JP2606571B2 - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JP2606571B2 JP2606571B2 JP33446593A JP33446593A JP2606571B2 JP 2606571 B2 JP2606571 B2 JP 2606571B2 JP 33446593 A JP33446593 A JP 33446593A JP 33446593 A JP33446593 A JP 33446593A JP 2606571 B2 JP2606571 B2 JP 2606571B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor chip
- package
- island portion
- lead pin
- semiconductor device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置に関し、特に
電磁妨害抑制効果を向上させたパッケージ構造に関す
る。
電磁妨害抑制効果を向上させたパッケージ構造に関す
る。
【0002】
【従来の技術】半導体装置のパッケージの特性として重
要なものに、パッケージの放熱特性がある。図4は、P
GA(ピングリッドアレイ)タイプのパッケージにおい
て放熱特性を改善したものであり、パッケージ表面にヒ
ートシンクを設けている。図4において、6は半導体チ
ップであり、かかるチップとリードピン12とはワイヤ
ー5、配線層(図示せず)を通じて電気的に接続され
る。さらに、パッケージ3にはヒートシンク15が設け
られており、かかるヒートシンク15から、半導体チッ
プ6にて発生する熱を効率よく外部に伝えている。
要なものに、パッケージの放熱特性がある。図4は、P
GA(ピングリッドアレイ)タイプのパッケージにおい
て放熱特性を改善したものであり、パッケージ表面にヒ
ートシンクを設けている。図4において、6は半導体チ
ップであり、かかるチップとリードピン12とはワイヤ
ー5、配線層(図示せず)を通じて電気的に接続され
る。さらに、パッケージ3にはヒートシンク15が設け
られており、かかるヒートシンク15から、半導体チッ
プ6にて発生する熱を効率よく外部に伝えている。
【0003】一方、フラットタイプのパッケージにおい
て放熱特性を改善したものとして、特開平3−1059
58号公報がある。これは、図5に示すように、リード
の何本かを束ねた幅広のリードピン11を有しており、
これが放熱フィンを兼ねるため、放熱特性が向上してい
る。なと、幅広のリードピン11に設けられたスリット
4は、幅広のリードピン11の折り曲げ形成を容易にす
るためのものである。また、フラットタイプのパッケー
ジにおいて放熱特性を改善した他の例として、特開平2
−264458号公報がある。これは、図6に示すよう
に、アイランド部の一部を折り曲げて、樹脂封止の際に
折り曲げられた部分がパッケージの外部に出るように封
止することによって、放熱特性を向上させている。
て放熱特性を改善したものとして、特開平3−1059
58号公報がある。これは、図5に示すように、リード
の何本かを束ねた幅広のリードピン11を有しており、
これが放熱フィンを兼ねるため、放熱特性が向上してい
る。なと、幅広のリードピン11に設けられたスリット
4は、幅広のリードピン11の折り曲げ形成を容易にす
るためのものである。また、フラットタイプのパッケー
ジにおいて放熱特性を改善した他の例として、特開平2
−264458号公報がある。これは、図6に示すよう
に、アイランド部の一部を折り曲げて、樹脂封止の際に
折り曲げられた部分がパッケージの外部に出るように封
止することによって、放熱特性を向上させている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述のように示した従
来のパッケージでは、いずれも半導体チップから発生す
る熱を効率よく外部に伝えることができるが、それぞれ
欠点を有する。すなわち、図4に示すパッケージにおい
ては、ヒートシンク15がかなりの大きさであるため、
このようなヒートシンクが設けられた半導体装置は小型
化できないという欠点を有し、図5、図6に示すパッケ
ージは大型とはならないものの、フラットタイプの樹脂
封止パッケージであるため、外部からの電磁気によって
ノイズが発生しやすいという欠点を有する。
来のパッケージでは、いずれも半導体チップから発生す
る熱を効率よく外部に伝えることができるが、それぞれ
欠点を有する。すなわち、図4に示すパッケージにおい
ては、ヒートシンク15がかなりの大きさであるため、
このようなヒートシンクが設けられた半導体装置は小型
化できないという欠点を有し、図5、図6に示すパッケ
ージは大型とはならないものの、フラットタイプの樹脂
封止パッケージであるため、外部からの電磁気によって
ノイズが発生しやすいという欠点を有する。
【0005】したがって、本発明は、パッケージを大型
化することくな放熱特性を向上させ、しかも電磁妨害抑
制効果を向上させた構造のパッケージを提供することを
目的とする。
化することくな放熱特性を向上させ、しかも電磁妨害抑
制効果を向上させた構造のパッケージを提供することを
目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明による半導体装置
は、半導体チップがアイランド部と配線層によってはさ
まれた構造を有し、かかるアイランド部はパッケージ外
部に導出されかつ前記半導体チップと電気的に接続され
ている。これにより、半導体チップが金属によって全面
を覆われた構造となるので、大幅に電磁妨害抑制効果が
向上する。
は、半導体チップがアイランド部と配線層によってはさ
まれた構造を有し、かかるアイランド部はパッケージ外
部に導出されかつ前記半導体チップと電気的に接続され
ている。これにより、半導体チップが金属によって全面
を覆われた構造となるので、大幅に電磁妨害抑制効果が
向上する。
【0007】
【実施例】本発明の第1の実施例として、セラミックP
GAタイプのパッケージに本発明を適用した例を図1に
示す。図2は、図1のA−A′断面図である。
GAタイプのパッケージに本発明を適用した例を図1に
示す。図2は、図1のA−A′断面図である。
【0008】本実施例において、3はセラミックパッケ
ージである。かかるパッケージ3内に封入される半導体
チップ6が搭載されるアイランド部はグランド層8であ
り、面状のリードピン1としてパッケージ外部に導出さ
れる。また、面状のリードピン1には、放熱効果を向上
させるためにスリット4が形成されている。半導体チッ
プ6のグランド端子はワイヤ5を通じてグランド層8に
接続されている。また、半導体チップの電源端子および
信号端子は、ワイヤ5およびスルーホール10を通じて
それぞれ電源層7および信号線層9に接続されており、
これら各配線層は棒状のリードピン2に接続される。
ージである。かかるパッケージ3内に封入される半導体
チップ6が搭載されるアイランド部はグランド層8であ
り、面状のリードピン1としてパッケージ外部に導出さ
れる。また、面状のリードピン1には、放熱効果を向上
させるためにスリット4が形成されている。半導体チッ
プ6のグランド端子はワイヤ5を通じてグランド層8に
接続されている。また、半導体チップの電源端子および
信号端子は、ワイヤ5およびスルーホール10を通じて
それぞれ電源層7および信号線層9に接続されており、
これら各配線層は棒状のリードピン2に接続される。
【0009】このような構造を持つパッケージにおいて
は、図6に示した従来のPGAタイプのパッケージのよ
うにヒートシンクを特別に設けることなく、面状のリー
ドピン1により放熱特性を向上させているので、非常に
小型化されることになる。しかも、面状のリードピン1
はアイランド部と一体であり、直接半導体チップ6に接
しているため半導体チップ6から発生する熱を効率よく
外部に伝えることができるばかりではなく、これをグラ
ンド用のピンとして用いているため棒状のリードピン2
をグランド用として用いる必要が無くなりピンをより信
号用として多く用いることができる。さらに、半導体チ
ップ6からみてアイランド部とは反対の側には棒状のリ
ードピン2と接続される、電源層7および信号線層9が
存在しているため、実質的に金属によって全面を覆われ
た構造となるので、外来ノイズに対するシールドとな
り、図5および図6が示すパッケージのように単に半導
体チップがアイランド部に搭載されただけの構造に比べ
て大幅に電磁妨害抑制効果が向上する。また、本実施例
においては面状のリードピン1と一体となるアイランド
部をグランド層8として用いているが、これを電源用と
して用い、電源層7をグランド用として用いることがで
きるのは言うまでもない。このように用いた面状のリー
ドピン1は、幅広であるため棒状のリードピン2よりも
インピーダンスが低く、本実施例のようにこれをグラン
ド用として用いれば、グランドのインピーダンスが下が
るという効果もある。
は、図6に示した従来のPGAタイプのパッケージのよ
うにヒートシンクを特別に設けることなく、面状のリー
ドピン1により放熱特性を向上させているので、非常に
小型化されることになる。しかも、面状のリードピン1
はアイランド部と一体であり、直接半導体チップ6に接
しているため半導体チップ6から発生する熱を効率よく
外部に伝えることができるばかりではなく、これをグラ
ンド用のピンとして用いているため棒状のリードピン2
をグランド用として用いる必要が無くなりピンをより信
号用として多く用いることができる。さらに、半導体チ
ップ6からみてアイランド部とは反対の側には棒状のリ
ードピン2と接続される、電源層7および信号線層9が
存在しているため、実質的に金属によって全面を覆われ
た構造となるので、外来ノイズに対するシールドとな
り、図5および図6が示すパッケージのように単に半導
体チップがアイランド部に搭載されただけの構造に比べ
て大幅に電磁妨害抑制効果が向上する。また、本実施例
においては面状のリードピン1と一体となるアイランド
部をグランド層8として用いているが、これを電源用と
して用い、電源層7をグランド用として用いることがで
きるのは言うまでもない。このように用いた面状のリー
ドピン1は、幅広であるため棒状のリードピン2よりも
インピーダンスが低く、本実施例のようにこれをグラン
ド用として用いれば、グランドのインピーダンスが下が
るという効果もある。
【0010】次に、本発明の第2の実施例について、図
面を用いて説明する。
面を用いて説明する。
【0011】図3はTAB(テープキャリア)タイプの
パッケージに本発明を適用した図である。本実施例にお
いて、3は樹脂パッケージである。かかるパッケージ3
内に封入される半導体チップ6が搭載されるアイランド
部は、幅広のピンとしてパッケージ外部に導出される面
状のリードピン1と一体である。半導体チップ6のグラ
ンド端子はバンプ18から導体メッキ11を通じて面状
のリードピン1に接続されている。また、半導体チップ
の電源端子および信号端子は、バンプ18からそれぞれ
電源層7および信号線層9に接続されており、これら各
配線層は棒状のリードピン2に接続される。
パッケージに本発明を適用した図である。本実施例にお
いて、3は樹脂パッケージである。かかるパッケージ3
内に封入される半導体チップ6が搭載されるアイランド
部は、幅広のピンとしてパッケージ外部に導出される面
状のリードピン1と一体である。半導体チップ6のグラ
ンド端子はバンプ18から導体メッキ11を通じて面状
のリードピン1に接続されている。また、半導体チップ
の電源端子および信号端子は、バンプ18からそれぞれ
電源層7および信号線層9に接続されており、これら各
配線層は棒状のリードピン2に接続される。
【0012】このような構造を持つパッケージにおいて
も、面状のリードピン1はアイランド部と一体であり、
直接半導体チップ6に接しているため半導体チップ6か
ら発生する熱を効率よく外部に伝えることができるばか
りではなく、これをグランド用のピンとして用いている
ため棒状のリードピン2をグランド用として用いる必要
が無くなり、ピンをより信号用として多く用いることが
できる。また、半導体チップ6が実質的に金属によって
全面を覆われた構造となるので、外部ノイズに対するシ
ールドとなり、大幅に電磁妨害抑制効果が向上するとい
う効果を奏する。
も、面状のリードピン1はアイランド部と一体であり、
直接半導体チップ6に接しているため半導体チップ6か
ら発生する熱を効率よく外部に伝えることができるばか
りではなく、これをグランド用のピンとして用いている
ため棒状のリードピン2をグランド用として用いる必要
が無くなり、ピンをより信号用として多く用いることが
できる。また、半導体チップ6が実質的に金属によって
全面を覆われた構造となるので、外部ノイズに対するシ
ールドとなり、大幅に電磁妨害抑制効果が向上するとい
う効果を奏する。
【0013】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による半導
体装置は、アイランド部と一体となった面状のリードピ
ンを有し、さらに半導体チップからみてアイランド部と
は反対側に配線層を有する構造とすることによって、パ
ッケージを大型化すること無く、半導体チップからの発
熱を効率よく外部に伝え、かつ多ピン化でき、また大幅
に電磁妨害抑制効果が向上させることができる。
体装置は、アイランド部と一体となった面状のリードピ
ンを有し、さらに半導体チップからみてアイランド部と
は反対側に配線層を有する構造とすることによって、パ
ッケージを大型化すること無く、半導体チップからの発
熱を効率よく外部に伝え、かつ多ピン化でき、また大幅
に電磁妨害抑制効果が向上させることができる。
【図1】本発明の第1の実施例を示す斜視図。
【図2】図1のA−A′断面図。
【図3】本発明の第2の実施例を示す断面図。
【図4】一般従来例を示す断面図。
【図5】他の従来例を示す斜視図。
【図6】さらに他の従来例を示す平面図(a)、側面図
(b)および実装状態を示す図(c)。
(b)および実装状態を示す図(c)。
1 面状のリードピン 2 棒状のリードピン 3 パッケージ 4 スリット 5 ワイヤ 6 半導体チップ 7 電源層 8 グランド層 9 信号線層 10 スルーホール 11 導体メッキ 18 バンプ
Claims (4)
- 【請求項1】 半導体チップを搭載するアイランド部
と、前記半導体チップとリードピンを電気的に接続する
面状の配線層とを有する半導体装置において、前記アイ
ランド部はパッケージ外部に導出されかつ前記半導体チ
ップと電気的に接続されており、前記配線層と前記アイ
ランド部とは前記半導体チップをはさみ対向して設けら
れていることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】 前記アイランド部の前記パッケージ外部
に導出された部分が面状のリードピンであることを特徴
とする請求項1記載の半導体装置。 - 【請求項3】 前記面状のリードピンにスリットが形成
されていることを特徴とする請求項2記載の半導体装
置。 - 【請求項4】 前記半導体チップと前記配線層および前
記アイランド部とがワイヤを用いずに電気的に接続させ
ていることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33446593A JP2606571B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33446593A JP2606571B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07202061A JPH07202061A (ja) | 1995-08-04 |
JP2606571B2 true JP2606571B2 (ja) | 1997-05-07 |
Family
ID=18277698
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33446593A Expired - Lifetime JP2606571B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2606571B2 (ja) |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP33446593A patent/JP2606571B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07202061A (ja) | 1995-08-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6723582B2 (en) | Method of making a semiconductor package having exposed metal strap | |
US5373188A (en) | Packaged semiconductor device including multiple semiconductor chips and cross-over lead | |
US5293301A (en) | Semiconductor device and lead frame used therein | |
US5598031A (en) | Electrically and thermally enhanced package using a separate silicon substrate | |
KR100209993B1 (ko) | 필름 캐리어 반도체 장치 | |
KR940007649B1 (ko) | 반도체 패키지 | |
US7402906B2 (en) | Enhanced die-down ball grid array and method for making the same | |
US6703698B2 (en) | Semiconductor package with enhanced electrical and thermal performance and method for fabricating the same | |
US20010045644A1 (en) | Semiconductor package having heat sink at the outer surface | |
US20070048903A1 (en) | Multi-chip package type semiconductor device | |
US5105257A (en) | Packaged semiconductor device and semiconductor device packaging element | |
US8637975B1 (en) | Semiconductor device having lead wires connecting bonding pads formed on opposite sides of a core region forming a shield area | |
US6396129B1 (en) | Leadframe with dot array of silver-plated regions on die pad for use in exposed-pad semiconductor package | |
US5861668A (en) | Semiconductor package | |
JP2002134685A (ja) | 集積回路装置 | |
JP2001102515A (ja) | 半導体装置 | |
WO2006074312A2 (en) | Dual flat non-leaded semiconductor package | |
KR20010056618A (ko) | 반도체패키지 | |
JP2606571B2 (ja) | 半導体装置 | |
US20050139997A1 (en) | Chip assembly package | |
JPH0521694A (ja) | 半導体装置 | |
JP2501950B2 (ja) | 半導体装置 | |
US7951651B2 (en) | Dual flat non-leaded semiconductor package | |
JPH06326236A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
KR100258607B1 (ko) | 리드 온 칩 타입의 칩 스케일 반도체 패키지 구조 및 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19961217 |