JP2023179192A - X-ray ct apparatus, control method of x-ray tube rotor, and program - Google Patents

Abstract

To suppress unnecessary rotation of an X-ray tube rotor.SOLUTION: An X-ray CT apparatus of an embodiment includes an X-ray tube, an acquisition unit, and a rotation control unit. The X-ray tube includes a rotor. The acquisition unit acquires a scan plan including information regarding an exposure timing of an X-ray by the X-ray tube. The rotation control unit controls rotation speed of the rotor on the basis of the scan plan.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本明細書及び図面に開示の実施形態は、Ｘ線ＣＴ装置、Ｘ線管ロータの制御方法、及びプログラムに関する。 Embodiments disclosed in this specification and drawings relate to an X-ray CT apparatus, an X-ray tube rotor control method, and a program.

Ｘ線ＣＴ（Computed Tomography）装置におけるＸ線管は、陽極や陰極、陽極を回転させるＸ線管ロータを備える。Ｘ線管ロータの回転の減速や停止は、例えば、オペレータの手動指示に基づいて行われる。このため、オペレータの判断により、Ｘ線の曝射が行われておらず、Ｘ線管ロータの回転が必要でないときにＸ線管ロータを回転させてしまうことがある。 An X-ray tube in an X-ray CT (Computed Tomography) device includes an anode, a cathode, and an X-ray tube rotor that rotates the anode. The rotation of the X-ray tube rotor is slowed down or stopped, for example, based on manual instructions from an operator. Therefore, depending on the operator's judgment, the X-ray tube rotor may be rotated when X-ray exposure is not being performed and rotation of the X-ray tube rotor is not necessary.

Ｘ線管の曝射が行われていないときには、例えば、次回Ｘ線曝射の前の架台や寝台の動作（架台のチルト動作、寝台の左右上下動作など）、またはインジェクタ、大腸注入器、心電同期、呼吸同期などの撮影プランなどが選択されることがある。この場合、次回Ｘ線ばく射までにある程度時間が見込まれ、Ｘ線管ロータの回転による騒音やＸ線管ベアリングの寿命に悪影響への悪影響に繋がる。 When X-ray tube exposure is not being performed, for example, the movement of the pedestal or bed before the next X-ray exposure (tilting of the pedestal, left/right/up/down movement of the bed, etc.), or the injector, colon injector, cardiac An imaging plan such as electrical synchronization or respiratory synchronization may be selected. In this case, a certain amount of time is expected until the next X-ray exposure, which leads to noise due to the rotation of the X-ray tube rotor and an adverse effect on the life of the X-ray tube bearing.

特開２０１６－１４０４２９号公報Japanese Patent Application Publication No. 2016-140429

本明細書及び図面に開示の実施形態が解決しようとする課題は、Ｘ線管ロータの不要な回転を抑制することである。ただし、本明細書及び図面に開示の実施形態により解決しようとする課題は上記課題に限られない。後述する実施形態に示す各構成による各効果に対応する課題を他の課題として位置づけることもできる。 The problem to be solved by the embodiments disclosed in this specification and the drawings is to suppress unnecessary rotation of the X-ray tube rotor. However, the problems to be solved by the embodiments disclosed in this specification and the drawings are not limited to the above problems. Problems corresponding to the effects of each configuration shown in the embodiments described later can also be positioned as other problems.

実施形態のＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線管と、取得部と、回転制御部と、を持つ。Ｘ線管は、ロータを有する。取得部は、前記Ｘ線管によるＸ線の曝射タイミングに関する情報を含むスキャンプランを取得する。回転制御部は、前記スキャンプランに基づいて、前記ロータの回転数を制御する。 The X-ray CT apparatus of the embodiment includes an X-ray tube, an acquisition section, and a rotation control section. The X-ray tube has a rotor. The acquisition unit acquires a scan plan including information regarding the timing of X-ray exposure by the X-ray tube. The rotation control unit controls the rotation speed of the rotor based on the scan plan.

第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置１の構成の一例を示す図。FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of an X-ray CT apparatus 1 according to a first embodiment. Ｘ線制御装置７０の構成の一例を示す図。A diagram showing an example of the configuration of an X-ray control device 70. 第１の実施形態のＸ線制御装置７０の処理の一例を示すフローチャート。5 is a flowchart showing an example of processing of the X-ray control device 70 of the first embodiment. 第１加減速時間及び第２加減速時間を説明する図。FIG. 4 is a diagram illustrating a first acceleration/deceleration time and a second acceleration/deceleration time. Ｘ線管ロータ及び架台の回転速度の時間変化を示すグラフ。3 is a graph showing changes over time in the rotational speed of an X-ray tube rotor and a pedestal. 第１の実施形態のＸ線制御装置７０の処理の一例を示すフローチャート。5 is a flowchart showing an example of processing of the X-ray control device 70 of the first embodiment. 寝台の移動段階を説明する図。FIG.

以下、図面を参照しながら、実施形態のＸ線ＣＴ装置、Ｘ線管ロータの制御方法、及びプログラムについて説明する。 Hereinafter, an X-ray CT apparatus, an X-ray tube rotor control method, and a program according to an embodiment will be described with reference to the drawings.

（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置１の構成の一例を示す図である。Ｘ線ＣＴ装置１は、例えば、架台装置１０と、寝台装置３０と、コンソール装置４０と、を有する。図１では、説明の都合上、架台装置１０をＺ軸方向から見た図とＸ軸方向から見た図の双方を掲載しているが、実際には、架台装置１０は一つである。第１の実施形態では、非チルト状態での回転フレーム１７の回転軸または寝台装置３０の天板３３の長手方向をＺ軸方向、Ｚ軸方向に直交し、床面に対して水平である軸をＸ軸方向、Ｚ軸方向に直交し、床面に対して垂直である方向をＹ軸方向とそれぞれ定義する。 (First embodiment)
FIG. 1 is a diagram showing an example of the configuration of an X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment. The X-ray CT apparatus 1 includes, for example, a gantry device 10, a bed device 30, and a console device 40. In FIG. 1, for convenience of explanation, both a view of the gantry apparatus 10 as viewed from the Z-axis direction and a view as seen from the X-axis direction are shown, but in reality, there is only one gantry apparatus 10. In the first embodiment, the rotation axis of the rotation frame 17 in a non-tilted state or the longitudinal direction of the top plate 33 of the bed device 30 is set in the Z-axis direction, an axis perpendicular to the Z-axis direction and horizontal to the floor surface. is perpendicular to the X-axis direction and the Z-axis direction, and the direction perpendicular to the floor surface is defined as the Y-axis direction.

架台装置１０は、例えば、Ｘ線管１１と、ウェッジ１２と、コリメータ１３と、Ｘ線高電圧装置１４と、Ｘ線検出器１５と、データ収集システム（以下、ＤＡＳ：Data Acquisition System）１６と、回転フレーム１７と、制御装置１８とを有する。 The gantry device 10 includes, for example, an X-ray tube 11, a wedge 12, a collimator 13, an X-ray high voltage device 14, an X-ray detector 15, and a data acquisition system (hereinafter referred to as DAS) 16. , a rotating frame 17, and a control device 18.

Ｘ線管１１は、例えば、陰極（フィラメント）１１Ａと、陽極（ターゲット）１１Ｂと、陽極を回転させるＸ線管ロータ１１Ｃと、を備える。Ｘ線管１１は、Ｘ線高電圧装置１４からの高電圧の印加により、陰極１１Ａから陽極１１Ｂに向けて熱電子を照射する。陽極１１Ｂは、Ｘ線管ロータ１１Ｃにより回転させられているため、陽極１１Ｂに熱電子が照射されることでＸ線が発生する。Ｘ線管１１は、真空管を含む。Ｘ線管１１は、回転する陽極１１Ｂに熱電子を照射することでＸ線を発生させる回転陽極型のＸ線管である。 The X-ray tube 11 includes, for example, a cathode (filament) 11A, an anode (target) 11B, and an X-ray tube rotor 11C that rotates the anode. The X-ray tube 11 irradiates thermoelectrons from the cathode 11A toward the anode 11B by applying a high voltage from the X-ray high voltage device 14. Since the anode 11B is rotated by the X-ray tube rotor 11C, X-rays are generated by irradiating the anode 11B with thermoelectrons. X-ray tube 11 includes a vacuum tube. The X-ray tube 11 is a rotating anode type X-ray tube that generates X-rays by irradiating a rotating anode 11B with thermoelectrons.

ウェッジ１２は、Ｘ線管１１から画像診断の対象となる被検体Ｐに照射されるＸ線量を調節するためのフィルタである。ウェッジ１２は、Ｘ線管１１から被検体Ｐに照射されるＸ線量の分布が予め定められた分布になるように、自身を透過するＸ線を減衰させる。ウェッジ１２は、ウェッジフィルタ（wedge filter）、ボウタイフィルタ（bow-tie filter）とも呼ばれる。ウェッジ１２は、例えば、所定のターゲット角度や所定の厚みとなるようにアルミニウムを加工したものである。 The wedge 12 is a filter for adjusting the amount of X-rays irradiated from the X-ray tube 11 to the subject P who is the subject of image diagnosis. The wedge 12 attenuates the X-rays that pass through it so that the distribution of the amount of X-rays irradiated from the X-ray tube 11 to the subject P becomes a predetermined distribution. The wedge 12 is also called a wedge filter or a bow-tie filter. The wedge 12 is, for example, made of aluminum processed to have a predetermined target angle and a predetermined thickness.

コリメータ１３は、ウェッジ１２を透過したＸ線の照射範囲を絞り込むための機構である。コリメータ１３は、例えば、複数の鉛板の組み合わせによってスリットを形成することで、Ｘ線の照射範囲を絞り込む。コリメータ１３は、Ｘ線絞りと呼ばれる場合もある。コリメータ１３の絞り込み範囲は、機械的に駆動可能であってよい。 The collimator 13 is a mechanism for narrowing down the irradiation range of the X-rays that have passed through the wedge 12. The collimator 13 narrows down the irradiation range of X-rays by forming a slit using a combination of a plurality of lead plates, for example. The collimator 13 is sometimes called an X-ray diaphragm. The narrowing range of the collimator 13 may be mechanically drivable.

Ｘ線高電圧装置１４は、例えば、高電圧発生装置６０と、Ｘ線制御装置７０とを有する。高電圧発生装置６０は、変圧器（トランス）および整流器などを含む電気回路を有し、Ｘ線管１１に印加する高電圧を発生させる。Ｘ線制御装置７０は、Ｘ線管１１に発生させるＸ線量に応じて高電圧発生装置６０の出力電圧を制御する。 The X-ray high voltage device 14 includes, for example, a high voltage generator 60 and an X-ray control device 70. The high voltage generator 60 has an electric circuit including a transformer, a rectifier, and the like, and generates a high voltage to be applied to the X-ray tube 11. The X-ray control device 70 controls the output voltage of the high voltage generator 60 according to the amount of X-rays generated in the X-ray tube 11 .

高電圧発生装置６０は、上述した変圧器によって昇圧を行うものであってもよいし、インバータによって昇圧を行うものであってもよい。Ｘ線高電圧装置１４は、回転フレーム１７に設けられてもよいし、架台装置１０の固定フレーム（不図示）の側に設けられてもよい。 The high voltage generator 60 may be one that boosts the voltage using the above-mentioned transformer, or may boost the voltage using an inverter. The X-ray high voltage device 14 may be provided on the rotating frame 17 or may be provided on the fixed frame (not shown) side of the gantry device 10.

Ｘ線制御装置７０は、主に、高電圧発生装置６０とＸ線管ロータ１１Ｃとを制御する。図２は、Ｘ線制御装置７０の構成の一例を示す図である。Ｘ線制御装置７０は、例えば、通信インターフェース７１と、メモリ７２と、処理回路８０と、を備える。通信インターフェース７１は、例えば、ＬＡＮなどのネットワークや通信線を介して制御装置１８やコンソール装置４０などと通信する。 The X-ray control device 70 mainly controls the high voltage generator 60 and the X-ray tube rotor 11C. FIG. 2 is a diagram showing an example of the configuration of the X-ray control device 70. The X-ray control device 70 includes, for example, a communication interface 71, a memory 72, and a processing circuit 80. The communication interface 71 communicates with the control device 18, the console device 40, etc. via a network such as a LAN or a communication line, for example.

メモリ７２は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子等により実現される。メモリ７２は、例えば、コンソール装置４０により送信され、通信インターフェース７１により受信されたスキャンプランを格納する。 The memory 72 is realized by, for example, a semiconductor memory element such as a RAM (Random Access Memory) or a flash memory. Memory 72 stores scan plans transmitted by console device 40 and received by communication interface 71, for example.

処理回路８０は、例えば、取得機能８１と、制御機能８２と、を備える。処理回路８０は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）などのプロセッサを有する処理回路と、モータやアクチュエータなどを含む駆動機構とを有する。処理回路８０は、例えば、ハードウェアプロセッサ、例えばＣＰＵがメモリ７２（記憶回路）に記憶されたプログラムを実行することにより、これらの機能を実現するものである。 The processing circuit 80 includes, for example, an acquisition function 81 and a control function 82. The processing circuit 80 includes, for example, a processing circuit including a processor such as a CPU (Central Processing Unit), and a drive mechanism including a motor, an actuator, and the like. The processing circuit 80 realizes these functions by, for example, a hardware processor such as a CPU executing a program stored in the memory 72 (storage circuit).

処理回路８０における取得機能８１は、例えば、通信インターフェース７１により受信されたスキャンプラン取得する。取得機能７１は、取得したスキャンプランをメモリ７２に格納する。スキャンプランは、例えば、病院内における病院情報システム（Hospital Information System：以下、ＨＩＳ）によりＸ線ＣＴ装置１のコンソール装置４０に提供され、コンソール装置４０を介してＸ線制御装置７０に提供される。 The acquisition function 81 in the processing circuit 80 acquires a scan plan received by the communication interface 71, for example. The acquisition function 71 stores the acquired scan plan in the memory 72. The scan plan is provided, for example, to the console device 40 of the X-ray CT apparatus 1 by a hospital information system (hereinafter referred to as HIS) in a hospital, and is provided to the X-ray control device 70 via the console device 40. .

制御機能８２は、例えば、電圧制御機能８３と、回転制御機能８４と、を備える。電圧制御機能８３は、メモリ７２に格納されたスキャンプランなどに基づき、高電圧発生装置６０の出力電圧を制御する。回転制御機能８４は、メモリ７２に格納されたスキャンプランなどに基づき、Ｘ線管１１におけるＸ線管ロータ１１Ｃの回転を制御する。処理回路８０の機能は、制御装置１８やコンソール装置４０に設けられていてもよい。 The control function 82 includes, for example, a voltage control function 83 and a rotation control function 84. The voltage control function 83 controls the output voltage of the high voltage generator 60 based on the scan plan stored in the memory 72 and the like. The rotation control function 84 controls the rotation of the X-ray tube rotor 11C in the X-ray tube 11 based on the scan plan stored in the memory 72 and the like. The function of the processing circuit 80 may be provided in the control device 18 or the console device 40.

回転制御機能８４は、メモリ７２に格納されたスキャンプランなどに基づき、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転速度（回転数）を制御する。回転制御機能８４は、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転速度を、複数の速度、例えば、曝射時速度と、複数の待機時速度と、に制御可能である。 The rotation control function 84 controls the rotation speed (number of rotations) of the X-ray tube rotor 11C based on the scan plan stored in the memory 72 and the like. The rotation control function 84 can control the rotational speed of the X-ray tube rotor 11C to a plurality of speeds, for example, an exposure speed and a plurality of standby speeds.

曝射時速度は、Ｘ線管１１によりＸ線が曝射されるタイミング（以下、曝射タイミング）におけるＸ線管ロータ１１Ｃの回転速度である。待機時速度は、曝射タイミング以外の期間（タイミング）であり、複数の曝射タイミングの間のＸ線の曝射が休止されている期間（以下、曝射休止期間）におけるＸ線管ロータ１１Ｃの回転速度であり、曝射時速度よりも遅い速度である。回転制御機能８４は、例えば、曝射休止期間の長さに基づいて、第２回転数を調整する。回転制御機能８４は、回転制御部の一例である。曝射時速度は、第１回転数の一例である。待機時速度は、第２回転数の一例である。 The speed at the time of exposure is the rotational speed of the X-ray tube rotor 11C at the timing at which X-rays are emitted by the X-ray tube 11 (hereinafter referred to as exposure timing). The standby speed is a period (timing) other than the exposure timing, and is the speed of the X-ray tube rotor 11C during a period in which X-ray exposure is paused between multiple exposure timings (hereinafter referred to as an exposure pause period). The rotational speed is slower than the speed at the time of exposure. The rotation control function 84 adjusts the second rotation speed, for example, based on the length of the exposure pause period. The rotation control function 84 is an example of a rotation control section. The speed at the time of exposure is an example of the first rotation speed. The standby speed is an example of the second rotation speed.

図１に戻り、Ｘ線検出器１５は、Ｘ線管１１が発生させ、被検体Ｐを通過して入射したＸ線の強度を検出する。Ｘ線検出器１５は、検出したＸ線の強度に応じた電気信号（光信号などでもよい）をＤＡＳ１６に出力する。Ｘ線検出器１５は、例えば、複数のＸ線検出素子列を有する。複数のＸ線検出素子列のそれぞれは、Ｘ線管１１の焦点を中心とした円弧に沿ってチャネル方向に複数のＸ線検出素子が配列されたものである。複数のＸ線検出素子列は、スライス方向（列方向、ｒｏｗ方向）に配列される。 Returning to FIG. 1, the X-ray detector 15 detects the intensity of the X-rays generated by the X-ray tube 11 and incident upon passing through the subject P. The X-ray detector 15 outputs to the DAS 16 an electrical signal (an optical signal or the like) corresponding to the intensity of the detected X-rays. The X-ray detector 15 has, for example, a plurality of X-ray detection element rows. Each of the plurality of X-ray detection element rows has a plurality of X-ray detection elements arranged in the channel direction along an arc centered on the focal point of the X-ray tube 11. The plurality of X-ray detection element rows are arranged in the slice direction (column direction, row direction).

Ｘ線検出器１５は、例えば、グリッドと、シンチレータアレイと、光センサアレイとを有する間接型の検出器である。シンチレータアレイは、複数のシンチレータを有する。それぞれのシンチレータは、シンチレータ結晶を有する。シンチレータ結晶は、入射するＸ線の強度に応じた光量の光を発する。グリッドは、シンチレータアレイのＸ線が入射する面に配置され、散乱Ｘ線を吸収する機能を有するＸ線遮蔽板を有する。なお、グリッドは、コリメータ（一次元コリメータまたは二次元コリメータ）と呼ばれる場合もある。光センサアレイは、例えば、光電子増倍管（フォトマルチプライヤー：ＰＭＴ）等の光センサを有する。光センサアレイは、シンチレータにより発せられる光の光量に応じた電気信号を出力する。Ｘ線検出器１５は、入射したＸ線を電気信号に変換する半導体素子を有する直接変換型の検出器であってもよい。 The X-ray detector 15 is, for example, an indirect detector having a grid, a scintillator array, and a photosensor array. A scintillator array has multiple scintillators. Each scintillator has a scintillator crystal. A scintillator crystal emits light in an amount corresponding to the intensity of incident X-rays. The grid is disposed on the surface of the scintillator array on which X-rays are incident, and has an X-ray shielding plate that has a function of absorbing scattered X-rays. Note that the grid is sometimes called a collimator (one-dimensional collimator or two-dimensional collimator). The optical sensor array includes optical sensors such as photomultiplier tubes (PMTs), for example. The optical sensor array outputs an electrical signal according to the amount of light emitted by the scintillator. The X-ray detector 15 may be a direct conversion type detector having a semiconductor element that converts incident X-rays into electrical signals.

ＤＡＳ１６は、例えば、増幅器と、積分器と、Ａ／Ｄ変換器とを有する。増幅器は、Ｘ線検出器１５の各Ｘ線検出素子により出力される電気信号に対して増幅処理を行う。積分器は、増幅処理が行われた電気信号をビュー期間に亘って積分する。Ａ／Ｄ変換器は、積分結果を示す電気信号をデジタル信号に変換する。ＤＡＳ１６は、デジタル信号に基づく検出データをコンソール装置４０に出力する。 The DAS 16 includes, for example, an amplifier, an integrator, and an A/D converter. The amplifier performs amplification processing on the electrical signals output by each X-ray detection element of the X-ray detector 15. The integrator integrates the amplified electrical signal over the view period. The A/D converter converts the electrical signal representing the integration result into a digital signal. DAS 16 outputs detection data based on digital signals to console device 40 .

回転フレーム１７は、Ｘ線管１１、ウェッジ１２、およびコリメータ１３と、Ｘ線検出器１５とを対向支持する。回転フレーム１７は、中央に円形の開口が形成された円形の両側面と、両側面の内側円同士を繋ぐ内側面と、両側面の外側円同士を繋ぐ外側面と、を備える円環状の部材である。回転フレーム１７の両側面は平面であり、内側面及び外側面は曲面である。 The rotating frame 17 supports the X-ray tube 11, the wedge 12, the collimator 13, and the X-ray detector 15 so as to face each other. The rotating frame 17 is an annular member having both circular side surfaces with a circular opening formed in the center, an inner surface connecting inner circles on both side surfaces, and an outer surface connecting outer circles on both side surfaces. It is. Both side surfaces of the rotating frame 17 are flat, and the inner and outer surfaces are curved.

回転フレーム１７は、Ｘ線管１１、ウェッジ１２、およびコリメータ１３と、Ｘ線検出器１５とを対向支持する円環状の部材である。回転フレーム１７は、不図示の固定フレームによって、内部に導入された被検体Ｐを中心として回転自在に支持される。回転フレーム１７は、更にＤＡＳ１６を支持する。ＤＡＳ１６が出力する検出データは、回転フレーム１７に設けられた発光ダイオード（ＬＥＤ）を有する送信機から、光通信によって、架台装置１０の非回転部分（例えば固定フレーム）に設けられたフォトダイオードを有する受信機に送信され、受信機によってコンソール装置４０に転送される。なお、回転フレーム１７から非回転部分への検出データの送信方法として、前述の光通信を用いた方法に限らず、非接触型の任意の送信方法を採用してよい。回転フレーム１７は、Ｘ線管１１などを支持して回転させることができるものであれば、円環状の部材に限らず、アームのような部材であってもよい。 The rotating frame 17 is an annular member that supports the X-ray tube 11, the wedge 12, the collimator 13, and the X-ray detector 15 so as to face each other. The rotating frame 17 is rotatably supported by a fixed frame (not shown) around the subject P introduced therein. The rotating frame 17 further supports the DAS 16. The detection data outputted by the DAS 16 is transmitted via optical communication from a transmitter having a light emitting diode (LED) provided in the rotating frame 17 to a photodiode provided in a non-rotating portion (for example, a fixed frame) of the gantry device 10. It is transmitted to the receiver and transferred by the receiver to the console device 40. Note that the method for transmitting detection data from the rotating frame 17 to the non-rotating portion is not limited to the method using optical communication described above, and any contactless transmission method may be employed. The rotating frame 17 is not limited to an annular member, but may be an arm-like member as long as it can support and rotate the X-ray tube 11 and the like.

Ｘ線ＣＴ装置１は、例えば、Ｘ線管１１とＸ線検出器１５の双方が回転フレーム１７によって支持されて被検体Ｐの周囲を回転するＲｏｔａｔｅ／Ｒｏｔａｔｅ－ＴｙｐｅのＸ線ＣＴ装置（第３世代ＣＴ）であるが、これに限らず、円環状に配列された複数のＸ線検出素子が固定フレームに固定され、Ｘ線管１１が被検体Ｐの周囲を回転するＳｔａｔｉｏｎａｒｙ／Ｒｏｔａｔｅ－ＴｙｐeのＸ線ＣＴ装置（第４世代ＣＴ）であってもよい。 The X-ray CT apparatus 1 is, for example, a Rotate/Rotate-Type X-ray CT apparatus (a third generation CT), but is not limited to this, and is not limited to Stationary/Rotate-Type, in which a plurality of X-ray detection elements arranged in an annular shape are fixed to a fixed frame, and the X-ray tube 11 rotates around the subject P. It may also be an X-ray CT device (4th generation CT).

制御装置１８は、例えば、ＣＰＵなどのプロセッサを有する処理回路と、モータやアクチュエータなどを含む駆動機構とを有する。処理回路は、例えば、ハードウェアプロセッサが記憶装置（記憶回路）に記憶されたプログラムを実行することにより、これらの機能を実現するものである。 The control device 18 includes, for example, a processing circuit including a processor such as a CPU, and a drive mechanism including a motor, an actuator, and the like. The processing circuit realizes these functions by, for example, a hardware processor executing a program stored in a storage device (storage circuit).

ハードウェアプロセッサとは、例えば、ＣＰＵ、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit; ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device; ＳＰＬＤ）または複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device; ＣＰＬＤ）、フィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array; ＦＰＧＡ）などの回路（circuitry）を意味する。記憶装置にプログラムを記憶させる代わりに、ハードウェアプロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むように構成しても構わない。この場合、ハードウェアプロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。ハードウェアプロセッサは、単一の回路として構成されるものに限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのハードウェアプロセッサとして構成され、各機能を実現するようにしてもよい。記憶装置は、非一時的（ハードウェアの）記憶媒体でもよい。また、複数の構成要素を１つのハードウェアプロセッサに統合して各機能を実現するようにしてもよい。 A hardware processor is, for example, a CPU, a GPU (Graphics Processing Unit), an Application Specific Integrated Circuit (ASIC), a programmable logic device (for example, a Simple Programmable Logic Device (SPLD), or Refers to circuits such as Complex Programmable Logic Devices (CPLDs) and Field Programmable Gate Arrays (FPGAs).Instead of storing programs in storage devices, hardware processor circuits A hardware processor may be configured to directly incorporate a program into the circuit. In this case, the hardware processor achieves its functions by reading and executing the program embedded within the circuit. It is not limited to the configuration, but it may be configured as a single hardware processor by combining multiple independent circuits to realize each function.The storage device is a non-temporary (hardware) storage medium. Alternatively, multiple components may be integrated into one hardware processor to implement each function.

制御装置１８は、例えば、回転フレーム１７を回転させたり、架台装置１０の架台をチルトさせたり、寝台装置３０の天板３３を上下動動作などで移動させたり、Ｘ線管１１からＸ線を放射（曝射）させたりする。制御装置１８は、架台装置１０に設けられてもよいし、コンソール装置４０に設けられてもよい。 For example, the control device 18 rotates the rotating frame 17, tilts the pedestal of the gantry device 10, moves the top plate 33 of the bed device 30 by vertical movement, and controls X-rays from the X-ray tube 11. To radiate (exposure). The control device 18 may be provided on the gantry device 10 or may be provided on the console device 40.

寝台装置３０は、スキャン対象となる被検体Ｐを搭乗させて移動させ、架台装置１０の回転フレーム１７の内部に導入する装置である。寝台装置３０は、例えば、基台３１と、寝台上下動装置３２と、天板３３と、支持フレーム３４と、を備える。基台３１は、支持フレーム３４を鉛直方向（Ｙ軸方向）に移動可能に支持する筐体を含む。 The bed device 30 is a device on which a subject P to be scanned is mounted, moved, and introduced into the rotating frame 17 of the gantry device 10 . The bed device 30 includes, for example, a base 31, a bed vertical movement device 32, a top plate 33, and a support frame 34. The base 31 includes a housing that supports the support frame 34 movably in the vertical direction (Y-axis direction).

寝台装置３０は、例えば、天板３３が架台装置１０から引き出されて下降した状態で被検体Ｐを搭乗させる。寝台装置３０は、被検体Ｐを搭乗させた後、天板３３を上昇させ、さらに、架台装置１０の方向に移動させて被検体Ｐを架台装置１０の内部に導入する。架台装置１０は、天板３３に搭載された被検体Ｐの周囲を回転可能である。 The bed device 30 allows the subject P to board the bed device 30, for example, with the top plate 33 pulled out from the gantry device 10 and lowered. After the subject P is placed on the bed device 30 , the top plate 33 is raised and further moved toward the gantry device 10 to introduce the subject P into the gantry device 10 . The gantry device 10 can rotate around the subject P mounted on the top plate 33.

寝台装置３０は、天板３３に被検体Ｐを搭載し、曝射位置から離れた待機位置まで移動可能とされている。待機位置は、１か所でもよいし複数個所でもよい。曝射位置は、被検体ＰにＸ線管１１によるＸ線を曝射する架台装置１０の内側の位置である。寝台装置３０は、寝台の一例である。 The bed device 30 mounts the subject P on the top plate 33 and is movable from the exposure position to a standby position. The standby position may be one or multiple locations. The exposure position is a position inside the gantry device 10 where the subject P is exposed to X-rays from the X-ray tube 11. The bed device 30 is an example of a bed.

コンソール装置４０は、例えば、メモリ４１と、ディスプレイ４２と、入力インターフェース４３と、通信インターフェース４４と、処理回路５０とを有する。第１の実施形態では、コンソール装置４０は架台装置１０とは別体として説明するが、架台装置１０にコンソール装置４０の各構成要素の一部または全部が含まれてもよい。 The console device 40 includes, for example, a memory 41, a display 42, an input interface 43, a communication interface 44, and a processing circuit 50. In the first embodiment, the console device 40 is described as being separate from the gantry device 10, but the gantry device 10 may include some or all of the components of the console device 40.

メモリ４１は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等により実現される。メモリ４１は、例えば、検出データや投影データ、再構成画像データ、ＣＴ画像データ等を記憶する。これらのデータは、メモリ４１ではなく（或いはメモリ４１に加えて）、Ｘ線ＣＴ装置１が通信可能な外部メモリに記憶されてもよい。外部メモリは、例えば、外部メモリを管理するクラウドサーバが読み書きの要求を受け付けることで、クラウドサーバによって制御されるものである。メモリ４１は、例えば、Ｘ線ＣＴ装置１により患者をスキャンする際のスケジュールを示すスキャンプランを記憶する。 The memory 41 is realized by, for example, a RAM (Random Access Memory), a semiconductor memory element such as a flash memory, a hard disk, an optical disk, or the like. The memory 41 stores, for example, detection data, projection data, reconstructed image data, CT image data, and the like. These data may be stored not in the memory 41 (or in addition to the memory 41) but in an external memory with which the X-ray CT apparatus 1 can communicate. The external memory is controlled by a cloud server, for example, when the cloud server that manages the external memory accepts read/write requests. The memory 41 stores, for example, a scan plan indicating a schedule for scanning a patient with the X-ray CT apparatus 1.

ディスプレイ４２は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ４２は、処理回路５０によって生成された医用画像（ＣＴ画像）や、医師や技師などの操作者による各種操作を受け付けるＧＵＩ（Graphical User Interface）画像等を表示する。ディスプレイ４２は、例えば、液晶ディスプレイやＣＲＴ（Cathode Ray Tube）、有機ＥＬ（Electroluminescence）ディスプレイ等である。ディスプレイ４２は、架台装置１０に設けられてもよい。ディスプレイ４２は、デスクトップ型でもよいし、コンソール装置４０の本体部と無線通信可能な表示装置（例えばタブレット端末）でもよい。 The display 42 displays various information. For example, the display 42 displays a medical image (CT image) generated by the processing circuit 50, a GUI (Graphical User Interface) image, etc. that accepts various operations by an operator such as a doctor or a technician. The display 42 is, for example, a liquid crystal display, a CRT (Cathode Ray Tube), an organic EL (Electroluminescence) display, or the like. The display 42 may be provided on the gantry device 10. The display 42 may be of a desktop type, or may be a display device (for example, a tablet terminal) that can communicate wirelessly with the main body of the console device 40.

入力インターフェース４３は、操作者による各種の入力操作を受け付け、受け付けた入力操作の内容を示す電気信号を処理回路５０に出力する。例えば、入力インターフェース４３は、検出データまたは投影データを収集する際の収集条件、ＣＴ画像を再構成する際の再構成条件、ＣＴ画像から後処理画像を生成する際の画像処理条件などの入力操作を受け付ける。 The input interface 43 accepts various input operations by an operator, and outputs an electrical signal indicating the content of the received input operation to the processing circuit 50. For example, the input interface 43 allows input operations such as acquisition conditions when collecting detection data or projection data, reconstruction conditions when reconstructing a CT image, and image processing conditions when generating a post-processed image from a CT image. accept.

入力インターフェース４３は、例えば、マウスやキーボード、タッチパネル、ドラッグボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、ダイヤル、カメラ、赤外線センサ、マイク等により実現される。入力インターフェース４３は、コンソール装置４０の本体部と無線通信可能な表示装置（例えばタブレット端末）により実現されてもよい。 The input interface 43 is realized by, for example, a mouse, keyboard, touch panel, drag ball, switch, button, joystick, dial, camera, infrared sensor, microphone, or the like. The input interface 43 may be realized by a display device (for example, a tablet terminal) that can communicate wirelessly with the main body of the console device 40.

なお、本明細書において入力インターフェースはマウス、キーボードなどの物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、装置とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェースの例に含まれる。 Note that in this specification, the input interface is not limited to one that includes physical operation components such as a mouse and a keyboard. For example, examples of the input interface include an electrical signal processing circuit that receives an electrical signal corresponding to an input operation from an external input device provided separately from the device and outputs this electrical signal to a control circuit.

通信インターフェース４４は、例えば、ＬＡＮなどのネットワークや通信線を介して制御装置１８やＸ線制御装置７０などと通信する。 The communication interface 44 communicates with the control device 18, the X-ray control device 70, etc. via a network such as a LAN or a communication line, for example.

処理回路５０は、Ｘ線ＣＴ装置１の全体の動作を制御する。処理回路５０は、例えば、制御機能５１と、前処理機能５２と、再構成処理機能５３と、画像処理機能５４とを備える。処理回路５０は、例えば、ハードウェアプロセッサが記憶装置（記憶回路）に記憶されたプログラムを実行することにより、これらの機能を実現するものである。 The processing circuit 50 controls the overall operation of the X-ray CT apparatus 1. The processing circuit 50 includes, for example, a control function 51, a preprocessing function 52, a reconstruction processing function 53, and an image processing function 54. The processing circuit 50 realizes these functions by, for example, a hardware processor executing a program stored in a storage device (storage circuit).

ハードウェアプロセッサとは、例えば、ＣＰＵ、ＧＰＵ、特定用途向け集積回路、プログラマブル論理デバイスまたは複合プログラマブル論理デバイス、フィールドプログラマブルゲートアレイなどの回路を意味する。記憶装置にプログラムを記憶させる代わりに、ハードウェアプロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むように構成しても構わない。ハードウェアプロセッサは、単一の回路として構成されるものに限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのハードウェアプロセッサとして構成され、各機能を実現するようにしてもよい。記憶装置は、非一時的（ハードウェアの）記憶媒体でもよい。また、複数の構成要素を１つのハードウェアプロセッサに統合して各機能を実現するようにしてもよい。 By hardware processor is meant a circuit such as, for example, a CPU, a GPU, an application specific integrated circuit, a programmable logic device or composite programmable logic device, a field programmable gate array, and the like. Instead of storing the program in the storage device, the program may be directly incorporated into the circuit of the hardware processor. The hardware processor is not limited to being configured as a single circuit, but may be configured as one hardware processor by combining a plurality of independent circuits to realize each function. The storage device may be a non-transitory (hardware) storage medium. Further, a plurality of components may be integrated into one hardware processor to realize each function.

コンソール装置４０または処理回路５０が有する各構成要素は、分散化されて複数のハードウェアにより実現されてもよい。処理回路５０は、コンソール装置４０が有する構成ではなく、コンソール装置４０と通信可能な処理装置によって実現されてもよい。処理装置は、例えば、一つのＸ線ＣＴ装置と接続されたワークステーション、或いは、複数のＸ線ＣＴ装置に接続され、以下に説明する処理回路５０と同等の処理を一括して実行する装置（例えばクラウドサーバ）である。処理回路５０に含まれる各機能は、複数の回路に分散されていてもよいし、メモリ４１に記憶されたアプリケーションソフトを起動させることで利用可能となるようにしてもよい。 Each component included in the console device 40 or the processing circuit 50 may be distributed and realized by a plurality of pieces of hardware. The processing circuit 50 may be realized by a processing device that can communicate with the console device 40 instead of the configuration that the console device 40 has. The processing device is, for example, a workstation connected to one X-ray CT device, or a device that is connected to multiple X-ray CT devices and collectively executes the same processing as the processing circuit 50 described below. For example, a cloud server). Each function included in the processing circuit 50 may be distributed among a plurality of circuits, or may be made available by activating application software stored in the memory 41.

制御機能５１は、入力インターフェース４３が受け付けた入力操作に基づいて、処理回路５０の各種機能を制御する。例えば、制御機能５１は、Ｘ線高電圧装置１４、ＤＡＳ１６、制御装置１８および寝台上下動装置３２を制御することで、架台装置１０における検出データの収集処理等を実行する。 The control function 51 controls various functions of the processing circuit 50 based on input operations received by the input interface 43. For example, the control function 51 executes processing for collecting detection data in the gantry device 10 by controlling the X-ray high voltage device 14, the DAS 16, the control device 18, and the bed vertical movement device 32.

前処理機能５２は、ＤＡＳ１６により出力された検出データに対して対数変換処理やオフセット補正処理、チャネル間の感度補正処理、ビームハードニング補正等の前処理を行い、投影データを生成し、生成した投影データをメモリ４１に記憶させる。 The preprocessing function 52 performs preprocessing such as logarithmic conversion processing, offset correction processing, sensitivity correction processing between channels, and beam hardening correction on the detection data output by the DAS 16 to generate projection data. The projection data is stored in the memory 41.

再構成処理機能５３は、前処理機能５２によって生成された投影データに対して、フィルタ補正逆投影法や逐次近似再構成法等による再構成処理を行って、ＣＴ画像データを生成し、生成したＣＴ画像データをメモリ４１に記憶させる。ＣＴ画像は、Ｘ線検出器１５の検出結果に基づく画像である。ＣＴ画像は、原画像の一例である。 The reconstruction processing function 53 performs reconstruction processing on the projection data generated by the preprocessing function 52 using a filtered back projection method, a successive approximation reconstruction method, etc., to generate CT image data. The CT image data is stored in the memory 41. The CT image is an image based on the detection results of the X-ray detector 15. A CT image is an example of an original image.

画像処理機能５４は、入力インターフェース４３が受け付けた入力操作に基づいて、ＣＴ画像データを公知の方法により、三次元画像データや任意断面の断面画像データに変換する。三次元画像データへの変換は、前処理機能５２によって行われてもよい。画像処理機能５４は、例えば、再構成処理機能５３により生成されたＣＴ画像における複数の断面に相当する断面画像を複数生成する。 The image processing function 54 converts the CT image data into three-dimensional image data or cross-sectional image data of an arbitrary cross section using a known method based on the input operation received by the input interface 43. Conversion to three-dimensional image data may be performed by a preprocessing function 52. The image processing function 54 generates, for example, a plurality of cross-sectional images corresponding to a plurality of cross-sections in the CT image generated by the reconstruction processing function 53.

次に、第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置１におけるＸ線制御装置７０の処理について説明する。図３は、第１の実施形態のＸ線制御装置７０の処理の一例を示すフローチャートである。ここでは、Ｘ線ＣＴ装置１がスキャンプランに従って動作する際のＸ線制御装置７０の例について説明する。 Next, the processing of the X-ray control device 70 in the X-ray CT apparatus 1 of the first embodiment will be explained. FIG. 3 is a flowchart showing an example of processing of the X-ray control device 70 of the first embodiment. Here, an example of the X-ray control device 70 when the X-ray CT apparatus 1 operates according to a scan plan will be described.

Ｘ線ＣＴ装置１が動作を開始すると、Ｘ線制御装置７０は、取得機能８１により、ＨＩＳからコンソール装置４０を介して提供されるスキャンプランを取得する（ステップＳ１０１）。スキャンプランは、コンソール装置４０を介して制御装置１８にも提供され、制御装置１８は、スキャンプランに従って架台装置１０や寝台装置３０を制御する。 When the X-ray CT device 1 starts operating, the X-ray control device 70 uses the acquisition function 81 to acquire a scan plan provided from the HIS via the console device 40 (step S101). The scan plan is also provided to the control device 18 via the console device 40, and the control device 18 controls the gantry device 10 and the bed device 30 according to the scan plan.

続いて、Ｘ線制御装置７０は、Ｘ線管１１におけるＸ線管ロータ１１Ｃ及び高電圧発生装置６０を起動させる（ステップＳ１０３）。続いて、Ｘ線制御装置７０は、スキャンプランに従ってＸ線管ロータ１１Ｃ及び高電圧発生装置６０を制御して、Ｘ線管１１にＸ線を曝射させる。曝射タイミング及び曝射休止期間は、それぞれスキャンプランにより定められる。 Subsequently, the X-ray control device 70 activates the X-ray tube rotor 11C in the X-ray tube 11 and the high voltage generator 60 (step S103). Subsequently, the X-ray control device 70 controls the X-ray tube rotor 11C and the high voltage generator 60 according to the scan plan to cause the X-ray tube 11 to irradiate X-rays. The exposure timing and the exposure pause period are each determined by the scan plan.

曝射休止期間は、例えば、熱容量の制約によるスキャンの待ち時間、造影剤スキャンをする際のスキャン間の休止時間を含む。スキャンの待ち時間は、スキャンプランに含まれる、例えば、インジェクタ、大腸注入器、心電同期、呼吸同期などの撮影プランに応じて決定されてよい。 The exposure pause period includes, for example, a scan waiting time due to heat capacity constraints and a pause time between scans when performing a contrast agent scan. The scan waiting time may be determined depending on the imaging plan included in the scan plan, such as, for example, injector, colon injector, electrocardiogram synchronization, and respiratory synchronization.

続いて、回転制御機能８４は、曝射休止期間が第１加減速時間または第２加減速時間を超えるか否かにより、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転速度を決定する。ここで、第１加減速時間及び第２加減速時間について説明する。図４は、第１加減速時間及び第２加減速時間を説明する図である。 Subsequently, the rotation control function 84 determines the rotation speed of the X-ray tube rotor 11C depending on whether the exposure pause period exceeds the first acceleration/deceleration time or the second acceleration/deceleration time. Here, the first acceleration/deceleration time and the second acceleration/deceleration time will be explained. FIG. 4 is a diagram illustrating the first acceleration/deceleration time and the second acceleration/deceleration time.

Ｘ線管ロータ１１Ｃは、回転制御機能８４の制御により、停止（速度＝０）した状態から加速されて、待機時速度で回転する状態となり、さらに加速されて、曝射時速度で回転する状態となる。また、曝射時速度から減速されて待機時速度で回転する状態となり、さらに減速されて停止する。 Under the control of the rotation control function 84, the X-ray tube rotor 11C is accelerated from a stopped state (speed = 0) to a state where it rotates at the standby speed, and is further accelerated to a state where it rotates at the exposure speed. becomes. Further, the speed is decelerated from the speed during exposure and rotates at the speed during standby, and the speed is further decelerated and stopped.

第１加減速時間は、第１加速時間ｔ１と第１減速時間ｔ’１を加算した時間である。第１加速時間ｔ１は、Ｘ線管ロータ１１Ｃが待機時速度で回転する状態から加速して曝射時速度で回転する状態となるまでに要する時間である。第１減速時間ｔ’１は、Ｘ線管ロータ１１Ｃが曝射時速度で回転する状態から減速して待機時速度で回転する状態となるまでに要する時間である。 The first acceleration/deceleration time is the sum of the first acceleration time t1 and the first deceleration time t'1. The first acceleration time t1 is the time required for the X-ray tube rotor 11C to accelerate from rotating at the standby speed to rotating at the exposure speed. The first deceleration time t'1 is the time required for the X-ray tube rotor 11C to decelerate from rotating at the exposure speed to rotating at the standby speed.

第２加減速時間は、第２加速時間ｔ２と第２減速時間ｔ’２を加算した時間である。第２加速時間ｔ２は、Ｘ線管ロータ１１Ｃが停止して状態から加速して曝射時速度で回転する状態となるまでに要する時間である。第２減速時間ｔ’２は、Ｘ線管ロータ１１Ｃが曝射時速度で回転する状態から減速して停止するまでに要する時間である。 The second acceleration/deceleration time is the sum of the second acceleration time t2 and the second deceleration time t'2. The second acceleration time t2 is the time required for the X-ray tube rotor 11C to accelerate from a stopped state to a state where it rotates at the exposure speed. The second deceleration time t'2 is the time required for the X-ray tube rotor 11C to decelerate and stop from rotating at the exposure speed.

続いて、回転制御機能８４は、曝射休止期間であるか否かを判定する（ステップＳ１０５）。曝射休止期間でないと判定した場合、回転制御機能８４は、処理をステップＳ１１５に進める。曝射休止期間であると判定した場合、回転制御機能８４は、スキャンプランを参照して、曝射休止期間が第２加減速時間を超えるか否かを判定する（ステップＳ１０７）。 Subsequently, the rotation control function 84 determines whether or not it is an exposure pause period (step S105). If it is determined that it is not the exposure pause period, the rotation control function 84 advances the process to step S115. If it is determined that it is the exposure pause period, the rotation control function 84 refers to the scan plan and determines whether the exposure pause period exceeds the second acceleration/deceleration time (step S107).

曝射休止期間が第２加減速時間を超えると判定した場合、回転制御機能８４は、曝射時回転速度で回転中のＸ線管ロータ１１Ｃを停止させる（ステップＳ１０９）。曝射休止期間が第２加減速時間を超えていない（第２加減速時間以下である）と判定した場合、回転制御機能８４は、曝射休止期間が第１加減速時間を超えるか否かを判定する（ステップＳ１１１）。曝射休止期間が第１加減速時間を超えると判定した場合、回転制御機能８４は、曝射時回転速度で回転中のＸ線管ロータ１１Ｃを待機時速度まで減速させる（ステップＳ１１３）。曝射休止期間が第１加減速時間を超えていない（第１加減速時間以下である）と判定した場合、回転制御機能８４は、ステップＳ１１３をスキップしてステップＳ１１５に進む。 If it is determined that the exposure pause period exceeds the second acceleration/deceleration time, the rotation control function 84 stops the X-ray tube rotor 11C, which is rotating at the rotational speed during exposure (step S109). If it is determined that the exposure pause period does not exceed the second acceleration/deceleration time (it is less than or equal to the second acceleration/deceleration time), the rotation control function 84 determines whether the exposure pause period exceeds the first acceleration/deceleration time. is determined (step S111). If it is determined that the exposure pause period exceeds the first acceleration/deceleration time, the rotation control function 84 decelerates the X-ray tube rotor 11C, which is rotating at the exposure rotation speed, to the standby speed (step S113). If it is determined that the exposure pause period does not exceed the first acceleration/deceleration time (it is less than or equal to the first acceleration/deceleration time), the rotation control function 84 skips step S113 and proceeds to step S115.

続いて、回転制御機能８４は、スキャンプランを参照して、Ｘ線管１１による曝射を再開するか否かを判定する（ステップＳ１１５）。回転制御機能８４は、例えば、曝射を開始するタイミングよりも第１加速時間ｔ１前の時間となった場合にＸ線管１１による曝射を再開すると判定する。 Subsequently, the rotation control function 84 refers to the scan plan and determines whether or not to restart exposure using the X-ray tube 11 (step S115). For example, the rotation control function 84 determines that the exposure by the X-ray tube 11 is to be restarted when the time comes before the first acceleration time t1 from the timing to start the exposure.

回転制御機能８４は、Ｘ線管１１による曝射を再開すると判定した場合、Ｘ線管ロータ１１Ｃを曝射時速度となるまで加速する（ステップＳ１１７）。Ｘ線管１１による曝射を再開しないと判定した場合、回転制御機能８４は、現在のＸ線管ロータ１１Ｃの回転状態を維持してステップＳ１１９に進む。 If the rotation control function 84 determines to restart the exposure by the X-ray tube 11, it accelerates the X-ray tube rotor 11C until it reaches the exposure speed (step S117). If it is determined that the exposure by the X-ray tube 11 is not to be restarted, the rotation control function 84 maintains the current rotational state of the X-ray tube rotor 11C and proceeds to step S119.

続いて、Ｘ線制御装置７０は、スキャンプランが完了したか否かを判定する（ステップＳ１１９）。スキャンプランが完了していないと判定した場合、Ｘ線制御装置７０は、処理をステップＳ１０５に戻す。Ｘ線制御装置７０は、スキャンプランが完了したと判定した場合、図３に示す処理を終了する。 Subsequently, the X-ray control device 70 determines whether the scan plan is completed (step S119). If it is determined that the scan plan is not completed, the X-ray control device 70 returns the process to step S105. When the X-ray control device 70 determines that the scan plan is completed, it ends the process shown in FIG. 3 .

第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置１において、Ｘ線制御装置７０は、スキャンプランに基づいてＸ線管ロータ１１Ｃの回転速度（回転数）を制御する。このため、スキャンプランに応じてＸ線管ロータ１１Ｃの回転が不要となるタイミングを把握できるので、Ｘ線管ロータ１１Ｃの不要な回転を抑制することができる。さらに、スキャンプランに含まれる曝射タイミングではＸ線管ロータ１１Ｃを第１回転数で回転させ、曝射のタイミングではＸ線管ロータ１１Ｃを第１回転数よりも回転数の低い第２回転数で回転させる。このため、回転が不要となる適切なタイミングで、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転を抑制することができる。 In the X-ray CT apparatus 1 of the first embodiment, the X-ray control device 70 controls the rotation speed (rotation speed) of the X-ray tube rotor 11C based on a scan plan. Therefore, it is possible to grasp the timing at which the rotation of the X-ray tube rotor 11C becomes unnecessary according to the scan plan, so that unnecessary rotation of the X-ray tube rotor 11C can be suppressed. Further, at the exposure timing included in the scan plan, the X-ray tube rotor 11C is rotated at a first rotation speed, and at the exposure timing, the X-ray tube rotor 11C is rotated at a second rotation speed lower than the first rotation speed. Rotate with . Therefore, the rotation of the X-ray tube rotor 11C can be suppressed at an appropriate timing when rotation is unnecessary.

Ｘ線制御装置７０が、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転数を制御するにあたり、制御装置１８は、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転に合わせて、架台装置１０における架台（回転フレーム１７）も回転させてよい。この場合、制御装置１８は、例えば、Ｘ線制御装置７０がＸ線管ロータ１１Ｃを回転させる制御と同期させて架台を回転させるようにしてもよい。なお、Ｘ線管ロータ１１Ｃと架台（回転フレーム１７）の制御は、Ｘ線制御装置７０または制御装置１８のいずれかが行ってもよいし、コンソール装置４０などのその他の装置が行ってもよい。 When the X-ray control device 70 controls the rotation speed of the X-ray tube rotor 11C, the control device 18 also rotates the pedestal (rotating frame 17) in the pedestal device 10 in accordance with the rotation of the X-ray tube rotor 11C. good. In this case, the control device 18 may rotate the pedestal in synchronization with the control by the X-ray control device 70 to rotate the X-ray tube rotor 11C, for example. Note that the X-ray tube rotor 11C and the mount (rotary frame 17) may be controlled by either the X-ray control device 70 or the control device 18, or by another device such as the console device 40. .

以下に、Ｘ線管ロータ１１Ｃと架台の制御について、従来のＸ線ＣＴ装置における制御と比較して説明する。図５は、Ｘ線管ロータ及び架台の回転速度の時間変化を示すグラフである。図５において、上段には、第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置１におけるＸ線管ロータ１１Ｃ（以下、本Ｘ線ＣＴ装置の本Ｘ線管ロータ）及び架台（以下、本架台）の回転速度の時間変化の一例を示し、下段には、従来のＸ線ＣＴ装置におけるＸ線管ロータ（以下、従来Ｘ線ＣＴ装置の従来Ｘ線管ロータ）の及び架台（以下、従来架台）の回転速度の時間変化の一例を示す。 Control of the X-ray tube rotor 11C and the gantry will be described below in comparison with control in a conventional X-ray CT apparatus. FIG. 5 is a graph showing changes over time in the rotational speeds of the X-ray tube rotor and the pedestal. In FIG. 5, the rotation of the X-ray tube rotor 11C (hereinafter referred to as the main X-ray tube rotor of the present X-ray CT apparatus) and the mount (hereinafter referred to as the main mount) in the X-ray CT apparatus 1 of the first embodiment is shown in the upper row. An example of speed change over time is shown, and the lower row shows the rotation of the X-ray tube rotor in a conventional X-ray CT device (hereinafter referred to as the conventional X-ray tube rotor of the conventional X-ray CT device) and the mount (hereinafter referred to as the conventional mount). An example of speed change over time is shown.

架台の回転速度は、例えば、本Ｘ線ＣＴ装置で言えば、回転フレーム１７の回転速度である。この例では、共通のスキャンプランに基づいて、Ｘ線ＣＴ装置を作動させた場合のＸ線管ロータの回転速度の時間変化を示している。ここでのスキャンプランでは、まず、被検体に１回目の曝射をし、その後、一定の時間を空けて２回目の曝射を行うプランである。 The rotational speed of the gantry is, for example, the rotational speed of the rotating frame 17 in the present X-ray CT apparatus. This example shows temporal changes in the rotational speed of the X-ray tube rotor when the X-ray CT apparatus is operated based on a common scan plan. In this scan plan, first, the subject is exposed to radiation for the first time, and then, after a certain period of time, radiation is performed for the second time.

１回目の曝射が始まって、しばらくは、本Ｘ線ＣＴ装置の本Ｘ線管ロータ及び本架台においても、従来Ｘ線ＣＴ装置の従来Ｘ線管ロータ及び従来架台においても、共通した回転速度の時間変化を示す。まず、１回目の曝射を開始する所定時間前から本Ｘ線管ロータ及び本架台は加速し、曝射時の回転速度である曝射時速度となったときに曝射を行う。従来Ｘ線管ロータ及び従来架台も同様に、１回目の曝射を開始する所定時間前から加速し、曝射時の回転速度である曝射時速度となったときに曝射を行う。 For a while after the first exposure begins, the rotational speed is common for both the main X-ray tube rotor and main mount of this X-ray CT device, and the conventional X-ray tube rotor and conventional mount of the conventional X-ray CT device. shows the change over time. First, the main X-ray tube rotor and main mount are accelerated from a predetermined time before starting the first exposure, and when the rotational speed at the time of exposure reaches the exposure speed, the exposure is performed. Similarly, the conventional X-ray tube rotor and the conventional mount are accelerated from a predetermined time before starting the first exposure, and when the rotational speed at the time of exposure reaches the exposure speed, the exposure is performed.

１回目の曝射が終わる時刻ｔαとなり、曝射休止時間となった後は本Ｘ線管ロータ及び本架台は減速して徐々に回転速度が低下する。その後、所定の待機時速度となった時点で減速が終了し、一定の回転速度で回転となる。一方、従来Ｘ線管ロータ及び従来架台は、曝射休止期間となった後も減速せずに一定の回転速度で回転を継続する。 At time tα when the first exposure ends, and after the exposure pause time, the main X-ray tube rotor and main mount decelerate and the rotational speed gradually decreases. Thereafter, the deceleration ends when the speed reaches a predetermined standby speed, and rotation begins at a constant rotational speed. On the other hand, the conventional X-ray tube rotor and the conventional mount continue to rotate at a constant rotational speed without decelerating even after the exposure pause period.

続いて、２回目の曝射を開始する時刻ｔβよりも所定時間前となったときに、本Ｘ線管ロータ及び本架台は加速して徐々に回転速度が増加し、曝射時速度となったときに曝射を行う。従来Ｘ線管ロータ及び従来架台は、引き続き曝射時速度で定速回転した状態で曝射を行う。 Subsequently, at a predetermined time before the time tβ at which the second exposure starts, the main X-ray tube rotor and main mount accelerate and gradually increase the rotational speed until they reach the speed at the time of exposure. Exposure is carried out when The conventional X-ray tube rotor and the conventional mount continue to perform exposure while rotating at a constant speed at the exposure speed.

そして、曝射が終了した後、本Ｘ線管ロータ及び本架台は、徐々に減速して停止する。一方、従来Ｘ線管ロータ及び従来架台も同様に、徐々に減速して停止する。ここで、従来Ｘ線管ロータ及び従来架台は、回転を開始してから終了するまでの間、加速及び減速を１回ずつ行うのみで、加速と減速の間の時間は曝射時速度で回転を続ける。このため、曝射時速度で回転する時間が長くなる。具体的に、１回目の曝射を終了した時刻ｔαから２回目の曝射を開始する時刻ｔβよりも所定時間前までの間の時間ｔｘにおいて、曝射時速度で回転する。 After the exposure is completed, the main X-ray tube rotor and main mount gradually decelerate and come to a stop. On the other hand, the conventional X-ray tube rotor and the conventional mount similarly gradually decelerate and come to a stop. Here, the conventional X-ray tube rotor and conventional mount only accelerate and decelerate once from the start to the end of rotation, and during the time between acceleration and deceleration, the rotor rotates at the speed at the time of exposure. Continue. For this reason, the time for rotating at the speed during exposure becomes longer. Specifically, during the time tx from the time tα at which the first irradiation ends to the time tβ at which the second irradiation starts, it rotates at the irradiation speed.

一方、本Ｘ線管ロータ及び本架台は、１回目の曝射を終了してから減速を開始し、２回目の曝射を始める手前の時間まで高速度回転よりも低い回転速度で回転する。具体的に、１回目の曝射を終了した時刻ｔαから２回目の曝射を開始する時刻ｔβよりも所定時間前までの間の時間ｔｘに対して、１回目の曝射後の減速時間、２回目の曝射前の加速時間を除いた時間ｔｙは、待機時速度で回転する。このため、本Ｘ線管ロータと本架台の不要な回転を抑制することができる。 On the other hand, the main X-ray tube rotor and main mount start deceleration after the first exposure is completed, and rotate at a rotation speed lower than the high-speed rotation until the time just before starting the second exposure. Specifically, with respect to the time tx from the time tα at which the first exposure ends to the predetermined time before the time tβ at which the second exposure starts, the deceleration time after the first exposure, During the time ty excluding the acceleration time before the second exposure, the rotation is performed at the standby speed. Therefore, unnecessary rotation of the main X-ray tube rotor and main mount can be suppressed.

（第２の実施形態）
続いて、第２の実施形態のＸ線ＣＴ装置１について説明する。第２の実施形態のＸ線ＣＴ装置１は、第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置１の装置構成は共通し、Ｘ線制御装置７０の処理が主に異なる。第２の実施形態のＸ線ＣＴ装置１では、曝射休止期間における寝台の待機位置に基づいて、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転速度を制御する。 (Second embodiment)
Next, the X-ray CT apparatus 1 of the second embodiment will be explained. The X-ray CT apparatus 1 of the second embodiment has the same device configuration as the X-ray CT apparatus 1 of the first embodiment, and differs mainly in the processing of the X-ray control device 70. In the X-ray CT apparatus 1 of the second embodiment, the rotation speed of the X-ray tube rotor 11C is controlled based on the standby position of the bed during the radiation suspension period.

第２の実施形態においては、待機位置として、第１待機位置と第２待機位置が設定されている。第１待機位置は、曝射位置から水平移動した位置であり、第２待機位置は、第１待機位置から下降した位置である。また、天板３３が曝射位置から第１待機位置まで移動する移動段階を第１段階とし、曝射位置から第２待機位置まで移動する移動段階を第２段階とする。以下、第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置１との相違点を中心として、第２の実施形態のＸ線ＣＴ装置１について説明する。 In the second embodiment, a first standby position and a second standby position are set as standby positions. The first standby position is a position horizontally moved from the exposure position, and the second standby position is a position lowered from the first standby position. Moreover, the movement stage in which the top plate 33 moves from the exposure position to the first standby position is defined as a first stage, and the movement stage in which the top plate 33 moves from the exposure position to the second standby position is defined as a second stage. The X-ray CT apparatus 1 according to the second embodiment will be described below, focusing on the differences from the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment.

図６は、第２の実施形態のＸ線制御装置７０の処理の一例を示すフローチャートである。Ｘ線ＣＴ装置１は、Ｘ線制御装置７０において、スキャンプランを取得し（ステップＳ２０１）、続いて、Ｘ線制御装置７０は、Ｘ線管ロータ１１Ｃ及び高電圧発生装置６０を起動させる（ステップＳ２０３）。続いて、回転制御機能８４は、曝射休止期間であるか否かを判定し（ステップＳ２０５）。 FIG. 6 is a flowchart showing an example of processing of the X-ray control device 70 of the second embodiment. The X-ray CT apparatus 1 acquires a scan plan in the X-ray controller 70 (step S201), and then the X-ray controller 70 starts up the X-ray tube rotor 11C and the high voltage generator 60 (step S201). S203). Subsequently, the rotation control function 84 determines whether or not it is an exposure pause period (step S205).

曝射休止期間でないと判定した場合、回転制御機能８４は、処理をステップＳ２１５に進める。曝射休止期間であると判定した場合、回転制御機能８４は、寝台が移動中であるか否かを判定する（ステップＳ２０７）。寝台が移動中でないと判定した場合、回転制御機能８４は、処理をステップＳ２１５に進める。 If it is determined that it is not the exposure pause period, the rotation control function 84 advances the process to step S215. If it is determined that it is the radiation suspension period, the rotation control function 84 determines whether or not the bed is being moved (step S207). If it is determined that the bed is not moving, the rotation control function 84 advances the process to step S215.

一方、寝台が移動中であると判定した場合、回転制御機能８４は、寝台の移動段階を判定する。ここで、寝台の移動段階は、寝台（天板３３）が曝射位置から移動したときの段階を示し、移動段階としては、例えば、第１段階と第２段階が設定されている。移動段階が第１段階であるときに寝台は第１待機位置まで移動し、移動段階が第２段階であるときに寝台は第２待機位置まで移動する。図７は、寝台の移動段階を説明する図である。 On the other hand, if it is determined that the bed is moving, the rotation control function 84 determines the stage of movement of the bed. Here, the stage of movement of the bed indicates the stage when the bed (top plate 33) is moved from the exposure position, and the movement stage is set to, for example, a first stage and a second stage. When the movement stage is a first stage, the bed moves to a first standby position, and when the movement stage is a second stage, the bed moves to a second standby position. FIG. 7 is a diagram illustrating the stage of moving the bed.

図７の左図は、寝台が曝射位置にある状態を示し、中図は、寝台が第１待機位置にある状態を示し、右図は、寝台が第２待機位置にある状態を示す。この例において、寝台が曝射位置にある状態では、天板３３が基台３１から架台装置１０側に突出して架台装置１０の内部に進入している。寝台が第１待機位置にある状態では、天板３３が曝射位置から水平方向に移動して、架台装置１０から抜け出している。寝台が第２待機位置にある状態では、天板３３が第１待機位置から下降している。寝台の移動量は、寝台が曝射位置から第１待機位置まで移動するよりも曝射位置から第２待機位置まで移動する方が多くなる。 The left diagram in FIG. 7 shows the bed in the exposure position, the middle diagram shows the bed in the first standby position, and the right diagram shows the bed in the second standby position. In this example, when the bed is in the exposure position, the top plate 33 protrudes from the base 31 toward the gantry device 10 and enters the inside of the gantry device 10 . When the bed is in the first standby position, the top plate 33 moves horizontally from the exposure position and comes out of the gantry device 10. When the bed is in the second standby position, the top plate 33 is lowered from the first standby position. The amount of movement of the bed is greater when the bed moves from the exposure position to the second standby position than when it moves from the exposure position to the first standby position.

図６に戻り、ステップＳ２０７において、寝台が移動中であると判定した場合、回転制御機能８４は、寝台の移動段階を判定する（ステップＳ２０９）。寝台の移動段階が第１段階であると判定した場合、回転制御機能８４は、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転速度を減速させて（ステップＳ２１１）、例えば、待機中速度とする。寝台の移動段階が第２段階であると判定した場合、回転制御機能８４は、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転を停止させる（ステップＳ２１３）。 Returning to FIG. 6, if it is determined in step S207 that the bed is moving, the rotation control function 84 determines the stage of movement of the bed (step S209). If it is determined that the bed movement stage is the first stage, the rotation control function 84 reduces the rotational speed of the X-ray tube rotor 11C (step S211), for example, to the standby speed. If it is determined that the bed movement stage is the second stage, the rotation control function 84 stops the rotation of the X-ray tube rotor 11C (step S213).

図７に示すように、寝台の移動段階が第１段階であり寝台が第１待機位置にある場合には、曝射位置までの距離が短く、曝射位置に復帰するまでの時間が短くなる。このため、寝台の移動段階が第１段階であるときには、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転速度が曝射中速度に到達する時間が長くなりすぎないように、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転速度を待機中速度としておく。 As shown in FIG. 7, when the bed movement stage is the first stage and the bed is in the first standby position, the distance to the exposure position is short and the time required to return to the exposure position is short. . Therefore, when the stage of moving the bed is in the first stage, the rotational speed of the X-ray tube rotor 11C is on standby so that the rotational speed of the X-ray tube rotor 11C does not take too long to reach the speed during exposure. Set it to medium speed.

一方、寝台の移動段階が第２段階であり寝台が第２待機位置にある場合には、曝射位置までの距離が長く、曝射位置に復帰するまでの時間も長くなる。このため、寝台の移動段階が第２段階であるときには、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転速度が曝射中速度に到達する時間を長くとれるので、Ｘ線管ロータ１１Ｃを停止させる。 On the other hand, when the bed movement stage is the second stage and the bed is at the second standby position, the distance to the exposure position is long and the time required to return to the exposure position is also long. Therefore, when the bed movement stage is in the second stage, the X-ray tube rotor 11C is stopped because it takes a longer time for the rotational speed of the X-ray tube rotor 11C to reach the speed during exposure.

その後、回転制御機能８４は、第１の実施形態と同様に、スキャンプランを参照して、Ｘ線管１１による曝射を再開するか否かを判定する（ステップＳ２１５）。その結果、曝射を再開すると判定した場合、Ｘ線管ロータ１１Ｃを加速し（ステップＳ２１７）、再開しないと判定した場合には、現在のＸ線管ロータ１１Ｃの回転状態を維持する。 Thereafter, similarly to the first embodiment, the rotation control function 84 refers to the scan plan and determines whether or not to restart the exposure by the X-ray tube 11 (step S215). As a result, if it is determined that the exposure should be resumed, the X-ray tube rotor 11C is accelerated (step S217), and if it is determined that the exposure is not to be resumed, the current rotational state of the X-ray tube rotor 11C is maintained.

続いて、Ｘ線制御装置７０は、スキャンプランが完了したか否かを判定する（ステップＳ２１９）。スキャンプランが完了していないと判定した場合、Ｘ線制御装置７０は、処理をステップＳ２０５に戻す。Ｘ線制御装置７０は、スキャンプランが完了していないと判定した場合、図３に示す処理を終了する。 Subsequently, the X-ray control device 70 determines whether the scan plan is completed (step S219). If it is determined that the scan plan is not completed, the X-ray control device 70 returns the process to step S205. If the X-ray control device 70 determines that the scan plan is not completed, it ends the process shown in FIG. 3.

第２の実施形態のＸ線ＣＴ装置１は、第１の実施形態のＸ線ＣＴ装置１と同様の作用効果を奏する。第２の実施形態のＸ線ＣＴ装置１は、さらに、寝台の移動段階に応じてＸ線管ロータの回転速度を調整している。第２の実施形態のＸ線ＣＴ装置１は、寝台の移動段階が進むほど、Ｘ線管ロータの曝射休止期間中の回転速度を低くする。このため、Ｘ線管ロータの無駄な回転をより好適に抑制することができる。 The X-ray CT apparatus 1 of the second embodiment has the same effects as the X-ray CT apparatus 1 of the first embodiment. The X-ray CT apparatus 1 of the second embodiment further adjusts the rotational speed of the X-ray tube rotor depending on the stage of movement of the bed. The X-ray CT apparatus 1 of the second embodiment lowers the rotational speed of the X-ray tube rotor during the exposure pause period as the stage of bed movement progresses. Therefore, unnecessary rotation of the X-ray tube rotor can be suppressed more suitably.

第２の実施形態では、曝射位置から第１待機位置や第２待機位置に移動するまでに要する時間を予め計算しまたは計測しておき、第１の実施形態で説明した第１加減速時間や第２加減速時間と比較して、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転数を制御してもよい。また、Ｘ線管ロータ１１Ｃの回転とともに、架台の回転を制御してもよい。 In the second embodiment, the time required to move from the exposure position to the first standby position or the second standby position is calculated or measured in advance, and the first acceleration/deceleration time described in the first embodiment is calculated or measured in advance. The number of rotations of the X-ray tube rotor 11C may be controlled by comparing the second acceleration/deceleration time and the second acceleration/deceleration time. Further, the rotation of the pedestal may be controlled along with the rotation of the X-ray tube rotor 11C.

上記の各実施形態において、スキャンプランは、検査が行われる前に作成されたものでもよいし、検査が行われる前に作成したものを、検査の進行に伴って修正したものでもよい。例えば、予め作成していた検査の時間と、実際に検査にかかった時間とが異なる場合に、実際に検査にかかった時間を予め作成した検査の時間と入れ替えるなどしてスキャンプランを修正してもよい。あるいは、スキャンプランは、検査が開始されてから、検査の進行に伴って、随時作成（更新）されるものでもよい。 In each of the embodiments described above, the scan plan may be created before the examination is performed, or may be created before the examination and modified as the examination progresses. For example, if the test time you created in advance differs from the time it actually took to perform the test, you can modify the scan plan by replacing the time it actually took to perform the test with the test time you created in advance. Good too. Alternatively, the scan plan may be created (updated) at any time after the examination is started and as the examination progresses.

以上説明した少なくとも１つの実施形態によれば、ロータを有するＸ線管と、前記Ｘ線管によるＸ線の曝射タイミングに関する情報を含むスキャンプランを取得する取得部と、前記スキャンプランに基づいて、前記ロータの回転数を制御する制御部と、を持つことにより、Ｘ線管ロータの不要な回転を抑制することができる。 According to at least one embodiment described above, an X-ray tube having a rotor, an acquisition unit that acquires a scan plan including information regarding the timing of X-ray exposure by the X-ray tube, and a , and a control unit that controls the rotation speed of the rotor, it is possible to suppress unnecessary rotation of the X-ray tube rotor.

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 Although several embodiments have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, substitutions, and changes can be made without departing from the gist of the invention. These embodiments and their modifications are included within the scope and gist of the invention as well as within the scope of the invention described in the claims and its equivalents.

１…Ｘ線ＣＴ装置
１０…架台装置
１１…Ｘ線管
１１Ａ…陰極
１１Ｂ…陽極
１１Ｃ…Ｘ線管ロータ
１２…ウェッジ
１３…コリメータ
１４…Ｘ線高電圧装置
１５…Ｘ線検出器
１６…データ収集システム
１７…回転フレーム
１８…制御装置
３０…寝台装置
３１…基台
３２…寝台上下動装置
３３…天板
３４…支持フレーム
４０…コンソール装置
４１…メモリ
４２…ディスプレイ
４３…入力インターフェース
４４…通信インターフェース
５０…処理回路
５１…制御機能
５２…前処理機能
５３…再構成処理機能
５４…画像処理機能
６０…高電圧発生装置
７０…Ｘ線制御装置
７１…通信インターフェース
７２…メモリ
８０…処理回路
８１…取得機能
８２…制御機能
８３…電圧制御機能
８４…回転制御機能
Ｐ…被検体 1... X-ray CT device 10... Frame device 11... X-ray tube 11A... Cathode 11B... Anode 11C... X-ray tube rotor 12... Wedge 13... Collimator 14... X-ray high voltage device 15... X-ray detector 16... Data collection System 17...Rotating frame 18...Control device 30...Bed device 31...Base 32...Bed vertical movement device 33...Top plate 34...Support frame 40...Console device 41...Memory 42...Display 43...Input interface 44...Communication interface 50 …Processing circuit 51…Control function 52…Pre-processing function 53…Reconstruction processing function 54…Image processing function 60…High voltage generator 70…X-ray control device 71…Communication interface 72…Memory 80…Processing circuit 81…Acquisition function 82... Control function 83... Voltage control function 84... Rotation control function P... Subject

Claims (11)

Ｘ線管ロータを有するＸ線管と、
前記Ｘ線管によるＸ線の曝射タイミングに関する情報を含むスキャンプランを取得する取得部と、
前記スキャンプランに基づいて、前記Ｘ線管ロータの回転数を制御する回転制御部と、を備える、
Ｘ線ＣＴ装置。 an x-ray tube having an x-ray tube rotor;
an acquisition unit that acquires a scan plan including information regarding the timing of X-ray exposure by the X-ray tube;
a rotation control unit that controls the rotation speed of the X-ray tube rotor based on the scan plan;
X-ray CT device. 前記回転制御部は、前記スキャンプランに含まれる前記曝射タイミングでは前記Ｘ線管ロータを第１回転数で回転させ、前記曝射タイミング以外のタイミングでは前記Ｘ線管ロータを第１回転数よりも回転数の低い第２回転数で前記Ｘ線管ロータを回転させるように制御する、
請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。 The rotation control unit rotates the X-ray tube rotor at a first rotation speed at the exposure timing included in the scan plan, and rotates the X-ray tube rotor at a first rotation speed at timings other than the exposure timing. controlling the X-ray tube rotor to rotate at a second rotation speed, which is also lower rotation speed;
The X-ray CT apparatus according to claim 1. 前記回転制御部は、前記Ｘ線管ロータが前記第２回転数で回転する状態から加速して前記第１回転数で回転する状態となるまでに要する時間と、前記Ｘ線管ロータが前記第１回転数で回転する状態から減速して前記第２回転数で回転する状態となるまでに要する時間とを加算した時間を、複数の前記曝射タイミングの間の曝射休止期間が超える場合に、前記第１回転数で回転中の前記Ｘ線管ロータを減速させる、
請求項２に記載のＸ線ＣＴ装置。 The rotation control unit is configured to control a time required for the X-ray tube rotor to accelerate from a state in which it rotates at the second rotation speed to a state in which it rotates at the first rotation speed, and a time required for the X-ray tube rotor to rotate at the first rotation speed. If the exposure pause period between the plurality of exposure timings exceeds the time required to decelerate from the state of rotating at one rotational speed to the state of rotating at the second rotational speed, , decelerating the X-ray tube rotor rotating at the first rotation speed;
The X-ray CT apparatus according to claim 2. 前記回転制御部は、複数の前記曝射タイミングの間の曝射休止期間の長さに基づいて、前記第２回転数を調整する、
請求項２に記載のＸ線ＣＴ装置。 The rotation control unit adjusts the second rotation speed based on the length of an exposure pause period between the plurality of exposure timings,
The X-ray CT apparatus according to claim 2. 前記回転制御部は、前記曝射休止期間が長いほど、前記第２回転数を低くする、
請求項４に記載のＸ線ＣＴ装置。 The rotation control unit lowers the second rotation speed as the exposure pause period becomes longer.
The X-ray CT apparatus according to claim 4. 被検体を搭載し、前記被検体に前記Ｘ線管によるＸ線を曝射する曝射位置から、前記曝射位置から離れた待機位置に移動可能とされた寝台を更に備え、
前記回転制御部は、前記寝台の移動段階に更に基づいて、前記Ｘ線管ロータの回転数を制御する、
請求項２に記載のＸ線ＣＴ装置。 further comprising a bed on which a subject is mounted and movable from an irradiation position where the subject is irradiated with X-rays from the X-ray tube to a standby position distant from the irradiation position;
The rotation control unit further controls the rotation speed of the X-ray tube rotor based on the stage of movement of the bed.
The X-ray CT apparatus according to claim 2. 前記回転制御部は、前記移動段階が進むほど、前記第２回転数を低くする、
請求項６に記載のＸ線ＣＴ装置。 The rotation control unit lowers the second rotation speed as the movement stage progresses;
The X-ray CT apparatus according to claim 6. 前記Ｘ線管が設けられ、被検体の周囲を回転可能な架台を更に備え、
前記回転制御部は、前記Ｘ線管ロータを減速させる際に、前記Ｘ線管が設けられた架台の回転を減速させる、
請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。 The X-ray tube is provided with a pedestal that is rotatable around the subject;
The rotation control unit decelerates the rotation of a pedestal on which the X-ray tube is provided when decelerating the X-ray tube rotor.
The X-ray CT apparatus according to claim 1. 前記回転制御部は、前記架台を前記Ｘ線管ロータに同期させて減速させる、
請求項８に記載のＸ線ＣＴ装置。 The rotation control unit decelerates the pedestal in synchronization with the X-ray tube rotor.
The X-ray CT apparatus according to claim 8. Ｘ線管ロータを有するＸ線管を備えるＸ線ＣＴ装置のコンピュータが、
前記Ｘ線管によるＸ線の曝射タイミングに関する情報を含むスキャンプランを取得し、
前記スキャンプランに基づいて、前記Ｘ線管ロータの回転数を制御する、
Ｘ線管ロータの制御方法。 A computer of an X-ray CT apparatus equipped with an X-ray tube having an X-ray tube rotor,
obtaining a scan plan including information regarding the timing of X-ray exposure by the X-ray tube;
controlling the rotational speed of the X-ray tube rotor based on the scan plan;
Control method for X-ray tube rotor. Ｘ線管ロータを有するＸ線管を備えるＸ線ＣＴ装置のコンピュータに、
前記Ｘ線管によるＸ線の曝射タイミングに関する情報を含むスキャンプランを取得させ、
前記スキャンプランに基づいて、前記Ｘ線管ロータの回転数を制御させることを行わせる、
プログラム。 In a computer of an X-ray CT apparatus equipped with an X-ray tube having an X-ray tube rotor,
obtaining a scan plan including information regarding the timing of X-ray exposure by the X-ray tube;
controlling the rotational speed of the X-ray tube rotor based on the scan plan;
program.

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