JP2605971B2 - 観測装置 - Google Patents
観測装置Info
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- JP2605971B2 JP2605971B2 JP5186865A JP18686593A JP2605971B2 JP 2605971 B2 JP2605971 B2 JP 2605971B2 JP 5186865 A JP5186865 A JP 5186865A JP 18686593 A JP18686593 A JP 18686593A JP 2605971 B2 JP2605971 B2 JP 2605971B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光学特性の異なる第
1の部分と第2の部分とを具備する対象物を1つの撮像
装置を用いて観測するのに用いられる観測装置に関す
る。
1の部分と第2の部分とを具備する対象物を1つの撮像
装置を用いて観測するのに用いられる観測装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】図7は、本体部1の下面より複数の脚部
2,3が突出する電子部品の具体例を示している。図示
例の電子部品において、本体部1は合成樹脂製の絶縁基
板4の上面に複数の突壁5が一定間隔毎に一体突設され
て成るもので、絶縁基板4上には各突壁5,5間の位置
に対応させて固定金属片6と、各固定金属片6毎に対応
させた可動金属片7とが配備してある。各固定金属片6
は全面が絶縁基板4上に固着され、各可動金属片7は基
端が絶縁基板4に固定され、先端が各固定金属片6上の
一定の高さ位置に突出させてある。後側に並ぶ各脚部3
はそれぞれの固定金属片6と一体であり、前側に並ぶ各
脚部2はそれぞれの可動金属片7と一体であって、各脚
部2,3の全長が基板4の下面より下方へそれぞれ突出
している。
2,3が突出する電子部品の具体例を示している。図示
例の電子部品において、本体部1は合成樹脂製の絶縁基
板4の上面に複数の突壁5が一定間隔毎に一体突設され
て成るもので、絶縁基板4上には各突壁5,5間の位置
に対応させて固定金属片6と、各固定金属片6毎に対応
させた可動金属片7とが配備してある。各固定金属片6
は全面が絶縁基板4上に固着され、各可動金属片7は基
端が絶縁基板4に固定され、先端が各固定金属片6上の
一定の高さ位置に突出させてある。後側に並ぶ各脚部3
はそれぞれの固定金属片6と一体であり、前側に並ぶ各
脚部2はそれぞれの可動金属片7と一体であって、各脚
部2,3の全長が基板4の下面より下方へそれぞれ突出
している。
【0003】この種の電子部品は、本体部1や脚部2,
3が完全な状態であるとは限らず、破損したり、変形し
たりする不良品も混在する。例えば各突壁5は薄い合成
樹脂板であるから、根元より折れ易く、また脚部2,3
は可撓性を有するから、いずれかの方向へ曲がり易い。
そのために部品検査が必要となり、従来はその種の検査
を人手を介して手作業により行っている。
3が完全な状態であるとは限らず、破損したり、変形し
たりする不良品も混在する。例えば各突壁5は薄い合成
樹脂板であるから、根元より折れ易く、また脚部2,3
は可撓性を有するから、いずれかの方向へ曲がり易い。
そのために部品検査が必要となり、従来はその種の検査
を人手を介して手作業により行っている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な人手による検査方法では、特に被検査部品が小型のも
のであって、しかも本体部1と脚部2,3との両方を同
時に検査するときは、検査の効率が悪く、また検査精度
が著しく低下し、検査員に応じて検査結果がばらつくな
どの問題がある。
な人手による検査方法では、特に被検査部品が小型のも
のであって、しかも本体部1と脚部2,3との両方を同
時に検査するときは、検査の効率が悪く、また検査精度
が著しく低下し、検査員に応じて検査結果がばらつくな
どの問題がある。
【0005】この発明は、上記問題に着目してなされた
もので、電子部品のように光学特性の異なる2つの部分
を具備する対象物について、第1,第2の各部分を同時
に、効率良くかつ高精度に観測して検査できる観測装置
を提供することを目的とする。
もので、電子部品のように光学特性の異なる2つの部分
を具備する対象物について、第1,第2の各部分を同時
に、効率良くかつ高精度に観測して検査できる観測装置
を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明は、光学特性の
異なる第1の部分と第2の部分とを具備する対象物を1
つの撮像装置を用いて観測するための観測装置であっ
て、対象物の後方に配置される拡散板およびこの拡散板
の背後より対象物の方向へ光を照射する光源を備え、前
記第1の部分に明るい背景を設定する第1の照明装置
と、対象物の前面側に配置され、前記第2の部分へ直接
照明光を照射する第2の照明装置と、前記第2の部分の
後方に位置し、前記第2の照明装置による光を吸収して
第2の部分に対し暗い背景を形成する光吸収部材と、前
記第1および第2の各照明装置による照明下で、対象物
の前記第1および第2の部分を同一視野内に含ませて対
象物を前面より撮像する撮像装置とを有するものであ
る。
異なる第1の部分と第2の部分とを具備する対象物を1
つの撮像装置を用いて観測するための観測装置であっ
て、対象物の後方に配置される拡散板およびこの拡散板
の背後より対象物の方向へ光を照射する光源を備え、前
記第1の部分に明るい背景を設定する第1の照明装置
と、対象物の前面側に配置され、前記第2の部分へ直接
照明光を照射する第2の照明装置と、前記第2の部分の
後方に位置し、前記第2の照明装置による光を吸収して
第2の部分に対し暗い背景を形成する光吸収部材と、前
記第1および第2の各照明装置による照明下で、対象物
の前記第1および第2の部分を同一視野内に含ませて対
象物を前面より撮像する撮像装置とを有するものであ
る。
【0007】請求項2の発明では、光学特性の異なる本
体部と複数個の脚部とを有する電子部品を観測対象にし
ている。
体部と複数個の脚部とを有する電子部品を観測対象にし
ている。
【0008】
【作用】対象物の第1の部分に対しては、第1の照明装
置による背後からの拡散照明によって明るい背景が設定
される。また第2の部分に対しては、第2の照明装置に
よる直接照明光を後方の光吸収部材に吸収させることに
より、暗い背景が設定される。この状態下で第1および
第2の各部分を同一視野内に含ませて撮像することによ
り、各部分を同一画像内で識別して観測することが可能
となる。
置による背後からの拡散照明によって明るい背景が設定
される。また第2の部分に対しては、第2の照明装置に
よる直接照明光を後方の光吸収部材に吸収させることに
より、暗い背景が設定される。この状態下で第1および
第2の各部分を同一視野内に含ませて撮像することによ
り、各部分を同一画像内で識別して観測することが可能
となる。
【0009】請求項2の発明では、電子部品の本体部と
複数の脚部とを同時に観測することができる。
複数の脚部とを同時に観測することができる。
【0010】
【実施例】図1は、この発明の一実施例にかかる観測装
置の外観を示している。図示例の観測装置は、前記した
図7に示す電子部品を観測して自動検査するのに用いて
あり、ベルトコンベヤ11で次々に搬送されてくる被検
査部品10を観測して、突壁5の破損,可動金属片7の
はね上がり、前側の脚部2の折れや曲がりを自動検査す
る。
置の外観を示している。図示例の観測装置は、前記した
図7に示す電子部品を観測して自動検査するのに用いて
あり、ベルトコンベヤ11で次々に搬送されてくる被検
査部品10を観測して、突壁5の破損,可動金属片7の
はね上がり、前側の脚部2の折れや曲がりを自動検査す
る。
【0011】被検査部品10は、図2に示すような支持
台12に支持された状態で検査位置に次々に導かれる。
支持台12は、水平な上面12aにて被検査部品10の
本体部1の下面を支持し、垂直な前面12bに脚部2を
突出させた状態で被検査部品10を支持する。前記支持
台12の前面12bには黒い色であってつや消し状態の
光吸収部材で形成される。
台12に支持された状態で検査位置に次々に導かれる。
支持台12は、水平な上面12aにて被検査部品10の
本体部1の下面を支持し、垂直な前面12bに脚部2を
突出させた状態で被検査部品10を支持する。前記支持
台12の前面12bには黒い色であってつや消し状態の
光吸収部材で形成される。
【0012】検査位置には図示しない位置センサが配置
してあり、被検査部品10が検査位置に到達したとき、
これを検知して、ベルトコンベヤ11の駆動を一時停止
させるためのトリガ信号を出力する。
してあり、被検査部品10が検査位置に到達したとき、
これを検知して、ベルトコンベヤ11の駆動を一時停止
させるためのトリガ信号を出力する。
【0013】この検査位置には、撮像装置13と第1,
第2の各照明装置14,15とが配置される。第1の照
明装置14は、検査位置の後側に配置される白色拡散板
16と、この拡散板16の背後より検査位置の方向へ光
を照射する光源17とから構成され、被検査部品10に
おける本体部1に対し背後からの拡散照明を施す。第2
の照明装置15は、検査位置の前側に配置され、検査位
置の方向へ光を照射して、被検査部品10における脚部
2に対し前面からの直接照明を施す。
第2の各照明装置14,15とが配置される。第1の照
明装置14は、検査位置の後側に配置される白色拡散板
16と、この拡散板16の背後より検査位置の方向へ光
を照射する光源17とから構成され、被検査部品10に
おける本体部1に対し背後からの拡散照明を施す。第2
の照明装置15は、検査位置の前側に配置され、検査位
置の方向へ光を照射して、被検査部品10における脚部
2に対し前面からの直接照明を施す。
【0014】撮像装置13は、第1,第2の各照明装置
14,15による照明下で被検査部品10の本体部1と
脚部2とを同一視野内に含むような視野設定を行って被
検査部品10を前面より撮像する。この画像信号は画像
処理装置18に取り込まれて2値化などの処理が実施さ
れると共に、その2値画像が表示装置19に表示され
る。
14,15による照明下で被検査部品10の本体部1と
脚部2とを同一視野内に含むような視野設定を行って被
検査部品10を前面より撮像する。この画像信号は画像
処理装置18に取り込まれて2値化などの処理が実施さ
れると共に、その2値画像が表示装置19に表示され
る。
【0015】図3は、画像処理装置18の概略構成を示
している。同図において、撮像装置13からのアナログ
量の画像信号は画像処理装置18に入力されて2値化回
路20で2値化され、画像メモリ21に記憶される。こ
の2値画像はCRTインターフェイス回路22を介して
CRTなどの表示装置19に表示される。このような動
作を制御するCPU23がバスライン24を介して画像
メモリ21に接続されており、前記バスライン24に
は、部品検査のためのプログラムなどが格納されるRO
M25や各種データなどが格納されるRAM26が接続
される。
している。同図において、撮像装置13からのアナログ
量の画像信号は画像処理装置18に入力されて2値化回
路20で2値化され、画像メモリ21に記憶される。こ
の2値画像はCRTインターフェイス回路22を介して
CRTなどの表示装置19に表示される。このような動
作を制御するCPU23がバスライン24を介して画像
メモリ21に接続されており、前記バスライン24に
は、部品検査のためのプログラムなどが格納されるRO
M25や各種データなどが格納されるRAM26が接続
される。
【0016】図4は、画像メモリ21に格納された2値
画像30を示している。この2値画像30において、本
体部1は第1の照明装置14による背後からの拡散照明
下で撮像されているから、本体部1の各部、すなわち基
板4,各突壁5,各可動金属片7に相当する画像部分
4′,5′,7′は黒画素、背景の拡散板16に相当す
る画像部分16′は白画素で構成される。一方、脚部2
については、第2の照明装置15による前面からの直接
照明下で撮像されるとともに、支持台12の前面12b
においてこの直接照明光が吸収されるから、脚部2に相
当する画像部分2′は白画素、背景の支持台12の前面
12bに相当する画像部分12b′は黒画素で構成され
る。
画像30を示している。この2値画像30において、本
体部1は第1の照明装置14による背後からの拡散照明
下で撮像されているから、本体部1の各部、すなわち基
板4,各突壁5,各可動金属片7に相当する画像部分
4′,5′,7′は黒画素、背景の拡散板16に相当す
る画像部分16′は白画素で構成される。一方、脚部2
については、第2の照明装置15による前面からの直接
照明下で撮像されるとともに、支持台12の前面12b
においてこの直接照明光が吸収されるから、脚部2に相
当する画像部分2′は白画素、背景の支持台12の前面
12bに相当する画像部分12b′は黒画素で構成され
る。
【0017】この2値画像30に対し、可動金属片の画
像部分7′のわずかに上方位置に対応して第1のライン
ウィンドウW1 が、また各脚部の画像部分2′の先端位
置に対応して第2のラインウィンドウW2 が、それぞれ
設定され、後記する部品検査が実行される。この実施例
では、各ラインウィンドウW1 ,W2 はその線幅を1画
素に設定する。
像部分7′のわずかに上方位置に対応して第1のライン
ウィンドウW1 が、また各脚部の画像部分2′の先端位
置に対応して第2のラインウィンドウW2 が、それぞれ
設定され、後記する部品検査が実行される。この実施例
では、各ラインウィンドウW1 ,W2 はその線幅を1画
素に設定する。
【0018】図5は、この実施例による検査手順を示し
ている。まず同図のステップ1(図中「ST1」で示
す)において、検査位置に導かれた被検査部品10が第
1,第2の各照明装置14,15による照明下で撮像装
置13により撮像され、その入力画像が画像処理装置1
8に取り込まれて2値化され、その2値画像が画像メモ
リ21に格納される。つぎにCPU23はこの2値画像
に対し、まず第1のラインウィンドウW1 を設定してそ
のラインウィンドウW1 上の黒画素を検出した後、画素
の変化点P1 〜P9 の座標を検出する(ステップ2,
3)。
ている。まず同図のステップ1(図中「ST1」で示
す)において、検査位置に導かれた被検査部品10が第
1,第2の各照明装置14,15による照明下で撮像装
置13により撮像され、その入力画像が画像処理装置1
8に取り込まれて2値化され、その2値画像が画像メモ
リ21に格納される。つぎにCPU23はこの2値画像
に対し、まず第1のラインウィンドウW1 を設定してそ
のラインウィンドウW1 上の黒画素を検出した後、画素
の変化点P1 〜P9 の座標を検出する(ステップ2,
3)。
【0019】つぎのステップ4では、CPU23は各変
化点P1 〜P9 の座標位置が適正か否かを判断してお
り、もしその判定が「NO」であれば、被検査部品10
は突壁5が欠けていると判断して、欠け不良の判定結果
を出力する(ステップ5)。
化点P1 〜P9 の座標位置が適正か否かを判断してお
り、もしその判定が「NO」であれば、被検査部品10
は突壁5が欠けていると判断して、欠け不良の判定結果
を出力する(ステップ5)。
【0020】図6(1)は、欠け不良の被検査部品につ
いての2値画像を例示している。図中、一点鎖線で示す
部分5″は欠けた突壁の画像部分を示すが、この欠けの
ためにその突壁の画像に現れず、変化点P1 の座標は検
出されない。
いての2値画像を例示している。図中、一点鎖線で示す
部分5″は欠けた突壁の画像部分を示すが、この欠けの
ためにその突壁の画像に現れず、変化点P1 の座標は検
出されない。
【0021】図5に戻って、もしステップ4の判定が
「YES」であれば、つぎにステップ6でCPU23は
変化点P1 〜P9 のピッチが正しいかどうかを判断して
おり、もしその判定が「NO」であれば、被検査部品1
0は可動金属片7がはね上がっていると判断して、可動
金属片7が不良である旨の判定結果を出力する(ステッ
プ7)。
「YES」であれば、つぎにステップ6でCPU23は
変化点P1 〜P9 のピッチが正しいかどうかを判断して
おり、もしその判定が「NO」であれば、被検査部品1
0は可動金属片7がはね上がっていると判断して、可動
金属片7が不良である旨の判定結果を出力する(ステッ
プ7)。
【0022】図6(2)は、可動金属片が不良の被検査
部品についての2値画像を例示している。図中、7″は
はね上がった可動金属片の画像部分であるが、変化点P
1 ,P2 間に可動金属片の画像部分7″による変化点が
発生するため、変化点間のピッチが異常となる。
部品についての2値画像を例示している。図中、7″は
はね上がった可動金属片の画像部分であるが、変化点P
1 ,P2 間に可動金属片の画像部分7″による変化点が
発生するため、変化点間のピッチが異常となる。
【0023】図5に戻って、もしステップ6の判定が
「YES」であれば、ステップ8へ進み、つぎにCPU
23は同じ2値画像に対し、第2のラインウィンドウW
2を設定してそのラインウィンドウW2上の白画素を検
出した後、画素の変化点Q1〜Q3の座標を検出する
(ステップ8,9)。
「YES」であれば、ステップ8へ進み、つぎにCPU
23は同じ2値画像に対し、第2のラインウィンドウW
2を設定してそのラインウィンドウW2上の白画素を検
出した後、画素の変化点Q1〜Q3の座標を検出する
(ステップ8,9)。
【0024】つぎのステップ10では、CPU23は各
変化点Q1 〜Q8 の座標位置およびピッチが適正か否か
を判断しており、もしその判定が「NO」であれば、被
検査部品10は脚部2が折れているか、或いはいずれか
方向へ曲がっていると判断して、脚部不良の判定結果を
出力する(ステップ11)。
変化点Q1 〜Q8 の座標位置およびピッチが適正か否か
を判断しており、もしその判定が「NO」であれば、被
検査部品10は脚部2が折れているか、或いはいずれか
方向へ曲がっていると判断して、脚部不良の判定結果を
出力する(ステップ11)。
【0025】図6(3)は、脚部不良の被検査部品につ
いての2値画像を例示している。図中2″は前後方向に
曲がった脚部の画像部分であるが、この曲がりのために
その画像部分2″についての変化点Q1 の座標は検出さ
れない。また脚部2が一点鎖線で示すような方向に曲が
っている場合、その脚部2の画像部分についての変化点
Q1 の座標は検出されるが、曲がりのため変化点Q1 の
座標も変化点Q1 ,Q2 間のピッチも異常となる。
いての2値画像を例示している。図中2″は前後方向に
曲がった脚部の画像部分であるが、この曲がりのために
その画像部分2″についての変化点Q1 の座標は検出さ
れない。また脚部2が一点鎖線で示すような方向に曲が
っている場合、その脚部2の画像部分についての変化点
Q1 の座標は検出されるが、曲がりのため変化点Q1 の
座標も変化点Q1 ,Q2 間のピッチも異常となる。
【0026】かくしてステップ10の判定が「YES」
であれば、被検査部品10は正常であると判断して、良
品である旨の判定結果が出力される(ステップ12)。
ステップ13は、さらに被検査部品が存在するか否かを
判定しており、その判定が「YES」である限り、同様
の検査手順が繰り返し実行される。
であれば、被検査部品10は正常であると判断して、良
品である旨の判定結果が出力される(ステップ12)。
ステップ13は、さらに被検査部品が存在するか否かを
判定しており、その判定が「YES」である限り、同様
の検査手順が繰り返し実行される。
【0027】
【発明の効果】この発明は上記の如く、光学特性の異な
る第1の部分と第2の部分とを具備する対象物の観測に
おいて、前記第1の部分の背後から拡散照明を施してそ
の背景を明るく設定するとともに、第2の部分に対し、
直接照明を施すとともにその背景を暗く形成するように
し、この状態で第1および第2の各部分を同一視野内に
含ませて対象物を前面より撮像するようにしたから、第
1,第2の各部分を同一画像内で識別し、各部分を効率
良くかつ高精度に観測することが可能となる。
る第1の部分と第2の部分とを具備する対象物の観測に
おいて、前記第1の部分の背後から拡散照明を施してそ
の背景を明るく設定するとともに、第2の部分に対し、
直接照明を施すとともにその背景を暗く形成するように
し、この状態で第1および第2の各部分を同一視野内に
含ませて対象物を前面より撮像するようにしたから、第
1,第2の各部分を同一画像内で識別し、各部分を効率
良くかつ高精度に観測することが可能となる。
【0028】請求項2の発明では、光学特性の異なる本
体部と複数の脚部とを有する電子部品について、本体部
と各脚部とを同時に、効率良くかつ高精度に観測できる
という顕著な効果を奏する。
体部と複数の脚部とを有する電子部品について、本体部
と各脚部とを同時に、効率良くかつ高精度に観測できる
という顕著な効果を奏する。
【図1】この発明の一実施例にかかる観測装置の外観を
示す斜面図である。
示す斜面図である。
【図2】図1の装置例の側面図である。
【図3】画像処理装置の回路構成例を示すブロック図で
ある。
ある。
【図4】被検査部品の2値画像を示す説明図である。
【図5】図1〜図3の装置例による検査手順を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図6】不良品の2値画像を拡大して示す説明図であ
る。
る。
【図7】被検査部品の具体例を示す斜面図である。
【符号の説明】 1 本体部 2 脚部 10 被検査部品 12 支持台 13 撮像装置 14 第1の照明装置 15 第2の照明装置 16 拡散板 17 光源
Claims (2)
- 【請求項1】 光学特性の異なる第1の部分と第2の部
分とを具備する対象物を1つの撮像装置を用いて観測す
るための観測装置であって、対象物の後方に 配置される拡散板およびこの拡散板の背
後より対象物の方向へ光を照射する光源を備え、前記第
1の部分に明るい背景を設定する第1の照明装置と、 対象物の前面側に配置され、前記第2の部分へ直接照明
光を照射する第2の照明装置と、前記第2の部分の後方に位置し、前記第2の照明装置に
よる光を吸収して第2の部分に対し暗い背景を形成する
光吸収部材と、 前記第1および第2 の各照明装置による照明下で、対象
物の前記第1および第2の部分を同一視野内に含ませて
対象物を前面より撮像する撮像装置とを有する観測装
置。 - 【請求項2】 前記対象物は、光学特性の異なる本体部
と複数個の脚部とを有する電子部品である請求項1に記
載された観測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5186865A JP2605971B2 (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | 観測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5186865A JP2605971B2 (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | 観測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06109452A JPH06109452A (ja) | 1994-04-19 |
JP2605971B2 true JP2605971B2 (ja) | 1997-04-30 |
Family
ID=16196025
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5186865A Expired - Fee Related JP2605971B2 (ja) | 1993-06-29 | 1993-06-29 | 観測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2605971B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10133315B4 (de) * | 2000-07-11 | 2007-05-10 | visicontrol Gesellschaft für elektronische Bildverarbeitung mbH | Vorrichtung zur Prüfung der Maßhaltigkeit von Werkstücken mit einer Bildverarbeitungsanlage |
US20030164565A1 (en) * | 2002-03-04 | 2003-09-04 | O'brien Keith T. | Method of fabricating an injection mold insert for molding lens molds |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6186605A (ja) * | 1984-10-05 | 1986-05-02 | Hitachi Ltd | ウエハの照明方法及びその装置 |
JPH0643968B2 (ja) * | 1985-07-19 | 1994-06-08 | 大日本印刷株式会社 | シヤドウマスクの欠陥検査方法 |
-
1993
- 1993-06-29 JP JP5186865A patent/JP2605971B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06109452A (ja) | 1994-04-19 |
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