JP2644368B2 - 入力信号バッファ回路 - Google Patents

入力信号バッファ回路

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JP2644368B2 JP2311030A JP31103090A JP2644368B2 JP 2644368 B2 JP2644368 B2 JP 2644368B2 JP 2311030 A JP2311030 A JP 2311030A JP 31103090 A JP31103090 A JP 31103090A JP 2644368 B2 JP2644368 B2 JP 2644368B2
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、入力信号バッファ回路に関するものであ
る。
(従来の技術) 最近、半導体装置の利用が高まり、該半導体装置の入
力信号バッファ回路として、入力スイッチングレベルの
不感帯が小さく且つ高速に応答するものが要求されてい
る。
第4図は従来の入力信号バッファ回路の回路図、第5
図は前記入力バッファ回路における入力信号の入力スイ
ッチングレベルと電源電圧との関係を示す図、第6図は
前記入力バッファ回路の信号波形図である。
第4図〜第6図において、Iは入力信号、Oは出力信
号、N21はノード名、Vccは電源電圧、Vssは接地電圧、Q
p21〜Qp23は各々Pチャンネル型MOSトランジスタ、Qn21
〜Qn23は各々Nチャンネル型MOSトランジスタ、INV7は
否定回路、VIHはHigh側入力スイッチングレベル、VILは
Low側入力スイッチングレベルである。
次に、第4図及び第6図に基づき上記入力バッファ回
路の動作について説明する。
まず、入力信号Iが論理電圧“L"であるとき、トラン
ジスタQp21,Qp22はオン、トランジスタQn21,Qn22はオ
フ、ノードN21は論理電圧“H"、出力信号Oは論理電圧
“L"、トランジスタQp23はオン、トランジスタQn23はオ
フであって、入力信号Iの入力スイッチングレベルはHi
gh側にシフトしている。
次に、入力信号Iが論理電圧“H"になると、トランジ
スタQp21,Qp22がオフ、トランジスタQn21,Qn22がオンに
なるから、ノードN21は論理電圧“L"に、出力信号Oは
論理電圧“H"に、トランジスタQp23はオフに、トランジ
スタQn23はオンになり、入力信号Iの入力スイッチング
レベルはLow側にシフトする。
このように、入力信号Iが入力されるトランジスタQp
21,Qp22,Qn21,Qn22と並列に接続されたトランジスタQp2
3,Qn23に入力信号Iと同相の信号が入力されるため、入
力信号Iは論理電圧“L"であるときは入力スイッチング
レベルはHigh側にシフトし、入力信号Iが論理電圧“H"
であるときは入力スイッチングレベルはLow側にシフト
する。
従って、例えば第6図に示すように入力信号Iが論理
電圧“L"から論理電圧“H"に遷移した後、反射等によっ
てその論理電圧“H"のレベルが少し下がっても誤動作し
難いという特徴を有している。
(発明が解決しようとする課題) ところが、前記従来の入力信号バッファ回路では、前
述のように入力信号の遷移後の反射等による誤動作が少
ない半面、第5図に示すように入力スイッチングレベル
の不感帯が大きいために入力信号の遷移に対する応答が
遅いという問題がある。
前記に鑑み、本発明は、入力信号の遷移後の反射等に
よる誤動作を少なくしつつ、入力スイッチングレベルの
不感帯をを小さくして入力信号の遷移に対する応答を速
くすることを目的とする。
(課題を解決するための手段) 前記の課題を解決するため、請求項(1)の発明が講
じた解決手段は、入力信号バッファ回路を、入力信号が
入力される第1の相補型MOSトランジスタ群と、前記入
力信号と同相の信号を入力とする第1の相補型MOSトラ
ンジスタと、前記入力信号と逆相で且つ前記入力信号よ
り遅延した信号を入力とする第2の相補型MOSトランジ
スタとが互いに配列に接続されてなる構成にするもので
ある。
また、請求項(2)の発明が講じた解決手段は、請求
項(1)に記載の第1の相補型MOSトランジスタに代え
て、前記入力信号と同相の信号を入力とする第1の相補
型MOSトランジスタと前記入力信号と逆相で且つ前記入
力信号より遅延した信号を入力とする第3の相補型MOS
トランジスタとが直列に接続された第2の相補型MOSト
ランジスタ群を備えている構成とするものである。
さらに、請求項(3)の発明が講じた解決手段は、請
求項(1)又は(2)に記載の入力信号バッファ回路の
構成に、前記入力信号と逆相で且つ前記入力信号より遅
延した前記信号が有する遅延時間を、前記第1の相補型
MOSトランジスタ群のPチャンネル型MOSトランジスタ群
を流れる電流量と前記第3の相補型MOSトランジスタの
Pチャンネル型MOSトランジスタを流れる電流量との和
が前記第1の相補型MOSトランジスタ群のNチャンネル
型MOSトランジスタ群を流れる電流量以下となる時間、
及び前記第1の相補型MOSトランジスタ群のNチャンネ
ル型MOSトランジスタ群を流れる電流量と前記第3の相
補型MOSトランジスタのNチャンネル型MOSトランジスタ
を流れる電流量との和が前記第1の相補型MOSトランジ
スタ群のPチャンネル型MOSトランジスタ群を流れる電
流量以下となる時間の各々よりも遅い時間にならしめる
遅延回路を備える構成を付加するものである。
(作用) 請求項(1)及び(2)の発明の構成により、入力信
号が入力される第1の相補型MOSトランジスタ群に、入
力信号と同相の信号を入力とする第1の相補型MOSトラ
ンジスタと、入力信号と逆相で且つ遅延した信号を入力
とする第2の相補型MOSトランジスタとが並列に接続さ
れているため、入力信号の遷移直後は第1及び第2の相
補型MOSトランジスタの働きで入力信号の反射等による
誤動作が防止され、そして一定時間経過後は第2の相補
型MOSトランジスタの働きで入力スイッチングレベルの
不感帯を小さくした状態で次の遷移に備えることができ
る。
また、請求項(3)の発明の構成により、請求項
(1)又は(2)の入力信号バッファ回路は、第1の相
補型MOSトランジスタ群に入力される入力信号と逆相で
且つ該入力信号より遅延した信号が有する遅延時間を所
定のものより遅い時間にならしめる遅延回路を備えてい
るため、誤動作し易い過渡状態が終わって出力信号が確
定した後に、次の入力信号の遷移に備えて不感帯を小さ
くすることができる。
(実施例) 以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の一実施例に係る入力信号バッファ回
路の回路図、第2図(A)は前記入力信号バッファ回路
における入力信号Iの遷移から一定時間経過後の入力信
号Iの入力スイッチングレベルと電源電圧との関係を示
す図、第2図(B)は、前記入力信号バッファ回路にお
ける入力信号Iの遷移直後の入力信号Iの入力スイッチ
ングレベルと電源電圧との関係を示す図、第3図は前記
入力信号バッファ回路の信号波形図である。
第1図〜第3図において、Iは入力信号、Oは出力信
号、N11,N12は各々ノード名、Vccは電源電圧、Vssは接
地電圧、Qp11〜Qp15は各々Pチャンネル型MOSトランジ
スタ、Qn11〜Qn15は各々Nチャンネル型MOSトランジス
タである。
そして、Pチャンネル型MOSトランジスタQp11とNチ
ャンネル型MOSトランジスタQn11及びPチャンネル型MOS
トランジスタQp12とNチャンネル型MOSトランジスタQn1
2によって第1の相補型MOSトランジスタ群GCMOS1が構成
されている。
またPチャンネル型MOSトランジスタQp13とNチャン
ネル型MOSトランジスタQn13とによって第1の相補型MOS
トランジスタCMOS1が、Pチャンネル型MOSトランジスタ
Qp15とNチャンネル型MOSトランジスタQn15とによって
第2の相補型MOSトランジスタCMOS2が、Pチャンネル型
MOSトランジスタQp14とNチャンネル型MOSトランジスタ
Qn14とによって第3の相補型MOSトランジスタCMOS3が各
々構成されていると共に、第1の相補型MOSトランジス
タCMOSと第3の相補型MOSトランジスタCMOS3とによって
第2の相補型MOSトランジスタ群GCMOS2が構成されてい
る。
また、同図において、INV1〜INV6は各々否定回路、VI
HはHigh側入力スイッチングレベル、VILはLow側入力ス
イッチングレベルである。
次に、第1図及び第3図に基づき前記入力信号バッフ
ァ回路の動作を説明する。
まず、入力信号Iが論理電圧“L"であるとき、トラン
ジスタQp11,Qp12はオン、トランジスタQn11,Qn12はオフ
であるから、ノードN11は論理電圧“H"、出力信号Oは
論理電圧“L"、ノードN12は論理電圧“H"、トランジス
タQp13はオン、トランジスタQp14,Qp15はオフ、トラン
ジスタQn13はオン、トランジスタQn14,Qn15はオンであ
り、入力信号Iの入力スイッチングレベルはLow側にシ
フトしている。
次に、入力信号Iが論理電圧“H"になると、トランジ
スタQp11,Qp12はオフに、トランジスタQn11,Qn12はオン
になり、ノードN11は論理電圧“L"に、出力信号Oは論
理電圧“H"に、トランジスタQp13はオフに、トランジス
タQn13はオンになるから、否定回路INV2〜INV6の遅延時
間以内においてはノードN12が論理電圧“H"の状態を保
持し、トランジスタQp14,Qp15はオフ、トランジスタQn1
4,Qn15はオンの状態を保持し、入力信号Iの入力スイッ
チングレベルは更にLow側にシフトする。
このように、入力信号Iが入力されるトランジスタQp
11,Qp12,Qn11,Qn12と並列に接続されたトランジスタQp1
3,Qn13に入力信号Iと同相の信号が入力され、入力信号
Iが論理電圧“L"から論理電圧“H"に遷移した直後は、
入力スイッチングレベルが更にLow側にシフトするた
め、第3図に示すように、入力信号Iが論理電圧“L"か
ら論理電圧“H"に遷移した後に反射等によってその論理
電圧“H"レベルが少し下がっても誤動作し難いという特
徴を有している。つまり、入力信号Iの遷移直後の入力
スイッチングレベルの不感帯は、第2図(B)に示すよ
うに従来同様に大きい。
次に、入力信号Iが論理電圧“L"から論理電圧“H"に
遷移した後に否定回路INV2〜INV6で生じる遅延時間が経
過すると、ノードN12は論理電圧“L"になり、トランジ
スタQp14,Qp15はオン、トランジスタQn14,Qn15はオフに
なり、入力スイッチングレベルがHigh側にシフトするた
め、入力信号Iが論理電圧“L"に遷移し易くなる。つま
り、入力信号Iの遷移から一定時間経過後における入力
スイッチングレベルの不感帯は第2図(A)に示すよう
に小さくなるのである。
また、入力信号Iが論理電圧“H"から論理電圧“L"に
遷移する場合も同様に、論理電圧“H"のときは入力スイ
ッチングレベルがHigh側にシフトしており、入力信号I
が論理電圧“H"から論理電圧“L"に遷移した直後は入力
スイッチングレベルが更にHigh側にシフトし、否定回路
INV2〜INV6で生じる遅延時間が経過すると入力スイッチ
ングレベルはLow側にシフトする。
以上説明したように、本実施例に係る入力信号バッフ
ァ回路は、入力信号Iの遷移から或る時間が経過するま
では反射等による誤動作が少なく、入力信号の遷移から
或る時間が経過した以後は入力スイッチングレベルの不
感帯が小さくなって次の入力信号の遷移に対して高速に
応答するという特徴を兼ね備えている。この場合、否定
回路INV2〜INV6による遅延時間は、第3図に示すように
入力信号Iの遷移時の過渡状態が終わって出力信号Oが
確定した後にノートN12の論理電圧が反転するように決
定する。
(発明の効果) 以上説明したように、請求項(1)又は(2)に係る
入力信号バッファ回路によると、入力信号が入力される
第1の相補型MOSトランジスタ群に、入力信号と同相の
信号を入力とする第2の相補型MOSトランジスタと、入
力信号と逆相で且つ遅延した信号を入力とする第3の相
補型MOSトランジスタとが並列に接続されているため、
入力信号の遷移直後は反射等による誤動作が少なく、入
力信号の遷移から成る時間経過後には入力スイッチング
レベルの不感帯が小さくなって次の入力信号の遷移に高
速に対応するので、その実施効果は極めて大きい。
また、請求項(3)の発明に係る入力信号バッファ回
路によると、第1の相補型MOSトランジスタ群に入力さ
れる入力信号と逆相で且つ該入力信号より遅延した信号
が有する遅延時間を所定のものより遅い時間にならしめ
る遅延回路を備えているため、誤動作し易い過渡状態が
終わって出力信号が確定した後に、次の入力信号の遷移
に備えて不感帯を小さくするので、不感帯を小さくする
にも拘らず誤動作が生じ難い。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る入力信号バッファ回路
の回路図、第2図(A)は前記入力信号バッファ回路に
おける入力信号の遷移から一定時間経過後の入力信号の
入力スイッチングレベルと電源電圧との関係を示す図、
第2図(B)は前記入力信号バッファ回路における入力
信号の遷移直後の入力信号の入力スイッチングレベルと
電源電圧との関係を示す図、第3図は前記入力信号バッ
ファ回路の信号波形図、第4図は従来の入力信号バッフ
ァ回路の回路図、第5図は前記従来の入力信号バッファ
回路における入力信号の入力スイッチングレベルと電源
電圧との関係を示す図、第6図は前記従来の入力信号バ
ッファ回路の信号波形図である。 I……入力信号 O……出力信号 N11,N12,N21……ノード名 Vcc……電源電圧 Vss……接地電圧 Qp11〜Qp15,Qp21〜Qp23……Pチャンネル型MOSトランジ
スタ Qn11〜Qn15,Qn21〜Qn23……Nチャンネル型MOSトランジ
スタ CMOS1……第1の相補型MOSトランジスタ CMOS2……第2の相補型MOSトランジスタ CMOS3……第3の相補型MOSトランジスタ GCMOS1……第1の相補型MOSトランジスタ群 GCMOS2……第2の相補型MOSトランジスタ群 INV1〜INV7……否定回路 D……遅延回路 VIH……High側入力スイッチングレベル VIL……Low側入力スイッチングレベル

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】入力信号が入力される第1の相補型MOSト
    ランジスタ群と、前記入力信号と同相の信号を入力とす
    る第1の相補型MOSトランジスタと、前記入力信号と逆
    相で且つ前記入力信号より遅延した信号を入力とする第
    2の相補型MOSトランジスタとが互いに並列に接続され
    てなることを特徴とする入力信号バッファ回路。
  2. 【請求項2】請求項(1)に記載の第1の相補型MOSト
    ランジスタに代えて、前記入力信号と同相の信号を入力
    とする第1の相補型MOSトランジスタと前記入力信号と
    逆相で且つ前記入力信号より遅延した信号を入力とする
    第3の相補型MOSトランジスタとが直列に接続された第
    2の相補型MOSトランジスタ群を備えていることを特徴
    とする入力信号バッファ回路。
  3. 【請求項3】請求項(1)又は(2)に記載の入力信号
    バッファ回路において、前記入力信号と逆相で且つ前記
    入力信号より遅延した前記信号が有する遅延時間を、前
    記第1の相補型MOSトランジスタ群のPチャンネル型MOS
    トランジスタ群を流れる電流量と前記第3の相補型MOS
    トランジスタのPチャンネル型MOSトランジスタを流れ
    る電流量との和が前記第1の相補型MOSトランジスタ群
    のNチャンネル型MOSトランジスタ群を流れる電流量以
    下となる時間、及び前記第1の相補型MOSトランジスタ
    群のNチャンネル型MOSトランジスタ群を流れる電流量
    と前記第3の相補型MOSトランジスタのNチャンネル型M
    OSトランジスタを流れる電流量との和が前記第1の相補
    型MOSトランジスタ群のPチャンネル型MOSトランジスタ
    群を流れる電流量以下となる時間の各々よりも遅い時間
    にならしめる遅延回路を備えていることを特徴とする入
    力信号バッファ回路。
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