JP2023038049A - 画像形成装置、発光制御方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】各主走査位置における光源ごとの傾きを補正して、ピッチムラの発生を低減させることが可能な画像形成装置、発光制御方法及びプログラムを提供する。【解決手段】複数の光源から発せられた複数の光線を像担持体（感光体２００）において主走査方向に走査して画像を形成する画像形成部１０と、複数の主走査位置における主走査間隔に応じて各光源に周波数変調をかける変調部（制御部２０）と、変調結果に基づいて各光源の発光タイミングを制御する発光制御部（制御部２０）と、主走査間隔を測定する第１測定部と、生産工程で複数の主走査位置に対応するように配置された第２測定部により測定された主走査間隔を記憶する記憶部３０と、を備える。また、変調部は、記憶部３０に記憶された主走査間隔及び第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて算出した周波数変調率に基づいて各光源に周波数変調をかける。【選択図】図２

Description

本発明は、画像形成装置、発光制御方法及びプログラムに関する。

従来、レーザープリンターやデジタル複写機などの画像形成装置には、光源より出射される半導体レーザーを用いて感光体を走査する画像書込部が搭載されている。

近年、画像形成装置においては、画像記録の高速高密度化が求められており、複数の光源から出射されたレーザービームを用いて複数ラインの画像を１回の走査で感光体に書き込むことで画像形成が行われ、上記の画像形成を副走査方向に繰り返し行うことで１ページの画像形成が行われる。複数の光源を用いる構成では、周辺温度の上昇等により、各光源が設計位置に対して主走査方向にずれてしまい、光源ごとの傾き（主走査間隔）が変化する場合がある。これにより、出力画像にピッチムラが発生する。

そこで、光源ごとの発光開始タイミングを調整することで、主走査間隔（主走査ピッチ）を補正する構成が開示されている（例えば、特許文献１参照）。

特開２０１８－１０５８９５号公報

しかしながら、上記特許文献１記載の構成においても、fθレンズのレンズ精度やメカ調整精度により、感光体上の各主走査位置（主走査方向の各位置）における光源ごとの傾きが変化するため、光源ごとに主走査倍率が変化して主走査ピッチ補正の効果が出なくなり、結果として出力画像にピッチムラが発生するという課題がある。

本発明は、各主走査位置における光源ごとの傾きを補正して、ピッチムラの発生を低減させることが可能な画像形成装置、発光制御方法及びプログラムを提供することを目的とする。

請求項１に記載の発明は、上記目的を達成するためになされたものであり、
画像形成装置において、
画像データに応じて複数の光源から発せられた複数の光線を像担持体において主走査方向に走査して、画像を形成する画像形成部と、
前記複数の光線の複数の主走査位置における主走査間隔に応じて、各光源に周波数変調をかける変調部と、
前記変調部による変調結果に基づいて前記各光源の発光タイミングを制御する発光制御部と、
前記主走査間隔を測定する第１測定部と、
生産工程で前記複数の主走査位置に対応するように配置された第２測定部により測定された前記主走査間隔を記憶する記憶部と、
を備え、
前記変調部は、前記記憶部に記憶された主走査間隔及び前記第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて前記各光源の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて前記各光源に周波数変調をかけることを特徴とする。

請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の画像形成装置において、
前記第１測定部は、画像領域外の照射開始位置及び照射終了位置付近に配置されていることを特徴とする。

請求項３に記載の発明は、請求項１又は２に記載の画像形成装置において、
装置内の環境変化を検知する検知部を備え、
前記変調部は、前記検知部により所定以上の環境変化が検知された場合に、前記記憶部に記憶された主走査間隔及び前記第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて前記各光源の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて前記各光源に周波数変調をかけることを特徴とする。

請求項４に記載の発明は、請求項１～３のいずれか一項に記載の画像形成装置において、
前記画像形成部により、前記主走査間隔を算出するためのチャートを形成させる画像形成制御部と、
前記画像形成部により形成されたチャートの濃度情報を取得する取得部と、
前記濃度情報に基づいて前記主走査間隔を算出する算出部と、
を備え、
前記変調部は、前記算出部による算出結果に基づいて前記主走査間隔の変動を検知した場合に、前記記憶部に記憶された主走査間隔及び前記第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて前記各光源の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて前記各光源に周波数変調をかけることを特徴とする。

請求項５に記載の発明は、請求項１～４のいずれか一項に記載の画像形成装置において、
前記変調部は、所定時間が経過した場合に、前記記憶部に記憶された主走査間隔及び前記第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて前記各光源の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて前記各光源に周波数変調をかけることを特徴とする。

請求項６に記載の発明は、
画像データに応じて複数の光源から発せられた複数の光線を像担持体において主走査方向に走査して、画像を形成する画像形成部と、前記複数の光線の複数の主走査位置における主走査間隔を測定する第１測定部と、生産工程で前記複数の主走査位置に対応するように配置された第２測定部により測定された前記主走査間隔を記憶する記憶部と、を備える画像形成装置の発光制御方法であって、
前記複数の光線の複数の主走査位置における主走査間隔に応じて、各光源に周波数変調をかける変調工程と、
前記変調工程による変調結果に基づいて前記各光源の発光タイミングを制御する発光制御工程と、
を含み、
前記変調工程は、前記記憶部に記憶された主走査間隔及び前記第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて前記各光源の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて前記各光源に周波数変調をかけることを特徴とする。

請求項７に記載の発明は、
画像データに応じて複数の光源から発せられた複数の光線を像担持体において主走査方向に走査して、画像を形成する画像形成部と、前記複数の光線の複数の主走査位置における主走査間隔を測定する第１測定部と、生産工程で前記複数の主走査位置に対応するように配置された第２測定部により測定された前記主走査間隔を記憶する記憶部と、を備える画像形成装置のコンピュータを、
前記複数の光線の複数の主走査位置における主走査間隔に応じて、各光源に周波数変調をかける変調部、
前記変調部による変調結果に基づいて前記各光源の発光タイミングを制御する発光制御部、
として機能させ、
前記変調部は、前記記憶部に記憶された主走査間隔及び前記第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて前記各光源の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて前記各光源に周波数変調をかけることを特徴とするプログラムである。

本発明によれば、各主走査位置における光源ごとの傾きを補正して、ピッチムラの発生を低減させることができる。

本実施形態に係る画像形成装置の概略構成を示す図である。 本実施形態に係る画像形成装置の制御構造を示す機能ブロック図である。 画像書込部の概略構成を示す図である。 用紙の主走査方向の先端、中央、後端の３か所で直線を印字する場合における各光源の発光タイミングの一例を示す図である。 用紙の主走査方向の先端、中央、後端の３か所で直線を印字するケースにおいて、徐々に印字位置がずれていく様子の一例を示す図である。 生産工程時に、フォトダイオードを用いて複数の主走査位置における各光源の傾きを測定する構成の一例を示す図である。 図６の構成において各光源の傾きを測定する際の各フォトダイオードにおける受光タイミングの一例を示す図である。 生産工程で測定された変化前のデータ及び運用開始後の実機で測定された変化後のデータの一例を示す図である。 本実施形態に係る画像形成装置の動作を示すフローチャートである。

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。

本実施形態に係る画像形成装置１０００は、例えば、レーザープリンターやデジタル複写機等として用いられ、図１及び図２に示すように、画像形成部１０と、制御部２０と、記憶部３０と、カメラ４０と、操作パネル５０と、環境検知部６０と、を備えて構成される。

画像形成部１０は、シアン、マゼンタ、イエロー、ブラックの色ごとに設けられた複数の画像書込部１００と、画像書込部１００に対応して設けられた感光体ドラム等の感光体（像担持体）２００と、感光体２００を帯電させる帯電部２１０と、光を照射された感光体２００に現像剤を供給することで静電潜像を現像剤による像に顕像化する現像部２２０と、中間転写ベルト３００と、現像剤による像を用紙Ｐに転写する転写ローラー４００と、転写ローラー４００により転写された現像剤による像を用紙Ｐに定着する定着部５００と、を備えて構成される。

画像形成部１０は、画像データに応じて複数の光源１（図３参照）から発せられた複数のレーザー光（光線）を感光体２００において主走査方向に照射（走査）して、画像を形成する。具体的には、まず、画像形成部１０は、画像書込部１００より照射されるレーザー光によって感光された感光体２００でトナー像を形成し、中間転写ベルト３００上に当該トナー像を転写させる。次に、画像形成部１０は、中間転写ベルト３００に転写されたトナー像を転写ローラー４００によって用紙Ｐに押圧して転写させ、定着部５００によって当該用紙Ｐを加熱及び加圧することで、トナー像を用紙Ｐ上に定着する。そして、画像形成部１０は、用紙Ｐを排紙ローラー（図示省略）等により搬送してトレイ（図示省略）に排紙することで画像形成処理を行う。

画像書込部１００は、図３に示すように、帯電部２１０により帯電された感光体２００に対してレーザー光Ｌを照射することで感光体２００を感光させる（感光体２００上に静電潜像を形成する）。画像書込部１００は、レーザー光Ｌを出射させる光源１と、光源１より出射されたレーザー光Ｌを偏向させる偏向器２と、偏向器２により偏向されたレーザー光Ｌを感光体２００上に集光させるｆθレンズ３と、ｆθレンズ３を透過したレーザー光Ｌを感光体２００に向けて反射する第１反射ミラー４と、偏向器２により偏向されたレーザー光Ｌの一部を反射する第２反射ミラー５と、第２反射ミラー５により反射されたレーザー光Ｌを受光する受光部６と、を備えて構成されている。

光源１は、レーザー光Ｌを出射させるレーザーダイオード（ＬＤ）である。光源１から出射されたレーザー光Ｌは、偏向器２へと照射される。なお、図３に示す例では、説明の便宜上、１つの光源１のみを図示しているが、本実施形態においては、複数の光源１が主走査方向に等間隔で配置されており、これら複数の光源１により光源部１１が構成される。なお、光源部１１は、色ごとに備えられている。

偏向器２は、側面が鏡面からなる多角柱形状をしたポリゴンミラーと、ポリゴンミラーに回動力を付与してポリゴンミラーを回動させるモーターと、を含んで構成される。偏向器２は、光源１から出射されたレーザー光Ｌを、回転に応じた向きに偏向する。そして、偏向器２は、偏向させたレーザー光Ｌを、ｆθレンズ３を介して感光体２００の周面に照射する。この際、偏向器２は、回転位置に応じて感光体２００の長手方向の異なる位置にレーザー光Ｌを照射するため、主走査方向（図３における感光体２００の長手方向）へのレーザー光Ｌの走査を可能とする。

ｆθレンズ３は、偏向器２で偏向されたレーザー光Ｌを感光体２００に集光し、結像させる。
第１反射ミラー４は、ｆθレンズ３を透過したレーザー光Ｌを感光体２００に向けて反射する。

第２反射ミラー５は、画像領域外の照射開始位置及び照射終了位置付近に配置され、偏向器２により偏向されてｆθレンズ３を透過したレーザー光Ｌの一部を反射し、反射したレーザー光Ｌを受光部６に入射させる。
受光部６は、第２反射ミラー５と同様、画像領域外の照射開始位置及び照射終了位置付近に配置され、第２反射ミラー５により反射されたレーザー光Ｌを検出する。受光部６は、画像領域外の照射開始位置付近に配置されたＳＯＳ基板６１と、画像領域外の照射終了位置付近に配置されたＥＯＳ基板６２と、を含んで構成されている。各基板（ＳＯＳ基板６１、ＥＯＳ基板６２）には、一対のフォトダイオードＰＤ１１、ＰＤ１２が備えられている。フォトダイオードＰＤ１１、ＰＤ１２は、各主走査位置における主走査間隔を測定する本発明の第１測定部として機能する。

制御部２０は、ＣＰＵ、ＲＡＭ等を備えて構成される。ＣＰＵは、記憶部３０等の記憶装置に記憶されている各種処理プログラムを読み出してＲＡＭに展開し、展開されたプログラムに従って、画像形成装置１０００の各部の動作を集中制御する。
例えば、制御部２０は、照射終了位置付近に配置された第２反射ミラー５により反射されたレーザー光Ｌを検出する受光部６により検出される検出信号に基づいて、感光体２００への書き出し位置のタイミング調整などを行う。
また、制御部２０は、複数の光線の複数の主走査位置における主走査間隔（傾き）に応じて、各光源１に周波数変調をかける。すなわち、制御部２０は、本発明の変調部として機能する。
また、制御部２０は、変調結果に基づいて各光源１の発光タイミングを制御する。すなわち、制御部２０は、本発明の発光制御部として機能する。

記憶部３０は、制御部２０により読み取り可能なプログラム、プログラムの実行時に用いられるファイル等を記憶している。記憶部３０としては、ハードディスク等の大容量メモリーを用いることができる。
例えば、記憶部３０は、生産工程で複数の主走査位置に対応するように配置されたフォトダイオードＰＤ１、ＰＤ２（第２測定部：図６参照）により測定された主走査間隔を記憶する。また、記憶部３０は、フォトダイオードＰＤ１、ＰＤ２により測定された主走査間隔に基づいて算出された各光源１の周波数変調率を記憶するようにしてもよい。

カメラ４０は、画像形成部１０により形成された画像（チャート）の濃度情報を取得する。すなわち、カメラ４０は、本発明の取得部として機能する。なお、カメラ４０の代わりに、フォトダイオード等のセンサーを用いるようにし、画像形成部１０により形成された画像に光を照射してその反射光を受光し、受光した反射光の光量等により画像の濃度情報を取得するようにしてもよい。

操作パネル５０は、ユーザーに対して各種情報を表示する表示部５１と、ユーザーによる操作入力を受け付ける操作部５２と、を備えて構成されている。
表示部５１は、カラー液晶ディスプレイなどで構成され、制御部２０から入力される表示制御信号に従って、操作画面等（各種設定画面、各種ボタン、各機能の動作状況等）を表示する。
操作部５２は、表示部５１の画面上に設けられるタッチパネルと、表示部５１の画面周囲に配置される各種ハードキーと、を備えて構成されている。操作部５２は、画面上に表示されたボタンが手指やタッチペン等で押下された場合、押下された力点のＸＹ座標を電圧値で検出し、検出された位置に対応付けられた操作信号を制御部２０に出力する。なお、タッチパネルは感圧式に限らず、例えば静電式や光式等であってもよい。また、操作部５２は、ハードキーが押下された場合、押下されたキーに対応付けられた操作信号を制御部２０に出力する。ユーザーは、操作部５２を操作して、画質設定、倍率設定、応用設定、出力設定及び用紙設定等の画像形成に関する設定、用紙搬送指示、並びに装置の停止操作などを行うことができる。

環境検知部（検知部）６０は、例えば、温湿度センサーなどであり、装置内の温度や湿度などの環境情報（環境変化）を検知する。

本実施形態では、図４（Ａ）に示すように、４つの光源１（ＬＤ１～ＬＤ４）が主走査方向に等間隔で配置されている。本実施形態において、光源部１１は、複数（４つ）の光源１（ＬＤ１～ＬＤ４）を備えている。なお、光源部１１を構成する光源１の数は、４つに限られず、複数であればいかなる個数であってもよい。
図４（Ｂ）に示すように、用紙Ｐの主走査方向の先端、中央、後端の３か所で直線を印字する場合、図４（Ａ）に示すような発光タイミングで、光源部１１を構成する各光源１（ＬＤ１～ＬＤ４）の発光を副走査方向に繰り返し制御している。図４（Ａ）に示す例では、主走査方向後端側の光源１から順に（すなわち、ＬＤ４→ＬＤ３→ＬＤ２→ＬＤ１の順）に発光するよう制御している。なお、図中の符号Ｘ２は主走査方向に隣接する光源１間の距離を示しており、かつ、各光源１の発光時間を示している。すなわち、各光源１は、隣接する光源１間の距離に相当する時間だけ発光（走査）するよう制御されている。また、図中の符号Ｘ１は主走査方向先端側の光源１（ＬＤ１）と主走査方向後端側の光源１（ＬＤ４）との間の距離を示しており、かつ、主走査方向後端側の光源１（ＬＤ４）が発光を開始するタイミングと主走査方向先端側の光源１（ＬＤ１）が発光を開始するタイミングとの時間差を示している。

本実施形態に係る画像形成装置１０００の構成では、fθレンズのレンズ精度やメカ調整精度により主走査位置における光源１ごとの主走査間隔（傾き）が変化するため、用紙Ｐの主走査方向の先端、中央、後端の３か所で直線を印字するケースにおいて、図５に示すように、先端では直線だったとしても、中央や後端では印字位置がずれて直線ではなくなるケースがある。
そこで、本実施形態では、上記のようなピッチムラの発生を抑えるために、記憶部３０に記憶された主走査間隔（生産工程で測定された主走査間隔）及び受光部６（フォトダイオードＰＤ１１、ＰＤ１２）により測定された主走査間隔に基づいて周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて各光源１に周波数変調をかけ（各光源１の周波数変調率を変更し）、変調結果に基づいて各光源１の発光タイミングを制御する。

生産工程で複数の主走査位置における各光源１の傾き（主走査間隔）を測定する方法の一例としては、センサー（フォトダイオード）を用いる方法が挙げられる。
具体的には、図６に示すように、複数のセンサー基板７０を、画像書込部１００からみて主走査方向の先端、中央、後端の各位置に対応するように固定配置し、各主走査位置における各光源１の傾き（主走査間隔）を測定する。なお、各センサー基板７０には、一対のフォトダイオードＰＤ１、ＰＤ２が備えられている。フォトダイオードＰＤ１、ＰＤ２は、本発明の第２測定部として機能する。なお、図６に示す例では、センサー基板７０を主走査方向の先端、中央、後端の各位置に対応するように配置するようにしているが、これに限定されるものではなく、主走査方向の各位置に合わせてより多くのセンサー基板７０を配置することも可能である。
ここで、主走査方向後端側の光源１（ＬＤ４）から出射された光が主走査方向先端側のフォトダイオードＰＤ１に入射してから主走査方向後端側のフォトダイオードＰＤ２に入射するまでの時間をＡ（図７（Ａ）参照）、主走査方向後端側の光源１（ＬＤ４）から出射された光が主走査方向先端側のフォトダイオードＰＤ１に入射してから主走査方向先端側の光源１（ＬＤ１）から出射された光が主走査方向後端側のフォトダイオードＰＤ２に入射するまでの時間をＢ（図７（Ｂ）参照）としたとき、ＬＤ１－ＬＤ４間の傾き（主走査間隔）Ｘ１は、下記式（１）を用いて算出することができる。また、隣接するＬＤ間の傾き（主走査間隔）Ｘ２は下記式（２）を用いて算出することができる。
Ｘ１＝Ｂ－Ａ …（１）
Ｘ２＝Ｘ１／３ …（２）
生産工程で第２測定部（フォトダイオードＰＤ１、ＰＤ２）により測定された各光源１の主走査間隔は、記憶部３０に記憶される。

なお、上記図６及び図７に示す例では、生産工程時に一対のフォトダイオードＰＤ１、ＰＤ２を用いて各光源１の主走査間隔を測定する方法を説明しているが、運用開始後の実機において各光源１の主走査間隔を測定する場合も、受光部６を構成する各基板（ＳＯＳ基板６１、ＥＯＳ基板６２）が備える一対のフォトダイオードＰＤ１１、ＰＤ１２を用いて、上記と同様の方法で測定することができる。

本実施形態において、制御部２０は、運用開始後の実機で測定されたデータ及び事前に生産工程で測定されたデータ（記憶部３０に記憶されたデータ）の、画像領域外の照射開始位置及び照射終了位置のデータを比較して、運用開始後の実機で測定不可能な領域（照射開始位置及び照射終了位置以外の主走査位置）の補正値を算出する。
図８に、生産工程で測定された変化前のデータ及び運用開始後の実機で測定された変化後のデータの一例を示す。図８に示すグラフにおいて、Ｘ軸はセンサー位置（照射開始位置に配置された基板の位置からの距離）であり、Ｙ軸は主走査間隔（ＬＤ１－ＬＤ４のズレ量）である。なお、図中の符号Ｌ１は変化前の測定データであり、図中の符号Ｌ２は変化後の測定データである。また、図中の符号Ｃ１は照射開始位置（ＳＯＳ基板６１）の測定データであり、図中の符号Ｃ２は照射終了位置（ＥＯＳ基板６２）の測定データである。
具体的には、まず、変化前の測定データの座標を（Ｘ（ｎ）、Ｙ（ｎ））、変化後の測定データを（Ｘ’（ｎ）、Ｙ’（ｎ））とする。本実施形態では、６つの主走査位置で測定される構成（生産工程において基板が６つ配置された構成）を例示するものとする。ｎは基板の位置（順番）であり、基板の位置に応じて１～６が入力される。照射開始位置（ＳＯＳ基板６１）はｎ＝１であり、照射終了位置（ＥＯＳ基板６２）はｎ＝６である。
各主走査位置における変化前の補正特性Ａ（ｎ）は、下記式（３）を用いて算出される。
Ａ（ｎ）＝（Ｙ（ｎ）－Ｙ（ｎ－１））／（Ｘ（ｎ）－Ｘ（ｎ－１））…（３）
各主走査位置における変化後の補正値Ａ’（ｎ）は、下記式（４）を用いて算出される。
Ａ’（ｎ）＝（Ｙ’（６）－Ｙ（６））／（Ｙ’（１）－Ｙ（１）） ×Ａ（ｎ）…（４）
この補正値Ａ’（ｎ）は、各主走査位置における各光源１の周波数変調率として用いられる。

以下、本実施形態に係る画像形成装置１０００の動作について、図９のフローチャートを参照して説明する。

まず、制御部２０は、記憶部３０に記憶されたデータを読み出す（ステップＳ１０１）。

次に、制御部２０は、ステップＳ１０１で読み出されたデータが補正値（各光源１の周波数変調率）であるか否かを判定する（ステップＳ１０２）。
制御部２０は、ステップＳ１０１で読み出されたデータが補正値であると判定した場合（ステップＳ１０２：ＹＥＳ）、ステップＳ１０４へと移行する。
一方、制御部２０は、ステップＳ１０１で読み出されたデータが補正値でない（すなわち、測定値（第２測定部（フォトダイオードＰＤ１、ＰＤ２）により測定された主走査間隔）である）と判定した場合（ステップＳ１０２：ＮＯ）、次のステップＳ１０３へと移行する。

ステップＳ１０３において、制御部２０は、ステップＳ１０１で読み出されたデータ（測定値）に基づいて、各主走査位置における補正値を算出する。

ステップＳ１０４において、制御部２０は、ステップＳ１０１で読み出された補正値又はステップＳ１０３で算出された補正値に基づいて、各光源１に周波数変調をかける。

次に、制御部２０は、所定の条件を満たしているか否かを判定する（ステップＳ１０５）。ここで、所定の条件とは、各光源１の主走査間隔が変化するおそれがある条件のことであり、例えば、環境検知部６０により所定以上の環境変化（温度変化）が検知されたこと、ステップＳ１０４における周波数変調から所定時間が経過したこと、などが挙げられる。ここで、所定以上の環境変化（温度変化）とは、例えば、光学系が変形するおそれがある程度の変化のことである。また、所定時間とは、光学系の劣化が発生するおそれがある程度の時間のことである。
制御部２０は、所定の条件を満たしている（例えば、所定以上の環境変化が検知された、所定時間が経過した）と判定した場合（ステップＳ１０５：ＹＥＳ）、次のステップＳ１０６へと移行する。
一方、制御部２０は、所定の条件を満たしていない（例えば、所定以上の環境変化が検知されていない、所定時間が経過していない）と判定した場合（ステップＳ１０５：ＮＯ）、所定の条件を満たしていると判定するまでステップＳ１０５の処理を繰り返す。

ステップＳ１０６において、制御部２０は、第１測定部（フォトダイオードＰＤ１１、ＰＤ１２）により測定された測定値（主走査間隔）を取得する。

次に、制御部２０は、ステップＳ１０６で取得された測定値及び記憶部３０に記憶された測定値に基づいて、各主走査位置における補正値を算出する（ステップＳ１０７）。具体的には、制御部２０は、上記式（３）及び式（４）を用いて各主走査位置における補正値Ａ’（ｎ）を算出する。
その後、制御部２０は、ステップＳ１０４へと移行し、ステップＳ１０７で算出された補正値に基づいて、各光源１に周波数変調をかける。

以上のように、本実施形態に係る画像形成装置１０００は、画像データに応じて複数の光源１から発せられた複数の光線（レーザー光Ｌ）を像担持体（感光体２００）において主走査方向に走査して、画像を形成する画像形成部１０と、複数の光線の複数の主走査位置における主走査間隔に応じて、各光源１に周波数変調をかける変調部（制御部２０）と、変調部による変調結果に基づいて各光源１の発光タイミングを制御する発光制御部（制御部２０）と、主走査間隔を測定する第１測定部（フォトダイオードＰＤ１１、ＰＤ１２）と、生産工程で複数の主走査位置に対応するように配置された第２測定部（フォトダイオードＰＤ１、ＰＤ２）により測定された主走査間隔を記憶する記憶部３０と、を備える。また、変調部は、記憶部３０に記憶された主走査間隔及び第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて各光源１の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて各光源１に周波数変調をかける。
したがって、本実施形態に係る画像形成装置１０００によれば、各主走査位置における光源１ごとの傾きを補正することができるので、ピッチムラの発生を低減させることができる。特に、実機内で起きた経時的な変化に対応することができるので、使用開始後の実機においても、ピッチムラの発生を低減させることができる。

また、本実施形態に係る画像形成装置１０００によれば、第１測定部は、画像領域外の照射開始位置及び照射終了位置付近に配置されている。
したがって、本実施形態に係る画像形成装置１０００によれば、画像領域への照射を妨げない位置に配置された測定部により主走査間隔を測定することができるので、通常通りの画像形成を行いつつ、ピッチムラの発生を低減させることができる。

また、本実施形態に係る画像形成装置１０００によれば、装置内の環境変化を検知する検知部（環境検知部６０）を備える。また、変調部は、検知部により所定以上の環境変化が検知された場合に、記憶部３０に記憶された主走査間隔及び第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて各光源１の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて各光源１に周波数変調をかける。
したがって、本実施形態に係る画像形成装置１０００によれば、光学系が変形するおそれがある場合に各光源１に周波数変調をかけることができるので、より適切なタイミングで各主走査位置における光源１ごとの傾きを補正することができる。

また、本実施形態に係る画像形成装置１０００によれば、変調部は、所定時間が経過した場合に、記憶部３０に記憶された主走査間隔及び第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて各光源１の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて各光源１に周波数変調をかける。
したがって、本実施形態に係る画像形成装置１０００によれば、光学系の劣化が発生するおそれがある場合に各光源１に周波数変調をかけることができるので、より適切なタイミングで各主走査位置における光源１ごとの傾きを補正することができる。

以上、本発明に係る実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で変更可能である。

例えば、上記実施形態では、所定の条件として、所定以上の環境変化（温度変化）が検知された場合や、所定時間が経過した場合に、第１測定部（フォトダイオードＰＤ１１、ＰＤ１２）により測定された測定値及び記憶部３０に記憶された測定値に基づいて、各主走査位置における補正値を算出するようにしているが、これに限定されるものではない。例えば、主走査間隔を算出するための画像（チャート）の濃度情報に基づいて主走査間隔を算出するようにし、当該算出結果に基づいて主走査間隔の変動を検知した場合に、フォトダイオードＰＤ１１、ＰＤ１２により測定された測定値及び記憶部３０に記憶された測定値に基づいて、各主走査位置における補正値を算出するようにしてもよい。
具体的には、まず、制御部２０は、画像形成部１０により、主走査間隔を算出するための画像（チャート）を形成させる。すなわち、制御部２０は、本発明の画像形成制御部として機能する。次いで、制御部２０は、取得部（カメラ４０）により取得された画像（チャート）の濃度情報に基づいて各光源１の複数の主走査位置における主走査間隔を算出する。すなわち、制御部２０は、本発明の算出部として機能する。次いで、制御部２０は、算出結果に基づいて主走査間隔の変動を検知した場合に、フォトダイオードＰＤ１１、ＰＤ１２により測定された測定値及び記憶部３０に記憶された測定値に基づいて、各主走査位置における補正値を算出する。
上記のように、画像形成部１０により、主走査間隔を算出するためのチャートを形成させる画像形成制御部（制御部２０）と、画像形成部１０により形成されたチャートの濃度情報を取得する取得部（カメラ４０）と、濃度情報に基づいて主走査間隔を算出する算出部（制御部２０）と、を備え、変調部が、算出部による算出結果に基づいて主走査間隔の変動を検知した場合に、記憶部３０に記憶された主走査間隔及び第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて各光源１の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて各光源１に周波数変調をかけることで、実際に主走査間隔の変動を検知した場合に各光源１に周波数変調をかけることができるので、より適切なタイミングで各主走査位置における光源１ごとの傾きを補正することができる。

また、上記実施形態では、生産工程で複数の主走査位置における各光源１の主走査間隔を測定する方法の一例として、フォトダイオードＰＤ１、ＰＤ２を用いる構成を例示して説明しているが、これに限定されるものではない。例えば、フォトダイオードＰＤ１、ＰＤ２を用いる代わりに、カメラ（ＣＣＤカメラ）を用いるようにしてもよい。

また、上記実施形態では、受光部６が、第２反射ミラー５により反射されたレーザー光Ｌを検出する構成を例示して説明しているが、これに限定されるものではない。例えば、第２反射ミラー５を設けないようにし、受光部６を第２反射ミラー５の位置に配置する構成としてもよい。また、受光部６は、必ずしも画像書込部１００の内部に配置される必要はなく、照射開始時及び照射終了時のレーザー光Ｌを検出可能であれば、画像書込部１００の外部に配置されていてもよい。

その他、画像形成装置を構成する各装置の細部構成及び各装置の細部動作に関しても、本発明の趣旨を逸脱することのない範囲で適宜変更可能である。

１０００ 画像形成装置
１０ 画像形成部
１００ 画像書込部
１１ 光源部
１ 光源
２ 偏向器
３ ｆθレンズ
４ 第１反射ミラー
５ 第２反射ミラー
６ 受光部
６１ ＳＯＳ基板
６２ ＥＯＳ基板
ＰＤ１１、ＰＤ１２ フォトダイオード（第１測定部）
２００ 感光体（像担持体）
２１０ 帯電部
２２０ 現像部
３００ 中間転写ベルト
４００ 転写ローラー
５００ 定着部
２０ 制御部（変調部、発光制御部、画像形成制御部、算出部）
３０ 記憶部
４０ カメラ（取得部）
５０ 操作パネル
５１ 表示部
５２ 操作部
６０ 環境検知部（検知部）
７０ センサー基板
ＰＤ１、ＰＤ２ フォトダイオード（第２測定部）
Ｌ レーザー光（光線）

Claims (7)

1. 画像データに応じて複数の光源から発せられた複数の光線を像担持体において主走査方向に走査して、画像を形成する画像形成部と、
   前記複数の光線の複数の主走査位置における主走査間隔に応じて、各光源に周波数変調をかける変調部と、
   前記変調部による変調結果に基づいて前記各光源の発光タイミングを制御する発光制御部と、
   前記主走査間隔を測定する第１測定部と、
   生産工程で前記複数の主走査位置に対応するように配置された第２測定部により測定された前記主走査間隔を記憶する記憶部と、
   を備え、
   前記変調部は、前記記憶部に記憶された主走査間隔及び前記第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて前記各光源の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて前記各光源に周波数変調をかけることを特徴とする画像形成装置。
2. 前記第１測定部は、画像領域外の照射開始位置及び照射終了位置付近に配置されていることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
3. 装置内の環境変化を検知する検知部を備え、
   前記変調部は、前記検知部により所定以上の環境変化が検知された場合に、前記記憶部に記憶された主走査間隔及び前記第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて前記各光源の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて前記各光源に周波数変調をかけることを特徴とする請求項１又は２に記載の画像形成装置。
4. 前記画像形成部により、前記主走査間隔を算出するためのチャートを形成させる画像形成制御部と、
   前記画像形成部により形成されたチャートの濃度情報を取得する取得部と、
   前記濃度情報に基づいて前記主走査間隔を算出する算出部と、
   を備え、
   前記変調部は、前記算出部による算出結果に基づいて前記主走査間隔の変動を検知した場合に、前記記憶部に記憶された主走査間隔及び前記第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて前記各光源の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて前記各光源に周波数変調をかけることを特徴とする請求項１～３のいずれか一項に記載の画像形成装置。
5. 前記変調部は、所定時間が経過した場合に、前記記憶部に記憶された主走査間隔及び前記第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて前記各光源の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて前記各光源に周波数変調をかけることを特徴とする請求項１～４のいずれか一項に記載の画像形成装置。
6. 画像データに応じて複数の光源から発せられた複数の光線を像担持体において主走査方向に走査して、画像を形成する画像形成部と、前記複数の光線の複数の主走査位置における主走査間隔を測定する第１測定部と、生産工程で前記複数の主走査位置に対応するように配置された第２測定部により測定された前記主走査間隔を記憶する記憶部と、を備える画像形成装置の発光制御方法であって、
   前記複数の光線の複数の主走査位置における主走査間隔に応じて、各光源に周波数変調をかける変調工程と、
   前記変調工程による変調結果に基づいて前記各光源の発光タイミングを制御する発光制御工程と、
   を含み、
   前記変調工程は、前記記憶部に記憶された主走査間隔及び前記第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて前記各光源の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて前記各光源に周波数変調をかけることを特徴とする発光制御方法。
7. 画像データに応じて複数の光源から発せられた複数の光線を像担持体において主走査方向に走査して、画像を形成する画像形成部と、前記複数の光線の複数の主走査位置における主走査間隔を測定する第１測定部と、生産工程で前記複数の主走査位置に対応するように配置された第２測定部により測定された前記主走査間隔を記憶する記憶部と、を備える画像形成装置のコンピュータを、
   前記複数の光線の複数の主走査位置における主走査間隔に応じて、各光源に周波数変調をかける変調部、
   前記変調部による変調結果に基づいて前記各光源の発光タイミングを制御する発光制御部、
   として機能させ、
   前記変調部は、前記記憶部に記憶された主走査間隔及び前記第１測定部により測定された主走査間隔に基づいて前記各光源の周波数変調率を算出し、当該算出した周波数変調率に基づいて前記各光源に周波数変調をかけることを特徴とするプログラム。

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