JP2023114851A - 画像処理装置、制御方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】画像からスジを適切に除去することが可能な画像処理装置等を提供すること。【解決手段】原稿の画像を入力する入力部と、制御部とを備え、前記制御部は、前記画像から第１の方法によりスジを除去し、前記画像から前記第１の方法とは異なる第２の方法によりスジを除去し、前記スジが除去された前記画像に対してクロップ処理を実行することを特徴とする。【選択図】図１

Description

本開示は、画像処理装置等に関する。

複合機等の画像処理装置において、原稿が、原稿自動送り装置（ＳＰＦ、Single Pass Feeder）により搬送され、当該原稿の画像が読み取られることがある。画像処理装置の原稿カバーや原稿押さえ等の部材がグレーである場合、原稿外の背景がグレーの状態で原稿が読み取られる。このとき、原稿読取面に付着した汚れや板金の色ムラに起因して、読み取られた画像（スキャン画像）において、原稿外の領域に、スジ状のノイズが含まれることがある。このようなスキャン画像に対して原稿範囲が検出される場合、ノイズを含んだ領域を含んで原稿範囲が検出されることがある。これにより、スジ状のノイズを含むスキャン画像に対して、通常通りに原稿がクロップされると、原稿外の背景部分を含んだ状態でクロップ処理が実行される。この結果、背景部分を含む画像（出力画像）が得られ、ユーザにとって不都合な自体が生じることとなる。

上述した例について、図２９を参照して説明する。図２９（ａ）はスキャン画像Ｐ９００の例を示す図である。図２９（ａ）において、Ｐ１は原稿が読み取られる方向（主走査方向）を示し、Ｐ２は原稿が送られる方向（副走査方向）を示す。ここで、図２９（ａ）のＥ９００及びＥ９０２に示すように、スキャン画像にスジ状のノイズが生じることがある。なお、一般的に、原稿を送る方向にスジ状のノイズが生じるので、スジの方向は既知である。図２９（ｂ）は、スキャン画像Ｐ９００に基づき検出された原稿範囲Ｌ９１０を示す図である。図２９（ｂ）に示すように、原稿範囲Ｌ９１０はスジ状のノイズにより、背景部分を含んで検出される。このように、スジ状のノイズが、原稿範囲の検出に悪影響を与え、原稿範囲が誤検知されることがある。また、誤検知された原稿範囲に基づきクロップされた画像により、白紙判定等の画像処理が適切に実行されない場合がある。

このような問題に対し、スキャン画像からスジ状のノイズの検出や補正を実現する技術が提案されている。例えば、主走査方向における画素位置毎に輝度値に基づきスジ候補であるか否かの判定を実施し、スジ候補と判断された画素の数を副走査方向にカウントすることで、各画素位置における画素がスジであるか否かを判定する技術が提案されている（例えば、特許文献１参照）。また、スジ検出するエリアを切り出した画像データに対して、主走査方向における位置毎に、そのラインを構成する画素の画素値の平均値（ライン信号値）を取得し、当該ライン信号値に用いてスジを検出する技術が提案されている（例えば、特許文献２参照）。また、ラインを構成する画素値の情報を用いる技術として、１ライン毎に、当該ラインに含まれる画素の画素値に基づき、画素がシート画素であるか背景画素であるかを判定し、１ライン毎に媒体ラインか背景ラインかを判定する技術が提案されている（例えば、特許文献３参照）。

特開２０１９－２９７６２号公報 特許第６５６６７９４号公報 特開２０１９－２０８１３６号公報

ここで、従来の技術では、スジ状のノイズを構成するエッジ画素と原稿のエッジ画素とが適切に区別されていない等、適切にスジを除去できない場合があった。例えば、特許文献１では、原稿内／原稿外の判定には、ガイド板領域に対応する画素値レベルに対し、規定値以下の画素値の部分を影と判定することで、検出した影を用いて原稿内／原稿外の判定を行うことが記載されている。しかし、原稿の状態や搬送状況によっては、影が発生しない場合があり、スジが、原稿内／原稿外の何れに生じたかを区別できない状況が発生していた。そのため、本来残すべき原稿のエッジ画素まで、誤って除去される場合があった。また、エッジ画素をカウントする方法では、スジが原稿のエッジ画素に重なっている場合に、原稿のエッジ画素を削除する場合があった。例えば、図３０（ａ）に示すスキャン画像Ｐ９２０のように、原稿の画像の領域Ｅ９２０と原稿外の背景部分の領域Ｅ９２２とを含む画像に、原稿のエッジと重なるスジ状のノイズＥ９２４が含まれることがある。図３０（ｂ）は、スキャン画像Ｐ９２０に対応する縦方向の差分画像Ｐ９３０を示す図である。図３０（ａ）のスジ状のノイズＥ９２４は、差分画像Ｐ９３０においてエッジ画素Ｅ９３０として表れている。差分画像Ｐ９３０に基づきエッジ画素Ｅ９３０を削除すると、図３０（ｃ）に示す差分画像に示すように、原稿の下辺を構成するエッジまで除去される。このように、原稿のエッジ画素が失われた状態でクロップ処理等の画像処理が行われることで、ユーザが望まない画像が出力されてしまうという課題があった。

本開示は上述した課題に鑑み、画像から適切にスジを除去することが可能な画像処理装置等を提供することを目的とする。

上述した課題を解決するために、本開示の画像処理装置は、原稿の画像を入力する入力部と、制御部とを備え、前記制御部は、前記画像から第１の方法によりスジを除去し、前記画像から前記第１の方法とは異なる第２の方法によりスジを除去し、前記スジが除去された前記画像に対してクロップ処理を実行することを特徴とする。

本開示の制御方法は、画像処理装置の制御方法であって、入力された画像から第１の方法によりスジ除去するステップと、前記画像から前記第１の方法とは異なる第２の方法によりスジ除去するステップと、前記スジが除去された前記画像に対してクロップ処理実行するステップと、含むこと特徴とする。

本開示のプログラムは、コンピュータに、入力された画像から第１の方法によりスジを除去する機能と、前記画像から前記第１の方法とは異なる第２の方法によりスジを除去する機能と、前記スジが除去された前記画像に対してクロップ処理を実行する機能と、を実現させることを特徴とする。

本開示によれば、画像から適切にスジを除去することが可能な画像処理装置等を提供することができる。

第１実施形態における画像形成装置の全体構成を示した図である。 第１実施形態における画像形成装置の機能構成を示した図である。 第１実施形態におけるパラメータ情報のデータ構造を示した図である。 第１実施形態におけるスジ位置情報のデータ構造を示した図である。 第１実施形態におけるエッジ画素集計情報のデータ構造を示した図である。 第１実施形態におけるメイン処理の流れを示したフロー図である。 第１実施形態における第１スジ検出処理の流れを示したフロー図である。 第１実施形態における第１スジ除去処理の流れを示したフロー図である。 第１実施形態における第２スジ検出処理の流れを示したフロー図である。 第１実施形態における第２スジ除去処理の流れを示したフロー図である。 第１実施形態における動作例を示した図である。 第１実施形態における動作例を示した図である。 第１実施形態における動作例を示した図である。 第１実施形態における動作例を示した図である。 第１実施形態における動作例を示した図である。 第１実施形態における動作例を示した図である。 第１実施形態における動作例を示した図である。 第１実施形態における動作例を示した図である。 第１実施形態における動作例を示した図である。 第１実施形態における動作例を示した図である。 第１実施形態における動作例を示した図である。 第１実施形態における動作例を示した図である。 第２スジ検出処理の別の処理の流れを示したフロー図である。 第２スジ除去処理の別の処理の流れを示したフロー図である。 第２実施形態におけるパラメータ情報のデータ構造を示した図である。 第２実施形態におけるメイン処理の流れを示したフロー図である。 第２実施形態における動作例を示した図である。 第３実施形態におけるメイン処理の流れを示したフロー図である。 従来の例を示した図である。 従来の例を示した図である。

以下、図面を参照して、本開示を実施するための一実施形態について説明する。なお、以下の実施形態は、本開示を説明するための一例であり、特許請求の範囲に記載した発明の技術的範囲が、以下の記載に限定されるものではない。

［１．第１実施形態］
はじめに、第１実施形態について説明する。第１実施形態は、本開示の画像処理装置を画像形成装置１０に適用した場合について説明する。画像形成装置１０は、コピー機能、スキャン機能、文書のプリント機能等を有する情報処理装置であり、ＭＦＰ（Multi-Function Printer/Peripheral、複合機）とも呼ばれる。

［１．１ 機能構成］
本実施形態の画像形成装置１０の機能構成について、図１及び図２を参照して説明する。図１は、画像形成装置１０の外観斜視図であり、図２は、画像形成装置１０の機能構成を示すブロック図である。

画像形成装置１０は、図２に示すように、制御部１００と、画像入力部１２０と、画像形成部１３０と、表示部１４０と、操作部１５０と、記憶部１６０と、通信部１９０とを備えて構成される。

制御部１００は、画像形成装置１０の全体を制御するための機能部である。制御部１００は、記憶部１６０に記憶された各種プログラムを読み出して実行することにより各種機能を実現しており、例えば、１又は複数の演算装置（ＣＰＵ（Central Processing Unit））等により構成される。また、制御部１００は、以下に説明する機能のうち、複数の機能を有するＳｏＣ（System on a Chip）として構成されてもよい。

制御部１００は、記憶部１６０に記憶されたプログラム実行することにより、画像処理部１０２、エッジ検出部１０４、原稿範囲検出部１０６、スキュー判定部１０８として機能する。

画像処理部１０２は、各種画像に関する処理を行う。例えば、画像処理部１０２は、画像入力部１２０によって入力された画像（以下、「入力画像」という）に対して、鮮鋭化処理や、階調変換処理を実行する。

エッジ検出部１０４は、入力原稿からエッジを検出する。例えば、エッジ検出部１０４は、入力画像の各画素を注目画素として選択し、注目画素毎に、当該注目画素の明度と、当該注目画素に隣接する画素との明度の差分を取得する。この場合、エッジ検出部１０４は、差分が所定の閾値を超えたとき、注目画素をエッジを構成する画素（以下、「エッジ画素」という）として検出する。また、エッジ検出部１０４は、エッジ画素を白の画素とし、エッジ以外の画素を黒の画素とした差分画像を生成してもよい。すなわち、差分画像は、画素値（明度）が０又は１である画素により構成される二値画像であったり、画素値（明度）が０から２５５までの何れかの値である画素により構成されるグレースケール画像であったりする。なお、本実施形態では、差分画像は、白の画素を明度が２５５とし、黒の画素を明度が０の画素としたグレースケール画像であるとして説明する。

本実施形態では、主走査方向に隣接する画素の明度の差分に基づいて生成された差分画像（主走査方向の差分画像）を縦方向の差分画像という。縦方向の差分画像により、左右方向に伸びるエッジ（スジと原稿上辺と原稿下辺に対応するエッジ）が検出される。なお、本実施形態において、スジ（異常画素）とは、入力画像に含まれるエッジであって、原稿の画像の外（原稿外）の領域に含まれるエッジをいう。また、本実施形態では、副走査方向に隣接する画素の明度の差分に基づいて生成された差分画像（副走査方向の差分画像）を横方向の差分画像という。横方向の差分画像により、上下方向に伸びるエッジ（原稿左辺と原稿右辺に対応するエッジ）が検出される。

なお、エッジ検出部１０４は、入力画像に対して、PrewittフィルタやSobelフィルタ等のエッジ検出フィルタを用いて差分画像を生成してもよい。例えば、エッジ検出部１０４は、入力画像に対してエッジ検出フィルタを縦方向（主走査方向）に適用することで縦方向の差分画像を生成し、入力画像に対してエッジ検出フィルタを横方向（副走査方向）に適用することで横方向の差分画像を生成してもよい。また、エッジ検出部１０４は、差分画像に対して二値化処理したり、ハイパスフィルタを適用したりすることで、差分画像におけるエッジ画素が白の画素となるように差分画像を修正してもよい。このように、エッジ検出部１０４は、既知の手法を用いて、差分画像を生成すればよい。

原稿範囲検出部１０６は、入力画像から、原稿の画像が表れている範囲（原稿範囲）を検出する。原稿範囲検出部１０６は、例えば 、特許文献２に記載された手法を用いて原稿範囲を検出する。なお、原稿範囲検出部１０６は、入力画像から検出されたエッジのうち、入力画像の端に最も近いエッジを原稿の端に対応するエッジとし、当該原稿の端に対応するエッジに接する矩形領域を原稿範囲として検出してもよい。すなわち、原稿範囲検出部１０６は、既存の手法を用いて、原稿範囲を検出すればよい。

スキュー判定部１０８は、原稿にスキューが生じたか否かを判定したり、読み取られた原稿の角度を判定したりする。例えば、原稿押さえ部や原稿カバーにおいて主走査方向に複数の発光ＡＰＳ（Auto Paper Selector）センサを設け、原稿面側に発光ＡＰＳセンサの光を受光する受光ＡＰＳセンサを設けた画像形成装置１０において、スキュー判定部１０８は、センサを用いて原稿にスキューが生じたか否かを判定する。例えば、スキュー判定部１０８は、受光ＡＰＳセンサにおける光の検出時間に差が生じている場合、原稿にスキューが生じていると判定する。

なお 、スキュー判定部１０８は、入力画像から検出されたエッジに基づいて原稿にスキューが生じたか否かを判定してもよい。例えば、スキュー判定部１０８は、原稿範囲検出部１０６によって検出された原稿範囲に基づき原稿の角度を取得したり、原稿の角度が所定の角度を超えた場合、原稿にスキューが生じたと判定したりしてもよい。

画像入力部１２０は、画像を画像形成装置１０に入力する。例えば、画像入力部１２０は、原稿台に載置された原稿を読み取るスキャナ装置等により構成される。なお、画像入力部１２０は、原稿自動送り装置（ＳＰＦ、Single pass Feeder）及び当該原稿自動送り装置により搬送された原稿の画像を読み取るスキャナ装置等により構成されてもよい。スキャナ装置は、例えば、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）やＣＩＳ（Contact Image Sensor）等のイメージセンサによって画像を電気信号に変換し、電気信号を量子化及び符号化する装置である。スキャナ装置により原稿の画像が読み取られることで、原稿の画像は、デジタルデータとして画像形成装置１０に入力される。

画像形成部１３０は、記録用紙等の記録媒体に対して画像を形成（印刷）する。画像形成部１３０は、例えば、電子写真方式を利用したレーザプリンタ等の印刷装置により構成される。画像形成部１３０は、例えば、図１の給紙トレイ１３２から記録用紙を給紙し、記録用紙の表面に画像を形成し、記録用紙を排紙トレイ１３４から排紙する。

表示部１４０は、各種情報を表示する。表示部１４０は、例えば、ＬＣＤ（Liquid crystal display）、有機ＥＬ（electro-luminescence）ディスプレイ、マイクロＬＥＤ（Light Emitting Diode）ディスプレイ等の表示装置により構成される。

操作部１５０は、画像形成装置１０を使用するユーザによる操作指示を受け付ける。操作部１５０は、キースイッチ（ハードキー）やタッチセンサ等の入力装置により構成される。タッチセンサにおいて接触（タッチ）による入力を検出する方式は、例えば、抵抗膜方式、赤外線方式、電磁誘導方式、静電容量方式といった、一般的な検出方式であればよい。なお、画像形成装置１０には、表示部１４０と、操作部１５０とが一体に形成されたタッチパネルが搭載されてもよい。

記憶部１６０は、画像形成装置１０の動作に必要な各種プログラムや、各種データを記憶する。記憶部１６０は、例えば、半導体メモリであるＳＳＤ（Solid State Drive）や、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）等の記憶装置により構成される。

記憶部１６０は、記憶領域として、入力画像を記憶する入力画像記憶領域１６２と、差分画像を記憶する差分画像記憶領域１６４と、パラメータ情報記憶領域１６６と、スジ位置情報記憶領域１６８と、エッジ画素集計情報記憶領域１７０とを確保する。

パラメータ情報記憶領域１６６は、パラメータ名と当該パラメータ名に対応するパラメータ値とを対応付けた情報（パラメータ情報）を記憶する。パラメータ情報は、例えば、図３のように、パラメータ名（例えば、「ROW_STREAK_MAXSIZE」）と、当該パラメータ名に対応するパラメータ値（例えば、「１０」）とを含む。

本実施形態では、パラメータ情報記憶領域１６６に、以下のパラメータが記憶される。
（１）ROW_STREAK_MAXSIZE
ROW_STREAK_MAXSIZEは、入力画像に存在するスジの許容数の閾値を示す。
（２）SEARCH_MAX
SEARCH_MAXは、後述する第１スジ検出処理において、スジを構成するエッジ画素が差分画像の画像端から探索されるときにおける、探索画素数の閾値を示す。
（３）SEARCH_STOP
SEARCH_STOPは、後述する第１スジ除去処理において、入力画像からスジが除去されるときにおける、スジの除去を取り止める画素数の閾値を示す。
（４）HIST_MAX
HIST_MAXは、後述する第２スジ除去処理において、注目している行において、スジが存在すると判定するときの当該行に含まれるエッジ画素の数の閾値を示す。

なお、上述したパラメータ名に対応するパラメータ値は数値で示されてもよいし、「ＣＭＡＸの１％」等の割合で示されてもよい。パラメータ値は、予め設定されていてもよいし、ユーザによって設定可能であってもよい。

また、ＣＭＡＸは、縦方向の差分画像の列番号の最大値（列幅）である。列番号は、画像の左上の画素を原点（０，０）として、原点から注目している画素までに含まれる横方向の画素数である。つまり、列番号は、原点から注目している画素までに含まれる横方向の画素数をｘ、縦方向の画素数をｙとして、画像に含まれる画素の位置を座標（ｘ，ｙ）で示したときのｘに相当する。なお、行番号は、座標（ｘ，ｙ）のｙに相当する。

また、以下の説明では、パラメータ名「ROW_STREAK_MAXSIZE」に対応するパラメータ値を、ＲＯＷ＿ＳＴＲＥＡＫ＿ＭＡＸＳＩＺＥと記載する。同様にして、パラメータ名「ROW_STREAK_MAXSIZE」に対応するパラメータ値をＲＯＷ＿ＳＴＲＥＡＫ＿ＭＡＸＳＩＺＥと記載する。また、パラメータ名「SEARCH_STOP」に対応するパラメータ値をＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰと記載する。また、パラメータ名「HIST_MAX」に対応するパラメータ値をＨＩＳＴ＿ＭＡＸと記載する。

スジ位置情報記憶領域１６８は、スジが存在する行（位置）に関する情報（スジ位置情報）を記憶する。スジ位置情報は、例えば、図４に示すように、インデックス番号（例えば、「０」）と、行番号（例えば、「２５９」）とを含む。

インデックス番号は、スジ位置情報を識別するために付与される連番である。インデックス番号は、例えば、０以上の整数である。また、本実施形態では、行とは、行番号が等しい画素の集合（画素群）であり、副走査方向と同じ方向に連続する画素群。行番号が「２５９」である行は、座標が（０，２５９）から（ＣＭＡＸ，２５９）までの何れかである画素群を示す。

エッジ画素集計情報記憶領域１７０は、入力画像の行毎に、注目している行に含まれるエッジ画素の数を集計した情報（エッジ画素集計情報）を記憶する。エッジ画素集計情報は、例えば、図５に示すように、行番号（例えば、「０」）と、エッジ画素数（例えばｍ「０」）とを含む。

通信部１９０は、ＬＡＮ（Local Area Network）やＷＡＮ（Wide Area Network）を介して外部の装置と通信を行う。通信部１９０は、例えば、有線／無線ＬＡＮで利用されるＮＩＣ（Network Interface Card）等の通信装置や通信モジュールにより構成される。

［１．２ 処理の流れ］
図６から図１０までを参照して、本実施形態における画像形成装置１０が実行する処理の流れを説明する。図６から図１０までに示した処理は、制御部１００が、記憶部１６０に記憶されたプログラムを読み出すことにより実行される。また、図６から図１０に示した処理は、ユーザにより、コピージョブやスキャンジョブといった、原稿を読み取るジョブの実行を開始させる操作がされた場合に実行される。

［１．２．１ メイン処理］
はじめに、図６を参照して、メイン処理の流れを説明する。制御部１００は、画像入力部１２０を制御することで、原稿を読み取り、当該原稿のスキャン画像（入力画像）を取得する（ステップＳ１００）。このとき、制御部１００は、入力画像を、入力画像記憶領域１６２に記憶する。

なお、画像形成装置１０は、原稿カバーや原稿押さえといった部材をグレーにすることにより、原稿の読み取り時の原稿外の背景部分がグレーで読み取られるようにしてもよい。また、画像入力部１２０は、原稿が載置された領域よりも読取範囲を大きくすることで、原稿の外側を含めて、原稿及び原稿の外側（背景部分）を読み取ってもよい。このように、画像形成装置１０は、原稿の読み取り背景をグレーとし、読み取り範囲を大きくすることにより、原稿内／原稿外の境界部分のエッジの検出が適切に行える条件で、当該原稿の画像の読み取りを行うことができる。

つづいて、制御部１００（エッジ検出部１０４）は、入力画像のエッジを検出する（ステップＳ１０２）。このとき、エッジ検出部１０４は、差分画像を生成し、当該差分画像を、差分画像記憶領域１６４に記憶する。

つづいて、制御部１００は、入力画像から第１の方法スジを除去するために、第１スジ検出処理と、第１スジ除去処理とを実行する（ステップＳ１０４→ステップＳ１０６）。なお、本実施形態では、第１の方法が、入力画像において主走査方向に平行な辺の付近で検出されたエッジをスジとして検出し、検出した当該スジを除去する方法であり、縦方向の差分画像と横方向の差分画像とを併用してスジを除去する方法であるとして説明する。

さらに、制御部１００は、第１の方法とは異なる第２の方法によりスジを除去するために、第２スジ検出処理と、第２スジ除去処理とを実行する（ステップＳ１０８→ステップＳ１１０）。なお、本実施形態では、第２の方法が、エッジ画素の画素数ヒストグラムを利用し、エッジ画素の画素数が閾値であるＨＩＳＴ＿ＭＡＸよりも大きい行に含まれる画素をスジとして検出し、検出した当該スジを除去する方法であるとして説明する。

このように、制御部１００は、２種類の方法により、入力画像からスジを検出し、それぞれの方法により検出されたスジを、入力画像から除去する。なお、第１スジ検出処理、第１スジ除去処理、第２スジ検出処理、第２スジ除去処理の詳細については、後述する。

つづいて、制御部１００（原稿範囲検出部１０６）は、スジが除去された入力画像から原稿範囲を検出する（ステップＳ１１２）。また、制御部１００（スキュー判定部１０８）は、スキュー判定を行う（ステップＳ１１４）。例えば、スキュー判定部１０８は、原稿にスキューが生じたか否かを判定したり、原稿の角度を取得したりする。

つづいて、制御部１００（画像処理部１０２）は、スジが除去された入力画像に対して、スキュー補正やクロップ処理を行う（ステップＳ１１６）。例えば、画像処理部１０２は、ステップＳ１１４において、原稿にスキューが生じたと判定した場合、入力画像を、原稿の角度の分だけ、傾いている方向と逆方向に回転させることで、原稿のスキューを解消する。また、画像処理部１０２は、ステップＳ１１２において検出した原稿範囲に基づき、入力画像をクロップする。

つづいて、制御部１００は、スキュー補正及びクロップ処理がされた入力画像を出力する（ステップＳ１１８）。例えば、制御部１００は、画像形成部１３０を制御することにより、補正された入力画像を形成することにより出力する。なお、制御部１００は、補正された入力画像のデータを記憶部１６０記憶することで出力したり、他の装置に送信することにより出力したりしてもよい。

［１．２．２ 第１スジ検出処理］
つづいて、第１スジ検出処理の流れについて、図７を参照して説明する。第１スジ検出処理は、縦方向の差分画像に基づき、スジが生じた行（位置）を検出する処理である。なお、以下の説明では、Ｐ［ｒ，ｃ］は、縦方向の差分画像におけるｒ行ｃ列の画素（座標（ｃ，ｒ）の画素）を示す。

はじめに、制御部１００は、変数Ｒ及び変数ｔｍｐに０を代入する（ステップＳ２００）。また、制御部１００は、変数Ｃに０を代入する（ステップＳ２０２）。

つづいて、制御部１００は、Ｐ［Ｒ，Ｃ］とＰ［Ｒ，ＣＭＡＸ－Ｃ］とにアクセス（参照）する（ステップＳ２０４）。さらに、制御部１００は、Ｐ［Ｒ，Ｃ］の画素値とＰ［Ｒ，ＣＭＡＸ－Ｃ］の画素値との何れかが２５５に等しいか否か、すなわち、エッジ画素であるか否かを判定する（ステップＳ２０６）。

制御部１００は、Ｐ［Ｒ，Ｃ］の画素値とＰ［Ｒ，ＣＭＡＸ－Ｃ］の画素値との何れかが２５５に等しい場合、スジ位置情報として、変数Ｒの値を、スジ位置情報記憶領域１６８に記憶する（ステップＳ２０６；Ｙｅｓ→ステップＳ２０８）。例えば、制御部１００は、変数ｔｍｐの値をインデックス番号とし、変数Ｒの値を行番号としたスジ位置情報を生成し、当該スジ位置情報をスジ位置情報記憶領域１６８に記憶する。

このように、制御部１００は、ステップＳ２０４及びステップＳ２０６における処理を実行することで、縦方向の差分画像を用いて、主走査方向に平行な辺（縦方向の差分画像の左端及び右端）の付近からエッジを検出する。具体的には、制御部１００は、縦方向の差分画像の左端及び右端から副走査方向にＣ画素分だけ離れた画素にアクセスし、アクセスした２画素のうち、１画素でもエッジ画素であれば、当該エッジ画素をスジとして検出する。そして、制御部１００は、スジを含む行を、スジ位置情報として記憶する。

つづいて、制御部１００は、変数ｔｍｐの値が、ＲＯＷ＿ＳＴＲＥＡＫ＿ＭＡＸＳＩＺＥに等しいか否かを判定する（ステップＳ２１０）。制御部１００は、変数ｔｍｐの値がＲＯＷ＿ＳＴＲＥＡＫ＿ＭＡＸＳＩＺＥに等しい場合は、エラー処理を実行する（ステップＳ２１０；Ｙｅｓ）。例えば、制御部１００は、エラー処理として、表示部１４０に、エラーを示すメッセージを表示したり、図７に示した処理及び図６に示したステップＳ１０６以降の処理を終了したりしてもよい。このようにして、制御部１００は、入力画像からＲＯＷ＿ＳＴＲＥＡＫ＿ＭＡＸＳＩＺＥ以上のスジを検出した場合、ユーザに対して、異常が生じている等の情報を通知することができる。

一方、制御部１００は、変数ｔｍｐの値が、ＲＯＷ＿ＳＴＲＥＡＫ＿ＭＡＸＳＩＺＥに等しくない場合、変数ｔｍｐの値に１を足した値を、変数ｔｍｐに代入する（ステップＳ２１０；Ｎｏ→ステップＳ２１２）。すなわち、制御部１００は、変数ｔｍｐをインクリメントする。

また、制御部１００は、ステップＳ２０６において、Ｐ［Ｒ，Ｃ］の画素値及びＰ［Ｒ，ＣＭＡＸ－Ｃ］の画素値が、何れも２５５ではない場合、変数Ｃの値がＳＥＡＲＣＨ＿ＭＡＸに等しいか否かを判定する（ステップＳ２０６；Ｎｏ→ステップＳ２１４）。制御部１００は、変数ＣがＳＥＡＲＣＨ＿ＭＡＸに等しくない場合、変数Ｃをインクリメントし、ステップＳ２０４に戻る（ステップＳ２１４；Ｎｏ→ステップＳ２１６→ステップＳ２０４）。このように、制御部１００は、変数ＣをインクリメントしながらステップＳ２０４及びステップＳ２０６の処理を実行することで、縦方向の差分画像の左端及び右端から、副走査方向に向かって、エッジ画素を探索することができる。

制御部１００は、ステップＳ２１２の処理の実行後又はステップＳ２１４において変数Ｃの値がＳＥＡＲＣＨ＿ＭＡＸに等しいと判定した場合（ステップＳ２１４；Ｙｅｓ）、変数Ｒの値がＲＭＡＸに等しいか否かを判定する（ステップＳ２１８）。ＲＭＡＸは、縦方向の差分画像の行番号の最大値（行幅）である。

制御部１００は、変数Ｒの値がＲＭＡＸに等しい場合は、図７に示した処理を終了する（ステップＳ２１８；Ｙｅｓ）。一方、制御部１００は、変数Ｒの値がＲＭＡＸに等しくない場合、変数Ｒをインクリメントし、ステップＳ２０２に戻る（ステップＳ２１８；Ｎｏ→ステップＳ２２０→ステップＳ２０２）。

［１．２．３ 第１スジ除去処理］
つづいて、第１スジ除去処理の流れについて、図８を参照して説明する。第１スジ除去処理とは、第１スジ検出処理により検出されたスジを、縦方向の差分画像と横方向の差分画像とを併用して除去する処理である。なお、以下の説明では、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］は、縦方向の差分画像におけるＲ行Ｃ列の画素を示し、画素Ｑ［Ｒ，Ｃ］は、横方向の差分画像におけるＲ行Ｃ列の画素を示す。

はじめに、制御部１００は、変数ｔｍｐに０を代入する（ステップＳ３００）。また、制御部１００は、スジ位置情報記憶領域１６８から、インデックス番号がｔｍｐであるスジ位置情報を取得し（ステップＳ３０２）、取得したスジ位置情報に含まれる行番号の値を、変数Ｒに代入する（ステップＳ３０４）。

つづいて、制御部１００は、変数Ｃに０を代入し（ステップＳ３０６）、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］にアクセスする（ステップＳ３０８）。さらに、制御部１００は、画素Ｑ［Ｒ，Ｃ］にアクセスし、画素Ｑ［Ｒ，Ｃ］の画素値が、２５５に等しいか否か、すなわち、エッジ画素であるか否かを判定する（ステップＳ３１０）。

制御部１００は、画素Ｑ［Ｒ，Ｃ］の画素値が、２５５に等しくない場合、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］の画素値に０を代入する（ステップＳ３１０；Ｎｏ→ステップＳ３１２）。すなわち、制御部１００は、Ｒ行Ｃ列の画素を、エッジ画素以外の画素に置換する。

このとき、制御部１００は、入力画像記憶領域１６２から、ステップＳ１００において取得した入力画像を読み出し、当該入力画像のＲ行Ｃ列の位置の画素を、周囲の画素の色に基づく色の画素に置換する。例えば、制御部１００は、入力画像のＲ行Ｃ列の位置の画素の画素値に、入力された原稿の下地の色に対応する画素値や、周囲の画素値の平均値を代入することで、入力画像の位置の画素の色を置換する。これにより、制御部１００は、入力画像のＲ行Ｃ列の位置の画素がエッジ画素であったとしても、当該エッジ画素の色を置換することにより、当該エッジ画素を除去することができる。

なお、制御部１００は、縦方向の差分画像において、Ｒ行Ｃ列の位置の画素が２５５である場合（エッジ画素である場合）に、入力画像のＲ行Ｃ列の位置の画素の画素値を変更してもよい。このようにすることで、制御部１００は、入力画像のＲ行Ｃ列の画素がエッジ画素である場合のみ、当該エッジ画素の色を置換することができる。

つづいて、制御部１００は、変数Ｃの値をインクリメントし（ステップＳ３１４）、変数Ｃの値が、ＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰに等しいか否かを判定する（ステップＳ３１６）。制御部１００は、変数Ｃの値が、ＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰに等しくない場合、ステップＳ３０８に戻る（ステップＳ３１６；Ｎｏ→ステップＳ３０８）。

このように、制御部１００は、変数Ｃの値をインクリメントしながら、ステップＳ３１０において、画素Ｑ［Ｒ，Ｃ］の画素値が２５５に等しいか判定する。ここで、画素Ｑ［Ｒ，Ｃ］の画素値が２５５である場合、当該画素は、原稿左辺に対応するエッジであると考えられる。したがって、制御部１００は、ステップＳ３１０の処理により、横方向の差分画像の端部（左端）に最も近い位置にあるエッジ画素を、原稿の左側の端部の画素として検出する。また、制御部１００は、原稿の左側の端部を検出するまで、ステップＳ３１２を繰り返し実行することで、スジを含むＲ行目の画素のうち、主走査方向に平行な辺（左端）から原稿の端部（左端）の位置までに含まれる画素を他の画素に置換する。これにより、制御部１００は、入力画像の左側部分において、原稿外の画素のみを、他の画素に置換することができる。

一方、制御部１００は、変数Ｃの値が、ＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰに等しい場合は、変数Ｃに０を代入する（ステップＳ３１６；Ｙｅｓ→ステップＳ３１８）。なお、制御部１００は、ステップＳ３１０において、Ｑ［Ｒ，Ｃ］の画素値が、２５５に等しいと判定した場合も、ステップＳ３１６における処理を実行する（ステップＳ３１０；Ｙｅｓ→ステップＳ３１８）。

つづいて、制御部１００は、画素Ｐ［Ｒ，ＣＭＡＸ－Ｃ］にアクセスする（ステップＳ３２０）。また、制御部１００は、画素Ｑ［Ｒ，ＣＭＡＸ－Ｃ］にアクセスし、画素Ｑ［Ｒ，ＣＭＡＸ－Ｃ］の画素値が２５５に等しいか否かを判定する（ステップＳ３２２）。

制御部１００は、画素Ｑ［Ｒ，ＣＭＡＸ－Ｃ］の画素値が２５５に等しくない場合、画素Ｐ［Ｒ，ＣＭＡＸ－Ｃ］の画素値に０を代入する（ステップＳ３２２；Ｎｏ→ステップＳ３２４）。ステップＳ３２４における処理は、ステップＳ３１２における処理と同様の処理である。

つづいて、制御部１００は、変数Ｃの値をインクリメントし（ステップＳ３２６）、変数Ｃの値が、ＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰに等しいか否かを判定する（ステップＳ３２８）。制御部１００は、変数Ｃの値が、ＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰに等しくない場合、ステップＳ３２０に戻る（ステップＳ３２８；Ｎｏ→ステップＳ３２０）。

このように、制御部１００は、変数Ｃの値をインクリメントしながら、ステップＳ３２２において画素Ｑ［Ｒ，ＣＭＡＸ－Ｃ］の画素値が２５５に等しいか判定する。これにより、制御部１００は、横方向の差分画像の端部（右端）に最も近いエッジ画素を、原稿の右側の端部の画素として検出する。また、制御部１００は、原稿の右側の端部を検出するまでステップＳ３２４を繰り返し実行するため、スジを含むＲ行目の画素のうち、主走査方向に平行な辺（右端）から原稿の端部（右端）の位置までに含まれる画素を他の画素に置換する。これにより、制御部１００は、入力画像の右側部分において、原稿外の画素のみを、他の画素に置換することができる。また、制御部１００は、入力画像の左側部分と右側部分とで、それぞれ原稿の端部を検出するまで画素を置換する処理を行うことで、入力画像の左側部分と右側部分とで、原稿の端部の位置が異なっていても、適切に原稿外のスジを除去することができる。

一方、制御部１００は、変数Ｃの値が、ＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰに等しい場合、変数ｔｍｐの値に１を足した値が、スジ位置情報記憶領域１６８に記憶されたスジ位置情報の総数に等しいか否かを判定する（ステップＳ３２８；Ｙｅｓ→ステップＳ３３０）。なお、制御部１００は、ステップＳ３２２において、画素Ｑ［Ｒ，ＣＭＡＸ－Ｃ］の画素値が２５５に等しいと判定した場合も、ステップＳ３３０における処理を実行する（ステップＳ３２２；Ｙｅｓ→ステップＳ３３０）。

制御部１００は、変数ｔｍｐの値に１を足した値が、スジ位置情報記憶領域１６８に記憶されたスジ位置情報の総数に等しい場合、図８に示す処理を終了する（ステップＳ３３０；Ｙｅｓ）。一方、制御部１００は、変数ｔｍｐの値に１を足した値が、スジ位置情報記憶領域１６８に記憶されたスジ位置情報の総数に等しくない場合、変数ｔｍｐをインクリメントして、ステップＳ３０２に戻る（ステップＳ３３０；Ｎｏ→ステップＳ３３２→ステップＳ３０２）。

［１．２．４ 第２スジ除去処理］
つづいて、第２スジ検出処理の流れについて、図９を参照して説明する。第２スジ検出処理は、行毎のエッジ画素の画素数のヒストグラムを生成する処理である。なお、以下の説明では、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］は、縦方向の差分画像におけるＲ行Ｃ列の画素を示す。

はじめに、制御部１００は、変数Ｒに０を代入する（ステップＳ４００）。また、制御部１００は、変数Ｃに０を代入し、変数ｔｍｐに０を代入する（ステップＳ４０２）。

つづいて、制御部１００は、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］にアクセスし（ステップＳ４０４）、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］の画素値が２５５に等しいか否かを判定する（ステップＳ４０６）。

制御部１００は、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］の画素値が２５５に等しい場合、変数ｔｍｐをインクリメントする（ステップＳ４０６；Ｙｅｓ→ステップＳ４０８）。なお、制御部１００は、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］の画素値が２５５に等しくない場合、ステップＳ４０８における処理を省略する（ステップＳ４０６；Ｎｏ）。すなわち、制御部１００は、縦方向の差分画像から検出されたエッジ画素の数を、副走査方向の位置（行）毎に集計する。

つづいて、制御部１００は、変数Ｃをインクリメントし（ステップＳ４１０）、変数Ｃの値がＣＭＡＸに等しいか否かを判定する（ステップＳ４１２）。制御部１００は、変数Ｃの値がＣＭＡＸに等しくない場合は、ステップＳ４０４に戻る（ステップＳ４１２；Ｎｏ→ステップＳ４０４）。

一方、制御部１００は、変数Ｃの値がＣＭＡＸに等しい場合、エッジ画素集計情報として、ｔｍｐの値を、エッジ画素集計情報記憶領域１７０に記憶する（ステップＳ４１４）。例えば、制御部１００は、変数Ｒの値を行番号とし、変数ｔｍｐの値をエッジ画素数としたエッジ画素集計情報を生成し、当該エッジ画素集計情報を、エッジ画素集計情報記憶領域１７０に記憶する。このようにすることで、行毎のエッジ画素の数がエッジ画素集計情報として記憶される。また、エッジ画素集計情報記憶領域１７０に記憶されたエッジ画素集計情報が、エッジ画素の画素数のヒストグラムを示す情報となる。

つづいて、制御部１００は、変数Ｒをインクリメントし（ステップＳ４１６）、変数Ｒの値がＲＭＡＸに等しいか否かを判定する（ステップＳ４１８）。制御部１００は、変数Ｒの値がＲＭＡＸに等しい場合、図９に示した処理を終了する（ステップＳ４１８；Ｙｅｓ）。一方、制御部１００は、変数Ｒの値がＲＭＡＸに等しくない場合、ステップＳ４０２に戻る（ステップＳ４１８；Ｎｏ→ステップＳ４０２）。

［１．２．５ 第２スジ除去処理］
つづいて、第２スジ除去処理の流れについて、図１０を参照して説明する。第２スジ除去処理は、第２スジ検出処理により生成したヒストグラムに基づき、スジが生じた行（位置）を検出し、当該検出したスジを除去する処理である。なお、以下の説明では、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］は、縦方向の差分画像におけるＲ行Ｃ列の画素を示す。

はじめに、制御部１００は、制御部１００は、変数Ｒに０を代入する（ステップＳ５００）。また、制御部１００は、変数Ｃに０を代入する（ステップＳ５０２）。

つづいて、制御部１００は、Ｒ行目のエッジ画素数が、ＨＩＳＴ＿ＭＡＸより大きいか否かを判定する（ステップＳ５０４）。制御部１００は、Ｒ行目のエッジ画素数が、ＨＩＳＴ＿ＭＡＸより大きい場合、入力画像のＲ行目にスジが生じているとして、当該Ｒ行目に含まれる画素を、スジとして検出する。

制御部１００は、Ｒ行目のエッジ画素数が、ＨＩＳＴ＿ＭＡＸより大きい場合、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］にアクセスする（ステップＳ５０４；Ｙｅｓ→ステップＳ５０６）し、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］の画素値に０を代入する（ステップＳ５０８）。なお、ステップＳ５０８における処理は、図８のステップＳ３１２における処理と同様の処理である。さらに、制御部１００は、変数Ｃをインクリメントする（ステップＳ５１０）。

つづいて、制御部１００は、変数Ｃの値が、ＣＭＡＸと等しいか否かを判定する（ステップＳ５１２）。制御部１００は、変数Ｃの値が、ＣＭＡＸの値と等しくない場合、ステップＳ５０６に戻る（ステップＳ５１２；Ｎｏ→ステップＳ５０６）。

このように、制御部１００は、ステップＳ５０６からステップＳ５１０までの処理を繰り返し実行することで、スジを検出した行に対し、当該行に含まれる画素を、他の画素に置換することができる。これにより、制御部１００は、スジを検出した行に含まれる画素がエッジ画素であったとしても、当該エッジ画素の色を置換することにより、当該エッジ画素を除去することができる。

なお、制御部１００は、ステップＳ５０４において、Ｒ行目のエッジ画素数が、ＨＩＳＴ＿ＭＡＸ以下であると判定した場合、上述したステップＳ５０６からステップＳ５１２までの処理を省略する（ステップＳ５０４；Ｎｏ）。

つづいて、制御部１００は、変数Ｒをインクリメントし（ステップＳ５１４）、変数Ｒの値がＲＭＡＸの値に等しいか否かを判定する（ステップＳ５１６）。制御部１００は、変数Ｒの値がＲＭＡＸの値に等しい場合、図１０に示した処理を終了する（ステップＳ５１６；Ｙｅｓ）。一方、制御部１００は、変数Ｒの値がＲＭＡＸの値に等しくない場合、ステップＳ５０２に戻る（ステップＳ５１６；Ｎｏ→ステップＳ５０２）。

［１．３ 動作例］
つづいて、本実施形態の動作例について説明する。なお、動作例の説明においては、入力画像として、図２７（ａ）に示したスキャン画像Ｐ９００が取得された場合について説明する。

図１１は、入力画像の差分画像を示す図である。図１１（ａ）は、スキャン画像Ｐ９００の縦方向の差分画像Ｐ１００である。図１１（ａ）のＥ１００及びＥ１０２は、スキャン画像Ｐ９００に生じたスジ状のノイズであるＥ９００及びＥ９０２のエッジ画素を示す。このように、入力画像に生じたスジ状のノイズは、縦方向の差分画像においてはエッジ画素として示される。縦方向の差分画像におけるエッジ画素に基づき、スジが生じた行（位置）が検出される。

図１１（ｂ）は、スキャン画像Ｐ９００の横方向の差分画像Ｐ１１０である。図１１（ｂ）の領域Ｒ１１０及び領域Ｒ１１２は、原稿のエッジ画素が含まれる範囲である。本実施形態では、スジが検出された行に対応する横方向の差分画像の画素（図１１（ｂ）のＥ１００及びＥ１０２における画素）の状態に応じて、除去されるエッジ画素（スジ）の範囲が決定される。

図１２（ａ）は、図１１（ａ）に示した縦方向の差分画像Ｐ１００における、エッジ画素を含む領域Ｅ１１０を示す図である。なお、図１２（ａ）におけるｐＲは行の方向を示し、ｐＣは列の方向を示す。また、以下の説明において、注目する画素の行番号をｒとし、注目する画素の列番号をｃとする。ここで、図１２（ａ）に示すように、ｃ＝０の位置は、縦方向の差分画像の左端の位置であり、ｃ＝ＣＭＡＸの位置は、縦方向の差分画像の右端の位置である。

図１２（ｂ）は、第１スジ検出処理の動作例を示す図である。注目している行がＲ行目（ｒ＝Ｒ）であるとき、図１２（ｂ）のＥ１２０に含まれる画素（Ｒ行目の画素群）からエッジ画素が探索される。このとき、変数Ｃの値が０からＳＥＡＲＣＨ＿ＭＡＸまで変化しながら、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］及び画素Ｐ［Ｒ，ＣＭＡＸ－Ｃ］にアクセスされる。これにより、縦方向の差分画像の左端（ｃ＝０）の画素からＰ３の方向へのエッジ画素が探索され、併せて、縦方向の差分画像の右端（ｃ＝ＣＭＡＸ）からＰ４の方向へのエッジ画素の探索がされる。例えば、注目している列がＣ列目（ｃ＝Ｃ）であるとき、Ｒ行目において、Ｃ列目に位置する画素Ｐ１２０と、（ＣＭＡＸ－Ｃ）を列目に位置する画素Ｐ１２２とが、エッジ画素であるか否かが判定される。また、変数Ｃの値が０からＳＥＡＲＣＨ＿ＭＡＸまで変化する間にエッジ画素が検出された場合、当該エッジ画素が存在する行番号（変数Ｒの値）が、スジ位置情報として記憶される。

図１３は、第１スジ除去処理において、エッジ画素（スジ）を削除する範囲を決定する動作の例を示す図である。図１３（ａ）は、図１１（ｂ）に示した横方向の差分画像Ｐ１１０と、図１２（ａ）に示した領域Ｅ１１０に対応する位置を示した図である。なお、図１３（ａ）におけるｐＲは行の方向を示し、ｐＣは列の方向を示す。また、ｃ＝０の位置は、横方向の差分画像の左端の位置であり、ｃ＝ＣＭＡＸの位置は、横方向の差分画像の右端の位置である。なお、ｃ＝０の位置とｃ＝ＣＭＡＸの位置は、縦方向の差分画像と横方向の差分画像とで同じである。

図１３（ｂ）は、図１３（ａ）に示した領域Ｅ１１０を拡大した図である。第１スジ除去処理において、エッジ画素が存在する行の画素に対して、Ｐ５の方向にエッジ画素が探索される。例えば、エッジ画素が存在する行がＲ行目（ｒ＝Ｒ）であるとき、図１３（ｂ）のＥ１３０に含まれる画素（Ｒ行目の画素群）から、エッジ画素が探索される。

はじめに、変数Ｃの値が０からＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰまで変化することにより、横方向の差分画像の左端（ｃ＝０）の画素からＰ５の方向へ、エッジ画素の探索が行われる。このとき、エッジ画素が見つかるまで、入力画像中のＲ行Ｃ列の画素が、周囲の画素の色に基づく色の画素に置き換えられる。図１３（ｂ）の例では、ｃ＝６の位置にエッジ画素がある。そのため、入力画像において、Ｒ行目のｃ＝０からｃ＝５までに位置する画素が、周囲の画素の色に基づく色の画素に置き換えられる。

つづいて、変数Ｃの値が０からＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰまで変化することにより、横方向の差分画像の左端（ｃ＝ＣＭＡＸ）の画素からＰ６の方向へ、エッジ画素の探索が行われる。このとき、エッジ画素が見つかるまで、入力画像中のＲ行（ＣＭＡＸ－Ｃ）列の画素が、周囲の画素の色に基づく色の画素に置き換えられる。図１３（ｂ）の例では、ｃ＝ＣＭＡＸの位置からｃ＝ＣＭＡＸ－ＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰの位置までにエッジ画素が無い。そのため、入力画像において、Ｒ行目のｃ＝ＣＭＡＸからｃ＝ＣＭＡＸ－ＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰまでに位置する画素が、周囲の画素の色に基づく色の画素に置き換えられる。

図１４は、第１スジ除去処理の動作例を示した図である。図１４のＥ１２０及びＥ１２４は、縦方向の差分画像の例を示す。また、図１４のＥ１２２及びＥ１２６は、横方向の差分画像を示す。また、Ｅ１２０及びＥ１２２は、第１スジ除去処理が実行される前の差分画像を示し、Ｅ１２４及びＥ１２６は、第１スジ除去処理が実行された後の差分画像を示す。

Ｅ１２０に示すように、縦方向の差分画像では、ｒ＝Ｒの行において、ｃ＝０からｃ＝３の位置まで、エッジ画素が含まれている。そのため、ｒ＝Ｒの行において、スジが検出される。一方、Ｅ１２２に示すように、横方向の差分画像では、ｒ＝Ｒの行において、ｃ＝６の列にエッジ画素が表れている。そのため、ｒ＝Ｒの行においては、ｃ＝０からｃ＝５までに表れるエッジ画素が除去される。

これにより、図１４のＥ１２４に示すように、ｒ＝Ｒの行において、ｃ＝０からｃ＝５までに存在するエッジ画素が除去される。なお、横方向の差分画像は、スジの除去に参照されるだけなので、Ｅ１２２及びＥ１２６に示すように、スジの除去の前後において、変化はない。

図１５は、第２スジ検出処理の動作例を示した図である。図１５の（ａ）は、入力画像Ｐ１３０の例を示す図である。また、図１５（ｂ）の差分画像Ｐ１３２は、入力画像Ｐ１３０の縦方向の差分画像を示す図である。ここで、差分画像Ｐ１３２のＥ１３２に示すように、入力画像の一端から他端まで、横方向にエッジ画素が表れている。

図１５（ｃ）は、差分画像Ｐ１３２に対して、行毎のエッジ画素の数を示したヒストグラムである。ヒストグラムの縦軸は行番号を示し、横軸は行番号に対応する行に含まれる画素数を示す。また、図１５（ｃ）における点線は、ＨＩＳＴ＿ＭＡＸに対応する画素数を示す。ここで、Ｅ１３４に示すように、図１５（ｂ）のＥ１３２に示した行におけるエッジ画素の画素数は、ＨＩＳＴ＿ＭＡＸよりも大きい。そのため、図１５（ｂ）のＥ１３２に対応する行から、スジが検出される。

図１６は、第２スジ除去処理の動作例を示した図である。図１６は、図１５（ｂ）のＥ１３２の部分を拡大した図である。ここで、第２スジ検出処理において、画素数がＨＩＳＴ＿ＭＡＸよりも大きい行の行番号がＲであったとする。この場合、Ｒ行目に含まれる画素群（図１６のＥ１３６）のうち、エッジ画素が一括で除去される。

図１７は、２つのスジ検出方法を用いることについての利点を示す図である。図１７（ａ）は、第１スジ検出処理では検出されないが、第２スジ除去処理では検出されるスジの例を示した図である。図１７（ａ）は、入力画像Ｐ１５０の例を示す図である。入力画像Ｐ１５０には、スジＲ１５０が表れている。しかし、スジの発生部分は、図１７のＥ１５０及びＥ１５１に示すように、入力画像（スキャナ画像）の端から、ＳＥＡＲＣＨ＿ＭＡＸ以上離れている。この場合、第１スジ検出処理では、スジＲ１５０は検出されない。

一般的に、スキャナの特性上、スジは、入力画像の端から発生することが多いが、スキャナの光学的条件によって、まれに入力画像の端から離れたところからスジが発生することがある。この場合、第１スジ検出処理のように、スジのエッジを入力画像の端から探索しても、スジの位置が検出されず、結果的にスジが除去されなくなってしまう。しかし、第２スジ検出処理のように、ヒストグラムを用いた手法を用いることにより、スジが入力画像の端から発生していなくても、スジの位置を検出することができる。このようにして検出されたスジは、第２スジ除去処理により除去される。

また、第１スジ検出処理によってスジのエッジを入力画像の端から探索することにより、原稿のエッジを除去することなく、スジのエッジのみを除去することができる。また、原稿のエッジとスジとが重なった場合であっても、原稿のエッジを残すことができる。

例えば、図１７（ｂ）は、図３０（ｂ）に示した縦方向の差分画像に対して、第１スジ除去処理及び第２スジ除去処理を実行した後の縦方向の差分画像Ｐ１５２を示す図である。図３０（ｂ）のＥ９３０に生じたスジは、第１スジ除去処理において、入力画像の端から、原稿のエッジ画素の位置又はＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰの位置までのエッジ画素が除去される。このとき、Ｅ９３０に生じたスジについて、最大で、ＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰ×２の数のエッジ画素が除去される。つづいて、第２スジ検出処理によってスジが検出されるが、Ｅ９３０におけるエッジ画素の数（最大でＣＭＡＸ－ＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰ×２）が、ＨＩＳＴ＿ＭＡＸ未満であれば、Ｅ９３０の行（位置）からはスジが検出されない。この結果、第２スジ除去処理後の差分画像は、図１７（ｂ）のＥ１５２に示すように、原稿の下辺のエッジ画素を一部残した状態となる。原稿のエッジ画素が残ることにより、その後の画像処理に悪影響が及ばなくなる。

図１８は、本実施形態における画像形成装置１０の処理の例を示す。入力画像Ｐ１６０の端にスジが生じている。このとき、エッジ検出処理により、縦方向の差分画像Ｐ１６２及び横方向の差分画像Ｐ１６４が得られる。第１スジ検出処理により、スジＥ１６０及びスジＥ１６１の位置が検出され、当該スジは、横方向の差分画像Ｐ１６４に基づき除去される。すなわち、スジを除去する範囲を探索するために、横方向の差分画像Ｐ１６４が間接的に活用される。これにより、原稿外に生じたスジが除去され、縦方向の差分画像Ｐ１６６が得られる。ここで、縦方向の差分画像Ｐ１６６には、ＨＩＳＴ＿ＭＡＸ以上のエッジ画素を含む行がない。そのため、第２スジ検出処理ではスジが検出されず、第２スジ除去処理の実行後、縦方向の差分画像Ｐ１６８が得られる。このようにして、入力画像Ｐ１６０から、原稿外に生じたスジＥ１６０及びスジＥ１６１が除去される。

図１９は、本実施形態における画像形成装置１０の処理の別の例を示す。入力画像Ｐ１７０にスジＥ１７０が生じている。このとき、エッジ検出処理により、縦方向の差分画像Ｐ１７２及び横方向の差分画像Ｐ１７４が得られる。ここで、図２０に示すように、Ｒ行目の画素群（図２０のＥ１７９に含まれる画素）において、以下の（１）及び（２）を満たす場合がある。
（１）スジの左端の画素であるエッジ画素Ｐ１７９ａの位置が、ＳＥＡＲＣＨ＿ＭＡＸよりも右の位置であること。すなわち、エッジ画素Ｐ１７９ａの横方向の位置を示すｃの値が、ＳＥＡＲＣＨ＿ＭＡＸよりも大きい値であること。
（２）スジの右端の画素であるエッジ画素Ｐ１７９ｂの位置が、（ＣＭＡＸ－ＳＥＡＲＣＨ＿ＭＡＸ）よりも左の位置であること。すなわち、エッジ画素Ｐ１７９ｂの横方向の位置を示すｃの値が、（ＣＭＡＸ－ＳＥＡＲＣＨ＿ＭＡＸ）未満の値であること。
このような場合、Ｒ行目に生じたスジは、第１スジ除去処理により除去されない。

第１スジ検出処理により、スジＥ１７０が除去されなかった場合、縦方向の差分画像Ｐ１７６が得られる。ここで、縦方向の差分画像Ｐ１７６において、スジＥ１７０が生じた行には、ＨＩＳＴ＿ＭＡＸ以上のエッジ画素が含まれている。そのため、第２スジ検出処理ではＥ１７０に対応するスジの位置が検出され、第２スジ除去処理の実行後、縦方向の差分画像Ｐ１７８が得られる。縦方向の差分画像Ｐ１７８には、Ｅ１７８に示すように、スジが除去されている。このようにして、入力画像Ｐ１７０から、スジＥ１７０が除去される。すなわち、スジの端の画素の位置が、ＳＥＡＲＣＨ＿ＭＡＸよりも大きく、かつ、（ＣＭＡＸ－ＳＥＡＲＣＨ＿ＭＡＸ）未満であるときは、第１スジ除去処理によって、図１９のスジＥ１７０は除去されない。しかし、このような場合であっても、第２スジ除去処理により、スジが生じた行におけるエッジ画素の総数がＨＩＳＴ＿ＭＡＸ以上であれば、当該スジは除去される。

図２１は、本実施形態における画像形成装置１０の処理の別の例を示す。入力画像Ｐ１８０には、スジＥ１８０が生じている。このとき、エッジ検出処理により、縦方向の差分画像Ｐ１８２及び横方向の差分画像Ｐ１８４が得られる。ここで、スジＥ１８０は、入力画像の端から、ＳＥＡＲＣＨ＿ＭＡＸ以上離れている。この場合、第１スジ検出処理では、スジＥ１８０が検出されない。そのため、第１スジ除去処理の実行後、縦方向の差分画像Ｐ１８６が得られる。ここで、縦方向の差分画像Ｐ１８６において、スジＥ１８０が残っている。スジＥ１８０は、第２スジ検出処理により検出される。これにより、第２スジ除去処理によりスジＥ１８０が除去され、第２スジ除去処理の実行後、縦方向の差分画像Ｐ１８８が得られる。縦方向の差分画像Ｐ１８８には、Ｅ１８８に示すように、スジが除去されている。このようにして、入力画像Ｐ１８０から、スジＥ１８０が除去される。

図２２は、本実施形態における画像形成装置１０の処理の別の例を示す。入力画像Ｐ１９０には、原稿Ｐ１９１の下辺のエッジに重なるように、スジＥ１９０が生じている。このとき、エッジ検出処理により、縦方向の差分画像Ｐ１９２及び横方向の差分画像Ｐ１９４が得られる。第１スジ検出処理によりスジＥ１９０が検出され、当該スジＥ１９０は、第１スジ除去処理により、一部が削除される。例えば、第１スジ除去処理後の縦方向の差分画像Ｐ１９６のＥ１９６及びＥ１９７に示すように、原稿の端からＳＥＡＲＣＨ＿ＳＴＯＰまでの範囲に表れるエッジ画素が除去される。

つづいて、第２スジ検出処理により、エッジ画素の画素数がＨＩＳＴ＿ＭＡＸ以上となる位置が検出される。ここで、一部が削除されたスジＥ１９０の位置は検出されない。この結果、第２スジ除去処理の実行後、縦方向の差分画像Ｐ１９８が得られる。例えば、縦方向の差分画像Ｐ１９８には、エッジ画素の一部が残る。このエッジ画素は、原稿の下辺のエッジ画素である。つまり、入力画像Ｐ１９０から、原稿の下辺のエッジ画素が全て削除されることなく、スジＥ１９０の一部が除去される。

なお、上述した説明以外であっても、矛盾のない範囲において、ステップの順番を変更したり、一部のステップを省略したりしても構わない。例えば、制御部１００は、第１スジ検出処理及び第２スジ検出処理を実行した後に、第１スジ除去処理及び第２スジ除去処理を実行してもよい。また、制御部１００は、第２スジ検出処理及び第２スジ除去処理を実行した後に、第１スジ検出処理及び第１スジ除去処理を実行してもよい。また、第１スジ検出処理及び第１スジ除去処理と、第２スジ検出処理及び第２スジ除去処理とを並行して実行してもよい。

また、制御部１００は、第２スジ検出処理において、スジが生じた行を検出してもよい。この場合、制御部１００は、第２スジ検出処理として、図９に記載した処理の代わりに、図２３に記載した処理を実行する。なお、図１０に記載した処理と同一の処理には同一の符号を付し、説明については省略する。

図２３に示した処理では、制御部１００は、ステップＳ４００からステップＳ４１８までの処理を実行することで、エッジ画素集計情報（エッジ画素のヒストグラムの情報）を記憶する。つづいて、制御部１００は、スジ位置情報記憶領域１６８からスジ位置情報を削除し（ステップＳ４５０）、変数Ｒに０を代入する（ステップＳ４５２）。

つづいて、制御部１００は、Ｒ行目のエッジ画素数がＨＩＳＴ＿ＭＡＸよりも大きい場合は、スジ位置情報として変数Ｒの値を記憶する（ステップＳ４５４；Ｙｅｓ→ステップＳ４５６）。ステップＳ４５４の処理は、図７のステップＳ２０８の処理と同様の処理である。このように記憶されたスジ位置情報は、第２の方法である、エッジ画素の画素数ヒストグラムに基づき検出されたスジを含む行（位置）を示す情報である。なお、制御部１００は、変数ｔｍｐの値がＨＩＳＴ＿ＭＡＸ以下である場合は、ステップＳ４５４の処理を省略する（ステップＳ４５４；Ｎｏ）。

つづいて、制御部１００は、変数Ｒをインクリメントし（ステップＳ４５８）、変数Ｒの値がＲＭＡＸに等しいか否かを判定する（ステップＳ４６０）。制御部１００は、変数Ｒの値がＲＭＡＸに等しい場合は図２３に示した処理を終了し（ステップＳ４６０；Ｙｅｓ）、変数Ｒの値がＲＭＡＸに等しくない場合は、ステップＳ４５４に戻る（ステップＳ４６０；Ｎｏ→ステップＳ４５４）。

制御部１００は、図２３に記載した第２スジ検出処理を実行した場合、第２スジ除去処理として、図１０に記載した処理の代わりに、図２４に記載した処理を実行する。なお、図１１に記載した処理と同一の処理には同一の符号を付し、説明については省略する。

はじめに、制御部１００は、制御部１００は、変数ｔｍｐに０を代入する（ステップＳ５５０）。また、制御部１００は、スジ位置情報記憶領域１６８から、インデックス番号がｔｍｐであるスジ位置情報を取得し（ステップＳ５５２）、取得したスジ位置情報に含まれる行番号の値を、変数Ｒに代入する（ステップＳ５５４）。

つづいて、制御部１００は、ステップＳ５０２及びステップＳ５０６からステップＳ５１２までの処理を実行する。制御部１００は、変数Ｃの値が、ＣＭＡＸと等しい場合、変数ｔｍｐの値に１を足した値が、スジ位置情報記憶領域１６８に記憶されたスジ位置情報の総数に等しいか否かを判定する（ステップＳ５５６）。制御部１００は、変数ｔｍｐの値に１を足した値が、スジ位置情報記憶領域１６８に記憶されたスジ位置情報の総数に等しい場合、図２４に示す処理を終了する（ステップＳ５５６；Ｙｅｓ）。一方、制御部１００は、変数ｔｍｐの値に１を足した値が、スジ位置情報記憶領域１６８に記憶されたスジ位置情報の総数に等しくない場合、変数ｔｍｐをインクリメントして、ステップＳ５５２に戻る（ステップＳ５５６；Ｎｏ→ステップＳ５５８→ステップＳ５０２）。

このように、制御部１００は、図２３及び図２４に記載した処理を実行した場合であっても、エッジ画素数のヒストグラムに基づき、入力画像からスジを除去できる。

また、制御部１００は、横方向の差分画像において、主走査方向に伸びるエッジ画素を主走査方向に膨張させてもよい。つまり、制御部１００は、上下方向に伸びるエッジを延長させる。このようにすることで、制御部１００は、原稿のエッジ画素のうち、原稿の角部分におけるエッジ画素を、第１スジ検出処理のステップＳ３０８やステップＳ３１８において、検出しやすくすることができる。

また、情報の記憶方法は、適宜変更してもよい。例えば、スジ位置情報は、スジに該当する画素が存在する行番号を格納する可変長配列として記憶されてもよい。例えば、制御部１００は、図７のステップＳ２０８において、可変長配列ROW_Streakのｔｍｐ番目の要素として、Ｒの値を代入してもよい（ROW_Streak[tmp]←R）。また、エッジ画素集計情報は、縦方向の差分画像の画素Ｐ［ｒ、ｃ］の、ｒ行目に存在するエッジ画素の数を格納する配列として記憶されてもよい。例えば、制御部１００は、図９のステップＳ４１４において、配列histのＲ番目の要素として、ｔｍｐの値を代入してもよい（hist[R]←tmp）。

また、上述した説明では、スジであるか否かを、縦方向の差分画像における注目画素の画素値が２５５であるか否かに基づいて判定したが、注目画素の画素値が予め定められた閾値以上である場合にスジであると判定されてもよい。例えば、制御部１００は、図７のステップＳ２０６において、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］又は画素Ｐ［Ｒ，ＣＭＡＸ－Ｃ］の何れか一方の画素値が、予め定められた閾値以上である場合、ステップＳ２０６における条件を満たすと判定してもよい。同様に、制御部１００は、図９のステップＳ４０６において、画素Ｐ［Ｒ，Ｃ］の画素値が、予め定められた閾値以上である場合、ステップＳ４０６における条件を満たすと判定してもよい。なお、同様にして、制御部１００は、図８のステップＳ３０８において、横方向の差分画像における注目画素の画素値が予め定められた閾値以上である場合に、ステップＳ３０８における条件を満たすと判定してもよい。すなわち、制御部１００は、エッジを検出する場合における条件を、画素値が２５５であるという条件以外の条件としてもよい。

また、上述した第１の方法及び第２の方法は一例であって、制御部１００は、他の方法により入力画像からスジを除去してもよい。

このように、本実施形態の画像形成装置は、原稿のエッジを除去せずに、スジのエッジだけを除去することができる。特に、本実施形態では、２つのスジ検出処理及びスジ除去処理を実行することにより、スジのエッジが入力画像の端から離れている場合や、原稿端と一致している場合等、様々な状態のスジに対応してスジの検出及び除去が可能である。

このように、本実施形態の画像形成装置は、縦方向／横方向の差分画像を併用するスジ検出方法と、ヒストグラム方式によるスジ検出方法との２つの方法を併用することにより、スジの除去の確実性を高めることができる。すなわち、本実施形態の画像形成装置は、従来のスキュー補正／クロップ処理に加え、２種類のスジ検出／除去処理を実行する。これにより、画像形成装置は、入力画像に基づく画像を適切に出力することができる。また、本実施形態の画像形成装置は、スジ除去方式として、原稿内／原稿外を区別し、確実に切り分けて処理することで、エッジ画素のうち、原稿外のエッジ画素のみを除去することができる。このようにして、本実施形態の画像形成装置は、原稿外のエッジ画素を除去することで、原稿のエッジをできるだけ残すことができる。この結果、本実施形態の画像形成装置は、クロップ処理におけるエッジ（原稿のエッジ）を正確に検出することができ、ユーザにとって不都合な自体が生させることなく、適切な画像処理を実行し、処理後の画像を出力することができる。

［２．第２実施形態］
つづいて第２実施形態について説明する。第２実施形態は第１実施形態と異なり、複数の原稿の画像が取得される場合、１枚目の原稿に対して検出したスジの情報に基づき、２枚目以降の原稿において探索する範囲を限定する実施形態である。なお、本実施形態は、第１実施形態の図３を図２５に、図６を図２６にそれぞれ置き換えたものである。なお、同一の処理には同一の符号を付し、説明については省略する。

本実施形態では、パラメータ情報記憶領域１６６には、第１実施形態において説明したパラメータ情報の加えて、パラメータ名「Streak_Buf」に対応するパラメータ値（例えば、「１０」）を含むパラメータ情報が記憶される。Streak_Bufは、２枚目以降の原稿の画像に対するスジ検出及びスジ除去の処理範囲を示す値である。なお、以下の説明では、パラメータ名「Streak_Buf」に対応するパラメータ値を、Ｓｔｒｅａｋ＿Ｂｕｆと記載する。

図２６を参照して、本実施形態におけるメイン処理の流れを説明する。本実施形態では、ステップＳ１０２において差分画像を生成したあと、ステップＳ１００において読み取った原稿が２枚目以降の原稿であるか否かを判定する（ステップＳ６００）。

制御部１００は、２枚目以降の原稿である場合、１枚目の原稿から検出したスジの位置に基づき、第１スジ検出処理、第１スジ除去処理、第２スジ検出処理、第２スジ除去処理を実行する対象となる範囲（処理範囲）を縮小する（ステップＳ６００；Ｙｅｓ→ステップＳ６０２）。例えば、制御部１００は、処理範囲を、スジの位置の前後Ｓｔｒｅａｋ＿Ｂｕｆ行分だけにする。この場合、制御部１００は、スジの位置（行番号）がＲであるとき、処理範囲を（Ｒ－Ｓｔｒｅａｋ＿Ｂｕｆ）行目から（Ｒ＋Ｓｔｒｅａｋ＿Ｂｕｆ）行目までにする。これにより、制御部１００は、２枚目以降の前記原稿の画像からスジを検出したりスジを除去したりする場合、１枚目の原稿の画像から検出したスジの位置の周辺から、スジを検出したりスジを除去したりすることができる。

なお、制御部１００は、読み取った原稿が２枚目以降の原稿ではない場合、すなわち、１枚目の原稿である場合は、ステップＳ２０２における処理を省略する（ステップＳ６０２；Ｎｏ）。この場合、第１スジ除去処理、第２スジ検出処理、第２スジ除去処理を実行する対象の範囲は、入力画像の全ての行となる。

また、本実施形態では、制御部１００は、第１スジ検出処理を実行する前に、スジ位置情報記憶領域１６８に記憶されたスジ位置情報を削除する。これにより、制御部１００は、処理対象の原稿以外の原稿から検出されたスジの情報に基づき、処理対象の原稿の入力画像からエッジ画素を除去することを防ぐ。

つづいて、制御部１００は、ステップＳ１１０において第２スジ除去処理を実行したあと、ステップＳ１００において読み取った原稿が１枚目の原稿であるか否かを判定する（ステップＳ６０４）。

制御部１００は、読み取った原稿が１枚目の原稿である場合、ステップＳ１０４からステップＳ１１０までの処理において検出したスジの位置の情報（例えば、行番号）を記憶部１６０に記憶する（ステップＳ６０４；Ｙｅｓ→ステップＳ６０６）。なお、制御部１００は、１枚目の原稿から検出したスジの位置の情報は、ステップＳ６０２において読み出すことで、１枚目の原稿のスジの位置の情報を取得すればよい。

一方、制御部１００は、読み取った原稿が１枚目の原稿ではない場合、ステップＳ６０６における処理を省略する（ステップＳ６０４；Ｎｏ）。

また、制御部１００は、ステップＳ１０８において画像を出力したら、全ての原稿を読み取ったか否かを判定する（ステップＳ６０８）。制御部１００は、全ての原稿を読み取った場合、図２６に示す処理を終了する（ステップＳ６０８；Ｙｅｓ）。一方、制御部１００は、全ての原稿を読み取っていない場合、ステップＳ１００に戻る（ステップＳ６０８；Ｎｏ→ステップＳ１００）

図２７を参照して、本実施形態の動作例を説明する。図２７（ａ）は、１枚目の原稿に対応する入力画像Ｐ２００を示す図である。ここで、入力画像Ｐ２００において、スジＥ２００が検出されたとする。本実施形態の画像形成装置１０は、１枚目の原稿の入力画像Ｐ２００から検出されたスジＥ２００の位置が記憶される。

図２７（ｂ）は、２枚目の原稿に対応する入力画像Ｐ２１０を示す図である。画像形成装置１０は、２枚目以降の原稿の入力画像については、１枚目の原稿の入力画像Ｐ２００から検出されたスジＥ２００の行（位置）の前後Ｓｔｒｅａｋ＿Ｂｕｆ行に対応する行（Ｅ２１０）だけを、スジ検出及びスジ除去の処理範囲とする。

３枚目以降の原稿の入力画像についても、同様にして、画像形成装置１０は、スジＥ２００の位置の前後Ｓｔｒｅａｋ＿Ｂｕｆ行に対応する行（図２７（ｂ）に示したＥ２１０に対応する行）だけを、スジ検出及びスジ除去の処理範囲とする。

このように、本実施形態の画像形成装置は、１枚目の原稿で検出したスジの位置を、２枚目以降の原稿の入力画像に対するスジの検出及び除去に利用する。具体的には、画像形成装置は、２枚目以降の原稿の入力画像に対しては、１枚目の原稿で検出したスジの位置の前後数行分を処理範囲として、１枚目の原稿の入力画像に対するスジ検出処理及びスジ検出処理と同様の処理を実行する。これにより、画像形成装置は、スジ検出の処理及びスジ除去の処理に必要となる処理時間の短縮を実現することができる。

［３．第３実施形態］
つづいて第３実施形態について説明する。第３実施形態は第１実施形態と異なり、縮小した差分画像に基づき、スジの検出及び除去を行う実施形態である。なお、本実施形態は、第１実施形態の図６を図２８に置き換えたものである。なお、同一の機能部及び処理には同一の符号を付し、説明については省略する。

図２８を参照して、本実施形態におけるメイン処理の流れを説明する。本実施形態では、制御部１００は、差分画像を生成した後、当該差分画像を縮小する（ステップＳ７００）。例えば、制御部１００は、差分画像の縦の長さ及び横の長さを、何れも四分の一に縮小することで、差分画像全体の大きさを、四分の一（２５％）に縮小する。

また、本実施形態では、第１スジ検出処理、第１スジ除去処理、第２スジ検出処理、第２スジ除去処理を、縮小した差分画像を用いて実行する。

四分の一の大きさに縮小した差分画像を用いた場合を一例として説明する。制御部１００は、第１スジ検出処理において、縮小された差分画像に基づきスジの位置を検出する。このとき、制御部１００は、入力画像に対する差分画像の縮小率を考慮して、入力画像におけるスジの発生位置を算出する。具体的には、制御部１００は、縮小された差分画像のＲ行目からスジを検出した場合、入力画像の（４×Ｒ）行目から（４×Ｒ＋３）行目にスジが生じていると判定する。また、制御部１００は、第１スジ除去処理において、縮小された横方向の差分画像に対して、ｃ＝０の位置からエッジ画素を探索した場合、ｃ＝Ｃの位置の画素がエッジ画素であるとき、入力画像におけるエッジの削除範囲を、０列目から（４×Ｃ）列目までとする。

また、制御部１００は、第２スジ除去処理も同様に、Ｒ行目のエッジ画素の数がＨＩＳＴ＿ＭＡＸ以上である場合、入力画像の（４×Ｒ）行目から（４×Ｒ＋３）行目にスジが生じていると判定し、当該行からエッジ画素を除去する。このようにして、制御部１００は、入力画像からスジを検出及び除去する場合、入力画像に対する差分画像の縮小率を考慮して、スジが発生した行や、スジを除去する範囲を決定する。

このように、本実施形態の画像形成装置は、差分画像のサイズを小さくした上で、スジ検出処理及びスジ除去処理を実行する。これにより、画像形成装置は、処理速度の向上や、使用するメモリ量の削減を実現することができる。

［４．変形例］
本発明は上述した各実施の形態に限定されるものではなく、種々の変更が可能である。すなわち、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において適宜変更した技術的手段を組み合わせて得られる実施の形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。

また、上述した実施形態は、説明の都合上、それぞれ別に説明している部分があるが、技術的に可能な範囲で組み合わせて実行してもよいことは勿論である。例えば、第２実施形態と第３実施形態とを組み合わせてもよい。この場合、画像形成装置は、縮小した差分画像に基づきスジ検出処理及びスジ除去処理を実行し、また、２枚目以降の原稿の入力画像においては、１枚目の原稿から検出したスジの位置に基づき、処理範囲を縮小する。これにより、画像形成装置は、入力画像からスジを除去する処理の処理時間を短縮することができる。

上述した実施形態では、本開示に係る画像処理装置を画像形成装置として構成した場合について説明した。しかし、本開示に係る画像処理装置は、スキャナ等の画像読取装置に適用されてもよいし、画像の補正を行うプログラムやプラグイン等に適用されてもよい。また、本開示に係る画像処理装置がサーバ装置に適当されることにより、画像を補正するサービスとして提供されてもよい。この場合、画像形成装置や画像読取装置は、原稿の画像を読み取った後、当該読み取った画像を入力画像として、画像を補正するサービスに送信する。画像を補正するサービスでは、受信した入力画像に対して、エッジ検出処理、第１スジ検出処理、第１スジ除去処理、第２スジ検出処理、第２スジ除去処理を実行し、実行後の入力画像を、入力画像を送信した画像形成装置や画像読取装置に送信する。その後、画像形成装置や画像読取装置では、画像を補正するサービスから受信した画像に対して、スキュー処理やクロップ処理等の画像処理を行えばよい。

また、実施形態において各装置で動作するプログラムは、上述した実施形態の機能を実現するように、ＣＰＵ等を制御するプログラム（コンピュータを機能させるプログラム）である。そして、これら装置で取り扱われる情報は、その処理時に一時的に一時記憶装置（例えば、ＲＡＭ）に蓄積され、その後、各種ＲＯＭ（Read Only Memory）やＨＤＤ等の記憶装置に格納され、必要に応じてＣＰＵによって読み出し、修正・書き込みが行なわれる。

ここで、プログラムを格納する記録媒体としては、半導体媒体（例えば、ＲＯＭや、不揮発性のメモリカード等）、光記録媒体・光磁気記録媒体（例えば、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＭＯ（Magneto Optical Disc）、ＭＤ（Mini Disc）、ＣＤ（Compact Disc）、ＢＤ （Blu-ray（登録商標） Disk） 等）、磁気記録媒体（例えば、磁気テープ、フレキシブルディスク等）等の何れであってもよい。また、ロードしたプログラムを実行することにより、上述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムの指示に基づき、オペレーティングシステムあるいは他のアプリケーションプログラム等と共同して処理することにより、本発明の機能が実現される場合もある。

また、市場に流通させる場合には、可搬型の記録媒体にプログラムを格納して流通させたり、インターネット等のネットワークを介して接続されたサーバコンピュータに転送したりすることができる。この場合、サーバコンピュータの記憶装置も本発明に含まれるのは勿論である。

１０ 画像形成装置
１００ 制御部
１０２ 画像処理部
１０４ エッジ検出部
１０６ 原稿範囲検出部
１０８ スキュー判定部
１２０ 画像入力部
１３０ 画像形成部
１４０ 表示部
１５０ 操作部
１６０ 記憶部
１６２ 入力画像記憶領域
１６４ 差分画像記憶領域
１６６ パラメータ情報記憶領域
１６８ スジ位置情報記憶領域
１７０ エッジ画素集計情報記憶領域
１９０ 通信部

Claims (12)

1. 原稿の画像を入力する入力部と、制御部とを備え、
   前記制御部は、
   前記画像から第１の方法によりスジを除去し、
   前記画像から前記第１の方法とは異なる第２の方法によりスジを除去し、
   前記スジが除去された前記画像に対してクロップ処理を実行する
   ことを特徴とする画像処理装置。
2. 前記制御部は、前記第１の方法として、前記画像において主走査方向に平行な辺の付近で検出されたエッジをスジとして検出し、検出した当該スジを除去することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
3. 前記制御部は、
   前記画像において、主走査方向に隣接した画素の画素値の差分に基づき検出したエッジ画素を、前記エッジとして検出することを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
4. 前記制御部は、前記画像において前記主走査方向に平行な辺の付近で検出した前記スジを含む行を構成する画素のうち、当該主走査方向に平行な辺から前記原稿の端部までに含まれる画素を置換することにより、当該スジを除去することを特徴とする請求項２又は３に記載の画像処理装置。
5. 前記制御部は、前記画像において、副走査方向に隣接した画素の画素値の差分に基づき検出したエッジ画素のうち、当該前記主走査方向に平行な辺に対して、最も近い位置にあるエッジ画素を、前記原稿の端部の画素として検出することを特徴とする請求項４に記載の画像処理装置。
6. 前記制御部は、前記第２の方法として、前記画像において、行毎に、その行に含まれるエッジ画素の画素数を集計し、前記エッジ画素の画素数が所定の閾値よりも大きい行に含まれる画素をスジとして検出し、検出した当該スジを除去することを特徴とする請求項１から５の何れか一項に記載の画像処理装置。
7. 前記制御部は、前記エッジ画素の数が所定の閾値を超えた行に含まれる画素を置換することにより、前記エッジ画素の数が所定の閾値を超えた行に含まれるスジを除去することを特徴とする請求項６に記載の画像処理装置。
8. 前記制御部は、
   主走査方向に隣接した画素の画素値の差分に基づく主走査方向の差分画像と、副走査方向に隣接した画素の画素値の差分に基づく副走査方向の差分画像とを生成し、
   前記主走査方向の差分画像及び前記副走査方向の差分画像を用いて、前記スジを除去することを特徴とする請求項１から７の何れか一項に記載の画像処理装置。
9. 前記制御部は、縮小した前記主走査方向の差分画像及び縮小した前記副走査方向の差分画像を用いて、前記スジを除去することを特徴とする請求項８に記載の画像処理装置。
10. 前記制御部は、
    複数の前記原稿の画像を入力する場合であって、２枚目以降の前記原稿の画像から前記スジを除去する場合、１枚目の前記原稿の画像から検出した前記スジを含む行の周辺の行から前記スジを検出し、当該検出したスジを除去する
    ことを特徴とする請求項１から９の何れか一項に記載の画像処理装置。
11. 画像処理装置の制御方法であって、
    入力された画像から第１の方法によりスジを除去するステップと、
    前記画像から前記第１の方法とは異なる第２の方法によりスジを除去するステップと、
    前記スジが除去された前記画像に対してクロップ処理を実行するステップと、
    を含むことを特徴とする制御方法。
12. コンピュータに、
    入力された画像から第１の方法によりスジを除去する機能と、
    前記画像から前記第１の方法とは異なる第２の方法によりスジを除去する機能と、
    前記スジが除去された前記画像に対してクロップ処理を実行する機能と、
    を実現させることを特徴とするプログラム。

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