JP2021034112A - 磁気記録媒体 - Google Patents
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Abstract
走行安定性に優れており且つ全厚が薄い磁気記録媒体を提供することを目的とする
【解決手段】
本技術は、磁性層、下地層、ベース層、及びバック層を含み、前記磁性層にサーボパターンが記録されており、当該サーボパターンのサーボ信号の再生波形から得られる、サーボバンドの非直線性を示す統計値σSWが24nm以下であり、前記ベース層は、ポリエステルを主たる成分として含み、磁気記録媒体の平均厚みtTが5.6μm以下であり、前記磁気記録媒体は潤滑剤を含み、且つ前記磁気記録媒体に細孔が形成されており、前記磁気記録媒体の細孔の平均直径は、前記磁気記録媒体から潤滑剤を除去しそして乾燥した状態で測定したときに、6nm以上11nm以下である、テープ状の磁気記録媒体を提供する。
【選択図】図1
Description
前記磁性層にサーボパターンが記録されており、当該サーボパターンのサーボ信号の再生波形から得られる、サーボバンドの非直線性を示す統計値σSWが24nm以下であり、
前記ベース層は、ポリエステルを主たる成分として含み、
磁気記録媒体の平均厚みtTが5.6μm以下であり、
前記磁気記録媒体は潤滑剤を含み、且つ
前記磁気記録媒体に細孔が形成されており、当該細孔の平均直径は、前記磁気記録媒体から潤滑剤を除去しそして乾燥した状態で測定したときに、6nm以上11nm以下である、テープ状の磁気記録媒体を提供する。
前記磁気記録媒体は、垂直方向における角形比が65%以上であってよい。
前記磁気記録媒体の磁性層側表面の算術平均粗さRaが2.5nm以下であってよい。
前記磁性層の平均厚みtmが80nm以下でありうる。
本技術の好ましい実施態様に従い、前記磁気記録媒体は、
垂直方向における角形比が65%以上であり、
前記磁気記録媒体の磁性層側表面の算術平均粗さRaが2.5nm以下であり、且つ、
前記磁性層の平均厚みtmが80nm以下でありうる。
前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉が六方晶フェライト、ε酸化鉄、又はCo含有スピネルフェライトを含みうる。
前記六方晶フェライトが、Ba及びSrのうちの少なくとも1種を含み、且つ、前記ε酸化鉄が、Al及びGaのうちの少なくとも1種を含みうる。
本技術の一つの実施態様に従い、前記磁気記録媒体の長手方向に0.4Nの張力を加えた状態における前記磁気記録媒体の磁性層側表面と磁気ヘッドとの間の動摩擦係数μAと、前記磁気記録媒体の長手方向に1.2Nの張力を加えた状態における前記磁気記録媒体の磁性層側表面と磁気ヘッドとの間の動摩擦係数μBとの摩擦係数比(μB/μA)が1.0〜2.0でありうる。
本技術の一つの実施態様に従い、長手方向に0.6Nの張力を加えた状態にある前記磁気記録媒体を、磁気ヘッド上を5往復摺動させた場合の5往復目における動摩擦係数μC(5)と、当該磁気ヘッド上を1000往復させた場合の1000往復目における動摩擦係数μC(1000)との摩擦係数比(μC(1000)/μC(5))が1.0〜2.0でありうる。
前記潤滑剤は、脂肪酸及び/又は脂肪酸エステルを含みうる。
前記脂肪酸が下記一般式(1)又は(2)で示される化合物を含み、且つ、前記脂肪酸エステルが下記一般式(3)又は(4)で示される化合物を含みうる。
CH3(CH2)kCOOH ・・・(1)
(但し、前記一般式(1)において、kは14以上22以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)nCH=CH(CH2)mCOOH ・・・(2)
(但し、前記一般式(2)において、nとmとの和は12以上20以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)pCOO(CH2)qCH3 ・・・(3)
(但し、前記一般式(3)において、pは14以上22以下の範囲から選ばれる整数であり、qは2以上5以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)rCOO−(CH2)sCH(CH3)2・・・(4)
(但し、前記一般式(4)において、rは14以上22以下の範囲から選ばれる整数であり、sは1以上3以下の範囲から選ばれる整数である。)
前記磁気記録媒体は、長手方向における保磁力Hcが2000Oe以下であってよい。
前記統計値σSWは23nm以下でありうる。
前記統計値σSWは10nm以上23nm以下でありうる。
前記細孔の平均直径は6nm以上10nm以下でありうる。
前記細孔の平均直径は7nm以上9nm以下でありうる。
前記ベース層の平均厚みは4.2μm以下でありうる。
前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均アスペクト比が1.0以上3.5以下でありうる。
前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均粒子サイズが50nm以下でありうる。
また、本技術は、前記テープ状の磁気記録媒体がリールに巻き取られた状態で磁気記録カートリッジ内に収容されており、且つ、(当該磁気記録媒体の巻内側のサーボトラック幅)−(当該磁気記録媒体の巻外側のサーボトラック幅)>0μmである、磁気記録カートリッジも提供する。
1.本技術の説明
2.本技術の実施形態(塗布型の磁気記録媒体の例)
(1)磁気記録媒体の構成
(2)各層の説明
(3)物性及び構造
(4)磁気記録媒体の製造方法
(5)記録再生装置
(6)カートリッジ
(7)効果
(8)変形例
3.実施例
また、前記数値範囲内の平均直径を有する細孔は、前記潤滑剤による走行安定性を向上させるために適している。前記数値範囲内の平均直径を有する細孔によって、走行安定性を高めるために適した量の潤滑剤が磁性層側表面に現れるためであると考えられる。
また、本技術に従う磁気記録媒体の前記統計値σSWは、例えば10nm以上であり、好ましくは13nm以上であり、より好ましくは15nm以上でありうる。
本技術に従う磁気記録媒体の幅は、例えば5mm〜30mmであり、特には7mm〜25mmであり、より特には10mm〜20mm、さらにより特には11mm〜19mmでありうる。本技術に従うテープ状磁気記録媒体の長さは、例えば500m〜1500mでありうる。例えばLTO8規格に従うテープ幅は12.65mmであり、長さは960mである。
巻内側及び巻外側のサーボトラック幅の差が上記数値範囲内にあることによって、カートリッジ内のリールに巻き取られた磁気記録媒体(特には当該磁気記録媒体のうちリールにより近い部分)にしわが発生することを防ぐことができる。当該しわは、例えば巻ずれ又は走行時のトラックずれなどをもたらしうるところ、当該しわに起因するこれらの現象の発生も本技術により防ぐことができる。
長尺状の磁気記録媒体の長手方向のテンションを調整することによって当該磁気記録媒体の幅を一定又はほぼ一定に保つことができる記録再生装置は、例えばサーボトラック幅に応じて長手方向のテンションを調整する。当該装置は、例えば、サーボトラック幅が所定の幅より広い場合は長手方向のテンションを高めて、サーボトラック幅を一定に保ち、サーボトラック幅が当該所定の幅より狭い場合は長手方向のテンションを弱めて、サーボトラック幅を一定に保つ。このようにして磁気記録媒体の幅が一定に保たれる。
巻内側及び巻外側のサーボトラック幅の差が負の値であるということは、巻内側のサーボトラック幅が巻外側のサーボトラック幅よりも狭いことを意味する。当該差が負の値である場合、磁気記録媒体のうち、例えば磁気記録カートリッジのリールに接続されている端部(以下「リール接続端部」ともいう)側の半分の領域内にサーボトラック幅が最も狭い部分が存在するなど、リール接続端部に近い領域のサーボトラック幅が、その反対側の端部(以下「外側端部」ともいう)に近い領域のサーボトラック幅よりも狭くなる。そのため、磁気記録カートリッジ内のリールに磁気記録媒体を巻き取る場合に、サーボトラック幅を一定に保つために、リール接続端部に近い領域の巻き取りにおいて適用される長手方向のテンションはより弱く、外側端部に近い領域の巻き取りにおいて適用される長手方向のテンションはより強い。その結果、磁気記録媒体のうち、リール接続端部に近い領域が、外側端部に近い領域よりも弱い張力でリールに巻き取られる。このように磁気記録媒体が巻き取られると、リール接続端部に近い領域においてしわが生じる現象が発生しうる。当該しわは、例えば巻ずれ及び走行時のトラックずれなどを引き起こしうる。当該しわが生じる現象は、巻き取られた状態が短時間継続する場合は起こりにくいが、当該状態が長時間継続する場合に起こりやすい。例えば、磁気記録再生装置内のリールに磁気記録媒体が巻き取られることがあるが、当該装置内のリールに巻き取られた状態は通常は短時間しか継続しないので、当該現象は発生しない。一方で、磁気記録カートリッジ内のリールに巻き取られた状態は、当該カートリッジが長期保存される場合に特に長い時間継続する。そのため、磁気記録カートリッジ内の磁気記録媒体について、当該現象が起こりうる。
巻内側及び巻外側のサーボトラック幅の差が正の値であること(すなわち巻内側のサーボトラック幅が巻外側のサーボトラック幅よりも広いこと)により、リール接続端部に近い領域のサーボトラック幅が、外側端部に近い領域のサーボトラック幅よりも広くなる。そのため、磁気記録カートリッジ内のリールに磁気記録媒体を巻き取る場合に、サーボトラック幅を一定に保つために、リール接続端部に近い領域の巻き取りにおいて適用される長手方向のテンションがより強く、外側端部に近い領域の巻き取りにおいて適用される長手方向のテンションはより弱い。その結果、磁気記録媒体は、リール接続端部に近い領域が、外側端部に近い領域よりも強い張力でリールに巻き取られる。このように磁気記録媒体が巻き取られることで、リール接続端部に近い領域においてしわが寄る現象を防ぐことができる。
ベース層11の平均厚みは以下のようにして求められる。まず、1/2インチ幅の磁気記録媒体10を準備し、それを250mmの長さに切り出し、サンプルを作製する。続いて、サンプルのベース層11以外の層(すなわち下地層12、磁性層13及びバック層14)をMEK(メチルエチルケトン)または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ(LGH-110C)を用いて、サンプル(ベース層11)の厚みを5点以上の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均(算術平均)して、ベース層11の平均厚みを算出する。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。
この実施態様において、ベース層11は、ポリエステルに加えて、以下で述べるポリエステル以外の樹脂を含んでもよい。
本技術の好ましい実施態様に従い、ベース層11は、PET又はPENから形成されてよい。
当該細孔は、磁性層13の表面に対して垂直に開口していてよい。当該細孔は、例えば、磁気記録媒体10のバック層側表面に設けられた多数の突部を押し当てることにより形成されうる。この場合、当該細孔は、当該突部に対応するものでありうる。
なお、図1において当該細孔が符号13Aにより示されているが、図1は、本技術のより良い理解のための模式図であり、図1に示される細孔13Aの形状は、必ずしも実際の形状を示すものでない。
特に好ましくは、前記磁性層の平均厚みtmは80nm以下である。この数値範囲内の平均厚みを有することが、磁気記録媒体10の記録再生特性の向上に貢献する。
磁気記録媒体10をFIB(Focused Ion Beam)法等により加工して薄片化を行う。FIB法を使用する場合には、後述の断面のTEM像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン膜及びタングステン薄膜を形成する。当該カーボン膜は蒸着法により磁気記録媒体10の磁性層側表面及びバック層側表面に形成され、そして、当該タングステン薄膜は蒸着法又はスパッタリング法により磁性層側表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気記録媒体10の長さ方向(長手方向)に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気記録媒体10の長手方向及び厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
得られた薄片化サンプルの前記断面を、透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscope:TEM)により、下記の条件で観察し、TEM像を得る。なお、装置の種類に応じて、倍率及び加速電圧は適宜調整されてよい。
装置:TEM(日立製作所製H9000NAR)
加速電圧:300kV
倍率:100,000倍
次に、得られたTEM像を用い、磁気記録媒体10の長手方向の少なくとも10点以上の位置で磁性層13の厚みを測定する。得られた測定値を単純に平均(算術平均)して得られた平均値を磁性層13の平均厚みtm[nm]とする。なお、前記測定が行われる位置は、試験片から無作為に選ばれるものとする。
なお、磁性層13は、面内配向(長手配向)している磁性層であってもよい。すなわち、磁気記録媒体10が水平記録型の磁気記録媒体であってもよい。しかしながら、高記録密度化という点で、垂直配向がより好ましい。
なお、サーボバンドSBのサーボバンド幅WSBは、高記録容量を確保する観点から、好ましくは95μm以下、より好ましくは60μm以下、さらにより好ましくは30μm以下である。サーボバンド幅WSBは、記録ヘッド製造の観点から、好ましくは10μm以上である。
割合RS[%]=(((サーボバンド幅WSB)×(サーボバンド本数))/(磁気記録媒体10の幅))×100
図3に示されるとおり、磁性層13は4つのデータバンドd0〜d3を有する。磁性層13は、各データバンドを2つのサーボバンドで挟むように、合計で5つのサーボバンドS0〜S4を有する。
図4に示されるとおり、各サーボバンドは、所定角度φで傾斜する直線状の5本のサーボパターン(例えばサーボパターンA1〜A5)と、この信号と逆方向に同じ角度で傾斜する直線状の5本のサーボパターン(例えばサーボパターンB1〜B5)と、所定角度φで傾斜する直線状の4本のサーボパターン(例えばサーボパターンC1〜C4)と、この信号と逆方向に同じ角度で傾斜する直線状の4本のサーボパターン(例えばサーボパターンD1〜D4)と、からなるフレーム単位(1サーボフレーム)を繰り返し有する。前記所定角度φは、例えば5°〜25°であり、特には11°〜25°でありうる。
サーボバンドS0〜S4それぞれのサーボバンド幅L1(図3参照)は、例えば100μm以下、特には60μm以下、より特には50μm以下であり、さらには40μm以下であってもよい。サーボバンド幅L1は、例えば15μm以上、特には25μm以上であってよい。
磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは50nm以下、より好ましくは40nm以下、さらにより好ましくは30nm以下、25nm以下、22nm以下、21nm以下、又は20nm以下でありうる。前記平均粒子サイズは、例えば10nm以上、好ましくは12nm以上でありうる。
磁性粉の平均アスペクト比は、好ましくは1.0以上3.5以下、より好ましくは1.0以上3.1以下、さらにより好ましくは1.0以上2.8以下、特に好ましくは1.1以上2.5以下でありうる。
まず、測定対象となる磁気記録媒体10をFIB(Focused Ion Beam)法等により加工して薄片化を行う。FIB法を使用する場合には、後述の断面のTEM像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン膜及びタングステン薄膜を形成する。当該カーボン膜は蒸着法により磁気記録媒体10の磁性層側表面及びバック層側表面に形成され、そして、当該タングステン薄膜は蒸着法又はスパッタリング法により磁性層側表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気記録媒体10の長さ方向(長手方向)に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気記録媒体10の長手方向及び厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
得られた薄片サンプルの前記断面を、透過電子顕微鏡(日立ハイテクノロジーズ社製H-9500)を用いて、加速電圧:200kV、総合倍率500,000倍で磁性層13の厚み方向に対して磁性層13全体が含まれるように断面観察を行い、TEM写真を撮影する。
次に、撮影したTEM写真から、観察面の方向に側面を向けており且つ粒子の厚みが明らかに確認できる粒子を50個選び出す。例えば、図10にTEM写真の例を示す。図10において、例えばa及びdで示される粒子が、その厚みを明らかに確認できるので、選択される。選択された50個の粒子それぞれの最大板厚DAを測定する。このようにして求めた最大板厚DAを単純に平均(算術平均)して平均最大板厚DAaveを求める。
続いて、各磁性粉の板径DBを測定する。粒子の板径DBを測定するために、撮影したTEM写真から、粒子の板径が明らかに確認できる粒子を50個選び出す。例えば、図10において、例えばb及びcで示される粒子が、その板径を明らかに確認できるので、選択される。選択された50個の粒子それぞれの板径DBを測定する。このようにして求めた板径DBを単純平均(算術平均)して平均板径DBaveを求める。平均板径DBaveが、平均粒子サイズである。
そして、平均最大板厚DAave及び平均板径DBaveから粒子の平均アスペクト比(DBave/DAave)を求める。
磁性粉の平均粒子体積が上記上限値以下である場合(例えば5900nm3以下である場合)、高記録密度の磁気記録媒体10において、良好な電磁変換特性(例えばC/N)を得ることができる。磁性粉の平均粒子体積が上記下限値以上である場合(例えば500nm3以上である場合)、磁性粉の分散性がより向上し、より優れた電磁変換特性(例えばC/N)を得ることができる。
また、磁気記録媒体10の厚み方向(垂直方向)に測定した保磁力Hcが、好ましくは160kA/m以上280kA/m以下、より好ましくは165kA/m以上275kA/m以下、更により好ましくは170kA/m以上270kA/m以下である。
具体的には、添加剤を含むε酸化鉄は、ε−Fe2−xMxO3結晶(ここで、Mは鉄以外の金属元素、好ましくは3価の金属元素、より好ましくは、Al、Ga、及びInからなる群より選ばれる1種以上である。xは、例えば0<x<1である。)である。
得られた薄片サンプルの前記断面を、透過電子顕微鏡(日立ハイテクノロジーズ社製H-9500)を用いて、加速電圧:200kV、総合倍率500,000倍で磁性層13の厚み方向に対して磁性層13全体が含まれるように断面観察を行い、TEM写真を撮影する。
次に、撮影したTEM写真から、粒子の形状を明らかに確認することができる50個の粒子を選び出し、各粒子の長軸長DLと短軸長DSを測定する。ここで、長軸長DLとは、各粒子の輪郭に接するように、あらゆる角度から引いた2本の平行線間の距離のうち最大のもの(いわゆる最大フェレ径)を意味する。一方、短軸長DSとは、粒子の長軸(DL)と直交する方向における粒子の長さのうち最大のものを意味する。
続いて、測定した50個の粒子の長軸長DLを単純に平均(算術平均)して平均長軸長DLaveを求める。このようにして求めた平均長軸長DLaveを磁性粉の平均粒子サイズとする。また、測定した50個の粒子の短軸長DSを単純に平均(算術平均)して平均短軸長DSaveを求める。そして、平均長軸長DLaveおよび平均短軸長DSaveから粒子の平均アスペクト比(DLave/DSave)を求める。
V=(π/6)×DLave 3
磁気記録媒体10をFIB(Focused Ion Beam)法等により加工して薄片化を行う。FIB法を使用する場合には、後述の断面のTEM像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン膜及びタングステン薄膜を形成する。当該カーボン膜は蒸着法により磁気記録媒体10の磁性層側表面及びバック層側表面に形成され、そして、当該タングステン薄膜は蒸着法又はスパッタリング法により磁性層側表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気記録媒体10の長さ方向(長手方向)に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気記録媒体10の長手方向及び厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
得られた薄片サンプルを透過電子顕微鏡(日立ハイテクノロジーズ社製H-9500)を用いて、加速電圧:200kV、総合倍率500,000倍で磁性層13の厚み方向に対して磁性層13全体が含まれるように断面観察を行い、TEM写真を得る。なお、装置の種類に応じて、倍率及び加速電圧は適宜調整されてよい。
次に、撮影したTEM写真から粒子の形状が明らかである50個の粒子を選び出し、各粒子の辺の長さDCを測定する。続いて、測定した50個の粒子の辺の長さDCを単純に平均(算術平均)して平均辺長DCaveを求める。次に、平均辺長DCaveを用いて以下の式から磁性粉の平均体積Vave(粒子体積)を求める。
Vave=DCave 3
CoxMyFe2Oz・・・(1)
(但し、式(1)中、Mは、例えば、Ni、Mn、Al、Cu、及びZnからなる群より選ばれる1種以上の金属である。xは、0.4≦x≦1.0の範囲内の値である。yは、0≦y≦0.3の範囲内の値である。但し、x及びyは(x+y)≦1.0の関係を満たす。zは3≦z≦4の範囲内の値である。Feの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。)
また、前記脂肪酸エステルは、好ましくは下記一般式(3)又は(4)により示される化合物であってよい。例えば、前記脂肪酸エステルとして下記の一般式(3)により示される化合物及び一般式(4)により示される化合物の一方が含まれていてよく又は両方が含まれていてもよい。
前記潤滑剤が、一般式(1)に示される化合物及び一般式(2)に示される化合物のいずれか一方若しくは両方と、一般式(3)に示される化合物及び一般式(4)に示される化合物のいずれか一方若しくは両方と、を含むことによって、磁気記録媒体を繰り返しの記録又は再生による動摩擦係数の増加を抑制することができる。
CH3(CH2)kCOOH ・・・(1)
(但し、前記一般式(1)において、kは14以上22以下の範囲、より好ましくは14以上18以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)nCH=CH(CH2)mCOOH ・・・(2)
(但し、前記一般式(2)において、nとmとの和は12以上20以下の範囲、より好ましくは14以上18以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)pCOO(CH2)qCH3 ・・・(3)
(但し、前記一般式(3)において、pは14以上22以下、より好ましくは14以上18以下の範囲から選ばれる整数であり、且つ、qは2以上5以下の範囲、より好ましくは2以上4以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)rCOO−(CH2)sCH(CH3)2・・・(4)
(但し、前記一般式(4)において、rは14以上22以下の範囲から選ばれる整数であり、sは1以上3以下の範囲から選ばれる整数である。)
また、磁性層形成用塗料の乾燥工程で溶剤が揮発することに伴い細孔が形成されてもよい。また、磁性層13を形成するために磁性層形成用塗料を下地層12の表面に塗布した際に磁性層形成用塗料中の溶剤が下層を塗布乾燥させた際に形成された下地層12の細孔を通り、下地層12内に浸透しうる。そののち磁性層13の乾燥工程において下地層12内に浸透した溶剤が揮発する際に、下地層12内に浸透した溶剤が下地層12から磁性層13の表面へ移動していくことによって細孔が形成されてもよい。このように形成された細孔は、例えば磁性層13と下地層12とを連通しているものでありうる。磁性層形成用塗料の固形分若しくは溶剤の種類及び/又は磁性層形成用塗料の乾燥条件を変更することによって、細孔の平均直径を調整することが出来る。
磁性層13及び下地層12の両方に細孔が形成されていることによって、走行安定性の向上のために適した量の潤滑剤が、磁性層側表面に現れると考えられる。
tb[μm]=tT[μm]−tB[μm]
まず、面積0.1265m2より1割程度大きいサイズの磁気記録媒体10をヘキサン中(テープが十分に浸漬できる量、例えば、150mL)に24時間浸したのち、自然乾燥させ、面積0.1265m2(例えば、乾燥後のテープの両端50cmを切り落とし、テープ幅×10mを準備する。)のサイズに切り出すことにより、測定サンプルを作製する。前記ヘキサン中での24時間の浸漬によって、潤滑剤が磁気記録媒体10から除去され、そして、前記自然乾燥によって、磁気記録媒体10が乾燥される。
次に、比表面積・細孔分布測定装置を用いて、BJH法により細孔の平均直径が測定される。以下に、測定装置および測定条件を示す。このようにして、細孔の平均直径が測定される。
測定環境:室温
測定装置:Micromeritics社製3FLEX
測定吸着質:N2ガス
測定圧力範囲(P/P0):0〜0.995
前記測定圧力範囲に関して、圧力は以下の表の通りに変化される。以下の表における圧力値は相対圧P/P0である。以下の表において、例えばステップ1において、開始圧0.000から到達圧0.010へ、10秒当たり0.001変化するように、圧力が変化される。圧力が到達圧に達したら、次のステップにおける圧力変化が行われる。ステップ2〜10においても同様である。ただし、各ステップにおいて、圧力が平衡に達していない場合は、装置は圧力が平衡になるのを待ってから次のステップに移行する。
サーボバンドの非直線性を示す統計値σSWは、磁気記録媒体10の磁性層13の表面に記録されたサーボパターンを読み取るための磁気ヘッドを備えているテープ走行装置(Tape Transportation (Mountain Engineering II, Inc.))を用いて測定される。当該磁気ヘッドは、市販入手可能なLTO8フルハイトドライブに採用されているものであってよい。当該磁気ヘッドは、当該テープ走行装置に固定された状態で用いられる。
図11は、当該磁気ヘッドユニットの模式図である。図11に示されるヘッドユニット300は、磁気記録媒体10の長手方向に沿って並べて配置される3つのヘッド部300A、300B、及び300Cを有する。
ヘッド部300Aは、2つのサーボヘッド320A1及び320A2並びに複数の記録ヘッド340を有する。ヘッド部300A中のエリプシス様の点は、記録ヘッド340が並んでいることを意味する。
ヘッド部300Bは、2つのサーボヘッド320B1及び320B2並びに複数の再生ヘッド350を有する。ヘッド部300B中のエリプシス様の点は、再生ヘッド350が並んでいることを意味する。
ヘッド部300Cは、2つのサーボヘッド320C1及び320C2並びに複数の記録ヘッド340を有する。ヘッド部300C中のエリプシス様の点は、記録ヘッド340が並んでいることを意味する。
前記統計値σSWを得るために用いられる前記2つの読み取り素子は、ヘッド部300Aに含まれるサーボヘッド320A1及びヘッド部300Bに含まれるサーボヘッド320B1のみである。他のサーボヘッドは用いられない。
以下で、当該2つの読み取り素子のうち、巻き出し側の読み取り素子(サーボヘッド320A1)を読み取り素子aといい、巻取り側の読み取り素子(サーボヘッド320B1)を読み取り素子bともいう。
相対差pは、以下の計算式により算出される。
相対差pの上記計算式について、図4を参照しながら以下で説明する。
上記計算式中の上記差分(Ba1−Aa1)は、ストライプB1が読み取り素子aによって読み取られた時間とストライプA1が読み取り素子aによって読み取られた時間との間の差[sec]であり、ストライプA1に起因する信号ピークとストライプB1に起因する信号ピークとの間の間隔及びテープ走行速度(m/s)から求められる。当該2つの信号ピーク間の間隔は、前記得られたサーボ信号の再生波形の形状から求められる。前記差分(Ba1−Aa1)は、読み取り素子のサーボパターン上の実際の走行位置(図4におけるactual pass)における、両ストライプが読み取られるタイミングの差に相当する。同様に、他の差分の項も、対応する2つのストライプに起因する信号ピークの間隔とテープ走行速度とから求められる。また、読み取り素子bによって得られた信号ピークに基づき、同様に相対差pが算出される。
前記サーボパターンそのものの形状から、上記計算式中のアジマス角φが求められる。アジマス角φは、磁気記録媒体10をフェリコロイド現像液(株式会社シグマハイケミカル製、シグマ―カーQ)で現像し、万能工具顕微鏡(TOPCON TUM-220ES)及びデータ処理装置(TOPCON CA-1B)を用いて求められる。
また、前記サーボパターンそのものの形状から、サーボバンドの中心(図4におけるcenter line)におけるストライプA1とストライプB1との距離(図4及び上記計算式におけるX)及びストライプA1とストライプC1との距離(図4及び上記計算式におけるY)が求められる。テープ長さ方向の任意の箇所において、50個のサーボフレームを選択し、各々のサーボフレームにおいてX及びYを求め、50個のデータを単純平均したものを、上記計算式において用いるX及びYとする。
読み取り素子aにより読み取られたサーボ信号に基づき算出された1024個の相対差pを、pa0、pa1、・・・、及びpa1023という。読み取り素子bにより読み取られたサーボ信号に基づき算出された1024個の相対差pを、pb0、pb1、・・・、及びpb1023という。
当該磁気ヘッドに対する磁気記録媒体10の幅方向の動きによる影響を除去するために、各位置 n における pa と pb の差を演算し、Δp とする。すなわち、Δpn= pan−pbn である。ここで、n = 0、1、・・・、及び1023である。
得られたΔpnに対し、離散FFT (フーリエ変換) を行い、ΔPn(n = 0…1023)、すなわちΔP(f)(ここで、f =波数 [cycle/m] である)を得る。
ここで、ΔPnのDC成分 (i.e. n = 0)、換言すればΔP(∞)、を除去する為に、ΔP0を例えば10-100など、粗0に近い数値に置換する。
また、ΔP(f)の単位が[nm2/Hz]となる様に前記FFTを行うものとする。
ΔP(f)を得るプロセスを、磁気記録媒体10の長手方向500m以上に渡って繰り返し、ΔP(f)1…ΔP(f)mを得る。
測定ノイズを除去する為、ΔP(f)1…ΔP(f)mを周波数軸上で平均化し、ΔP(f)aveを得る。
この後、上記の変位差の、実際のドライブ中での挙動WIP(f)を見積る為、ΔP(f)aveに対し、一般的な2次閉ループ応答のフィルターCLF(f) を作用させる。即ち、WIP(f) = |CLF(f)|2*ΔP(f)aveである。CLF(f) については後述する。
上記WIP(f) を用い、下記式(1)の演算を行う事で、σSWを得る。下記演算におけるdfについても後述する。
双一次Z変換を用いることによって、CLF(z) は下式(3)で表すことができる。
z = ejωTs、及び、ω= 2πf の関係から、CLF(f)は下式(4)で表すことができる。
以上の式中の各項の意味はそれぞれ以下のとおりである。
先ず、図7(a)に示すように、1/2インチ幅の磁気記録媒体10を、互いに離間して平行に配置された1インチ径の円柱状の2本のガイドロール73−1及び73−2に磁性面が接触するように載せる。2本のガイドロール73−1及び73−2は、硬い板状部材76に固定されており、これにより互いの位置関係が固定されている。
次いで、LTO5ドライブに搭載されているヘッドブロック(記録再生用)74に対し、磁気記録媒体10を、磁性面が接触するように且つ抱き角θ1(°)=5.6°となるように接触させる。ヘッドブロック74は、ガイドロール73−1及び73−2の略中心に配置される。ヘッドブロック74は、抱き角θ1を変更することができるように、板状部材76に移動可能に取り付けられているが、抱き角θ1(°)が5.6°となったらその位置が板状部材76に対して固定され、これにより、ガイドロール73−1及び73−2とヘッドブロック74との位置関係も固定される。
磁気記録媒体10の一端を、ジグ72を介して可動式ストレインゲージ71と繋ぐ。磁気記録媒体10は、図7(b)に示されるとおりにジグ72に固定される。
磁気記録媒体10の他端に錘75を繋ぐ。錘75によって、0.4Nのテンション(T0[N])が磁気記録媒体10の長手方向に付与される。
可動式ストレインゲージ71は、台77上に固定されている。台77と板状部材76の位置関係も固定されており、これにより、ガイドロール73−1及び73−2、ヘッドブロック74、及び可動式ストレインゲージ71の位置関係が固定されている。
可動式ストレインゲージ71によって、磁気記録媒体10が10mm/sにて可動式ストレインゲージ71へ向かうように、磁気記録媒体10をヘッドブロック74上を60mm摺動させる。当該摺動時の可動式ストレインゲージ71の出力値(電圧)を、事前に取得されている出力値と荷重との直線関係(後述する)に基づき、T[N]に変換する。前記60mmの摺動の摺動開始から摺動停止までの間に、13回T[N]を取得し、最初と最後の計2回を除いた11個のT[N]を単純平均することによって、Tave[N]が得られる。
その後、以下の式より動摩擦係数μAを求める。
前記直線関係は以下のとおりに得られる。すなわち、可動式ストレインゲージ71に0.4Nの荷重をかけた場合と1.5Nの荷重をかけた場合のそれぞれについて、可動式ストレインゲージ71の出力値(電圧)を得る。得られた2つの出力値と前記2つの荷重とから、出力値と荷重との直線関係が得られる。当該直線関係を用いて、上記のとおり、摺動時の可動式ストレインゲージ71による出力値(電圧)がT[N]に変換される。
以上のとおりにして測定された動摩擦係数μA及び動摩擦係数μBから、摩擦係数比(μB/μA)が算出される。
磁気記録媒体10の前記他端に付与されるテンションT0[N]を0.6Nとすること以外は動摩擦係数μAの測定方法と同じようにして、磁気記録媒体10を可動式ストレインゲージ71と繋ぐ。そして、磁気記録媒体10を、ヘッドブロック74に対して10mm/sにて可動式ストレインゲージへ向かって60mm摺動させ(往路)及び可動式ストレインゲージから離れるように60mm摺動させる(復路)。この往復動作を1000回繰り返す。この1000回の往復動作のうち、5回目の往路の60mmの摺動の摺動開始から摺動停止までの間に、ストレインゲージの出力値(電圧)を13回取得し、動摩擦係数μAに関して述べたとおりに求めた出力値と荷重との直線関係に基づき、T[N]に変換する。最初と最後の計2回を除いた11個を単純平均することによりTave[N]を求める。以下の式により、動摩擦係数μC(5)を求める。
さらに、動摩擦係数μC(1000)は、1000回目の往路の測定をすること以外は動摩擦係数μC(5)と同様にして求める。
以上のとおりにして測定された動摩擦係数μC(5)及び動摩擦係数μC(1000)から、摩擦係数比μC(1000)/μC(5)が算出される。
本明細書内において、磁気記録媒体が垂直配向しているとは、磁気記録媒体の角形比S2が上記数値範囲内にあること(例えば65%以上であること)を意味してもよい。
測定サンプル(磁気記録媒体10の全体)のM−Hループ、補正用サンプル(ベース層11)のM−Hループの測定においては、東英工業社製の高感度振動試料型磁力計「VSM−P7−15型」が用いられる。測定条件は、測定モード:フルループ、最大磁界:15kOe、磁界ステップ:40bit、Time constant of Locking amp:0.3sec、Waiting time:1sec、MH平均数:20とされる。
測定サンプル(磁気記録媒体10の全体)のM−Hループ及び補正用サンプル(ベース層11)のM−Hループが得られた後、測定サンプル(磁気記録媒体10の全体)のM−Hループから補正用サンプル(ベース層11)のM−Hループが差し引かれることで、バックグラウンド補正が行われ、バックグラウンド補正後のM−Hループが得られる。このバックグラウンド補正の計算には、「VSM−P7−15型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。
得られたバックグラウンド補正後のM−Hループの飽和磁化Ms(emu)及び残留磁化Mr(emu)が以下の式に代入されて、角形比S2(%)が計算される。なお、上記のM−Hループの測定はいずれも、25℃にて行われるものとする。また、M−Hループを磁気記録媒体10の垂直方向に測定する際の“反磁界補正”は行わないものとする。なお、この計算には、「VSM−P7−15型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。
角形比S2(%)=(Mr/Ms)×100
本明細書内において、磁気記録媒体が垂直配向しているとは、磁気記録媒体の角形比S1が上記数値範囲内にあること(例えば35%以下であること)を意味しうる。本技術に従う磁気記録媒体は好ましくは垂直配向している。
(注1)Nano World社製 SPMプローブ NCH ノーマルタイプ PointProbe L(カンチレバー長)=125μm
磁気記録媒体10の長手方向における保磁力Hcは、好ましくは2000Oe以下、より好ましくは1900Oe以下、さらにより好ましくは1800Oe以下である。長手方向における保磁力Hcが2000Oe以下であると、記録ヘッドからの垂直方向の磁界により感度良く磁化が反応するため、良好な記録パターンを形成することができる。
測定サンプル(磁気記録媒体10の全体)のM−Hループ、補正用サンプル(ベース層11)のM−Hループの測定においては、東英工業社製の高感度振動試料型磁力計「VSM−P7−15型」が用いられる。測定条件は、測定モード:フルループ、最大磁界:15kOe、磁界ステップ:40bit、Time constant of Locking amp:0.3sec、Waiting time:1sec、MH平均数:20とされる。
測定サンプル(磁気記録媒体10の全体)のM−Hループ及び補正用サンプル(ベース層11)のM−Hループが得られた後、測定サンプル(磁気記録媒体10の全体)のM−Hループから補正用サンプル(ベース層11)のM−Hループが差し引かれることで、バックグラウンド補正が行われ、バックグラウンド補正後のM−Hループが得られる。このバックグラウンド補正の計算には、「VSM−P7−15型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。
得られたバックグラウンド補正後のM−Hループから保磁力Hcが求められる。なお、この計算には、「VSM−P7−15型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。なお、上記のM−Hループの測定はいずれも、25℃にて行われるものとする。また、M−Hループを磁気記録媒体10の長手方向に測定する際の“反磁界補正”は行わないものとする。
巻内側及び巻外側のサーボトラック幅の差は、0μm超であり、好ましくは0.01μm以上、より好ましくは0.02μm以上、さらにより好ましくは0.05μm以上である。巻内側及び巻外側のサーボトラック幅の差は、例えば、0.10μm以上、0.15μm以上、又は0.20μm以上であってもよい。これにより、カートリッジ内のリールに巻き取られた磁気記録媒体にしわが発生することを防ぐことができる。
巻内側及び巻外側のサーボトラック幅の差は、例えば0.5μm以下であってよく、好ましくは0.4μm以下、より好ましくは0.3μm以下であってよい。
本明細書内において、巻内側とは、磁気記録媒体の2つの端部のうち、磁気記録カートリッジ内のリール(磁気記録媒体が巻き取られるリール)に取り付けられる端部(以下「内側端部」ともいう)から50mの位置を起点として、当該位置から、当該内側端部と反対側の端部(以下「外側端部」ともいう)の方向へ10m進んだ位置までの領域をいう。
本明細書内において、巻外側とは、磁気記録媒体の2つの端部のうち、当該外側端部から50mの位置を起点として、当該位置から当該内側端部の方向へ10m進んだ位置までの領域をいう。
図16を参照して巻内側及び巻外側についてより具体的に説明する。図16は、磁気記録カートリッジ1のリール2に、内側端部E1が取り付けられている。内側端部E1から50m進んだ位置Aと位置Aから外側端部E2へ10m進んだ位置Bとの間の領域が、巻内側である。外側端部E2から50mだけ内側端部E1へ進んだ位置Cと位置Cからさらに内側端部E1へ10m進んだ位置Dとの間の領域が巻外側である。
巻内側のサーボトラック幅のずれ量TinWの測定は、磁気記録カートリッジ内に収容されている磁気記録媒体を、磁気記録再生装置へと巻き込むように走行させながら(いわゆる順方向に走行させながら)行われる。当該測定において、磁気記録媒体にかかるテンションは0.55Nであり、且つ、走行速度は3〜6m/sである。前記巻内側の10mの領域にわたって測定されるサーボトラック幅のずれ量の平均値が、前記差を求めるための巻内側サーボトラック幅のずれ量TinWとして用いられる。当該平均値は、単純平均により算出される。
巻外側のサーボトラック幅のずれ量ToutWの測定も、巻内側と同様に、順方向に走行させながら行われる。前記巻外側の10mの領域にわたって測定されるサーボトラック幅のずれ量の平均値が、前記差を求めるための巻外側サーボトラック幅のずれ量ToutWとして用いられる。当該平均値も、単純平均により算出される。
以上のとおりにして得られた巻内側のサーボトラック幅のずれ量TinWから、巻外側のサーボトラック幅のずれ量ToutWを差し引くことで、差(TinW−ToutW)が求められ、当該差が、(巻内側のサーボトラック幅)−(巻外側のサーボトラック幅)である。
ドライブ走行時に、データバンドd1を挟む2つのサーボトラックS1及びS2を再生した場合、デジタルオシロスコープ(Lecroy社 WAVEPRO 960)によってサーボトラックごとに図17(c)に示されるような波形が得られる。
サーボトラックS1の再生により得られた波形からタイミング信号間の時間が得られ、当該時間とテープ走行速度とから、サーボトラックS1におけるAバーストの先頭磁気ストライプとBバーストの先頭磁気ストライプとの間の距離が算出される。例えば、図17(b)に示されるとおり、AバーストS5a−1の先頭磁気ストライプ(5つの磁気ストライプのうち最も左の磁気ストライプ)とBバーストS5b−1の先頭磁気ストライプ(5つの磁気ストライプのうち最も左の磁気ストライプ)との間の距離L1が算出される。
同様に、サーボトラックS2の再生により得られた波形からタイミング信号間の時間が得られ、当該時間とテープ走行速度とから、サーボトラックS2におけるAバーストの先頭磁気ストライプとBバーストの先頭磁気ストライプとの間の距離が算出される。例えば、図17(b)に示されるとおり、AバーストS5a−2の先頭磁気ストライプとBバーストS5b−2先頭磁気ストライプとの間の距離L2が算出される。
例えば、磁気記録テープが幅方向に広がった場合、例えばサーボトラックS1の再生により得られるタイミング信号間の時間が長くなり、その結果、算出される距離L1も大きくなりうる。磁気記録テープが幅方向において縮んだ場合は、反対に、算出される距離L1は小さくなりうる。そのため、距離L1及び距離L2とアジマス角を用いることで、サーボトラック幅のずれ量を求めることができる。サーボトラック幅のずれ量は、以下の式から求められる。
(サーボトラック幅のずれ量)={(L1−L2)/2}×tan(90°−θ1)
この式において、L1及びL2は、上記で述べた距離L1及びL2であり、θ1は、上記で述べた傾斜角度θ1であり、アジマス角とも言われる。θ1は、カートリッジより取り出した磁気記録テープをフェリコロイド現像液で現像し、万能工具顕微鏡(TOPCON TUM-220ES)及びデータ処理装置(TOPCON CA-1B)を用いて求められる。
サーボトラック幅のずれ量は、標準サーボトラック幅に対する変化量である。標準サーボトラック幅は、磁気記録再生装置が有するサーボリードヘッド幅と同じ幅であってよく、例えば磁気記録媒体10が準拠する規格など磁気記録媒体10の種類に応じて決定されてよい。
磁気記録媒体10は、好ましくは垂直方向における角形比が65%以上であり、前記磁気記録媒体の磁性層側表面の算術平均粗さRaが2.5nm以下であり、且つ、前記磁性層の平均厚みtmが80nm以下である。磁性層に関するこれらの構成が、全厚が薄い磁気記録媒体において、特には上記細孔及び上記サーボパターンを有する磁性層を含み且つ全厚が薄い磁気記録媒体において、記録再生特性を向上するために特に適している。
以下に述べるとおり、実施例1〜16及び比較例1〜3の磁気テープを製造した。下記表2に、これら磁気テープの磁性粉の種類、磁気テープの平均厚みtT、磁性層の表面粗度(磁性面粗度)Ra、角形比S2、磁性層の平均厚みtm、細孔の平均直径、及びサーボバンドの非直線性を示す統計値σSWがまとめられている。
磁性層形成用塗料を以下のようにして調製した。まず、下記配合の第1組成物をエクストルーダで混練した。次に、ディスパーを備えた攪拌タンクに、混練した第1組成物と、下記配合の第2組成物を加えて予備混合を行った。続いて、さらにサンドミル混合を行い、フィルター処理を行い、磁性層形成用塗料を調製した。
バリウムフェライト(BaFe12O19)粒子の粉末(六角板状、平均粒子体積1950nm3):100質量部
塩化ビニル系樹脂のシクロヘキサノン溶液:42質量部
(当該溶液の組成は、樹脂分30質量%及びシクロヘキサノン70質量%である。塩化ビニル系樹脂の詳細は以下のとおりであった:重合度300、Mn=10000、極性基としてOSO3K=0.07mmol/g、2級OH=0.3mmol/gを含有する。)酸化アルミニウム粉末:5質量部
(α−Al2O3、平均粒径0.1μm)
カーボンブラック:2質量部
(東海カーボン社製、商品名:シーストTA)
塩化ビニル系樹脂のシクロヘキサノン溶液:3質量部
(当該溶液の組成は、樹脂分30質量%及びシクロヘキサノン70質量%である。)
n−ブチルステアレート:2質量部
メチルエチルケトン:121.3質量部
トルエン:121.3質量部
シクロヘキサノン:60.7質量部
下地層形成用塗料を以下のようにして調製した。まず、下記配合の第3組成物をエクストルーダで混練した。次に、ディスパーを備えた攪拌タンクに、混練した第3組成物と、下記配合の第4組成物を加えて予備混合を行った。続いて、さらにサンドミル混合を行い、フィルター処理を行い、下地層形成用塗料を調製した。
針状酸化鉄粉末:100質量部
(α−Fe2O3、平均長軸長0.15μm)
塩化ビニル系樹脂のシクロヘキサノン溶液:60.6質量部
(当該溶液の組成は、樹脂分30質量%及びシクロヘキサノン70質量%である。)
カーボンブラック:10質量部
(平均粒径20nm)
ポリウレタン系樹脂UR8200(東洋紡績製):18.5質量部
n−ブチルステアレート:2質量部
メチルエチルケトン:108.2質量部
トルエン:108.2質量部
シクロヘキサノン:18.5質量部
バック層形成用塗料を以下のようにして調製した。下記原料を、ディスパーを備えた攪拌タンクで混合を行い、フィルター処理を行うことで、バック層形成用塗料を調製した。小粒径のカーボンブラックの粉末(平均粒径(D50)20nm):90 質量部
大粒径のカーボンブラックの粉末(平均粒径(D50)270nm):1 0質量部
ポリエステルポリウレタン:100質量部
(東ソー株式会社製、商品名:N−2304)
メチルエチルケトン:500質量部
トルエン:400質量部
シクロヘキサノン:100質量部
上述のようにして調製した磁性層形成用塗料および下地層形成用塗料を用いて、非磁性支持体である、平均厚み4.12μm、長尺のポレエチレンナフタレートフィルム(以下「PENフィルム」という。)の一方の主面上に、乾燥及びカレンダー後の平均厚みが1.0μmとなるように下地層を以下のようにして形成し、そして、乾燥及びカレンダー後の平均厚みが80nmとなるように磁性層を以下のようにして形成した。まず、PENフィルムの一方の主面上に下地層形成用塗料を塗布し、そして乾燥させることにより、下地層を形成した。次に、下地層上に磁性層形成用塗料を塗布し、そして乾燥させることにより、磁性層を形成した。なお、磁性層形成用塗料の乾燥の際に、ソレノイドコイルにより、磁性粉をフィルムの厚み方向に磁場配向させた。また、磁性層形成用塗料の乾燥条件(乾燥温度及び乾燥時間)を調整し、磁気テープの厚み方向(垂直方向)における角形比S1及び長手方向における角形比S2を表2に示す値に設定した。続いて、PENフィルムの他方の主面上にバック層形成用塗料を塗布し、そして乾燥させることにより、平均厚み0.4μmのバック層を形成した。これにより、磁気テープが得られた。
続いて、カレンダー処理を行い、磁性層の表面を平滑化した。次に、得られた磁気テープをロール状に巻き取ったのち、この状態で磁気テープに60℃、10時間の加熱処理を行った。そして、内周側に位置している端部が反対に外周側に位置するように、磁気テープをロール状に巻き直したのち、この状態で磁気テープに60℃、10時間の加熱処理を再度行った。これにより、バック層の表面の多数の突部が磁性層の表面に転写され、磁性層の表面に多数の孔部が形成された。
上述のようにして得られた磁気テープを1/2インチ(12.65mm) 幅に裁断した。これにより、目的とする長尺状の磁気テープ(平均厚み5.6μm)が得られた。
当該1/2インチ幅の磁気テープをカートリッジケース内に設けられたリールに巻き付けて、磁気記録カートリッジを得た。当該磁気テープに、サーボトラックライタによってサーボパターンを記録した。当該サーボパターンは、LTO−8規格に従うものであった。当該サーボトラックライタは、特開2006−127730号公報において同文献の図26を参照して説明される磁気ヘッドをサーボ信号書込ヘッドとして有する、国際公開第2019/093469号に記載されるサーボライタ(特には同文献の図1を参照して説明されたサーボライタ)であった。以下で、当該サーボトラックライタの概要を図12及び13を参照しながら説明する。当該サーボトラックライタの詳細についてはこれら2つの文献を参照されたい。
図12は、当該サーボトラックライタの模式図であり、国際公開第2019/093469号の図1に対応する。図12に示されるとおり、サーボトラックライタ110は、送出リール111と、巻取リール112と、キャプスタン113A、114Aと、ピンチローラ113B、114Bと、ガイドローラ115A、115Bと、研磨部116と、ダスティング部117と、テンション調整部118と、サーボ信号書込ヘッド119と、サーボ信号読取ヘッド120と、プリアンプ121と、制御装置122と、パルス発生回路123と、駆動装置124とを備える。このサーボトラックライタ110は、長尺の磁気テープMTのサーボバンドにサーボ信号を書き込むための装置である。
図13は、サーボ信号書込ヘッド119の模式図であり、特開2006−127730号公報の図26に対応する。図13のAに示されるとおり、サーボ信号書込ヘッド119は、ヘッドチップ132を有し、このヘッドチップ132の上面に、リニア型磁気テープ(図示せず)に対する摺動面134を有し、この摺動面134内に、少なくとも、一部がサーボ信号記録用とされた記録用素子からなる磁気ヘッド部135と、周囲が閉じられた有底キャビティ136とが形成される。
サーボ信号書込ヘッド119の摺動面134は、図13のBに示されるとおり、少なくとも一部がフラット面とされ、この摺動面134に対向配置されるリニア型磁気テープ(図示せず)は、走行時には、磁気ヘッド摺動面134のエッジ部によって近傍の空気をかき取られ、更に有底キャビティ136において減圧されることにより、摺動面34とのスペーシングがより小とされる。
サーボトラックライタ110に搭載されているキャビティを有するサーボ信号書込ヘッド119と同ヘッドに隣接するガイドローラ115A及び115Bの距離を調整し且つサーボ信号書込ヘッド119へのテープ侵入角度を調整することによって、サーボパターンを記録する際のサーボ信号書込ヘッド119とテープとの間の摩擦を調整し、これにより磁気テープのσswが23nmへと調整された。
PENフィルムの厚みを変更して磁気記録媒体の平均厚みtTを5.0μmとしたこと以外は実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを製造した。
カレンダー工程の圧力を高くすることによって磁性面の磁性層側表面の算術平均粗さRaを2.2nmに変更したこと以外は実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを製造した。
磁性層形成用塗料に対する磁場の印加時間を調整し磁気テープの厚み方向(垂直方向)における角形比S2を70%に設定したこと以外は実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを製造した。
磁性層の平均厚みを70nmに変更したこと以外は実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを製造した。
磁性層の平均厚みを50nmに変更したこと以外は実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを製造した。
カレンダー処理後の加熱処理における加熱温度を上げて細孔の平均直径を11nmに変更したこと以外は実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを製造した。
実施例1において述べたとおりのサーボパターンの記録においてサーボ信号書込ヘッド119とテープとの間の摩擦を減らすことによって統計値σSWを20nmに変更したこと以外は実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを製造した。
サーボトラックライタ110に搭載されているサーボ信号書込ヘッド119と同ヘッドに隣接するガイドローラ115A及び115Bの距離をさらに調整することによってさらに摩擦を減らしたこと以外は実施例9と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを得た。当該磁気テープの統計値σSWは15nmであった。
磁性層に含まれる磁性粉をバリウムフェライト粒子の粉末からストロンチウムフェライトの粒子の粉末に変更したこと以外は実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを得た。
磁性層に含まれる磁性粉をバリウムフェライト粒子の粉末からε酸化鉄ナノ粒子の粉末又はコバルト酸化鉄の粉末に変更したこと以外は実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを得た。
塗膜乾燥工程で乾燥温度を高くすることによって磁性層側表面の算術平均粗さRaを3.0nmに変更したこと以外は、実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを得た。
磁性層形成用塗料に対する磁場の印加時間を調整し磁気テープの厚み方向(垂直方向)における角形比S2を60%に設定したこと以外は実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを得た。
磁性層の平均厚みを90nmに変更したこと以外は実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを得た。
サーボライト時の磁気テープの張力を高くすることによってサーボバンドの非直線性を示す統計値σSWを25nmに変更したこと以外は、実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを得た。
カレンダー処理後の加熱処理における加熱温度を下げて細孔の平均直径を5nmに変更したこと以外は実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを得た。
カレンダー処理後の加熱処理における加熱温度を上げて細孔の平均直径を12nmに変更したこと以外は実施例1と同じ方法で、サーボパターンが記録された磁気テープを得た。
上記(1)において製造された実施例1〜16及び比較例1〜3の磁気テープについて、摩擦係数比(μB/μA)及び摩擦係数比(μC(1000)/μC(5))を測定した。これらの測定は、「2.本技術の実施形態(塗布型の磁気記録媒体の例)」にて説明した測定方法により行われた。これら摩擦係数比が高いこと(例えば2.0以上であること)は、磁気テープの走行時における相対差pが高くなることをもたらしうる。相対差pが高すぎる場合は、走行安定性が悪化し、フェイル状態になることもある。
これら摩擦係数比の測定結果は下記表2に示されている。
Y. Okazaki: ”An Error Rate Emulation System.”, IEEE Trans. Man., 31,pp.3093-3095(1995)
実施例1〜16及び比較例1〜3の磁気テープそれぞれについて、当該フルボリュームテストを連続で5回繰り返し実施し、「フルボリュームテスト5回目の転送レートの相対値」及び「フェイルの有無」が記録された。フルボリュームテストにおける転送レートの相対値は、評価に使用したドライブの最高性能が発揮された場合の転送レートに対する、フルボリュームテスト1回あたりの平均転送レートの割合である。当該ドライブの最高性能が発揮された場合を100%とする。例えば、LTO8 ドライブを使用してLTO8 フォーマットで記録を行った場合において、当該LTO8 ドライブが最高性能を発揮した時の転送レートは350 MB/sec である。「フェイルの有無」は、上記のとおりのフェイル状態になったか否かである。
以下表1に示される4段階の評価基準に従い、各磁気テープを評価した。表1に示されるとおり、レベル4が最良の走行安定性を有することを意味し、レベル1が最悪の走行安定性を有することを意味する。例えば、磁気テープの転送レートの相対値が5回目のフルボリュームテスト全てにおいて95%以上100%以下であり且つフェイルが無い場合に、当該磁気テープはレベル4であると評価される。レベル4又は3の評価(すなわち、フルボリュームテスト5回目における磁気テープの転送レートが80%以上であること)が、磁気テープの良好な走行安定性の観点から望ましい。
各磁気テープの走行安定性の評価結果は、表2の「走行安定性のレベル」の列に示されている。
例えば、実施例1と比較例1とを比較すると、前者では、統計値σSWが23nmであり、走行安定性の評価結果が3であったのに対し、後者では、統計値σSWが25nmであり、走行安定性の評価結果が2であった。加えて、統計値σSWが実施例1の場合よりも低い実施例9及び10では、走行安定性の評価結果が4であった。これらの結果より、統計値σSWを例えば23nm以下とすることが、磁気記録媒体の走行安定性の向上に寄与していることが分かる。
例えば、実施例1と比較例2及び3とを比較すると、前者では、細孔の平均直径が8nmであり、走行安定性の評価結果が3であったのに対し、後者ではそれぞれ5nm及び12nmであり、走行安定性の評価結果がいずれも2であった。加えて、細孔の平均直径が6nm及び11nmである実施例7及び8では、走行安定性の評価結果が3であった。これらの結果より、細孔の平均直径を例えば6nm〜11nmとすることが、磁気記録媒体の走行安定性の向上に寄与していることが分かる。
例えば実施例1と実施例14とを比較すると、前者では磁性面粗度Raが2.5nmであり、SNRが0.0であったのに対し、後者では、磁性面粗度Raが3.0nmであり、SNRが−0.7であった。加えて、磁性面粗度Raが実施例1の場合よりも低い実施例3では、SNRが0.3であった。これらの結果より、磁性面粗度Raを例えば2.5nm以下とすることが、磁気記録媒体の記録再生特性の向上に寄与していることが分かる。
例えば実施例1と実施例15とを比較すると、前者では角形比が65%であり、SNRが0.0であったのに対し、後者では、角形比が60%であり、SNRが−0.7であった。加えて、角形比が実施例1の場合よりも高い実施例4では、SNRが0.0であった。これらの結果より、角形比を例えば65%以上とすることが、磁気記録媒体の記録再生特性の向上に寄与していることが分かる。
例えば実施例1と実施例16とを比較すると、前者では磁性層の厚みが80nmであり、SNRが0.0であったのに対し、後者では、磁性層の厚みが90nmであり、SNRが−0.7であった。加えて、磁性層の厚みが実施例1の場合よりも小さい実施例5及び6では、SNRが0.0であった。これらの結果より、磁性層の厚みを例えば80nm以下とすることが、磁気記録媒体の記録再生特性の向上に寄与していることが分かる。
また、実施例1〜16の磁気テープと比較例2及び3とを対比すると、細孔直径が当該優れた走行安定性に寄与していると考えられる。
また、実施例1〜16の磁気テープと比較例2及び3とを対比すると、細孔直径が当該優れた走行安定性に寄与していると考えられる。
実施例1において得られた磁気記録カートリッジの巻内側及び巻外側のサーボトラック幅の差を測定した。当該差は0.25μmであった。
サーボパターンを記録するときの張力を変更したこと以外は、実施例1に記載されたとおりに磁気記録カートリッジを得た。当該張力の変更は、サーボパターンを記録開始段階での張力よりも、記録終了段階での張力を高くするというものであった。このようにして得られた磁気記録カートリッジの巻内側及び巻外側のサーボトラック幅の差を測定した。当該差は0.00μmであった。
良好:しわに起因する巻き状態の乱れがない。
不良:しわに起因する巻き状態の乱れがある。
〔1〕磁性層、下地層、ベース層、及びバック層を含み、
前記磁性層にサーボパターンが記録されており、当該サーボパターンのサーボ信号の再生波形から得られる、サーボバンドの非直線性を示す統計値σSWが24nm以下であり、
前記ベース層は、ポリエステルを主たる成分として含み、
磁気記録媒体の平均厚みtTが5.6μm以下であり、
前記磁気記録媒体は潤滑剤を含み、且つ
前記磁気記録媒体には細孔が形成されており、当該細孔の平均直径は、前記磁気記録媒体から潤滑剤を除去しそして乾燥した状態で測定したときに、6nm以上11nm以下である、
テープ状の磁気記録媒体。
〔2〕垂直方向における角形比が65%以上である、〔1〕に記載の磁気記録媒体。
〔3〕前記磁気記録媒体の磁性層側表面の算術平均粗さRaが2.5nm以下である、〔1〕又は〔2〕に記載の磁気記録媒体。
〔4〕前記磁性層の平均厚みtmが80nm以下である、〔1〕〜〔3〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
〔5〕垂直方向における角形比が65%以上であり、
前記磁気記録媒体の磁性層側表面の算術平均粗さRaが2.5nm以下であり、且つ、
前記磁性層の平均厚みtmが80nm以下である、
〔1〕〜〔4〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
〔6〕前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉が六方晶フェライト、ε酸化鉄、又はCo含有スピネルフェライトを含む、〔1〕〜〔5〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。〔7〕前記六方晶フェライトが、Ba及びSrのうちの少なくとも1種を含み、且つ、前記ε酸化鉄が、Al及びGaのうちの少なくとも1種を含む、〔6〕に記載の磁気記録媒体。
〔8〕前記磁気記録媒体の長手方向に0.4Nの張力を加えた状態における前記磁気記録媒体の磁性層側表面と磁気ヘッドとの間の動摩擦係数μAと、前記磁気記録媒体の長手方向に1.2Nの張力を加えた状態における前記磁気記録媒体の磁性層側表面と磁気ヘッドとの間の動摩擦係数μBとの摩擦係数比(μB/μA)が1.0〜2.0である、〔1〕〜〔7〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
〔9〕長手方向に0.6Nの張力を加えた状態にある前記磁気記録媒体を、磁気ヘッド上を5往復摺動させた場合の5往復目における動摩擦係数μC(5)と、当該磁気ヘッド上を1000往復させた場合の1000往復目における動摩擦係数μC(1000)との摩擦係数比(μC(1000)/μC(5))が1.0〜2.0である、〔1〕〜〔8〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
〔10〕前記潤滑剤が、脂肪酸及び/又は脂肪酸エステルを含む、〔1〕〜〔9〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
〔11〕前記脂肪酸が下記一般式(1)又は(2)で示される化合物を含み、且つ、前記脂肪酸エステルが下記一般式(3)又は(4)で示される化合物を含む、〔10〕に記載の磁気記録媒体。
CH3(CH2)kCOOH ・・・(1)
(但し、前記一般式(1)において、kは14以上22以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)nCH=CH(CH2)mCOOH ・・・(2)
(但し、前記一般式(2)において、nとmとの和は12以上20以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)pCOO(CH2)qCH3 ・・・(3)
(但し、前記一般式(3)において、pは14以上22以下の範囲から選ばれる整数であり、qは2以上5以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)rCOO−(CH2)sCH(CH3)2・・・(4)
(但し、前記一般式(4)において、rは14以上22以下の範囲から選ばれる整数であり、sは1以上3以下の範囲から選ばれる整数である。)
〔12〕長手方向における保磁力Hcが2000Oe以下である、〔1〕〜〔11〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
〔13〕前記統計値σSWが23nm以下である、〔1〕〜〔12〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
〔14〕前記統計値σSWが10nm以上23nm以下である、〔1〕〜〔13〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
〔15〕前記細孔の平均直径が6nm以上10nm以下である、〔1〕〜〔14〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
〔16〕前記細孔の平均直径が7nm以上9nm以下である、〔1〕〜〔15〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
〔17〕前記ベース層の平均厚みが4.2μm以下である、〔1〕〜〔16〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
〔18〕前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均アスペクト比が1.0以上3.5以下である、〔1〕〜〔17〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
〔19〕前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均粒子サイズが50nm以下である、〔1〕〜〔18〕のいずれか一つに記載の磁気記録媒体。
〔20〕
〔1〕〜〔19〕のいずれか1つに記載のテープ状の磁気記録媒体がリールに巻き取られた状態で磁気記録カートリッジ内に収容されており、且つ、(当該磁気記録媒体の巻内側のサーボトラック幅)−(当該磁気記録媒体の巻外側のサーボトラック幅)>0μmである、磁気記録カートリッジ。
11 ベース層
12 下地層
13 磁性層
14 バック層
前記磁性層にサーボパターンが記録されており、当該サーボパターンのサーボ信号の再生波形から得られる、サーボバンドの非直線性を示す統計値σSWが24nm以下であり、
前記ベース層は、ポリエステルを主たる成分として含み、
磁気記録媒体の平均厚みtTが5.3μm以下であり、
前記磁気記録媒体は潤滑剤を含み、且つ
前記磁気記録媒体に細孔が形成されており、当該細孔の平均直径は、前記磁気記録媒体から潤滑剤を除去しそして乾燥した状態で測定したときに、6nm以上11nm以下である、前記磁気記録媒体を提供する。
前記磁気記録媒体は、前記磁気記録媒体の垂直方向における角形比が65%以上であってよい。
前記磁気記録媒体の磁性層側表面の算術平均粗さRaが2.5nm以下であってよい。
前記磁性層の平均厚みtmが80nm以下でありうる。
本技術の好ましい実施態様に従い、前記磁気記録媒体は、
前記磁気記録媒体の垂直方向における角形比が65%以上であり、
前記磁気記録媒体の磁性層側表面の算術平均粗さRaが2.5nm以下であり、且つ、
前記磁性層の平均厚みtmが80nm以下でありうる。
前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉が六方晶フェライト、ε酸化鉄、又はCo含有スピネルフェライトを含みうる。
前記六方晶フェライトが、Ba及びSrのうちの少なくとも1種を含み、且つ、前記ε酸化鉄が、Al及びGaのうちの少なくとも1種を含みうる。
本技術の一つの実施態様に従い、前記磁気記録媒体の長手方向に0.4Nの張力を加えた状態における前記磁気記録媒体の磁性層側表面と磁気ヘッドとの間の動摩擦係数μAと、前記磁気記録媒体の長手方向に1.2Nの張力を加えた状態における前記磁気記録媒体の磁性層側表面と磁気ヘッドとの間の動摩擦係数μBとの摩擦係数比(μB/μA)が1.0〜2.0でありうる。
本技術の一つの実施態様に従い、長手方向に0.6Nの張力を加えた状態にある前記磁気記録媒体を、磁気ヘッド上を5往復摺動させた場合の5往復目における動摩擦係数μC(5)と、当該磁気ヘッド上を1000往復させた場合の1000往復目における動摩擦係数μC(1000)との摩擦係数比(μC(1000)/μC(5))が1.0〜2.0でありうる。
前記潤滑剤は、脂肪酸及び/又は脂肪酸エステルを含みうる。
前記脂肪酸が下記一般式(1)又は(2)で示される化合物を含み、且つ、前記脂肪酸エステルが下記一般式(3)又は(4)で示される化合物を含みうる。
CH3(CH2)kCOOH ・・・(1)
(但し、前記一般式(1)において、kは14以上22以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)nCH=CH(CH2)mCOOH ・・・(2)
(但し、前記一般式(2)において、nとmとの和は12以上20以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)pCOO(CH2)qCH3 ・・・(3)
(但し、前記一般式(3)において、pは14以上22以下の範囲から選ばれる整数であり、qは2以上5以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)rCOO−(CH2)sCH(CH3)2・・・(4)
(但し、前記一般式(4)において、rは14以上22以下の範囲から選ばれる整数であり、sは1以上3以下の範囲から選ばれる整数である。)
前記磁気記録媒体は、前記磁気記録媒体の長手方向における保磁力Hcが2000Oe以下であってよい。
前記統計値σSWは23nm以下でありうる。
前記統計値σSWは10nm以上23nm以下でありうる。
前記細孔の平均直径は6nm以上10nm以下でありうる。
前記細孔の平均直径は7nm以上9nm以下でありうる。
前記ベース層の平均厚みは4.2μm以下でありうる。
前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均アスペクト比が1.0以上3.5以下でありうる。
前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均粒子サイズが50nm以下でありうる。
前記磁気記録媒体の平均厚みt T は5.2μm以下でありうる。
前記磁気記録媒体の平均厚みt T は5.0μm以下でありうる。
前記磁気記録媒体の平均厚みt T は4.6μm以下でありうる。
前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均粒子サイズは10nm以上40nm以下でありうる。
前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均粒子サイズは12nm以上30nm以下でありうる。
前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均粒子サイズは15nm以上22nm以下でありうる。
前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均アスペクト比は1以上2.5以下である、請求項1〜25のいずれか一項に記載の磁気記録媒体。
前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均アスペクト比は1以上2.1以下でありうる。
前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均アスペクト比は1以上1.8以下でありうる。
前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均粒子体積は1000nm 3 以上2500nm 3 以下でありうる。
前記バック層の平均厚みt b が、t b ≦0.6μmでありうる。
前記サーボ信号の傾斜角度θ1は5°〜25°でありうる。
前記サーボ信号の傾斜角度θ1は11°〜20°でありうる。
前記磁気記録媒体の垂直方向における角形比は70%以上でありうる。
前記磁気記録媒体の垂直方向における角形比は73%以上でありうる。
前記磁気記録媒体の垂直方向における角形比は80%以上でありうる。
また、本技術は、前記テープ状の磁気記録媒体がリールに巻き取られた状態で磁気記録カートリッジ内に収容されており、且つ、(当該磁気記録媒体の巻内側のサーボトラック幅)−(当該磁気記録媒体の巻外側のサーボトラック幅)>0μmである、磁気記録カートリッジも提供する。
前記(当該磁気記録媒体の巻内側のサーボトラック幅)−(当該磁気記録媒体の巻外側のサーボトラック幅)は0.01μm以上でありうる。
前記(当該磁気記録媒体の巻内側のサーボトラック幅)−(当該磁気記録媒体の巻外側のサーボトラック幅)は0.02μm以上でありうる。
前記(当該磁気記録媒体の巻内側のサーボトラック幅)−(当該磁気記録媒体の巻外側のサーボトラック幅)は0.05μm以上でありうる。
Claims (20)
- 磁性層、下地層、ベース層、及びバック層を含み、
前記磁性層にサーボパターンが記録されており、当該サーボパターンのサーボ信号の再生波形から得られる、サーボバンドの非直線性を示す統計値σSWが24nm以下であり、
前記ベース層は、ポリエステルを主たる成分として含み、
磁気記録媒体の平均厚みtTが5.6μm以下であり、
前記磁気記録媒体は潤滑剤を含み、且つ
前記磁気記録媒体に細孔が形成されており、当該細孔の平均直径は、前記磁気記録媒体から潤滑剤を除去しそして乾燥した状態で測定したときに、6nm以上11nm以下である、
テープ状の磁気記録媒体。 - 垂直方向における角形比が65%以上である、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記磁気記録媒体の磁性層側表面の算術平均粗さRaが2.5nm以下である、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記磁性層の平均厚みtmが80nm以下である、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 垂直方向における角形比が65%以上であり、
前記磁気記録媒体の磁性層側表面の算術平均粗さRaが2.5nm以下であり、且つ、
前記磁性層の平均厚みtmが80nm以下である、
請求項1に記載の磁気記録媒体。 - 前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉が六方晶フェライト、ε酸化鉄、又はCo含有スピネルフェライトを含む、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記六方晶フェライトが、Ba及びSrのうちの少なくとも1種を含み、且つ、前記ε酸化鉄が、Al及びGaのうちの少なくとも1種を含む、請求項6に記載の磁気記録媒体。
- 前記磁気記録媒体の長手方向に0.4Nの張力を加えた状態における前記磁気記録媒体の磁性層側表面と磁気ヘッドとの間の動摩擦係数μAと、前記磁気記録媒体の長手方向に1.2Nの張力を加えた状態における前記磁気記録媒体の磁性層側表面と磁気ヘッドとの間の動摩擦係数μBとの摩擦係数比(μB/μA)が1.0〜2.0である、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 長手方向に0.6Nの張力を加えた状態にある前記磁気記録媒体を、磁気ヘッド上を5往復摺動させた場合の5往復目における動摩擦係数μC(5)と、当該磁気ヘッド上を1000往復させた場合の1000往復目における動摩擦係数μC(1000)との摩擦係数比(μC(1000)/μC(5))が1.0〜2.0である、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記潤滑剤が、脂肪酸及び/又は脂肪酸エステルを含む、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記脂肪酸が下記一般式(1)又は(2)で示される化合物を含み、且つ、前記脂肪酸エステルが下記一般式(3)又は(4)で示される化合物を含む、請求項10に記載の磁気記録媒体。
CH3(CH2)kCOOH ・・・(1)
(但し、前記一般式(1)において、kは14以上22以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)nCH=CH(CH2)mCOOH ・・・(2)
(但し、前記一般式(2)において、nとmとの和は12以上20以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)pCOO(CH2)qCH3 ・・・(3)
(但し、前記一般式(3)において、pは14以上22以下の範囲から選ばれる整数であり、qは2以上5以下の範囲から選ばれる整数である。)
CH3(CH2)rCOO−(CH2)sCH(CH3)2・・・(4)
(但し、前記一般式(4)において、rは14以上22以下の範囲から選ばれる整数であり、sは1以上3以下の範囲から選ばれる整数である。) - 長手方向における保磁力Hcが2000Oe以下である、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記統計値σSWが23nm以下である、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記統計値σSWが10nm以上23nm以下である、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記細孔の平均直径が6nm以上10nm以下である、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記細孔の平均直径が7nm以上9nm以下である、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記ベース層の平均厚みが4.2μm以下である、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均アスペクト比が1.0以上3.5以下である、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記磁性層が磁性粉を含み、当該磁性粉の平均粒子サイズが50nm以下である、請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 請求項1に記載のテープ状の磁気記録媒体がリールに巻き取られた状態で磁気記録カートリッジ内に収容されており、且つ、(当該磁気記録媒体の巻内側のサーボトラック幅)−(当該磁気記録媒体の巻外側のサーボトラック幅)>0μmである、磁気記録カートリッジ。
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