JP2556980B2 - 電気絶緑不良箇所探知方法 - Google Patents
電気絶緑不良箇所探知方法Info
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- JP2556980B2 JP2556980B2 JP62263368A JP26336887A JP2556980B2 JP 2556980 B2 JP2556980 B2 JP 2556980B2 JP 62263368 A JP62263368 A JP 62263368A JP 26336887 A JP26336887 A JP 26336887A JP 2556980 B2 JP2556980 B2 JP 2556980B2
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Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は電気絶縁不良箇所を探知する方法に関する。
(従来技術) 従来活線状態で電路上の絶縁不良箇所(電路上に接続
された電子機器も含む)を探知する方法として第2図に
示すような方法が用いられている。
された電子機器も含む)を探知する方法として第2図に
示すような方法が用いられている。
同図に於て1は電路であって該電路1に例えば低周波
(周波数1)の交流電圧を発振器OSCにより印加する
と共に,上記電路上には分割型変流器2を結合し,電路
上の周波数1の漏れ電流を各探知箇所(例えばA,B,C
点等)で測定し,その測定値を比較することによって絶
縁不良箇所を探知していた。
(周波数1)の交流電圧を発振器OSCにより印加する
と共に,上記電路上には分割型変流器2を結合し,電路
上の周波数1の漏れ電流を各探知箇所(例えばA,B,C
点等)で測定し,その測定値を比較することによって絶
縁不良箇所を探知していた。
しかしながら,第2図に示す如く一般に電路上の電子
機器並びに電路自身による絶縁抵抗をR1,R2……RN,又そ
れらの対地静電容量をC1,C2……CNとし,上記電路に印
加する低周波の交流電圧をVsinω1t(ω1=2π1)
とすれば第2図A点で交流器ZCTにて検出する周波数
1の漏れ電流i1は となる。
機器並びに電路自身による絶縁抵抗をR1,R2……RN,又そ
れらの対地静電容量をC1,C2……CNとし,上記電路に印
加する低周波の交流電圧をVsinω1t(ω1=2π1)
とすれば第2図A点で交流器ZCTにて検出する周波数
1の漏れ電流i1は となる。
上記漏れ電流i1を増幅器AMPで増幅し,フィルタFで
周波数1の成分を抽出し,該抽出した信号を次段の整
流器DETで整流し,その出力をメーターM等で表示すれ
ば となる。
周波数1の成分を抽出し,該抽出した信号を次段の整
流器DETで整流し,その出力をメーターM等で表示すれ
ば となる。
一方B点に変流器ZCTを移設することによって得られ
る周波数1の漏れ電流i2は となり,漏れ電流の大きさ|i2|は前記|i1|と同様に となる。従ってA点及びB点に於ける周波数1の漏れ
電流の大きさ|i1|,|i2|を検出しても区間ABの絶縁不良
は容易に推定できない。即ち|i1|》|i2|のときのみ区間
ABの絶縁不良が判定されるものであって一般の電路では
必ずしもこのような理想的結果が出る状況にないので特
定の場合のみしか有効でなかった。
る周波数1の漏れ電流i2は となり,漏れ電流の大きさ|i2|は前記|i1|と同様に となる。従ってA点及びB点に於ける周波数1の漏れ
電流の大きさ|i1|,|i2|を検出しても区間ABの絶縁不良
は容易に推定できない。即ち|i1|》|i2|のときのみ区間
ABの絶縁不良が判定されるものであって一般の電路では
必ずしもこのような理想的結果が出る状況にないので特
定の場合のみしか有効でなかった。
(発明の目的) 本発明は上記に鑑みてなされたものであって活線状態
の電路上の任意の区間の絶縁不良箇所を探査し,早期に
絶縁不良箇所の修復を可能にする電路の絶縁不良箇所探
査方法を提供することを目的とする。
の電路上の任意の区間の絶縁不良箇所を探査し,早期に
絶縁不良箇所の修復を可能にする電路の絶縁不良箇所探
査方法を提供することを目的とする。
(発明の概要) この目的を達成する為に本発明の電気絶縁不良箇所探
知方法は低周波の交流電圧を電路に印加し,前記電路上
の2点にて夫々電路を貫通せしめた変流器を設置し,上
記変流器の「出力の差」を得るとともに前記電路に印加
された交流電圧を検出し,該交流電圧90゜移相させるこ
とによりキャンセル信号を作成し,上記「出力の差」の
信号と上記キャンセル信号との差を得,該差に含まれる
上記低周波の周波数成分を整流した値が最小となるよう
に上記キャンセル信号の大きさを調整し,該調整後に得
た整流した信号でもって上記2点間の電路の絶縁抵抗を
検出するよう手段を講ずる。
知方法は低周波の交流電圧を電路に印加し,前記電路上
の2点にて夫々電路を貫通せしめた変流器を設置し,上
記変流器の「出力の差」を得るとともに前記電路に印加
された交流電圧を検出し,該交流電圧90゜移相させるこ
とによりキャンセル信号を作成し,上記「出力の差」の
信号と上記キャンセル信号との差を得,該差に含まれる
上記低周波の周波数成分を整流した値が最小となるよう
に上記キャンセル信号の大きさを調整し,該調整後に得
た整流した信号でもって上記2点間の電路の絶縁抵抗を
検出するよう手段を講ずる。
(実施例) 以下本発明を図示した実施例に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第1図は本発明の実施にあたって用いる装置の一実施
例を示すブロック図であり,第2図と同一の記号は同一
の意味をもつものとする。
例を示すブロック図であり,第2図と同一の記号は同一
の意味をもつものとする。
同図に於て1は電路であって,該電路1に発振器OSC
が接続され,又上記電路のA点及びB点には変流器ZCT
1,ZCT2が結合する。
が接続され,又上記電路のA点及びB点には変流器ZCT
1,ZCT2が結合する。
上記変流器ZCT1の出力は増幅器AMP2,可変利得器VR1及
び位相調整器PHを介して引算器SUB1の一方の入力端に入
力され該引算器SUB1の他方の入力端には前記変流器ZCT2
の出力が増幅器AMP1を介して入力される。
び位相調整器PHを介して引算器SUB1の一方の入力端に入
力され該引算器SUB1の他方の入力端には前記変流器ZCT2
の出力が増幅器AMP1を介して入力される。
前記引算器SUB1の出力は引算器SUB2の一方の入力端に
入力され他方の入力端には電路と大地間の電圧を増幅す
る高入力インピーダンスの増幅器AMP3の出力を90゜移相
器PS,可変利得回路VIを介して入力する。
入力され他方の入力端には電路と大地間の電圧を増幅す
る高入力インピーダンスの増幅器AMP3の出力を90゜移相
器PS,可変利得回路VIを介して入力する。
斯くして得た引算器SUB2の出力をフィルタF,整流器DE
Tを介してメーターMに入力するよう回路を構成する。
Tを介してメーターMに入力するよう回路を構成する。
ここで上記発振器OSCより電路1に入力する低周波信
号の周波数1,電圧をVsinω1tとすると上記増幅器AMP1
の出力には前記(3)式に相当するi2が含まれ,一方上
記増幅器AMP2の出力には前記(1)式に相当するi1が含
まれる。そのi1を含んだ信号を可変利得器VR1,位相調整
器PHを介して引算器SUBに入力すれば,その出力として を得る。
号の周波数1,電圧をVsinω1tとすると上記増幅器AMP1
の出力には前記(3)式に相当するi2が含まれ,一方上
記増幅器AMP2の出力には前記(1)式に相当するi1が含
まれる。そのi1を含んだ信号を可変利得器VR1,位相調整
器PHを介して引算器SUBに入力すれば,その出力として を得る。
前記可変利得器VR1及び位相調整器PHは前記変流器ZCT
1,ZCT2の特性が必ずしも等しくないので,印加する周波
数1に於て両変流器の特性が等しくなるように調整す
るためのものである。
1,ZCT2の特性が必ずしも等しくないので,印加する周波
数1に於て両変流器の特性が等しくなるように調整す
るためのものである。
更に前記増幅器AMP3の出力に含まれるVsinω1tを90゜
移相器PSに印加することによって該90゜移相器PSの出力
にはVcosω1tを得,可変利得回路VIに入力する。
移相器PSに印加することによって該90゜移相器PSの出力
にはVcosω1tを得,可変利得回路VIに入力する。
該可変利得回路VIの出力,即ちキャンセル信号は電流
出力とし,io cosω1tなる信号を得る。従ってキャンセ
ル信号の大きさは可変利得回路の利得を変えることによ
って変化させることができる。
出力とし,io cosω1tなる信号を得る。従ってキャンセ
ル信号の大きさは可変利得回路の利得を変えることによ
って変化させることができる。
このようにして得たVI出力io cosω1tと前記引算器SU
B1出力を夫々引算器SUB2へ入力し,該出力を周波数1
成分のみを抽出するフィルタFにすれば該フィルタ出力
は前記(5)式より となる。この信号を整流器DETで整流しその出力値を例
えばメーターMにて表示すれば,該メーターMの表示値
Xは前記(6)式から であるので,前記可変利得回路VIを調整し,メーターの
表示値Xが最小になるとき,即ち前記(7)式に於てio
=ω1C1Vの時のメーターの表示値X′は となり電路上AB間の絶縁抵抗値R1の逆数に比例する値が
前記表示値X′より検出される。
B1出力を夫々引算器SUB2へ入力し,該出力を周波数1
成分のみを抽出するフィルタFにすれば該フィルタ出力
は前記(5)式より となる。この信号を整流器DETで整流しその出力値を例
えばメーターMにて表示すれば,該メーターMの表示値
Xは前記(6)式から であるので,前記可変利得回路VIを調整し,メーターの
表示値Xが最小になるとき,即ち前記(7)式に於てio
=ω1C1Vの時のメーターの表示値X′は となり電路上AB間の絶縁抵抗値R1の逆数に比例する値が
前記表示値X′より検出される。
上述した如き手段を用いて絶縁抵抗を測定し,その測
定値が正常な時には変流器ZCT1を電路上のB点に変流器
ZCT2をC点に順次移設し同様に測定していけば電路上の
絶縁不良箇所を探知することができる。
定値が正常な時には変流器ZCT1を電路上のB点に変流器
ZCT2をC点に順次移設し同様に測定していけば電路上の
絶縁不良箇所を探知することができる。
尚,本実施例の説明にあたっては電路に印加する低周
波信号の印加方法を該電路に直列に接続した発振器によ
って行なったが,これに限るわけでなく電磁誘導或は発
振トランスを電路に結合させてもよく,又,引算器SUB2
に入力する可変利得回路出力を電流値として用いて表示
したが,これに限定されず,電圧値で回路を構成しても
よい。
波信号の印加方法を該電路に直列に接続した発振器によ
って行なったが,これに限るわけでなく電磁誘導或は発
振トランスを電路に結合させてもよく,又,引算器SUB2
に入力する可変利得回路出力を電流値として用いて表示
したが,これに限定されず,電圧値で回路を構成しても
よい。
更に変流器ZCT1,ZCT2の特性が等しい場合には各変流
器出力が逆相となるように直列接続することによって前
記(5)式のi1−i2を得,これを増幅器して引算器SUB1
の一方の入力に加えてもよいことは明らかである。
器出力が逆相となるように直列接続することによって前
記(5)式のi1−i2を得,これを増幅器して引算器SUB1
の一方の入力に加えてもよいことは明らかである。
(発明の効果) 本発明は上述の如き方法によって作用するものである
から電路の上の任意の区間の絶縁抵抗(電路に接続され
ている電子機器のそれをも含む)をその区間の前後の影
響を受けずに測定できるため,絶縁不良箇所の探査に著
効を奏するものである。
から電路の上の任意の区間の絶縁抵抗(電路に接続され
ている電子機器のそれをも含む)をその区間の前後の影
響を受けずに測定できるため,絶縁不良箇所の探査に著
効を奏するものである。
第1図は本発明の実施にあたって用いる装置の一実施例
を示すブロック図である。第2図は従来より用いられて
いる装置を示すブロック図である。 1……電路,ZCT1,ZCT2……変流器,OSC……発振器,AMP,A
MP1,AMP2……増幅器,SUB1,SUB2……引算器,VR1……可変
利得器,VI……可変利得回路,PH……位相調整器,PS……9
0゜移相器,F……フィルタ,DET……整流器,M……メータ
ー,E2,E3……接地点。
を示すブロック図である。第2図は従来より用いられて
いる装置を示すブロック図である。 1……電路,ZCT1,ZCT2……変流器,OSC……発振器,AMP,A
MP1,AMP2……増幅器,SUB1,SUB2……引算器,VR1……可変
利得器,VI……可変利得回路,PH……位相調整器,PS……9
0゜移相器,F……フィルタ,DET……整流器,M……メータ
ー,E2,E3……接地点。
Claims (1)
- 【請求項1】低周波の交流電圧を電路に印加し,前記電
路上の2点にて夫々電路を貫通せしめた変流器を設置
し,上記変流器の「出力の差」を得るとともに,前記電
路に印加された交流電圧を検出し,該交流電圧を90゜移
相させることによりキャンセル信号を作成し,上記「出
力の差」の信号と上記キャンセル信号との差を得,該差
に含まれる上記低周波の周波数成分を整流した値が最小
となるように上記キャンセル信号の大きさを調整し,該
調整後に得た整流した信号でもって上記2点間の電路の
絶縁抵抗を検出したことを特徴とする電気絶縁不良箇所
探知方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62263368A JP2556980B2 (ja) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | 電気絶緑不良箇所探知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62263368A JP2556980B2 (ja) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | 電気絶緑不良箇所探知方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01105186A JPH01105186A (ja) | 1989-04-21 |
JP2556980B2 true JP2556980B2 (ja) | 1996-11-27 |
Family
ID=17388519
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62263368A Expired - Fee Related JP2556980B2 (ja) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | 電気絶緑不良箇所探知方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2556980B2 (ja) |
-
1987
- 1987-10-19 JP JP62263368A patent/JP2556980B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPH01105186A (ja) | 1989-04-21 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |