JP2636710B2

JP2636710B2 - 書換え型光記録再生装置

Info

Publication number: JP2636710B2
Application number: JP29414993A
Authority: JP
Inventors: 豊棚橋
Original assignee: Nippon Electric Co Ltd
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1993-10-30
Filing date: 1993-10-30
Publication date: 1997-07-30
Anticipated expiration: 2012-07-30
Also published as: JPH07130106A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光記憶媒体に対して光
学的手段を用いて情報の記録・再生を行う書換え型光記
録再生装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光磁気ディスク装置等の書換え型光記録
再生装置では、情報の記録再生手段に半導体レーザダイ
オード等を光源としたレーザ光が使用され、このレーザ
光は光学レンズによって極小の光スポットに収束されて
光記憶媒体上に照射される。情報の記録時には、供給さ
れる記録データに対応して強度変調されたレーザ光が媒
体面上に照射される。一方、光記憶媒体面には外部磁界
が供給されており、上記レーザ光による局部的な昇温効
果から光記憶媒体面上に磁化反転マークが形成されて情
報記憶が行われる。また、情報の再生時には、記憶情報
を乱さない程度の一定強度のレーザ光が光記憶媒体面に
照射され、上記磁化反転マークに対応した反射光の偏光
面変化を電気信号として検出し、二値信号の変換の後、
再生クロック信号を弁別基準とした再生タイミング弁別
から情報再生が行われる。

【０００３】上述の記録及び再生の過程においては、情
報再生時に低エラー率の安定確保、言い換えれば再生タ
イミング弁別におけるタイミングマージンをいかに確保
するかが課題となる。このため、記録時においては、レ
ーザ光の記録パワー強度，記録パルス幅等の記録回路パ
ラメータの最適化設定が要求される。また、再生時にお
いては、再生分解能低下を補償する再生等化定数，再生
二値化しきい値等の再生回路パラメータの最適化設定が
要求される。

【０００４】従来、この種の書換え型光記録再生装置に
おける記録回路パラメータ及び再生回路パラメータ（以
下、「記録再生回路パラメータ」という）は、再生タイ
ミングマージンに関わる実験結果から最適値を決定して
固定的に用いるものであった。以前は、比較的マージン
確保が容易であったことから、装置間又は媒体間の特性
バラツキは、マージン内に許容し得るものであった。し
かし、近年の大容量／高性能化要求に伴う高記録密度化
・高速化に従って、上述の再生タイミングマージンは減
少傾向にある。その対応策として、一部の装置では、媒
体の装顛時等に媒体上のユーザ使用領域外の試験領域を
利用し、記録再生試験を実行して再生エラー率が規定値
以内か否かから記録再生系の正常性を確認し、さらには
上記記録再生試験から当該装置の記録再生回路パラメー
タを実使用媒体に適合させる自己最適化設定が採用され
始めている。

【０００５】例えば、特開平３−１１６５６６号公報に
おいては、特にオーバライト可能な光磁気記録媒体を対
象とはしているが、記録再生試験から記録，消去，再生
の各レーザ光強度パラメータを再生エラーが最小となる
条件で最適化する方法が提案されている。

【０００６】また、試験領域については、ＩＳＯ／ＩＥ
Ｃ１００８９（ＪＩＳＸ６２７１）規定の１３０ｍ
ｍ書換型光ディスクカートリッジを一例にすると、その
フォーマット条件から図１０に示すように、ユーザ使用
領域外の内外周エリアに製造者試験領域と保護用領域が
規定されており、本領域を上記試験領域として用いるこ
とができる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の書換え型光記録再生装置おける記録再生試験の目的
は、次のようなものである。第１に、記録再生回路機能
の正常性を判定することである。第２に、使用する媒体
に適合した記録再生回路パラメータを最適な値に補正す
ることにより、低再生エラー率での装置の安全稼働を図
ることである。しかし、前回の再生エラー率，試験領域
での記録回数，前回の最適化設定された記録再生回路パ
ラメータ値等の情報に関して管理がなされていないた
め、以下の欠点を有していた。

【０００８】記録再生試験で得られた再生エラー率
は、媒体と装置とを含めた総合性能としての結果であ
る。そのため、その再生エラーの原因が媒体にあるの
か、装置にあるのかの判別がつかない。したがって、記
録再生試験により高い再生エラー率を検出した場合、ユ
ーザは異常状態の確認はできても原因が特定されない。
そのため、媒体の交換で済むのか、装置の修理を必要と
するのかの判断が出来ない。

【０００９】媒体の使用回数，使用年数等の寿命につ
いて、何ら管理がなされない。そのため、寿命に達した
媒体が故障する前に、媒体の交換を交換することができ
ない。

【００１０】多数回の記録再生試験により、試験領域
での媒体の特性をユーザ領域以上に劣化させてしまう場
合がある。この場合、劣化した試験領域を有する媒体で
は、記録再生回路パラメータが、試験領域に対しては適
合しても、劣化していないユーザ領域に対しては適合し
なくなる。そのため、再生タイミングマージンの減少し
過ぎた誤ったパラメータ設定等が行われる危険性があ
る。

【００１１】記録再生回路パラメータの最適化設定処
理は、媒体を装顛した時等に最小のエラー率を得るよ
う、無条件に実行されるものであった。そのため、各パ
ラメータが既に適合している場合にも、最適化設定処理
が行われる。この最適化設定処理に要する時間は不要で
ある。

【００１２】上述の記録再生回路パラメータの最適化
設定処理においては、従来、各パラメータの初期値とし
て、媒体間の特性ばらつきは考慮されず実験結果に基づ
く平均的固定値を一律に与えるものであった。そのた
め、実際に使用する媒体との特性差からパラメータ設定
の収れんが遅くなり、最適化設定に要する処理時間が長
くなる。しかも、この場合、多数回の記録再生試験を要
することから、上述で問題とした試験領域での特性劣化
をさらに加速してしまう問題をも有していた。

【００１３】

【発明の目的】本発明の主な目的は、次のとおりであ
る。

【００１４】イ）高再生エラー率の原因が、媒体にある
のか、装置にあるのかを明確にする。

【００１５】ロ）試験領域の劣化の影響を抑える。

【００１６】ハ）無駄な、記録再生回路パラメータの最
適化設定処理をなくす。

【００１７】

【課題を解決するための手段】本発明に係る書換え型光
記録再生装置は、記録回路パラメータに従って光記録媒
体に情報を書き込む記録手段と、再生回路パラメータに
従って前記光記録媒体から情報を読み取る再生手段とを
備えると共に、前記光記録媒体の試験領域に対して前記
記録手段及び再生手段によって記録再生試験を行うこと
により再生エラー率を得る書換え型光記録再生装置にを
改良したものである。

【００１８】その改良した主な点は、次のとおりであ
る。

【００１９】（１）前記再生エラー率を前記記録手段に
よって前記試験領域に書き込むと共にこの試験領域に書
き込まれた再生エラー率を前記再生手段によって読み取
る再生エラー率管理手段と、前記記録再生試験の前後の
再生エラー率の差異に基づき異常の報告又は前記記録回
路パラメータ及び再生回路パラメータの変更を行う記録
再生制御手段とを備えものとした点。この場合、前記記
録再生制御手段は、前記記録再生試験の前後のエラー率
が共に所定値以上である場合に、前記光記録媒体の異常
を報告するものとしてもよい。また、前記記録再生制御
手段は、前記記録再生試験の前の再生エラー率に対する
この記録再生試験の後の再生エラー率の増加量が所定値
以上である場合に、前記書換え型光記録再生装置の異常
を報告するものとしてもよい。さらに、前記記録再生制
御手段は、前記記録再生試験の前の再生エラー率に対す
るこの記録再生試験の後の再生エラー率の増加量が所定
値以上である場合に、前記再生エラー率が最小となるよ
う前記記録回路パラメータ又は再生回路パラメータの補
正を行うものとしてもよい。

【００２０】（２）前記記録回路パラメータ及び再生回
路パラメータを前記記録手段によって前記試験領域に書
き込むと共にこの試験領域に書き込まれた前記記録回路
パラメータ及び再生回路パラメータを前記再生手段によ
って読み取る記録再生パラメータ管理手段と、前記記録
再生試験の前後の記録回路パラメータ及び再生回路パラ
メータの差異に基づき異常の報告又は前記記録回路パラ
メータ及び再生回路パラメータの変更を行う記録再生制
御手段とを備えたものとした点。この場合、前記記録再
生制御手段は、前記記録再生試験の前後の前記記録回路
パラメータ及び再生回路パラメータの差異が所定値以上
である場合に、異常を報告するものとしてもよい。ま
た、前記記録再生制御手段は、前記記録再生試験の再生
エラー率が所定値以内である場合に、前記記録再生試験
の前の前記記録回路パラメータ及び再生回路パラメータ
をそのまま、前記記録再生試験の後の前記記録回路パラ
メータ及び再生回路パラメータとするものとしてもよ
い。

【００２１】（３）上記（１）又は（２）の構成に加え
て、前記記録再生試験を行った回数の累積値を前記記録
手段によって前記試験領域に書き込むと共にこの試験領
域に書き込まれた前記累積値を前記再生手段によって読
み取る記録再生試験回数管理手段を付設し、前記累積値
が所定値以上である場合に前記試験領域の変更を行う機
能を前記記録再生制御手段に付加した点。

【００２２】

【作用】記録再生制御手段は、再生エラー率管理手段を
介して記録再生試験の前後の再生エラー率を入力する。
これらの再生エラー率の変化に基づき、異常の報告又は
記録再生回路パラメータの変更を行う。

【００２３】記録再生制御手段は、記録再生パラメータ
管理手段を介して記録再生試験の前後の記録再生回路パ
ラメータを入力する。これらの記録再生回路パラメータ
の変化に基づき、異常の報告又は記録再生回路パラメー
タの変更を行う。

【００２４】記録再生制御手段は、記録再生試験回数管
理手段を介して記録再生試験を行った回数の累積値を入
力する。この累積値が所定値以上であれば、試験領域の
変更を行う。

【００２５】

【実施例】図１は本発明の一実施例を示すブロック構成
図である。以下、この図面を参照して説明する。

【００２６】光ヘッド３は、内部にレーザダイオード３
Ａと光ディテクタ３Ｂとを収容している。媒体４上には
磁化反転マーク４Ａが形成されている。媒体４はスピン
ドルモータ５により回転する。

【００２７】記録手段は、記録パルス補正回路１、電流
駆動回路２、レーザダイオード３Ａ等によって構成され
ている。再生手段は、光ディテクタ３Ｂ、増幅回路６、
再生等化回路７、再生パルス化回路８、再生データ弁別
回路９等によって構成されている。再生エラー率管理手
段は、再生エラー率検出回路１０等によって構成されて
いる。記録再生制御手段は、パラメータ最適化制御回路
１１、メモリ回路１３等によって構成されている。

【００２８】まず、通常の場合の記録再生動作について
説明する。情報の書込みに際しては、書込みデータ信号
が記録パルス補正回路１に供給され、ここで媒体記録感
度特性、あるいは記録すべきトラック位置（媒体半径位
置）の線速条件から媒体４に安定した磁化反転マーク４
Ａを形成するよう記録タイミングの補正が行われる。こ
の後、電流駆動回路２において同じく媒体記録感度、線
速条件から最適化された記録時光強度に相当した記録電
流に変換され、光ヘッド３内のレーザダイオード３Ａを
電流駆動する。レーザダイオード３Ａは供給される電流
に比例した強度の光出力を発光し、その光出力は光ヘッ
ド３に備えられた光学レンズで集光され、スピンドルモ
ータ５によって回転駆動された媒体４上に照射される。
一方、図１には示されていないが、媒体面上には消去と
記録では極性の異なる外部磁界が供給されており、上述
の光出力の照射に伴う媒体４上での局部的温度上昇から
同媒体上に磁化反転マーク４Ａが形成されて情報の記録
が完了する。

【００２９】また、情報の再生においては、まず電流駆
動回路２によって媒体上の情報を乱さない程度の一定強
度光出力に相当した電流がレーザダイオード３Ａに供給
され、その光出力の媒体面での反射光から、カー効果を
利用して磁化反転マーク４Ａ相当の偏光面変化が検出さ
れ、光ディテクタ３Ｂで電気信号に変換される。この光
ディテクタ３Ｂの出力である再生アナログ信号は、増幅
回路６で増幅され、再生等化回路７において波形干渉に
起因した信号歪を補償等化するために信号の高調波成分
が増強され、再生パルス化回路８に供給される。再生パ
ルス化回路８では、供給される再生等化後の再生アナロ
グ信号としきい値とのレベル比較が行われ、二値のディ
ジタル信号である再生データパルスに変換される。この
再生データパルスは次の再生データ弁別回路９に供給さ
れ、同信号に位相同期した再生クロック信号を弁別基準
とした再生タイミング弁別から読み出しデータ信号を得
ることで情報の再生が行われる。

【００３０】次に、記録再生試験時の動作について説明
する。まず、装置電源投入、媒体装顛、あるいは所定値
以上の温度変化検出等の起動条件から試験開始信号が主
制御回路１２に供給されると、光ヘッド３における光ビ
ーム位置が試験領域に設定され、先述の通常情報再生と
同一の手順で同試験領域内に設けられた試験管理エリア
の再生エラー率情報が再生されてメモリ回路１３に格納
される。なお、この格納された再生エラー率（ＥＳ）は
同媒体における当該記録再生試験に先行した直前の試験
前再生エラー率に相当するものとなる。

【００３１】この後、主制御回路１２はエラー率検出回
路１０にテスト指令を出し、エラー率検出回路１０は記
録パルス補正回路１にテストデータを供給すると共に、
先述の通常の記録再生動作と同様の手順で試験領域内の
試験エリアにテスト記録と、同エリアのデータ再生を実
行する。さらにエラー率検出回路１０は、テストデータ
と同データの再生データとの比較から再生エラー率を算
出し、主制御回路１２に試験結果であるこの再生エラー
率（ＥＴ）を報告する。

【００３２】主制御回路１２では、再生エラー率（Ｅ
Ｔ）の報告を受けて、先の格納エラー率（ＥＳ）との比
較から以下の状態判定を行う。

【００３３】ＥＴ≦所定規定値の場合・・・装置と媒
体共に正常と判定される。

【００３４】ＥＴ≧所定規定値であり、かつＥＳ≧所
定規定値の場合・・・当該媒体に対する前回の記録再生
試験結果、もしくは記録再生回路パラメータの最適化設
定後の試験結果と、今回の記録再生試験結果の両者にお
いて、再生エラー率が共に規定値を満足できない状況に
あり、媒体の寿命等に起因した特性劣化から媒体異常と
判断される。

【００３５】従って、本状態が判定された場合には、媒
体異常警告信号を出力しランプ表示、もしくはメッセー
ジ表示等の手段からユーザに警告することができる。

【００３６】ＥＴ≧所定規定値であるが、ＥＳ≦所定
規定値の場合・・・当該媒体に対する前回の記録再生試
験結果、もしくは記録再生回路パラメータの最適化設定
後の試験結果では正常であったものが、今回の記録再生
試験結果では再生エラー率が規定値を満足できない状況
にあり、装置の記録再生機能に関わる何らかの異常、あ
るいは記録再生回路パラメータの不適合状態と判断され
る。

【００３７】従って、本状態が判定された場合には、装
置異常警告信号を出力しランプ表示、もしくはメッセー
ジ表示等の手段からユーザに警告することができる。ま
た、次に説明する記録再生回路パラメータの最適化設定
処理を起動させ、装置状態を正常な状態に復帰させるこ
ともできる。

【００３８】記録再生回路パラメータの最適化設定は、
主制御回路１２からパラメータ最適化制御回路１１を起
動すると共に、先述の記録再生試験と同様に再生エラー
率検出回路１０にテスト指令を出し、記録再生回路パラ
メータを修正変更しながら、試験領域内の試験エリアに
記録再生試験を繰り返して再生エラー率（ＥＴ）が所定
規定以下、もしくは最小となる条件の最適パラメータを
検出設定する処理が実行される。パラメータ最適化制御
回路１１において対象となる記録再生回路パラメータと
しては、記録パルス補正回路１の記録タイミング補正時
間、電流駆動回路２の記録時光出力強度に相当したレー
ザダイオード駆動電流、再生等化回路７における高調波
強調利得量、再生パルス化回路８におけるパルス化しき
い値等がある。

【００３９】なお、最適化の手法として、全ての回路パ
ラメータを順次一つずつ最適化設定していく方法、複数
の回路パラメータを組み合わせて最適化設定する方法、
あるいは回路パラメータに最適化優先度をつけて順次最
適化設定を行い所定再生エラー率が得られた段階で処理
を停止する方法等があるが特に限定されるものではな
い。但し、手順として、標準の記録パラメータ条件での
試験記録から再生等化回路７、再生パルス化回路８の再
生パラメータ最適化を、記録パルス補正回路１、電流駆
動回路２の記録パラメータ最適化に先行させて実行する
ことが、誤った再生パラメータ条件から記録パラメータ
が誤設定されることを防止する上で望まれる。

【００４０】この後、最後の処理として、上述の記録再
生試験での再生エラー率試験結果、もしくは記録再生回
路パラメータ最適化設定処理後の最終再生エラー率をエ
ラー率情報として、主制御回路１２は試験領域の試験管
理エリアを更新すべく記録処理を実行して一連の処理が
終了する。なお、この場合の記録処理は主制御回路１２
から上記エラー率情報を記録パルス補正回路１に供給
し、通常の情報記録動作と同一の手順で実行される。

【００４１】次に、上述の最適化設定で対象とした記録
再生回路パラメータ制御につき詳述する。まず、図２は
記録パルス補正回路１の回路構成例を示すものであり、
図３は図２に関わる動作波形図である。書込みデータ信
号ａは第一遅延回路１Ａと第二遅延回路１Ｂに供給さ
れ、各々、遅延時間Ｔ１とＴ２を有した第一遅延信号
ｂ、第二遅延信号ｃが生成される。この後、第一遅延信
号ｂはフリップフロップ回路１Ｃのセット入力に、第二
遅延信号ｃはインバータ回路１Ｄで極性反転の後、フリ
ップフロップ回路１Ｃのリセット入力に供給され、ここ
でフリップフロップの動作から記録パルスｄが生成され
る。すなわち、記録パルスｄは書込みデータ信号ａに対
して、その前縁エッジはＴ１時間遅延し、後縁エッジは
Ｔ２時間遅延した信号となるが、Ｔ２の時間は遅延制御
データで可変制御されるため、結果的にその”１”の区
間に相当したパルス幅が遅延制御データで決定されるこ
とになる。パラメータの最適化設定に際しては、記録感
度が低下した場合には磁化反転マーク間隔が記録パルス
間隔より狭く形成されるため遅延制御データをＴ２時間
が大となるよう、また記録感度が高い場合にはＴ２が小
となるよう制御すれば記録感度のばらつきが補正できる
ことになる。

【００４２】次に、図４は電流駆動回路２の記録電流供
給部回路構成例を示すものであり、先述の記録パルスは
電流スイッチ回路２Ａに供給され、一方電流スイッチ回
路２Ａには電流供給回路２Ｂからパワー制御データとＤ
−Ａ変換回路２Ｃによって決定される電流が供給されて
いるため、図３の記録パルスｄの”１”区間のみレーザ
ダイオード３Ａを記録発光駆動するよう記録電流として
出力される。記録時のレーザ光強度と記録電流とは比例
関係にあり、さらに記録電流値はパワー制御データから
決定されるため、記録感度のばらつきは先の記録パルス
幅補正と同様に、パワー制御データでも補正することが
できることになる。

【００４３】従って、媒体特性、あるいは温度等の環境
条件に起因した記録感度ばらつきを補正し最適な記録条
件を得るには、上述のように記録パルス幅の補正、記録
電流値の補正のいずれか、もしくは両者を実行すること
でその最適条件設定が可能となる。特にレーザダイオー
ドの最大出射出力定格に対し記録光出力が接近し、補正
のための余裕が得られない場合には記録パルス幅補正が
有利であると言えるし、また図５に示すように記録パル
ス波形がマルチパルス形状等、複雑なパルス波形形状で
ある場合には制御の容易さから記録電流値補正の方が有
利となる。

【００４４】また、再生回路においては、まず図６は再
生等化回路７の回路構成例を示すもので余弦等化回路と
称されるものである。再生信号は中間タップ付き遅延線
７Ａと利得制御加算回路７Ｂに供給され、遅延線７Ａの
最終段出力は利得制御加算回路７Ｂの他方の加算入力
に、中間タップ出力は差分検出回路７Ｃに供給される。
さらに利得制御加算回路７Ｂの出力は差分検出回路７Ｃ
の他方の入力に供給され、ここで中間タップ出力との差
分を検出するよう構成されている。今、遅延線７Ａの総
遅延時間を２τ、利得制御加算回路７Ｂの利得をＫ、差
分検出回路７Ｃの利得を１とし、周波数をｆで表すと、
再生信号に対する再生等化信号の周波数特性は、１−Ｋ
・ｃｏｓ（２π・τ・ｆ）となる。

【００４５】上記周波数特性はＫが大である程高周波成
分が相対的に強調されるものであり、等化利得制御デー
タにより利得制御加算回路７Ｂの利得を変えることで結
果的に再生信号の高調波成分に対する相対利得を制御す
ることができることになる。

【００４６】再生等化とは、相対的に高調波信号成分を
強調することで再生系の特性劣化を補償し、再生信号干
渉の低減を図る目的をもつが、一方で高周波雑音の増大
からＳ／Ｎ比の劣化を伴うため、両者の条件からおのず
と最適化条件、すなわち高調波強調利得に相当した等化
利得制御データが存在する。

【００４７】次に、図７は再生パルス化回路８の回路構
成例を示すものであり、再生等化回路７の出力である再
生等化信号を受け、エンベロープ検出回路８Ａとレベル
比較回路８Ｂに同信号を供給している。エンベロープ検
出回路８Ａは再生等化信号の正負エンベロープレベルの
中央値を検出し、加算回路８Ｃでその中央値レベルに対
し、レベル補正を行った後、パルス化しきい値としてレ
ベル比較回路８Ｂに供給される。この結果、レベル比較
回路８Ｂでは図８に示すように、再生等化信号とパルス
化しきい値とのレベル比較が行われ、二値信号である再
生パルスへの変換が行われる。なお、加算回路８Ｃには
パルス化しきい値制御データがＤ−Ａ変換回路８Ｄでア
ナログレベルに変換された信号が供給されているため、
本信号によりパルス化しきい値を再生等化信号のエンベ
ロープ中央値からシフトした状態でのパルス化が可能と
なる。ちなみに図８において、パルス化しきい値を破線
で示すように中央値から正側にシフトした場合には、再
生パルスのパルス幅が小なる状況でパルス化される。即
ちレベル比較回路８Ｂ等の回路オフセットに起因したパ
ルス化位置ずれに対し、これを最小化するようパルス化
しきい値制御データを設定すればよいことになる。

【００４８】以上の記録再生試験、特に記録再生回路パ
ラメータの最適化処理においては、良否判定、あるいは
最適化判定の基準として再生エラー率が用いられるが、
再生エラー率が媒体欠陥等による固定的なエラー率で支
配され、各記録再生回路パラメータの変更に対し明確な
エラー率変化、あるいはエラー率最小状態が検出困難と
なる場合がある。この場合には、必要に応じて再生デー
タ弁別回路９における弁別ウインドウ時間幅を通常再生
より狭く設定する方法、あるいは先述の再生パルス化回
路８でのパルス化しきい値を最適状態からシフトさせる
方法を用いることにより、より再生タイミングマージン
の減少した条件が設定され、明確なエラー率判定を行う
ことができる。図９は再生データ弁別回路９における再
生弁別ウインドウを概念的に示したものであり、通常時
のウインドウ時間ＴＮに対して小なる試験時ウインドウ
時間ＴＭを設定することで、本来の位置からシフトした
破線で示すような弁別データパルスに対して弁別誤りを
発生させ、即ち再生エラーとしてより検出し易い状況が
設定されたことになる。

【００４９】また、以上の実施例においては、媒体上へ
の記録方式として磁化反転のマークのエッジ位置を情報
点とするマークエッジ記録について説明したものである
が、特に限定されるものではなく、磁化反転マークの中
心位置を情報点とするマーク位置記録においても、具体
的回路の詳細構成は異なるが、同様の回路構成要件にお
いて同様の効果を得ることができる。

【００５０】次に、本発明の他の実施例につき図面を参
照して説明する。図１１は本発明の他の実施例を示すブ
ロック構成図である。ただし、図１と同一部分には同一
符号を付し説明を省略する。

【００５１】記録手段は、記録パルス補正回路１、電流
駆動回路２、レーザダイオード３Ａ等によって構成され
ている。再生手段は、光ディテクタ３Ｂ、増幅回路６、
再生等化回路７、再生パルス化回路８、再生データ弁別
回路９等によって構成されている。再生エラー率管理手
段は、再生エラー率検出回路１０等によって構成されて
いる。記録再生パラメータ管理手段，記録再生試験回数
管理手段，記録再生制御手段等は、パラメータ最適化制
御回路１１、主制御回路１２、メモリ回路１３、トラッ
ク制御回路１４等によって構成されている。

【００５２】当該装置では、高記録密度化、記録再生処
理の高速化に伴い上記のデータ弁別回路９での弁別マー
ジンが減少するため、ユーザデータの記録領域外の試験
領域において記録再生試験を実行し、記録再生回路パラ
メータを実使用媒体に適合させるパラメータ最適化処理
が行われる。この場合、まず装置電源投入、媒体装顛、
あるいは所定値以上の温度変化検出等を起動条件とし
て、試験開始信号が主制御回路１２に供給されると、ト
ラック制御回路１４を駆動して光ヘッド３の光ビーム位
置を試験領域の試験管理エリアに設定する。この後、先
述した通常の情報再生と同一手順で同試験管理エリア内
の管理情報が再生されてメモリ回路１３に格納される。
なお、この格納管理情報には試験前管理情報として、同
媒体に対して実行されたパラメータ最適化処理に関わる
直前での試験エリアの累積テスト記録回数と記録再生回
路パラメータの最適化設定値が少なくとも含まれてい
る。

【００５３】次に、主制御回路１２は上記メモリ回路１
３に格納された試験前管理情報をパラメータ最適化制御
回路１１に記録再生回路パラメータの初期値として供給
すると共に、再生エラー率検出回路１０にテスト指令を
出力する。再生エラー率検出回路１０はテスト指令を受
け、記録パルス補正回路１にテストデータを供給し、先
述の通常の記録再生動作と同様の手順で試験領域内の試
験エリアにテスト記録と、同エリアのデータ再生を実行
する。さらに再生エラー率検出回路１０はテストデータ
と同データの再生データとの比較から再生エラー率を算
出し、主制御回路１２に試験結果である再生エラー率情
報を報告する。

【００５４】主制御回路１２では上記再生エラー率情報
の報告を受け、再生エラー率が規定値以上である場合、
もしくは無条件にパラメータ最適化制御回路１１に記録
再生回路パラメータの変更指示すると共に、メモリ回路
１３に格納されている累積テスト記録回数に１を加算す
る。この後、加算処理後の累積記録回数が規定値以下で
ある場合は同一の試験エリアで、規定値以上となった場
合にはトラック制御回路１４を駆動して試験エリアを交
替させると共に累積記録回数を０にクリアし、先述と同
様の記録再生試験を行うテスト指令を再生エラー率検出
回路１０に出力する。

【００５５】主制御回路１２は、パラメータ最適化制御
回路１１に記録再生回路パラメータの変更を指示しなが
ら以上の記録再生試験処理を繰り返し実行し、再生エラ
ー率検出回路１０から報告される再生エラー率情報を監
視して最小の再生エラー率を得ることを判別条件に最適
な記録再生回路パラメータの検出と設定を行う。なお、
当然のことながら累積記録回数にはテスト記録が行われ
る度に１が加算されるものである。

【００５６】パラメータ最適化制御回路１１において最
適化の対象となる記録再生回路パラメータとしては、記
録パルス補正回路１の記録タイミング補正時間、電流駆
動回路２の記録時光出力強度に相当したレーザダイオー
ド駆動電流、再生等化回路７における高調波強調利得
量、再生パルス化回路８におけるパルス化しきい値等が
ある。なお、最適化の手法として、全ての回路パラメー
タを順次一つずつ最適化設定していく方法、複数の回路
パラメータを組み合わせて最適化設定する方法、あるい
は回路パラメータに最適化優先度をつけて順次最適化設
定を行い所定再生エラー率が得られた段階で処理を停止
する方法等があるが特に限定されるものではない。但
し、手順として、初期値の記録パラメータ条件での試験
記録から再生等化回路７、再生パルス化回路８の再生パ
ラメータ最適化を、記録パルス補正回路１、電流駆動回
路２の記録パラメータ最適化に先行させて実行すること
が、誤った再生パラメータ条件から記録パラメータが誤
設定されることを防止する上で望まれる。

【００５７】また、上述の記録再生回路パラメータ最適
化処理において、パラメータ最適化制御回路１１に供給
される初期値パラメータは、当該媒体に対して直前に実
行されたパラメータ最適化処理でのパラメータ値である
ため、温度等の環境条件に大きな変化のない限り当該パ
ラメータ最適化処理での最適値に一致している可能性が
高いと言える。このため、初期値パラメータでの記録再
生試験では、主制御回路１２は再生エラー率に許容値を
設定し、再生エラー率検出回路１０から報告される再生
エラー率が許容値以上である場合のみ上述のパラメータ
最適化処理を実行し、許容値以下である場合には初期値
パラメータを最適化パラメータであるものとして処理を
終了することができる。この方法を採用すれば、試験エ
リアでの不必要な記録回数と処理時間の低減にさらに効
果的となる。

【００５８】さらに、パラメータ最適化設定回路１１で
は、最適化設定された各記録再生回路パラメータ値と初
期値パラメータ値との比較を行い、両者間に予め定めら
れた所定値以上の差異が検出された場合には、何らかの
装置動作上に異常があるものとの判定から、パラメータ
異常の警告信号を出力しランプ表示、もしくはメッセー
ジ表示等の手段からユーザに警告を与えることができ
る。

【００５９】以上の記録再生回路パラメータの最適化設
定の後、最後の処理として、主制御回路１２は設定回路
パラメータと試験エリアに対する累積記録回数を管理情
報として試験領域の試験管理エリアを更新すべく記録処
理を実行して一連の処理が終了する。なお、この場合の
記録処理は主制御回路１２から上記管理情報を記録パル
ス補正回路１に供給し、通常の情報記録動作と同一の手
順で実行される。

【００６０】以上の図１１に係る実施例では、記録再生
回路パラメータ最適化に際して再生エラー率をその最適
判定条件としたものであるが、特に限定されるものでは
なく、再生データ弁別回路９で最大の再生タイミングマ
ージンを得る条件、言い換えれば再生信号の最良条件で
あればよい。再生信号の最良条件としては、最大の再生
アナログ信号振幅を得る条件、データパタン上発生し得
る最高記録密度と最低記録密度での再生アナログ振幅比
で定義される再生分解能が規定値となる、もしくは規定
範囲内にある条件、あるいは単一記録密度条件で記録さ
れた場合の再生パルスのデューティ比が規定値、もしく
は規定範囲内にある条件等を用いることができる。

【００６１】また、試験エリアの詳細については特に限
定するものではなく、媒体の一周分に相当した１トラッ
ク、あるいはトラックを分解した１セクタを単位として
記録再生試験を行うものであり、そのアドレスは試験領
域の試験管理エリアに累積テスト記録と共に管理情報と
して格納管理される。なお、累積テスト記録回数が規定
値以上となった場合には、試験エリアの交替が行われる
が、この場合の試験エリアアドレスの更新も同管理情報
をもとに実行される。

【００６２】また、以上の実施例においては、媒体上へ
の記録方式として磁化反転マークのエッジ位置を情報点
とするマークエッジ記録について説明したものである
が、特に限定されるものではなく、磁化反転マークの中
心位置を情報点とするマーク位置記録においても、具体
的回路の詳細構成は異なるが、同様の回路構成要件にお
いて同様の効果を得ることができる。

【００６３】

【発明の効果】本発明によれば、記録再生試験時、ある
いは記録再生回路パラメータ最適化設定後の再生エラー
率情報を試験領域内に格納管理することで、再生エラー
率の増加に関わる異常原因が装置、媒体の何れにあるの
かの判別が可能となる。さらに判別結果に応じて記録再
生回路パラメータの最適化処理を起動することで、媒体
試験領域に対する不必要な記録回数が低減され、試験領
域での多数回記録に伴う媒体特性劣から誤った記録再生
回路パラメータが設定されることが回避される効果があ
る。この結果、実使用媒体における再生エラー率に関わ
る正常性の確認と同媒体特性に適合した最適回路パラメ
ータが設定され、常に再生タイミングマージンの安定確
保から低再生エラー率を達成し得る。

【００６４】また、本発明によれば、上記効果に加え、
試験領域内に試験エリアでの累積テスト記録回数、直前
実行の最適化記録再生回路パラメータを格納管理し、記
録再生回路パラメータの最適化処理に際して累積テスト
記録回数に応じた試験エリアの交替、あるいは格納回路
パラメータを最適化の初期値パラメータとして用いるこ
とで、テスト記録回数の増大に伴う媒体特性劣化から誤
った記録再生回路パラメータが設定されることが回避さ
れる。また、当該媒体に対する直前に最適化されたパラ
メータ値から記録再生回路パラメータの最適化処理が開
始されるため、試験エリアでのテスト記録回数の低減と
処理時間を短縮できる効果がある。この結果、実使用媒
体特性に適合した最適な記録再生回路パラメータが安定
に設定され、常に再生タイミングマージンを確保した低
再生エラー率の装置状態が達成される。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示すブロック構成図であ
る。

【図２】本発明の一実施例における記録パルス補正回路
を示すブロック構成図である。

【図３】図２に係る動作波形図である。

【図４】本発明の一実施例における電流供給回路の記録
電流供給部を示すブロック構成図である。

【図５】本発明の一実施例における記録パルスの波形図
である。

【図６】本発明の一実施例における再生等化回路を示す
ブロック構成図である。

【図７】本発明の一実施例における再生パルス化回路を
示すブロック構成図である。

【図８】本発明の一実施例における再生パルス化の動作
を示す波形図である。

【図９】本発明の一実施例における再生弁別ウインドウ
の概念を示す波形図である。

【図１０】試験領域に係る媒体のフォーマット構成例を
示す説明図である。

【図１１】本発明の他の実施例を示すブロック構成図で
ある。

【符号の説明】

１記録パルス補正回路２電流駆動回路３光ヘッド４媒体５スピンドルモータ６増幅回路７再生等化回路８再生パルス化回路９再生データ弁別回路１０再生エラー率検出回路１１パラメータ最適化制御回路１２主制御回路１３メモリ回路１４トラック制御回路３Ａレーザダイオード３Ｂ光ディテクタ４Ａ磁化反転マーク

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】記録回路パラメータに従って光記録媒体
に情報を書き込む記録手段と、再生回路パラメータに従
って前記光記録媒体から情報を読み取る再生手段とを備
えると共に、前記光記録媒体の試験領域に対して前記記
録手段及び再生手段によって記録再生試験を行うことに
より再生エラー率を得る書換え型光記録再生装置におい
て、前記再生エラー率を前記記録手段によって前記試験領域
に書き込むと共にこの試験領域に書き込まれた再生エラ
ー率を前記再生手段によって読み取る再生エラー率管理
手段と、前記記録再生試験の前後の再生エラー率の差異
に基づき異常の報告又は前記記録回路パラメータ及び再
生回路パラメータの変更を行う記録再生制御手段とを備
えたことを特徴とする書換え型光記録再生装置。
【請求項２】前記記録再生制御手段は、前記記録再生
試験の前後のエラー率が共に所定値以上である場合に、
前記光記録媒体の異常を報告することを特徴とする請求
項１記載の書換え型光記録再生装置。
【請求項３】前記記録再生制御手段は、前記記録再生
試験の前の再生エラー率に対するこの記録再生試験の後
の再生エラー率の増加量が所定値以上である場合に、前
記書換え型光記録再生装置の異常を報告することを特徴
とする請求項１記載の書換え型光記録再生装置。
【請求項４】前記記録再生制御手段は、前記記録再生
試験の前の再生エラー率に対するこの記録再生試験の後
の再生エラー率の増加量が所定値以上である場合に、前
記再生エラー率が最小となるよう前記記録回路パラメー
タ又は再生回路パラメータの補正を行うことを特徴とす
る請求項１記載の書換え型光記録再生装置。
【請求項５】記録回路パラメータに従って光記録媒体
に情報を書き込む記録手段と、再生回路パラメータに従
って前記光記録媒体から情報を読み取る再生手段とを備
えると共に、前記光記録媒体の試験領域に対して前記記
録手段及び再生手段によって記録再生試験を行うことに
より再生エラー率を得る書換え型光記録再生装置におい
て、前記記録回路パラメータ及び再生回路パラメータを前記
記録手段によって前記試験領域に書き込むと共にこの試
験領域に書き込まれた前記記録回路パラメータ及び再生
回路パラメータを前記再生手段によって読み取る記録再
生パラメータ管理手段と、前記記録再生試験の前後の記
録回路パラメータ及び再生回路パラメータの差異に基づ
き異常の報告又は前記記録回路パラメータ及び再生回路
パラメータの変更を行う記録再生制御手段とを備えたこ
とを特徴とする書換え型光記録再生装置。
【請求項６】前記記録再生制御手段は、前記記録再生
試験の前後の前記記録回路パラメータ及び再生回路パラ
メータの差異が所定値以上である場合に、異常を報告す
ることを特徴とする請求項５記載の書換え型光記録再生
装置。
【請求項７】前記記録再生制御手段は、前記記録再生
試験の再生エラー率が所定値以内である場合に、前記記
録再生試験の前の前記記録回路パラメータ及び再生回路
パラメータをそのまま、前記記録再生試験の後の前記記
録回路パラメータ及び再生回路パラメータとすることを
特徴とする請求項５記載の書換え型光記録再生装置。
【請求項８】請求項１又は５記載の書換え型光記録再
生装置において、前記記録再生試験を行った回数の累積値を前記記録手段
によって前記試験領域に書き込むと共にこの試験領域に
書き込まれた前記累積値を前記再生手段によって読み取
る記録再生試験回数管理手段が付設され、前記記録再生制御手段は、前記累積値が所定値以上であ
る場合に前記試験領域の変更を行うことを特徴とする書
換え型光記録再生装置。