JP2663466B2 - 光ディスクの検査方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば光磁気ディスクの変調度等を検査す
るのに適用して好適な光ディスクの検査方法に関する。 〔発明の概要〕 本発明は、光源からの出射光を光ディスクに照射し、
この光ディスクからの戻り光をディテクタで受光し、こ
のディテクタの出力信号をオシロスコープで観測するよ
うにした光ディスクの検査方法において、光源からの出
射光を間欠的に所定時間停止させ、オシロスコープに光
量ゼロレベルを表示させて観測を行なうようにしたこと
により、RFランプ系をACカップルのアンプで容易に構成
でき、またピンホールの見分けも容易となるようにした
ものである。 〔従来の技術〕 光ディスクの検査の項目として、アドレスやグループ
の変調度，反射率，同相除去比（光磁気ディスクの場
合），反射光量のレベル，ピンホール，ディフェクト等
がある。従来これらの検査は、光ディスクプレーヤと同
様の構成の検査装置を用いて行なわれている。 〔発明が解決しようとする問題点〕 変調度，反射率等の検査は、光量ゼロレベルからの絶
対値比較が必要なため、RFアンプ系をDCカップルのアン
プで構成する必要があった。しかし、例えばグルーブ変
調度を正確に観測するため、RFアンプ系を広帯域としな
ければならないが、このような広帯域のものはACカップ
ルの方が構成し易く、DCカップルのものはその構成が困
難であった。 本発明はこのような点を考慮し、上述不都合を除去す
ることを目的とするものである。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、光源（４）からの出射光を光ディスク
（９）に照射し、この光ディスク（９）からの戻り光を
ディテクタ（13A）（13B）（20）で受光し、このディテ
クタ（13A）（13B）（20）の出力信号をオシロスコープ
（18）で観測するようにした光ディスクの検査方法にお
いて、光源（４）からの出射光を間欠的に所定時間停止
させることにより、オシロスコープ（18）上での基準レ
ベルを設定するようにしたものである。 〔作用〕 上述したように、光源からの出射光を間欠的に所定時
間停止させることにより、オシロスコープ（18）に光量
ゼロレベルが表示される。そのため、RFアンプ系をACカ
ップルのアンプで構成しても光量ゼロレベルを得ること
ができる。また、反射光レベルが光量ゼロレベルと略同
レベルとなるピンホールの見分けも容易となる。 〔実施例〕 以下、図面を参照しながら本発明の一実施例について
説明する。第１図は本例に使用される光ディスクの検査
装置を示すものである。 同図において、（１）は発振器であり、この発振器
（１）からは、例えば80MHzの周波数信号が発生され
る。この場合、この周波数信号は、ユーザーの操作によ
って間欠的にオフとされる。例えば12.5msecの周期で３
μsecだけオフとされる。即ち、このオフ期間はサーボ
系に影響を与えない程度とされ、オンオフの周期は十分
な周波数特性をもって再生できるオーダーとされる。こ
の発振器（１）からの周波数信号はパルス発生器（２）
で波形整形されたのち駆動回路（３）を介してレーザー
ダイオード（４）に供給され、このレーザーダイオード
（４）はパルス駆動される。この場合、発振器（１）か
らの周波数信号が間欠的にオフとされるときには、この
レーザーダイオード（４）より発生されるレーザー光も
間欠的に所定時間だけオフとされる。 このレーザーダイオード（４）からのレーザー光は、
コリメータレンズ（５）で平行光とされたのち、ビーム
スプリッタ（６），（７）及び対物レンズ（８）を介し
て光磁気ディスク（９）の記録面（9a）に照射される。 また、この光磁気ディスク（９）からの反射光は、対
物レンズ（８）を介してビームスプリッタ（７）に入射
され、このビームスプリッタ（７）で光軸方向が変えら
れたレーザー光は1/2波長板（10）で偏光面が45度回転
させられて偏光ビームスプリッタ（11）に入射され、互
いに直交する偏光面を持つ偏光成分に分離される。この
偏光ビームスプリッタ（11）で光軸方向が変えられる一
の偏光面を持つ偏光成分は、受光レンズ（12A）を介し
て例えばPINフォトダイオードで構成されるヘォトディ
テクタ（13A）に照射される。一方、偏光ビームスプリ
ッタ（11）を光軸方向の変化を生じることなく通過した
他の偏光面を持つ偏光成分は、ミラー（14）で光軸方向
が変えられたのち受光レンズ（12B）を介して例えばPIN
フォトダイオードで構成されるフォトディテクタ（13
B）に照射される。 また、フォトディテクタ（13A）の出力信号はアンプ
（15A）を介して加算器（16）及び減算器（17）に供給
されると共に、フォトディテクタ（13B）の出力信号は
アンプ（15B）を介して加算器（16）及び減算器（17）
に供給される。そして、加算器（16）及び減算器（17）
の出力信号は、夫々オシロスコープ（18）の入力端子に
供給される。 また、ビームスプリッタ（７）を光軸方向の変化を生
じることなく通過したレーザー光はビームスプリッタ
（６）に入射され、このビームスプリッタ（６）で光軸
方向が変えられたレーザー光は集光レンズ（25）及びシ
リンドリカルレンズ（19）を介してサーボ信号を得るた
めの４分割のフォトディテクタ（20）に供給される。４
分割の各ディテクタ部の出力信号よりプッシュプル法に
よるトラッキングエラー信号が形成されると共に、非点
収差法によるフォーカスエラー信号が形成される。 このフォトディテクタ（20）より得られるプッシュプ
ル法によるトラッキングエラー信号を得るための第１及
び第２の検出信号Sa及びSbは、夫々アンプ（21a）及び
（21b）を介して、加算器（22）及び減算器（23）に供
給される。そして、加算器（22）の出力信号及び減算器
（23）の出力信号（プッシュプル法によるトラッキング
エラー信号）は、夫々オシロスコープ（18）の入力端子
に供給される。 なお、（24）はスピンドルモータ、（30）は光ピック
アップを示している。 この第１図例において、光磁気ディスク（９）には、
第２図に示すようにトラックＴがスパイラル状に形成さ
れ、このトラックＴに沿ってデータが記録される。ま
た、各トラックＴは複数のセクターＳに分割され、この
セクターＳごとにデータが記録される。ここで、各トラ
ックＴは、第３図に示すように、溝状のグルーブ（31）
で分離され、２本のグルーブ（31）の間はランド（32）
とされ、各セクターＳにおいて、このランド（32）の最
初の部分には、セクターマーク（33）及びアドレス（3
4）がピット状に形成される。また、グルーブ（31）の
ない部分はミラー面（35）と呼ばれる。 以上の構成において、フォーカス，トラッキング，ス
ライドのサーボをオンとして、スチル状態（トラックＴ
の１周ごとにトラックジャンプをさせて再生する状態）
とし、また発振器（１）からの周波数信号が間欠的にオ
フとされ、レーザーダイオード（４）より発生されるレ
ーザー光も間欠的にオフとされる状態とし、加算器（1
6）の出力信号をオシロスコープ（18）で観察すると、
オシロスコープ（18）には、第４図に示すような波形が
表示される。第５図はその一部を拡大して示したもので
ある。上述していないが、実際にはアドレスの前に第５
図に示すように最短ピットを示すVFO信号が記録されて
いる。このVFO信号によりクロックが形成され、このク
ロックによりアドレスやデータが再生されことになる。 この波形より全光量I_Oは、ミラー面（35）における光
量を測定することにより求められる。即ち全光量I_Oは、
光量ゼロレベルとミラー面レベルとのレベル差で求めら
れる。 また、ランド（32）に対応する反射光量I_TOPは、光量
ゼロレベルとランドレベルとのレベル差で求められる。 また、フォーカスサーボのみをオンとし、トラッキン
グサーボをオフの状態として、加算器（16）の出力信号
をオシロスコープ（18）で観察すると、オシロスコープ
（18）には、第６図に示すような波形が表示される。こ
の波形よりグルーブ（31）における反射光量I_GRは、光
量ゼロレベルとグルーブレベルとのレベル差で求められ
る。そして、以上のI_O,I_TOP及びI_GRより、グルーブ変調
度（I_TOP−I_GR）/I_Oが求められる。 また、第５図の波形より、セクターマーク（33）に対
応する振幅I_SMが求められ、I_SM及びI_Oより、セクターマ
ーク変調度I_SM/I_Oが求められる。 また、第５図の波形より、VFO信号に対応する振幅I
_VFOが求められ、I_VFO及びI_Oより、VFO信号の変調度I_VFO
/I_Oが求められる。 また、フォーカス，トラッキング，スライドのサーボ
をオンとして、スチル状態とし、またレーザーダイオー
ド（４）より発生されるレーザー光も間欠的にオフとさ
れる状態とし、加算器（22）の出力信号をオシロスコー
プ（18）で観察すると、オシロスコープ（18）には、第
７図に示すような波形が表示される。この場合、第４図
例と異なりレベルが小さくなるので、ミラー面レベルが
読み取れなくなる。そのため、ランド（32）に対応する
反射光量I_TOP′を求めることで全光量I_O′を求める。こ
の場合、ランド（32）に対応する反射光量I_TOP′は、光
量ゼロレベルとランドレベルとのレベル差で求められ
る。そして、I_TOP′,I_TOP及びI_Oより、I_O′＝I_TOP′・I
_O/I_TOPが求められる。 また、同様の状態で減算器（23）の出力信号、従って
プッシュプル法によるトラッキングエラー信号をオシロ
スコープ（18）で観察すると、オシロスコープ（18）に
は、第８図に示すような波形が表示される。この波形よ
りプッシュプル量I_P-Pが求められる。そして、I_P-P及び
I_O′よりI_P-P/I_O′が求められる。 また、フォーカス，トラッキング，スライドのサーボ
をオンとして、スチル状態とし、またレーザーダイオー
ド（４）より発生されるレーザー光も間欠的にオフとさ
れる状態とし、減算器（17）の出力信号をオシロスコー
プ（18）で観察すると、オシロスコープ（18）には、第
９図に示すような波形が表示される。この波形より差信
号と光量ゼロレベルとのレベル差ΔBFが求められる。そ
して、同相除去比CMRRは、 CMRR＝−20log|ΔBF/I_O| と求められる。 また、第４図例のように表示させて、同一トラック内
のミラー面の反射光量の変動を観察することで反射率ム
ラ等が求められる。この場合、反射光量が第10図に示す
ように変動するものであるとき、その最大値がI_MAX,最
小値がI_MINであるとき、反射率ムラΔＲは、 と求められる。また、反射光量の平均値Ｒは、 ＝（I_MAX＋I_MIN）/2 と求められる。 また、フォーカス，トラッキング，スライドのサーボ
をオンとして、スチル状態とし、またレーザーダイオー
ド（４）より発生させるレーザー光を連続として、加算
器（16）の出力信号をオシロスコープ（18）で観察する
と、オシロスコープ（18）には第11図に示すような波形
が表示される。この波形より、Ｐ点及びＱ点には基板の
表面に傷やゴミ等のディフェクトが存在することが観測
され、また、Ｒ点にはピンホールが存在することが観測
される。この場合，ピンホールは略光量ゼロレベルとな
るので、レーザーダイオード（４）より発生されるレー
ザー光が間欠的にオフとされる状態として第11図に破線
図示するように光量ゼロレベルを表示させて確認するこ
とができる。 なお、詳細説明は省略するが、上述の他に加算器（1
6）の出力信号よりドロップアウトの検査，減算器（1
7）の出力信号より偏光ディフェクトの検査も行なうこ
とができる。 このように本例によれば、レーザーダイオード（４）
からのレーザー光を間欠的にオフとさせて、オシロスコ
ープ（18）に光量ゼロレベルを表示させて光磁気ディス
クの検査を行なうものであり、RFアンプ系をACカップル
のアンプで簡単に構成することができる。また、オシロ
スコープ（18）に光量ゼロレベルを表示させて光磁気デ
ィスク（９）の検査を行なうものであり、ピンホールを
見分けることが容易となる。 また、その他に基準レベルを必要とする同相除去比等
の検査を正確に行なうことができる。 なお、上述実施例においては、光磁気ディスク（９）
の検査例を示したが、その他の光ディスクの検査も同様
にして行なうことができる。 また、上述実施例によれば、発振器（１）からは、例
えば80MHzの周波数信号が間欠的にオフとされるものが
出力されるが、周波数信号でなく、直流信号が間欠的に
オフとされるものが出力されるようにしてもよい。 〔発明の効果〕 以上述べた本発明によれば、光源からの出射光を間欠
的に所定時間停止させ、オシロスコープに光量ゼロレベ
ルを表示させて観測が行なわれるので、RFアンプ系をAC
カップルのアンプで簡単に構成することができ、またピ
ンホールの見分けも容易となる利益がある。さらに、基
準レベルを必要とする検査を正確に行なうことができ
る。

【図面の簡単な説明】 第１図は一実施例に使用される検査装置の一例を示す構
成図、第２図及び第３図は光磁気ディスクの説明のため
の図、第４図〜第11図はオシロスコープの表示波形を示
す図である。 （１）は発振器、（４）はレーザーダイオード、（９）
は光磁気ディスク、（13A）（13B）及び（20）はフォト
ディテクタ、（18）はオシロスコープである。

Claims (1)

1. (57)【特許請求の範囲】 １．光源からの出射光を光ディスクに照射し、この光デ
   ィスクからの戻り光をディテクタで受光し、このディテ
   クタの出力信号をオシロスコープで観測すようにした光
   ディスクの検査方法において、 上記光源からの出射光を間欠的に所定時間停止させるこ
   とにより、上記オシロスコープ上での基準レベルを設定
   するようにしたことを特徴とする光ディスクの検査方
   法。