JP2023519238A - 第3段階における追加のクラスタ分離を伴う3段階大気圧/真空遷移式質量分析計吸気口 - Google Patents
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- 238000000926 separation method Methods 0.000 title claims abstract description 31
- 230000007704 transition Effects 0.000 title 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract description 304
- 238000013467 fragmentation Methods 0.000 claims abstract description 45
- 238000006062 fragmentation reaction Methods 0.000 claims abstract description 45
- 230000005405 multipole Effects 0.000 claims abstract description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 claims description 11
- 229960003632 minoxidil Drugs 0.000 description 21
- ZFMITUMMTDLWHR-UHFFFAOYSA-N Minoxidil Chemical compound NC1=[N+]([O-])C(N)=CC(N2CCCCC2)=N1 ZFMITUMMTDLWHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 238000004885 tandem mass spectrometry Methods 0.000 description 15
- OROGSEYTTFOCAN-DNJOTXNNSA-N codeine Chemical class C([C@H]1[C@H](N(CC[C@@]112)C)C3)=C[C@H](O)[C@@H]1OC1=C2C3=CC=C1OC OROGSEYTTFOCAN-DNJOTXNNSA-N 0.000 description 13
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- WBWWGRHZICKQGZ-HZAMXZRMSA-N taurocholic acid Chemical compound C([C@H]1C[C@H]2O)[C@H](O)CC[C@]1(C)[C@@H]1[C@@H]2[C@@H]2CC[C@H]([C@@H](CCC(=O)NCCS(O)(=O)=O)C)[C@@]2(C)[C@@H](O)C1 WBWWGRHZICKQGZ-HZAMXZRMSA-N 0.000 description 12
- 238000004895 liquid chromatography mass spectrometry Methods 0.000 description 11
- 229960004125 ketoconazole Drugs 0.000 description 10
- XMAYWYJOQHXEEK-OZXSUGGESA-N (2R,4S)-ketoconazole Chemical compound C1CN(C(=O)C)CCN1C(C=C1)=CC=C1OC[C@@H]1O[C@@](CN2C=NC=C2)(C=2C(=CC(Cl)=CC=2)Cl)OC1 XMAYWYJOQHXEEK-OZXSUGGESA-N 0.000 description 9
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 8
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 7
- VREFGVBLTWBCJP-UHFFFAOYSA-N alprazolam Chemical compound C12=CC(Cl)=CC=C2N2C(C)=NN=C2CN=C1C1=CC=CC=C1 VREFGVBLTWBCJP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229960004538 alprazolam Drugs 0.000 description 6
- 238000011161 development Methods 0.000 description 6
- WBWWGRHZICKQGZ-UHFFFAOYSA-N Taurocholic acid Natural products OC1CC2CC(O)CCC2(C)C2C1C1CCC(C(CCC(=O)NCCS(O)(=O)=O)C)C1(C)C(O)C2 WBWWGRHZICKQGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 5
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 229960004126 codeine Drugs 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- OROGSEYTTFOCAN-UHFFFAOYSA-N hydrocodone Natural products C1C(N(CCC234)C)C2C=CC(O)C3OC2=C4C1=CC=C2OC OROGSEYTTFOCAN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- -1 ketoconazole ions Chemical class 0.000 description 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 2
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 2
- USFZMSVCRYTOJT-UHFFFAOYSA-N Ammonium acetate Chemical compound N.CC(O)=O USFZMSVCRYTOJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005695 Ammonium acetate Substances 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 229940043376 ammonium acetate Drugs 0.000 description 1
- 235000019257 ammonium acetate Nutrition 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 150000005829 chemical entities Chemical class 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000000155 isotopic effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 238000011002 quantification Methods 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 150000003384 small molecules Chemical class 0.000 description 1
- 239000012453 solvate Substances 0.000 description 1
- 238000007614 solvation Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
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- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/062—Ion guides
- H01J49/063—Multipole ion guides, e.g. quadrupoles, hexapoles
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
- H01J49/0045—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
- H01J49/005—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction by collision with gas, e.g. by introducing gas or by accelerating ions with an electric field
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- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
- H01J49/0045—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/022—Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/062—Ion guides
- H01J49/065—Ion guides having stacked electrodes, e.g. ring stack, plate stack
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- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/067—Ion lenses, apertures, skimmers
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- H01J49/02—Details
- H01J49/24—Vacuum systems, e.g. maintaining desired pressures
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Abstract
質量分析計は、オリフィスを有するオリフィスプレートと、オリフィスプレートの下流の第1のチャンバの中の第1の多極イオンガイドと、第1のチャンバの下流の第2のチャンバの中の第2の多極イオンガイドとを備えている。第1のイオンレンズは、第1の多極イオンガイドと第2の多極イオンガイドとの間にある。第3の多極イオンガイドは、第2のチャンバの下流の第3のチャンバの中にあり、第3の多極イオンガイドは、複数のロッドを備えている。第2のイオンレンズは、第2のチャンバと第3のチャンバとの間にある。調整可能DC電圧源は、調整可能DCオフセット電圧をイオンガイドおよびイオンレンズのうち少なくとも1つに印加し、イオンの軸方向運動エネルギーを増加させることによって、クラスタ分離および/または断片化のうち少なくとも1つを引き起こす。
Description
(関連出願)
本願は、参照することによって、全体として本明細書に組み込まれる2020年3月24日に出願され、「Three Stage Atmosphere to Vacuum Mass Spectrometer Inlet with Additional Declustering in the Third Stage」と題された米国仮出願第62/993,965号の優先権を主張する。
本願は、参照することによって、全体として本明細書に組み込まれる2020年3月24日に出願され、「Three Stage Atmosphere to Vacuum Mass Spectrometer Inlet with Additional Declustering in the Third Stage」と題された米国仮出願第62/993,965号の優先権を主張する。
(技術分野)
本教示は、質量分析法のためのシステムおよび方法を対象とし、分光計の少なくとも2つの構成要素間に印加されるDCオフセット電圧が、イオンのクラスタ分離または断片化を促進するために採用される。
本教示は、質量分析法のためのシステムおよび方法を対象とし、分光計の少なくとも2つの構成要素間に印加されるDCオフセット電圧が、イオンのクラスタ分離または断片化を促進するために採用される。
質量分析法(MS)は、定質的および定量的な両用途を伴う検体の元素組成を決定するための分析的技法である。MSは、未知の化合物を同定すること、分子内の要素の同位体組成を決定すること、その断片化を観察することによって特定の化合物の構造を決定すること、および、サンプル内の特定の化合物の量を数値化することを行うために有用であり得る。質量分析計は、イオンとして化学的な実体を検出し、それによって、荷電イオンへの被分析物の変換が、サンプリングプロセス中に起こらなければならない。イオン形成プロセス中、いくつかの付加イオンが、例えば、溶媒和を介して、形成され得る。
質量分析計の吸気口オリフィスと第1の真空レンズ要素(例えば、スキマまたはイオンガイド)との間に印加される電圧が流入イオンおよび溶媒和されたクラスタの内部エネルギーを増加させ、イオンのクラスタ分離または断片化を促進することができることが、公知である。しかしながら、そのようなクラスタ分離および/または断片化の有効性は、オリフィスのサイズが増加するにつれて、減少する。例えば、効果的なクラスタ分離は、より大きなオリフィスのサイズを有するシステムに対して、より大きな電圧オフセットを要求する。
故に、大きなオリフィスのサイズを利用することを可能にし、同時に、質量分析計の中に導入されるイオンの効果的なクラスタ分離および/または断片化を可能にする質量分析法のための改良されたシステムおよび方法に対する必要性がある。
一側面では、質量分析計が開示され、それは、複数のイオンを受け取るためのオリフィスを有するオリフィスプレートと、該オリフィスプレートの下流に位置付けられた第1のチャンバの中に配置された第1の多極イオンガイドと、該第1のチャンバの下流に位置付けられた第2のチャンバの中に配置された第2の多極イオンガイドとを備えている。第1のイオンレンズは、第1の多極イオンガイドと第2の多極イオンガイドとの間に配置される。第3の多極イオンガイドは、第2のチャンバの下流に位置付けられた第3のチャンバの中に位置付けられる。第2のイオンレンズは、第2のチャンバと第3のチャンバとの間に位置付けられる。質量分析計は、該第1、第2、および第3の多極イオンガイドの少なくとも1つ、および/または、該第1および前記第2のイオンレンズのうち少なくとも1つに調整可能DCオフセット電圧を印加し、イオンの軸方向運動エネルギーを増加させ、イオンの少なくとも一部のクラスタ分離および/または断片化のうち少なくとも1つを引き起こすための調整可能DC電圧源をさらに含む。
いくつかの実施形態では、第1、第2、および第3の多極イオンガイドの各々は、それらの間のイオンの通過を可能にするように配置された複数のロッドを備えている。いくつかの実施形態では、第1、第2、および第3の多極イオンガイドの各々は、イオンが通過できる一連の積み重ねられたリングを備えている。
いくつかの実施形態では、調整可能DCオフセット電圧は、第2および第3の多極イオンガイドの膨張区域内でのイオンの軸方向エネルギーを増加させるために印加される。
いくつかの実施形態では、DC電圧は、その断片化を引き起こすことなく、イオン束内に存在する付加イオンの少なくともいくつかのクラスタ分離を引き起こすように構成される。例として、いくつかのそのような実施形態では、印加されるDC電圧は、例えば、約0V~約300Vの範囲、例えば、約10V~約200Vの範囲、例えば、約20V~約140Vの範囲内であり得る。いくつかの実施形態では、印加されるDC電圧は、イオンの軸方向運動エネルギーを増加させ、イオンの少なくとも一部の断片化を引き起こし得る。
いくつかの実施形態では、オリフィスは、少なくとも約0.6mm、例えば、約0.7mm~約3mmの範囲、例えば、約1mm~約1.5mmの範囲内の直径を有する。
いくつかの実施形態では、調整可能電圧源は、0~約300Vの範囲、例えば、約10V~約200Vの範囲、例えば、約20V~約140Vの範囲内で印加される電圧を変動させるように構成される。
いくつかの実施形態では、第1のチャンバは、約5トル~約15トルの範囲内の圧力に維持される。いくつかのそのような実施形態では、第2のチャンバは、約1~約5トルの範囲内の圧力に維持される。さらに、いくつかの実施形態では、第3のチャンバは、約3ミリトル~約12ミリトルの範囲内の圧力に維持される。
いくつかの実施形態では、上記のDCオフセット電圧に加えて、DC浮動電圧が、例えば、約-10V~約10Vの範囲内で(この浮動電圧は、異なる値の範囲でもあり得る。例えば、ToF上では、最大+/-500Vであることもある)、第1、第2、および第3の多極イオンガイドのいずれかに印加されることができる。いくつかの実施形態では、別の電圧源が、これらのイオンガイドにDC浮動電圧を印加するために提供される。
いくつかの実施形態では、質量分析計は、1つ以上の無線周波数(RF)源を含み、RF電圧を該第1、該第2、および該第3の多極ロッドのうち少なくとも1つに印加し、それを通過するイオンを集束させることができる。
様々なイオン源が、複数のイオンを生成するために採用され得る。例として、いくつかの実施形態では、大気圧イオン源が、採用され得る。
関連側面では、質量分析計が、開示され、それは、複数のイオンを受け取るためのオリフィスを有するオリフィスプレートを備え、該オリフィスは、少なくとも約0.6mm、例えば、約0.7mm~約3mmの範囲内の直径を有する。第1の多極イオンガイドは、オリフィスプレートの下流に位置付けられた第1のチャンバの中に配置される。第2の多極イオンガイドは、第1のチャンバの下流に位置付けられた第2のチャンバの中に配置される。第1のイオンレンズは、第1の多極イオンガイドと第2の多極イオンガイドとの間に配置される。第3の多極イオンガイドは、第2のチャンバの下流に位置付けられた第3のチャンバの中に配置される。第2のイオンレンズは、第2のチャンバと第3のチャンバとの間に配置され、調整可能電圧源は、該第2の多数のイオンガイドと該第2のイオンレンズとの間に調整可能DCオフセット電圧オフセットを印加するために提供される。調整可能電圧源は、印加されるDC電圧を調節し、イオンの軸方向運動エネルギーを増加させ、イオンの少なくともいくつかのクラスタ分離および断片化のうち少なくとも1つ(または、両方)を引き起こし得る。
いくつかの実施形態では、第1、第2、および第3のイオンガイドの各々は、それらの間のイオンの通過を可能にするように配置された複数のロッドを含むことができる。ロッドは、とりわけ、四重極、六重極、十二重極等の様々な異なる幾何学形状で配置され得る。
いくつかの実施形態では、第1のチャンバは、約5トル~約15トルの範囲内の圧力に維持され、第2のチャンバは、約1トル~約5トルの範囲内の圧力に維持され、第3のチャンバは、約3ミリトル~約12ミリトルの範囲内の圧力に維持される。
いくつかの実施形態では、調整可能電圧源は、約0~約300Vの範囲内、例えば、約10V~約140Vの範囲内で印加される電圧を変動させるように構成される。
いくつかの実施形態では、多数のイオンガイドの少なくとも1つ、例えば、第2のイオンガイドは、約-200V~約+200Vの範囲、例えば、約-100V~約+100Vの範囲内のDC浮動電圧に維持される。多くの実施形態では、クラスタ分離/断片化が発生する場所の上流に位置付けられる全ての要素は、同じ電圧で、一緒に浮動させられる。いくつかのそのような実施形態では、別の電圧源が、多極イオンガイド、第2のイオンレンズ、またはイオンガイドとレンズとの任意の組み合わせに、調整可能DCオフセット電圧を印加するために提供される。いくつかのそのような実施形態では、調整可能DCオフセット電圧は、イオンの少なくともいくつかの断片化を促進することができる。
いくつかの実施形態では、質量分析計は、1つ以上の無線周波数(RF)源を含み、第1、第2、および第3の多極イオンガイドのうち少なくとも1つにRF電圧を印加し、それらが、イオンガイドを通過すると、イオンを半径方向に閉じ込め、集束させ得る。
多極イオンガイドは、様々な異なる構成で実装されることができる。例として、これらは、四重極、六重極、十二重極構成、または任意の数のロッドを伴う幾何学的形状として、実装され得る。イオンガイドはまた、ロッドではなく、リングを採用することによって、形成され得る。
いくつかの実施形態では、少なくとも1つの無線周波数(RF)源が、第1、第2、および第3の多極イオンガイドのうち少なくとも1つにRF電圧を印加し、それを通過するイオンを集束させる。
関連側面では、質量分析計を使用したサンプルの質量分光分析のための方法が、開示され、分光計は、オリフィスプレートと、該オリフィスプレートの下流に縦一列に配置された3つのチャンバとを備え、イオンガイドは、該チャンバの各々の中に位置付けられ、第1のイオンレンズが、該第1のチャンバと該第2のチャンバとの間に配置され、第2のイオンレンズが、該第2のチャンバと該第3のチャンバとの間に配置される。方法は、サンプルをイオン化し、複数のイオンを形成することと、該オリフィスを通して、複数のイオンを受け取ることと、該3つのチャンバにイオンを通すことと、該イオンガイドおよび/またはイオンレンズの少なくとも1つにDCオフセット電圧を印加し、イオンの少なくともいくつかのクラスタ分離または断片化のうち少なくとも1つを引き起こすこととを含む。いくつかの実施形態では、イオンの少なくともいくつかは、付加イオンであり得る。
いくつかの実施形態では、第1のチャンバ内の圧力は、約5トル~約15トルの範囲に維持され、第2のチャンバ内の圧力は、約1トル~約5トルの範囲に維持され、第3のチャンバ内の圧力は、約3ミリトル~約12ミリトルの範囲に維持される。
本教示の種々の側面のさらなる理解は、関連付けられる図面と併せて、以下の詳細な説明を参照することによって、取得され得、それは、下記に簡潔に説明される。
本開示は、DC電圧(本明細書内では、DCオフセット電圧とも称される)が採用される質量分析のためのシステムおよび方法に関し、DC電圧は、概して、質量分析計に進入するイオンの軸方向運動エネルギーを増加させることによって、イオンの少なくとも一部のクラスタ分離または断片化のうち少なくとも1つを促進することができる電場を生成する。
図1のフロー図は、オリフィスプレートと、オリフィスプレートの下流に縦一列に配置された3つのチャンバとを備えている質量分析計を使用するサンプルの質量分光分析のための方法における種々のステップを示し、イオンガイドが、チャンバの各々の中に位置付けられ、第1のイオンレンズが、第1のチャンバと第2のチャンバとの間に配置され、第2のイオンレンズが、第2のチャンバと第3のチャンバとの間に配置されている。第1のチャンバは、約5トル~約15トルの範囲の圧力に維持され、第2のチャンバは、約1トル~約5トルの範囲の圧力に維持され、第3のチャンバは、約3ミリトル~約12ミリトルの範囲の圧力に維持される。
フロー図に描写されるように、サンプルは、イオン化され、複数のイオンを形成する。いくつかの実施形態では、複数のイオンは、1つ以上の付加イオン(例えば、溶媒和イオン)を含むことができる。イオンは、質量分析計のオリフィスを通して受け取られる。イオンは、3つのチャンバを通して伝送される。さらに、DC電圧、例えば、調整可能DCオフセット電圧は、イオンガイドのうち少なくとも1つおよび/またはイオンレンズのうち少なくとも1つに印加され、第3のチャンバ内で、イオンの少なくともいくつかのクラスタ分離および断片化のうち少なくとも1つを引き起こす。
図2Aおよび図2Bは、実施形態による質量分析計100を概略的に描写し、それは、着目サンプルから複数のイオン24を生成するためのイオン源22を含む。本実施形態では、イオン源は、大気圧イオン源であり得る。イオン24は、多極イオンガイド36が位置付けられている真空チャンバ26(本明細書内では、DJET領域とも称される)に向かって、矢印38によって示される概略の方向に沿って、進行することができる。イオン24は、真空チャンバ26の吸気口28を介して、真空チャンバ26に進入することができる。本実施形態では、カーテンプレート10およびオリフィスプレート12が、吸気口28の前に位置付けられている。カーテンプレート10およびオリフィスプレート12は、オリフィス10a/12aを含み、イオンは、オリフィス10a/12aを通過し、真空チャンバ26に到達し得る。
本実施形態では、オリフィス10a/12aは、流入イオンが、チャンバ26に進入することが可能であるほど十分に大きい。例として、オリフィス10a/12aのいずれも、実質的に、約0.6mm~約10mmの範囲内の直径を伴う円形であり得る。
イオンガイド36は、様々な異なる構成を有することができる。例として、いくつかの実施形態では、イオンガイド36は、四重極ロッド組の形態であり得る一方、他の実施形態では、イオンガイド36は、六重極または十二重極ロッド組の形態であり得る。より一般的に、イオンガイド36は、任意の数のロッドを含むことができる。さらに、いくつかの実施形態では、イオンガイドは、一連の積み重ねられたリングを使用することによって、形成され得る。
真空ポンプ42が、チャンバ26に陰圧を印加し、所望の範囲内で、チャンバ内の圧力を維持することができる。例として、いくつかの実施形態では、チャンバ26内の圧力は、約5トル~約15トルの範囲内であり得る。
電力供給40(本明細書内では、電圧源とも称される)が、イオンガイド36のロッドに無線周波数(RF)電圧を印加し、イオン24がイオンガイド36を通過するとき、イオン24を半径方向に閉じ込め、集束させる。
イオンガイド36の下流に位置付けられたイオンレンズIQ00に配置された開口32は、別の多極イオンガイド56が位置付けられている(本明細書内では、QJET領域とも称される)下流のチャンバ45の中へのチャンバ26からのイオンの通過を可能にする。真空ポンプ42bは、チャンバ45に陰圧を印加し、いくつかの実施形態では、チャンバ45内の圧力が、例えば、約1トル~約5トルの範囲に維持される。
本実施形態では、多極イオンガイド56は、四重極構成を有する一方、他の実施形態では、それは、六重極または十二重極構成等の他の構成を有する。他の実施形態では、それは、任意の数のロッドを備え得るか、または、一連の積み重ねられたリングを使用して形成され得る。
電圧源40、または別の電圧源は、イオンガイド56のロッドにRF電圧を印加し、イオン24がイオンガイド56を通過するとき、イオン24を半径方向に閉じ込め、集束させ得る。イオンレンズIQ0は、チャンバ46からチャンバ45を分離する。イオンレンズIQ0に提供された開口11は、チャンバ46の中へのチャンバ45からのイオン24の通過を可能にする。
真空ポンプ42cが、チャンバ46に陰圧を印加し、例えば、約3~約8ミリトルの範囲にこのチャンバ内の圧力を維持するために含まれ得る。多極イオンガイド60が、チャンバ46内に位置付けられている。電圧源40または別の電圧源は、イオンガイド60のロッドにRF電圧を印加し、イオン24がイオンガイド60を通過するとき、イオン24を半径方向に閉じ込め、集束させ得る。下記により詳細に議論されるように、チャンバ46の上流に位置付けられる1つ以上の構成要素への加速DC電圧の印加は、イオン24の軸方向運動エネルギーを増加させることによって、電圧差が印加される場所に応じてチャンバ45および/またはチャンバ46内で、イオンの少なくとも一部のクラスタ分離または断片化を引き起こし得る。
質量アナライザQ1が、チャンバ46の下流に位置付けられたチャンバ47内に配置されている。真空ポンプ42dは、チャンバ47に陰圧を印加し、5e-5トル未満の圧力に、チャンバ47を維持する。本実施形態では、太くて短いロッド62も、チャンバ47内に位置付けられている。本実施形態では、質量アナライザQ1は、四重極構成で配置された4つのロッドを含むが、他の実施形態では、質量アナライザは、飛行時間(ToF)等の他の構成に従って構成され得る。
他の実施形態において、本明細書に開示されるそれら以外のポンプ構成が採用され得ることが、当業者によって理解されるであろう。例えば、いくつかの実施形態によると、質量分析計の多数の段階を排除するために、単一のポンプが、採用され得る。さらに、いくつかの実施形態では、所与の段階における圧送を排除するために、真空ポンプのうち1つ以上のものが、完全に除外され得る。いくつかの実施形態では、圧送は、多数のポンプを採用することによって、段階のうちの任意のものにおいて達成され得る。例えば、ポンプ42cおよび42dは、粗引きポンプとターボ分子ポンプとの組み合わせを含み得る。全ての質量分析計構成要素が示されているわけではないことも理解されたい。例えば、いくつかの実施形態では、質量アナライザは、イオンを断片化するために、2つの質量分析四重極とそれらの間の衝突セルとを伴う三連四重極システムを備えていることもある。
イオンレンズIQ1がチャンバ46と47との間に配置され、チャンバ46から47の中にイオンが入るとき、イオンを集束させる。本実施形態で採用される他のイオンレンズと同様、イオンレンズIQ1は、金属製プレートとして形成され得、オリフィスが、それを通したイオンの通過を可能にするために、金属製プレートに提供される。他の実施形態では、イオンレンズの任意のものが、オリフィスを有するプレートの積み重ねられた組として、形成され得、オリフィスは、それを通したイオンの通過を可能にするために、実質的に整列させられる。
本実施形態では、DC電圧源50(例えば、調整可能DC電圧源)は、イオンレンズIQ0とQ0イオンガイドのロッドとの間にDC電圧差を印加し、イオンがIQ0レンズに関連付けられたオリフィスを通過し、Q0領域に進入するとき、イオンを加速する。イオンの加速は、それらの軸方向運動エネルギーを増加させ、故に、イオンが、ガス膨張を通してその後のより低い圧力領域内に入るとき、もしある場合、イオンの束内に存在する付加イオンの少なくともいくつかのクラスタ分離、および/またはイオンのうちの少なくともいくつかの断片化を引き起こし得る。本実施形態では、Q0イオンガイドは、約-100V~約+100Vの範囲内の浮動電圧、例えば、本実施形態では、約-10V(例えば、図に示されていない、別の電圧源を使用することによる)に維持される。したがって、DC電圧源50は、Q0電極に印加される電位(これは、本実施形態では、約-10V)を上回る追加のDCオフセット電位を提供する。
例として、DC電圧源50は、イオンレンズIQ0とQ0イオンガイドのロッドとの間に、約0~約300Vの範囲、例えば、約10V~約200Vの範囲、例えば、約20V~約140Vの範囲内で、電圧差を印加することができる。印加されるDC電圧は、存在する場合、イオン束内に存在する付加イオンのクラスタ分離を(イオンの著しい断片化を引き起こすことなく)引き起こすように調節され得る。代替として、印加されるDC電圧は、イオンの少なくともいくつかの断片化を引き起こすように調節され得る。いくつかのそのような実施形態では、付加イオンおよびクラスタの形態ではないイオンのうち少なくともいくつかは、断片化を経験する。いくつかの実施形態では、約0V~約200Vの範囲内で印加されるDC電圧が、付加イオンをクラスタ分離するために採用され得、約0V~約400Vの範囲内で印加されるDC電圧が、イオンの断片化を引き起こすために採用され得る。代替として、バックグラウンド干渉を備えているイオンは、それらがQ0領域内に入るとき、加速され、断片化され、着目化合物に関する信号対雑音比を改良し得る。
下流Q1は、技術的に公知な方法で、断片イオン製品の質量分析を提供することができる。
上で言及されるように、イオンの軸方向運動エネルギーを増加させるために採用される印加されるDC電圧は、Q0領域の上流に位置付けられた質量分析計の種々の構成要素を横断して印加され得る。例として、本教示の別の実施形態では、電圧源50は、QJETイオンガイド(56)のロッドとイオンレンズIQ0との間に、DC電圧差を印加し、イオンがIQ0レンズに接近するとき、QJET領域内のイオンを加速し、それらの軸方向運動エネルギーを増加させ、故に、Q0領域内または上流のQJET領域内でのそれらのクラスタ分離および/または断片化を促進する。例として、前の実施形態と同様、そのような実施形態では、印加されるDC電圧は、約0~約200Vの範囲、例えば、約10V~約140Vの範囲内にあり得る。
以下の例は、本教示の種々の側面さらなる解明のために提供され、本発明の範囲を限定することは意図されない。
(実施例)
(実施例1-クラスタ分離)
図3Aおよび図3Bは、50:50のアセトニトリル:水+pH4.5に調節された5mMの酢酸アンモニウム中に調製されるコデインe-d3のサンプルに関して入手されたクラスタ分離データを示す。プロトン化コデインe-d3イオン(m/z303)に加えて、アセトニトリル付加物を伴うプロトン化コデイン(m/z344)に関して、強度のピークが、観察された。実施例1-5に関して、DCオフセット電圧は、図2Bで示されるように印加され、Q0イオンガイドが、-10Vの浮動電位に維持され、調節可能DCオフセット電位が、DJETイオンガイド、IQ00、QJETイオンガイド、およびIQ0上に印加された。オリフィスおよびカーテンプレート電位は、別個に最適化された。DJET、IQ00、QJET、およびIQ0に印加される実際の電位は、陽イオンモードにおける化合物の分析のために、-10V+DCオフセット電位であった。陰イオンモードでは、浮動電位は、+10Vであり、DJET、IQ00、QJET、およびIQ0に印加される電位は、10V-DCオフセット電位であった。
(実施例1-クラスタ分離)
図3Aおよび図3Bは、50:50のアセトニトリル:水+pH4.5に調節された5mMの酢酸アンモニウム中に調製されるコデインe-d3のサンプルに関して入手されたクラスタ分離データを示す。プロトン化コデインe-d3イオン(m/z303)に加えて、アセトニトリル付加物を伴うプロトン化コデイン(m/z344)に関して、強度のピークが、観察された。実施例1-5に関して、DCオフセット電圧は、図2Bで示されるように印加され、Q0イオンガイドが、-10Vの浮動電位に維持され、調節可能DCオフセット電位が、DJETイオンガイド、IQ00、QJETイオンガイド、およびIQ0上に印加された。オリフィスおよびカーテンプレート電位は、別個に最適化された。DJET、IQ00、QJET、およびIQ0に印加される実際の電位は、陽イオンモードにおける化合物の分析のために、-10V+DCオフセット電位であった。陰イオンモードでは、浮動電位は、+10Vであり、DJET、IQ00、QJET、およびIQ0に印加される電位は、10V-DCオフセット電位であった。
第1の真空段階における十二重極イオンガイド、第2の真空段階における四重極イオンガイド、第3の真空段階における四重極イオンガイドを含む上記に描写されるものと類似する三連四重極質量分析計が、データを取得するために採用された。3つの真空段階における圧力は、6トル、2トル、および6ミリトルであった。最初に、DCオフセット電圧は、0Vに設定され、DJETからQ0領域までの全てのレンズ要素は、同一の電位に維持された。これらの条件の下、追加のイオン加熱は、界面領域内で予期されず、結果として、約29%のコデイン付加物/プロトン化イオン比をもたらした。時間=1分で、DCオフセット電圧は、10Vに増加させられ、DJETからIQ0までの全てのレンズは、0Vに維持された一方、Q0ロッドは、-10Vに維持された。IQ0レンズとQ0との間に印加されるこの小規模オフセット電位は、付加物/プロトン化イオンの新たな比が約10.6%になるような付加物信号の減少(図3A)およびプロトン化コデインe-d3に対応する信号の増加(図3B)から明らかなように、クラスタ分離の発現を引き起こすために十分であった。
20Vまで、DCオフセット電位内のさらなる10Vの増加が、時間=2分で導入され、結果として、プロトン化コデインに対する信号レベルを維持しながら、クラスタイオンの数のさらなる減少をもたらした。クラスタ/プロトン化イオンの最終的な比は、6.8%であった。
したがって、図3Aおよび3Bで提示されるデータは、本明細書で開示されるように、イオンの軸方向運動エネルギーの増加が、非共有クラスタ化相互作用を妨害し、信号/クラスタイオン集団の比を改良し得ることを示す。
(実施例2-低m/zを伴うイオンの断片化)
上で言及されるように、本明細書に開示されるようなオフセットDC電圧は、イオンの断片化のためにも使用され得る。ミノキシジルは、小分子であり、MS/MS機器内における断片化が比較的容易である。図4A-4Fは、(実施例1で提示されるデータの収集のために使用される質量分析計と同じ)三連四重極質量分析計の衝突セルにおけるミノキシジルに関して入手されたMS/MSデータを示し、図4C-4Kは、IQ0レンズとQ0ロッドとの間で、DJET構成において、DCオフセット電圧を増加させ、Q0領域内に通過するイオンを活性化することによって入手される断片化データを示す。
上で言及されるように、本明細書に開示されるようなオフセットDC電圧は、イオンの断片化のためにも使用され得る。ミノキシジルは、小分子であり、MS/MS機器内における断片化が比較的容易である。図4A-4Fは、(実施例1で提示されるデータの収集のために使用される質量分析計と同じ)三連四重極質量分析計の衝突セルにおけるミノキシジルに関して入手されたMS/MSデータを示し、図4C-4Kは、IQ0レンズとQ0ロッドとの間で、DJET構成において、DCオフセット電圧を増加させ、Q0領域内に通過するイオンを活性化することによって入手される断片化データを示す。
図4A、図4B、図4C、図4D、図4E、および図4Fを参照すると、ミノキシジルが、三連四重極質量分析計のq2衝突セル内で容易に断片化される。図4Aは、分光計のQ3領域内で測定されるミノキシジルイオンに関する信号を示す。5から10eVまで衝突エネルギーを増加させると、ミノキシジル親イオンに関する信号の若干の増加を引き起こす。10eVより高い衝突エネルギーを伴って、ミノキシジルの著しい断片化は、親イオン信号の減少から明らかなように、35eVまたはそれよりも高いイオンエネルギーにおいて、任意の親イオン信号の本質的に完全な排除を伴って、発生する。
図4B-4Fは、衝突エネルギーの増加に伴う5つの異なるミノキシジル娘イオンに関する質量信号を示す。最高m/z娘イオン(m/z193)の場合、その発現および最適なイオンエネルギーの各々は、10eVおよび20eVであった。より低い質量の娘イオンは、予想されるように、より高いイオンエネルギー設定を伴って、生成された。逆に、図4Gは、フロントエンド(IQ0レンズからQ0イオンガイドまでのDCオフセット電圧)DCオフセット電圧が、0Vから140Vまで増加させられるときのミノキシジル親イオンを示す。ミノキシジルの断片化の発現は、約70Vで、DCオフセット電圧を用いて現れ、娘イオンに関する最大信号は、80-110VのDCオフセット電圧を用いて測定された。図4H、図4I、図4J、および図4Kは、親イオンの信号低減と同時に、4つの異なるミノキシジル娘イオンに関する信号の発現を示す。
上記の図4A-4Kで提示されるデータは、本教示が、MS/MS質量分析計内の解離のために低衝突エネルギーを要求するもの等、イオンの断片化を引き起こすことにおいて有効であることを示す。
(実施例3-中程度のm/zを伴うイオンの断片化)
図5A/5Bは、衝突エネルギーを増加させ、Q2領域を通過するイオンを活性化することによって、三連四重極質量分析計の衝突セル内のケトコナゾールに関して入手されるMS/MS断片化データを示す。図5Aは、ケトコナゾールの断片化が、40eVまたはそれより高いイオンエネルギーを要求することを示す。図5Bは、2つの異なるケトコナゾール娘イオン、すなわち、489.3および82.2のm/zを伴う娘イオンに関する信号を示す。m/z489.3およびm/z82.2に対する発現イオンエネルギーの各々は、30eVおよび40eVであった。
図5A/5Bは、衝突エネルギーを増加させ、Q2領域を通過するイオンを活性化することによって、三連四重極質量分析計の衝突セル内のケトコナゾールに関して入手されるMS/MS断片化データを示す。図5Aは、ケトコナゾールの断片化が、40eVまたはそれより高いイオンエネルギーを要求することを示す。図5Bは、2つの異なるケトコナゾール娘イオン、すなわち、489.3および82.2のm/zを伴う娘イオンに関する信号を示す。m/z489.3およびm/z82.2に対する発現イオンエネルギーの各々は、30eVおよび40eVであった。
図5C/5Dは、DCオフセット電圧が、本教示に従って、IQ0レンズとQ0との間に印加されたときのケトコナゾールに関する断片化データを示す。ケトコナゾールの断片化に対する発現は、約40V DCオフセット電圧であり、親イオン信号は、90Vを上回る電圧値を用いて、本質的に排除された。2つの娘イオンに関連付けられた信号の増加と同時に起こる親イオン信号の排除が、この化合物に対して監視された。最大娘イオン信号は、約40~110Vの印加されるDCオフセット電圧を用いて、観察された。
(実施例4-解離するために高内部エネルギーを要求するイオンの断片化)
図6Aおよび図6Bは、それぞれ、三連四重極質量分析計の衝突セル内のタウロコール酸に関して入手されるMS/MSデータ、およびIQ0レンズとQ0イオンガイドとの間の電位差を増加させ、Q0領域の中に通過するイオンを活性化することによって入手される断片化データを示す。Q0領域は、約7mトルの圧力に維持された。
図6Aおよび図6Bは、それぞれ、三連四重極質量分析計の衝突セル内のタウロコール酸に関して入手されるMS/MSデータ、およびIQ0レンズとQ0イオンガイドとの間の電位差を増加させ、Q0領域の中に通過するイオンを活性化することによって入手される断片化データを示す。Q0領域は、約7mトルの圧力に維持された。
図6Aを参照すると、タウロコール酸の断片化に対する発現は、黒トレースの信号低減から明らかなように、約60eVで発生する。灰色トレースは、非常に低いm/z娘イオン(m/z=80)に関する信号を示し、閾値および最適な衝突エネルギーの各々は、60eVおよび130eVであった。本明細書に開示される方法を使用したm/z80娘イオンの生成の発現は、100V DCオフセット電圧を用いて観察される最大娘イオン信号を伴って、80V(図6B)であった。DCオフセット電圧が、140Vまで増加させられると、親イオン信号の約2倍の低減が、タウロコール酸に対して観察された。MS/MSデータと同様、m/z80娘イオンは、実質的な内部エネルギーに生成することを要求する。
(実施例5-LC/MSに関する信号対雑音(S/N)比を改良するためのクラスタ分離)
液体クロマトグラフィ質量分光分析(LC/MS)実験が、1pg/μLのタウロコール酸のサンプルを用いて行われた。データは、図7A-7Dに提示される。LC/MS実験は、2.1mmのLCカラム(C18)を使用して、500μL/分の流量で行われた。全てのパラメータは、0V~140Vの間で印加されるDCオフセット電圧が、様々なレベルのクラスタ分離を提供するように調節されたことを除いて、図7A-7Dのデータに対して一定に維持された。DCオフセット電圧設定は、0V(図8A)、50V(図8B)、65V(図8C)、および90V(図7D)であった。
液体クロマトグラフィ質量分光分析(LC/MS)実験が、1pg/μLのタウロコール酸のサンプルを用いて行われた。データは、図7A-7Dに提示される。LC/MS実験は、2.1mmのLCカラム(C18)を使用して、500μL/分の流量で行われた。全てのパラメータは、0V~140Vの間で印加されるDCオフセット電圧が、様々なレベルのクラスタ分離を提供するように調節されたことを除いて、図7A-7Dのデータに対して一定に維持された。DCオフセット電圧設定は、0V(図8A)、50V(図8B)、65V(図8C)、および90V(図7D)であった。
DCオフセット電圧が、0Vに設定されたとき、脱プロトン化タウロコール酸に関するピーク高は、75,000cpsであり、バックグラウンド連続体は、比較的高く、結果として、67.5というS/N比をもたらした。DCオフセット電圧は、次いで、図7Bに示されるように、50Vに増加させられた。DCオフセット電圧が、50Vに設定されたとき、脱プロトン化タウロコール酸の強度に及ぼす有意な影響はなかった。(すなわち、ピーク高は、0V DCオフセット電圧を用いて測定された値の2%以内であった。)しかしながら、バックグラウンド連続体のレベルにおける実質的な低下があり、結果として、251.1というS/N比をもたらした。これらのデータは、改良されたクラスタ分離が、この化合物に対する検出性における実質的な改良を提供し得ることを示す。DCオフセット電圧は、図7Cに示されるように、65Vにさらに増加させられた。65VのDCオフセット電圧で、親イオンピークのいくつかの断片化が現れた。ピーク強度は、約34%低下した。しかしながら、バックグラウンドは、より大きな差で減少し、結果として、さらに改良されたS/N比もたらした。最後に、印加されるDCオフセット電圧は、図7Dに示されるように、90Vに増加させられ、脱プロトン化タウロコール酸イオンのより多くの断片化を誘発した。これらの条件の下、ピーク強度は、13倍を超えて低下し、結果として、41という芳しくないS/N比をもたらした。
図7A-7Dに提示されるデータは、イオンの軸方向運動エネルギーの増加を引き起こすDCオフセット電圧を制御することによって、S/N比における追加の改良が、達成され得ることを実証する。下記の表1に示されるように、このアプローチは、0Vまたは65Vのいずれかに設定されるDCオフセット電圧を用いて行われる反復的LC/MS分析に関して、再現可能な結果をもたらす。本教示によるクラスタ分離アプローチの使用は、S/N比において、約3.8倍の平均的な改良をもたらした。
(実施例6-LC/MSに関する干渉ピークを低減/除去するための断片化)
実施例6において提示されるデータに関して、図2C示されるように、DCオフセット電位が印加され、IQ0およびQ0イオンガイドは、-10Vの浮動電圧に維持された。DCオフセット電圧は、DJETイオンガイド、IQ00、およびQJETイオンガイドに印加され、カーテンプレートおよびオリフィスプレート電位は、別個に最適化された。DJETイオンガイド、IQ00、およびQJETイオンガイドに印加された実際の電位は、-10V+DCオフセット電圧であった。液体クロマトグラフィ質量分光分析(LC/MS)実験が、QJETとIQ0レンズとの間で、異なるDCオフセット電圧オフセットで、アルプラゾラムのサンプルを用いて、行われた。この場合、DCオフセット電圧は、QJETイオンガイドを伴うチャンバの後ろに印加され、軸方向エネルギーを増加させた。本実施形態の場合、DCオフセット電圧の大きさは、DCオフセット電圧がIQ0とQ0との間に印加された前の実施形態と比較して、増加させる必要があり得る。DCオフセット電圧は、DJET、IQ00、およびQJETに印加された。オリフィス電位は、別個に制御され、イオンの分析のためのDJETよりもさらに陽電位で維持された。データは、図8A-8Cに描写される。クロマトグラムにおいて網掛けされたピークは、アルプラゾラムである一方、星印を伴うピークは、干渉である。QJETとIQ0との間にDCオフセットが存在しない場合(図8A)、干渉ピークは、アルプラゾラムよりかなり大きく、異なるクロマトグラフ条件下では、それは、アルプラゾラムピークと重なり、その定量限界に負の影響を及ぼし得る。図8Bおよび図8Cは、QJETとIQ0との間に、それぞれ、45Vおよび50V DCオフセット電位を印加することの影響を示す。これらの条件の下、干渉ピークは、事実上除去され、アルプラゾラムの良好な定量に対するリスクは、もはや存在しない。
実施例6において提示されるデータに関して、図2C示されるように、DCオフセット電位が印加され、IQ0およびQ0イオンガイドは、-10Vの浮動電圧に維持された。DCオフセット電圧は、DJETイオンガイド、IQ00、およびQJETイオンガイドに印加され、カーテンプレートおよびオリフィスプレート電位は、別個に最適化された。DJETイオンガイド、IQ00、およびQJETイオンガイドに印加された実際の電位は、-10V+DCオフセット電圧であった。液体クロマトグラフィ質量分光分析(LC/MS)実験が、QJETとIQ0レンズとの間で、異なるDCオフセット電圧オフセットで、アルプラゾラムのサンプルを用いて、行われた。この場合、DCオフセット電圧は、QJETイオンガイドを伴うチャンバの後ろに印加され、軸方向エネルギーを増加させた。本実施形態の場合、DCオフセット電圧の大きさは、DCオフセット電圧がIQ0とQ0との間に印加された前の実施形態と比較して、増加させる必要があり得る。DCオフセット電圧は、DJET、IQ00、およびQJETに印加された。オリフィス電位は、別個に制御され、イオンの分析のためのDJETよりもさらに陽電位で維持された。データは、図8A-8Cに描写される。クロマトグラムにおいて網掛けされたピークは、アルプラゾラムである一方、星印を伴うピークは、干渉である。QJETとIQ0との間にDCオフセットが存在しない場合(図8A)、干渉ピークは、アルプラゾラムよりかなり大きく、異なるクロマトグラフ条件下では、それは、アルプラゾラムピークと重なり、その定量限界に負の影響を及ぼし得る。図8Bおよび図8Cは、QJETとIQ0との間に、それぞれ、45Vおよび50V DCオフセット電位を印加することの影響を示す。これらの条件の下、干渉ピークは、事実上除去され、アルプラゾラムの良好な定量に対するリスクは、もはや存在しない。
本教示は、QJETとIQ0の間、およびIQ0とQ0との間で電位オフセットを使用したクラスタ分離および断片化を実証した。Q0領域内にイオンの軸方向エネルギーを増加させる任意の手段が、本明細書で議論されるように、クラスタ分離および断片化を達成し得ることは、本教示を考慮して、当業者にとって明らかであろう。例えば、イオンの軸方向運動エネルギーの増加は、システムの様々な構成要素間で、DCオフセット電位を使用することによって、達成されることができる。
当業者は、種々の変更が、本発明の範囲から逸脱することなく、上記の実施形態に対して行われ得ることを理解するであろう。
Claims (20)
- 質量分析計であって、前記質量分析計は、
複数のイオンを受け取るためのオリフィスを有するオリフィスプレートと、
前記オリフィスプレートの下流に位置付けられた第1のチャンバの中に配置された第1の多極イオンガイドと、
前記第1のチャンバの下流に位置付けられた第2のチャンバの中に配置された第2の多極イオンガイドと、
前記第1の多極イオンガイドと第2の多極イオンガイドとの間に配置された第1のイオンレンズと、
前記第2のチャンバの下流に位置付けられた第3のチャンバの中に配置された第3の多極イオンガイドであって、前記第3の多極イオンガイドは、複数のロッドを備え、前記複数のロッドは、それらの間のイオンの通過を可能にするように配置されている、第3の多極イオンガイドと、
前記第2のチャンバと第3のチャンバとの間に配置された第2のイオンレンズと、
前記第1の多極イオンガイド、前記第2の多極イオンガイド、前記第3の多極イオンガイド、前記第1のイオンレンズ、および前記第2のイオンレンズのうち少なくとも1つに調整可能DCオフセット電圧を印加するための調整可能DC電圧源と
を備え、
前記調整可能DCオフセット電圧を印加することは、前記イオンの軸方向運動エネルギーを増加させ、前記イオンの少なくとも一部のクラスタ分離および断片化のうち少なくとも1つを引き起こす、質量分析計。 - 前記調整可能DCオフセット電圧は、前記第2または第3の多極イオンガイドのガス膨張区域内で前記イオンの軸方向運動エネルギーを増加させるために印加される、請求項1に記載の質量分析計。
- 前記オリフィスの直径は、少なくとも約0.6mmである、請求項1に記載の質量分析計。
- 前記調整可能電圧源は、約0~約300Vの範囲内で、前記印加されるDCオフセット電圧を変動させるように構成され、
随意に、前記調整可能電圧源は、約0~約200Vの範囲内で、前記印加されるDCオフセット電圧を変動させるように構成されている、請求項1に記載の質量分析計。 - 前記第1のチャンバは、約5トル~約15トルの範囲内の圧力に維持されている、請求項1に記載の質量分析計。
- 前記第2のチャンバは、約1トル~約5トルの範囲内の圧力に維持されている、請求項5に記載の質量分析計。
- 前記第3のチャンバは、約3ミリトル~約12ミリトルの範囲内の圧力に維持されている、請求項6に記載の質量分析計。
- 前記第1、前記第2、および前記第3の多極イオンガイドのいずれかは、約-500V~約500Vの範囲内のDC浮動電圧に維持されている、請求項1に記載の質量分析計。
- 前記第1の多極イオンガイド、前記第2の多極イオンガイド、前記第3の多極イオンガイド、前記第1および第2のイオンレンズのうちいずれかに前記調整可能DCオフセット電圧を印加するための別の電圧源をさらに備えている、請求項8に記載の質量分析計。
- 1つ以上の無線周波数(RF)源をさらに備え、前記1つ以上のRF源は、前記第1、前記第2、および前記第3の多極イオンガイドを通過するイオンを集束させるために、それらのうち少なくとも1つにRF電圧を印加する、請求項1に記載の質量分析計。
- 前記第1、前記第2、および前記第3の多極イオンガイドのうち少なくとも1つの前記ロッドは、四重極、六重極、および十二重極構成のいずれかで配置され、
随意に、前記第1、第2、および第3の多極イオンガイドの各々は、前記イオンが通過することができる一連の積み重ねられたリングを備えている、請求項1に記載の質量分析計。 - 複数のイオンを生成するためのイオン源をさらに備え、
随意に、前記イオン源は、大気圧イオン源を備えている、請求項1に記載の質量分析計。 - 質量分析計を使用したサンプルの質量分光分析の方法であって、前記質量分析計は、オリフィスプレートと、前記オリフィスプレートの下流に縦一列に配置された3つのチャンバとを備え、イオンガイドが、前記チャンバの各々の中に位置付けられ、第1のイオンレンズが、前記第1のチャンバと前記第2のチャンバとの間に配置され、第2のイオンレンズが、前記第2のチャンバと前記第3のチャンバとの間に配置され、前記方法は、
前記サンプルをイオン化し、複数のイオンを形成することと、
前記オリフィスを通して前記イオンを受け取ることと、
前記イオンを前記3つのチャンバに通すことと、
DCオフセット電圧を使用し、前記イオンの軸方向運動エネルギーを増加させることによって、前記イオンの少なくともいくつかのクラスタ分離および断片化のうち少なくとも1つを引き起こすことと
を含む、方法。 - 前記DCオフセット電圧は、前記第2のイオンレンズと前記第3のチャンバとの間に印加される、請求項13に記載の方法。
- 前記DCオフセット電圧は、前記第2のイオンガイドと前記第2のイオンレンズとの間に印加される、請求項13に記載の方法。
- 前記DCオフセット電圧は、約0~約200Vの範囲内である、請求項13に記載の方法。
- 前記イオンは、少なくとも付加イオンを備えている、請求項13に記載の方法。
- 約5トル~約15トルの範囲内の圧力で、前記第1のチャンバを維持することをさらに含む、請求項13に記載の方法。
- 約1トル~約5トルの範囲内の圧力で、前記第2のチャンバを維持することをさらに含む、請求項13に記載の方法。
- 約3ミリトル~約12ミリトルの範囲内の圧力で、前記第3のチャンバを維持することをさらに備えている、請求項13に記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US202062993965P | 2020-03-24 | 2020-03-24 | |
US62/993,965 | 2020-03-24 | ||
PCT/IB2021/052326 WO2021191758A1 (en) | 2020-03-24 | 2021-03-19 | Three stage atmosphere to vacuum mass spectrometer inlet with additional declustering in the third stage |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023519238A true JP2023519238A (ja) | 2023-05-10 |
Family
ID=75223359
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022557745A Pending JP2023519238A (ja) | 2020-03-24 | 2021-03-19 | 第3段階における追加のクラスタ分離を伴う3段階大気圧/真空遷移式質量分析計吸気口 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20230118135A1 (ja) |
EP (1) | EP4128316A1 (ja) |
JP (1) | JP2023519238A (ja) |
CN (1) | CN115315777A (ja) |
WO (1) | WO2021191758A1 (ja) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5432343A (en) * | 1993-06-03 | 1995-07-11 | Gulcicek; Erol E. | Ion focusing lensing system for a mass spectrometer interfaced to an atmospheric pressure ion source |
WO2003094197A1 (en) * | 2002-04-29 | 2003-11-13 | Mds Inc., Doing Business As Mds Sciex | Broad ion fragmentation coverage in mass spectrometry by varying the collision energy |
US8507850B2 (en) * | 2007-05-31 | 2013-08-13 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Multipole ion guide interface for reduced background noise in mass spectrometry |
JP5673848B2 (ja) * | 2011-10-20 | 2015-02-18 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
-
2021
- 2021-03-19 CN CN202180024250.7A patent/CN115315777A/zh active Pending
- 2021-03-19 US US17/913,499 patent/US20230118135A1/en active Pending
- 2021-03-19 EP EP21714411.2A patent/EP4128316A1/en active Pending
- 2021-03-19 JP JP2022557745A patent/JP2023519238A/ja active Pending
- 2021-03-19 WO PCT/IB2021/052326 patent/WO2021191758A1/en unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP4128316A1 (en) | 2023-02-08 |
WO2021191758A1 (en) | 2021-09-30 |
CN115315777A (zh) | 2022-11-08 |
US20230118135A1 (en) | 2023-04-20 |
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