JP2020161718A - コイル部品 - Google Patents

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Abstract

【課題】めっき伸びの発生がより抑制され、かつ、より高いインダクタンス値を有するコイル部品を提供する。【解決手段】金属磁性体粒子を含む素体と、素体の内部に配置されたコイル導体と、素体の表面に配置された複数の外部電極とを備えるコイル部品であって、素体は、コイル導体の巻回軸に対して略直交する上面および下面と、互いに対向する第1側面および第2側面と、互いに対向する第3側面および第4側面とを有する略直方体形状であり、上面を構成する金属磁性体粒子、下面を構成する金属磁性体粒子、第1側面を構成する金属磁性体粒子および第2側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、コイル部品。【選択図】図1

Description

本発明は、コイル部品に関する。
インダクタ等のコイル部品を構成する磁性体として、金属磁性体粒子が用いられている。特許文献1には、素体の内部あるいは表面にコイルを有するコイル型電子部品であって、素体は、鉄、ケイ素および鉄より酸化しやすい元素を含有する軟磁性合金の粒子群から構成され、各軟磁性合金粒子の表面には当該粒子を酸化して形成した酸化層が生成され、当該酸化層は当該合金粒子に比較して鉄より酸化しやすい元素を多く含み、粒子同士は当該酸化層を介して結合されていることを特徴とするコイル型電子部品が記載されている。
特開2011−249774号公報
コイル部品の外部電極をめっきにより形成する場合、めっきの異常析出(いわゆるめっき伸び)が発生してしまうことがある。一方、コイル部品は高いインダクタンス値を有することが求められている。
本発明者は、金属磁性体粒子を用いて製造したコイル部品において、めっき伸びの発生を抑制することと、高いインダクタンス値とを両立することが困難であることを見出した。
本発明の目的は、めっき伸びの発生がより抑制され、かつ、より高いインダクタンス値を有するコイル部品を提供することにある。
本発明者は、コイル部品に含まれる金属磁性体粒子の粒径に着目し、金属磁性体粒子の粒径および配置を制御することにより、めっき伸びの発生がより抑制され、かつより高いインダクタンス値を達成し得ることを見出し、本発明を完成させるに至った。
本発明の一の要旨によれば、金属磁性体粒子を含む素体と、素体の内部に配置されたコイル導体と、素体の表面に配置された複数の外部電極とを備えるコイル部品であって、
素体は、コイル導体の巻回軸に対して略直交する上面および下面と、互いに対向する第1側面および第2側面と、互いに対向する第3側面および第4側面とを有する略直方体形状であり、
上面を構成する金属磁性体粒子、下面を構成する金属磁性体粒子、第1側面を構成する金属磁性体粒子および第2側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、コイル部品が提供される。
本発明に係るコイル部品は、上記特徴を有することにより、めっき伸びの発生がより抑制され、かつ、より高いインダクタンス値を有する。
図1は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品を模式的に示す透過斜視図である。 図2は、図1に示すコイル部品を模式的に示すLT面に平行な断面図である。 図3は、図1に示すコイル部品を模式的に示すLW面に平行な断面図である。 図4は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第1変形例を模式的に示すLT面に平行な断面図である。 図5は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第2変形例を模式的に示すLT面に平行な断面図である。 図6は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第3変形例を模式的に示すLT面に平行な断面図である。 図7は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第4変形例を模式的に示すLT面に平行な断面図である。 図8は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第5変形例を模式的に示すLT面に平行な断面図である。 図9は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第6変形例を模式的に示すLT面に平行な断面図である。 図10は、第6変形例のコイル部品を模式的に示すLW面に平行な断面図である。 図11は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第7変形例を模式的に示すLT面に平行な断面図である。 図12は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第8変形例を模式的に示すLT面に平行な断面図である。 図13は、比較例1のコイル部品を模式的に示すLT面に平行な断面図である。 図14は、比較例1のコイル部品を模式的に示すLW面に平行な断面図である。 図15は、比較例2のコイル部品を模式的に示すLT面に平行な断面図である。 図16は、めっき伸びの判定方法を示す概略図である。
以下、本発明の実施形態に係るコイル部品について、図面を参照しながら詳細に説明する。ただし、本発明に係るコイル部品およびその各構成要素の形状および配置等は、以下に説明する実施形態および図示される構成に限定されるものではない。
本発明の一の実施形態に係るコイル部品1の透過斜視図を図1に示し、コイル部品1の断面図を図2および図3に模式的に示す。コイル部品1は、金属磁性体粒子を含む素体2と、素体2の内部に配置されたコイル導体3と、素体2の表面に配置された複数の外部電極5とを備える。図2および図3に示すように、素体2は、コイル導体3の巻回軸に対して略直交する上面201および下面202と、互いに対向する第1側面203および第2側面204と、互いに対向する第3側面205および第4側面206とを有する略直方体形状である。なお、本明細書において、「略直交」は、90°±10°の範囲内であることを意味し、「直方体」は立方体を含む。本明細書において、コイル部品1の長さを「L」、幅を「W」、厚み(高さ)を「T」とよぶことがある(図1を参照のこと)。また、本明細書において、コイル部品1の長さLに平行な方向を「L方向」、幅Wに平行な方向を「W方向」、厚みTに平行な方向を「T方向」とよび、L方向およびT方向に平行な平面を「LT面」、W方向およびT方向に平行な平面を「WT面」、L方向およびW方向に平行な平面を「LW面」とよぶことがある。
素体2は金属磁性体粒子を含む。素体2の上面201を構成する金属磁性体粒子、素体2の下面202を構成する金属磁性体粒子、素体2の第1側面203を構成する金属磁性体粒子および素体2の第2側面204を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい。図1〜図3に示す構成例において、素体2は、第1磁性体層21と、第2磁性体層22で構成されている。素体2の上面201、下面202、第1側面203および第2側面204はそれぞれ、第1磁性体層21で構成され、コイル導体3の巻回部の内側は、第2磁性体層22で構成されている。第1磁性体層21に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径は、第2磁性体層22に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径より小さい。ここで、金属磁性体粒子の「平均粒径」は、広義には、素体2の断面において測定した金属磁性体粒子の粒径の平均値を意味し、狭義には、素体2の断面をSEM(走査型電子顕微鏡)で撮影し、得られた画像を解析することにより金属磁性体粒子の断面形状を抽出して円相当径を求め、この円相当径から算出した平均値を意味する。金属磁性体粒子の平均粒径の測定方法の詳細については後述する。
図1に示すコイル部品1において、外部電極5は、素体2の第3側面205および第4側面206にそれぞれ設けられている。外部電極5の一方は、素体2の第3側面205の全面を覆い、かつ上面201、下面202、第1側面203および第2側面204の一部に延在している。外部電極5の他方は、素体2の第4側面206の全面を覆い、かつ上面201、下面202、第1側面203および第2側面204の一部に延在している。一方、素体2の上面201、下面202、第1側面203および第2側面204はそれぞれ、一部が露出した状態となっている。そのため、コイル部品1の外部電極5をめっきにより形成する場合、素体2の上面201、下面202、第1側面203および第2側面204の露出部分において、めっきの異常析出(いわゆるめっき伸び)が発生してしまうおそれがある。めっき伸びとは、めっきが、意図しためっき幅を超えて部分的(または局所的)に大きく形成されることをいう。めっき伸びの一例としては、図16に示すように、外部電極5を構成するめっきが外部電極5を形成するべき領域(符号aで示す)を超えて、コイル部品1の中央に向かって伸びる現象(符号bで示す)が挙げられる。めっき伸びが発生すると、コイル部品1を実装する際に実装不良が発生してしまう可能性がある。
これに対し、本実施形態に係るコイル部品1は、素体2の上面201を構成する金属磁性体粒子、素体2の下面202を構成する金属磁性体粒子、素体2の第1側面203を構成する金属磁性体粒子および素体2の第2側面204を構成する金属磁性体粒子の平均粒径がそれぞれ、コイル導体3の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さいことにより、めっき伸びの発生をより抑制することができ、かつより高いインダクタンス値を有する。
めっき伸びの発生をより抑制することと、より高いインダクタンス値とを両立することができる理由は、特定の理論に拘束されるものではないが、以下に説明するメカニズムによるものであると推測される。素体を構成する金属磁性体粒子の粒径が大きいほど、素体の透磁率が高くなるので、コイル部品のインダクタンス値を高くすることができる。しかしながら、素体に含まれる金属磁性体粒子の粒径が大きいほど、高い抵抗を有する粒界の数が減少するので、素体の体積抵抗率は低下する傾向にある。素体の体積抵抗率が低いほど、めっき伸びが発生しやすくなる。一方、素体を構成する金属磁性体粒子の粒径が小さいほど、素体の体積抵抗率は増大し、めっき伸びの発生を抑制することができるが、素体の透磁率は低下してしまうので、コイル部品のインダクタンス値は低くなってしまう傾向にある。そのため、めっき伸びの発生を抑制することと、高いインダクタンス値を達成することとを両立することは困難である。
これに対し、本実施形態に係るコイル部品1においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子をコイル導体3の巻回部の内側(すなわち磁芯部)に配置し、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を素体2の上面201、下面202、第1側面203および第2側面204(すなわち素体2の表面)に配置している。例えば、図1〜図3に示す構成例においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22が磁芯部に配置され、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第1磁性体層21が第2磁性体層22の外側に配置されて素体2の表面を構成している。このように、コイル部品1のインダクタンス値に対する寄与が大きい磁芯部に、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を配置することにより、磁芯部における透磁率が向上し、その結果、コイル部品1のインダクタンス値をより高くすることができる。さらに、めっき伸びが発生するおそれのある素体2の表面に、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を配置することにより、素体2の表面における抵抗を高くすることができ、その結果、より高いインダクタンス値を確保しつつ、めっき伸びの発生をより抑制することができる。
コイル部品1の素体2において、上面201を構成する金属磁性体粒子、下面202を構成する金属磁性体粒子、第1側面203を構成する金属磁性体粒子、および第2側面204を構成する金属磁性体粒子はそれぞれ、平均粒径が同じであってよく、あるいは平均粒径が互いに異なっていてもよい。素体2の各表面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径が互いに異なっている場合であっても、各表面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径がそれぞれ、磁芯部に存在する金属磁性体粒子の平均粒径よりも小さければ、めっき伸びの発生の抑制とインダクタンス値の向上との両立という効果を奏することができる。また、素体2の一の表面において、その表面を構成する金属磁性体粒子の粒径は、その表面全体にわたって略均一であってよく、あるいは異なる粒径を有する金属磁性体粒子が分布していてもよい。尤も、素体2の一の表面において、金属磁性体粒子の粒径の分布が均一であるほど、その表面におけるめっき伸びの発生を抑制する効果が高くなるので好ましい。
コイル部品1のインダクタンス値は、例えば、周波数10MHzでインダクタンス値を測定することによって評価することができる。コイル部品1におけるめっき伸びの有無は、コイル部品1の外観を目視で観察することによって評価することができる。具体的には、図16に示すように、外部電極5の幅(符号aで示す)よりも大きくめっきが成長した(符号bで示す)ものをめっき伸びによる不良品と評価することができる。
コイル部品1において、素体2の第3側面205を構成する金属磁性体粒子および第4側面206を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体3の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さいことが好ましい。例えば、図1〜図3に示す構成例においては、コイル部品1の素体2の上面201、下面202、第1側面203および第2側面204に加えて、第3側面205および第4側面206もまた、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第1磁性体層21で構成されており、コイル導体3の巻回部の内側は、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22で構成されている。このような構成により、外部電極5の形状および位置によらず、めっき伸びの発生をより一層抑制することができ、かつより高いインダクタンス値を達成することができる。また、このような構成は、製造がより容易であるという利点も有する。外部電極5の形状および位置については後述する。素体2の第3側面205を構成する金属磁性体粒子および第4側面206を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、上面201を構成する金属磁性体粒子、下面202を構成する金属磁性体粒子、第1側面203を構成する金属磁性体粒子、および第2側面204を構成する金属磁性体粒子の平均粒径と同じであってよく、あるいは、素体2の上面201、下面202、第1側面203、第2側面204、第3側面205、第4側面206はそれぞれ、平均粒径が異なる金属磁性体粒子で構成されていてもよい。
コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面と素体2の上面201との間の領域、およびコイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面と素体2の下面202との間の領域はそれぞれ、巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子よりも平均粒径が小さい金属磁性体粒子で構成されることが好ましい。例えば、図1〜図3に示す構成例においては、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面と素体2の上面201との間の領域、およびコイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面と素体2の下面202との間の領域はそれぞれ、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第1磁性体層21で構成されており、コイル導体3の巻回部の内側は、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22で構成されている。このような構成により、コイル部品1の強度が向上し得る。
別の構成例として、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、素体2の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、素体2の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在してもよい。例えば、図5〜図10に示すコイル部品1において、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22は、コイル導体3の巻回部の内側だけでなく、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域、およびコイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域にも配置されている。このような構成により、コイル部品1のインダクタンス値をより一層高くすることができる。
また、コイル導体3は、巻回軸方向に積層されて互いに電気的に接続した複数の導体層を含んでよい。このとき、素体2の上面201を構成する金属磁性体粒子、下面202を構成する金属磁性体粒子、第1側面203を構成する金属磁性体粒子および第2側面204を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、巻回軸方向に隣り合う導体層の間に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さくてよい。換言すると、コイル導体3を構成する導体層間に、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子が配置されてよい。例えば、図4、5、8、9および10に示すコイル部品1において、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22は、コイル導体3の巻回部の内側だけでなく、巻回軸方向に隣り合う導体層間にも配置されている。このような構成により、コイル部品1のインダクタンス値をより一層高くすることができる。
また、コイル導体3の巻回部と素体2の第1側面203との間の領域に、第1側面203を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体3の巻回部と第2側面204との間の領域に、第2側面204を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在してよい。さらに、素体2の第3側面205を構成する金属磁性体粒子および第4側面206を構成する金属磁性体粒子の平均粒径がそれぞれ、コイル導体3の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい場合、コイル導体3の巻回部と第3側面205との間の領域に、第3側面205を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体3の巻回部と第4側面206との間の領域に、第4側面206を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在してよい。換言すると、コイル導体3の巻回部の外側に、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子が配置されてよい。例えば、図9および10に示す構成例において、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22は、コイル導体3の巻回部の内側だけでなく、コイル導体3の巻回部と素体2の第1側面203との間の領域、巻回部と第2側面204との間の領域、巻回部と第3側面205との間の領域、および巻回部と第4側面206との間の領域にも配置されている。このような構成により、コイル部品1のインダクタンス値をより一層高くすることができる。
次に、コイル部品1の各構成要素の詳細について以下に説明する。
(素体2)
素体2は、図1〜図3に示すように略直方体形状であり、金属磁性体粒子を含む。素体2の上面201を構成する金属磁性体粒子、下面202を構成する金属磁性体粒子、第1側面203を構成する金属磁性体粒子および第2側面204を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体3の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい。図1〜図3に示す構成例においては、素体2の上面201、下面202、第1側面203、第2側面204、第3側面205および第4側面206はそれぞれ、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第1磁性体層21で構成され、コイル導体3の巻回部の内側は平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22で構成されている。図1〜図3に示す構成例において、素体2は第1磁性体層21および第2磁性体層22で構成されているが、素体2は、第1磁性体層21および第2磁性体層22に加えて、第1磁性体層21および第2磁性体層22に含まれる金属磁性体粒子とは異なる種類の金属磁性体粒子を含む1以上の磁性体層をさらに有してもよい。
金属磁性体粒子を構成する金属磁性材料は特に限定されるものではなく、例えば、Fe、Fe−Si系合金、Fe−Si−Cr系合金、Fe−Si−Al系合金、Fe−Ni系合金、Fe−Ni−Al系合金、Fe−Cr−Al系合金、アモルファス等またはこれらの組み合わせであってよい。第1磁性体層21に含まれる金属磁性体粒子と、第2磁性体層22に含まれる金属磁性体粒子とは、同じ組成を有するものであってよく、異なる組成を有するものであってもよい。また、第1磁性体層21および第2磁性体層22はそれぞれ、1種類の金属磁性体粒子を含んでよく、2種類以上の金属磁性体粒子を含んでもよい。
素体2に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径は特に限定されるものではなく、所望の特性および用途等に応じて適宜設定することができる。素体2の上面201を構成する金属磁性体粒子、下面202を構成する金属磁性体粒子、第1側面203を構成する金属磁性体粒子および第2側面204を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体3の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径の10%以上80%以下であることが好ましい。より具体的には、素体2の上面201を構成する金属磁性体粒子、下面202を構成する金属磁性体粒子、第1側面203を構成する金属磁性体粒子および第2側面204を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、1μm以上12μm以下であることが好ましい。コイル導体3の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径は、3μm以上14μm以下であることが好ましい。図1〜図3に示す構成例においては、第1磁性体層21に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径は、1μm以上12μm以下であることが好ましく、第2磁性体層22に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径は、3μm以上14μm以下であることが好ましい。
素体2に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径は、以下に説明する手順で測定することができる。まず、コイル部品1を切断して断面を形成する。断面は、コイル部品1の幅Wの1/2の位置においてLT面に平行に切断した面、またはコイル部品1の長さLの1/2の位置においてWT面に平行に切断した面とする。得られた断面について鏡面研磨を行う。鏡面研磨後の断面において倍率1000倍のSEM画像を取得する。なお、SEM画像の倍率は、測定する金属磁性体粒子のサイズに応じて適宜変更してよい。素体2の表面(上面201、下面202、第1側面203、第2側面204、第3側面205または第4側面206)を構成する金属磁性体粒子の平均粒径を測定する場合には、その表面近傍の任意の箇所においてSEM画像を取得する。コイル導体3の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径を測定する場合には、巻回部の内側の任意の箇所においてSEM画像を取得する。図1〜図3に示すように素体2が複数の磁性体層で構成される場合、磁性体層の界面近傍以外の箇所でSEM画像を取得するようにする。画像解析ソフトを用いてSEM画像を二値化し、金属磁性体粒子の輪郭を抽出する。このとき、金属磁性体粒子の輪郭の全体がSEM画像内に収まっているもののみを解析対象とする。抽出した金属磁性体粒子の円相当径を求め、その平均値を金属磁性体粒子の平均粒径とする。なお、素体2の断面において粒径を測定する場合、金属磁性体粒子が切断される箇所によっては、実際の粒径よりも小さい測定値となることがあるが、それぞれの磁性体層間での金属磁性体粒子の相対的な大小関係は素体2の断面から求めた平均粒径で判別可能である。
コイル部品1は、後述するように素体2を熱処理して製造することができる。この場合、素体2に含まれる金属磁性体粒子は表面に酸化膜を有する。この酸化膜は、金属磁性体粒子に由来するものであり、熱処理により形成される。素体2において、隣接する金属磁性体粒子は酸化膜を介して互いに接合している。換言すると、金属磁性体粒子同士がネッキングしている。熱処理を行うと、金属磁性体粒子は焼結によってこのように強固に接合することになる。熱処理により製造したコイル部品1は、めっき伸びの問題がより顕著になる場合がある。本実施形態のコイル部品1は、めっき伸びの発生をより抑制することができるので、コイル部品1を熱処理により製造した場合であっても、めっき伸びの発生をより抑制することができる。
本実施形態のコイル部品1は、積層型コイル部品であってよい。熱処理により製造される積層型コイル部品は、金属磁性体粒子とコイル導体3との間の絶縁性を、金属磁性体粒子の表面に存在する酸化膜によって確保する。そのため、熱処理を行う前にプレスで高圧を印加することにより、素体2における金属磁性体粒子の密度を高くすることができる。積層型コイル部品は、めっき伸びの問題がより顕著になる場合がある。本実施形態のコイル部品1は、めっき伸びの発生をより抑制することができるので、コイル部品1が積層型コイル部品である場合であっても、めっき伸びの発生をより抑制することができる。
(コイル導体3)
コイル導体3は、巻回軸方向に積層されて互いに電気的に接続した複数の導体層を含む。コイル導体3の一端は、素体2の表面に引き出されて引出導体4を介して外部電極5の1つと電気的に接続し、コイル導体3の他端は、素体2の表面に引き出されて引出導体4を介して外部電極5の別の1つと電気的に接続する。コイル導体3の両端を引き出す位置は、外部電極5を設ける位置に応じて適宜変更することができる。コイル導体3は、一般的に積層型素子に用いられている金属材料で構成されてよく、例えば、Ag、Ag−Pd、CuおよびPt等で構成されてよい。なお、図1〜図3に示す構成例において、コイル部品1はコイル導体3を1つのみ備えているが、コイル部品1は2以上のコイル導体3を備えていてもよい。
(外部電極5)
コイル部品1は複数の外部電極5を備える。外部電極5は、素体2の内部に配置されるコイル導体3と外部との電気的接続を行うために設けられる。外部電極5の数は、コイル部品1が備えるコイル導体3の数に応じて変化する。図1〜図3に示す構成例において、コイル部品1は2つの外部電極5を備える。外部電極5の形状および配置する位置は特に限定されるものではなく、用途等に応じて適宜設定することができる。例えば、外部電極5は、図1〜図3に示すように素体2の両端に設けてよい。あるいは、外部電極5は、図11に示すように素体2の下面202と、下面202と隣り合う第3側面205または第4側面206にまたがって設けられたL字型電極であってよく、図12に示すように素体2の下面202に設けられた底面電極であってもよい。図11に示すように外部電極5がL字型電極である場合、外部電極5が設けられている素体2の下面202を構成する金属磁性体粒子の平均粒径、第3側面205を構成する金属磁性体粒子の平均粒径および第4側面206を構成する金属磁性体粒子の平均粒径がそれぞれ、コイル導体3の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さいと、めっき伸びの発生をより抑制し、かつより高いインダクタンス値を達成することができる。図12に示すように外部電極5が底面電極である場合、外部電極5が設けられている素体2の下面202を構成する金属磁性体粒子の平均粒径が、コイル導体3の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さいと、めっき伸びの発生をより抑制し、かつより高いインダクタンス値を達成することができる。外部電極5は、金属(AgおよびCu等)等の導電性材料およびガラス成分を含んでよい。
次に、本実施形態に係るコイル部品1の変形例について以下に説明する。ただし、本実施形態に係るコイル部品1の構成は、以下の変形例に限定されるものではない。以下に説明する第1変形例〜第8変形例のコイル部品1はいずれも、めっき伸びの発生がより抑制され、かつ、より高いインダクタンス値を有する。
[第1変形例]
図4に、第1変形例のコイル部品1を模式的に示すLT面に平行な断面図を示す。第1変形例のコイル部品1は、素体2の上面201を構成する金属磁性体粒子、下面202を構成する金属磁性体粒子、第1側面203を構成する金属磁性体粒子および第2側面204を構成する金属磁性体粒子の平均粒径がそれぞれ、コイル導体3の巻回軸方向に隣り合う導体層の間に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい点で、図1〜図3のコイル部品1と相違する。換言すると、第1変形例のコイル部品1においては、コイル導体3を構成する導体層間にも、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22が配置されている。第1変形例のコイル部品1は、図1〜図3に示すコイル部品1と比較して、インダクタンス値が更に高くなるという利点を有する。また、第1変形例のコイル部品1は、異なる材料同士が接する面が少なく、構造が複雑でないため、製造が容易であり、図1〜図3に示すコイル部品1と同等の強度を有する。
[第2変形例]
図5に、第2変形例のコイル部品1を模式的に示すLT面に平行な断面図を示す。第2変形例のコイル部品1は、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、素体2の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、素体2の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する点で、第1変形例のコイル部品1と相違する。換言すると、第2変形例のコイル部品1においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22が、コイル導体3の巻回部の内側だけでなく、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域、およびコイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域にも配置されている。第2変形例のコイル部品1は、第1変形例のコイル部品1と比較して、インダクタンス値が更に高くなるという利点を有する。また、第2変形例のコイル部品1は構造が複雑でないため、製造が容易であり、第1変形例のコイル部品1と同等の強度を有する。なお、第2変形例のコイル部品1においては、図5に示すように、コイル導体3の巻回部の上端および下端を覆うように第2磁性体層22が設けられている。そのため、第2変形例のコイル部品1は、後述する第5変形例のコイル部品1よりも第2磁性体層22の占める体積が大きく、したがってより高いインダクタンス値を有する。
[第3変形例]
図6に、第3変形例のコイル部品1を模式的に示すLT面に平行な断面図を示す。第3変形例のコイル部品1は、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、素体2の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、素体2の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する点で、図1〜図3に示すコイル部品1と相違する。換言すると、第3変形例のコイル部品1においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22が、コイル導体3の巻回部の内側だけでなく、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域、およびコイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域にも配置されている。第3変形例のコイル部品1は、図1〜図3に示すコイル部品1と比較して、インダクタンス値が更に高くなるという利点を有する。なお、第3変形例のコイル部品1においては、図6に示すように、コイル導体3の巻回部の上端および下端を覆うように第2磁性体層22が設けられている。そのため、第3変形例のコイル部品1は、後述する第4変形例のコイル部品1よりも第2磁性体層22の占める体積が大きく、したがってより高いインダクタンス値を有する。
[第4変形例]
図7に、第4変形例のコイル部品1を模式的に示すLT面に平行な断面図を示す。第4変形例のコイル部品1は、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、素体2の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、素体2の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する点で、図1〜図3に示すコイル部品1と相違する。換言すると、第4変形例のコイル部品1においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22が、コイル導体3の巻回部の内側だけでなく、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域、およびコイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域にも配置されている。第4変形例のコイル部品1は、図1〜図3に示すコイル部品1と比較して、インダクタンス値が更に高くなるという利点を有する。
[第5変形例]
図8に、第5変形例のコイル部品1を模式的に示すLT面に平行な断面図を示す。第5変形例のコイル部品1は、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、素体2の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、素体2の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する点で、第1変形例のコイル部品1と相違する。換言すると、第5変形例のコイル部品1においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22が、コイル導体3の巻回部の内側だけでなく、コイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域、およびコイル導体3の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域にも配置されている。第5変形例のコイル部品1は、第1変形例のコイル部品1と比較して、インダクタンス値が更に高くなるという利点を有する。
[第6変形例]
図9および図10に、第6変形例のコイル部品1を模式的に示すLT面に平行な断面図およびLW面に平行な断面図を示す。第6変形例のコイル部品1は、コイル導体3の巻回部と素体2の第1側面203との間の領域に、第1側面203を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体3の巻回部と第2側面204との間の領域に、第2側面204を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体3の巻回部と第3側面205との間の領域に、第3側面205を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体3の巻回部と第4側面206との間の領域に、第4側面206を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する点で、第2変形例のコイル部品1と相違する。換言すると、第6変形例のコイル部品1においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22は、コイル導体3の巻回部の内側だけでなく、コイル導体3の巻回部と素体2の第1側面203との間の領域、巻回部と第2側面204との間の領域、巻回部と第3側面205との間の領域、および巻回部と第4側面206との間の領域にも配置されている。第6変形例のコイル部品1は、図1〜図3に示すコイル部品1および第1変形例〜第5変形例のコイル部品1と比較して、第2磁性体層22の占める体積が最も大きいので、最も高いインダクタンス値を有する。
[第7変形例]
図11に、第7変形例のコイル部品1を模式的に示すLT面に平行な断面図を示す。第7変形例のコイル部品1は、外部電極5がL字型電極である点で、図1〜図3に示すコイル部品1と相違する。第7変形例のコイル部品1において、素体2の表面は全て、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第1磁性体層21で構成されている。そのため、外部電極5が図11に示すようなL字型電極である場合であっても、めっき伸びの発生をより抑制することができ、かつより高いインダクタンス値を達成することができる。
[第8変形例]
図12に、第8変形例のコイル部品1を模式的に示すLT面に平行な断面図を示す。第8変形例のコイル部品1は、外部電極5が底面電極である点で、図1〜図3に示すコイル部品1と相違する。第8変形例のコイル部品1において、素体2の表面は全て、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第1磁性体層21で構成されている。そのため、外部電極5が図12に示すような底面電極である場合であっても、めっき伸びの発生をより抑制することができ、かつより高いインダクタンス値を達成することができる。
[コイル部品1の製造方法]
次に、本発明の実施形態に係るコイル部品1の製造方法について、図1〜図3に示すコイル部品1の製造方法を例として以下に説明する。ただし、コイル部品1の製造方法は、以下に説明する方法に限定されるものではない。
(第1磁性体層21用ペーストおよび第2磁性体層22用ペーストの調製)
所定の粒径を有する金属磁性体粒子に、所定量のPVA(ポリビニルアルコール)、PVB(ポリビニルブチラール)および/またはエチルセルロース等のバインダーを添加し、これにBCA(ブチルカルビトールアセテート)、BC(ブチルカルビトール)および/またはターピネオール等の溶剤を加えて混練し、第1磁性体層21用ペーストおよび第2磁性体層22用ペーストを得る。第1磁性体層21用ペーストに用いる金属磁性体粒子の粒径、および第2磁性体層22用ペーストに用いる金属磁性体粒子の粒径は、完成品のコイル部品1において第1磁性体層21に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径が、第2磁性体層22に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径よりも小さくなるように適宜選択することができる。例えば、第1磁性体層21用ペーストに用いる金属磁性体粒子は、第2磁性体層22用ペーストに用いる金属磁性体粒子よりも体積基準のメジアン径または平均粒径が小さいものとすることができる。第1磁性体層21用ペーストに用いる金属磁性体粒子は、第2磁性体層22用ペーストに用いる金属磁性体粒子の体積基準のメジアン径の10%以上80%以下であることが好ましい。より具体的には、第1磁性体層21用ペーストに用いる金属磁性体粒子は、例えば、体積基準のメジアン径が2μm以上16μm以下であることが好ましい。第2磁性体層22用ペーストに用いる金属磁性体粒子は、例えば、体積基準のメジアン径が5μm以上20μm以下であることが好ましい。なお、第1磁性体層21用ペーストおよび第2磁性体層22用ペーストに含まれる金属磁性体粒子のメジアン径または平均粒径の相対的な大小関係と、完成品のコイル部品1における第1磁性体層21および第2磁性体層22に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径の相対的な大小関係とは、本質的に変化しない。また、金属磁性体粒子の相対的な大小関係は、メジアン径または平均粒径のいずれによって評価しても本質的に同じであると考えて差し支えない。金属磁性体粒子を構成する金属磁性材料は特に限定されるものではなく、例えば、Fe−Si系合金、Fe−Si−Cr系合金、Fe−Si−Al系合金、Fe−Ni系合金またはこれらの組み合わせであってよい。金属磁性体粒子は、市販の製品を適宜用いてよい。
(コイル導体用ペーストの調製)
所定の粒径を有する金属粒子に、所定量のPVA(ポリビニルアルコール)、PVB(ポリビニルブチラール)および/またはエチルセルロース等のバインダーを添加し、これにBCA(ブチルカルビトールアセテート)、BC(ブチルカルビトール)および/またはターピネオール等の溶剤を加えて混練し、コイル導体用ペーストを得る。金属粒子の平均粒径は特に限定されず、例えば0.5μm以上10μm以下であってよい。金属粒子を構成する金属材料は特に限定されるものではなく、例えば、Ag、Ag−Pd、CuおよびPt等の、一般的に積層型素子に用いられている金属材料であってよい。
(素体2およびコイル導体3の形成)
第1磁性体層21用ペーストまたは第2磁性体層22用ペーストと、コイル導体用ペーストとを交互に層状に印刷することにより、コイル導体3が内部に配置された素体2を形成する。スクリーン版を用いて各ペーストを印刷することにより、素体内の任意の箇所に任意の構成要素を配置することができる。得られた素体2は、大気中において所定温度で脱バインダー処理を行い、次いで600℃以上、好ましくは600℃以上800℃以下で熱処理を行う。
(外部電極5の形成)
外部電極5は、コイル導体3および素体2を形成するときに同時に形成してよく、あるいは素体2を熱処理した後に形成してもよい。素体2を熱処理した後に外部電極5を形成する場合、例えば、熱処理後の素体2の両端に外部電極用ペーストを塗布した後、熱処理(焼付け処理)を行うことにより外部電極5を形成することができる。外部電極用ペーストとして、例えば、AgおよびCu等の金属ならびにガラスフリットを含むペーストを用いることができる。ガラスフリットは、素体2と外部電極5との密着性の確保を目的として加えられる。形成した外部電極5にめっきを施してよい。めっきは、コイル部品1を実装する際にはんだ付け等により外部との接続を行うために施される。目的に応じた種類のめっきを施すことができ、通常はNi−SnめっきまたはCu−Snめっき等を施すことができる。外部電極5にめっきを施す場合、素体2に存在する空隙にめっき液が侵入するのを防止するために、素体2に樹脂を含浸させて空隙を埋めてもよい。本実施形態に係るコイル部品1は、めっき伸びの発生をより抑制することができるので、めっきの形状および寸法の精度が向上し得る。このようにして、コイル部品1を製造することができる。
(ペーストAおよびペーストBの調製)
以下に説明する手順で、金属磁性体粒子を含むペーストAおよびペーストBを調製した。ペーストAの金属磁性体粒子として、体積基準のメジアン径D50が10μmのFe−Si合金粒子を用いた。ペーストBの金属磁性体粒子として、体積基準のメジアン径D50が5μmのFe−Si合金粒子を用いた。それぞれの金属磁性体粒子に、バインダーとして所定量のエチルセルロースを添加し、これに溶剤としてターピネオールを加えて混練し、ペーストAおよびペーストBを得た。
ペーストAおよびペーストBをそれぞれ、厚さ1mmに積層して積層体を得た。比透磁率測定用の試料は、積層体を450MPaでプレスしてトロイダル形状に加工することにより作製した。抵抗率測定用の試料は、積層体を450MPaでプレスして板状に加工することにより作製した。プレス加工後の試料を大気中で脱バインダー処理し、次いで700℃で熱処理を行って、比透磁率測定用の試料および抵抗率測定用の試料とした。ペーストAを用いて作製した試料(試料A)およびペーストBを用いて作製した試料(試料B)のそれぞれについて、周波数10MHzにおける比透磁率および抵抗率を測定した。結果を表1に示す。
Figure 2020161718
表1に示すように、メジアン径が10μmの金属磁性体粒子を用いて作製した試料Aは、メジアン径が5μmの金属磁性体粒子を用いて作製した試料Bと比較して、より高い比透磁率を有し、かつより低い抵抗率を有した。
[実施例1]
第1磁性体層21用ペーストとしてペーストB、第2磁性体層22用ペーストとしてペーストAを用いて、図1〜図3に示すような構造を有する実施例1のコイル部品1を作製した。コイル導体用ペーストとして、Ag粒子に、バインダーとして所定量のエチルセルロースを添加し、これに溶剤としてターピネオールを加え、混練して得られたペーストを用いた。第1磁性体層21用ペースト(ペーストB)または第2磁性体層22用ペースト(ペーストA)と、コイル導体用ペーストとを交互に層状に印刷することにより、コイル導体3が内部に配置された素体2を形成した。得られた素体2を450MPaでプレスした後、ダイシングにより個片化して、大気中において所定温度(400℃)で脱バインダー処理し、次いで700℃で熱処理を行った。熱処理をした後の素体2に、外部電極用ペーストとしてAgペーストを塗布し、熱処理を行って外部電極5を形成した。素体2の空隙を埋めるために、素体2にエポキシ樹脂を含浸させた。次いで、外部電極5にNiめっき及びSnめっきを施すことにより、1.6mm×0.8mm×0.8mmのコイル部品1(インダクタ素子)を得た。実施例1のコイル部品1において、素体2は、図1に示すように、コイル導体の巻回部の内側に配置された第2磁性体層22(平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む層)と、その外側に配置された第1磁性体層21(平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む層)とで構成される。
[比較例1]
図13および図14に示すような構造を有する比較例1のコイル部品1を作製した。比較例1のコイル部品1は、ペーストAのみを用いて素体2を形成した以外は、実施例1と同様の手順で作製した。比較例1のコイル部品1において、素体2は、図13および図14に示すように、第2磁性体層22(平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む層)のみで構成される。
[比較例2]
図15に示すような構造を有する比較例2のコイル部品1を作製した。比較例2のコイル部品1は、ペーストBのみを用いて素体2を形成した以外は、実施例1と同様の手順で作製した。比較例2のコイル部品1において、素体2は、図15に示すように、第1磁性体層21(平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む層)のみで構成される。
(金属磁性体粒子の平均粒径の測定)
実施例1、比較例1および比較例2のそれぞれについて、以下に説明する手順で素体2に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径を測定した。まず、コイル部品1を切断して断面を形成した。断面は、コイル部品1の幅Wの1/2の位置においてLT面に平行に切断した面、またはコイル部品1の長さLの1/2の位置においてWT面に平行に切断した面であった。得られた断面について鏡面研磨を行った。鏡面研磨後の断面において倍率1000倍のSEM画像を取得した。実施例1については、コイル導体3の巻回部の内側(磁芯部)において第2磁性体層22のSEM画像を取得し、磁芯部の外側の素体2の表面近傍において、第1磁性体層21のSEM画像を取得した。素体2が第2磁性体層22のみで構成される比較例1については、素体2の断面の任意の位置で第2磁性体層22のSEM画像を取得した。素体2が第1磁性体層21のみで構成される比較例2については、素体2の断面の任意の位置で第1磁性体層21のSEM画像を取得した。
画像解析ソフト(A像くん(登録商標)Ver 2.54、旭化成エンジニアリング株式会社製)を用いてSEM画像を二値化し、金属磁性体粒子の輪郭を抽出した。このとき、金属磁性体粒子の輪郭の全体がSEM画像内に収まっているもののみを解析対象とした。抽出した金属磁性体粒子の円相当径を求め、その平均値を金属磁性体粒子の平均粒径とした。結果を表2に示す。
(インダクタンス値および直流抵抗の測定)
実施例1、比較例1および比較例2のそれぞれについて、10MHzにおけるインダクタンス値および直流抵抗Rdcを測定した。インダクタンス値の測定は、アジレントテクノロジー社(現キーサイトテクノロジー社)製のE4991Aを用いて行った。直流抵抗Rdcの測定は、アジレントテクノロジー社(現キーサイトテクノロジー社)製の4338Bを用いて行った。インダクタンス値および直流抵抗Rdcの測定は、各実施例および比較例につき試料数n=50で実施し、平均値をそれぞれインダクタンス値および直流抵抗Rdcとした、結果を表2に示す。
(めっき伸びの発生率の測定)
実施例1、比較例1および比較例2のそれぞれについて、コイル部品1の外観を目視で観察し、めっき伸びの有無を確認した。図16に示すように、外部電極5の幅(符号aで示す)よりも大きくめっきが成長した(符号bで示す)ものをめっき伸びによる不良品としてカウントした。外観の確認は試料数n=100で行い、めっき伸びの発生率を求めた。結果を表2に示す。
Figure 2020161718
表2に示すように、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第2磁性体層22が磁芯部に配置され、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第1磁性体層21が素体2の表面に配置された実施例1のコイル部品1は、素体2の全体を第1磁性体層21で構成した比較例2のコイル部品1よりも高いインダクタンス値を確保しつつ、素体2の全体を第2磁性体層22で構成した比較例1のコイル部品1よりも低いめっき伸び発生率を達成した。また、実施例1、比較例1および比較例2のコイル部品1は、ほぼ同等の直流抵抗Rdcを有した。
本発明は以下の態様を含むが、これらの態様に限定されるものではない。
(態様1)
金属磁性体粒子を含む素体と、素体の内部に配置されたコイル導体と、素体の表面に配置された複数の外部電極とを備えるコイル部品であって、
素体は、コイル導体の巻回軸に対して略直交する上面および下面と、互いに対向する第1側面および第2側面と、互いに対向する第3側面および第4側面とを有する略直方体形状であり、
上面を構成する金属磁性体粒子、下面を構成する金属磁性体粒子、第1側面を構成する金属磁性体粒子および第2側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、コイル部品。
(態様2)
巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面と素体の上面との間の領域、および巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面と素体の下面との間の領域はそれぞれ、巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子よりも平均粒径が小さい金属磁性体粒子で構成される、態様1に記載のコイル部品。
(態様3)
巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、素体の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、
巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、素体の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する、態様1に記載のコイル部品。
(態様4)
コイル導体が、巻回軸方向に積層されて互いに電気的に接続した複数の導体層を含み、
上面を構成する金属磁性体粒子、下面を構成する金属磁性体粒子、第1側面を構成する金属磁性体粒子および第2側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、巻回軸方向に隣り合う導体層の間に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、態様1〜3のいずれか1つに記載のコイル部品。
(態様5)
コイル導体の巻回部と第1側面との間の領域に、第1側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、
コイル導体の巻回部と第2側面との間の領域に、第2側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する、態様1〜4のいずれか1つに記載のコイル部品。
(態様6)
第3側面を構成する金属磁性体粒子および第4側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、態様1〜5のいずれか1つに記載のコイル部品。
(態様7)
コイル導体の巻回部と第3側面との間の領域に、第3側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、
コイル導体の巻回部と第4側面との間の領域に、第4側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する、態様6に記載のコイル部品。
(態様8)
金属磁性体粒子は表面に酸化膜を有し、隣接する金属磁性体粒子は酸化膜を介して互いに接合している、態様1〜7のいずれか1つに記載のコイル部品。
(態様9)
コイル部品は積層型コイル部品である、態様1〜8のいずれか1つに記載のコイル部品。
本発明に係るコイル部品は、より高いインダクタンス値を有すると同時に、めっき伸びの発生がより抑制されるので、高い実装精度を必要とする用途に幅広く利用することができる。
1 コイル部品
2 素体
21 第1磁性体層
22 第2磁性体層
201 上面
202 下面
203 第1側面
204 第2側面
205 第3側面
206 第4側面
3 コイル導体
4 引出導体
5 外部電極

Claims (9)

  1. 金属磁性体粒子を含む素体と、該素体の内部に配置されたコイル導体と、前記素体の表面に配置された複数の外部電極とを備えるコイル部品であって、
    前記素体は、前記コイル導体の巻回軸に対して略直交する上面および下面と、互いに対向する第1側面および第2側面と、互いに対向する第3側面および第4側面とを有する略直方体形状であり、
    前記上面を構成する金属磁性体粒子、前記下面を構成する金属磁性体粒子、前記第1側面を構成する金属磁性体粒子および前記第2側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、前記コイル導体の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、コイル部品。
  2. 前記巻回軸に略直交する面であって前記巻回部の上端に接する面と前記素体の上面との間の領域、および前記巻回軸に略直交する面であって前記巻回部の下端に接する面と前記素体の下面との間の領域はそれぞれ、前記巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子よりも平均粒径が小さい金属磁性体粒子で構成される、請求項1に記載のコイル部品。
  3. 前記巻回軸に略直交する面であって前記巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、前記素体の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、
    前記巻回軸に略直交する面であって前記巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、前記素体の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する、請求項1に記載のコイル部品。
  4. 前記コイル導体が、前記巻回軸方向に積層されて互いに電気的に接続した複数の導体層を含み、
    前記上面を構成する金属磁性体粒子、前記下面を構成する金属磁性体粒子、前記第1側面を構成する金属磁性体粒子および前記第2側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、前記巻回軸方向に隣り合う前記導体層の間に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、請求項1〜3のいずれか1項に記載のコイル部品。
  5. 前記コイル導体の巻回部と前記第1側面との間の領域に、前記第1側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、
    前記コイル導体の巻回部と前記第2側面との間の領域に、前記第2側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する、請求項1〜4のいずれか1項に記載のコイル部品。
  6. 前記第3側面を構成する金属磁性体粒子および前記第4側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、前記巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、請求項1〜5のいずれか1項に記載のコイル部品。
  7. 前記コイル導体の巻回部と前記第3側面との間の領域に、前記第3側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、
    前記コイル導体の巻回部と前記第4側面との間の領域に、前記第4側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する、請求項6に記載のコイル部品。
  8. 前記金属磁性体粒子は表面に酸化膜を有し、隣接する前記金属磁性体粒子は前記酸化膜を介して互いに接合している、請求項1〜7のいずれか1項に記載のコイル部品。
  9. 前記コイル部品は積層型コイル部品である、請求項1〜8のいずれか1項に記載のコイル部品。
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