JP2021053268A - X線診断装置 - Google Patents
X線診断装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2021053268A JP2021053268A JP2019181509A JP2019181509A JP2021053268A JP 2021053268 A JP2021053268 A JP 2021053268A JP 2019181509 A JP2019181509 A JP 2019181509A JP 2019181509 A JP2019181509 A JP 2019181509A JP 2021053268 A JP2021053268 A JP 2021053268A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- image
- condition
- diagnostic apparatus
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 233
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 97
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 30
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 8
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 7
- 210000003484 anatomy Anatomy 0.000 claims description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 106
- 230000008569 process Effects 0.000 description 76
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 71
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 26
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 26
- 230000003073 embolic effect Effects 0.000 description 16
- 241001669679 Eleotris Species 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 244000208734 Pisonia aculeata Species 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 6
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 5
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 4
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 4
- 230000010102 embolization Effects 0.000 description 4
- 210000004204 blood vessel Anatomy 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 3
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 3
- 238000013175 transesophageal echocardiography Methods 0.000 description 3
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 2
- 238000013527 convolutional neural network Methods 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000002091 elastography Methods 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 238000002595 magnetic resonance imaging Methods 0.000 description 2
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 description 2
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 2
- 206010002329 Aneurysm Diseases 0.000 description 1
- 238000002583 angiography Methods 0.000 description 1
- 238000013528 artificial neural network Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 239000002872 contrast media Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Ultra Sonic Daignosis Equipment (AREA)
Abstract
Description
前記高電圧発生部は、第1X線の発生に関する第1X線条件に従って高電圧を発生する。
前記判定部は、前記第1X線の発生後において、所定の条件が満たされているか否かを判定する。
前記X線条件変更部は、前記所定の条件が満たされている場合、前記第1X線より高線量な第2X線を発生させるための第2X線条件に、前記第1X線条件を変更する。
前記撮像制御部は、前記第2X線条件に従って、前記第2X線を発生させるように前記高電圧発生部を制御する。
図1は、本実施形態におけるX線診断装置1の構成の一例を示す図である。X線診断装置1は、撮像装置10、寝台装置50及びコンソール装置70を備えている。X線診断装置1には、必要に応じて、心電計30および/またはインジェクタ40が接続される。また、X線診断装置1には、ネットワークNwを介して、不図示の放射線部門情報管理システム(Radiology Information System:以下、RISと呼ぶ)、医用画像管理システム(Picture Archiving and Communication System:以下、PACSと呼ぶ)、および他のモダリティなどが適宜接続される。
(A)デバイス領域と部位領域とが重畳する旨の条件を満たす場合。
(B)コントラストがコントラスト閾値未満である旨の条件を満たす場合。
(C)移動量が移動閾値を超過している旨の条件を満たす場合。
(D)心拍数が心拍閾値を超過している旨の条件を満たす場合。
(E)カテーテルからの塞栓コイルの送出を検出した旨の条件を満たす場合。
例えば、上記場合(A),(B),(D)又は(E)に応じて、第1X線条件の線量又は第3X線条件の線量を、より高線量の第2X線条件に変更している。なお、X線条件の線量は、第3X線条件の線量<第1X線条件の線量<第2X線条件の線量、の関係がある。また例えば、上記場合(C)に応じて、短い高線量曝射間隔にX線条件を変更する。
透視の実行に先立って、入力インタフェース73を介して被検体情報およびX線条件(以下、第1X線条件と呼ぶ)などが入力される。なお、被検体情報および第1X線条件などは、ネットワークインタフェース76を介してRISから送信されてもよい。入力された被検体情報および第1X線条件は、処理回路74に出力される。このとき、処理回路74は、システム制御機能741により、被検体情報における被検体IDに対応するボリュームデータをメモリ71から読み出す。
第1X線条件に従ってX線撮像が実行され、第1X線画像が生成される。具体的には、操作者によるフットスイッチの押下により、撮像制御機能742を実現する処理回路74は、第1X線条件に従って、透視を実行するために高電圧発生装置11を制御する。高電圧発生装置11は、処理回路74による制御の下で、第1X線の発生に関する第1X線条件に従って高電圧を発生する。より詳細には、高電圧発生装置11は、第1X線条件に対応する管電圧を、第1X線条件に対応するパルス幅でX線管に印加する。また、高電圧発生装置11は、第1X線条件に対応する管電流および管電流時間積を実現するように、フィラメント電流をX線管に供給する。これらにより、X線管は、第1X線条件に対応する第1X線を発生する。
透視が終了していなければ(ステップA2のNO)、後述するステップD1の後、ステップA3の処理が実行される。押下された状態のフットスイッチが操作者による操作で解放されると、透視は終了する(ステップA2のYES)。
直前の透視により生成されたX線画像において、被検体Pに挿入されたデバイスを示すデバイス領域を検出する画像処理(以下、領域検出処理と呼ぶ)が実行される。領域検出処理は、例えば、エッジ検出、閾値を用いたセグメンテーション処理、デバイスの形状を用いたパターンマッチングなどである。
ステップA3等の後、ステップA4が実行される。
処理回路74は、判定機能745により、第1X線の発生後において、所定の条件が満たされているか否かを判定する。具体的には、所定の条件として、デバイス領域と部位領域とが重畳しているか否かが、判定機能745により判定される。より詳細には、処理回路74は、判定機能745により、投影画像におけるデバイス領域の位置を特定する。なお、投影画像におけるデバイス領域の位置の特定は、画像処理機能744により実行されてもよい。次いで、処理回路74は、投影画像上におけるデバイス領域の位置に基づいて、デバイス領域が部位領域に重畳しているか否かを判定する。部位領域とは、X線減弱係数が比較的大きい解剖学的構造に対応する部位であって、例えば、各種骨などである。デバイス領域が部位領域に重畳していなければ(ステップA4のNO)、ステップA5の処理が実行される。また、デバイス領域が部位領域に重畳していれば(ステップA4のYES)、ステップA6の処理が実行される。
透視を実行中のX線条件が、第1X線より低線量の第3X線を発生させるための第3X線条件か否かが判定される。具体的には、処理回路74は、判定機能745により、透視を実行中のX線条件が第3X線条件か否かを判定する。透視を実行中のX線条件が第3X線条件でない場合(ステップA5のNO)、透視を実行中のX線条件は第1X線条件であるため、ステップA1の処理が実行される。透視を実行中のX線条件が第3X線条件である場合(ステップA5のYES)、ステップA9の処理が実行される。
直前の透視で用いられたX線条件が、第2X線条件に変更される。例えば、処理回路74は、X線条件変更機能746により、所定の条件が満たされている場合、第1X線より高線量な第2X線を発生させるための第2X線条件に、第1X線条件を変更する。具体的には、直前の透視で用いられたX線条件が第1X線条件である場合、第1X線より高線量な第2X線をX線管で発生させるための第2X線条件に、第1X線条件は変更される。すなわち、処理回路74は、X線条件変更機能746により、デバイス領域と部位領域とが重畳していると判定された場合、第1X線条件を第2X線条件に変更する。第1X線条件と第2X線条件とは、管電圧と、管電流と、管電流時間積と、パルス幅とのうち少なくとも一つが異なる。
変更された第2X線条件に従って透視が実行され、第2X線画像が生成される。具体的には、処理回路74は、撮像制御機能742により、第2X線条件に従って高電圧発生装置11を制御する。当該制御により、高電圧発生装置11は、第2X線の発生に関する第2X線条件に従って高電圧を発生する。より詳細には、高電圧発生装置11は、第2X線条件に対応する管電圧を、第2X線条件に対応するパルス幅でX線管に印加する。また、高電圧発生装置11は、第2X線条件に対応する管電流および管電流時間積を実現するように、フィラメント電流をX線管に供給する。これらにより、X線管は、第2X線条件に対応する第2X線を発生する。第1X線より高線量な第2X線の発生により、被検体Pに対して透視が実行される。なお、処理回路74は、撮像制御機能742により、1フレーム以上に亘って第2X線を発生させるように高電圧発生装置11を制御してもよい。
ステップA7等の後、ステップA8が実行される。
第2X線の発生後において、第2X線条件が第3X線条件に変更される。具体的には、処理回路74は、X線条件変更機能746により、第2X線の発生後において、第2X線条件を第3X線条件に変更する。なお、第3X線条件は、第2X線の照射により第1X線に比べて増加した線量と、第3X線の照射により第1X線に比べて減少した線量とが均衡するように設定されてもよい。例えば、処理回路74は、第2X線の線量から第1X線の線量を差分した差分量と、第1X線の線量から第3X線の線量を差分した差分量とが均衡するように、第3X線条件を設定してもよい。
変更された第3X線条件に従って透視が実行され、第3X線画像が生成される。具体的には、処理回路74は、撮像制御機能742により、第3X線条件に従って高電圧発生装置11を制御する。当該制御により、高電圧発生装置11は、第3X線の発生に関する第3X線条件に従って高電圧を発生する。より詳細には、高電圧発生装置11は、第3X線条件に対応する管電圧を、第3X線条件に対応するパルス幅でX線管に印加する。また、高電圧発生装置11は、第3X線条件に対応する管電流および管電流時間積を実現するように、フィラメント電流をX線管に供給する。これらにより、X線管は、第3X線条件に対応する第3X線を発生する。第1X線より低線量な第3X線の発生により、被検体Pに対して透視が実行される。
本実施形態におけるX線診断装置1によれば、第1X線の発生に関する第1X線条件に従って高電圧を発生し、第1X線の発生後において所定の条件が満たされているか否かを判定し、所定の条件が満たされている場合、第1X線より高線量な第2X線を発生させるための第2X線条件に第1X線条件を変更し、第2X線条件に従って第2X線を発生させるように高電圧発生装置11を制御することができる。
本応用例は、実施形態において、第2X線画像におけるデバイス領域と非デバイス領域との間のコントラストに基づいて、第2X線の線量を所定の幅で増大させるように第2X線条件を変更するステップB10を実行する。以下、本応用例に関する透視処理について説明する。図4は、本応用例に関する透視処理の手順の一例を示すフローチャートである。図4は、図3に示すステップB10の一例としてステップB11〜B13の処理を示している。
(ステップB11)
いま、前述同様に、ステップA1〜A7等が実行され、第2X線条件に基づく透視により、第2X線画像が生成されたとする。
ステップA7の処理後、第2X線画像におけるデバイス領域と非デバイス領域との間のコントラストが計算される。具体的には、処理回路74は、画像処理機能744により、領域検出処理を用いて、第2X線画像においてデバイス領域と非デバイス領域とを検出する。なお、非デバイス領域は、デバイス領域に隣接する複数の画素であってもよい。処理回路74は、デバイス領域に含まれる複数の画素値と、非デバイス領域に含まれる複数の画素値とに基づいて、デバイス領域と非デバイス領域との間のコントラストを計算する。計算されるコントラストは、例えば、デバイス領域に含まれる全画素値の和と非デバイス領域に含まれる全画素値との差分または比など、任意に設定可能である。
計算されたコントラストと比較される閾値(以下、コントラスト閾値と呼ぶ)が、メモリ71から読み出される。処理回路74は、判定機能745により、計算されたコントラストとコントラスト閾値とを比較することにより、計算されたコントラストがコントラスト閾値より小さいか否かを判定する。計算されたコントラストがコントラスト閾値未満であれば(ステップB12のYES)、ステップB13の処理が実行される。計算されたコントラストがコントラスト閾値以上であれば(ステップB12のNO)、必要によりステップE2,D2を実行した後、ステップA8以降の処理が実行される。
第2X線条件に従って発生されるX線の線量を、所定の幅で増大させるように、第2X線条件が更新される。所定の幅とは、第2X線の線量の増分を示し、更新される第2X線条件に応じて予め設定される。具体的には、処理回路74は、X線条件変更機能746により、第2X線の線量を所定の幅で増大させたX線条件に、第2X線条件を更新する。本ステップの実行後、ステップA7の処理が実行される。すなわち、本応用例によれば、計算されたコントラストがコントラスト閾値を超えるまで、ステップB11乃至ステップB13の処理が繰り返される。
本応用例におけるX線診断装置1によれば、第2X線を検出したX線検出器13からの出力に基づいて被検体Pに関する第2X線画像を生成し、第2X線画像においてデバイス領域と非デバイス領域とを検出し、第2X線画像におけるデバイス領域と非デバイス領域との間のコントラストを計算し、計算されたコントラストと比較されるコントラスト閾値より計算されたコントラストが小さいか否かを判定し、第2X線の線量を所定の幅で増大させるように第2X線条件を更新することができる。
本変形例は、実施形態において、デバイスの移動量が閾値(以下、移動閾値と呼ぶ)を超過したことに応答して、高線量曝射間隔を短く変更するステップC10を実行する。以下、本変形例に関する透視処理について説明する。図5は、本変形例に関する透視処理の手順の一例を示すフローチャートである。図5は、図3に示すステップC10の一例としてステップC11〜C15の処理を示している。本変形例の前提条件として、透視処理の実行前において、高線量曝射間隔が予め設定されているものとする。
(ステップC11)
いま、前述同様に、ステップA1〜A3等が実行され、X線画像からデバイス領域を検出する画像処理が実行されたとする。ステップA3の後、必要により、ステップE1を実行してもよい。
決定された移動量と比較される閾値(以下、移動閾値と呼ぶ)が、メモリ71から読み出される。処理回路74は、判定機能745により、決定された移動量と移動閾値とを比較することにより、決定された移動量が移動閾値より小さいか否かを判定する。決定された移動量が移動閾値を超過すれば(ステップC12のYES)、ステップC13の処理が実行される。決定された移動量が移動閾値以下であれば(ステップC12のNO)、ステップC15の処理が実行される。
高線量曝射間隔が短く変更される。具体的には、移動量が移動閾値を超えていると判定された場合、処理回路74は、X線条件変更機能746により、第2X線を発生させる高線量曝射間隔を、予め設定された高線量曝射間隔より短く変更する。ステップC13の処理後にステップA4以降の処理が実行される。
高線量曝射間隔が短く変更されているか否かが、判定される。具体的には、処理回路74は、判定機能745により、高線量曝射間隔が短く変更されているか否かを判定する。高線量曝射間隔が短く変更されている場合(ステップC14のYES)、ステップC15の処理が実行される。高線量曝射間隔が短く変更されていない場合(ステップC14のNO)、ステップA5以降の処理が実行される。
高線量曝射間隔が、変更前の高線量曝射間隔に変更される。具体的には、処理回路74は、X線条件変更機能746により、変更された高線量曝射間隔を、予め設定された高線量曝射間隔に変更する。ステップC15の処理の後に、ステップA4以降の処理が実行される。
本変形例におけるX線診断装置1によれば、第1X線を検出したX線検出器13からの出力に基づいて被検体Pに関する第1X線画像を生成し、第1X線画像においてデバイスを示すデバイス領域を検出し、時系列に沿った2つのデバイス領域に基づいてデバイスの移動量を決定し、デバイスの移動量の閾値を示す移動閾値を移動量が超えているか否かを判定し、デバイスの移動量が移動閾値を超えていると判定された場合、第2X線を発生させる間隔を、操作者により設定された時間間隔または予め設定された時間間隔より短く変更することができる。
本変形例は、実施形態において、被検体Pの心拍数が心拍数の閾値(以下、心拍閾値と呼ぶ)を超過したことに応答して、X線条件を変更するためのステップD1,D2を実行する。心拍閾値は、予めメモリ71に記憶される。以下、本変形例に関する透視処理について説明する。図6は、本変形例に関する透視処理の手順の一例を示すフローチャートである。図6は、図3に示す心拍数に関するステップD1,D2と、X線条件に関するステップA1,A5〜A9とを視認し易く示している。具体的には図6は、ステップD1,D2を破線で囲む一方、ステップA3、E1、C10、A4、B10、E2の記載を簡略に示している。
いま、前述同様に、ステップA1〜A2が実行され、第1X線画像が生成されて透視が継続中であるとする(ステップA2のNO)。
ステップA2のNOの後、被検体Pの心拍数が心拍閾値を超過しているか否かが判定される。具体的には、処理回路74は、判定機能745により、所定の条件として、心電計30から取得された被検体Pの心拍数が心拍閾値を超過しているか否かを判定する。被検体Pの心拍数が心拍閾値を超過していない場合(ステップD1のNO)、ステップA5の処理が実行される。被検体Pの心拍数が心拍閾値を超過している場合(ステップD1のYES)、ステップA6等の処理が実行され、次いでステップA7等の処理が実行される。図6に示すステップA7等の後、ステップD2の処理が実行される。
心拍数が心拍閾値未満であるか否かが判定される。具体的には、処理回路74は、判定機能745により、心電計30から取得された被検体Pの心拍数が心拍閾値以下であるか否かを判定する。被検体Pの心拍数が心拍閾値以下でない場合(ステップD2のNO)、図6に示すステップA6等の処理が実行される。被検体Pの心拍数が心拍閾値以下である場合(ステップD2のYES)、ステップA8以降の処理が実行される。
本変形例におけるX線診断装置1によれば、所定の条件として、被検体Pの心拍数の閾値を示す心拍閾値を心電計30から取得された被検体Pの心拍数が超えているか否かを判定し、被検体Pの心拍数が心拍閾値を超えている場合、第1X線条件を第2X線条件に変更することができる。これにより、本X線診断装置1によれば、例えば、ラピッドペーシングを実行時におけるステント留置において、ステントSTの視認性を向上させることができ、透視におけるスループットを向上させることができる。
本変形例は、実施形態において、カテーテルから塞栓術に用いられるコイル(以下、塞栓コイルとも呼ぶ)などの構造物が送出されたときに第1X線条件を第2X線条件に変更し、塞栓コイルが送出されている間において第2X線を用いて透視を実行するためのステップE1,E2を実行する。以下、本変形例に関する透視処理について説明する。図11は、本変形例に関する透視処理の手順の一例を示すフローチャートである。図11は、図3に示す塞栓コイルに関するステップE1,E2と、X線条件などに関するステップA1,A3,A5〜A9とを視認し易く示している。具体的には図11は、ステップE1,E2を破線で囲む一方、ステップA2、D1、C10、A4、B10、D2の記載を簡略に示している。本変形例におけるデバイスは、説明を具体的にするためにカテーテルであるものとする。
(ステップE1)
いま、前述同様に、ステップA1〜A3等が実行され、X線画像からデバイス領域を検出する画像処理が実行されたとする。
ステップA3等の処理後、直前の透視により生成されたX線画像において、カテーテルから塞栓コイルが送出されたか否かが検出される。具体的には、処理回路74は、画像処理機能744により、第1X線画像または第3X線画像においてカテーテルから塞栓コイルが送出されたか否かを検出する。カテーテルから塞栓コイルが送出されたことは、領域検出処理により、塞栓コイルを検出することに相当する。
第2X線画像において、カテーテルからの塞栓コイルの切り離しが検出されたか否かが判定される。具体的には、処理回路74は、画像処理機能744により、第2X線画像においてカテーテルから塞栓コイルが切り離されたか否かを、領域検出機能により検出する。なお、カテーテルからの塞栓コイルの切り離しの検出は、処理回路74における判定機能745により実行されてもよい。処理回路74は、判定機能745により、カテーテルからの塞栓コイルの切り離しの有無を判定する。塞栓コイルの切り離しがあると判定された場合(ステップE2のYES)、ステップA8等の処理が実行される。塞栓コイルの切り離しが無いと判定された場合(ステップE1のNO)、ステップA7の処理が実行される。
本変形例におけるX線診断装置1によれば、第1X線を検出したX線検出器13からの出力に基づいて第1X線画像を生成し、第2X線を検出したX線検出器13からの出力に基づいて第2X線画像を生成し、第1X線画像においてデバイスからのコイルの送出を検出し、第2X線画像においてデバイスからのコイルの切り離しを検出し、所定の条件として送出の有無を判定し、切り離しの有無を判定し、送出を検出したとき第1X線条件を第2X線条件に変更し、切り離しを検出したとき第1X線より低線量の第3X線を発生させるための第3X線条件に第2X線条件を変更することができる。
本応用例と実施形態との相違は、透視の実行中において被検体Pに対する超音波の送受信により生成された超音波画像がディスプレイ72に表示された場合、第1X線条件を第3X線条件に変更し、超音波画像がディスプレイ72に表示されている間、第3X線を発生することにある。以下、本応用例に関する透視処理について説明する。図12は、本応用例に関する医用画像診断システム2の構成の一例を示す図である。図1と図12との相違は、ネットワークインタフェース76を介して本X線診断装置1と超音波診断装置80とが接続されていることにある。なお、医用画像診断システム2において、心電計30およびインジェクタ40は、本医用画像診断システム2の構成に含まれなくてもよい。医用画像診断システム2は、超音波診断装置80と実施形態において説明されたX線診断装置1とを有する。
いま、前述同様に、ステップA1〜A2が実行され、第1X線画像が生成されて透視が継続中であるとする。
ステップA2の処理の後までの間に超音波プローブを介して被検体Pに対して超音波の送受信が行われていれば、超音波診断装置80は、超音波画像を生成し、生成された超音波画像をX線診断装置1に送信する。このとき、処理回路74は、システム制御機能741により、超音波画像を、第1X線画像とともにディスプレイ72に表示する。なお、処理回路74は、超音波画像の受信後において、入力インタフェース73を介した操作者の指示の入力に応答して、超音波画像をディスプレイ72に表示してもよい。
被検体Pに対する超音波の送受信により生成された超音波画像がディスプレイ72に表示された否かが判定される。具体的には、処理回路74は、判定機能745により、超音波画像がディスプレイ72に表示されたか否かを判定する。超音波画像がディスプレイ72に表示されていれば(ステップF11のYES)、ステップF12の処理が実行される。超音波画像がディスプレイ72に表示されていなければ(ステップF11のNO)、ステップD1以降の処理が実行される。なお、処理回路74は、前述した所定の条件に基づく判定よりも優先して、ステップF11の判定を実行している。所定の条件に基づく判定とは、前述した場合(A)〜(E)に関する判定を指す。
第1X線条件が第3X線条件に変更される。具体的には、超音波画像がディスプレイ72に表示された場合、処理回路74は、X線条件変更機能746により、第1X線条件を低線量の第3X線条件に変更する。
第3X線条件に従って透視が実行され、第3X線画像が生成される。本ステップにおける処理は、ステップA9と同様のため、詳細な説明を省略する。
超音波画像がディスプレイ72に非表示であるか否かが判定される。具体的には、処理回路74は、判定機能745により、超音波画像がディスプレイ72に表示されていないか否かを判定する。超音波画像がディスプレイ72に表示されていなければ(ステップF14のYES)、ステップF15の処理が実行される。超音波画像がディスプレイ72に表示されていれば(ステップF14のNO)、ステップF13の処理が実行される。
第3X線条件が第1X線条件に変更される。具体的には、超音波画像がディスプレイ72に表示されていない場合、処理回路74は、X線条件変更機能746により、第3X線条件を第1X線条件に変更する。本ステップの後、ステップD1以降の処理が実行される。
本応用例におけるX線診断装置1によれば、第1X線を検出したX線検出器13からの出力に基づいて被検体Pに関する第1X線画像を生成し、第1X線の発生中において被検体Pに対する超音波の送受信により生成された超音波画像と第1X線画像とを表示し、所定の条件に基づく判定よりも優先して、超音波画像がディスプレイ72に表示されたか否かを判定し、超音波画像がディスプレイ72に表示された場合、第1X線より低線量の第3X線を発生させるための第3X線条件に第1X線条件を変更することができる。
2…医用画像診断システム
10…撮像装置
11…高電圧発生装置
12…X線発生部
13…X線検出器
14…Cアーム
15…支持アーム
30…心電計
40…インジェクタ
50…寝台装置
51…第2基台
52…寝台駆動装置
53…天板
54…支持フレーム
70…コンソール装置
71…メモリ
72…ディスプレイ
73…入力インタフェース
74…処理回路
76…ネットワークインタフェース
80…超音波診断装置
141…状態検出器
142…Cアーム駆動装置
151…スライドホルダ
153…吊り下げアーム
154…接続位置
155…天井旋回アーム
741…システム制御機能
742…撮像制御機能
743…画像生成機能
744…画像処理機能
745…判定機能
746…X線条件変更機能
F1(t1)…時刻t1における第1X線画像
F2(t2)…時刻t2における第2X線画像
F3(t3)…時刻t3における第3X線画像
IS1…アイソセンタ
Nw…ネットワーク
P…被検体
ST…ステント
zC1…アイソセンタ軸(第1回転軸)
zC2…第2回転軸
zC3…第3回転軸
zC4…第4回転軸
zC5…第5回転軸
Claims (16)
- 第1X線の発生に関する第1X線条件に従って高電圧を発生する高電圧発生部と、
前記第1X線の発生後において、所定の条件が満たされているか否かを判定する判定部と、
前記所定の条件が満たされている場合、前記第1X線より高線量な第2X線を発生させるための第2X線条件に、前記第1X線条件を変更するX線条件変更部と、
前記第2X線条件に従って、前記第2X線を発生させるように前記高電圧発生部を制御する撮像制御部と、
を具備するX線診断装置。 - 前記第1X線を検出したX線検出部からの出力に基づいて被検体に関する第1X線画像を生成する画像生成部と、
前記X線検出部とX線管とを対向させて支持するアームの状態を検出する状態検出部と、
前記第1X線画像においてデバイスを示すデバイス領域を検出し、前記アームの状態と前記被検体に関するボリュームデータとに基づいて前記第1X線画像に対応する投影画像を生成し、前記投影画像において解剖学的部位を示す部位領域を検出する画像処理部と、
をさらに具備し、
前記判定部は、前記所定の条件として、前記デバイス領域と前記部位領域とが重畳しているか否かを判定し、
前記X線条件変更部は、前記デバイス領域と前記部位領域とが重畳していると判定された場合、前記第1X線条件を前記第2X線条件に変更する、
請求項1に記載のX線診断装置。 - 前記画像処理部は、前記ボリュームデータとして、前記被検体に対する撮像により生成された撮像データを用いる、
請求項2に記載のX線診断装置。 - 前記第1X線を検出したX線検出部からの出力に基づいて第1X線画像を生成する画像生成部をさらに具備し、
前記判定部は、前記所定の条件として、前記第1X線画像においてデバイス領域が検出されているか否かを判定し、
前記X線条件変更部は、前記デバイス領域が検出されていないと判定された場合、前記第1X線条件を前記第2X線条件に変更する、
請求項1に記載のX線診断装置。 - 前記撮像制御部は、操作者により設定された時間間隔または予め設定された時間間隔で、前記第2X線を発生させるように前記高電圧発生部を制御する、
請求項1乃至4のうちいずれか一項に記載のX線診断装置。 - 前記第1X線を検出したX線検出部からの出力に基づいて被検体に関する第1X線画像を生成する画像生成部と、
前記第1X線画像においてデバイスを示すデバイス領域を検出し、時系列に沿った2つの前記デバイス領域に基づいて前記デバイスの移動量を決定する画像処理部と、
をさらに具備し、
前記判定部は、前記移動量の閾値を示す移動閾値を前記移動量が超えているか否かを判定し、
前記X線条件変更部は、前記移動量が前記移動閾値を超えていると判定された場合、第2X線を発生させる間隔を、操作者により設定された時間間隔または予め設定された時間間隔より短く変更する、
請求項1に記載のX線診断装置。 - 前記画像生成部は、前記第2X線を検出した前記X線検出部からの出力に基づいて前記被検体に関する第2X線画像を生成し、
前記画像処理部は、前記第2X線画像において前記デバイス領域と非デバイス領域とを検出し、前記第2X線画像における前記デバイス領域と前記非デバイス領域との間のコントラストを計算し、
前記判定部は、前記計算されたコントラストと比較されるコントラスト閾値より前記計算されたコントラストが小さいか否かを判定し、
前記X線条件変更部は、前記第2X線の線量を所定の幅で増大させるように、前記第2X線条件を更新する、
請求項2、請求項3および請求項6のうちいずれか一項に記載のX線診断装置。 - 前記第1X線画像を表示する第1ディスプレイと、
前記第2X線画像を表示する第2ディスプレイと、
をさらに具備する請求項7に記載のX線診断装置。 - 前記画像処理部は、前記第1X線画像と前記第2X線画像とに基づいて、前記第2X線画像における前記デバイス領域を強調させる、
請求項7または請求項8に記載のX線診断装置。 - 前記画像処理部は、前記第2X線画像における被検体の撮像対象部位と、前記被検体に対する手技の種別と、前記被検体が載置された天板に対する前記X線検出部の向きとのうち少なくとも一つに応じた階調処理を、前記第2X線画像に対して実行する、
請求項7乃至9のうちいずれか一項に記載のX線診断装置。 - 前記判定部は、前記所定の条件として、被検体の心拍数の閾値を示す心拍閾値を心電計から取得された前記心拍数が超えているか否かを判定し、
前記X線条件変更部は、前記心拍数が前記心拍閾値を超えている場合、前記第1X線条件を前記第2X線条件に変更する、
請求項1に記載のX線診断装置。 - 前記第1X線を検出したX線検出部からの出力に基づいて第1X線画像を生成し、前記第2X線を検出した前記X線検出部からの出力に基づいて第2X線画像を生成する画像生成部と、
前記第1X線画像においてデバイスからのコイルの送出を検出し、前記第2X線画像において前記デバイスからの前記コイルの切り離しを検出する画像処理部と、
をさらに具備し、
前記判定部は、
前記所定の条件として前記送出の有無を判定し、
前記切り離しの有無を判定し、
前記X線条件変更部は、
前記送出があると判定された場合、前記第1X線条件を前記第2X線条件に変更し、
前記切り離しを検出した場合、前記第1X線より低線量の第3X線を発生させるための第3X線条件に前記第2X線条件を変更する、
請求項1に記載のX線診断装置。 - 前記第1X線を検出したX線検出部からの出力に基づいて被検体に関する第1X線画像を生成する画像生成部と、
前記第1X線の発生中において前記被検体に対する超音波の送受信により生成された超音波画像と前記第1X線画像とを表示する表示部と、
をさらに具備し、
前記判定部は、前記所定の条件に基づく判定よりも優先して、前記超音波画像が前記表示部に表示されたか否かを判定し、
前記X線条件変更部は、前記超音波画像が前記表示部に表示された場合、前記第1X線より低線量の第3X線を発生させるための第3X線条件に前記第1X線条件を変更する、
請求項1に記載のX線診断装置。 - 前記撮像制御部は、1フレーム以上に亘って前記第2X線を発生させるように前記高電圧発生部を制御する、
請求項1乃至13のうちいずれか一項に記載のX線診断装置。 - 前記判定部は、前記所定の条件として、操作者による指示が入力されたか否かまたは予め設定されたタイミングに到達したか否かを判定し、
前記X線条件変更部は、前記指示の入力または前記タイミングの到達に応答して、前記第1X線条件を前記第2X線条件に変更する、
請求項1乃至14のうちいずれか一項に記載のX線診断装置。 - 前記X線条件変更部は、前記第2X線の発生後において、前記第1X線より低線量の第3X線を発生させるための第3X線条件に前記第2X線条件を変更し、
前記撮像制御部は、前記第2X線の発生後において、前記第3X線条件に従って、前記第3X線を発生させるように前記高電圧発生部を制御する、
請求項1乃至15のうちいずれか一項に記載のX線診断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019181509A JP7471792B2 (ja) | 2019-10-01 | 2019-10-01 | X線診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019181509A JP7471792B2 (ja) | 2019-10-01 | 2019-10-01 | X線診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021053268A true JP2021053268A (ja) | 2021-04-08 |
JP7471792B2 JP7471792B2 (ja) | 2024-04-22 |
Family
ID=75271806
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019181509A Active JP7471792B2 (ja) | 2019-10-01 | 2019-10-01 | X線診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7471792B2 (ja) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010131371A (ja) * | 2008-10-27 | 2010-06-17 | Toshiba Corp | X線診断装置および画像処理装置 |
JP2013176551A (ja) * | 2012-02-01 | 2013-09-09 | Toshiba Corp | 医用画像診断装置 |
JP2013212355A (ja) * | 2012-03-06 | 2013-10-17 | Toshiba Corp | X線画像診断装置及び制御プログラム |
JP2016146955A (ja) * | 2015-02-12 | 2016-08-18 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | X線診断装置および画像処理装置 |
US20170196531A1 (en) * | 2014-07-11 | 2017-07-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Medical imaging apparatus and method of scanning thereof |
-
2019
- 2019-10-01 JP JP2019181509A patent/JP7471792B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010131371A (ja) * | 2008-10-27 | 2010-06-17 | Toshiba Corp | X線診断装置および画像処理装置 |
JP2013176551A (ja) * | 2012-02-01 | 2013-09-09 | Toshiba Corp | 医用画像診断装置 |
JP2013212355A (ja) * | 2012-03-06 | 2013-10-17 | Toshiba Corp | X線画像診断装置及び制御プログラム |
US20170196531A1 (en) * | 2014-07-11 | 2017-07-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Medical imaging apparatus and method of scanning thereof |
JP2016146955A (ja) * | 2015-02-12 | 2016-08-18 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | X線診断装置および画像処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7471792B2 (ja) | 2024-04-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
USRE48583E1 (en) | X-ray diagnosis apparatus and image processing apparatus | |
US20070058781A1 (en) | X-ray diagnosis apparatus and method for creating image data | |
US20100202675A1 (en) | Radiation diagnostic apparatus, x-ray computed tomography apparatus, and image processing method | |
US10441239B2 (en) | X-ray diagnostic apparatus, and method of adjusting irradiation range of X-ray diagnostic apparatus | |
US9547900B2 (en) | Image processing apparatus, X-ray diagnosis apparatus, and registration method | |
JP6656807B2 (ja) | X線診断装置 | |
US20230148985A1 (en) | X-ray diagnosis apparatus and x-ray condition setting method | |
CN111000574A (zh) | 医用图像处理装置、方法、及记录介质 | |
JPH1128201A (ja) | X線ct装置 | |
US20190239859A1 (en) | Medical image diagnostic apparatus and x-ray irradiation controller | |
Schafer et al. | Technology and applications in interventional imaging: 2D X-ray radiography/fluoroscopy and 3D cone-beam CT | |
JP7471792B2 (ja) | X線診断装置 | |
JP2002238884A (ja) | X線装置の自動条件設定機構 | |
JP7118812B2 (ja) | X線診断装置 | |
US11369330B2 (en) | X-ray diagnosis apparatus | |
JP7199958B2 (ja) | アンギオct装置 | |
US20230165546A1 (en) | Medical image processing apparatus, x-ray diagnosis apparatus, and non-volatile computer-readable storage medium storing therein medical image processing program | |
US20220044811A1 (en) | Medical image diagnosis apparatus, medical information processing apparatus and medical information processing method | |
US20240127450A1 (en) | Medical image processing apparatus and non-transitory computer readable medium | |
JP7246952B2 (ja) | 医用情報処理装置、x線診断装置及びプログラム | |
JP7267727B2 (ja) | X線診断装置 | |
JP2023170584A (ja) | 医用画像処理装置及び医用画像処理方法 | |
JP2023162964A (ja) | X線診断装置、x線診断システム及び制御方法 | |
CN114617567A (zh) | X射线诊断装置 | |
US10052074B2 (en) | X-ray diagnostic apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220722 |
|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20230106 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230329 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230509 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230707 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230905 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20231027 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20231225 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20240312 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20240410 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7471792 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |