JP2021087304A - アクチュエーター駆動装置、及びアクチュエーター駆動装置の制御方法 - Google Patents
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Abstract
Description
例えば、特許文献1に記載のアクチュエーター駆動装置は、互いに対向する一対の基板を有し、各基板の互いに対向する面にそれぞれ反射膜が設けられた可変干渉装置である。また、この可変干渉装置は、各基板の互いに対向する面に静電容量を検出するための電極を備え、静電容量検出回路により静電容量が検出可能に構成されている。さらに、可変干渉装置は、一対の基板の一方を、他方に向かって進退させるアクチュエーターを備えている。このような可変干渉装置では、アクチュエーターを制御する制御回路は、静電容量検出回路によって検出された静電容量に基づいて、アクチュエーターに印加する電圧をフィードバック制御する。これにより、一対の反射膜の間の寸法が目標値となるように制御することができる。
つまり、アクチュエーター装置では、アクチュエーターに電圧を印加すると、アクチュエーターによって変位する部材が振動する。この際、静電容量検出回路で検出された静電容量に基づいて、アクチュエーターに印加する電圧をフィードバック制御することで、上記振動を抑制し、部材間の距離を目標値にすることができる。
ここで、部材間の距離をより迅速に目標値に合わせる場合、制御回路の設定を、応答性を重視した設定とする。これにより、フィードバック制御時のアクチュエーターに印加する電圧が大きくなるよう制御される。一方、アクチュエーター装置に外乱振動が加わった場合、制御回路は、アクチュエーターをフィードバック制御して振動を収束するように機能する。しかしながら、上記のように応答性を重視した設計としている場合、僅かな外乱振動に対するフィードバック制御に対して、過剰な制御電圧が印加されることがあり、振動収束までに時間がかかり、外乱抑制性が低下する。
逆に、制御回路の設定を、外乱抑制性を重視した設定とすると、応答性が低下し、部材間の距離が目標値になるまでの時間が長くなる。
図1は、本実施形態の分光装置100の概略構成を示す模式図である。
[分光装置100の全体構成]
分光装置100は、アクチュエーター駆動装置の一例であり、入射光から所望の目標波長の光を分光して出力する装置である。この分光装置100は、図1に示すように、干渉フィルター110と、バイアス駆動回路120と、ギャップ検出部130と、制御器140と、マイコン150と、を含んで構成されている。
以下、各構成について詳細に説明する。
干渉フィルター110は、図1に示すように、透光性の第一基板111および第二基板112を備えている。第一基板111は、第一部材に相当し、第二基板112は、第二部材に相当する。これらの第一基板111及び第二基板112は、例えばシロキサンを主成分とするプラズマ重合膜等の接合膜により接合されて、一体的に構成されている。
なお、以降の説明にあたり、第一基板111から第二基板112に向かう方向をZ方向とする。Z方向は、干渉フィルター110の光入射面、及び光出射面に直交する方向である。
具体的には、第一基板111に設けられる凹部は、第一凹部111Aと、第一凹部111Aの周りを囲って設けられる第二凹部111Bとを含む。
なお、図1に示す例では、第一凹部111Aの第二基板112に対向する面が、第二凹部111Bの第二基板112に対向する面よりも、第二基板112に近接して位置するが、これに限定されない。
例えば、第一凹部111Aの第二基板112に対向する面が、第二凹部111Bの第二基板112に対向する面よりも、第二基板112から離隔していてもよい。或いは、第一凹部111Aの第二基板112に対向する面が、第二凹部111Bの第二基板112に対向する面と同一平面であってもよい。さらに、本実施形態では、第一基板111の凹部により、第一基板111と第二基板112との間にギャップが形成される例を示すが、例えば、第一基板111と第二基板112との間にスペーサが設けられ、スペーサの厚みによってギャップが形成される構成としてもよい。
なお、本実施形態での第一基板111及び第二基板112の間のギャップには、後述する第一反射膜114と第二反射膜115との間のミラーギャップGm、第一電極116Aと第二電極116Bとの間の第一アクチュエーターギャップGA1、及び、第三電極117Aと第四電極117Bとの間の第二アクチュエーターギャップGA2が含まれる。
第一反射膜114の表面には、例えば、ITO等の透明電極により構成された第一容量電極113Aが設けられている。
可動部112Aの第一基板111に対向する面には、第二反射膜115が設けられている。この第二反射膜115は、第一基板111に設けられた第一反射膜114にミラーギャップGmを介して対向する。第二反射膜115は、第一反射膜114と同様の素材により構成され、例えば、金属膜や金属合金膜、誘電体多層膜により構成されている。また、第二反射膜115の第一反射膜114に対向する面には、第二容量電極113Bが設けられている。
さらに、第二基板112の可動部112A及びダイアフラム部112Bの少なくともいずれかには、第三電極117Aに対向し、第二電極116Bとは絶縁された第四電極117Bが設けられている。この第四電極117Bは、第三電極117Aとともに第二アクチュエーター117を構成する。
ここで、本実施形態では、バイアス駆動回路120からのバイアス電圧が第一アクチュエーター116に印加されることで、ミラーギャップGmの寸法が目標値の近傍となるように、可動部112Aが大きく変位する。また、制御器140からの制御電圧が第二アクチュエーター117に印加されることで、ミラーギャップGmの寸法が目標値と一致するように、可動部112Aがフィードバック制御される。
これにより、第一反射膜114及び第二反射膜115のミラーギャップGmが、目標波長に対応した目標値となり、干渉フィルター110から目標波長の光が出力される。
図2は、本実施形態において、バイアス駆動回路120から第一アクチュエーター116に印加される第一電圧信号の信号波形の一例を示す図である。
バイアス駆動回路120は、マイコン150の制御に基づいて、第一アクチュエーター116に第一電圧信号を印加する。この第一電圧信号は、図2に示すように、第一電圧信号の印加開始タイミングから、所定時間(安定化時間ta)の経過前までの電圧遷移期間T1で、バイアス電圧Vbを超えるオーバーシュート信号を含む電圧信号である。安定化時間taの経過後の電圧維持期間T2では、第一電圧信号は、一定のバイアス電圧Vbに維持される。
ここで、最大バイアス電圧Vb_maxは、次式(1)により示す値となる。
また、マイコン150から入力されるバイアス指令信号に、最大バイアス電圧Vb_maxが含まれていてもよく、この場合、バイアス駆動回路120は、最大バイアス電圧Vb_maxに基づいてバイアス電圧Vbを設定すればよい。或いは、マイコン150から入力されるバイアス指令信号に、目標波長に対応したバイアス電圧Vbが含まれていてもよく、この場合、バイアス駆動回路120は、目標指令信号に含まれるバイアス電圧Vbを用いればよい。
また、電圧遷移期間T1での第一電圧信号の信号波形は、第二基板112の固有周期に基づいて設定され、ダイアフラム部112Bのばね性による可動部112Aの固有振動を相殺する波形となる。具体的には、干渉フィルター110の伝達関数をGとした場合に、1/Gの伝達関数となる第一電圧信号を第一アクチュエーター116に印加する。これにより、第一アクチュエーターギャップGA1が目標とする寸法Gtとなるように迅速に可動部112Aの振動を収束させることができる。
ギャップ検出部130は、第一容量電極113A及び第二容量電極113Bに電気接続されており、第一容量電極113A及び第二容量電極113Bとともに、ギャップセンサーを構成する。このギャップ検出部130は、第一容量電極113A及び第二容量電極113Bの静電容量を検出する容量検出回路である。第一容量電極113A及び第二容量電極113Bの静電容量は、ミラーギャップGmの寸法に対して反比例するので、第一容量電極113A及び第二容量電極113Bの静電容量と、ミラーギャップGmの寸法とは1対1で対応する。よって、静電容量を検出することは、第一反射膜114及び第二反射膜115の間のミラーギャップGmの寸法を検出することを意味する。また、第一反射膜114、第二反射膜115、第一電極116A、第二電極116B、第三電極117A、及び第四電極117Bの厚み、第一凹部111Aや第二凹部111Bの溝深さ、ダイアフラム部112Bの寸法やばね係数は、既知である。したがって、ミラーギャップGmの寸法を検出することで、第一アクチュエーターギャップGA1や第二アクチュエーターギャップGA2の寸法も算出可能である。
制御器140は、ギャップ検出部130及びマイコン150に接続されている。そして、制御器140は、第二アクチュエーター117に第二電圧信号を印加して、ミラーギャップGmが、目標波長に対応する寸法となるように、フィードバック制御する。つまり、制御器140は、第二電圧信号として、マイコン150から入力される目標波長を示す目標指令信号と、ギャップ検出部130から入力される検出信号との差分信号に基づいた制御電圧を第二アクチュエーター117に印加する。これにより、干渉フィルター110を透過する光の分光波長が、目標指令信号で示される目標波長となるように、ミラーギャップGmの寸法が調整される。
なお、制御器140は、第二電圧信号をアナログ信号として出力するアナログ式制御器であってもよく、第二電圧信号をデジタル信号として出力するデジタル式制御器であってもよい。デジタル式制御器を用いる場合は、制御器140がマイコン150に統合されてもよい。
マイコン150は、演算回路や記憶回路により構成され、分光装置100の全体の動作を制御する。マイコン150は、分光装置100と外部機器とを接続するインターフェイス(図示略)に接続され、外部機器からの信号を受信することも可能である。外部機器からの信号としては、例えば分光装置100により分光させる光の目標波長を指定する信号等が例示できる。なお、分光装置100が、ユーザーによる入力操作を受け付ける操作部を有する構成としてもよく、この場合、操作部からの操作信号がマイコン150に入力されるように構成する。
このマイコン150は、演算回路が記憶回路に記憶されたプログラムを読み込み実行することで、目標波長に応じたバイアス指令信号をバイアス駆動回路120に出力し、目標指令信号を制御器140に出力する。
次に、分光装置100の制御方法について説明する。
図3は、本実施形態の分光装置100の制御方法を示すフローチャートである。
分光装置100で分光処理を実施する場合、まず、マイコン150は、目標波長を設定する(ステップS1)。例えば、マイコン150は、外部機器から取得した目標波長を設定してもよく、操作部から入力された目標波長を設定してもよい。また、所定波長間隔の各波長の分光波長を設定する場合では、マイコン150は、予め設定された目標波長を設定して後述するステップS2からステップS4の処理を実施し、その後、再びステップS1に戻って、目標波長を設定して分光処理を繰り返す。これにより、所定間隔毎の各波長の光を順次出力することが可能となる。
これにより、バイアス駆動回路120は、目標指令信号を受信すると、目標波長に応じた第一電圧信号を第一アクチュエーター116に印加する(ステップS3:第一電圧印加工程)。
つまり、バイアス駆動回路120は、印加開始タイミングから、安定化時間taまでの電圧遷移期間T1において、可動部112Aの固有振動を相殺し、かつ、バイアス電圧Vbよりも大きいオーバーシュート信号を含む第一電圧信号を第一アクチュエーター116に印加する。
また、安定化時間taの経過後、バイアス駆動回路120は、電圧維持期間T2において、一定のバイアス電圧Vbが維持された第一電圧信号を第一アクチュエーター116に印加する。
また、ステップS3と同時に、制御器140は、ギャップ検出部130から入力される検出信号と目標指令信号とに基づいて、第二アクチュエーター117に第二電圧信号を印加してフィードバック制御する(ステップS4:第二電圧印加工程)。
図5は、ミラーギャップGmの変化の一例を示す図である。実線は、本実施形態の第一電圧信号を第一アクチュエーター116に印加した場合の例であり、破線は、比較例1のバイアス電圧信号を第一アクチュエーター116に印加した場合の例である。
また、応答性に最適化された制御器140を用いて、第二アクチュエーター117に印加する第二電圧信号により振動を収束させて、応答性を高めることも考えられる。しかしながら、この場合、外乱抑制性が低下する。つまり、応答性を高めるためには、ミラーギャップGmが所望の目標値となるように、制御器140は、第二アクチュエーター117に大きい静電引力を作用させて、振動をより早く収束させる必要がある。しかしながら、応答性が向上するように制御器140を最適化すると、外乱振動によって可動部112Aが僅かに振動した場合でも、第二アクチュエーター117に大きい静電引力が作用されることになる。この場合、外乱振動の収束が遅くなったり、外乱振動が収束せず発散したりすることもありうる。このため、比較例に示すバイアス電圧信号を第一アクチュエーター116に印加する場合では、応答性と外乱抑制性とを両立することが困難となる。
また、第一アクチュエーター116への第一電圧信号の印加によって、ミラーギャップGmを目標値Gmtに設定する際の応答性を向上させることができるので、第二アクチュエーター117に第二電圧信号を印加する制御器140は、外乱抑制性に最適化することができる。このため、本実施形態では、干渉フィルター110を駆動させる際の応答性と外乱抑制性とを両立させることができる。
本実施形態の分光装置100は、干渉フィルター110と、バイアス駆動回路120と、ギャップ検出部130と、制御器140とを備える。干渉フィルター110は、第一基板111と、第一基板111にギャップを介して対向する第二基板112とを備える。第一基板111は、第一容量電極113Aが表面に設けられる第一反射膜114を備え、第二基板112は、第二容量電極113Bが表面に設けられる第二反射膜115を備え、第一容量電極113Aと第二容量電極113BとがミラーギャップGmを介して対向する。そして、ギャップ検出部130は、第一容量電極113Aと第二容量電極113Bとの静電容量に応じたミラーギャップGmの寸法を検出する。
また、干渉フィルター110は、第一アクチュエーター116と、第二アクチュエーター117とを備える。第一アクチュエーター116は、バイアス駆動回路120に接続されて第一電圧信号が入力される。第二アクチュエーター117は、制御器140に接続されて第二電圧信号が入力される。
バイアス駆動回路120は、第一電圧信号として、印加開始タイミングから安定化時間taが経過する前までの電圧遷移期間T1において、バイアス電圧Vbよりも大きいオーバーシュート信号が含まれ、安定化時間taが経過した後の電圧維持期間T2において、一定のバイアス電圧Vbを維持する電圧信号を出力する。また、制御器140は、第二電圧信号として、ギャップ検出部130により検出される検出値が、目標波長に対応した目標値に近づくようにフィードバック制御される電圧信号を出力する。
このような構成では、第一基板111及び第二基板112の互いに対向する面に、電極を形成するだけの簡素な構成でアクチュエーターを構成することができ、干渉フィルター110の構成の簡略化を図れる。また、静電アクチュエーターでは、電極間のギャップの寸法に対して静電引力が反比例するため、第一基板111と第二基板112との間の寸法が小さくなるほど、制御が困難となる。これに対して、本実施形態では、第一アクチュエーター116にバイアス電圧を含む第一電圧信号を印加し、第二アクチュエーター117に制御電圧を含む第二電圧信号を印加することで、高精度に、第一基板111と第二基板112との間の寸法を制御することができる。
式(1)で示される最大バイアス電圧Vb_maxは、干渉フィルター110から目標波長の光を出力させる場合に、第一アクチュエーター116のみによってミラーギャップGmを目標波長に応じた寸法に設定する電圧である。したがって、バイアス電圧VbをVb<Vb_maxとすることで、第一アクチュエーター116は、ミラーギャップGmが目標波長に応じた目標値近くとなるように、可動部112Aを大きく変位させることができ、第二アクチュエーター117により、ミラーギャップGmの微調整を行うことができ、ミラーギャップGmを高精度に目標波長に応じた目標値Gmtに設定することができる。
これにより、オーバーシュート信号が第一アクチュエーター116に印加されることで、可動部112Aが振動した場合でも、その振動を抑制するように第一アクチュエーター116での静電引力が制御される。これにより、分光装置100の応答性をより向上させることができ、干渉フィルター110から迅速に所望の目標波長の光を透過させることができる。
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
上記実施形態では、第一電圧信号として、図2に示すようなアナログ信号を例示したが、これに限定されない。
図6は、変形例1に係る第一電圧信号の信号波形の一例を示す図である。バイアス駆動回路120は、第一電圧信号として、図6に示すようなデジタル信号(矩形波)を出力してもよい。この場合でも、上記実施形態と同様、分光装置100の応答性と外乱抑制性とを両立させることが可能となる。
上記実施形態では、第一アクチュエーター116及び第二アクチュエーター117として静電アクチュエーターを例示したが、これに限定されない。例えば、第一アクチュエーター116及び第二アクチュエーター117は、圧電体に対して電圧を印加することで、圧電体を変位させて、第一部材である第一基板111と、第二部材である第二基板112とのギャップを変化させる構成としてもよい。その他、モーターの駆動力を用いて、ギャップを変化させる構成としてもよく、空気圧等の流体圧力を利用してギャップを変化させる構成などとしてもよい。
上記実施形態では、バイアス駆動回路120が、第一アクチュエーター116に第一電圧信号を印加すると同時に、制御器140によるギャップ検出部130の検出値に基づいたフィードバック制御を実施する例を示したが、これに限定されない。例えば、制御器140は、安定化時間taの経過後、電圧維持期間T2において、第二アクチュエーター117に第二電圧信号を印加してもよい。
上記実施形態では、アクチュエーター駆動装置として、分光装置100を例示したが、これに限定されない。
アクチュエーター駆動装置としては、ギャップを介して対向配置される第一部材及び第二部材を有し、第一アクチュエーター及び第二アクチュエーターにより、ギャップの寸法を変更するいかなる装置に対しても適用することができる。
このようなアクチュエーター駆動装置としては、例えば、ミラーデバイス等のMEMS素子や、ハードディスクドライブ等が例示できる。
本発明をミラーデバイスに適用する場合、ミラーデバイスは、第一部材である基板と、第二部材であるミラー部とが、ギャップを介して対向配置される構成とする、また、ミラーデバイスに、基板とミラー部とのギャップを検出するギャップセンサー、基板とミラー部とのギャップを変化させる第一アクチュエーター及び第二アクチュエーターを設ける。そして、基板とミラー部とのギャップ寸法を所望の目標値に設定する際に、第一アクチュエーターに、電圧遷移期間T1において、オーバーシュート電圧を含み、電圧維持期間T2において、一定のバイアス電圧となる第一電圧信号を印加する。また、第二アクチュエーターに、ギャップセンサーによる検出値と目標値との差分に基づいた第二電圧信号を印加して、フィードバック制御を行う。これにより、ミラーデバイスにおける応答性と外乱抑制性との両立を図ることができる。
また、本発明をハードディスクドライブに適用する場合では、ハードディスクドライブが、第一部材である磁気ディスクと、第二部材である磁気ヘッドと、磁気ディスク及び磁器ヘッドの間の寸法を変化させる第一アクチュエーター及び第二アクチュエーターと、磁気ディスク及び磁気ヘッドのギャップを検出するギャップセンサーとを備える構成とする。そして、第一アクチュエーターに第一電圧信号を印加し、第二アクチュエーターにギャップセンサーの検出値に基づいたフィードバック制御電圧である第二電圧信号を印加する。これにより、ハードディスクドライブにおける応答性と外乱抑制性との両立を図ることができる。
第一態様に係るアクチュエーター駆動装置は、第一部材と、前記第一部材にギャップを介して対向する第二部材と、前記ギャップの寸法を検出するギャップセンサーと、第一電圧信号が入力されることで、前記ギャップの寸法を変化させる第一アクチュエーターと、第二電圧信号が入力されることで、前記ギャップの寸法を変化させる第二アクチュエーターと、を備え、前記第一電圧信号は、所定時間の経過後に一定のバイアス電圧となり、かつ、前記所定時間の経過前に、前記バイアス電圧よりも大きいオーバーシュート信号が含まれる電圧信号であり、前記第二電圧信号は、前記ギャップセンサーにより検出される検出値が目標値に近づくようにフィードバック制御される電圧信号であることを特徴とする。
本態様では、アクチュエーター駆動装置を、ファブリーペローエタロン素子(干渉フィルター)として機能させることができる。このようなファブリーペローエタロン素子では、入射光から目標波長の光を透過又は反射させるために、第一反射膜及び第二反射膜の間のギャップを高精度に制御する必要があり、外乱振動よりギャップの変動も抑える必要がある。これに対して、本態様では、ファブリーペローエタロン素子の反射膜間のギャップを高い応答性で精度よく制御することができ、かつ、外乱抑制性も高めることができる。
これにより、第一態様と同様、第一アクチュエーターにオーバーシュート信号を含む第一電圧信号が印加されることで、第一部材と第二部材とのギャップの寸法を迅速に目標値に近づけることができ、応答性を向上させることができる。また、第一アクチュエーターへの第一電圧信号の印加により応答性を向上させることができるので、第二アクチュエーターに印加される第二電圧信号を、外乱抑制性に最適化した電圧信号とすることができる。これにより、アクチュエーター駆動装置の応答性と外乱抑制性を両立させることができる。
Claims (6)
- 第一部材と、
前記第一部材にギャップを介して対向する第二部材と、
前記ギャップの寸法を検出するギャップセンサーと、
第一電圧信号が入力されることで、前記ギャップの寸法を変化させる第一アクチュエーターと、
第二電圧信号が入力されることで、前記ギャップの寸法を変化させる第二アクチュエーターと、を備え、
前記第一電圧信号は、所定時間の経過後に一定のバイアス電圧となり、かつ、前記所定時間の経過前に、前記バイアス電圧よりも大きいオーバーシュート信号が含まれる電圧信号であり、
前記第二電圧信号は、前記ギャップセンサーにより検出される検出値が目標値に近づくようにフィードバック制御される電圧信号である
ことを特徴とするアクチュエーター駆動装置。 - 請求項1に記載のアクチュエーター駆動装置において、
前記第一アクチュエーターは、前記第一部材に設けられる第一電極と、前記第二部材に設けられて前記第一電極に対向する第二電極と、を備える静電アクチュエーターであり、
前記第二アクチュエーターは、前記第一部材に設けられる第三電極と、前記第二部材に設けられて前記第三電極に対向する第四電極と、を備える静電アクチュエーターであり、
前記第一アクチュエーター及び前記第二アクチュエーターは、前記第二部材を前記第一部材に向かって撓ませることで前記ギャップの寸法を変化させる
ことを特徴とするアクチュエーター駆動装置。 - 請求項2又は請求項3に記載のアクチュエーター駆動装置において、
前記所定時間の経過前に出力される前記第一電圧信号は、前記第二部材の固有周期に応じて設定された、前記第二部材の固有振動を相殺する信号波形を有する
ことを特徴とするアクチュエーター駆動装置。 - 請求項1から請求項4のいずれか1項に記載のアクチュエーター駆動装置において、
前記第一部材は、前記第二部材に対向する面に第一反射膜を備え、
前記第二部材は、前記第一部材に対向する面に、前記第一反射膜に対向する第二反射膜を備える
ことを特徴とするアクチュエーター駆動装置。 - 第一部材と、前記第一部材にギャップを介して対向する第二部材と、前記ギャップの寸法を検出するギャップセンサーと、第一電圧信号が入力されることで、前記ギャップの寸法を変化させる第一アクチュエーターと、第二電圧信号が入力されることで、前記ギャップの寸法を変化させる第二アクチュエーターと、を備えるアクチュエーター駆動装置の制御方法であって、
前記第一アクチュエーターに、前記第一電圧信号を印加する第一電圧印加工程と、
前記第二アクチュエーターに、前記第二電圧信号を印加する第二電圧印加工程と、を実施し、
前記第一電圧印加工程で印加される前記第一電圧信号は、所定時間の経過後に一定のバイアス電圧となり、かつ、前記所定時間の経過前に、前記バイアス電圧よりも大きいオーバーシュート信号が含まれる電圧信号であり、
前記第二電圧印加工程で印加される前記第二電圧信号は、前記ギャップセンサーにより検出される検出値が目標値に近づくようにフィードバック制御される電圧信号である
ことを特徴とするアクチュエーター駆動装置の制御方法。
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