折光Lcは平行
になる。一方、c面で屈折した光はd面で屈折してから
反射回折光Lrcとして出射する。そして、複数の透過
回折光Lcは集光レンズ316でそれぞれが集光され、
これらのうち±2次の透過回折光+Lc、−Lcが光電
変換素子315に受光されて第1スケール313の変位
に相当した電気信号に変換され、反射回折光Lrcは光
電変換素子315には受光されずに系外に放射される。
この実施例によれば、前述した平均化回折モアレ型の効
果を得るのと同時に、変位信号に変換される透過回折光
Lcと、この透過回折光Lcと干渉を起こして回折光強
度の変動の原因となる反射回折光Lrcを第2スケール
314で分離することができるため安定した変位信号を
得ることができる。さらには、2枚のスケール313、
314を透過しても光軸の方向が変化しないので特に受
光系の設計や製作が容易になる。また、平均化回折モア
レを実現するための傾斜角と干渉光を分離するための傾
斜角が等しくなっているため、第2スケール314を光
学系の構造体に設置する面dが光軸と垂直になり、構造
体の設計製作が容易になる。
【0010】
【発明の効果】以上のように本発明の光学式エンコーダ
によれば、常に安定した高精度の位置検出を行なうこと
ができるので、この光学式エンコーダを例えば工作機械
に適用することにより高精度の加工を常時安定して行な
うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光学式エンコーダの光学系の第1の例
を示す斜視構造図である。
【図2】図1に示す本発明の光学式エンコーダの光学系
を構成するスケールにおける光路を示す図である。
【図3】本発明の光学式エンコーダの光学系の第2の例
を示す斜視構造図である。
【図4】図3に示す本発明の光学式エンコーダの光学系
を構成するスケールにおける光路を示す図である。
【図5】本発明の光学式エンコーダの光学系の第3の例
を示す斜視構造図である。
【図6】図5に示す本発明の光学式エンコーダの光学系
を構成するスケールにおける光路を示す図である。
【図7】従来の光学式エンコーダの光学系の一例を示す
斜視構造図である。
【図8】従来の光学式エンコーダの光学系を構成するス
ケールにおける光路を示す図である。
【図9】従来の光学式エンコーダにより得られる電気信
号の波形図である。
【符号の説明】
100、200、300 光学式エンコーダの光学系 11 発光素子 12 コリメータレンズ 13、213、313 第1スケール 114、214、314 第2スケール 15、315 光電変換素子 316 集光レンズ

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 可干渉性を有する平行光を発する光源装
    置と、前記平行光を回折する第1スケールと、この第1
    スケールに対して相対変位し、前記第1スケールにて回
    折された回折光を回折する第2スケールと、この第2ス
    ケールにて回折された回折光を受光して電気信号に変換
    する光電変換手段とを備え、前記電気信号の変化により
    前記相対変位後の位置を検出する光学式エンコーダにお
    いて、前記第2スケールの厚み方向の断面形状をくさび
    状に形成したことを特徴とする光学式エンコーダ。
  2. 【請求項2】 前記第1スケールの厚み方向の断面形状
    をくさび状に形成した請求項1に記載の光学式エンコー
    ダ。
  3. 【請求項3】 前記第1スケールのくさび角と前記第2
    スケールのくさび角を等しく形成した請求項2に記載の
    光学式エンコーダ。
  4. 【請求項4】 前記第1スケールの格子面と前記第2ス
    ケールの格子面を相対的に傾けることによって2つの格
    子面間の間隙光路長を格子の有効対向面積にわたって変
    化させ、かつ前記第2スケールの格子面の傾斜角と前記
    第1スケールの格子が施されていない面の傾斜角とを等
    しく形成した請求項3に記載の光学式エンコーダ。
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