JP2023032305A - アライナ装置およびワークの位置ずれ補正方法 - Google Patents
アライナ装置およびワークの位置ずれ補正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2023032305A JP2023032305A JP2021138352A JP2021138352A JP2023032305A JP 2023032305 A JP2023032305 A JP 2023032305A JP 2021138352 A JP2021138352 A JP 2021138352A JP 2021138352 A JP2021138352 A JP 2021138352A JP 2023032305 A JP2023032305 A JP 2023032305A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- positional deviation
- work
- deviation amount
- plate
- lift mechanism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 9
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 72
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 61
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001444 catalytic combustion detection Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
【課題】板状ワークの位置ずれ補正の処理を含めた搬送時間を短縮することができるように構成したアライナ装置を提供する。【解決手段】ワークを載置保持するハンド体を有するロボットハンドと、ロボットハンドによって搬送され、ハンド体に載せられたワークを持ち上げ、かつ持ち下げるワークリフト機構と、下向きのセンサ面を有し、ワークリフト機構によりセンサ面に近接させられたワークの外形形状を検出することができるように配置されたセンサ3と、センサ3により取得されたワークの外形形状から当該ワークの基準位置からのX、Yおよびθ方向の位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出手段6と、X-Y方向の位置ずれ量に基づき、ワークのX方向位置ずれ量およびY方向位置ずれ量を補正するX-Y方向位置ずれ量補正手段81、およびθ方向位置ずれ量に基づき、ワークのθ方向の位置ずれ量を補正するθ方向位置ずれ量補正手段82と、を備える。【選択図】図3
Description
本発明は、アライナ装置およびワークの位置ずれ補正方法に関し、詳しくは、半導体ウエハなどの板状ワークの基準位置に対する位置ずれ量を検出し、検出された位置ずれ量にもとづいて板状ワークの位置を補正する技術に関する。
半導体プロセスにおいて、例えばロードロックチャンバに搬入されたウエハは、搬送ロボットにより処理チャンバに搬入される。処理チャンバ内で処理をする内容によっては、ウエハを処理チャンバ内の基準位置に正確に搬入する必要があるが、そのために従来は、ワークを処理チャンバに搬入する前の段階において、例えば特許文献1に示されるアライナ装置を介在させている。このアライナ装置は、ウエハの平面方向(X-Y方向)および回転方向(θ方向)の位置ずれ量を検出することができるように構成されている。具体的には、円形状のウエハを回転させつつ当該ウエハの外周の位置をラインセンサにより検出し、検出データに基づいてウエハのX-Y方向およびθ方向の位置ずれ量を検出する。アライナ装置は、この位置ずれ量情報を用いることにより、X-Y方向およびθ方向の位置ずれを補正する。その後、搬送ロボットが、位置ずれ補正が済んだウエハをアライナ装置から掬い上げ、例えば次工程である処理チャンバ内の基準位置に搬送することができる。
上記従来のアライナ装置によるウエハの位置ずれ補正の処理は、搬送ロボットからアライナ装置へウエハを移し替えた後に行われる。そして、位置ずれ補正後のウエハは、再び搬送ロボットに移し替えられ、当該搬送ロボットにより次工程に搬送される。しかしながら、このようなウエハの位置ずれ補正の処理では、搬送ロボットとアライナ装置との間でのウエハの移し替えが繰り返されることになり、位置ずれ補正の処理を含めたウエハの搬送時間が長くなっていた。
本発明は、上記した事情のもとで考え出されたものであって、板状ワークの位置ずれ補正の処理を含めた搬送時間を短縮することができるように構成したアライナ装置を提供することを主たる課題とする。
上記の課題を解決するため、本発明では、次の技術的手段を採用した。
本発明の第1の側面によって提供されるアライナ装置は、板状ワークを載置保持できるハンド体を有するロボットハンドと、上記ロボットハンドによって搬送され、上記ハンド体に載せられた板状ワークを持ち上げ、かつ持ち上げた状態から持ち下げることができるワークリフト機構と、下向きのセンサ面を有し、上記ワークリフト機構により上記センサ面に近接または接触させられた上記板状ワークの外形形状を検出することができるように配置されたセンサと、上記センサにより取得された上記板状ワークの外形形状から、当該板状ワークの基準位置からのX、Yおよびθ方向の位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出手段と、上記位置ずれ量算出手段により算出されたX-Y方向の位置ずれ量に基づき、上記板状ワークについてのX方向位置ずれ量およびY方向位置ずれ量を補正するX-Y方向位置ずれ量補正手段、および上記位置ずれ量算出手段により算出されたθ方向位置ずれ量に基づき、上記板状ワークについてのθ方向の位置ずれ量を補正するθ方向位置ずれ量補正手段と、を備えることを特徴とする。
好ましい実施の形態においては、上記X-Y方向位置ずれ量補正手段および上記θ方向位置ずれ量補正手段を制御する制御手段をさらに含む。
好ましい実施の形態においては、上記ワークリフト機構は、上記板状ワークを下方から支持するピンを有し、上記X-Y方向位置ずれ量補正手段は、上記ワークリフト機構の上記ピンを、上記X方向位置ずれ量および上記Y方向位置ずれ量に基づいてX-Y方向に移動させることにより補正を行い、上記θ方向位置ずれ量補正手段は、上記板状ワークを支持する上記ワークリフト機構の上記ピンを、上記θ方向位置ずれ量に基づいてθ方向に回転させることにより補正を行う。
本発明の第2の側面によって提供されるワークの位置ずれ補正方法は、板状ワークを載置保持できるハンド体を有するロボットハンドと、上記ロボットハンドによって搬送され、上記ハンド体に載せられた板状ワークを持ち上げ、かつ持ち上げた状態から持ち下げることができるワークリフト機構と、下向きのセンサ面を有し、上記ワークリフト機構により上記センサ面に近接または接触させられた上記板状ワークの外形形状を検出することができるように配置されたセンサと、上記センサにより取得された上記板状ワークの外形形状から、当該板状ワークの基準位置からのX、Yおよびθ方向の位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出手段と、上記位置ずれ量算出手段により算出されたX-Y方向の位置ずれ量に基づき、上記板状ワークについてのX方向位置ずれ量およびY方向位置ずれ量を補正するX-Y方向位置ずれ量補正手段、および上記位置ずれ量算出手段により算出されたθ方向位置ずれ量に基づき、上記板状ワークについてのθ方向の位置ずれ量を補正するθ方向位置ずれ量補正手段と、上記X-Y方向位置ずれ量補正手段および上記θ方向位置ずれ量補正手段を制御する制御手段と、を備え、上記ワークリフト機構は、上記板状ワークを下方から支持するピンを有し、上記X-Y方向位置ずれ量補正手段は、上記ワークリフト機構の上記ピンを、上記X方向位置ずれ量および上記Y方向位置ずれ量に基づいてX-Y方向に移動させることにより補正を行い、上記θ方向位置ずれ量補正手段は、上記板状ワークを支持する上記ワークリフト機構の上記ピンを、上記θ方向位置ずれ量に基づいてθ方向に回転させることにより補正を行う、アライナ装置を用いた板状ワークの位置ずれ補正方法であって、上記ハンド体上に載る板状ワークが補正基準位置に位置するように、上記ロボットハンドを移動させる板状ワーク搬入ステップと、上記ワークリフト機構の上記ピンを上昇させることにより上記板状ワークを上記ハンド体から持ち上げて上記板状ワークを上記センサに近接または接触させる板状ワーク持ち上げステップと、上記センサにより、上記板状ワークの外形形状を取得する外形形状取得ステップと、上記取得された外形形状から、上記板状ワークの基準位置からのX、Yおよびθ方向の位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出ステップと、上記ワークリフト機構の上記ピンを下降させて上記板状ワークを上記ハンドの上位に位置させるように上記板状ワーク持ち下げ、上記位置ずれ量算出手段により算出されたθ方向の位置ずれ量に基づき、上記ピンを回転させるθ方向位置補正ステップと、上記X、Yおよびθ方向の位置ずれ量に基づき、上記板状ワークが上記ハンド体上の基準位置に載るように、上記ワークリフト機構の上記ピンをX-Y方向に移動させるXY方向位置補正ステップと、上記ワークリフト機構の上記ピンを下降させることにより上記X-Y方向位置補正後の上記板状ワークを持ち下げて対応するハンド体に移載する補正後移載ステップと、を含むことを特徴とする。
上記構成のアライナ装置によれば、板状ワークの位置ずれ補正の処理を含めた搬送時間を短縮することが可能である。
本発明のその他の特徴および利点は、添付図面を参照して以下に行う詳細な説明によって、より明らかとなろう。
以下、本発明の好ましい実施形態につき、図面を参照しつつ具体的に説明する。
図1~図4は、本発明の一実施形態に係るアライナ装置A1を示す。
図1~図3に示すように、アライナ装置A1は、ロボットハンド1と協働して作動し、センサと、ワークリフト機構5と、センサ3からのワーク外縁形状情報に基づきワークの基準位置に対する位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出手段6と、X-Y方向位置ずれ量補正手段81と、θ方向位置ずれ量補正手段82と、制御手段7と、を備える。
ロボットハンド1は、例えば多関節ロボットのエンドアーム(図示略)に設置された支持体12にハンド体13を設けた構造を有する。ハンド体13は、ワークとしての半導体ウエハWを上面に載せて保持できるようになっている。ロボットハンド1は、マニピュレータ(図示略)の制御により、少なくとも、ハンド体13を水平姿勢にしつつ、平面方向(X-Y方向)に移動できる機能を有する。なお、ハンド体13の平面形状は、図1、図2に表れているように、二股フォーク状となっている。ハンド体13はまた、好ましくは、上面に載せられた半導体ウエハWを真空圧により吸着できるように構成される。なお、ハンド体13の形状は、限定されず、三又フォーク状その他の形状であってもよい。
センサ3は、接触または近接非接触により、その下位に位置する平面的な対象物の外形を像として捉えることができる機能を有するものが採用される。センサ3は、支柱42などの枠体4に支持されたセンサテーブル41の下面に、センサ面31を下向きにして取り付けられている。このようなセンサ3の例としては、例えば、タッチパネルに採用されているように、静電式に対象物の存在を認識する技術を利用したもの、あるいは、CCD等の撮像素子を複数個平面的に配列したもの、等がある。
本発明では、後記するように、センサ3は、半導体ウエハWの外形形状を認識することができればよいため、当該半導体ウエハWのX-Y方向の位置ずれの可能性の範囲内で当該半導体ウエハの外形を認識するに十分な平面的形状を有しておればよい。すなわち、センサ3は、図2に表れているように円形であってもよいし、矩形あるいはドーナツ形状であってもよい。
ワークリフト機構5は、ピン51を昇降させて、このピン51により下方から支持された半導体ウエハWを昇降させる機能、ピン51をX-Y方向に移動させる機能、および、ピン51を垂直軸を中心として回転させる機能を有している。そのため、ピン51を先端に有するアーム52を支持ベース53の内部において昇降機構(図示略)に連携され、この昇降機構はX方向およびY方向のアクチュエータ(図示略)に連携されている。さらに、支持ベース53内においてアーム52の基端に設置されたモータ(図示略)の回転をアーム52内に組み込まれたベルト・プーリ伝動機構(図示略)を介するなどしてピン51を回転できるように構成されている。ピン51は、通常時、平面視においてセンサテーブル41の中心に位置しているとともに、ピン51はセンサテーブルの下方を通ってセンサテーブル41の外部に延び、支持ベース53に至っている。ピン51はまた、半導体ウエハWを安定的に載置保持できる大きさの円形上面を有している。ピン51はさらに、好ましくはこれらに載置保持される半導体ウエハWを 真空圧により吸着できるように構成される。なお、本実施形態では、ピン51をX-Y方向に移動させる機能が本発明におけるX-Y方向位置ずれ量補正手段81に、ピン51を垂直軸を中心として回転させる機能が本発明におけるθ方向位置ずれ量補正手段82に、それぞれ相当する。
半導体ウエハWは、図1、図2に示すように、通常、円形の板状をしており、その外周には、周方向の回転姿勢を検出するためのノッチW1またはオリエンテーションフラットと呼ばれる切欠き部(図示せず)が形成されている。半導体プロセスにおいて、このような半導体ウエハWは、処理チャンバに搬入されて所定の処理がなされるが、処理の内容によっては、当該半導体ウエハWを、X-Y方向およびθ方向の基準位置に正確に位置づける必要がある。本発明は、このような場合において、ロボットハンド1が半導体ウエハWを処理チャンバに搬入する以前の段階において、位置ずれの補正を行うことができるようにするものである。
位置ずれ量算出手段6は、センサ3によって画像として取得された半導体ウエハWの外形形状から、当該半導体ウエハWの基準位置からのX-Y方向およびθ方向の位置ずれ量を算出する。具体的には、図9に示すように、半導体ウエハWの画像の中心、例えば、半導体ウエハの画像W’における外周円の中心O1の、半導体ウエハWの中心が位置するべき基準位置C1からのX方向の位置ずれ量δxおよびY方向の位置ずれ量δyを算出するとともに、画像W’におけるノッチW1の、半導体ウエハWのノッチW1が位置するべき基準位置N1からのθ方向の位置ずれ量δθを算出する。
上記構成のアライナ装置A1は、例えば次のように作動させることができる。
図4に示すように、ピン51はセンサテーブル41に対して所定の最下動位置にあり、それらの回転中心は、平面的に一致させられている。ハンド体13に半導体ウエハWが載置保持されたロボットハンド1がX方向に沿って移動して、図5、図6に示すようにハンド体13が補正基準位置まで進入し、半導体ウエハWをセンサ3の下方に位置づける。このときの半導体ウエハWは、多段式カセット(図示略)やロードロックチャンバ(図示略)から搬送されてきたものであり、ハンド体13に対し、X-Y方向およびθ方向に、区々に位置ずれした状態にある。なお、図5、図6に示す状態において、ハンド体13上に半導体ウエハWが位置するべき基準位置C1は、ピン51の回転中心と一致させられている。
次に、図7、図8に示すように、ピン51を上昇させて半導体ウエハWをハンド体13から持ち上げ、センサ3の下面(センサ面31)に近接させる。すなわち、半導体ウエハWの表面の汚染を避けるため、半導体ウエハWをセンサ3に接触させない。なお、ハンド体13からピン51に半導体ウエハWが移載される際には、ハンド体13の半導体ウエハWに対する吸着がオフとされ、ピン51の半導体ウエハWに対する吸着がオンとされる。この状態において、センサ3は、上記したように半導体ウエハWの外形形状を画像データとして取得する。この画像データを受け取った位置ずれ量算出手段6は、上記したように、半導体ウエハWにつき、基準位置C1,N1からのX方向の位置ずれ量δx、Y方向の位置ずれ量δyおよびθ方向の位置ずれ量δθを算出する(図9)。
次に、図10、図11に示すように、半導体ウエハWを保持したままのピン51を所定距離下降させる。この状態において、半導体ウエハWはハンド体13からその上位に離間させられている。次いで図12に示すように、半導体ウエハWのθ方向の位置ずれ量δθに対応させてピン51を回転させ、ノッチW1が半導体ウエハWの中心O1を通るX方向上に位置するようにする。これにより、半導体ウエハWのθ方向の位置ずれ量δθが補正される。
続いて、次のようにして半導体ウエハWのX-Y方向の位置ずれ量が補正されるが、θ方向の位置ずれ量δθの補正後のX-Y方向の位置ずれ量は、図9に示した初期位置ずれ量δx、δyaではなく、図12、図13、図14に示すように、半導体ウエハWの中心O1がピン51の回転に伴ってピン51の回転中心(ハンド体13に対する基準位置)C1を中心としてδθだけ回転したことにより演算される二次位置ずれ量δx’、δy’となる。
次に、図15、図16に示すように、半導体ウエハWを載置保持したままのピン51を、半導体ウエハWの二次位置ずれ量δx’、δy’に対応させて、X方向およびY方向にδx’、δy’だけ移動させた後、図17、図18に示すように、ピン51を下降させ、半導体ウエハWをハンド体13に受け渡す。このような半導体ウエハWの受け渡しの際、ピン51の半導体ウエハWに対する吸着がオフとされ、ハンド体13の半導体ウエハWに対する吸着がオンとされる。この状態において、ハンド体13に受け渡された半導体ウエハWは、ハンド体13に対してX、Y、θ方向すべての方向についての基準位置に位置させられることになる。図17、図18に示す状態において、ハンド体13に載る半導体ウエハWは、ハンド体13に対してその基準位置C1に位置することになる。
以後、ロボットハンド1は、ハンド体13のX-Y方向の基準位置に半導体ウエハWを載置保持した状態で、枠体4から退避し、半導体ウエハWを所定の次工程へと搬送することができる。
なお、本実施形態のワークの位置ずれ補正の手順では、半導体ウエハWのθ方向の位置ずれを補正した後に半導体ウエハWのX-Y方向の位置ずれを補正したが、これに代えて、先に半導体ウエハWのX-Y方向の位置ずれを補正し、その後θ方向の位置ずれを補正してもよい。
以上述べたように、上記構成のアライナ装置A1によれば、板状ワークとしての半導体ウエハWの外形形状を平面的なセンサ面31を有するセンサ3により取得し、こうして取得された外形形状の像から半導体ウエハWの基準位置からのX方向の位置ずれ量δx、Y方向の位置ずれ量δyおよびθ方向の位置ずれ量δθを算出することができる。したがって、半導体ウエハWの位置ずれ量を検出するための物理的構成を薄状に構成することができる。
アライナ装置A1は、センサ3、ワークリフト機構5、位置ずれ量算出手段6、X-Y方向位置ずれ量補正手段81、θ方向位置ずれ量補正手段82およびを具備する。センサ3は下向きのセンサ面31を有し、ワークリフト機構5は、ロボットハンド1によって搬送され、ハンド体13に載せられた半導体ウエハW(板状ワーク)をセンサ面31に近接または接触するように持ち上げ、かつ持ち上げた状態から持ち下げることができる。このような構成によれば、ロボットハンド1が枠体4から退避することなく半導体ウエハWの位置ずれの補正をすることができる。したがって、半導体ウエハWの位置ずれ補正の処理を含めた搬送時間を短縮することが可能である。
もちろん、本発明の範囲は上述した実施形態に限定されることはなく、各請求項に記載した事項の範囲内でのあらゆる変更は、すべて本発明の範囲に含まれる。
上記実施形態においては、ワークリフト機構5として、ピン51を昇降させて当該ピン51により下方から支持された半導体ウエハWを昇降させる機能を持つように構成したが、ワークリフト機構の構成はこれに限定されない。ワークリフト機構としては、たとえばピン51が昇降する機能を設けずに、ロボット側においてロボットハンド1を適宜上下移動させることでハンド体13に載置保持された半導体ウエハWを持ち上げ、また持ち下げて、ワークリフト機構の機能を担うように構成してもよい。この場合、ハンド体13およびピン51の間の半導体ウエハWの受け渡しは、ハンド体13の上面をピン51の上面より下降させ、また上昇させることにより行う。
さらに、上述した実施形態では、半導体ウエハWの表面の汚染を避けるため、半導体ウエハWをセンサ3に接触させないようにしたが、接触してもよい場合は、半導体ウエハWをセンサ3に接触させるようにしてもよい。
A1:アライナ装置、W:半導体ウエハ(ワーク)、W’:半導体ウエハの画像、O1:画像の中心、C1:中心の基準位置、N1:ノッチの基準位置、δx:X方向位置ずれ量、δy:Y方向位置ずれ量、δθ:θ方向位置ずれ量、1:ロボットハンド、13:ハンド体、3:センサ、31:センサ面、5:ワークリフト機構、51:ピン、6:位置ずれ量算出手段、7:制御手段、81:X-Y方向位置ずれ量補正手段、82:θ方向位置ずれ量補正手段
Claims (4)
- 板状ワークを載置保持できるハンド体を有するロボットハンドと、
上記ロボットハンドによって搬送され、上記ハンド体に載せられた板状ワークを持ち上げ、かつ持ち上げた状態から持ち下げることができるワークリフト機構と、
下向きのセンサ面を有し、上記ワークリフト機構により上記センサ面に近接または接触させられた上記板状ワークの外形形状を検出することができるように配置されたセンサと、
上記センサにより取得された上記板状ワークの外形形状から、当該板状ワークの基準位置からのX、Yおよびθ方向の位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出手段と、
上記位置ずれ量算出手段により算出されたX-Y方向の位置ずれ量に基づき、上記板状ワークについてのX方向位置ずれ量およびY方向位置ずれ量を補正するX-Y方向位置ずれ量補正手段、および上記位置ずれ量算出手段により算出されたθ方向位置ずれ量に基づき、上記板状ワークについてのθ方向の位置ずれ量を補正するθ方向位置ずれ量補正手段と、
を備えることを特徴とする、アライナ装置。 - 上記X-Y方向位置ずれ量補正手段および上記θ方向位置ずれ量補正手段を制御する制御手段をさらに含む、請求項1に記載のアライナ装置。
- 板状ワークを載置保持できるハンド体を有するロボットハンドと、
上記ロボットハンドによって搬送され、上記ハンド体に載せられた板状ワークを持ち上げ、かつ持ち上げた状態から持ち下げることができるワークリフト機構と、
下向きのセンサ面を有し、上記ワークリフト機構により上記センサ面に近接または接触させられた上記板状ワークの外形形状を検出することができるように配置されたセンサと、
上記センサにより取得された上記板状ワークの外形形状から、当該板状ワークの基準位置からのX、Yおよびθ方向の位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出手段と、
上記位置ずれ量算出手段により算出されたX-Y方向の位置ずれ量に基づき、上記板状ワークについてのX方向位置ずれ量およびY方向位置ずれ量を補正するX-Y方向位置ずれ量補正手段、および上記位置ずれ量算出手段により算出されたθ方向位置ずれ量に基づき、上記板状ワークについてのθ方向の位置ずれ量を補正するθ方向位置ずれ量補正手段と、
上記X-Y方向位置ずれ量補正手段および上記θ方向位置ずれ量補正手段を制御する制御手段と、
を備え、
上記ワークリフト機構は、上記板状ワークを下方から支持するピンを有し、上記X-Y方向位置ずれ量補正手段は、上記ワークリフト機構の上記ピンを、上記X方向位置ずれ量および上記Y方向位置ずれ量に基づいてX-Y方向に移動させることにより補正を行い、上記θ方向位置ずれ量補正手段は、上記板状ワークを支持する上記ワークリフト機構の上記ピンを、上記θ方向位置ずれ量に基づいてθ方向に回転させることにより補正を行うことを特徴とする、アライナ装置。 - 板状ワークを載置保持できるハンド体を有するロボットハンドと、上記ロボットハンドによって搬送され、上記ハンド体に載せられた板状ワークを持ち上げ、かつ持ち上げた状態から持ち下げることができるワークリフト機構と、下向きのセンサ面を有し、上記ワークリフト機構により上記センサ面に近接または接触させられた上記板状ワークの外形形状を検出することができるように配置されたセンサと、
上記センサにより取得された上記板状ワークの外形形状から、当該板状ワークの基準位置からのX、Yおよびθ方向の位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出手段と、
上記位置ずれ量算出手段により算出されたX-Y方向の位置ずれ量に基づき、上記板状ワークについてのX方向位置ずれ量およびY方向位置ずれ量を補正するX-Y方向位置ずれ量補正手段、および上記位置ずれ量算出手段により算出されたθ方向位置ずれ量に基づき、上記板状ワークについてのθ方向の位置ずれ量を補正するθ方向位置ずれ量補正手段と、
上記X-Y方向位置ずれ量補正手段および上記θ方向位置ずれ量補正手段を制御する制御手段と、
を備え、
上記ワークリフト機構は、上記板状ワークを下方から支持するピンを有し、上記X-Y方向位置ずれ量補正手段は、上記ワークリフト機構の上記ピンを、上記X方向位置ずれ量および上記Y方向位置ずれ量に基づいてX-Y方向に移動させることにより補正を行い、上記θ方向位置ずれ量補正手段は、上記板状ワークを支持する上記ワークリフト機構の上記ピンを、上記θ方向位置ずれ量に基づいてθ方向に回転させることにより補正を行う、アライナ装置を用いた板状ワークの位置ずれ補正方法であって、
上記ハンド体上に載る板状ワークが補正基準位置に位置するように、上記ロボットハンドを移動させる板状ワーク搬入ステップと、
上記ワークリフト機構の上記ピンを上昇させることにより上記板状ワークを上記ハンド体から持ち上げて上記板状ワークを上記センサに近接または接触させる板状ワーク持ち上げステップと、
上記センサにより、上記板状ワークの外形形状を取得する外形形状取得ステップと、
上記取得された外形形状から、上記板状ワークの基準位置からのX、Yおよびθ方向の位置ずれ量を算出する位置ずれ量算出ステップと、
上記ワークリフト機構の上記ピンを下降させて上記板状ワークを上記ハンドの上位に位置させるように上記板状ワーク持ち下げ、上記位置ずれ量算出手段により算出されたθ方向の位置ずれ量に基づき、上記ピンを回転させるθ方向位置補正ステップと、
上記X、Yおよびθ方向の位置ずれ量に基づき、上記板状ワークが上記ハンド体上の基準位置に載るように、上記ワークリフト機構の上記ピンをX-Y方向に移動させるXY方向位置補正ステップと、
上記ワークリフト機構の上記ピンを下降させることにより上記X-Y方向位置補正後の上記板状ワークを持ち下げて対応するハンド体に移載する補正後移載ステップと、
を含むことを特徴とする、板状ワークの位置ずれ補正方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021138352A JP2023032305A (ja) | 2021-08-26 | 2021-08-26 | アライナ装置およびワークの位置ずれ補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021138352A JP2023032305A (ja) | 2021-08-26 | 2021-08-26 | アライナ装置およびワークの位置ずれ補正方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023032305A true JP2023032305A (ja) | 2023-03-09 |
Family
ID=85416432
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021138352A Pending JP2023032305A (ja) | 2021-08-26 | 2021-08-26 | アライナ装置およびワークの位置ずれ補正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2023032305A (ja) |
-
2021
- 2021-08-26 JP JP2021138352A patent/JP2023032305A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11037810B2 (en) | Teaching method | |
KR100832925B1 (ko) | 반송기구의 반송 어긋남 산출 방법 및 반도체 처리 장치 | |
JP5189370B2 (ja) | 基板交換装置及び基板処理装置並びに基板検査装置 | |
KR20130033395A (ko) | 프로브 카드의 프리 히트 방법 | |
JP7474325B2 (ja) | ウエハ搬送装置、およびウエハ搬送方法 | |
JP2013033809A (ja) | ウエハ搬送装置 | |
JP5309503B2 (ja) | 位置決め装置と、位置決め方法と、これらを有する半導体製造装置 | |
US11984340B2 (en) | Teaching method | |
JP2010165706A (ja) | ウェハのアライメント装置 | |
JP7429578B2 (ja) | アライナ装置およびワークの位置ずれ補正方法 | |
JP7328981B2 (ja) | 基板移載装置及びその制御方法 | |
JP2023032305A (ja) | アライナ装置およびワークの位置ずれ補正方法 | |
KR100842027B1 (ko) | 얼라인 장치 및 이를 이용한 웨이퍼 정렬 방법 | |
JP2023032299A (ja) | アライナ装置および板状ワークの位置ずれ補正方法 | |
JP7429579B2 (ja) | アライナ装置および板状ワークの位置ずれ補正方法 | |
JP7474688B2 (ja) | 補正方法及び基板搬送装置 | |
JP2021158246A (ja) | ワークの位置ずれ量検出装置、アライナ装置およびワークの位置ずれ補正方法 | |
JP2021158243A (ja) | アライナ装置および同アライナ装置を用いた板状ワークの位置ずれ補正方法 | |
CN209993581U (zh) | 基板传送设备及半导体制程机台 | |
JP2010272743A (ja) | 基板搬送装置及び基板処理装置 | |
JP2010199245A (ja) | プリアライナ装置を備えたウェハ搬送システム | |
CN116325109A (zh) | 机器人***以及位移获取方法 | |
JP2013191890A (ja) | 位置決め装置と、位置決め方法と、これらを有する半導体製造装置 | |
CN116779503A (zh) | 运送机器人 | |
TW202230589A (zh) | 對準裝置 |