JP2614362B2 - 電子部品試験方式 - Google Patents
電子部品試験方式Info
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- JP2614362B2 JP2614362B2 JP2401159A JP40115990A JP2614362B2 JP 2614362 B2 JP2614362 B2 JP 2614362B2 JP 2401159 A JP2401159 A JP 2401159A JP 40115990 A JP40115990 A JP 40115990A JP 2614362 B2 JP2614362 B2 JP 2614362B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、集積回路や大規模集積
回路などの電子部品の試験を行う電子部品試験方式に関
する。
回路などの電子部品の試験を行う電子部品試験方式に関
する。
【0002】
【従来の技術】ICやLSIなどの電子部品に対して
は、高い信頼性が要求されており、これに応じて、電子
部品が正常に動作するか否かを判定する試験装置が実現
されている。この試験装置は、電子部品の入力端子それ
ぞれに所定のデータを入力し、この入力データに対応す
る出力が出力端子を介して得られるか否かを調べること
により、電子部品の良否を判定するものである。このよ
うな試験装置を用いて電子部品を試験するためには、電
子部品の電源端子に電源電圧を供給し、この電子部品を
通常の動作状態とする必要がある。
は、高い信頼性が要求されており、これに応じて、電子
部品が正常に動作するか否かを判定する試験装置が実現
されている。この試験装置は、電子部品の入力端子それ
ぞれに所定のデータを入力し、この入力データに対応す
る出力が出力端子を介して得られるか否かを調べること
により、電子部品の良否を判定するものである。このよ
うな試験装置を用いて電子部品を試験するためには、電
子部品の電源端子に電源電圧を供給し、この電子部品を
通常の動作状態とする必要がある。
【0003】ここで、通常、試験装置は電子部品を挿入
するためのソケットを備えており、電源電圧の供給,デ
ータの入力および出力データの読み込みのための配線
は、このソケットの各端子に予め接続されている。一
方、通常の電子部品は左右対称な形状を有しており、電
子部品のパッケージに付されたマークあるいは切り欠き
などにより、電子部品の第1端子の位置が示されてい
る。
するためのソケットを備えており、電源電圧の供給,デ
ータの入力および出力データの読み込みのための配線
は、このソケットの各端子に予め接続されている。一
方、通常の電子部品は左右対称な形状を有しており、電
子部品のパッケージに付されたマークあるいは切り欠き
などにより、電子部品の第1端子の位置が示されてい
る。
【0004】従来は、試験装置の利用者が、目視によっ
て電子部品の第1端子の位置を判別し、上述したソケッ
トに所定の向きとなるように挿入して試験を行ってい
た。
て電子部品の第1端子の位置を判別し、上述したソケッ
トに所定の向きとなるように挿入して試験を行ってい
た。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の試験方式においては、ソケットへの電子部品の挿入
は、利用者に任されており、ソケットに正しい向きで電
子部品が挿入されたか否かを確認する機能は、試験装置
に備えられていなかった。このため、電子部品が誤った
向きでソケットに挿入された状態で試験を行ってしまう
可能性があった。例えば、電子部品を正しい向きから1
80度回転させてソケットに挿入した状態で試験を行う
と、本来は接地されるべき端子に電源電圧が印加される
場合がある。この場合は、正常な試験動作を行うことが
できないばかりか、電子部品自体を破壊してしまう可能
性がある。
来の試験方式においては、ソケットへの電子部品の挿入
は、利用者に任されており、ソケットに正しい向きで電
子部品が挿入されたか否かを確認する機能は、試験装置
に備えられていなかった。このため、電子部品が誤った
向きでソケットに挿入された状態で試験を行ってしまう
可能性があった。例えば、電子部品を正しい向きから1
80度回転させてソケットに挿入した状態で試験を行う
と、本来は接地されるべき端子に電源電圧が印加される
場合がある。この場合は、正常な試験動作を行うことが
できないばかりか、電子部品自体を破壊してしまう可能
性がある。
【0006】このため、試験を行う前に、電子部品のソ
ケットへの挿入状態を識別し、誤った挿入状態を検出す
る方式が要望されている。本発明は、電子部品の挿入状
態を識別して表示する電子部品試験方式を提供すること
を目的とする。
ケットへの挿入状態を識別し、誤った挿入状態を検出す
る方式が要望されている。本発明は、電子部品の挿入状
態を識別して表示する電子部品試験方式を提供すること
を目的とする。
【0007】図1は、本発明の原理ブロック図である。
本発明は、図1に示すように、ソケット101に、それ
ぞれ複数の端子111を両側に有する電子部品112を
所定の向きで挿入し、正常に動作するか否かを調べる電
子部品試験方式において、前記電子部品の一端子に前記
ソケットを介して接続され、該端子における電圧対電流
特性を測定する第1測定手段121と、前記端子と回転
対称の位置にある端子111に前記ソケット101を介
して接続され、該端子111における電圧対電流特性を
測定する第2測定手段122と、前記第1測定手段12
1および前記第2測定手段122によってそれぞれ得ら
れた測定結果に基づいて、前記少なくとも1対の端子1
11の位置関係を識別する識別手段131と、前記識別
手段131による識別結果に応じて、前記電子部品11
2がソケット101に前記所定の向きで挿入されている
か否かを表示する表示手段141とを備えたことを特徴
する。
本発明は、図1に示すように、ソケット101に、それ
ぞれ複数の端子111を両側に有する電子部品112を
所定の向きで挿入し、正常に動作するか否かを調べる電
子部品試験方式において、前記電子部品の一端子に前記
ソケットを介して接続され、該端子における電圧対電流
特性を測定する第1測定手段121と、前記端子と回転
対称の位置にある端子111に前記ソケット101を介
して接続され、該端子111における電圧対電流特性を
測定する第2測定手段122と、前記第1測定手段12
1および前記第2測定手段122によってそれぞれ得ら
れた測定結果に基づいて、前記少なくとも1対の端子1
11の位置関係を識別する識別手段131と、前記識別
手段131による識別結果に応じて、前記電子部品11
2がソケット101に前記所定の向きで挿入されている
か否かを表示する表示手段141とを備えたことを特徴
する。
【0008】
【作用】本発明は、第1測定手段121と第2測定手段
122とによって、互いに回転対称の位置にある端子1
11における電圧対電流特性を測定し、識別手段131
により、これらの端子111における電圧対電流特性の
違いに基づいて、該当する端子111の対の位置関係を
識別する。この識別結果は、電子部品112がソケット
101に挿入されている向きを示しているので、表示手
段141は、この識別結果に応じて、電子部品112が
所定の向きでソケット101に挿入されているか否かを
表示することができる。
122とによって、互いに回転対称の位置にある端子1
11における電圧対電流特性を測定し、識別手段131
により、これらの端子111における電圧対電流特性の
違いに基づいて、該当する端子111の対の位置関係を
識別する。この識別結果は、電子部品112がソケット
101に挿入されている向きを示しているので、表示手
段141は、この識別結果に応じて、電子部品112が
所定の向きでソケット101に挿入されているか否かを
表示することができる。
【0009】
【実施例】図2は、本発明の電子部品試験方式を適用し
た電子部品試験装置の実施例構成を示す。図において、
電子部品試験装置は、ソケット211に挿入された電子
部品201の試験を行う構成となっている。
た電子部品試験装置の実施例構成を示す。図において、
電子部品試験装置は、ソケット211に挿入された電子
部品201の試験を行う構成となっている。
【0010】この電子部品201は、図2に示すよう
に、パッケージの両側にそれぞれn個ずつ合計2n個の
端子T1 〜T2nを備えており、これらの端子T1 〜T2n
には、反時計回りの順番で番号が付されている。また、
この電子部品201において、i番目の端子Ti は入力
端子であり、(n+i−1)番目の端子(以下、j番目
の端子Tj と称する)は出力端子であるものとする。こ
のj番目の端子Tj の位置は、上述したi番目の端子T
i とパッケージの中心に対して回転対称な位置である。
に、パッケージの両側にそれぞれn個ずつ合計2n個の
端子T1 〜T2nを備えており、これらの端子T1 〜T2n
には、反時計回りの順番で番号が付されている。また、
この電子部品201において、i番目の端子Ti は入力
端子であり、(n+i−1)番目の端子(以下、j番目
の端子Tj と称する)は出力端子であるものとする。こ
のj番目の端子Tj の位置は、上述したi番目の端子T
i とパッケージの中心に対して回転対称な位置である。
【0011】上述したソケット211は、この電子部品
201の各端子T1〜T2nに対応する2n個の端子S1
〜S2nを備えた構成となっており、これらの端子S1 〜
S2nにも、同様に番号が付されている。また、これらの
端子S1 〜S2nは、ソケット211の内部において、上
述した電子部品201の端子T1 〜T2nにそれぞれ接続
されている。
201の各端子T1〜T2nに対応する2n個の端子S1
〜S2nを備えた構成となっており、これらの端子S1 〜
S2nにも、同様に番号が付されている。また、これらの
端子S1 〜S2nは、ソケット211の内部において、上
述した電子部品201の端子T1 〜T2nにそれぞれ接続
されている。
【0012】以下、上述したソケット211の各端子に
電子部品201の対応する番号の端子が接続されている
場合が、ソケット211に電子部品201が正常な向き
で挿入されている状態であるものとする。図2におい
て、定電流回路221と電圧測定回路222とは、第1
測定手段121を構成している。また、定電流回路23
1と電圧測定回路232とは、第2測定手段122を構
成している。
電子部品201の対応する番号の端子が接続されている
場合が、ソケット211に電子部品201が正常な向き
で挿入されている状態であるものとする。図2におい
て、定電流回路221と電圧測定回路222とは、第1
測定手段121を構成している。また、定電流回路23
1と電圧測定回路232とは、第2測定手段122を構
成している。
【0013】上述した定電流回路221は、ソケット2
11のi番目の端子Si に、所定の電流D(数10μA
程度)を印加する構成となっている。また、電圧測定回
路222は、上述した定電流回路221が上述した電流
Dを印加している状態で、ソケット211のi番目の端
子Si の電位V1 を測定する構成となっている。このよ
うにして、第1測定手段121は、上述したソケット2
11のi番目の端子Si に接続されている電子部品20
1の端子について、電圧対電流特性の測定を行う構成と
なっている。
11のi番目の端子Si に、所定の電流D(数10μA
程度)を印加する構成となっている。また、電圧測定回
路222は、上述した定電流回路221が上述した電流
Dを印加している状態で、ソケット211のi番目の端
子Si の電位V1 を測定する構成となっている。このよ
うにして、第1測定手段121は、上述したソケット2
11のi番目の端子Si に接続されている電子部品20
1の端子について、電圧対電流特性の測定を行う構成と
なっている。
【0014】また、定電流回路231および電圧測定回
路232は、上述した定電流回路221および電圧測定
回路222と同様に構成されており、この第2測定手段
122は、上述したソケット211のj番目の端子Sj
に接続されている電子部品201の端子について、電流
Dの印加に対応して生じる電位V2 を測定する構成とな
っている。
路232は、上述した定電流回路221および電圧測定
回路222と同様に構成されており、この第2測定手段
122は、上述したソケット211のj番目の端子Sj
に接続されている電子部品201の端子について、電流
Dの印加に対応して生じる電位V2 を測定する構成とな
っている。
【0015】また、図2に示すように、上述した端子S
i ,Sj以外のソケット211の各端子は接地されてい
る。図2において、減算回路241と符号判別回路24
2とは、識別手段131を構成している。この減算回路
241は、上述した電圧測定回路222,232によっ
て得られた電位V1 ,V2 が入力され、電位V2 から電
位V1 を減算する構成となっている。また、符号判別回
路242は、この減算結果の符号が『正』であるか
『負』であるかを判別し、『負』である場合に論理
“1”を出力する構成となっている。
i ,Sj以外のソケット211の各端子は接地されてい
る。図2において、減算回路241と符号判別回路24
2とは、識別手段131を構成している。この減算回路
241は、上述した電圧測定回路222,232によっ
て得られた電位V1 ,V2 が入力され、電位V2 から電
位V1 を減算する構成となっている。また、符号判別回
路242は、この減算結果の符号が『正』であるか
『負』であるかを判別し、『負』である場合に論理
“1”を出力する構成となっている。
【0016】また、発光ダイオード251は、順方向接
続で接地されており、上述した符号判別回路242の出
力に応じて点灯する構成となっている。以下、上述した
第1測定手段121および第2測定手段122による測
定結果に基づいて、電子部品201が正常に挿入されて
いるか否かを識別する方法について説明する。
続で接地されており、上述した符号判別回路242の出
力に応じて点灯する構成となっている。以下、上述した
第1測定手段121および第2測定手段122による測
定結果に基づいて、電子部品201が正常に挿入されて
いるか否かを識別する方法について説明する。
【0017】ここで、ICやLSIなどの電子部品にお
いては、入力側と出力側とで、それぞれ電圧対電流特性
の異なる半導体素子が用いられているので、入力端子に
おける電圧対電流特性と出力端子における電圧対電流特
性とは異なっている。図3に、電子部品の電源端子およ
び接地端子をともに接地した状態において、入力端子お
よび出力端子について、それぞれ電圧対電流特性を測定
した結果の概略を示す。図3において、実線は入力端子
の電圧対電流特性を示し、点線は出力端子の電圧対電流
特性を示す。図3に示したように、入力端子と出力端子
とにそれぞれ同一の電流Dを印加した状態では、入力端
子における電位VI の値は、出力端子における電位VO
の値よりも小さい値となる。
いては、入力側と出力側とで、それぞれ電圧対電流特性
の異なる半導体素子が用いられているので、入力端子に
おける電圧対電流特性と出力端子における電圧対電流特
性とは異なっている。図3に、電子部品の電源端子およ
び接地端子をともに接地した状態において、入力端子お
よび出力端子について、それぞれ電圧対電流特性を測定
した結果の概略を示す。図3において、実線は入力端子
の電圧対電流特性を示し、点線は出力端子の電圧対電流
特性を示す。図3に示したように、入力端子と出力端子
とにそれぞれ同一の電流Dを印加した状態では、入力端
子における電位VI の値は、出力端子における電位VO
の値よりも小さい値となる。
【0018】また、上述したように、電子部品201が
正常に挿入されている場合は、ソケット211のi番目
の端子Si とj番目の端子Sj とは、電子部品201の
入力端子と出力端子とにそれぞれ接続される。一方、電
子部品201か逆向きに挿入されている場合は、ソケッ
ト211のi番目の端子Si には電子部品201の出力
端子が接続され、j番目の端子Sj には入力端子が接続
される。
正常に挿入されている場合は、ソケット211のi番目
の端子Si とj番目の端子Sj とは、電子部品201の
入力端子と出力端子とにそれぞれ接続される。一方、電
子部品201か逆向きに挿入されている場合は、ソケッ
ト211のi番目の端子Si には電子部品201の出力
端子が接続され、j番目の端子Sj には入力端子が接続
される。
【0019】従って、電圧測定回路222によって得ら
れる電位V1 の値が、電圧測定回路232によって得ら
れる電位V2 の値よりも小さい値となった場合、即ち、
上述した符号判別回路242により、減算回路241に
よる減算結果の符号が『正』であるとされた場合に、識
別手段131は、上述した1対の端子Ti ,Tj が、正
常な向きにおける位置関係にあると判断すればよい。
れる電位V1 の値が、電圧測定回路232によって得ら
れる電位V2 の値よりも小さい値となった場合、即ち、
上述した符号判別回路242により、減算回路241に
よる減算結果の符号が『正』であるとされた場合に、識
別手段131は、上述した1対の端子Ti ,Tj が、正
常な向きにおける位置関係にあると判断すればよい。
【0020】また、この場合に、符号判別回路242の
出力に応じて、電子部品試験装置の試験制御部261
は、電子部品201が正常に挿入されていると判断し、
通常の試験処理を実行すればよい。一方、減算結果が
『負』となった場合は、符号判別回路242によって、
判別結果として論理“1”が出力され、これに応じて、
試験制御部261は、試験処理を中止する。また、この
符号判別回路242の出力に応じて発光ダイオード25
1が点灯し、電子部品201が誤った状態でソケット2
11に挿入されている旨が表示される。
出力に応じて、電子部品試験装置の試験制御部261
は、電子部品201が正常に挿入されていると判断し、
通常の試験処理を実行すればよい。一方、減算結果が
『負』となった場合は、符号判別回路242によって、
判別結果として論理“1”が出力され、これに応じて、
試験制御部261は、試験処理を中止する。また、この
符号判別回路242の出力に応じて発光ダイオード25
1が点灯し、電子部品201が誤った状態でソケット2
11に挿入されている旨が表示される。
【0021】このようにして、通常の試験処理に先立っ
て、電子部品201がソケット211に正常な位置関係
で挿入されているか否かを判別し、誤った状態で挿入さ
れている場合に、発光ダイオード251によりその旨を
表示することができる。これにより、利用者に対して、
電子部品201の再挿入を促し、正しい状態で試験処理
を行うことが可能となり、誤った状態で試験処理を実行
して電子部品を破損することを防ぐことができる。
て、電子部品201がソケット211に正常な位置関係
で挿入されているか否かを判別し、誤った状態で挿入さ
れている場合に、発光ダイオード251によりその旨を
表示することができる。これにより、利用者に対して、
電子部品201の再挿入を促し、正しい状態で試験処理
を行うことが可能となり、誤った状態で試験処理を実行
して電子部品を破損することを防ぐことができる。
【0022】また、上述した定電流回路221,231
によって、電子部品201の該当する端子に印加される
電流Dは微小電流であるので、この電流Dを印加したこ
とにより、電子部品201が破壊されることはない。な
お、電子部品201が、互いに回転対称な位置にある入
力端子と出力端子との組を複数備えている場合に、第1
測定手段121を正常な位置関係において電子部品20
1の入力端子に対応するソケット211の複数の端子に
接続し、第2測定手段122を出力端子に対応するソケ
ット211の複数の端子に接続して、これらの端子につ
いての測定結果に基づいて、識別手段131が電子部品
201の入力端子と出力端子との位置関係を識別する構
成としてもよい。
によって、電子部品201の該当する端子に印加される
電流Dは微小電流であるので、この電流Dを印加したこ
とにより、電子部品201が破壊されることはない。な
お、電子部品201が、互いに回転対称な位置にある入
力端子と出力端子との組を複数備えている場合に、第1
測定手段121を正常な位置関係において電子部品20
1の入力端子に対応するソケット211の複数の端子に
接続し、第2測定手段122を出力端子に対応するソケ
ット211の複数の端子に接続して、これらの端子につ
いての測定結果に基づいて、識別手段131が電子部品
201の入力端子と出力端子との位置関係を識別する構
成としてもよい。
【0023】この場合は、定電流回路221,231
が、ソケット211の該当する端子にそれぞれ所定の電
流Dを印加し、電圧測定回路222,232が、該当す
る端子における電位をそれぞれ測定し、電圧測定回路2
22,232による測定結果をそれぞれ平均して、得ら
れた値をそれぞれ電位V1 ,V2 として、減算回路24
1に入力すればよい。
が、ソケット211の該当する端子にそれぞれ所定の電
流Dを印加し、電圧測定回路222,232が、該当す
る端子における電位をそれぞれ測定し、電圧測定回路2
22,232による測定結果をそれぞれ平均して、得ら
れた値をそれぞれ電位V1 ,V2 として、減算回路24
1に入力すればよい。
【0024】このようにして、電子部品201の各端子
の電圧対電流特性にばらつきを考慮して、入力端子と出
力端子との位置関係を高い精度で識別することができ
る。
の電圧対電流特性にばらつきを考慮して、入力端子と出
力端子との位置関係を高い精度で識別することができ
る。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、回転対称
な位置にある少なくとも1対の端子の位置関係を識別
し、電子部品が誤った向きでソケットに挿入されている
場合にその旨を表示して、利用者に対して、電子部品の
位置の変更を促し、電子部品を正常な状態で試験するこ
とが可能となるので、誤った状態で試験処理を行って電
子部品を破損することを防ぐことができる。
な位置にある少なくとも1対の端子の位置関係を識別
し、電子部品が誤った向きでソケットに挿入されている
場合にその旨を表示して、利用者に対して、電子部品の
位置の変更を促し、電子部品を正常な状態で試験するこ
とが可能となるので、誤った状態で試験処理を行って電
子部品を破損することを防ぐことができる。
【図1】本発明の原理ブロック図である。
【図2】本発明を適用した電子部品試験装置の実施例構
成図である。
成図である。
【図3】入力端子および出力端子の電圧対電流特性を示
す図である。
す図である。
101 ソケット 111 端子 112 電子部品 121 第1測定手段 122 第2測定手段 131 識別手段 141 表示手段 201 電子部品 211 ソケット 221,231 定電流回路 222,232 電圧測定回路 241 減算回路 242 符号判別回路 251 発光ダイオード 261 試験制御部
Claims (1)
- 【請求項1】 ソケットに、それぞれ複数の端子を両側
に有する電子部品を所定の向きで挿入し、正常に動作す
るか否かを調べる電子部品試験方式において、前記電子部品の一端子に前記ソケットを介して接続さ
れ、該端子における電圧対電流特性を測定する第1測定
手段と、 前記端子と回転対称の位置にある端子に前記ソケットを
介して接続され、該端子における電圧対電流特性を測定
する 第2測定手段と、 前記第1測定手段および前記第2測定手段によってそれ
ぞれ得られた測定結果に基づいて、前記少なくとも1対
の端子の位置関係を識別する識別手段と、 前記識別手段による識別結果に応じて、前記電子部品が
ソケットに前記所定の向きで挿入されているか否かを表
示する表示手段とを備えたことを特徴とする電子部品試
験方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2401159A JP2614362B2 (ja) | 1990-12-10 | 1990-12-10 | 電子部品試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2401159A JP2614362B2 (ja) | 1990-12-10 | 1990-12-10 | 電子部品試験方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04213075A JPH04213075A (ja) | 1992-08-04 |
JP2614362B2 true JP2614362B2 (ja) | 1997-05-28 |
Family
ID=18511013
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2401159A Expired - Fee Related JP2614362B2 (ja) | 1990-12-10 | 1990-12-10 | 電子部品試験方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2614362B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5483381A (en) * | 1977-12-16 | 1979-07-03 | Hitachi Ltd | Detection method of integrated circuit insertion direction |
-
1990
- 1990-12-10 JP JP2401159A patent/JP2614362B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
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JPH04213075A (ja) | 1992-08-04 |
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