JP2591911Y2 - 塗工量計 - Google Patents

塗工量計

Info

Publication number
JP2591911Y2
JP2591911Y2 JP1991094032U JP9403291U JP2591911Y2 JP 2591911 Y2 JP2591911 Y2 JP 2591911Y2 JP 1991094032 U JP1991094032 U JP 1991094032U JP 9403291 U JP9403291 U JP 9403291U JP 2591911 Y2 JP2591911 Y2 JP 2591911Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
calcium
amount
output
rays
fluorescent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1991094032U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0543009U (ja
Inventor
藤田哲哉
高松幸彦
植田武志
鈴木俊之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP1991094032U priority Critical patent/JP2591911Y2/ja
Publication of JPH0543009U publication Critical patent/JPH0543009U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2591911Y2 publication Critical patent/JP2591911Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、蛍光X線を用いた塗工
量計に関するものである。
【0002】
【従来の技術】蛍光X線を用いた測定装置としては、例
えば、実開平1−81559号公報や実開平1−935
55号公報等があるが、本考案の前提となる塗工量計
は、カルシウムを含んだ塗工剤に着目して、このカルシ
ウムを含んだ塗工剤を塗布した塗工紙に前記従来の技術
の蛍光X線を用いた技術、即ち、リング状線源から一次
X線を照射して前記カルシウムより発生する蛍光X線を
選択的に測定することにより、塗工剤の量を求めること
ができるように構成された測定装置である。
【0003】以下、従来の塗工量計を図面を用いて説明
する。
【0004】図3は塗工量計の概要の説明に供する図で
ある。図4は従来の技術の説明に供する図である。
【0005】図3乃至図4において、1は被測定物であ
るカルシウムを含んだ塗工剤を塗布した塗工紙(以下単
に「紙」という)、2はこの紙1に一次X線を照射する
リング状線源である。3は前記紙1とリング状線源2と
の間に配置されるシャッタ駆動信号によって駆動するシ
ャッタである。4は紙への一次X線照射後の紙1からの
カルシウムより発生する蛍光X線をシャッタを介して選
択的に検出するセンサ(比例計数管)である。
【0006】5は基準サンプルセット信号によって駆動
する基準サンプルであり、この基準サンプル5は、図に
おいては紙の上部に来るように配置され、必要に応じて
塗工量計の校正がなされるようになっている。
【0007】6はセンサ4によって選択的に検知された
信号を増幅して波高弁別回路7に出力する増幅回路、8
は波高弁別回路7からのデータをカウントするカウンタ
である。このカウンタの出力は図示しない回路手段で測
定される。これにより、塗工剤の量を求めることができ
る。図4に計器の出力と塗工量との関係(M;実際の測
定範囲)を表す。
【0008】そして、このような構成において、基準サ
ンプル5を用いて校正を行うときは、空気層時及びカル
シウムを大量に含む基準サンプル時の2点でゼロとスパ
ンを確認することとなる。
【0009】
【考案が解決しようとする課題】このような従来の技術
にあっては、以下のような問題点があった。
【0010】スパン校正のための基準サンプルは、カル
シウムを大量に含む安定なシートを用いているが、セン
サの実用上使用できる測定範囲は実際には限られている
ために、出力を安定に得ることが可能な適当なサンプル
は無いのが現状である。
【0011】任意の量の蛍光X線が得られるように前記
基準サンプルに含まれるカルシウムの量を調整すればよ
いが、カルシウム含有量の異なる素材を必要なだけ用意
しなければならないので実用的ではない。
【0012】本考案は、従来の有するこのような問題点
に鑑みてなされたものであり、その目的とするところ
は、実際に使用する測定範囲程度の出力が得られるよう
な校正用のサンプルを用意することで、センサ自身の安
定性のチェックや装置のハード上の不具合等の検出を行
うことができる塗工量計を提供するものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本考案は、カルシウムを含んだ塗工紙1にリング状
線源2から一次X線を照射し、該一次X線照射後の前記
塗工紙からのカルシウムより発生する蛍光X線をセンサ
4で検出して前記塗工紙の途工量を測定する途工量計に
おいて、表面に前記途工量計の出力が飽和する程度のカ
ルシウムを含む第1部材と、カルシウムを含まない少な
くとも一枚の第2部材と、からなり、前記第1部材と第
2部材の一枚を着脱自在に重ね合わせ、前記蛍光X線を
照射したときの出力が前記塗工紙の測定範囲と同程度の
出力となるような標準サンプルを用いて校正したことを
特徴とするものである。
【0014】
【作用】カルシウムを大量に含んだシートに、カルシウ
ムを含まない薄いプラスチックシートを重ねた校正用標
準サンプルを作成して用いる。これによれば、一次X線
がカルシウムに到達する量を減衰させると同時にカルシ
ウムから発生した蛍光X線の量も減衰させることが可能
となる。したがって、結果的には必要な量の蛍光X線量
が得られる。このような校正用サンプルを用いることに
より、実際に使用する測定範囲と同じ程度の出力でセン
サ自身の校正作業を行うことができる。
【0015】
【実施例】本考案を、具体的実施例を示す図面を参照し
ながら説明する。尚、以下の図面において、図3乃至図
4と重複する部分は同一番号を付してその説明は省略す
る。
【0016】図1は本考案の具体的な実施例の説明に供
する図である。図2は本考案の説明に供する図である。
【0017】図1および図2において、9はカルシウム
を大量に含んだシート(以下「カルシウム板」という)
9aとカルシウムを含まない薄いプラスチックシート9
bとを重ねた構成された校正用標準サンプルである。1
0はリング状線源2とセンサ4を収納する検出ヘッドで
ある。
【0018】尚、図2の縦軸の出力軸において、Aは校
正用サンプル時の出力値、Bはカルシウム板のみのとき
の出力を夫々示す。
【0019】ところで、前記カルシウム板9aの「大
量」の意味であるが、センサ出力が飽和する程度の蛍光
X線出力が得られる程度にカルシウムを含んでいればよ
いものである。又、前記プラスチックシート9bは、カ
ルシウムを含まない例えばポリエステル等の薄いシート
で構成されればよい。
【0020】この校正用標準サンプル9は、図示しない
適当なホルダ等によりセンサギャップ内のパスライン位
置に再現性よくセットされる。このようにして一次X線
がカルシウムに到達する量を減衰させると同時にカルシ
ウムから発生した蛍光X線の量も減衰させる。このこと
で、結果的に必要な量の蛍光X線量が得られるものであ
る。
【0021】このような校正用標準サンプル9をリング
状線源2からの一次X線が照射される位置にセツトした
状態において、実際に使用する測定範囲と同じ程度の出
力でセンサ自身の校正作業を行う。
【0022】校正作業は、図示しない表示器における指
示値を確認し、この指示値を、当該校正用標準サンプル
9とセンサとの組み合わせにおける指示値として記録・
保持することによって行う。
【0023】このような校正作業を行った後において
は、例えば、以後、適当な間隔で再度この校正用標準サ
ンプルをセットして、その都度指示値を確認して、その
指示値がある一定以上ずれるようなことがあれば、装置
のハード上に不具合が発生した、としてのチェックが行
える。
【0024】尚、以上の説明はカルシウムからの蛍光X
線を検出するということで説明したが、例えばチタン等
の他の金属材料を検出するような構成であってもこの考
案の本質をかえること無く適用することができる。
【0025】又、以上の説明は、検出ヘッド10と別に
校正用標準サンプル9をセットすることとして述べた
が、校正用標準サンプル自体を検出ヘッドに内蔵して、
必要に応じて紙が走行するパスライン位置に校正用標準
サンプルをセットするような機能を付加することは何ら
本考案の趣旨を逸脱するものではない。
【0026】又、カルシウム板に比べてプラスチックシ
ートは厚さの異なる物が比較的容易に入手できるので、
その厚さを変えた組み合わせを複数作ることにより、任
意の出力を得られるようにすることもできる。このよう
にすれば、測定範囲中の1点のみでなく、複数の点でチ
ェックできるようになる。
【0027】
【考案の効果】本考案は、以上説明したように構成され
ているので、次に記載するような効果を奏する。
【0028】(イ)校正用標準サンプルは十分な量のカ
ルシウムを含んだ材料を少なくとも1種類用意すればよ
く、これを直接に用いることで当該塗工量計のスパン校
正を簡単に行うことができる。
【0029】(ロ)校正用標準サンプルにおいて、カル
シウム板とセンサとの間に適当な厚さのプラスチックシ
ートを挿入することで、塗工量計としては任意の出力を
得ることができ、センサ自身のハード上の不具合等のチ
ェック又は校正を行うことも簡単にできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の具体的な実施例の説明に供する図であ
る。
【図2】本考案の説明に供する図である。
【図3】塗工量計の概要の説明に供する図である。
【図4】従来の技術の説明に供する図である。
【符号の説明】
2 リング状線源 4 センサ 9a シート(カルシウム板) 9b プラスチックシート 9 校正用標準サンプル 10 検出ヘッド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 鈴木俊之 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横 河電機株式会社内 (56)参考文献 特開 昭61−207911(JP,A) 実開 平3−52609(JP,U) 実開 平1−81559(JP,U) 実開 平1−93555(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01B 15/00 - 15/08 G01N 23/00 - 23/227

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 カルシウムを含んだ塗工紙1にリング状
    線源2から一次X線を照射し、該一次X線照射後の前記
    塗工紙からのカルシウムより発生する蛍光X線をセンサ
    4で検出して前記塗工紙の途工量を測定する途工量計に
    おいて、表面に前記途工量計の出力が飽和する程度のカルシウム
    を含む第1部材と、 カルシウムを含まない少なくとも一枚の第2部材と、 からなり、前記第1部材と第2部材の一枚を着脱自在に
    重ね合わせ、前記蛍光X線を照射したときの出力が前記
    塗工紙の測定範囲と同程度の出力となるような標準サン
    プルを用いて校正 したことを特徴とする途工量計。
JP1991094032U 1991-11-15 1991-11-15 塗工量計 Expired - Lifetime JP2591911Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991094032U JP2591911Y2 (ja) 1991-11-15 1991-11-15 塗工量計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1991094032U JP2591911Y2 (ja) 1991-11-15 1991-11-15 塗工量計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0543009U JPH0543009U (ja) 1993-06-11
JP2591911Y2 true JP2591911Y2 (ja) 1999-03-10

Family

ID=14099228

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1991094032U Expired - Lifetime JP2591911Y2 (ja) 1991-11-15 1991-11-15 塗工量計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2591911Y2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8394449B2 (en) * 2008-12-19 2013-03-12 Honeywell Asca Inc. Differential coat weight measurement by means of nuclear or X-ray gauges
JP2021012054A (ja) * 2019-07-04 2021-02-04 日本電子株式会社 蛍光x線分析装置及びその校正方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61207911A (ja) * 1985-03-12 1986-09-16 Seiko Instr & Electronics Ltd X線式磁性被膜測定装置校正用サンプル
JPH0181559U (ja) * 1987-11-20 1989-05-31
JP3052609U (ja) * 1998-03-12 1998-09-29 宏見 金山 地上設置型散水融雪機器

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0543009U (ja) 1993-06-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH05504839A (ja) 放射線線量表示器
US3766383A (en) Techniques and apparatus for calibrating the kilovoltage indicator on diagnostic x-ray generators
JP2591911Y2 (ja) 塗工量計
JP3081002B2 (ja) ガンマ又はx線によるテスト対象物検査装置
JPS63288292A (ja) 回転断続器の位置合わせ装置
US4066898A (en) Method and apparatus for monitoring amount of a substance applied to a fabric
GB2084314A (en) Determining concentration by x-ray fluorescence
JPS6385309A (ja) 板状材上の液膜厚測定方法および装置
JPH0915392A (ja) X線解析装置
JPH07260680A (ja) 赤外線センサ
JPH0149894B2 (ja)
JPS6253044B2 (ja)
JP2520973Y2 (ja) 坪量計
JPH07103896A (ja) 減感インキ量測定方法及び装置
JPS6333122Y2 (ja)
JPS61120004A (ja) 水およびインキ量測定装置
JP2920687B2 (ja) X線マッピング装置
JPS61250509A (ja) 高分子膜上の磁性体膜厚測定方法
JPH02216493A (ja) 放射線感応表示シート
JPS58135407A (ja) 被膜の厚さ測定方法
JPS6228607A (ja) 高分子膜上の磁性体膜厚測定方法
JPS6333096B2 (ja)
JPH0422283Y2 (ja)
JPH02107952A (ja) 粉末のx線回析測定方法
JPS61207911A (ja) X線式磁性被膜測定装置校正用サンプル