JP2594358B2 - 画像表示装置 - Google Patents
画像表示装置Info
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- JP2594358B2 JP2594358B2 JP15543589A JP15543589A JP2594358B2 JP 2594358 B2 JP2594358 B2 JP 2594358B2 JP 15543589 A JP15543589 A JP 15543589A JP 15543589 A JP15543589 A JP 15543589A JP 2594358 B2 JP2594358 B2 JP 2594358B2
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- Japan
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- switch group
- numbered
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、絶縁基板上に薄膜トランジスタを用いて形
成した液晶画像表示装置に関するものである。
成した液晶画像表示装置に関するものである。
従来の技術 以下に従来の画像表示装置について説明する。第３図
に従来の構成図を示す。垂直走査回路11及び水平走査回
路12による駆動回路があり、水平走査回路12の各出力部
には、水平走査回路12の出力により制御される転送用ト
ランジスタスイッチ群13が形成されている。画素部14は
二次元マトリクス状に配列され、アクティブマトリクス
方式で駆動される。垂直走査回路11の出力である水平ゲ
ート線はポリシリコンで形成され、垂直信号線はアルミ
ニウム（AL）により形成されており、画素部へ点順次に
書き込まれるようになっている。
に従来の構成図を示す。垂直走査回路11及び水平走査回
路12による駆動回路があり、水平走査回路12の各出力部
には、水平走査回路12の出力により制御される転送用ト
ランジスタスイッチ群13が形成されている。画素部14は
二次元マトリクス状に配列され、アクティブマトリクス
方式で駆動される。垂直走査回路11の出力である水平ゲ
ート線はポリシリコンで形成され、垂直信号線はアルミ
ニウム（AL）により形成されており、画素部へ点順次に
書き込まれるようになっている。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、このような従来の構成では、垂直信号
線間に短絡がある場合、その箇所に見つけることは非常
に困難であり、通常、信号線を１本１本確認するか、液
晶工程を通し、画素を表示させなければならないという
欠点があった。
線間に短絡がある場合、その箇所に見つけることは非常
に困難であり、通常、信号線を１本１本確認するか、液
晶工程を通し、画素を表示させなければならないという
欠点があった。
本発明は上記欠点に鑑み、垂直信号線間に短絡がある
場合、液晶工程以前に短絡の有無と箇所が判定できる画
像表示装置を提供するものである。
場合、液晶工程以前に短絡の有無と箇所が判定できる画
像表示装置を提供するものである。
課題を解決するための手段 上記課題を解決するために、本発明の画像表示装置は
垂直信号線の奇数番目の終端，偶数番目の終端にそれぞ
れ検査用スイッチ群を設け、各垂直信号線が検査用スイ
ッチ群の制御端子に接続され、検査用スイッチ群のソー
スとドレインがそれぞれ共通に接続されたものである。
垂直信号線の奇数番目の終端，偶数番目の終端にそれぞ
れ検査用スイッチ群を設け、各垂直信号線が検査用スイ
ッチ群の制御端子に接続され、検査用スイッチ群のソー
スとドレインがそれぞれ共通に接続されたものである。
作用 上記構成により、画素部を通る垂直信号線の奇数番目
の終端には各々検査用スイッチが設けられており、抵抗
と直列接続することによりそれぞれNOR回路を構成する
ことができる。また偶数番目の終端にも同様のNOR回路
を構成している。水平走査回路の出力により制御される
転送用トランジスタスイッチ群の入力端子に、水平走査
回路の各出力の選択期間よりも短いパルスを入力する。
もしも垂直信号線間に短絡があれば、奇数番目及び偶数
番目の垂直信号線端のNOR回路の出力は短絡のある所で
同じ波形となる。
の終端には各々検査用スイッチが設けられており、抵抗
と直列接続することによりそれぞれNOR回路を構成する
ことができる。また偶数番目の終端にも同様のNOR回路
を構成している。水平走査回路の出力により制御される
転送用トランジスタスイッチ群の入力端子に、水平走査
回路の各出力の選択期間よりも短いパルスを入力する。
もしも垂直信号線間に短絡があれば、奇数番目及び偶数
番目の垂直信号線端のNOR回路の出力は短絡のある所で
同じ波形となる。
本発明は上記の原理に基づくものであり、垂直信号線
間の短絡の有無及びその位置を簡単に調べることのでき
る画像表示装置を提供するものである。
間の短絡の有無及びその位置を簡単に調べることのでき
る画像表示装置を提供するものである。
実施例 以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら
説明する。
説明する。
第１図は本発明の実施例における画像表示装置の構成
図を示す。１は垂直走査回路、２は水平走査回路、３は
転送用トランジスタスイッチ群、４は画素部、５は奇数
段信号線用検査用スイッチ群、６は偶数段信号線用検査
用スイッチ群、７は水平ゲート線、８は垂直信号線であ
る。画疎はアクティブマトリクス方式で、スイッチング
用薄膜トランジスタを有している。また、水平走査回路
２の旅部には、水平走査回路２の出力により制御される
転送用トランジスタスイッチ群３が備えられており、画
素部４へAL敗戦により点順次書き込みで信号伝達を行
う。
図を示す。１は垂直走査回路、２は水平走査回路、３は
転送用トランジスタスイッチ群、４は画素部、５は奇数
段信号線用検査用スイッチ群、６は偶数段信号線用検査
用スイッチ群、７は水平ゲート線、８は垂直信号線であ
る。画疎はアクティブマトリクス方式で、スイッチング
用薄膜トランジスタを有している。また、水平走査回路
２の旅部には、水平走査回路２の出力により制御される
転送用トランジスタスイッチ群３が備えられており、画
素部４へAL敗戦により点順次書き込みで信号伝達を行
う。
次に本発明の画像表示装置の画素部４を通る垂直信号
線間の短絡を調べる方法について説明する。第２図
（ａ），（ｂ）にその構成図と各点における電圧波形図
を示す。A,B,Cは水平走査回路２の出力波形、Ｄは転送
用トランジスタスイッチ群３に入力する検査用パルスを
示している。各垂直信号線８は奇数及び偶数段信号線用
検査用スイッチ群5,6のゲートに接続されており、各段
のスイッチ群のソース，ドレインは共通になっている。
さらに、奇数及び偶数段検査用スイッチ群5,6はそれぞ
れ抵抗とによりNOR回路を構成している。抵抗Ｒは大き
さは検査用スイッチに用いるトランジスタのオン抵抗よ
りも大きく、オフ抵抗より小さく設定される。
線間の短絡を調べる方法について説明する。第２図
（ａ），（ｂ）にその構成図と各点における電圧波形図
を示す。A,B,Cは水平走査回路２の出力波形、Ｄは転送
用トランジスタスイッチ群３に入力する検査用パルスを
示している。各垂直信号線８は奇数及び偶数段信号線用
検査用スイッチ群5,6のゲートに接続されており、各段
のスイッチ群のソース，ドレインは共通になっている。
さらに、奇数及び偶数段検査用スイッチ群5,6はそれぞ
れ抵抗とによりNOR回路を構成している。抵抗Ｒは大き
さは検査用スイッチに用いるトランジスタのオン抵抗よ
りも大きく、オフ抵抗より小さく設定される。
ここで例えば図中の矢印で示された垂直信号線間が短
絡していたとする。まず垂直信号線８間に短絡がないと
すると、Ｅで観測される出力波形はＤに入力する検査用
パルスにおいて、水平走査回路２の奇数段目が選択され
る期間内のみが出力される。同様にＦで観測される波形
は偶数段目の選択期間内のみが出力される。すなわちＤ
に入力される検査用パルスがＥとＦに分配された格好と
なる。しかし、図中に矢印で示されたように垂直信号線
間に短絡があった場合、必ず奇数番目と偶数番目が短絡
する事となり、短絡のある箇所でＥとＦの出力は同じに
あり、同じ出力のある所で短絡があることがわかる。ま
た、垂直信号線８の短絡が３本以上にわたる場合も同様
の検査で行うことができ、この場合、ＥとＦの出力にお
いて同じ波形になる期間が長くなるだけである。
絡していたとする。まず垂直信号線８間に短絡がないと
すると、Ｅで観測される出力波形はＤに入力する検査用
パルスにおいて、水平走査回路２の奇数段目が選択され
る期間内のみが出力される。同様にＦで観測される波形
は偶数段目の選択期間内のみが出力される。すなわちＤ
に入力される検査用パルスがＥとＦに分配された格好と
なる。しかし、図中に矢印で示されたように垂直信号線
間に短絡があった場合、必ず奇数番目と偶数番目が短絡
する事となり、短絡のある箇所でＥとＦの出力は同じに
あり、同じ出力のある所で短絡があることがわかる。ま
た、垂直信号線８の短絡が３本以上にわたる場合も同様
の検査で行うことができ、この場合、ＥとＦの出力にお
いて同じ波形になる期間が長くなるだけである。
以上のように画像表示装置の奇数段及び偶数段目の垂
直信号線の終端にそれぞれ検査用スイッチ群を設け、抵
抗とによりNOR回路を構成し、その出力波形を観察する
ことにより、従来各信号線を１本１本調べるか又は液晶
工程を経て画像を表示させるまで不明であった垂直信号
線間の短絡とその位置を液晶工程以前に簡単に知ること
ができる。また、検査用スイッチ群は実施例では薄膜ト
ランジスタにより形成しているため、水平，垂直各走査
回路を形成する場合と同時に作製することができるの
で、新たにプロセスを増や必要がない。
直信号線の終端にそれぞれ検査用スイッチ群を設け、抵
抗とによりNOR回路を構成し、その出力波形を観察する
ことにより、従来各信号線を１本１本調べるか又は液晶
工程を経て画像を表示させるまで不明であった垂直信号
線間の短絡とその位置を液晶工程以前に簡単に知ること
ができる。また、検査用スイッチ群は実施例では薄膜ト
ランジスタにより形成しているため、水平，垂直各走査
回路を形成する場合と同時に作製することができるの
で、新たにプロセスを増や必要がない。
なお、本実施例では、検査用スイッチ群としてトラン
ジスタを用いたが、他の構成にしてもよい。また抵抗は
外付けにしても内蔵としてもよく、トランジスタにより
抵抗を用いてもよい。さらに、転送用トランジスタスイ
ッチ群はｎチャネルトランジスタでもＰチャネルトラン
ジスタでもよく、またはCMOS−TFT構成の転送用ゲート
でもよい。
ジスタを用いたが、他の構成にしてもよい。また抵抗は
外付けにしても内蔵としてもよく、トランジスタにより
抵抗を用いてもよい。さらに、転送用トランジスタスイ
ッチ群はｎチャネルトランジスタでもＰチャネルトラン
ジスタでもよく、またはCMOS−TFT構成の転送用ゲート
でもよい。
発明の効果 以上のように、本発明は、奇数番目の垂直信号線終端
に検査用スイッチ群を設け、直列接続する抵抗とにより
NOR回路を構成し、さらに偶数番目の垂直信号線終端に
も検査用回路を設けて抵抗とによりNOR回路を構成した
ところにある。このような構成によれば、奇数番目，偶
数番目にそれぞれ設けたNOR回路の出力信号を確認する
だけで、従来困難であった垂直信号線間の短絡を、液晶
工程以前に簡単に知ることがでぎるようになり、その実
用的効果は大なるものがある。
に検査用スイッチ群を設け、直列接続する抵抗とにより
NOR回路を構成し、さらに偶数番目の垂直信号線終端に
も検査用回路を設けて抵抗とによりNOR回路を構成した
ところにある。このような構成によれば、奇数番目，偶
数番目にそれぞれ設けたNOR回路の出力信号を確認する
だけで、従来困難であった垂直信号線間の短絡を、液晶
工程以前に簡単に知ることがでぎるようになり、その実
用的効果は大なるものがある。
第１図は本発明の実施例における画像表示装置の構成
図、第２図（ａ），（ｂ）は本発明の実施例における短
絡の検査例の構成図、電圧波形図、第３図は従来の画像
表示装置の構成図である。 １……垂直走査回路、２……水平走査回路、３……転送
用トランジスタスイッチ群、４……画素部、５……奇数
段信号線用検査用スイッチ群、６……偶数段信号線用検
査用スイッチ群、７……水平ゲート線、８……垂直信号
線。
図、第２図（ａ），（ｂ）は本発明の実施例における短
絡の検査例の構成図、電圧波形図、第３図は従来の画像
表示装置の構成図である。 １……垂直走査回路、２……水平走査回路、３……転送
用トランジスタスイッチ群、４……画素部、５……奇数
段信号線用検査用スイッチ群、６……偶数段信号線用検
査用スイッチ群、７……水平ゲート線、８……垂直信号
線。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤井 英治 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 子工業株式会社内 (72)発明者 小林 和憲 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 子工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−52121（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−116190（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−18891（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】絶縁基板上に薄膜トランジスタにより形成
された水平走査回路，垂直走査回路，二次元マトリクス
状に配列された画素および導電性膜により形成された各
列の画素に映像信号を供給する垂直信号線と水平ゲート
線を備え、前記水平走査路の出力部には前記水平走査回
路の出力パルスにより制御される映像信号を垂直信号線
に転送する転送用スイッチ群があり、前記垂直信号線の
終端は検査用スッチ群の制御端子に接続されており、奇
数番目の前記垂直信号線の終端にある前記検査用スイッ
チ群のソース，ドレインがそれぞれ共通で、偶数番目の
前記垂直信号線の終端にある前記検査用スイッチ群のソ
ース，ドレインがそれぞれ共通であることを特徴とする
画像表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15543589A JP2594358B2 (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 画像表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15543589A JP2594358B2 (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 画像表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0320782A JPH0320782A (ja) | 1991-01-29 |
| JP2594358B2 true JP2594358B2 (ja) | 1997-03-26 |
Family
ID=15605966
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15543589A Expired - Fee Related JP2594358B2 (ja) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | 画像表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2594358B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2792634B2 (ja) * | 1991-06-28 | 1998-09-03 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板の検査方法 |
| KR100671513B1 (ko) * | 2000-12-12 | 2007-01-19 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 액정표시소자의 단락위치검출방법 |
| JP3964337B2 (ja) | 2003-03-07 | 2007-08-22 | 三菱電機株式会社 | 画像表示装置 |
| JP2016085269A (ja) * | 2014-10-23 | 2016-05-19 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学基板、電気光学装置及び電子機器 |
| CN105261317B (zh) * | 2015-09-17 | 2018-05-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 数据线短接不良的检测方法和检测装置 |
| CN111179794B (zh) * | 2020-01-06 | 2022-04-19 | 京东方科技集团股份有限公司 | 检测电路、阵列基板、显示面板 |
-
1989
- 1989-06-16 JP JP15543589A patent/JP2594358B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0320782A (ja) | 1991-01-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
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