JP2022051394A - 製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】補正情報の学習および書き込みの効率を向上させること。【解決手段】製造方法は、リードヘッドが磁気ディスクの半径方向に設定された複数の学習位置のうちの第1の学習位置上に位置するように磁気ヘッドを移動させることと、第1の学習位置にかかるRRO補正情報をリードヘッドを用いて学習することと、を含む。さらに、製造方法は、リードヘッドが複数の学習位置のうちの第2の学習位置上に位置するように磁気ヘッドを移動させることと、リードヘッドが第2の学習位置上に位置するとき第2の学習位置にかかるRRO補正情報をリードヘッドを用いて学習しながら並行して第1の学習位置にかかるRRO補正情報の書き込みをライトヘッドを用いて実行することと、を含む。【選択図】図10
Description
本実施形態は、製造方法に関する。
従来、磁気ディスク装置における磁気ヘッドの位置決め誤差の一つの成分として、RRO(Repeatable RunOut)が知られている。RROとは、バーストパターンによって定義されるトラックの軌道と実際のトラックの軌道との位置ずれである。RROは、磁気ディスク(およびスピンドルモータ)の回転に同期して変動する。
磁気ディスク装置の製造工程では、RROによる位置ずれを補正するための補正情報(換言するとRRO補正情報)が学習され、得られた補正情報が磁気ディスクに書き込まれる。磁気ディスク装置が使用される際には、補正情報を用いて磁気ヘッドの位置の補正が行われる。
一つの実施形態は、補正情報の学習および書き込みの効率を向上させることを目的とする。
一つの実施形態によれば、磁気ディスクおよび磁気ヘッドを備えた磁気ディスク装置の製造方法は、前記磁気ディスクの半径方向に複数の学習位置を設定することと、前記磁気ヘッドが有するリードヘッドが前記複数の学習位置のうちの第1の学習位置上に位置するように前記磁気ヘッドを移動させることと、前記リードヘッドが前記第1の学習位置上に位置するとき前記第1の学習位置にかかるRRO(Repeatable RunOut)補正情報を前記リードヘッドを用いて学習することと、を含む。さらに、製造方法は、前記リードヘッドが前記複数の学習位置のうちの第2の学習位置上に位置するように前記磁気ヘッドを移動させることと、前記リードヘッドが前記第2の学習位置上に位置するとき前記第2の学習位置にかかるRRO補正情報を前記リードヘッドを用いて学習しながら並行して前記第1の学習位置にかかる前記RRO補正情報の第1の範囲への書き込みを前記ライトヘッドを用いて実行することと、を含む。なお、前記リードヘッドが前記第2の学習位置上に位置するとき前記磁気ヘッドが有するライトヘッドは前記第1の学習位置を含む前記第1の範囲の一部を通過する位置に位置する。
以下に添付図面を参照して、実施形態にかかる製造方法を詳細に説明する。なお、この実施形態により本発明が限定されるものではない。
(実施形態)
図1は、実施形態の磁気ディスク装置1の構成の一例を示す模式的な図である。
図1は、実施形態の磁気ディスク装置1の構成の一例を示す模式的な図である。
磁気ディスク装置1は、ホスト2に接続される。磁気ディスク装置1は、ホスト2から、ライトコマンドやリードコマンドなどの、アクセスコマンドを受信することができる。
磁気ディスク装置1は、表面に磁性層が形成された磁気ディスク11を備える。磁気ディスク装置1は、アクセスコマンドに応じて磁気ディスク11にデータを書き込んだり磁気ディスク11からデータを読み出したりする。
データの書き込みおよび読み出しは、磁気ヘッド22を介して行われる。具体的には、磁気ディスク装置1は、磁気ディスク11のほかに、スピンドルモータ12、ランプ13、アクチュエータアーム15、ボイスコイルモータ(VCM)16、モータドライバIC(Integrated Circuit)21、磁気ヘッド22、ハードディスクコントローラ(HDC)23、ヘッドIC24、リードライトチャネル(RWC)25、プロセッサ26、RAM27、FROM(Flash Read Only Memory)28、およびバッファメモリ29を備える。
磁気ディスク11は、同軸に取り付けられたスピンドルモータ12により、所定の回転速度で回転される。スピンドルモータ12は、モータドライバIC21により駆動される。
プロセッサ26はモータドライバIC21を介して、スピンドルモータ12の回転およびVCM16の回転を制御する。
磁気ヘッド22は、それに備わるライトヘッド22wおよびリードヘッド22rにより、磁気ディスク11に対して情報のライトやリードを行う。また、磁気ヘッド22は、アクチュエータアーム15の先端に取り付けられている。磁気ヘッド22は、モータドライバIC21によって駆動されるVCM16により、磁気ディスク11の半径方向に移動される。
磁気ディスク11の回転が停止しているときなどは、磁気ヘッド22は、ランプ13上に移動される。ランプ13は、磁気ヘッド22を、磁気ディスク11から離間した位置で保持するように構成されている。
ヘッドIC24は、読み出し時に、磁気ヘッド22が磁気ディスク11から読み出した信号を増幅して出力し、RWC25に供給する。また、ヘッドIC24は、書き込み時に、RWC25から供給された書き込み対象のデータに対応した信号を増幅して、磁気ヘッド22に供給する。
HDC23は、I/F バスを介してホスト2との間で行われるデータの送受信の制御、バッファメモリ29の制御、および読み出されたデータの誤り訂正処理などを行う。
バッファメモリ29は、ホスト2との間で送受信されるデータのバッファとして用いられる。例えば、バッファメモリ29は、磁気ディスク11に書き込まれるデータ、または磁気ディスク11から読み出されたデータ、を一時記憶するために用いられる。
バッファメモリ29は、例えば、高速な動作が可能な揮発性メモリによって構成される。バッファメモリ29を構成するメモリの種類は、特定の種類に限定されない。バッファメモリ29は、例えば、DRAM(Dynamic Random Access Memory)、SRAM(Static Random Access Memory)、またはこれらの組み合わせによって構成され得る。
RWC25は、HDC23から供給される書き込み対象のデータを変調してヘッドIC24に供給する。また、RWC25は、磁気ディスク11から読み出されヘッドIC24から供給された信号を復調してデジタルデータとしてHDC23へ出力する。
プロセッサ26は、例えば、CPU(Central Processing Unit)である。プロセッサ26には、RAM27、FROM(Flash Read Only Memory)28およびバッファメモリ29が接続されている。
FROM28は、不揮発性メモリである。FROM28には、ファームウェア(プログラムデータ)および各種の動作パラメータなどが格納される。なお、ファームウェアは、磁気ディスク11に格納されてもよい。
RAM27は、例えばDRAM、SRAM、またはこれらの組み合わせによって構成される。RAM27は、プロセッサ26によって動作用のメモリとして使用される。RAM27は、ファームウェアがロードされる領域や、各種の管理データが保持される領域として使用される。
プロセッサ26は、FROM28または磁気ディスク11に格納されているファームウェアに従って、この磁気ディスク装置1の全体的な制御を行う。例えば、プロセッサ26は、ファームウェアをFROM28または磁気ディスク11からRAM27にロードし、ロードされたファームウェアに従って、モータドライバIC21、ヘッドIC24、RWC25、HDC23などの制御を実行する。
なお、RWC25、プロセッサ26およびHDC23を含む構成は、コントローラ30と見なすこともできる。コントローラ30は、これらのほかに、他の要素(例えばRAM27、FROM28、バッファメモリ29、またはRWC25など)を含んでいてもよい。
また、ファームウェアプログラムは磁気ディスク11に格納されていてもよい。また、プロセッサ30の機能の一部または全部は、FPGA(Field-Programmable Gate Array)またはASIC(Application Specific Integrated Circuit)などのハードウェア回路によって実現されてもよい。
図2は、実施形態の磁気ディスク11の構成の一例を示す模式的な図である。なお、磁気ディスク11において、半径方向に関し、磁気ディスク11の外周側から内周側に向かう方向を、内方向と表記する。磁気ディスク11の内周側から外周側に向かう方向を、外方向と表記する。また、図2には、磁気ディスク11の回転方向の一例が示されている。
磁気ディスク11には、製造工程において、例えばサーボライタによって、またはセルフサーボライト(SSW)によって、サーボ情報が書き込まれる。図2によれば、サーボ情報が書き込まれたサーボ領域の配置の一例として放射状に配置されたサーボ領域42が示されている。
サーボ情報は、セクタ/シリンダ情報、バーストパターン、およびポストコードなどを含む。セクタ/シリンダ情報は、磁気ディスク11の円周方向のサーボ番地(サーボセクタ番地)および半径方向に設定されたトラックの位置(トラック番号)を与えることができる。セクタ/シリンダ情報から得られるトラック番号は、整数値であり、バーストパターンは、トラック番号を基準とした小数点以下のオフセット量を表す。
バーストパターン(より正確にはセクタ/シリンダ情報とバーストパターンとの組み合わせ)に基づいて設定されるトラックの半径方向の位置(半径位置)は、バーストパターンの書き込み誤差などによって、理想的なトラックの半径位置からずれている場合がある。この位置ずれは、磁気ディスク(およびスピンドルモータ)の1回転を周期として繰り返し同じように発生するため、RROと呼ばれている。製造工程においては、複数の半径位置においてRROによる位置ずれを補正するための補正情報が学習され、補正情報がポストコードとして磁気ディスク11に書き込まれる。そして、磁気ディスク装置1の使用時においては、磁気ヘッド22を目標のトラックに位置決めする際には、RROによる位置ずれを補正情報に基づいてキャンセルする制御が実行される。
なお、図2に示される例では、サーボ領域42の間には、データがライトされ得るデータ領域43が設けられている。1つのサーボ領域42と、当該サーボ領域42に後続する1つのデータ領域43は、サーボセクタ44を構成する。そして、磁気ディスク11の半径方向には、同心円の複数のトラック41が設定されている。データ領域43には、各トラック41に沿って複数のデータセクタが連続的に形成されている。各データセクタに対し、磁気ヘッド22によって、データのライトおよびリードが実行される。
リードヘッド22rとライトヘッド22wとは、互いに離間して磁気ヘッド22に設けられている。よって、磁気ディスク11に磁気ヘッド22が位置決めされた状態において、リードヘッド22rとライトヘッド22wとが同一の半径位置に位置するとは限らない。
図3は、実施形態のリードヘッド22rおよびライトヘッド22wの間の位置関係の一例を説明するための図である。本図に示される例によれば、リードヘッド22rおよびライトヘッド22wは、アクチュエータアーム15が延びる方向に配列されている。そして、リードヘッド22rは、ライトヘッド22wよりもアクチュエータアーム15の回転軸に近い側に配置されている。
図3に示される例では、リードヘッド22rが或るトラックに位置決めされている場合において、リードヘッド22rおよびライトヘッド22wの配列方向と、位置決め対象のトラックの接線方向と、が成す角度θが非ゼロとなっている。これにより、リードヘッド22rの半径位置とライトヘッド22wの半径位置とが異なっている。磁気ディスク11の回転中心Cからリードヘッド22rの半径位置までの距離をrrと表記し、磁気ディスク11の回転中心Cからライトヘッド22wの半径位置までの距離をrwと表記することとすると、リードヘッド22rの半径位置とライトヘッド22wの半径位置とは、磁気ディスク11の半径方向において、Y(=|rr-rw|)だけ離間する。以降、Yを、ヘッド位置間距離(distance between head positions)と表記する。
ヘッド位置間距離は、磁気ヘッド22の位置に応じて異なり得る。
図4は、実施形態のヘッド位置間距離が磁気ヘッド22の位置に応じて異なることを説明するための図である。
図4は、実施形態のヘッド位置間距離が磁気ヘッド22の位置に応じて異なることを説明するための図である。
例えば位置Pa1では、ライトヘッド22wとリードヘッド22rとが配置された方向が半径方向と直交する。そのような場合、リードヘッド22rの半径位置とライトヘッド22wの半径位置とが等しくなるため、ヘッド位置間距離Yはゼロとなる。
磁気ヘッド22が位置Pa1よりも内周側の領域(内方向領域Ainnerと表記する)に位置する場合、例えば磁気ヘッド22が位置Pa2に位置する場合、図3に示された例と同様、ライトヘッド22wがリードヘッド22rよりも内周側に位置する。つまり、Yが非ゼロとなる。そして、Yの値は、磁気ヘッド22の位置が位置Pa1から内周側に遠ざかるに従って大きくなる。
磁気ヘッド22が位置Pa1よりも外周側の領域(外方向領域Aouterと表記する)に位置する場合、例えば磁気ヘッド22が位置Pa3に位置する場合、ライトヘッド22wがリードヘッド22rよりも磁気ディスク11における外周側に位置する。つまり、Yが非ゼロとなる。そして、Yの値は、磁気ヘッド22の位置が位置Pa1から外周側に遠ざかるに従って大きくなる。
なお、図3および図4に示された例はあくまでも一例である。例えば、ライトヘッド22wおよびリードヘッド22rの配置の方向はアクチュエータアーム15が延びる方向と一致していなくてもよい。
前述されたように、製造工程においてはRROによる位置ずれを補正するための補正情報が学習され、学習によって得られた補正情報がポストコードとして磁気ディスク11に書き込まれる。そして、磁気ディスク装置1の使用時には、RROによる位置ずれが、磁気ディスク11に書き込まれた補正情報に基づいてキャンセルされる。なお、補正情報を学習するとは、セクタ/シリンダ情報とバーストパターンとによって示される位置と理想的な位置との差分を測定し、測定によって得られた差分を補正情報として取得することである。即ち、学習は、測定、演算、または取得と言い換えることができる。
図5は、実施形態の種々の動作における磁気ヘッド22の位置の例を説明するための模式的な図である。本図では、ヘッド位置間距離Yが非ゼロである場合について説明する。また、本図には、半径方向に配列された13個のトラック、即ちトラックN-6~トラックN+6、と、種々の動作の際の磁気ヘッド22の位置Pb1~Pb3と、が図示されている。
例えば、トラックNに対するデータのライトの際には、ライトヘッド22wがトラックN上に位置するように、磁気ヘッド22が位置Pb1に位置決めされる。
また、トラックNに対するデータのリードの際には、リードヘッド22rがトラックN上に位置するように、磁気ヘッド22が位置Pb2に位置決めされる。
トラックNの辺りの半径位置の補正情報は、トラックNに対するデータのライトの際の位置決め精度を改善するために、位置Pb1においてリードヘッド22rを用いて学習される。これによって得られた補正情報は、トラックN辺りにライトヘッド22wが位置するときにリードヘッド22rによって取得できるように、位置Pb3に磁気ヘッド22が位置決めされた状態でライトヘッド22wを用いて磁気ディスク11に書き込まれる。
なお、補正情報が学習される位置(後述される学習位置)は、トラックの間隔とは関係ない粒度で半径方向に設定される。2つの学習位置の間の半径位置では、磁気ディスク装置1は、例えば当該2つの学習位置のそれぞれでの補正結果を補間することによって、位置決め制御を行うことができる。
図6は、実施形態の補正情報の配置方法の一例の詳細を示す模式的な図である。
補正情報の学習は、複数の半径位置において実行される。補正情報の学習が行われる半径位置を、学習位置と表記する。磁気ディスク11の半径方向に複数の学習位置が設定され、各学習位置にリードヘッド22rが位置決めされた状態で補正情報の学習が実行される。
図6では、半径方向に設定された複数の学習位置のうちの8つの学習位置Pn~Pn+7が例示されている。また、サーボセクタNのサーボ領域42と、サーボセクタNに隣接するサーボセクタN+1のサーボ領域42と、が図示されている。
各サーボ領域42は、バーストパターン領域51と、ポストコード領域52と、を備えている。各バーストパターン領域51には、自身が属するサーボセクタ44での位置決め制御において使用されるバーストパターンが書き込まれる。なお、ここではセクタ/シリンダ情報については説明を省略する。各ポストコード領域52には、自身が属するサーボセクタ44の次に磁気ヘッド22が通過するサーボセクタ44での位置決め制御において使用される補正情報が、各学習位置について書き込まれる。これによって、磁気ディスク装置1は、各サーボセクタ44において、1つ前に通過したサーボセクタ44から読み出した補正情報を位置決め制御に使用することが可能となっている。
また、複数の学習位置は、連続する6個の学習位置毎にグループ化されており、1つのグループに属する6個の学習位置(例えばサーボセクタNの学習位置Pn~Pn+5)に対応する6個の補正情報が、ポストコード領域52内に円周方向に並ぶように書き込まれる。さらに、当該6個の補正情報のそれぞれは、対応する学習位置を中心として半径方向に延びた長方形形状の領域に書き込まれている。その結果、当該6個の補正情報が書き込まれる位置は、半径方向に少しずつずれている。
6個の学習位置のグループを、学習位置セットと表記する。また、学習位置セットを構成する6個の学習位置に対応する6個の補正情報を、補正情報セットと表記する。なお、学習位置セットを構成する学習位置の数は6個に限定されない。同様に、補正情報セットを構成する補正情報の数は6個に限定されない。
また、複数の補正情報セットが、半径方向に並ぶように書き込まれている。より具体的には、各補正情報セットが6個のポストコードによって構成される場合、半径方向において、学習位置Pxに対応する補正情報の隣(next to)に学習位置Px+5に対応する補正情報が配置される。ただし、xは任意の整数である。
上記された配置方法によって、各補正情報は、半径方向において、学習位置の間隔よりも広い範囲に書き込まれ得る。よって、目標の学習位置に対応する補正情報をリードする際に、リードヘッド22rの位置が当該目標の学習位置から半径方向に多少ずれたとしても、当該目標の学習位置に対応する補正情報をリードすることが可能である。
以降、磁気ディスク11に書き込まれた1つの補正情報の位置および形状を、ライトパターンと表記することがある。また、ライトパターンの半径方向の幅をライトパターン幅、と表記することがある。
なお、補正情報の配置方法は、図6に示された例に限定されない。
図7は、実施形態の補正情報の配置方法の別の一例の詳細を示す模式的な図である。
図7は、実施形態の補正情報の配置方法の別の一例の詳細を示す模式的な図である。
図7に示される例では、1つの補正情報セットが2つのサーボセクタ44に分けて書き込まれている。具体的には、1つの補正情報セットを構成する6つの補正情報のうち、学習位置Pn、Pn+2、Pn+4にかかる補正情報は、サーボセクタNのポストコード領域52に書き込まれており、学習位置Pn+1、Pn+3、Pn+5にかかる補正情報は、サーボセクタN+1のポストコード領域52に書き込まれている。そして、サーボセクタNのポストコード領域52に書き込まれている全ての補正情報は、サーボセクタN+1およびサーボセクタN+2における位置決め制御において使用される。サーボセクタN+1のポストコード領域52に書き込まれている全ての補正情報は、サーボセクタN+2およびサーボセクタN+3における位置決め制御において使用される。
このように、1つの補正情報セットを構成する複数の補正情報は、複数のサーボセクタ44に分散されてもよい。
図8は、実施形態にかかる補正情報の書き込み範囲を説明するための図である。ここでは一例として、学習位置Pnにかかる補正情報の書き込み範囲を説明する。なお、学習位置の間隔をLと表記し、リードヘッド22rの半径方向の幅をRと表記する。
学習位置Pnを中心として半径方向にLだけずれた位置上をリードヘッド22rが通過したとしても学習位置Pnにかかる補正情報をリードできることが要望される。この要望を満たすためには、学習位置Pnを中心とした2*L+Rの幅を有する範囲(図8における範囲101)を含むように学習位置Pnにかかる補正情報が書き込まれる必要がある。
実際には、補正情報がライトされる際には磁気ヘッド22は径方向にわずかに揺らぎ得る。よって、範囲101の両端にマージンMを追加して得られる領域、即ち学習位置Pnを中心とした2*L+R+2Mの幅を有する範囲が、学習位置Pnにかかる補正情報の目標書き込み範囲RA_Pnとして設定される。他の学習位置にかかる補正情報の目標書き込み範囲RAも、上記と同様の方法で設定される。
なお、例えば図6に示された補正情報の配置方法が採用される場合、設定例102に示されるように、学習位置Pnにかかる補正情報の目標書き込み範囲RA_Pn、学習位置Pn+1にかかる補正情報の目標書き込み範囲RA_Pn+1、学習位置Pn+2にかかる補正情報の目標書き込み範囲RA_Pn+2、学習位置Pn+3にかかる補正情報の目標書き込み範囲RA_Pn+3、学習位置Pn+4にかかる補正情報の目標書き込み範囲RA_Pn+4、および学習位置Pn+5にかかる補正情報の目標書き込み範囲RA_Pn+5は、半径方向にLずつずらして設定される。そして、学習位置Pn+6にかかる補正情報の目標書き込み範囲RA_Pn+6は、学習位置Pnにかかる補正情報の目標書き込み範囲RA_Pnの半径方向における隣に間隔をあけて設定される。
ここで、実施形態と比較される技術について説明する。この技術を、比較例と表記する。比較例によれば、磁気ディスク装置は、ある半径位置に磁気ヘッドを移動させて補正情報の学習を実行する。その後、磁気ディスク装置は、補正情報の学習が実行されたときのリードヘッドの位置にライトヘッドが位置するように磁気ヘッドを移動させて、補正情報の書き込みを実行する。その後、磁気ディスク装置は、次の半径位置での補正情報の学習を開始する。磁気ディスク装置は、補正情報の学習と、補正情報の書き込みと、からなる対を、複数の学習位置に対してシリアルに実行する。
このように、比較例によれば、補正情報の学習の実行期間には補正情報の書き込みが実行されず、補正情報の書き込みの実行期間には補正情報の学習が実行されない。補正情報の学習と、補正情報の書き込みと、がそれぞれ異なる期間に実行されるため、比較例によれば、補正情報の学習および書き込みに多くの時間を要する。
実施形態によれば、磁気ディスク装置1は、補正情報の学習と、補正情報の書き込みと、を同じ期間に実行することができるように構成されている。より具体的には、磁気ディスク装置1は、ある学習位置においてリードヘッド22rを用いて補正情報の学習を行いながら、すでに得られた別の学習位置にかかる補正情報をライトヘッド22wを用いて書き込む。つまり、ある学習位置にかかる補正情報の学習と、別の学習位置にかかる補正情報の学習値の書き込みと、が並行して実行される。なお、処理Xと処理Yとが並行に実行されるとは、処理Xの実行期間の少なくとも1部が、処理Yの実行期間とオーバーラップしていることをいう。処理Xの実行期間の開始タイミングは、処理Yの実行期間の開始タイミングと一致していてもよいし、一致していなくてもよい。処理Xの実行期間の終了タイミングは、処理Yの実行期間の終了タイミングと一致していてもよいし、一致していなくてもよい。
よって、実施形態によれば、補正情報の学習と、補正情報の書き込みと、がそれぞれ異なる期間に実行される比較例に比べて、補正情報の学習および書き込みに要する時間が短縮される。
以降、ある学習位置における補正情報の学習と並行して、別の学習位置における補正情報の学習値の書き込みを実行する処理を、並行処理、と表記する。
図9は、実施形態にかかる並行処理を説明するための図である。ここでは一例として、学習位置Pnにかかる補正情報の書き込みの際の並行処理を説明する。
実施形態では、ヘッド位置間距離Yが非ゼロである場合において、リードヘッド22rがライトヘッド22wよりも先行するような方向に磁気ヘッド22が移動せしめられながら、補正情報の書き込みが実行される。例えば、図4に示された内方向領域Ainnerにおいては、磁気ディスク11の最も内周側から位置Pa1に向かって、つまり外方向に、磁気ヘッド22が移動せしめられる。また、図4に示された外方向領域Aouterにおいては、磁気ディスク11の最も外周側から位置Pa1に向かって、つまり内方向に、磁気ヘッド22が移動せしめられる。
図9では、外方向領域Aouterにおいて実行される並行処理を説明する。つまり、磁気ヘッド22は、内方向に移動せしめられ、補正情報の学習および書き込みは、内方向に向かって順次、実行される。
まず、リードヘッド22rが学習位置Pnに位置するように磁気ヘッド22を移動させるシーク制御が実行されて、当該シーク制御の後、リードヘッド22rを用いた学習位置Pnにかかる補正情報の学習が実行される(S1)。
続いて、リードヘッド22rが学習位置Pn+1に位置するように磁気ヘッド22を移動させるシーク制御が実行されて、当該シーク制御の後、リードヘッド22rを用いた学習位置Pn+1にかかる補正情報の学習が実行される(S2)。つまり、磁気ディスク装置1は、リードヘッド22rによって学習位置Pn+1のバーストパターンを読み出して、読み出したバーストパターンに基づいて学習位置Pn+1にかかる補正情報を算出する。
続いて、リードヘッド22rが学習位置Pn+2に位置するように磁気ヘッド22を移動させるシーク制御が実行されて、当該シーク制御の後、リードヘッド22rを用いた学習位置Pn+2にかかる補正情報の学習が実行される(S3)。
続いて、リードヘッド22rが学習位置Pn+3に位置するように磁気ヘッド22を移動させるシーク制御が実行されて、当該シーク制御の後、リードヘッド22rを用いた学習位置Pn+3にかかる補正情報の学習が実行される(S4)。
リードヘッド22rが学習位置Pn+3上に位置するとき、ライトヘッド22wは、目標書き込み範囲RA_Pn-6上を通過することなく目標書き込み範囲RA_Pnの内方向側の一部を通過する。つまり、既に目標書き込み範囲RA_Pn-6に書き込まれた補正情報を学習位置Pnにかかる補正情報の上書きによって目標書き込み範囲RA_Pn-6からロストさせることなく学習位置Pnにかかる補正情報を書き込むことが可能である。従って、リードヘッド22rが学習位置Pn+3上に位置するように制御されるS4では、学習位置Pn+3にかかる補正情報の学習とともに、学習位置Pnにかかる補正情報の書き込みが実行される。
続いて、リードヘッド22rが学習位置Pn+4に位置するように磁気ヘッド22を移動させるシーク制御が実行されて、当該シーク制御の後、リードヘッド22rを用いた学習位置Pn+4にかかる補正情報の学習が実行される(S5)。
続いて、リードヘッド22rが学習位置Pn+5に位置するように磁気ヘッド22を移動させるシーク制御が実行されて、当該シーク制御の後、リードヘッド22rを用いた学習位置Pn+5にかかる補正情報の学習が実行される(S6)。
続いて、リードヘッド22rが学習位置Pn+6に位置するように磁気ヘッド22を移動させるシーク制御が実行されて、当該シーク制御の後、リードヘッド22rを用いた学習位置Pn+6にかかる補正情報の学習が実行される(S7)。
リードヘッド22rが学習位置Pn+6上に位置するとき、ライトヘッド22wは、目標書き込み範囲RA_Pnの残りの部分、換言すると目標書き込み範囲RA_Pnのうちのまだ補正情報の書き込みが行われていない部分、の全てを含む領域を通過する。つまり、目標書き込み範囲RA_Pnのうちの残りの部分に補正情報を書き込むことが可能である。従って、リードヘッド22rが学習位置Pn+6上に位置するように制御されるS7では、学習位置Pn+6にかかる補正情報の学習とともに、学習位置Pnにかかる補正情報の書き込みが実行される。
このように、学習位置Pnにかかる補正情報は、学習位置Pn+3にかかる補正情報の学習の際と、学習位置Pn+6にかかる補正情報の学習の際と、において磁気ディスク11に書き込まれる。これによって、既に目標書き込み範囲RA_Pn-6に書き込まれた学習位置Pn-6にかかる補正情報に学習位置Pnにかかる補正情報を上書きすることなく、目標書き込み範囲RA_Pnを含む範囲に、学習位置Pnにかかる補正情報のライトパターン103を形成することが可能である。
前述されたように、ヘッド位置間距離Yは、磁気ヘッド22の半径位置に応じて変化する。よって、目標書き込み範囲RAが設けられた半径位置によっては、当該目標書き込み範囲RAの2つの端部のうちの磁気ヘッド22の移動方向とは逆側の端部に、補正情報が書き込まれない部分が残ってしまうケースが生じ得る。また、当該目標書き込み範囲RAの2つの端部のうちの磁気ヘッド22の移動方向とは逆側の端部に補正情報が書き込まれない部分を残さないように補正情報の書き込みを行おうとすると、隣の目標書き込み範囲RAに既に書き込まれた補正情報を上書きによって消してしまう場合が生じ得る。これらを防ぐためには、目標書き込み範囲RAの半径方向の間隔は、学習位置の間隔Lよりも大きい必要がある。また、6個の学習位置によって1つの学習位置セットが構成される場合、1つの目標書き込み範囲の幅は、6L以下である必要がある。よって、下記の式(1)が満たされる必要が生じる。
2*L+R+2*M+L<6*L ・・・(1)
2*L+R+2*M+L<6*L ・・・(1)
式(1)を変形すると、式(2)が導出される。
R<3*L-2*M ・・・(2)
R<3*L-2*M ・・・(2)
つまり、Lとしてある程度大きな値を設定する必要が生じる。しかしながら、Lとして大きな値を設定すると、位置決め精度が悪化したり、1つの目標書き込み範囲に補正情報が非連続に書き込まれたりする場合がある。
そこで、実施形態では、さらに、目標書き込み範囲の2つの端部のうちの磁気ヘッド22の移動方向とは逆側の端部と、当該目標書き込み範囲への2回の補正情報の書き込みのうちの初回の書き込みの際のライトヘッド22wが通過する範囲の端部と、が一致するように、Lが設定される。これによって、目標書き込み範囲RA間の半径方向の間隔を設定することを不要とする。
図10は、実施形態にかかるLの設定方法を説明するための図である。
学習位置Pnを中心とした2L+R+2Mの幅を有する領域が、目標書き込み範囲RA_Pnとして設定される。学習位置Pnにかかる補正情報の学習が行われる際、リードヘッド22r(より正確にはリードヘッド22rの中心)が学習位置Pnに位置するように、磁気ヘッド22が制御される。そして、目標書き込み範囲RA_Pnの2つの端部のうちの磁気ヘッド22の移動方向とは逆側の端部、つまり図10に示される例では目標書き込み範囲RA_Pnの外方向側の端部は、学習位置Pnの中心から外方向に下記の式(3)で示されるL1だけ離間している。
L1=L+R/2+M ・・・(3)
L1=L+R/2+M ・・・(3)
続いて、学習位置Pn+Dにかかる補正情報の学習が行われる際に学習位置Pnにかかる補正情報の初回の書き込みが実施される場合を考える。Dは正の整数である。リードヘッド22rが学習位置Pn+Dに位置するように磁気ヘッド22が制御された場合、ライトヘッド22wの外方向側の端部は、学習位置Pnから外方向に下記の式(4)で示されるL2だけ離間している。
L2=Y+W/2-X ・・・(4)
L2=Y+W/2-X ・・・(4)
式(4)において、Wは、ライトヘッド22wの半径方向における幅である。また、Xは、学習位置Pnと学習位置Pn+Dとの間の距離である。Xは、下記の式(5)で示される。
X=D*L ・・・(5)
X=D*L ・・・(5)
L1とL2とを一致させるために、下記の式(6)が満たされる必要がある。
L1=L2 ・・・(6)
L1=L2 ・・・(6)
式(3)および式(4)を式(6)に代入すると、下記の式(7)が導出される。
L+R/2+M=Y+W/2-X ・・・(7)
L+R/2+M=Y+W/2-X ・・・(7)
式(7)に式(5)を代入して変形すると、式(8)が導出される。
L=(Y-M+(W-R)/2)/(D+1) ・・・(8)
L=(Y-M+(W-R)/2)/(D+1) ・・・(8)
一方、6個の学習位置によって1つの学習位置セットが構成される場合、1つの目標書き込み範囲RAの幅は、6L以下である必要がある。つまり、下記の式(9)が満たされる必要がある。
6*L>2*L+R+2*M ・・・(9)
6*L>2*L+R+2*M ・・・(9)
式(9)を変形すると、下記の式(10)が導出される。
L>(R+2*M)/4 ・・・(10)
L>(R+2*M)/4 ・・・(10)
磁気ディスク装置1は、式(8)と式(10)とがともに満たされるように、Lの値およびDの値を設定する。
Mは固定値である。また、Y、W、Rは、半径位置に応じて一意に決まる。M、Y、W、Rが決まるので、磁気ディスク装置1は、式(8)と式(10)とに基づいてLの設定値およびDの設定値を算出することができる。
図10に示される例では、式(8)および式(10)をともに満たすためのDの値として、「4」が設定されている。よって、式(8)のDに「4」を代入することによって、Lの設定値が定まる。
磁気ディスク装置1は、いったんDの値を設定すると、連続するD箇所の学習位置における学習の際に、Dの設定値およびLの設定値を変更せずに実行する。その後、Dの設定値およびLの設定値の更新を行うことができる。
つまり、図10に示される例によれば、磁気ディスク装置1は、内方向側に学習位置PnからLだけ離れた位置を学習位置Pn+1に設定し、内方向側に学習位置Pnから2*Lだけ離れた位置を学習位置Pn+2に設定し、内方向側に学習位置Pnから3*Lだけ離れた位置を学習位置Pn+3に設定し、内方向側に学習位置Pnから4*Lだけ離れた位置を学習位置Pn+4に設定する。そして、学習位置Pn+4において、Dの設定値およびLの設定値の更新を行う。
そして、学習位置Pn-1よりも前に学習が行われた際のDの設定値が、学習位置Pnにおいて設定されたDの値と等しい値、即ち「4」、である場合、磁気ディスク装置1は、学習位置Pn~Pn+4のそれぞれにおける学習の際に、並行処理を実行する。
例えば、磁気ディスク装置1は、リードヘッド22rが学習位置Pn上に位置するように磁気ヘッド22を制御した状態で、学習位置Pnにかかる補正情報の学習を実行する。磁気ディスク装置1は、学習位置Pnにかかる補正情報の学習に並行して、学習位置Pn-4にかかる補正情報の書き込みと、学習位置Pn-7にかかる補正情報の書き込みと、を実行する(S11)。
そして、磁気ディスク装置1は、リードヘッド22rが学習位置Pn+1上に位置するように磁気ヘッド22を制御した状態で、学習位置Pn+1にかかる補正情報の学習を実行する。磁気ディスク装置1は、学習位置Pn+1にかかる補正情報の学習に並行して、学習位置Pn-3にかかる補正情報の書き込みと、学習位置Pn-6にかかる補正情報の書き込みと、を実行する(S12)。
そして、磁気ディスク装置1は、リードヘッド22rが学習位置Pn+2上に位置するように磁気ヘッド22を制御した状態で、学習位置Pn+2にかかる補正情報の学習を実行する。磁気ディスク装置1は、学習位置Pn+2にかかる補正情報の学習に並行して、学習位置Pn-2にかかる補正情報の書き込みと、学習位置Pn-5にかかる補正情報の書き込みと、を実行する(S13)。
そして、磁気ディスク装置1は、リードヘッド22rが学習位置Pn+3上に位置するように磁気ヘッド22を制御した状態で、学習位置Pn+3にかかる補正情報の学習を実行する。磁気ディスク装置1は、学習位置Pn+3にかかる補正情報の学習に並行して、学習位置Pn-1にかかる補正情報の書き込みと、学習位置Pn-4にかかる補正情報の書き込みと、を実行する(S14)。
そして、磁気ディスク装置1は、リードヘッド22rが学習位置Pn+4上に位置するように磁気ヘッド22を制御した状態で、学習位置Pn+4にかかる補正情報の学習を実行する。磁気ディスク装置1は、学習位置Pn+4にかかる補正情報の学習に並行して、学習位置Pnにかかる補正情報の書き込みと、学習位置Pn-3にかかる補正情報の書き込みと、を実行する(S15)。また、S15では、磁気ディスク装置1は、Dの設定値と、Lの設定値と、の更新を実行する。
磁気ディスク装置1の動作のさらに詳細な説明は後述される。
なお、Lに関する条件は、式(10)に示された例だけに限定されない。例えば、Lに関し、下限値Lminと上限値Lmaxとが設定されて、下記の式(11)が満たされるようにLの設定値およびDの設定値が算出されてもよい。
(R+2*M)/4<Lmin≦L≦Lmax ・・・(11)
(R+2*M)/4<Lmin≦L≦Lmax ・・・(11)
なお、式(8)の条件と式(11)の条件との論理積によって構成される条件を、並行処理条件、と表記する。なお、並行処理条件はこれに限定されない。式(8)の条件と式(10)の条件との論理積によって構成される条件が並行処理条件とされてもよい。
図11-1は、実施形態の式(8)に基づいて算出されたLの値とYの値との関係を示すグラフである。本グラフにおいて、横軸は、Yの値を示しており、縦軸は、Lの値を示している。そして、Dの値毎に、Lの値とYの値との関係が描画されている。本図から、Yが小さくなるほど、Dが小さくなりかつLの値とYの値との関係の勾配が急になることが読み取れる。逆に、Yが大きくなるほど、Dが大きくなりかつLの値とYの値との関係の勾配が緩やかになることが読み取れる。
図11-2は、図11-1に示されたグラフのうちのYの値が大きい領域104を拡大したグラフである。この例では、磁気ディスク装置1は、Lが下限値Lminから上限値Lmaxまでの範囲でできるだけ小さな値となるように、Lの設定値とDの設定値とを算出する。図11-2のグラフに描画された各ドットは、磁気ディスク装置1が算出したLの設定値とDの設定値との対を示している。
領域104のように、Dの値毎のLの値とYの値との関係の勾配が緩やかである領域においては、Yが如何なる値であっても、式(11)の条件を満たすようにLの設定値とDの設定値との対を算出することが可能である。しかしながら、図11-1のグラフのYの値がゼロに近くなる例えば領域105においては、Lの値とYの値との関係の勾配が急になるため、式(11)の条件を満たすようなLの設定値とDの設定値との対を得ることができない場合が生じる。
実施形態では、磁気ディスク装置1は、並行処理条件が満たされているか否かを判定する。並行処理条件が満たされている場合、磁気ディスク装置1は、並行処理を実行する。並行処理条件が満たされていない場合、磁気ディスク装置1は、並行処理を実行せずに、例えば比較例として説明された処理を実行する。
つまり、磁気ディスク装置1は、Yの値が十分に大きい領域(例えば領域104)においては、並行処理を実行する。Yの値が0および0付近の領域(例えば領域105)においては、磁気ディスク装置1は、並行処理を実行せず、比較例として説明された処理を実行する。
図12-1および図12-2は、補正情報の学習および書き込みの実施形態にかかる動作の一例を示すフローチャートである。本図に示される例では、説明を簡単にするために、学習位置Pxにおける学習の際に並行処理によってある目標書き込み範囲に補正情報の1回目の書き込みが実行された場合、当該目標書き込み範囲への補正情報の2回目の書き込みは、学習位置Px+3における学習の際の並行処理において実行されることとする。なお、xは正の整数である。
また、本図に示される一連の処理は、リードヘッド22rがライトヘッド22wよりも先行するような方向に磁気ヘッド22が移動せしめられながら実行される。図4に示された説明に従えば、リードヘッド22rがライトヘッド22wよりも外方向に位置するような内方向領域Ainnerでは、磁気ヘッド22は、磁気ディスク11の最も内周側から位置Pa1に向かって移動せしめられる。リードヘッド22rがライトヘッド22wよりも内方向に位置するような外方向領域Aouterでは、磁気ヘッド22は、磁気ディスク11の最も外周側から位置Pa1に向かって移動せしめられる。内方向領域Ainnerおよび外方向領域Aouterのそれぞれにおいて、図12に示される一連の動作が実行される。
まず、コントローラ30(例えばプロセッサ26)は、変数Dlastをゼロで初期化する(S101)。Dlastは、Dの最新の設定値を記憶しておくための変数である。
続いて、コントローラ30は、基準学習位置Pbaseでは並行処理条件が満たされているか否かを判定する(S102)。
基準学習位置Pbaseは、複数の学習位置のうちの何れかであり、図12に示された一連の動作において更新され得る。内方向領域Ainnerにおいては、内方向領域Ainnerの最も内周側の学習位置が初期の基準学習位置Pbaseとして設定される。外方向領域Aouterにおいては、外方向領域Aouterの最も外周側の学習位置が初期の基準学習位置Pbaseとして設定される。
S102では、コントローラ30は、例えば、半径位置Pbaseにリードヘッド22rが位置する場合における、M、Y、W、およびRのそれぞれの値を算出する。そして、コントローラ30は、算出したこれらの値を、並行処理条件を定義する数式、例えば式(8)および式(11)、に代入して、式(8)の条件および式(11)の条件をともに満たすDの値とLの値とが存在するか否かを判定する。式(8)の条件および式(11)の条件をともに満たすDの値とLの値とが存在する場合、コントローラ30は、並行処理条件が満たされていると判定する。式(8)の条件および式(11)の条件をともに満たすDの値とLの値とが存在しない場合、コントローラ30は、並行処理条件が満たされていないと判定する。なお、前述されたように、並行処理条件はこれに限定されない。
並行処理条件が満たされている場合(S102:Yes)、コントローラ30は、並行処理条件に基づいてDの新しい設定値およびLの新しい設定値を算出する(S103)。
そして、コントローラ30は、Dの新しい設定値がDlastとして記憶している値と等しいか否かを判定する(S104)。Dの新しい設定値がDlastとして記憶している値と等しい場合(S104:Yes)、コントローラ30は、Dlastの値をDの新しい設定値で更新する(S106)。そして、コントローラ30は、変数dをゼロで初期化する(S107)。
変数dは、S108からS107までのループ処理で使用されるループカウンタであり、0からDまでの整数を取り得る。
コントローラ30は、Pbase+d*Lの半径位置を学習位置Pbase+dとして設定し、学習位置Pbase+dにリードヘッド22rが位置するようにシーク制御を行う(S108)。
そして、コントローラ30は、学習位置Pbase+d-Dにかかる補正情報の書き込みが実行された際のDの設定値が現在のDの設定値と等しいか否かを判定する(S109)。
学習位置Pbase+d-Dにかかる補正情報の書き込みが実行された際のDの設定値が現在のDの設定値と等しい場合(S109:Yes)、コントローラ30は、学習位置Pbase+d-Dにかかる補正情報を並行処理における書き込みの対象として設定する(S110)。学習位置Pbase+d-Dにかかる補正情報の書き込みが実行された際のDの設定値が現在のDの設定値と異なる場合(S109:No)、S110の処理がスキップされる。
続いて、コントローラ30は、学習位置Pbase+d-D+3にかかる補正情報の書き込みが実行された際のDの設定値が現在のDの設定値と等しいか否かを判定する(S111)。
学習位置Pbase+d-D+3にかかる補正情報の書き込みが実行された際のDの設定値が現在のDの設定値と等しい場合(S111:Yes)、コントローラ30は、学習位置Pbase+d-D+3にかかる補正情報を並行処理における書き込みの対象として設定する(S112)。学習位置Pbase+d-D+3にかかる補正情報の書き込みが実行された際のDの設定値が現在のDの設定値と異なる場合(S111:No)、S112の処理がスキップされる。
そして、コントローラ30は、並行処理における書き込みの対象が設定されているか否かを判定する(S113)。
S110およびS112の何れかによって並行処理における書き込みの対象に設定された補正情報が存在する場合には(S113:Yes)、コントローラ30は、リードヘッド22rおよびライトヘッド22wを制御して、並行処理を実行する(S114)。つまり、コントローラ30は、学習位置Pbase+dにかかる補正情報の学習と、S110およびS112のうちの並行処理における書き込みの対象に設定された補正情報の書き込みと、を並行して実行する。
並行処理における書き込みの対象に設定された補正情報が存在しない場合には(S113:No)、コントローラ30は、リードヘッド22rを制御して、学習位置Pbase+dにかかる補正情報の学習を実行する(S115)。
コントローラ30は、S114またはS115において、学習によって得た学習位置Pbase+dにかかる補正情報を、例えばRAM27に一時的に保存する。
S114またはS115の後、コントローラ30は、dの値を1だけインクリメントし(S116)、その後、dの値がDの新しい設定値以上か否かを判定する(S117)。dの値がDの新しい設定値以上でない場合(S117:No)、S108に制御が移行する。
dの値がDの新しい設定値以上である場合(S117:Yes)、コントローラ30は、基準学習位置Pbaseを学習位置Pbase+Dで更新し(S118)、制御がS102に移行する。
Dの設定値がS103によってDlastとして記憶している値と異なる値に更新された場合、その後に実行されるS108~S117のループ処理では並行処理が実行されない。よって、Dの新しい設定値がDlastとして記憶している値と異なる場合(S104:No)、コントローラ30は、Dの設定値がDlastであった期間に得られ、かつ、未だポストコード領域52への書き込みが完了していない補正情報があれば、ライトヘッド22wを制御して、その補正情報の書き込みを実行する(S105)。そして、制御がS106に移行する。
並行処理条件が満たされてない場合(S102:No)、コントローラ30は、既に学習によって得た補正情報であって、かつ未だポストコード領域52への書き込みが完了していない補正情報があれば、ライトヘッド22wを制御して、その補正情報の書き込みを実行する(S119)。
そして、コントローラ30は、基準学習位置PbaseからYの値が0になる位置まで、任意の方法で学習位置を設定して、各学習位置での補正情報の学習と、学習によって得られた補正情報の書き込みと、を分離して実行する(S120)。つまり、S120では、コントローラ30は、比較例にかかる制御を実行する。
そして、一連の動作が完了する。
このように、実施形態によれば、磁気ディスク装置1は、磁気ディスク11の半径方向に複数の学習位置を設定する(例えば図9、図10の複数の学習位置P、および図12のS108参照)。そして、磁気ディスク装置1は、リードヘッド22rが複数の学習位置のうちの1つの学習位置(例えば図9、図10の学習位置Pn)上に位置するように磁気ヘッド22を移動させて、補正情報の学習を行う(例えば図9のS1、図10のS11、図12のS108参照)。そして、磁気ディスク装置1は、リードヘッド22rが複数の学習位置のうちの別の学習位置(例えば図9の学習位置Pn+3、図10の学習位置Pn+4)上に位置するように磁気ヘッド22を移動させる。なお、当該別の学習位置上にリードヘッド22rが位置するとき、ライトヘッド22wは、前記1つの学習位置にかかる補正情報の目標書き込み範囲RAの一部を通過する半径位置に位置している。リードヘッド22rが前記別の学習位置上に位置しているときに、磁気ディスク装置1は、前記別の学習位置にかかる補正情報の学習を実行しながら並行して前記1つの学習位置にかかる補正情報の書き込みを実行する。
よって、実施形態によれば、補正情報の学習と、補正情報の書き込みと、がそれぞれ異なる期間に実行される比較例に比べて、補正情報の学習および書き込みに要する時間が短縮される。つまり、補正情報の学習および書き込みの効率が向上する。
なお、磁気ディスク装置1は、前記1つの学習位置から第1の方向に離間した位置に前記別の学習位置を設定する。第1の方向は、リードヘッド22rが磁気ディスク11の半径方向においてライトヘッド22wよりも先行するような磁気ヘッド22の移動方向である。図4に示される例において、内方向領域Ainnerでは、磁気ディスク11の最も内周側から位置Pa1に向かう向きが第1の方向に相当する。外方向領域Aouterでは、磁気ディスク11の最も外周側から位置Pa1に向かう向きが第1の方向に相当する。
また、実施形態によれば、磁気ディスク装置1は、前記別の学習位置(図10の学習位置Pn+4)にかかる補正情報の学習の際にライトヘッド22wが通過する範囲の2つの端部のうちの第1の方向とは逆側の端部と、前記1つの学習位置にかかる補正情報の目標書き込み範囲RAの2つの端部のうちの第1の方向とは逆側の端部と、が一致するように、学習位置の間隔Lを調整する(例えば図10、図12-1のS103参照)。
これによって、目標書き込み範囲RA間の半径方向の間隔を学習位置の間隔Lよりも大きくし、かつ、Lとしてある程度大きな値を設定する、という制約を免れることができる。目標書き込み範囲RA間の半径方向の間隔を考慮しないでLの値を設定することが可能であるので、Lの値を小さくできる。Lとして小さい値が設定されるほど、磁気ディスク装置1は、より細かい粒度で補正情報を取得することができ、その結果、位置決めの精度が向上する。
なお、学習位置の間隔Lは必ずしも上記のように調整されなくてもよい。例えば、学習位置の間隔Lは磁気ディスク11内で均一とされ、図9を参照して説明された方法で並行処理が実行されてもよい。
また、実施形態によれば、例えば第1の領域(例えば図11-1の領域104参照)では、並行処理条件が満たされ、磁気ディスク装置1は、並行処理を実行する。例えば第1の領域におけるヘッド位置間距離Yよりもヘッド位置間距離Yが小さい第2の領域(例えば図11-1の領域105参照)では、並行処理条件が満たされず、その結果、磁気ディスク装置1は、任意の方法で学習位置を設定して、各学習位置での補正情報の学習と、学習によって得られた補正情報の書き込みと、を分離して実行する(例えば図12-1のS120参照)。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1 磁気ディスク装置、2 ホスト、11 磁気ディスク、12 スピンドルモータ、13 ランプ、15 アクチュエータアーム、22 磁気ヘッド、22r リードヘッド、22w ライトヘッド、23 HDC、24 ヘッドIC、25 RWC、26 プロセッサ、27 RAM、28 FROM、29 バッファメモリ、30 コントローラ、41 トラック、42 サーボ領域、43 データ領域、44 サーボセクタ、51 バーストパターン領域、52 ポストコード領域、101 範囲、102 設定例、103 ライトパターン、104,105 領域。
Claims (4)
- 磁気ディスクおよび磁気ヘッドを備えた磁気ディスク装置の製造方法であって、
前記磁気ディスクの半径方向に複数の学習位置を設定することと、
前記磁気ヘッドが有するリードヘッドが前記複数の学習位置のうちの第1の学習位置上に位置するように前記磁気ヘッドを移動させることと、
前記リードヘッドが前記第1の学習位置上に位置するとき前記第1の学習位置にかかるRRO(Repeatable RunOut)補正情報を、前記リードヘッドを用いて学習することと、
前記リードヘッドが前記複数の学習位置のうちの第2の学習位置上に位置するように前記磁気ヘッドを移動させることと、前記リードヘッドが前記第2の学習位置上に位置するとき前記磁気ヘッドが有するライトヘッドは前記第1の学習位置を含む第1の範囲の一部を通過する位置に位置し、
前記リードヘッドが前記第2の学習位置上に位置するとき前記第2の学習位置にかかるRRO補正情報を前記リードヘッドを用いて学習しながら並行して、前記第1の学習位置にかかる前記RRO補正情報の前記第1の範囲への書き込みを前記ライトヘッドを用いて実行することと、
を含む製造方法。 - 前記複数の学習位置を設定することは、前記第1の学習位置から第1の方向に離間した位置に前記第2の学習位置を設定すること、をさらに含み、
前記第1の方向は、前記リードヘッドが前記磁気ディスクの半径方向において前記ライトヘッドよりも先行するような前記磁気ヘッドの移動方向である、
請求項1に記載の製造方法。 - 前記複数の学習位置を設定することは、前記第2の学習位置にかかる前記RRO補正情報の学習の際に前記ライトヘッドが通過する範囲の2つの端部のうちの前記第1の方向とは逆側の端部と、前記第1の範囲の2つの端部のうちの前記第1の方向とは逆側の端部と、が一致するように前記複数の学習位置の間隔を調整すること、を含む、
請求項2に記載の製造方法。 - 前記複数の学習位置を設定することは、前記複数の学習位置を前記半径方向における第1の領域内に設定することであり、
前記半径方向における第2の領域内に前記半径方向に複数の第3の学習位置を設定することと、前記第2の領域においては前記リードヘッドの位置と前記ライトヘッドの位置との間の前記半径方向の距離が前記第1の領域における前記距離よりも小さく、
前記複数の第3の学習位置のそれぞれにかかるRRO補正情報の学習と、前記複数の第3の学習位置のそれぞれにかかる前記RRO補正情報の書き込みと、を分離して実行することと、
をさらに含む請求項1から3の何れか一項に記載の製造方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020157843A JP2022051394A (ja) | 2020-09-18 | 2020-09-18 | 製造方法 |
CN202110843224.9A CN114203209B (zh) | 2020-09-18 | 2021-07-26 | 磁盘装置的制造方法 |
US17/387,232 US11495255B2 (en) | 2020-09-18 | 2021-07-28 | Method for manufacturing magnetic disk device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020157843A JP2022051394A (ja) | 2020-09-18 | 2020-09-18 | 製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022051394A true JP2022051394A (ja) | 2022-03-31 |
Family
ID=80645861
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020157843A Pending JP2022051394A (ja) | 2020-09-18 | 2020-09-18 | 製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11495255B2 (ja) |
JP (1) | JP2022051394A (ja) |
CN (1) | CN114203209B (ja) |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2019164855A (ja) * | 2018-03-19 | 2019-09-26 | 株式会社東芝 | 磁気ディスク装置及びrro補正データのライト方法 |
JP2020047342A (ja) * | 2018-09-19 | 2020-03-26 | 株式会社東芝 | 磁気ディスク装置及びヘッド位置の補正方法 |
-
2020
- 2020-09-18 JP JP2020157843A patent/JP2022051394A/ja active Pending
-
2021
- 2021-07-26 CN CN202110843224.9A patent/CN114203209B/zh active Active
- 2021-07-28 US US17/387,232 patent/US11495255B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN114203209A (zh) | 2022-03-18 |
US20220093124A1 (en) | 2022-03-24 |
CN114203209B (zh) | 2024-06-04 |
US11495255B2 (en) | 2022-11-08 |
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