JP2502232B2 - 高分子系薄膜のドライ・エッチング加工法 - Google Patents

高分子系薄膜のドライ・エッチング加工法

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JP2502232B2
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polymer thin
polymer
dry etching
etching method
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直樹 大山
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は高分子系材料の薄膜のド
ライエッチング法に関し、特にエアーコンディショニン
グ用温度センサにおける高分子系材料の薄膜微細加工に
有利に適用することができる同方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の高分子系薄膜の微細加工における
エッチング加工法を図2によって説明する。この加工法
では、図2の(a)に示すように、基板4上に高分子系
材料を全面に塗布して高分子系薄膜5を形成させた後、
図2の(b)に示すように感光性のあるレジスト薄膜6
を全面に塗布する。次に、図2の(c)に示すように、
所望の加工パターン7が形成されたガラスマスク8を通
して平行紫外線光を照射してから、図2の(d)に示す
ように、レジスト溶解液A10によってレジスト薄膜6
の光のあたった部分だけを溶解する。その後、さらに図
2の(e),(f)に示すように、高分子系薄膜溶解液
及びレジスト溶解液B12に次々と浸漬することによ
り、所望の高分子系薄膜5形状に加工し、浸漬液より取
出し図2の(g)に示すように製品とする。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このように従来のエッ
チング加工法では高分子系薄膜が何度も薬液にさらされ
ることになる。このため電気容量、電気抵抗などの物性
を用いて高分子系薄膜に機能をもたせる場合、ばらつき
や機能低下といった不具合が生じることがあった。
【0004】本発明は上記技術水準に鑑み、高分子系薄
膜を薬液に一度も接触させることがなく、従って従来法
のような不具合を発生させない高分子系薄膜の加工法を
提供しようとするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は基板に高分子系
材料を塗布した後、金属製形板を前記高分子系材料の上
に載せ、その後、前記金属製形板の開放部の高分子系薄
膜をドライエッチングした後、前記金属製形板をとりは
ずすことを特徴とする高分子系薄膜のドライエッチング
加工法である。
【0006】本発明において使用される基板としてはシ
リコンウエハ、ガラス、サファイア、ガリウムヒ素な
ど、高分子系材料としてはポリイミド、ポリプロピレン
など、金属製形板としてはステンレス、クロム合金板な
どがあげられ、またドライエッチング剤としてはO2
ス、CF4 ガスなどがあげられる。
【0007】
【作用】本発明によれば金属製形板をマスクに用いるこ
とで、マスク形成時、高分子系薄膜エッチング時及びマ
スク除去時に薬液にひたす必要がなくなる。
【0008】
【実施例】次に本発明の実施例を図1により説明する。
図1の(a)のように、シリコンウエハの基板1全面に
ポリイミドよりなる高分子系材料2を塗布して高分子系
薄膜2を形成する。次に、図1の(b)のように金属
(ステンレス)製形板3をその上に載せる。さらに図1
の(c)のように、真空度:2×10-2Torr、パワー:
100W、O2 ガス流量:10cc/min の条件下で酸素
などのプラズマ中に入れることによって金属製形板3の
開放部の高分子系薄膜2をエッチングする。最後に、図
1の(d)のように、金属製形板3を取りはずすことに
より所望の形状の高分子系薄膜2を得る。
【0009】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば従来
の高分子系薄膜を薬液に一度も接触させることなく所望
の形状に加工できることにより、薬液の薄膜接触による
電気容量や電気抵抗といった物性的機能のばらつきや機
能低下が避けられるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の方法の工程図
【図2】従来の高分子系薄膜の加工の工程図

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に高分子系材料を塗布した後、金属
    製形板を前記高分子系材料の上に載せ、その後、前記金
    属製形板の開放部の高分子系薄膜をドライエッチングし
    た後、前記金属製形板をとりはずすことを特徴とする高
    分子系薄膜のドライエッチング加工法。
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