JP2023067933A - Acoustic wave device and module with the same - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an acoustic wave device capable of improving heat dissipation.
SOLUTION: An acoustic wave device comprises: a wiring board; a heat radiation pattern formed on the wiring board; a substrate bonded with the wiring board via a plurality of bumps; a plurality of serial resonators formed on the substrate; a wiring electrically connecting the plurality of serial resonators formed on the substrate; a plurality of bump pads formed on the substrate; a heat radiation bump pad bonded to the wiring and contained in the wiring of the plurality of bump pads; and a sealing part that air-tightly seals the substrate with the wiring board. The heat radiation bump pad formed by a metal is bounded to the heat radiation pattern formed by the metal via each bump formed by the metal, and the heat radiation pattern formed by the metal electrically connects the plurality of serial resonators formed on the substrate, and is electrically connected to the wiring formed by the metal.
SELECTED DRAWING: Figure 1
COPYRIGHT: (C)2023,JPO&INPIT

Description

本開示は、弾性波デバイスおよびその弾性波デバイスを備えるモジュールに関連する。 The present disclosure relates to acoustic wave devices and modules comprising the acoustic wave devices.

特許文献1は、弾性波デバイスを開示する。当該弾性波デバイスは、貫通ビア等の放熱経路を介して放熱する。 Patent Literature 1 discloses an acoustic wave device. The acoustic wave device radiates heat through heat radiation paths such as through vias.

特開2017-157922号公報JP 2017-157922 A

しかしながら、特許文献1に記載の弾性波デバイスの放熱経路においては、熱容量が十分でない。このため、放熱性が十分でない。 However, the heat dissipation path of the acoustic wave device described in Patent Document 1 does not have a sufficient heat capacity. Therefore, heat dissipation is not sufficient.

本開示は、上述の課題を解決するためになされた。本開示の目的は、放熱性を向上することができる弾性波デバイスおよびその弾性波デバイスを備えるモジュールを提供することである。 The present disclosure has been made to solve the above problems. An object of the present disclosure is to provide an acoustic wave device capable of improving heat dissipation and a module including the acoustic wave device.

本開示にかかる弾性波デバイスは、
配線基板と、
金属で形成され、前記配線基板上に形成された放熱用パターンと、
前記配線基板と複数のバンプを介してボンディングされた基板と、
前記基板上に形成された複数の直列共振器と、
金属で形成され、前記基板上に形成された前記複数の直列共振器同士を電気的に接続する配線と、
前記基板上に形成された複数のバンプパッドと、
前記複数のバンプパッドのうち、金属で形成され、前記配線と接合され前記配線に含まれる放熱用バンプパッドと、
前記基板を前記配線基板とともに気密封止する封止部と、
を備える弾性波デバイスであって、
金属で形成された前記放熱用バンプパッドが、金属で形成された前記放熱用パターンに、金属で形成されたバンプを介してボンディングされることで、
金属で形成された前記放熱用パターンは、前記基板上に形成された前記複数の直列共振器同士を電気的に接続する、金属で形成された前記配線と電気的に接続された弾性波デバイスとした。
The acoustic wave device according to the present disclosure is
a wiring board;
a heat dissipation pattern made of metal and formed on the wiring substrate;
a substrate bonded to the wiring substrate via a plurality of bumps;
a plurality of series resonators formed on the substrate;
wiring that is made of metal and that electrically connects the plurality of series resonators formed on the substrate;
a plurality of bump pads formed on the substrate;
a heat radiation bump pad formed of metal among the plurality of bump pads and joined to the wiring and included in the wiring;
a sealing portion that hermetically seals the substrate together with the wiring substrate;
An acoustic wave device comprising:
By bonding the heat radiation bump pad made of metal to the heat radiation pattern made of metal via a bump made of metal,
The heat dissipation pattern made of metal is an acoustic wave device electrically connected to the wiring made of metal that electrically connects the plurality of series resonators formed on the substrate. bottom.

前記放熱用パターンは、接地されていないことが、本開示の一形態とされる。 It is an aspect of the present disclosure that the heat radiation pattern is not grounded.

前記放熱用パターンは、前記配線基板に形成された電気信号が通過する配線と直接的に接続されていないことが、本開示の一形態とされる。 It is an aspect of the present disclosure that the heat dissipation pattern is not directly connected to wiring formed on the wiring board and through which electrical signals pass.

前記放熱用パターンは、前記バンプ以外の金属と接合していないことが、本発明の一形態とされる。 One aspect of the present invention is that the heat radiation pattern is not bonded to any metal other than the bumps.

前記配線基板は、放熱用ビアおよび第二放熱用パターンを備え、前記放熱用パターンは、前記放熱用ビアを介して前記第二放熱用パターンと接合されていることが、本発明の一形態とされる。 According to one aspect of the present invention, the wiring board includes heat radiation vias and a second heat radiation pattern, and the heat radiation pattern is joined to the second heat radiation pattern through the heat radiation vias. be done.

前記封止部は、前記放熱用パターンと接合されていることが、本開示の一形態とされる。 It is an aspect of the present disclosure that the sealing portion is joined to the heat dissipation pattern.

前記封止部は、樹脂で形成され、
前記放熱用パターンを形成する金属は、前記封止部を形成する樹脂と接合する領域の少なくとも一部において、粗化処理がなされていることが、本開示の一形態とされる。
The sealing portion is made of resin,
It is an aspect of the present disclosure that the metal forming the heat radiation pattern is roughened in at least part of a region that is bonded to the resin forming the sealing portion.

前記基板は、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム、水晶または圧電セラミックスからなる基板であることが、本開示の一形態とされる。 An aspect of the present disclosure is that the substrate is a substrate made of lithium tantalate, lithium niobate, quartz, or piezoelectric ceramics.

前記基板は、サファイア、シリコン、アルミナ、スピネル、水晶またはガラスからなる支持基板が接合されていることが、本開示の一形態とされる。 It is an aspect of the present disclosure that the substrate is bonded to a support substrate made of sapphire, silicon, alumina, spinel, crystal, or glass.

複数の並列共振器をさらに備える、ラダー型フィルタを含んでいることが、本開示の一形態とされる。 It is an aspect of the present disclosure to include a ladder filter that further comprises a plurality of parallel resonators.

前記弾性波デバイスを備えるモジュールが、本開示の一形態とされる。 A module including the acoustic wave device is one aspect of the present disclosure.

本開示によれば、放熱性を向上することができる弾性波デバイスおよびその弾性波デバイスを備えるモジュールを提供することができる。 According to the present disclosure, it is possible to provide an acoustic wave device capable of improving heat dissipation and a module including the acoustic wave device.

実施の形態1における弾性波デバイスの縦断面図である。1 is a longitudinal sectional view of an acoustic wave device according to Embodiment 1; FIG. 実施の形態1における弾性波デバイスの斜視図である。1 is a perspective view of an acoustic wave device according to Embodiment 1; FIG. 実施の形態1における弾性波デバイスの平面図である。1 is a plan view of an acoustic wave device according to Embodiment 1; FIG. 実施の形態1における弾性波デバイスの弾性波素子の例を示す図である。4A and 4B are diagrams illustrating an example of an acoustic wave element of the acoustic wave device according to Embodiment 1; FIG. 実施の形態1における弾性波デバイスの弾性波素子が音響薄膜共振器である例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing an example in which the acoustic wave element of the acoustic wave device in Embodiment 1 is an acoustic thin film resonator; 実施の形態2における弾性波デバイスが適用されるモジュールの縦断面図である。FIG. 10 is a vertical cross-sectional view of a module to which the acoustic wave device according to Embodiment 2 is applied;

実施の形態について添付の図面に従って説明する。なお、各図中、同一または相当する部分には同一の符号が付される。当該部分の重複説明は適宜に簡略化ないし省略される。 Embodiments will be described with reference to the accompanying drawings. In addition, the same code|symbol is attached|subjected to the part which is the same or corresponds in each figure. Redundant description of the relevant part will be simplified or omitted as appropriate.

実施の形態1.
図1は実施の形態1における弾性波デバイスの縦断面図である。図2は実施の形態1における弾性波デバイスの斜視図である。
Embodiment 1.
FIG. 1 is a longitudinal sectional view of an acoustic wave device according to Embodiment 1. FIG. FIG. 2 is a perspective view of the acoustic wave device according to Embodiment 1. FIG.

図1と図2は、弾性波デバイス1として、デュプレクサである弾性波デバイスの例を示す。 1 and 2 show an example of an acoustic wave device that is a duplexer as the acoustic wave device 1. FIG.

図1に示されるように、弾性波デバイス1は、配線基板3と放熱用パターン6と複数のバンプ15とデバイスチップ5と封止部17とを備える。 As shown in FIG. 1, the acoustic wave device 1 includes a wiring board 3, a heat radiation pattern 6, a plurality of bumps 15, a device chip 5, and a sealing portion 17. As shown in FIG.

例えば、配線基板3は、樹脂からなる多層基板である。例えば、配線基板3は、複数の誘電体層からなる低温同時焼成セラミックス(Low Temperature Co-fired Ceramics:LTCC)多層基板である。 For example, the wiring board 3 is a multilayer board made of resin. For example, the wiring board 3 is a Low Temperature Co-fired Ceramics (LTCC) multilayer board consisting of a plurality of dielectric layers.

放熱用パターン6は、配線基板3上に形成される。例えば、放熱用パターン6は、金属により形成されている。 A heat radiation pattern 6 is formed on the wiring substrate 3 . For example, the heat dissipation pattern 6 is made of metal.

複数のバンプ15は、配線基板3と電気的に接続される。例えば、バンプ15は、金バンプである。例えば、バンプ15の高さは、20μmから50μmである。複数のバンプ15は、デバイスチップ5の第一主面の配線と電気的に接続される。 A plurality of bumps 15 are electrically connected to wiring board 3 . For example, bump 15 is a gold bump. For example, the bump 15 has a height of 20 μm to 50 μm. A plurality of bumps 15 are electrically connected to wiring on the first main surface of device chip 5 .

デバイスチップ5は、配線基板3と複数のバンプ15を介してボンディングされる。 The device chip 5 is bonded to the wiring board 3 via a plurality of bumps 15 .

例えば、デバイスチップ5は、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウムまたは水晶などの圧電単結晶で形成された基板である。例えば、デバイスチップ5は、圧電セラミックスで形成された基板である。例えば、デバイスチップ5は、圧電基板と支持基板とが接合された基板である。例えば、支持基板は、サファイア、シリコン、アルミナ、スピネル、水晶またはガラスで形成された基板である。 For example, the device chip 5 is a substrate made of piezoelectric single crystal such as lithium tantalate, lithium niobate, or quartz. For example, the device chip 5 is a substrate made of piezoelectric ceramics. For example, the device chip 5 is a substrate in which a piezoelectric substrate and a support substrate are bonded together. For example, the support substrate is a substrate made of sapphire, silicon, alumina, spinel, quartz or glass.

デバイスチップ5は、機能素子が形成される基板である。例えば、デバイスチップ5の主面(図1の下面)において、受信フィルタと送信フィルタとが形成される。 The device chip 5 is a substrate on which functional elements are formed. For example, a receive filter and a transmit filter are formed on the main surface of the device chip 5 (bottom surface in FIG. 1).

受信フィルタは、所望の周波数帯域の電気信号が通過し得るように形成される。例えば、受信フィルタは、複数の直列共振器と複数の並列共振器からなるラダー型フィルタである。 The receive filter is formed so that an electrical signal in a desired frequency band can pass. For example, the receive filter is a ladder-type filter consisting of a plurality of series resonators and a plurality of parallel resonators.

送信フィルタは、所望の周波数帯域の電気信号が通過し得るように形成される。例えば、送信フィルタは、複数の直列共振器と複数の並列共振器からなるラダー型フィルタである。 The transmission filter is formed so that an electrical signal in a desired frequency band can pass. For example, the transmission filter is a ladder-type filter consisting of multiple series resonators and multiple parallel resonators.

封止部17は、デバイスチップ5を覆うように形成される。例えば、封止部17は、合成樹脂等の絶縁体により形成される。例えば、封止部17は、金属で形成される。例えば、封止部17は、樹脂層と金属層とで形成される。 The sealing portion 17 is formed so as to cover the device chip 5 . For example, the sealing portion 17 is made of an insulator such as synthetic resin. For example, the sealing portion 17 is made of metal. For example, the sealing portion 17 is formed of a resin layer and a metal layer.

封止部17が合成樹脂で形成される場合、当該合成樹脂は、エポキシ樹脂、ポリイミドなどである。好ましくは、封止部17は、エポキシ樹脂を用い、低温硬化プロセスを用いてエポキシ樹脂で形成される。 When the sealing portion 17 is made of synthetic resin, the synthetic resin is epoxy resin, polyimide, or the like. Preferably, the encapsulant 17 is made of epoxy using a low temperature curing process.

封止部17は、放熱用パターン6と接合されている。 The sealing portion 17 is joined to the heat radiation pattern 6 .

次に、図3を用いて、デバイスチップ5の構成を説明する。
図3は実施の形態1における弾性波デバイスの平面図である。
Next, the configuration of the device chip 5 will be described with reference to FIG.
FIG. 3 is a plan view of the acoustic wave device according to Embodiment 1. FIG.

図3に示されるように、複数の弾性波素子52と配線パターン54とは、デバイスチップ5の主面に形成される。 As shown in FIG. 3 , the plurality of acoustic wave elements 52 and wiring patterns 54 are formed on the main surface of the device chip 5 .

複数の弾性波素子52は、複数の直列共振器S1、S2、S3、S4、S5と複数の並列共振器P1、P2、P3、P4とを含む。 The multiple acoustic wave devices 52 include multiple series resonators S1, S2, S3, S4, and S5 and multiple parallel resonators P1, P2, P3, and P4.

複数の直列共振器S1、S2、S3、S4、S5と複数の並列共振器P1、P2、P3、P4とは、送信フィルタとして機能し得るように形成される。その他の直列共振器とその他の並列共振器とは、受信フィルタとしての機能し得るように形成される。 The plurality of series resonators S1, S2, S3, S4, S5 and the plurality of parallel resonators P1, P2, P3, P4 are configured to function as transmission filters. Other series resonators and other parallel resonators are formed to function as receive filters.

例えば、配線パターン54は、銀、アルミニウム、銅、チタン、パラジウムなどの適宜の金属もしくは合金により形成される。例えば、配線パターン54は、複数の金属層を積層してなる積層金属膜により形成される。例えば、配線パターン54の厚みは、1500nmから4500nmである。 For example, the wiring pattern 54 is made of an appropriate metal or alloy such as silver, aluminum, copper, titanium, palladium. For example, the wiring pattern 54 is formed of a laminated metal film formed by laminating a plurality of metal layers. For example, the wiring pattern 54 has a thickness of 1500 nm to 4500 nm.

配線パターン54は、アンテナ用バンプパッドANTと送信用バンプパッドTxと受信用バンプパッドRxと4つのグランドバンプパッドGNDと放熱用バンプパッドHRとを含む。配線パターン54は、弾性波素子52と電気的に接続される。 The wiring pattern 54 includes an antenna bump pad ANT, a transmission bump pad Tx, a reception bump pad Rx, four ground bump pads GND, and a heat dissipation bump pad HR. The wiring pattern 54 is electrically connected to the acoustic wave element 52 .

本開示において、放熱用バンプパッドHRは、接地されていない。放熱用バンプパッドHRは、放熱用パターン6に対応した位置に設けられる。放熱用バンプパッドHRは、放熱用パターン6にバンプ15を介してボンディングされている。 In the present disclosure, the heat dissipation bump pad HR is not grounded. The heat radiation bump pads HR are provided at positions corresponding to the heat radiation patterns 6 . The heat radiation bump pad HR is bonded to the heat radiation pattern 6 via the bump 15 .

図示されないが、放熱用パターン6は、接地されていない。放熱用パターン6は、バンプ15以外の金属と接合していない。放熱用パターン6は、封止部17と接合する領域の少なくとも一部において、粗化処理がなされている。 Although not shown, the heat radiation pattern 6 is not grounded. The heat radiation pattern 6 is not bonded to any metal other than the bumps 15 . The heat radiation pattern 6 is subjected to a roughening treatment in at least a part of the region that is bonded to the sealing portion 17 .

次に、図4を用いて、弾性波素子52の例を説明する。
図4は実施の形態1における弾性波デバイスの弾性波素子の例を示す図である。
Next, an example of the elastic wave element 52 will be described with reference to FIG.
FIG. 4 is a diagram showing an example of an acoustic wave element of the acoustic wave device according to Embodiment 1. FIG.

図4に示されるように、IDT(Interdigital Transducer)52aと一対の反射器52bとは、デバイスチップ5の第一主面に形成される。IDT52aと一対の反射器52bとは、弾性表面波を励振し得るように設けられる。 As shown in FIG. 4 , an IDT (Interdigital Transducer) 52 a and a pair of reflectors 52 b are formed on the first main surface of the device chip 5 . The IDT 52a and the pair of reflectors 52b are provided so as to excite surface acoustic waves.

例えば、IDT52aと一対の反射器52bとは、アルミニウムと銅の合金で形成される。例えば、IDT52aと一対の反射器52bとは、チタン、パラジウム、銀などの適宜の金属もしくはこれらの合金で形成される。例えば、IDT52aと一対の反射器52bとは、複数の金属層が積層した積層金属膜により形成される。例えば、IDT52aと一対の反射器52bとの厚みは、150nmから400nmである。 For example, the IDT 52a and the pair of reflectors 52b are made of an alloy of aluminum and copper. For example, the IDT 52a and the pair of reflectors 52b are made of suitable metals such as titanium, palladium, silver, or alloys thereof. For example, the IDT 52a and the pair of reflectors 52b are formed of a laminated metal film in which a plurality of metal layers are laminated. For example, the thickness of the IDT 52a and the pair of reflectors 52b is 150 nm to 400 nm.

IDT52aは、一対の櫛形電極52cを備える。一対の櫛形電極52cは、互いに対向する。櫛形電極52cは、複数の電極指52dとバスバー52eとを備える。複数の電極指52dは、長手方向を合わせて配置される。バスバー52eは、複数の電極指52dを接続する。 The IDT 52a includes a pair of comb electrodes 52c. A pair of comb electrodes 52c are opposed to each other. The comb-shaped electrode 52c includes a plurality of electrode fingers 52d and busbars 52e. The plurality of electrode fingers 52d are arranged with their longitudinal directions aligned. Bus bar 52e connects a plurality of electrode fingers 52d.

一対の反射器52bの一方は、IDT52aの一側に隣接する。一対の反射器52bの他方は、IDT52aの他側に隣接する。 One of the pair of reflectors 52b is adjacent to one side of the IDT 52a. The other of the pair of reflectors 52b is adjacent to the other side of the IDT 52a.

次に、図5を用いて、弾性波素子52が音響薄膜共振器である例を説明する。
図5は実施の形態1における弾性波デバイスの弾性波素子が音響薄膜共振器である例を示す図である。
Next, an example in which the elastic wave element 52 is an acoustic thin film resonator will be described with reference to FIG.
FIG. 5 is a diagram showing an example in which the acoustic wave element of the acoustic wave device according to Embodiment 1 is an acoustic thin film resonator.

図5において、チップ基板60は、デバイスチップ5として機能する。例えば、例えば、チップ基板60は、シリコン等の半導体基板、または、サファイア、アルミナ、スピネルもしくはガラス等の絶縁基板である。 In FIG. 5, the chip substrate 60 functions as the device chip 5. As shown in FIG. For example, the chip substrate 60 is a semiconductor substrate such as silicon, or an insulating substrate such as sapphire, alumina, spinel or glass.

圧電膜62は、チップ基板60上に設けられる。例えば、圧電膜62は、窒化アルミニウムで形成される。 A piezoelectric film 62 is provided on the chip substrate 60 . For example, the piezoelectric film 62 is made of aluminum nitride.

下部電極64と上部電極66とは、圧電膜62を挟むように設けられる。例えば、下部電極64と上部電極66とは、ルテニウム等の金属で形成される。 The lower electrode 64 and the upper electrode 66 are provided so as to sandwich the piezoelectric film 62 . For example, the lower electrode 64 and the upper electrode 66 are made of metal such as ruthenium.

空隙68は、下部電極64とチップ基板60との間に形成される。 A gap 68 is formed between the lower electrode 64 and the chip substrate 60 .

音響薄膜共振器において、下部電極64と上部電極66とは、圧電膜62の内部に厚み縦振動モードの弾性波を励振する。 In the acoustic thin film resonator, the lower electrode 64 and the upper electrode 66 excite an elastic wave in the thickness longitudinal vibration mode inside the piezoelectric film 62 .

以上で説明された実施の形態1によれば、放熱用バンプパッドHRは、放熱用パターン6にバンプ15を介してボンディングされている。このため、弾性波デバイス1の放熱性を向上することができる。その結果、弾性波デバイス1の耐電力性を向上することができる。 According to the first embodiment described above, the heat radiation bump pad HR is bonded to the heat radiation pattern 6 via the bumps 15 . Therefore, the heat dissipation of the acoustic wave device 1 can be improved. As a result, the power durability of the acoustic wave device 1 can be improved.

また、放熱用パターン6は、金属により形成されている。このため、弾性波デバイス1の放熱性をより確実に向上することができる。 Moreover, the pattern 6 for heat radiation is formed with the metal. Therefore, it is possible to more reliably improve the heat dissipation of the acoustic wave device 1 .

また、放熱用パターン6は、接地されていない。このため、弾性波デバイス1の放熱性をより確実に向上することができる。 Moreover, the heat radiation pattern 6 is not grounded. Therefore, it is possible to more reliably improve the heat dissipation of the acoustic wave device 1 .

また、放熱用パターン6は、バンプ15以外の金属と接合していない。このため、弾性波デバイス1の放熱性をより確実に向上することができる。 Moreover, the heat dissipation pattern 6 is not bonded to any metal other than the bumps 15 . Therefore, it is possible to more reliably improve the heat dissipation of the acoustic wave device 1 .

なお、配線基板3は、放熱用ビアおよび第二放熱用パターンを備え、放熱用パターン6は、放熱用ビアを介して第二放熱用パターンと接合されてもよい。この場合、弾性波デバイス1の放熱性をより確実に向上することができる。 The wiring board 3 may include heat radiation vias and a second heat radiation pattern, and the heat radiation pattern 6 may be joined to the second heat radiation pattern through the heat radiation vias. In this case, the heat dissipation of the acoustic wave device 1 can be improved more reliably.

また、封止部17は、放熱用パターン6と接合されている。このため、弾性波デバイス1の放熱性をより確実に向上することができる。 Also, the sealing portion 17 is joined to the heat radiation pattern 6 . Therefore, it is possible to more reliably improve the heat dissipation of the acoustic wave device 1 .

また、放熱用パターン6は、封止部17と接合する領域の少なくとも一部において、粗化処理がなされている。このため、弾性波デバイス1の放熱性をより確実に向上することができる。 In addition, the heat radiation pattern 6 is roughened in at least part of the region where it is bonded to the sealing portion 17 . Therefore, it is possible to more reliably improve the heat dissipation of the acoustic wave device 1 .

また、デバイスチップ5は、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム、水晶または圧電セラミックスからなる基板である。このため、弾性波デバイス1の放熱性をより確実に向上することができる。 Also, the device chip 5 is a substrate made of lithium tantalate, lithium niobate, crystal, or piezoelectric ceramics. Therefore, it is possible to more reliably improve the heat dissipation of the acoustic wave device 1 .

また、デバイスチップ5は、サファイア、シリコン、アルミナ、スピネル、水晶またはガラスからなる支持基板が接合されている。このため、弾性波デバイス1の放熱性をより確実に向上することができる。 Moreover, the device chip 5 is bonded to a support substrate made of sapphire, silicon, alumina, spinel, crystal, or glass. Therefore, it is possible to more reliably improve the heat dissipation of the acoustic wave device 1 .

また、弾性波デバイス1は、複数の並列共振器をさらに備えるラダー型フィルタを含んでいる。このため、ラダー型フィルタを備えた弾性波デバイス1の放熱性をより確実に向上することができる。 Acoustic wave device 1 also includes a ladder-type filter that further includes a plurality of parallel resonators. Therefore, it is possible to more reliably improve the heat dissipation of the acoustic wave device 1 including the ladder-type filter.

実施の形態2.
図6は実施の形態2における弾性波デバイスが適用されるモジュールの縦断面図である。なお、実施の形態1の部分と同一又は相当部分には同一符号が付される。当該部分の説明は省略される。
Embodiment 2.
FIG. 6 is a longitudinal sectional view of a module to which the acoustic wave device according to Embodiment 2 is applied. The same reference numerals are given to the same or corresponding parts as those of the first embodiment. Description of this part is omitted.

図6において、モジュール100は、配線基板130と集積回路部品ICと弾性波デバイス1とインダクタ11と封止部117とを備える。 In FIG. 6, module 100 includes wiring board 130 , integrated circuit component IC, acoustic wave device 1 , inductor 11 and sealing portion 117 .

配線基板130は、実施の形態1の配線基板3と同等である。 The wiring board 130 is equivalent to the wiring board 3 of the first embodiment.

図示されないが、集積回路部品ICは、配線基板130の内部に実装される。集積回路部品ICは、スイッチング回路とローノイズアンプとを含む。 Although not shown, the integrated circuit component IC is mounted inside the wiring board 130 . An integrated circuit component IC includes a switching circuit and a low noise amplifier.

弾性波デバイス1は、配線基板130の主面に実装される。 Acoustic wave device 1 is mounted on the main surface of wiring board 130 .

インダクタ11は、配線基板130の主面に実装される。インダクタ11は、インピーダンスマッチングのために実装される。例えば、インダクタ111は、Integrated Passive Device(IPD)である。 Inductor 11 is mounted on the main surface of wiring board 130 . Inductor 11 is implemented for impedance matching. For example, inductor 111 is an Integrated Passive Device (IPD).

封止部117は、弾性波デバイス1を含む複数の電子部品を封止する。 The sealing portion 117 seals a plurality of electronic components including the acoustic wave device 1 .

以上で説明された実施の形態3によれば、モジュール100は、弾性波デバイス1を備える。このため、モジュール100の放熱性を向上することができる。その結果、モジュール100の耐電力性を向上することができる。 According to the third embodiment described above, module 100 includes acoustic wave device 1 . Therefore, the heat dissipation of the module 100 can be improved. As a result, the power durability of the module 100 can be improved.

少なくとも一つの実施形態のいくつかの側面が説明されたが、様々な改変、修正および改善が当業者にとって容易に想起されることを理解されたい。かかる改変、修正および改善は、本開示の一部となることが意図され、かつ、本開示の範囲内にあることが意図される。 Having described several aspects of at least one embodiment, it is to be appreciated various alterations, modifications, and improvements will readily occur to those skilled in the art. Such alterations, modifications, and improvements are intended to be part of this disclosure, and are intended to be within the scope of this disclosure.

理解するべきことだが、ここで述べられた方法および装置の実施形態は、上記説明に記載され又は添付図面に例示された構成要素の構造および配列の詳細への適用に限られない。方法および装置は、他の実施形態で実装し、様々な態様で実施又は実行することができる。 It is to be understood that the method and apparatus embodiments described herein are not limited in application to the details of construction and arrangement of components set forth in the foregoing description or illustrated in the accompanying drawings. The methods and apparatus can be implemented in other embodiments and practiced or carried out in various ways.

特定の実装例は、例示のみを目的としてここに与えられ、限定されることを意図しない。 Specific implementations are provided here for illustrative purposes only and are not intended to be limiting.

本開示で使用される表現および用語は、説明目的であって、限定としてみなすべきではない。ここでの「含む」、「備える」、「有する」、「包含する」およびこれらの変形の使用は、以降に列挙される項目およびその均等物並びに付加項目の包括を意味する。 The phraseology and terminology used in this disclosure is for the purpose of description and should not be regarded as limiting. The use of "including", "comprising", "having", "including" and variations thereof herein is meant to encompass the items listed below and equivalents thereof as well as additional items.

「又は(若しくは)」の言及は、「又は(若しくは)」を使用して記載される任意の用語が、当該記載の用語の一つの、一つを超える、およびすべてのものを示すように解釈され得る。 References to “or (or)” shall be construed such that any term stated using “or (or)” refers to one, more than one, and all of the terms of the statement. can be

前後左右、頂底上下、横縦、表裏への言及は、いずれも、記載の便宜を意図する。当該言及は、本開示の構成要素がいずれか一つの位置的又は空間的配向に限られるものではない。したがって、上記説明および図面は、例示にすぎない。 All references to front, rear, left, right, top, bottom, top, bottom, width, length, and front and back are intended for convenience of description. Such references are not limited to any one positional or spatial orientation of the components of this disclosure. Accordingly, the above description and drawings are exemplary only.

1 弾性波デバイス、 3 配線基板、 5 デバイスチップ、 6 放熱用パターン、 15 バンプ、 17 封止部、 52 弾性波素子、 52a IDT、 52b 反射器、 52c 櫛形電極、 52d 電極指、 54 配線パターン、 60 チップ基板、 62 圧電膜、 64 下部電極、 66 上部電極、 68 空隙、 100 モジュール、 105 デバイスチップ、 111 インダクタ、 117 封止部、 130 配線基板 1 elastic wave device 3 wiring board 5 device chip 6 heat dissipation pattern 15 bump 17 sealing portion 52 elastic wave element 52a IDT 52b reflector 52c comb electrode 52d electrode fingers 54 wiring pattern 60 Chip substrate 62 Piezoelectric film 64 Lower electrode 66 Upper electrode 68 Air gap 100 Module 105 Device chip 111 Inductor 117 Sealing part 130 Wiring substrate

Claims (11)

配線基板と、
金属で形成され、前記配線基板上に形成された放熱用パターンと、
前記配線基板と複数のバンプを介してボンディングされた基板と、
前記基板上に形成された複数の直列共振器と、
金属で形成され、前記基板上に形成された前記複数の直列共振器同士を電気的に接続する配線と、
前記基板上に形成された複数のバンプパッドと、
前記複数のバンプパッドのうち、金属で形成され、前記配線と接合され前記配線に含まれる放熱用バンプパッドと、
前記基板を前記配線基板とともに気密封止する封止部と、
を備える弾性波デバイスであって、
金属で形成された前記放熱用バンプパッドが、金属で形成された前記放熱用パターンに、金属で形成されたバンプを介してボンディングされることで、
金属で形成された前記放熱用パターンは、前記基板上に形成された前記複数の直列共振器同士を電気的に接続する、金属で形成された前記配線と電気的に接続された弾性波デバイス。
a wiring board;
a heat dissipation pattern made of metal and formed on the wiring substrate;
a substrate bonded to the wiring substrate via a plurality of bumps;
a plurality of series resonators formed on the substrate;
wiring that is made of metal and that electrically connects the plurality of series resonators formed on the substrate;
a plurality of bump pads formed on the substrate;
a heat radiation bump pad formed of metal among the plurality of bump pads and joined to the wiring and included in the wiring;
a sealing portion that hermetically seals the substrate together with the wiring substrate;
An acoustic wave device comprising:
By bonding the heat radiation bump pad made of metal to the heat radiation pattern made of metal via a bump made of metal,
The acoustic wave device, wherein the pattern for heat dissipation made of metal is electrically connected to the wiring made of metal that electrically connects the plurality of series resonators formed on the substrate.
前記放熱用パターンは、接地されていない請求項1に記載の弾性波デバイス。 2. The acoustic wave device according to claim 1, wherein said heat radiation pattern is not grounded. 前記放熱用パターンは、前記配線基板に形成された電気信号が通過する配線と直接的に接続されていない請求項1に記載の弾性波デバイス。 2. The acoustic wave device according to claim 1, wherein the heat dissipation pattern is not directly connected to wiring formed on the wiring board and through which electrical signals pass. 前記放熱用パターンは、前記バンプ以外の金属と接合していない請求項1に記載の弾性波デバイス。 2. The acoustic wave device according to claim 1, wherein said heat radiation pattern is not bonded to metal other than said bumps. 前記配線基板は、放熱用ビアおよび第二放熱用パターンを備え、前記放熱用パターンは、前記放熱用ビアを介して前記第二放熱用パターンと接合されている請求項1に記載の弾性波デバイス。 2. The acoustic wave device according to claim 1, wherein the wiring board includes heat radiation vias and a second heat radiation pattern, and the heat radiation pattern is joined to the second heat radiation pattern through the heat radiation vias. . 前記封止部は、前記放熱用パターンと接合されている請求項1に記載の弾性波デバイス。 The acoustic wave device according to claim 1, wherein the sealing portion is joined to the heat radiation pattern. 前記封止部は、樹脂で形成され、
前記放熱用パターンを形成する金属は、前記封止部を形成する樹脂と接合する領域の少なくとも一部において、粗化処理がなされている請求項6に記載の弾性波デバイス。
The sealing portion is made of resin,
7. The acoustic wave device according to claim 6, wherein the metal forming the heat dissipation pattern is subjected to a roughening treatment in at least part of a region that is bonded to the resin forming the sealing portion.
前記基板は、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム、水晶または圧電セラミックスからなる基板である請求項1に記載の弾性波デバイス。 2. The acoustic wave device according to claim 1, wherein the substrate is made of lithium tantalate, lithium niobate, crystal, or piezoelectric ceramics. 前記基板は、サファイア、シリコン、アルミナ、スピネル、水晶またはガラスからなる支持基板が接合されている請求項1に記載の弾性波デバイス。 2. The acoustic wave device according to claim 1, wherein said substrate is bonded with a supporting substrate made of sapphire, silicon, alumina, spinel, crystal or glass. 複数の並列共振器をさらに備える、ラダー型フィルタを含んでいる請求項1に記載の弾性波デバイス。 The acoustic wave device of Claim 1, comprising a ladder-type filter, further comprising a plurality of parallel resonators. 請求項1から請求項10のいずれか一項に記載の弾性波デバイスを備えるモジュール。

A module comprising the acoustic wave device according to any one of claims 1 to 10.

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