JP2021197284A - 光源駆動装置、光源装置および測距装置 - Google Patents

Abstract

【課題】発光素子の駆動の際の遅延時間に基づく誤差を低減する。【解決手段】光源駆動装置は、発光駆動部、駆動信号生成部、位相差検出部および遅延検出部を具備する。発光駆動部は、光源を発光させる発光電流を供給する。駆動信号生成部は、光源を発光させる発光制御信号に基づいて発光駆動部を駆動するための駆動信号を生成する。位相差検出部は、光源の発光期間と発光制御信号との位相差を検出する。遅延検出部は、検出された位相差に基づいて発光の遅延を検出する。【選択図】図１

Description

本開示は、光源駆動装置、光源装置および測距装置に関する。詳しくは、光源を駆動する光源駆動装置および当該光源駆動装置を使用する光源装置および測距装置に関する。

従来、車載カメラ等の撮像装置において、対象物までの距離を計測する測距装置が使用されている。この測距装置には、例えば、対象物にレーザ光を照射して対象物から反射された光を検出し、レーザ光が対象物との間を往復する時間を測定することにより距離を計測する装置を使用することができる。このような測距装置に使用される発光素子の駆動装置においては、発光素子の発光遅延時間の変動が問題となる。距離測定の誤差の原因となるためである。

このような駆動装置として、例えば、距離測定における所望の発光強度を得るためのターゲット電流を設定する際、発光素子が非発光の時の背景光や発光素子の特性に応じてターゲット電流の設定を行う駆動装置が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。この従来技術においては、ターゲット電流の他に発光素子の発光閾値に対応するバイアス電流の設定をさらに行う。これら設定されたターゲット電流およびバイス電流に基づいて発光素子の駆動電流が制御される。ターゲット電流等の誤差による距離測定の誤差が低減される。

特開２０１９−０４１２０１号公報

上述の従来技術では、発光素子の駆動信号の遅延時間が変動した場合に距離計測の誤差を低減することができないという問題がある。距離計測の際、距離計測を実行する処理装置から発光素子の駆動装置に対して発光を制御する信号が出力される。この信号の出力のタイミングと発光素子の発光のタイミングとの遅延時間が変動すると、距離計測の誤差が発生する。上述の従来技術では、このような遅延時間の変動に基づく誤差を低減することができないという問題がある。

本開示は、上述した問題点に鑑みてなされたものであり、発光素子の駆動の際の遅延時間に基づく誤差を低減することを目的としている。

本開示は、上述の問題点を解消するためになされたものであり、その第１の態様は、光源を発光させる発光電流を供給する発光駆動部と、上記光源を発光させる発光制御信号に基づいて上記発光駆動部を駆動するための駆動信号を生成する駆動信号生成部と、上記光源の発光期間と上記発光制御信号との位相差を検出する位相差検出部と、上記検出された位相差に基づいて上記発光の遅延を検出する遅延検出部とを具備する光源駆動装置である。

また、この第１の態様において、上記位相差検出部は、上記駆動信号を上記光源の発光期間として上記発光制御信号との位相差を検出してもよい。

また、この第１の態様において、上記位相差検出部は、上記発光電流に基づく信号を上記光源の発光期間として上記発光制御信号との位相差を検出してもよい。

また、この第１の態様において、上記光源の発光を検出する受光部をさらに具備し、上記位相差検出部は、上記検出した発光の期間を上記光源の発光期間として上記発光制御信号との位相差を検出してもよい。

また、この第１の態様において、上記位相差検出部は、上記検出した位相差に応じた差動信号を出力し、上記遅延は、上記位相差検出部から出力された差動信号に基づいて上記発光の遅延を検出してもよい。

また、この第１の態様において、上記検出された位相差のうち高周波成分を減衰するフィルタをさらに具備し、上記遅延検出部は、上記高周波成分が減衰された位相差に基づいて上記遅延を検出してもよい。

また、この第１の態様において、信号線路により伝達される上記発光制御信号を受信して当該受信した発光制御信号を出力する受信部をさらに具備し、上記駆動信号生成部は、上記受信部から出力される発光制御信号に基づいて上記駆動信号を生成し、上記位相差検出部は、上記光源の発光期間と上記受信部から出力される発光制御信号との位相差を検出してもよい。

また、この第１の態様において、上記信号線路は、差動信号に変換された上記発光制御信号である差動発光制御信号を伝達し、上記受信部は、上記伝達された差動発光制御信号を受信して上記発光制御信号に変換してもよい。

また、この第１の態様において、上記生成された駆動信号が入力される第２の受信部をさらに具備し、上記位相差検出部は、上記光源の発光期間と上記第２の受信部から出力される上記駆動信号との位相差を検出してもよい。

また、本開示の第２の態様は、光源と、上記光源を発光させる発光電流を供給する発光駆動部と、上記光源を発光させるための発光制御信号に基づいて上記発光駆動部を駆動するための駆動信号を生成する駆動信号生成部と、上記光源の発光期間と上記発光制御信号との位相差を検出する位相差検出部と、上記検出された位相差に基づいて上記発光の遅延を検出する遅延検出部とを具備する光源装置である。

また、本開示の第３の態様は、光源と、上記光源を発光させる発光電流を供給する発光駆動部と、上記光源を発光させるための発光制御信号に基づいて上記発光駆動部を駆動するための駆動信号を生成する駆動信号生成部と、上記光源の発光期間と上記発光制御信号との位相差を検出する位相差検出部と、上記検出された位相差に基づいて上記発光の遅延を検出する遅延検出部と、上記光源の発光により出射された光が対象物により反射された反射光を検出するセンサと、上記光の出射から上記反射光の検出までを計時することにより上記対象物までの距離を検出する処理を行う処理回路とを具備する測距装置である。

本開示の態様により、光源の発光期間と発光制御信号との位相差に基づいて発光の遅延が検出されるという作用をもたらす。検出された遅延に基づく距離の検出の補正が想定される。

本開示の第１の実施の形態に係る光源装置の構成例を示す図である。 本開示の第１の実施の形態に係る発光駆動部の構成例を示す図である。 本開示の実施の形態に係る位相差検出部の構成例を示す図である。 本開示の実施の形態に係る遅延検出部の構成例を示す図である。 本開示の実施の形態に係る位相差および遅延の検出の一例を示す図である。 本開示の実施の形態に係る距離の検出の一例を示す図である。 本開示の第２の実施の形態に係る光源装置の構成例を示す図である。 本開示の第３の実施の形態に係る発光駆動部の構成例を示す図である。 本開示の第４の実施の形態に係る発光駆動部の構成例を示す図である。 本開示の実施の形態に係る測距センサの構成例を示す図である。 本開示の実施の形態に係る遅延検出部の構成例を示す図である。 本開示の実施の形態に係る測距装置の構成例を示す図である。 本開示の実施の形態に係る測距の一例を示す図である。

次に、図面を参照して、本開示を実施するための形態（以下、実施の形態と称する）を説明する。以下の図面において、同一または類似の部分には同一または類似の符号を付している。また、以下の順序で実施の形態の説明を行う。
１．第１の実施の形態
２．第２の実施の形態
３．第３の実施の形態
４．第４の実施の形態
５．測距センサ
６．測距装置

＜１．第１の実施の形態＞
［光源装置の構成］
図１は、本開示の第１の実施の形態に係る光源装置の構成例を示す図である。同図は、光源装置４の構成例を表す図である。この光源装置４は、距離測定の対象物に対して光を出射するものである。なお、同図には、光源装置４の他に測距装置を構成する測距センサ３をさらに記載した。

測距センサ３は、対象物までの距離を測定するものである。この測距センサ３は、光源装置４から出射されて対象物により反射された反射光を検出し、光源装置４の光の出射から反射光の入射までに要した時間に基づいて対象物までの距離を測定する。測距センサ３および光源装置４の間には、信号線１１、１２および１３が接続される。信号線１１は、測距センサ３から出力される発光制御信号を伝達する信号線である。ここで、発光制御信号は、光源装置４の光源を発光させるための信号であり、光源の発光の期間（タイミング）を表す信号である。後述するように、同図の信号線１１は、差動信号に変換された差動発光制御信号を伝達する。信号線１２は、光源装置４を制御するための制御信号を伝達する信号線である。信号線１３は、遅延信号を伝達する信号線である。ここで、遅延信号は、光源装置４から出力される信号であり、光源装置４の光源の発光の遅延時間を表す信号である。

光源装置４は、光源２０と、光源駆動装置１０とを備える。

光源２０は、発光するものである。この光源２０は、例えば、レーザ光を生成するレーザダイオードを使用することができる。

光源駆動装置１０は、光源２０を発光させるものである。この光源駆動装置１０は、測距センサ３からの制御信号等に基づいて光源２０を発光させる。この発光は、例えば、所定の周期において発光および非発光を繰り返す方式を採ることができる。また、光源駆動装置１０は、光源２０を発光させる際の遅延時間を検出して測距センサ３に対して出力する。同図の光源駆動装置１０は、制御部１００と、受信部１１０と、駆動信号生成部１２０と、発光駆動部１３０と、位相差検出部１４０と、フィルタ１５１および１５２と、遅延検出部１６０とを備える。

制御部１００は、光源駆動装置１０の全体を制御するものである。この制御部１００は、測距センサ３からの制御信号に基づいて光源駆動装置１０を制御する。測距センサ３からの制御信号は、信号線１２を介して制御部１００に入力される。また、同図の制御部１００は、後述する遅延検出部１６０における遅延時間の検出および測距センサ３への遅延時間の出力の制御をさらに行う。制御部１００は、信号線１０９を介して遅延検出部１６０に制御信号を出力する。

受信部１１０は、測距センサ３から出力される発光制御信号を受信するものである。ここで、発光制御信号は、発光期間を表すデジタル信号（パルス信号の列）により構成することができる。例えば、発光制御信号の値「１」の期間を光源の発光期間に対応させることができる。受信部１１０は、受信した発光制御信号を駆動信号生成部１２０および位相差検出部１４０に対して出力する。受信部１１０からの出力信号は、信号線１０１を介して出力される。

なお、同図の測距センサ３は、差動信号に変換された発光制御信号である差動発光制御信号を出力する例を表したものである。この差動発光制御信号は、例えば、ＬＶＤＳ（Low Voltage Differential Signaling）により伝達することができる。この場合、信号線１１は、差動信号線路により構成される。受信部１１０は、ＬＶＤＳの差動発光制御信号を受信し、シングルエンドの発光制御信号に変換して出力する。差動信号形式の発光制御信号を測距センサ３および光源装置４の間の信号伝達に適用することにより、高速な信号の伝達が可能となる。

駆動信号生成部１２０は、受信部１１０から出力される発光制御信号に基づいて後述する発光駆動部１３０を駆動する駆動信号を生成するものである。駆動信号生成部１２０は、生成した駆動信号を発光駆動部１３０および位相差検出部１４０に対して出力する。駆動信号生成部１２０からの出力信号は、信号線１０２により伝達される。

発光駆動部１３０は、光源２０を発光させるものである。この発光駆動部１３０は、光源２０を発光させるための発光電流を光源２０に供給する。発光駆動部１３０は、ＭＯＳトランジスタ等の半導体素子により構成することができる。発光駆動部１３０の構成の詳細については後述する。

位相差検出部１４０は、光源２０の発光期間と発光制御信号との位相差を検出するものである。この位相差を検出することにより、発光制御信号に対する光源２０の発光の遅れを検出することができる。測距センサ３が計時した光源装置４からの光の出射から反射光の入射までに要した時間からこの発光の遅れを減算することにより、対象物までの距離の検出の際の誤差を低減することができる。

同図の位相差検出部１４０は、受信部１１０から出力される発光制御信号と駆動信号生成部１２０から出力される発光制御信号との位相差を検出する。すなわち、同図の位相差検出部１４０は、駆動信号生成部１２０から出力される発光制御信号を光源２０の発光期間として位相差を検出する。また、同図の位相差検出部１４０は、検出した位相差を差動信号として出力する。具体的には、互いに逆相となる位相差信号が生成され、２つの信号線１０５および１０６を介してそれぞれ出力される。位相差検出部１４０の構成の詳細については後述する。

フィルタ１５１および１５２は、位相差検出部１４０により検出された位相差のうち高周波成分を減衰するものである。これらのフィルタ１５１および１５２は、低域通過フィルタにより構成することができる。位相差検出部１４０から出力される位相差信号は、位相差に応じたパルス幅のパルス信号列により構成される。フィルタ１５１および１５２は、このパルス信号の高周波成分を減衰することにより、位相差に応じた電圧の低周波の位相差信号を生成する。フィルタ１５１は、信号線１０５および１０７に接続され、信号線１０５を介して入力される位相差信号の高周波成分を減衰して信号線１０７に出力する。フィルタ１５２は、信号線１０６および１０８に接続され、信号線１０６を介して入力される位相差信号の高周波成分を減衰して信号線１０８に出力する。

遅延検出部１６０は、位相差検出部１４０により検出された位相差に基づいて光源２０における発光の遅延を検出するものでる。同図の遅延検出部１６０には、信号線１０７および１０８が接続され、フィルタ１５１および１５２により高周波成分が減衰された差動信号の位相差信号がそれぞれ入力される。そして、遅延検出部１６０は、差動信号の位相差信号から遅延時間に対応する遅延信号を生成し、信号線１３を介して測距センサ３に対して出力する。この際、遅延検出部１６０は、デジタル信号の遅延信号を出力することができる。

［発光駆動部の構成］
図２は、本開示の第１の実施の形態に係る発光駆動部の構成例を示す図である。同図は、発光駆動部１３０の構成例を表す回路図である。発光駆動部１３０は、ＭＯＳトランジスタ１３１と、定電流回路１３２とを備える。なお、同図には、光源２０も記載した。

ＭＯＳトランジスタ１３１のゲートは信号線１０２に接続され、ソースは定電流回路１３２のシンク側端子に接続される。定電流回路１３２のソース側端子は、接地される。ＭＯＳトランジスタ１３１のドレインは信号線１４を介して光源２０のカソードに接続される。光源２０のアノードは、電源線Ｖｃｃに接続される。ここで、電源線Ｖｃｃは、光源２０の発光電流を流すための電源を供給する電源線である。

ＭＯＳトランジスタ１３１は、光源２０に発光電流を供給する半導体素子である。このＭＯＳトランジスタ１３１は、駆動信号生成部１２０により生成された駆動信号により駆動される。同図のＭＯＳトランジスタ１３１には、ｎチャネルＭＯＳトランジスタを使用することができる。ゲートソース間電圧Ｖｇｓの閾値を超える電圧の駆動信号がゲートに印加されるとＭＯＳトランジスタ１３１は導通状態になる。シンク電流の発光電流が光源２０に供給される。

定電流回路１３２は、定電流を流す回路である。この定電流回路１３２は、ＭＯＳトランジスタ１３１が導通した際に光源２０に流れる電流を所定の発光電流に制限する回路である。定電流回路１３２には、ＭＯＳトランジスタを使用した定電流回路を使用することができる。

同図に表したように、発光駆動部１３０にはＭＯＳトランジスタ１３１が配置され、駆動信号生成部１２０はＭＯＳトランジスタ１３１のゲート駆動信号を生成して出力する。上述のようにＭＯＳトランジスタ１３１を導通させるためにはＶｇｓの閾値を超える振幅の信号を印加する必要がある。また、光源２０を高速に発光させるためには、ＭＯＳトランジスタ１３１の導通および非導通相互の遷移を高速化する必要があり、駆動の際にＭＯＳトランジスタ１３１のゲート容量を高速に充放電する必要がある。駆動信号生成部１２０は、比較的振幅が大きく立ち上がりおよび立ち下がり時間が短い駆動信号を生成することとなる。このため、受信部１１０による発光制御信号の入力から駆動信号の出力までに遅延を生じ、発光制御信号および駆動信号の間に位相差を生じる。前述の位相差検出部１４０は、この位相差を検出する。

［位相差検出部の構成］
図３は、本開示の実施の形態に係る位相差検出部の構成例を示す図である。同図は、位相差検出部１４０の構成例を表す回路図である。位相差検出部１４０は、遅延回路１４１および１４２と、反転ゲート１４３および１４４と、２入力ＮＡＮＤゲート１４５乃至１４８とを備える。

遅延回路１４１の入力には信号線１０１が接続され、出力は反転ゲート１４３を介してＮＡＮＤゲート１４５の一方の入力に接続される。ＮＡＮＤゲート１４５の他方の入力には、信号線１０１が接続される。遅延回路１４２の入力には信号線１０２が接続され、出力は反転ゲート１４４を介してＮＡＮＤゲート１４６の一方の入力に接続される。ＮＡＮＤゲート１４６の他方の入力には、信号線１０２が接続される。ＮＡＮＤゲート１４７の一方の入力にはＮＡＮＤゲート１４５の出力が接続され、他方の入力にはＮＡＮＤゲート１４８の出力が接続される。ＮＡＮＤゲート１４８の一方の入力にはＮＡＮＤゲート１４６の出力が接続され、他方の入力にはＮＡＮＤゲート１４７の出力が接続される。信号線１０５はＮＡＮＤゲート１４７の出力に接続され、信号線１０６はＮＡＮＤゲート１４８の出力に接続される。

遅延回路１４１および１４２は、入力された信号を所定の期間遅延させて出力する回路である。遅延回路１４１は、受信部１１０から出力された発光制御信号を遅延させる。この遅延した発光制御信号を反転ゲート１４３により反転してＮＡＮＤゲート１４５に入力するとともに遅延させない発光制御信号をＮＡＮＤゲート１４５に入力する。これにより、発光制御信号の立ち上がりに同期するとともに遅延回路１４１の遅延時間のパルス幅の信号を生成することができる。同様に、駆動信号生成部１２０により生成された駆動信号の立ち上がりに同期する信号が生成される。これらの信号は、ＮＡＮＤゲート１４７および１４８により構成されたフリップフロップ回路に入力される。このフリップフロップ回路は、発光制御信号によりセットされ、駆動信号によりリセットされる。この発光制御信号によるセットから駆動信号によるリセットまでのパルス幅の信号が発光制御信号および駆動信号の位相差に相当する信号であり、信号線１０５および１０６に出力される。

フリップフロップ回路のそれぞれの出力信号は互いに反転した信号である。このため、信号線１０５および１０６の信号は、差動の位相差信号となる。この差動の位相差信号がそれぞれフィルタ１５１および１５２を介して遅延検出部１６０に入力される。このように、位相差検出部１４０が差動の位相差信号を出力し、後述するアナログデジタル変換部１６１が差動信号のアナログデジタル変換を行う。これにより、光源駆動装置１０の製造プロセスや電源電圧、温度等の変化による位相差信号の誤差を低減することができる。

［遅延検出部の構成］
図４は、本開示の実施の形態に係る遅延検出部の構成例を示す図である。同図は、遅延検出部１６０の構成例を表す図である。遅延検出部１６０は、アナログデジタル変換部１６１と、遅延保持部１６２とを備える。

アナログデジタル変換部１６１は、位相差信号をデジタル信号に変換するものである。同図のアナログデジタル変換部１６１は、フィルタ１５１および１５２により高周波成分が減衰された位相差信号をデジタルの信号に変換する。このデジタル信号に変換される位相差信号は、発光制御信号および駆動信号の位相差に対応する電圧の信号であり、発光制御信号に対する駆動信号の遅れに応じた電圧の信号である。このような処理により、発光制御信号および駆動信号の位相差に基づく遅延時間を検出することができる。また、発光制御信号に対する駆動信号の遅延時間に相当するデジタルの信号である遅延信号を生成することができる。この遅延信号は、信号線１６９を介して遅延保持部１６２に出力される。また、アナログデジタル変換部１６１におけるアナログデジタル変換は、制御部１００からの制御信号により制御される。

遅延保持部１６２は、アナログデジタル変換部１６１から出力された遅延信号を保持するものである。この遅延保持部１６２は、保持した遅延時間を所望のタイミングにおいて測距センサ３に対して出力する。遅延保持部１６２は、デジタル信号を保持するレジスタにより構成することができる。また、アナログデジタル変換部１６１が複数のアナログデジタル変換を行って複数の遅延信号を生成し、遅延保持部１６２が複数の遅延信号を保持するとともにそれらの平均値を遅延時間として出力することもできる。遅延保持部１６２は、制御部１００からの制御信号により制御される。

［位相差および遅延の検出］
図５は、本開示の実施の形態に係る位相差および遅延の検出の一例を示す図である。同図は、光源駆動装置１０における発光制御信号および駆動信号の位相差の検出の一例を表すタイミング図である。同図において、「差動発光制御信号」は、信号線１１により伝達されて受信部１１０に入力される差動発光制御信号を表す。「発光制御信号」は、受信部１１０から出力される発光制御信号を表す。「駆動信号」は、駆動信号生成部１２０から出力される駆動信号を表す。「ＮＡＮＤゲート１４５出力」および「ＮＡＮＤゲート１４６出力」は、それぞれ図３において説明したＮＡＮＤゲート１４５および１４６の出力信号を表す。「位相差検出部出力（信号線１０５）」は信号線１０５に出力される位相差検出部１４０の出力信号を表し、「位相差検出部出力（信号線１０６）」は信号線１０６に出力される位相差検出部１４０出力信号を表す。「フィルタ１５１出力」および「フィルタ１５２出力」は、フィルタ１５１および１５２の出力信号をそれぞれ表す。

なお、同図の「差動発光制御信号」の実線と点線は、２つの差動信号を表す。また、同図の「発光制御信号」、「駆動信号」、「ＮＡＮＤゲート１４５出力」、「ＮＡＮＤゲート１４６出力」および「位相差検出部出力」は、２値化された信号波形により表されたものである。また、同図の点線は、０Ｖのレベルを表す。

測距センサ３から出力された差動発光制御信号が受信部１１０によりシングルエンドの発光制御信号に変換される。同図に表したように、発光制御信号には、デューティ比５０％の矩形波を使用することができる。この発光制御信号が駆動信号生成部１２０に入力されると駆動信号が生成されて出力される。同図に表したように、駆動信号は、発光制御信号に対して遅延時間分だけ位相が遅れた信号となる。これら発光制御信号および駆動信号が位相差検出部１４０に入力され、それぞれの信号の立ち上がりに同期したパルス信号がＮＡＮＤゲート１４５および１４６から出力される。

これらのパルス信号がフリップフロップ回路を構成するＮＡＮＤゲート１４７および１４８に入力される。ＮＡＮＤゲート１４５の出力信号の立ち下がりに同期してＮＡＮＤゲート１４７の出力信号（信号線１０５の信号）およびＮＡＮＤゲート１４８の出力信号（信号線１０６の信号）がそれぞれ値「１」および値「０」に遷移する。次に、ＮＡＮＤゲート１４６の出力信号の立ち下がりに同期してＮＡＮＤゲート１４７の出力信号（信号線１０５の信号）およびＮＡＮＤゲート１４８の出力信号（信号線１０６の信号）が反転し、それぞれ値「０」および値「１」に遷移する。

同図の前半は発光制御信号に対する駆動信号の遅延が比較的小さい場合を表し、後半は発光制御信号に対する駆動信号の遅延が比較的大きい場合を表す。位相差検出部１４０の差動の出力信号のパルス幅は、発光制御信号に対する駆動信号の遅延時間に応じたパルス幅となる。これら位相差検出部１４０の出力信号がフィルタ１５１および１５２に入力されて高い周波数成分が減衰されると、位相差検出部１４０の出力信号のパルス幅に応じた電圧の差動信号に変換される。このフィルタ１５１および１５２の出力信号をアナログデジタル変換することにより、発光制御信号および駆動信号の位相差に基づく遅延を検出することができる。

［距離の検出］
図６は、本開示の実施の形態に係る距離の検出の一例を示す図である。同図は、光源装置４における光源２０の駆動および遅延の検出の一例を表すタイミング図である。

同図におけるＡは、対象物との距離を測定するマイクロフレームを表したものである。距離の測定は、光源装置４を発光させながら対象物からの反射光を測距センサ３によって受光し、１画面分の画像を取得することにより行う。この画像を取得する期間がマイクロフレームに該当する。同図におけるＡの「マイクロフレーム信号」は、このマイクロフレームの区切りを表す信号であり、値「１」の期間に画像を生成し、値「０」の期間に生成された画像のデータが転送される。なお、マイクロフレーム信号は、測距センサ３の内部信号である。

画像生成の際の条件等を変えた複数のマイクロフレームにより距離の測定を行うことができる。例えば、光源装置４の発光と測距センサ３の受光との位相をマイクロフレーム毎に０、９０、１８０および２７０°に変えて４つの画像を生成する。次に、これら４つの画像から光源装置４における出射光および対象物からの反射光の位相差を算出して対象物までの距離を測定することができる。距離の測定の詳細については後述する。

この４つのマイクロフレームの期間は対象物までの距離を測定するフレームを構成する。このフレームは、複数回繰り返すことができ、複数のフレームにおける距離の平均値を対象物までの距離にすることができる。

同図におけるＢは、各マイクロフレームにおける遅延の検出の一例を表す図である。同図におけるＢの「発光制御信号」は、受信部１１０から出力される発光制御信号を表す。「遅延検出信号」は、光源駆動装置１０に遅延の検出を指示する信号である。この「遅延検出信号」は、図１において説明した測距センサ３から信号線１２を介して出力される制御信号の一例である。「ＡＤ変換信号」は、制御部１００から遅延検出部１６０のアナログデジタル変換部１６１に出力される制御信号であり、アナログデジタル変換を指示する信号である。「遅延出力」は、光源駆動装置１０から出力される遅延信号を表す。

マイクロフレーム信号が値「１」になると、パルス列の差動発光制御信号が測距センサ３から出力される。この出力された差動発光制御信号が受信部１１０により受信されて発光制御信号に変換されて駆動信号生成部１２０および位相差検出部１４０に出力される。所定のパルス数の差動発光制御信号が出力された後に、測距センサ３は、値「１」の遅延検出信号を出力する。遅延検出信号が出力されると、制御部１００は、値「１」のＡＤ変換信号をアナログデジタル変換部１６１に対して出力する。このＡＤ変換信号が入力されると、アナログデジタル変換部１６１は、フィルタ１５１および１５２から出力される位相差信号のアナログデジタル変換を行う。このアナログデジタル変換により生成されたデジタル信号の遅延時間は、遅延保持部１６２に保持される。

同図におけるＢは、アナログデジタル変換を８回行う例を表したものである。制御部１００は、ＡＤ変換信号を８回出力する。アナログデジタル変換部１６１は、ＡＤ変換信号が入力される毎にアナログデジタル変換を行って検出した遅延時間を遅延保持部１６２に対して出力する。遅延保持部１６２は、これら複数の遅延時間を保持する。その後、遅延検出信号の出力が停止されると、遅延保持部１６２は、保持した複数の遅延時間の平均値を算出して遅延データを生成し、信号線１３を介して測距センサ３に出力する。

また、マイクロフレーム信号が値「１」になると、測距センサ３による反射光の検出が開始され、反射光に基づく画像信号が生成される。画像信号の生成は、後述する測距センサ３に配置された撮像素子３５０により行われる。この撮像素子３５０は、反射光の光電変換を行い、光電変換により生成された電荷に基づいて画像信号を生成する。この際、撮像素子３５０は、マイクロフレーム信号が値「１」の期間に光電変換により生成した電荷を蓄積し、マイクロフレーム信号が値「０」になると蓄積した画像信号に基づいて画像信号を生成して後述する画像処理部３６０に出力（転送）する。この画像処理部３６０により対象物が検出されるとともに検出された対象物に対する光源駆動装置１０の発光から反射光の検出までの時間が計時される。この計時された時間から遅延保持部１６２によって出力された遅延信号に基づく遅延時間が減算され、距離が算出される。この遅延時間の減算により、光源駆動装置１０における発光の遅延に基づく誤差を低減することができる。

以上説明したように、本開示の第１の実施の形態の光源駆動装置１０は、駆動信号生成部１２０に入力される発光制御信号と駆動信号生成部１２０から出力される駆動信号との位相差を検出することにより、光源２０における発光の遅延を検出する。この検出された遅延を用いて対象物との距離の補正を行うことにより、距離測定の誤差を低減することができる。

＜２．第２の実施の形態＞
上述の第１の実施の形態の光源駆動装置１０は、駆動信号生成部１２０の遅延を検出していた。これに対し、本開示の第２の実施の形態の光源駆動装置１０は、受信部の遅延をさらに検出する点で、上述の第１の実施の形態と異なる。

［光源装置の構成］
図７は、本開示の第２の実施の形態に係る光源装置の構成例を示す図である。同図は、図１と同様に、光源装置４の構成例を表す図である。光源駆動装置１０の駆動信号生成部１２０および位相差検出部１４０の間に受信部１７０がさらに配置される点で、図１において説明した光源装置４と異なる。

受信部１７０は、受信部１１０と同様の遅延特性を有する受信部である。受信部１７０の非反転入力は信号線１０２に接続され、反転入力は電源線Ｖｄｄ／２に接続される。受信部１７０の出力は信号線１０３に接続される。電源線Ｖｄｄ／２は、受信部１７０の電源電圧の１／２の電圧の電源を供給する電源線である。電源電圧の１／２の電圧が反転入力に印加されるため、受信部１７０は、非反転バッファとして動作する。また、信号線１０３は、図３において説明した遅延回路１４２およびＮＡＮＤゲート１４６の入力に接続される信号線である。同図の位相差検出部１４０には、受信部１７０を経由した駆動信号が入力される。このため、同図の位相差検出部１４０は、駆動信号生成部１２０および受信部１７０の遅延に基づく位相差を検出する。上述のように、受信部１７０は受信部１１０と同様の遅延特性を有するため、同図の光源駆動装置１０は、受信部１１０および駆動の遅延を検出することができる。

これ以外の光源駆動装置１０の構成は本開示の第１の実施の形態において説明した光源駆動装置１０の構成と同様であるため、説明を省略する。

以上説明したように、本開示の第２の実施の形態の光源駆動装置１０は、駆動信号生成部１２０および位相差検出部１４０の間に受信部１７０を配置して駆動信号を遅延させることにより、受信部１１０の遅延時間を検出することができる。距離測定の誤差をさらに低減することができる。

＜３．第３の実施の形態＞
上述の第１の実施の形態の光源駆動装置１０は、発光制御信号および駆動信号の位相差を検出していた。これに対し、本開示の第３の実施の形態の光源駆動装置１０は、発光制御信号と光源２０の発光電流に基づく信号との位相差を検出する点で、上述の第１の実施の形態と異なる。

［発光駆動部の構成］
図８は、本開示の第３の実施の形態に係る発光駆動部の構成例を示す図である。同図は、図２と同様に、発光駆動部１３０の構成例を表す回路図である。同図の発光駆動部１３０は、駆動信号生成部１２０および位相差検出部１４０との接続が記載される点で、図２の発光駆動部１３０と異なる。

同図の位相差検出部１４０は、発光制御信号と駆動電圧信号との位相差を検出する。ここで、駆動電圧信号は、光源２０の発光期間を表す信号であり、発光電流に基づいて生成される信号である。

駆動電圧検出部１８０は、駆動電圧信号を生成するものである。この駆動電圧検出部１８０は、信号線１４を介して取得したＭＯＳトランジスタ１３１のドレイン電圧を位相差検出部１４０の論理回路の信号レベルに変換するとともに論理を反転することにより駆動電圧信号を生成する。生成された駆動電圧信号は、信号線１０４を介して位相差検出部１４０に入力される。

発光駆動部１３０において、駆動信号の入力から光源２０への発光電流の供給までには遅延時間を生じる。ＭＯＳトランジスタ１３１が導通状態に遷移する時間が必要なためである。そこで、ＭＯＳトランジスタ１３１のドレイン電圧を検出して駆動電圧信号を生成し、位相差検出部１４０に入力することにより、発光駆動部１３０の遅延時間を検出することができる。

これ以外の光源駆動装置１０の構成は本開示の第１の実施の形態において説明した光源駆動装置１０の構成と同様であるため、説明を省略する。

以上説明したように、本開示の第３の実施の形態の光源駆動装置１０は、発光駆動部１３０のＭＯＳトランジスタ１３１のドレイン電圧から駆動電圧信号を生成して発光制御信号との位相差を検出する。これにより、発光駆動部１３０の遅延時間を検出することができ、距離測定の誤差をさらに低減することができる。

＜４．第４の実施の形態＞
上述の第３の実施の形態の光源駆動装置１０は、発光制御信号および駆動電圧信号の位相差を検出していた。これに対し、本開示の第４の実施の形態の光源駆動装置１０は、発光制御信号と光源２０の発光との位相差を検出する点で、上述の第３の実施の形態と異なる。

［発光駆動部の構成］
図９は、本開示の第４の実施の形態に係る発光駆動部の構成例を示す図である。同図は、図８と同様に、発光駆動部１３０の構成例を表す回路図である。駆動電圧検出部１８０の代わりに受光素子３０および受光部１９０を備える点で、図８の発光駆動部１３０と異なる。

同図の位相差検出部１４０は、発光制御信号と受光信号との位相差を検出する。ここで、受光信号は、光源２０の発光期間を表す信号であり、光源２０の発光を検出して生成される信号である。

受光素子３０は、光源２０の光を受光するものである。この受光素子３０は、照射された光の変化を電気信号に変換することにより受光する。受光素子３０は、例えば、受光ダイオードにより構成することができる。同図の受光素子３０は、カソードが電源線Ｖｄｄに接続されて電源が供給される。受光素子３０には、受光量に応じた電流が流れる。

受光部１９０は、光源２０の発光を検出するものである。受光部１９０は、抵抗１９１と、非反転バッファ１９２とを備える。非反転バッファ１９２の入力は受光素子３０のアノードおよび抵抗１９１の一端に接続される。抵抗１９１の他の一端は、接地される。非反転バッファ１９２の出力は、信号線１０４に接続される。上述のように、受光素子３０には、受光量に応じた電流が流れる。抵抗１９１は、この電流の変化を電圧の変化に変換するものである。この電圧の変化は、非反転バッファ１９２により増幅され、受光信号として出力される。

光源２０において、発光電流の供給から光の出射までには遅延時間を生じる。レーザ光の発振の開始には遅延時間を伴うためである。そこで、受光素子３０および受光部１９０を配置して光源２０の発光を直接検出し、受光信号を生成する。この受光信号を位相差検出部１４０に入力することにより、発光駆動部１３０および光源２０の遅延時間を検出することができる。

これ以外の光源駆動装置１０の構成は本開示の第３の実施の形態において説明した光源駆動装置１０の構成と同様であるため、説明を省略する。

以上説明したように、本開示の第４の実施の形態の光源駆動装置１０は、光源２０の光を検出して受光信号を生成し、発光制御信号との位相差を検出する。これにより、発光駆動部１３０および光源２０の遅延時間を検出することができ、距離測定の誤差をさらに低減することができる。

＜５．測距センサ＞
上述の測距装置に適用される測距センサ３の構成について説明する。

［測距センサの構成］
図１０は、本開示の実施の形態に係る測距センサの構成例を示す図である。同図は、測距センサ３の構成例を表す図である。同図の測距センサ３は、測距制御装置２の指示に基づいて対象物までの距離を測定し、測定結果を測距制御装置２に対して出力する。測距制御装置に２は、例えば、アプリケーションプロセッサを使用することができる。

測距センサ３は、ホストインターフェース部３１０と、システム制御部３２０と、光源装置制御部３３０と、送信部３４０と、撮像素子３５０と、画像処理部３６０と、遅延検出部３７０とを備える。

ホストインターフェース部３１０は、測距制御装置２とのやり取りを行うものである。測距制御装置２からは制御信号が出力される。測距センサ３は自身の状態を表すステータスを出力するとともに後述する距離マップ画像を測距制御装置２に対して出力する。これらの信号のやり取りは、ホストインターフェース部３１０が行う。

システム制御部３２０は、測距センサ３の全体を制御し、測距制御装置２から出力された制御信号に基づいて距離の測定の制御を行うものである。システム制御部３２０は、光源装置４の発光のタイミングを表す発光タイミング信号を生成し、光源装置制御部３３０、画像処理部３６０および遅延検出部３７０に出力する。

光源装置制御部３３０は、光源装置４を制御するものである。この光源装置制御部３３０は、システム制御部３２０から出力され発光タイミング信号に基づいて発光制御信号を生成し、送信部３４０に対して出力する。また、光源装置制御部３３０は、図１において説明した制御信号を生成し、信号線１２を介して制御部１００に出力する。

送信部３４０は、発光制御信号を差動信号である差動発光制御信号に変換し、信号線１１を介して光源装置４に送信するものである。

遅延検出部３７０は、光源装置制御部３３０の遅延を検出するものである。この遅延検出部３７０は、発光タイミング信号と発光制御信号との位相差に基づいて光源装置制御部３３０の遅延を検出する。検出された遅延は、画像処理部３６０に対して出力される。

撮像素子３５０は、撮像を行う半導体の素子である。この撮像素子３５０は、対象物の撮像を行い、対象物の画像を生成する。生成された画像は、画像処理部３６０に対して出力される。

画像処理部３６０は、撮像素子３５０から出力される画像を処理するものである。この画像処理部３６０は、撮像素子３５０から出力される画像に基づいて対象部までの距離を検出する。具体的には、画像処理部３６０は、発光タイミング信号がシステム制御部３２０から出力されると、計時を開始する。その後、撮像素子３５０からの画像に基づいて反射光を検出し、計時を停止する。この計時された光の飛行時間から対象物までの距離を検出する。この際、画像処理部３６０は、計時された光の飛行時間から光源駆動装置１０により検出された遅延と遅延検出部３７０により検出された遅延とを減算する。これにより、光源駆動装置１０および光源装置制御部３３０の遅延に基づく誤差を低減することができる。また、画像処理部３６０は、対象物までの距離に基づいて距離マップ画像を生成することができる。この距離マップ画像により、対象物の立体的な形状を取得することができる。画像処理部３６０は、生成した距離マップ画像を測距制御装置２に対して出力する。

なお、撮像素子３５０は、特許請求の範囲に記載のセンサの一例である。画像処理部３６０は、特許請求の範囲に記載の処理回路の一例である。測距センサ３は、特許請求の範囲に記載の測距装置の一例である。

［遅延検出部の構成］
図１１は、本開示の実施の形態に係る遅延検出部の構成例を示す図である。同図は、遅延検出部３７０の構成例を表す図である。遅延検出部３７０は、位相差検出部３７１と、フィルタ３７２と、アナログデジタル変換部３７３とを備える。

位相差検出部３７１は、システム制御部３２０から出力される発光タイミング信号と光源装置制御部３３０から出力される発光制御信号との位相差を検出するものである。検出された位相差は、フィルタ３７２に対して出力される。

フィルタ３７２は、位相差検出部３７１から出力される位相差の高周波成分を減衰するものである。高周波成分が減衰された位相差は、アナログデジタル変換部３７３に対して出力される。

アナログデジタル変換部３７３は、高周波成分が減衰された位相差のアナログデジタル変換を行い、デジタル信号の遅延時間を生成するものである。生成された遅延時間は、画像処理部３６０に対して出力される。

なお、測距センサ３の構成は、この例に限定されない。例えば、遅延検出部３７０を省略することもできる。この場合、画像処理部３６０は、光源駆動装置１０から出力される遅延に基づいて光の飛行時間の補正を行う。

以上説明したように、本開示の測距センサ３は、光源駆動装置１０の遅延時間に加えて自身の光源装置制御部３３０の遅延を検出し、光の飛行時間から減算する。これにより、距離の測定の誤差を低減することができる。

なお、第２の実施の形態の光源駆動装置１０の構成は、他の実施の形態と組み合わせることができる。具体的には、図７の光源駆動装置１０構成は、第３および第４の実施の形態の光源駆動装置１０に適用することができる。

＜６．測距装置＞
上述の光源装置４および測距センサ３を使用する測距装置について説明する。

［測距装置の構成］
図１２は、本開示の実施の形態に係る測距装置の構成例を示す図である。同図は、測距装置１の構成例を表すブロック図である。同図の測距装置１は、測距センサ３と、光源装置４と、レンズ５とを備える。なお、同図には、測距制御装置２および距離測定の対象物９０１を記載した。

レンズ５は、測距センサ３の撮像素子３５０に対象物を結像するレンズである。

同図の測距センサ３は、光源装置４を制御して出射光９０２を対象物９０１に出射させる。出射光９０２が対象物９０１から反射されて反射光９０３となる。測距センサ３は、反射光９０３を検出した際に、出射光９０２の出射から反射光９０３の検出までの時間を計時し、対象物９０１までの距離を測定する。この測定された距離は、距離データとして測距制御装置２に出力される。

［測距処理］
図１３は、本開示の実施の形態に係る測距の一例を示す図である。同図におけるＡは、光源装置４から出射された出射光と対象物により反射された反射光との関係を表す図である。同図におけるＡにおいて、正のｘ軸の方向が出射光の位相に対応する。同図におけるＡの「Ｒ」は反射光を表す。出射光および反射光Ｒの間には、距離に応じた位相差θを生じる。この位相差θを検出することにより、対象物までの距離を測定することができる。ここで、Ｉは出射光と同相の成分を表し、Ｑは出射光と直交する成分を表す。位相差θは次式により表すことができる。
θ＝ａｒｃｔａｎ（Ｑ／Ｉ）
ここで、Ｉは出射光と同相の反射光の波高値を表す。Ｑは直交する反射光の波高値を表す。同図におけるＡは、正弦波の出射光等を想定したものであるが、パルス波の出射光等においても上述の式によりθを算出することができる。これは、出射光に対して９０度位相が異なる複数のタイミングにおいて反射光を検出することにより行うことができる。同図におけるＢは、この様子を表したものである。

同図におけるＢの「出射光」および「反射光」は、それぞれ出射光および反射光の波形を表す。反射光は、出射光に対してΔＴ遅れた波形となる。このΔＴが対象物との間を往復する時間となる。対象物までの距離Ｄは、次式により表すことができる。
Ｄ＝ｃ×ΔＴ／２＝ｃ×θ／（４π×ｆ）
ここで、ｃは光速を表す。ｆは出射光の周波数を表す。

また、同図におけるＢの「Ｑ０」、「Ｑ１８０」、「Ｑ９０」、および「Ｑ２７０」は、それぞれ、出射光に対して、０、１８０、９０および２７０度ずれた位相において反射光を検出する場合を表したものである。「Ｑ０」等の波形の値「１」の期間に反射光の検出が行われる。「Ｑ０」等の波形において斜線のハッチングを付した部分が検出される反射光を表す。この「Ｑ０」等により、ＩおよびＱは、次のように表すことができる。
Ｉ＝Ｑ０−Ｑ１８０
Ｑ＝Ｑ９０−Ｑ２７０
これにより、θは、次式により表すことができる。
θ＝ａｒｃｔａｎ（（Ｑ９０−Ｑ２７０）／（Ｑ０−Ｑ１８０））
このθを上記の式に代入することにより、対象物までの距離Ｄを算出することができる。

最後に、上述した各実施の形態の説明は本開示の一例であり、本開示は上述の実施の形態に限定されることはない。このため、上述した各実施の形態以外であっても、本開示に係る技術的思想を逸脱しない範囲であれば、設計等に応じて種々の変更が可能であることは勿論である。

また、本明細書に記載された効果はあくまで例示であって限定されるものでは無い。また、他の効果があってもよい。

また、上述の実施の形態における図面は、模式的なものであり、各部の寸法の比率等は現実のものとは必ずしも一致しない。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれることは勿論である。

また、上述の実施の形態において説明した処理手順は、これら一連の手順を有する方法として捉えてもよく、また、これら一連の手順をコンピュータに実行させるためのプログラム乃至そのプログラムを記憶する記録媒体として捉えてもよい。この記録媒体として、例えば、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）およびメモリカード等を用いることができる。

なお、本技術は以下のような構成もとることができる。
（１）光源を発光させる発光電流を供給する発光駆動部と、
前記光源を発光させる発光制御信号に基づいて前記発光駆動部を駆動するための駆動信号を生成する駆動信号生成部と、
前記光源の発光期間と前記発光制御信号との位相差を検出する位相差検出部と、
前記検出された位相差に基づいて前記発光の遅延を検出する遅延検出部と
を具備する光源駆動装置。
（２）前記位相差検出部は、前記駆動信号を前記光源の発光期間として前記発光制御信号との位相差を検出する前記（１）に記載の光源駆動装置。
（３）前記位相差検出部は、前記発光電流に基づく信号を前記光源の発光期間として前記発光制御信号との位相差を検出する前記（１）に記載の光源駆動装置。
（４）前記光源の発光を検出する受光部をさらに具備し、
前記位相差検出部は、前記検出した発光の期間を前記光源の発光期間として前記発光制御信号との位相差を検出する
前記（１）に記載の光源駆動装置。
（５）前記位相差検出部は、前記検出した位相差に応じた差動信号を出力し、
前記遅延は、前記位相差検出部から出力された差動信号に基づいて前記発光の遅延を検出する
前記（１）から（４）の何れかに記載の光源駆動装置。
（６）前記検出された位相差のうち高周波成分を減衰するフィルタをさらに具備し、
前記遅延検出部は、前記高周波成分が減衰された位相差に基づいて前記遅延を検出する
前記（１）から（５）の何れかに記載の光源駆動装置。
（７）信号線路により伝達される前記発光制御信号を受信して当該受信した発光制御信号を出力する受信部をさらに具備し、
前記駆動信号生成部は、前記受信部から出力される発光制御信号に基づいて前記駆動信号を生成し、
前記位相差検出部は、前記光源の発光期間と前記受信部から出力される発光制御信号との位相差を検出する
前記（１）から（６）の何れかに記載の光源駆動装置。
（８）前記信号線路は、差動信号に変換された前記発光制御信号である差動発光制御信号を伝達し、
前記受信部は、前記伝達された差動発光制御信号を受信して前記発光制御信号に変換する
前記（７）に記載の光源駆動装置。
（９）前記生成された駆動信号が入力される第２の受信部をさらに具備し、
前記位相差検出部は、前記光源の発光期間と前記第２の受信部から出力される前記駆動信号との位相差を検出する
前記（７）に記載の光源駆動装置。
（１０）光源と、
前記光源を発光させる発光電流を供給する発光駆動部と、
前記光源を発光させるための発光制御信号に基づいて前記発光駆動部を駆動するための駆動信号を生成する駆動信号生成部と、
前記光源の発光期間と前記発光制御信号との位相差を検出する位相差検出部と、
前記検出された位相差に基づいて前記発光の遅延を検出する遅延検出部と
を具備する光源装置。
（１１）光源と、
前記光源を発光させる発光電流を供給する発光駆動部と、
前記光源を発光させるための発光制御信号に基づいて前記発光駆動部を駆動するための駆動信号を生成する駆動信号生成部と、
前記光源の発光期間と前記発光制御信号との位相差を検出する位相差検出部と、
前記検出された位相差に基づいて前記発光の遅延を検出する遅延検出部と、
前記光源の発光により出射された光が対象物により反射された反射光を検出するセンサと、
前記光の出射から前記反射光の検出までを計時することにより前記対象物までの距離を検出する処理を行う処理回路と
を具備する測距装置。

１ 測距装置
２ 測距制御装置
３ 測距センサ
４ 光源装置
１０ 光源駆動装置
２０ 光源
３０ 受光素子
１１０ 受信部
１２０ 駆動信号生成部
１３０ 発光駆動部
１４０、３７１ 位相差検出部
１５１、１５２、３７２ フィルタ
１６０、３７０ 遅延検出部
１６１、３７３ アナログデジタル変換部
１７０ 受信部
１８０ 駆動電圧検出部
１９０ 受光部
３２０ システム制御部
３３０ 光源装置制御部
３５０ 撮像素子
３６０ 画像処理部

Claims (11)

1. 光源を発光させる発光電流を供給する発光駆動部と、
   前記光源を発光させる発光制御信号に基づいて前記発光駆動部を駆動するための駆動信号を生成する駆動信号生成部と、
   前記光源の発光期間と前記発光制御信号との位相差を検出する位相差検出部と、
   前記検出された位相差に基づいて前記発光の遅延を検出する遅延検出部と
   を具備する光源駆動装置。
2. 前記位相差検出部は、前記駆動信号を前記光源の発光期間として前記発光制御信号との位相差を検出する請求項１記載の光源駆動装置。
3. 前記位相差検出部は、前記発光電流に基づく信号を前記光源の発光期間として前記発光制御信号との位相差を検出する請求項１記載の光源駆動装置。
4. 前記光源の発光を検出する受光部をさらに具備し、
   前記位相差検出部は、前記検出した発光の期間を前記光源の発光期間として前記発光制御信号との位相差を検出する
   請求項１記載の光源駆動装置。
5. 前記位相差検出部は、前記検出した位相差に応じた差動信号を出力し、
   前記遅延は、前記位相差検出部から出力された差動信号に基づいて前記発光の遅延を検出する
   請求項１記載の光源駆動装置。
6. 前記検出された位相差のうち高周波成分を減衰するフィルタをさらに具備し、
   前記遅延検出部は、前記高周波成分が減衰された位相差に基づいて前記遅延を検出する
   請求項１記載の光源駆動装置。
7. 信号線路により伝達される前記発光制御信号を受信して当該受信した発光制御信号を出力する受信部をさらに具備し、
   前記駆動信号生成部は、前記受信部から出力される発光制御信号に基づいて前記駆動信号を生成し、
   前記位相差検出部は、前記光源の発光期間と前記受信部から出力される発光制御信号との位相差を検出する
   請求項１記載の光源駆動装置。
8. 前記信号線路は、差動信号に変換された前記発光制御信号である差動発光制御信号を伝達し、
   前記受信部は、前記伝達された差動発光制御信号を受信して前記発光制御信号に変換する
   請求項７記載の光源駆動装置。
9. 前記生成された駆動信号が入力される第２の受信部をさらに具備し、
   前記位相差検出部は、前記光源の発光期間と前記第２の受信部から出力される前記駆動信号との位相差を検出する
   請求項７記載の光源駆動装置。
10. 光源と、
    前記光源を発光させる発光電流を供給する発光駆動部と、
    前記光源を発光させるための発光制御信号に基づいて前記発光駆動部を駆動するための駆動信号を生成する駆動信号生成部と、
    前記光源の発光期間と前記発光制御信号との位相差を検出する位相差検出部と、
    前記検出された位相差に基づいて前記発光の遅延を検出する遅延検出部と
    を具備する光源装置。
11. 光源と、
    前記光源を発光させる発光電流を供給する発光駆動部と、
    前記光源を発光させるための発光制御信号に基づいて前記発光駆動部を駆動するための駆動信号を生成する駆動信号生成部と、
    前記光源の発光期間と前記発光制御信号との位相差を検出する位相差検出部と、
    前記検出された位相差に基づいて前記発光の遅延を検出する遅延検出部と、
    前記光源の発光により出射された光が対象物により反射された反射光を検出するセンサと、
    前記光の出射から前記反射光の検出までを計時することにより前記対象物までの距離を検出する処理を行う処理回路と
    を具備する測距装置。

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