JP2020010600A - Power conversion system - Google Patents

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Abstract

To provide a power conversion system that is able to execute overheat protection control for a power conversion circuit, taking account of an electric current unbalanced state.SOLUTION: A power conversion system comprises: a power conversion circuit 2 that converts and outputs power supplied from a power source 3; and a control unit 8 that controls the power conversion circuit 2. The power conversion circuit 2 has a parallel connection phase 6c in which respective two semiconductor elements 11, 11 of an upper arm 2a connected to a high potential wire 3a of the power source 3 and a lower arm 2b connected to a low potential wire 3b of the power source 3, are connected in parallel. The control unit 8 detects temperature information about all element temperatures of the two semiconductor elements 11, 11 of the lower arm 2b of the parallel connection phase 6c. The control unit sets a threshold for the temperature, taking account of an electric current unbalance state in which electric currents of different magnitudes flow between the plurality of semiconductor elements 11 connected in parallel. Based on the detected temperature information and the set threshold, the control unit executes overheat protection control for the power conversion circuit 2.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、電源から供給される電力を変換して出力する電力変換装置に関する。   The present invention relates to a power converter that converts power supplied from a power supply and outputs the converted power.

電気自動車、ハイブリッド自動車等の車両は、電力変換を行う電力変換装置を搭載している。例えば、下記の特許文献1には、半導体素子を内蔵した複数の半導体モジュールを備える電力変換装置が開示されている。この電力変換装置は、電源から供給される電力を変換して出力する電力変換回路と、この電力変換回路を制御する制御部と、を備えている。制御部は、温度上昇の最も大きい半導体素子の素子温度を検出し、検出した素子温度に基づいて電力変換回路の過熱保護制御を行うように構成されている。   Vehicles such as electric vehicles and hybrid vehicles are equipped with a power conversion device for performing power conversion. For example, Patent Literature 1 below discloses a power conversion device including a plurality of semiconductor modules each including a semiconductor element. The power conversion device includes a power conversion circuit that converts and outputs power supplied from a power supply, and a control unit that controls the power conversion circuit. The control unit is configured to detect an element temperature of the semiconductor element having the largest temperature rise, and to perform overheat protection control of the power conversion circuit based on the detected element temperature.

特開2008−206345号公報JP 2008-206345 A

上記の特許文献1に開示の電力変換装置は、電力変換回路の過熱保護制御について以下のような問題を抱えている。
この電力変換装置は、半導体モジュールや半導体素子の個体差などが原因で、半導体モジュールの動作時に半導体素子ごとに異なる大きさの電流が流れる状態(以下、「電流アンバランス状態」という。)を形成し得る。例えば、上アーム及び下アームのそれぞれにおいて2つの半導体素子が互いに並列接続された相において、2つの半導体素子のそれぞれを大きさの異なる電流が流れる場合に電流アンバランス状態になる。
このような場合、電流が小さい方の半導体素子のみの温度情報を検出してしまうと、流れる電流が大きい方の半導体素子の素子温度が予め設定された管理温度(閾値)を大きく上回ることが想定される。このため、この種の電力変換装置の設計に際しては、電力変換回路の過熱保護制御を行うのに電流アンバランス状態を考慮する必要がある。
The power conversion device disclosed in Patent Literature 1 has the following problems regarding overheat protection control of the power conversion circuit.
This power conversion device forms a state in which a current of a different magnitude flows for each semiconductor element during operation of the semiconductor module (hereinafter, referred to as a “current unbalanced state”) due to individual differences between the semiconductor modules and the semiconductor elements. I can do it. For example, in a phase in which two semiconductor elements are connected in parallel to each other in each of the upper arm and the lower arm, a current imbalance occurs when currents of different magnitudes flow through each of the two semiconductor elements.
In such a case, if temperature information of only the semiconductor element with the smaller current is detected, it is assumed that the element temperature of the semiconductor element with the larger current greatly exceeds the preset management temperature (threshold). Is done. For this reason, when designing this type of power converter, it is necessary to consider the current imbalance state when performing overheat protection control of the power conversion circuit.

本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、電流アンバランス状態を考慮して電力変換回路の過熱保護制御を行うことができる電力変換装置を提供しようとするものである。   The present invention has been made in view of such a problem, and has as its object to provide a power conversion device capable of performing overheat protection control of a power conversion circuit in consideration of a current imbalance state.

本発明の一態様は、
電源(3)から供給される電力を変換して出力する電力変換回路(2)と、上記電力変換回路を制御する制御部(8)と、を備えた電力変換装置(1)であって、
上記電力変換回路は、1つの相(4a,6a,6b,6c)が、上記電源の高電位側端子(3a)に接続された上アーム(2a)と上記電源の低電位側端子(3b)に接続された下アーム(2b)とのそれぞれにおいて複数の半導体素子(11)が互いに並列接続された並列接続相(4a,6a,6b,6c)として構成されており、
上記制御部は、上記並列接続相の上記上アーム及び上記下アームのいずれか一方である対象アームの上記複数の半導体素子の全ての素子温度についての温度情報を検出し、互いに並列接続された複数の半導体素子(11)の間に異なる大きさの電流が流れる電流アンバランス状態を考慮して温度の閾値(Tr)を設定し、検出した上記温度情報と設定した上記閾値とに基づいて上記電力変換回路の過熱保護制御を行う、電力変換装置(1)にある。
One embodiment of the present invention provides:
A power conversion device (1) including a power conversion circuit (2) that converts and outputs power supplied from a power supply (3), and a control unit (8) that controls the power conversion circuit,
In the power conversion circuit, one phase (4a, 6a, 6b, 6c) includes an upper arm (2a) connected to a high-potential terminal (3a) of the power supply and a low-potential terminal (3b) of the power supply. A plurality of semiconductor elements (11) are connected in parallel with each other with each of the lower arms (2b) connected to the second arm (2b), and are configured as parallel connection phases (4a, 6a, 6b, 6c).
The control unit detects temperature information on all the element temperatures of the plurality of semiconductor elements of the target arm, which is one of the upper arm and the lower arm of the parallel connection phase, and detects a plurality of the plurality of semiconductor elements connected in parallel to each other. A temperature threshold (Tr) is set in consideration of a current imbalance state in which currents of different magnitudes flow between the semiconductor elements (11), and the power is set based on the detected temperature information and the set threshold. A power converter (1) for performing overheat protection control of a conversion circuit.

上記電力変換装置によれば、過熱保護制御に際して対象アームについては複数の半導体素子の全ての素子温度に関する温度情報が検出される。そして、この温度情報に基づいて過熱保護制御が行われる。このため、これら複数の半導体素子の間で電流アンバランス状態が生じても各半導体素子の素子温度が上昇し過ぎるのを防ぐことができる。要するに、電流アンバランス状態を考慮した過熱保護制御が可能になる。
また、上アーム及び下アームのうち対象アームのみの半導体素子を温度検出対象とするため、両アームの半導体素子を温度検出対象とする場合に比べて、温度検出対象の数が少なくて済む。このため、制御部の処理負荷を下げることができ効率的である。
According to the power conversion device, temperature information on all element temperatures of the plurality of semiconductor elements is detected for the target arm during the overheat protection control. Then, overheat protection control is performed based on this temperature information. For this reason, even if a current imbalance state occurs between the plurality of semiconductor elements, it is possible to prevent the element temperature of each semiconductor element from excessively increasing. In short, the overheat protection control in consideration of the current imbalance state becomes possible.
Further, since the semiconductor element of only the target arm among the upper arm and the lower arm is set as the temperature detection target, the number of temperature detection targets can be reduced as compared with the case where the semiconductor elements of both arms are set as the temperature detection target. For this reason, the processing load on the control unit can be reduced, which is efficient.

以上のごとく、上記態様によれば、電力変換装置において、電流アンバランス状態を考慮して電力変換回路の過熱保護制御を行うことができる。
なお、特許請求の範囲及び課題を解決する手段に記載した括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものであり、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
As described above, according to the above aspect, in the power conversion device, overheat protection control of the power conversion circuit can be performed in consideration of the current imbalance state.
The reference numerals in the parentheses described in the claims and the means for solving the problems indicate the correspondence with the specific means described in the embodiments described below, and limit the technical scope of the present invention. Not something.

本実施形態の電力変換装置の平面図。The top view of the power converter of this embodiment. 図1の電力変換装置における各半導体モジュールの等価回路図。FIG. 2 is an equivalent circuit diagram of each semiconductor module in the power converter of FIG. 1. 図1の電力変換装置における電力変換回路を示す図。FIG. 2 is a diagram illustrating a power conversion circuit in the power conversion device of FIG. 1. 図3の電力変換回路のうちモータ駆動用の並列接続相の部分回路図。FIG. 4 is a partial circuit diagram of a motor drive parallel connection phase in the power conversion circuit of FIG. 3. 過熱保護処理のフローチャート。9 is a flowchart of an overheat protection process. 図5中の第3ステップにおいて電力変換回路の負荷調整処理に用いる相関図。FIG. 6 is a correlation diagram used in a load adjustment process of the power conversion circuit in a third step in FIG. 5. 図4において、冷却器の冷却性能に基づいて温度検出対象として選択された半導体素子を示す図。FIG. 5 is a diagram showing a semiconductor element selected as a temperature detection target based on the cooling performance of the cooler in FIG. 4. 図1において、冷却器の冷却性能に基づいて温度検出対象として選択された半導体素子を示す図。FIG. 2 is a diagram illustrating a semiconductor element selected as a temperature detection target based on the cooling performance of the cooler in FIG. 1. 図4において、インダクタンスに基づいて温度検出対象として選択された半導体素子を示す図。FIG. 5 is a diagram showing a semiconductor element selected as a temperature detection target based on inductance in FIG. 4.

以下、電力変換装置に係る実施形態について、図面を参照しつつ説明する。   Hereinafter, embodiments of a power converter will be described with reference to the drawings.

なお、本明細書の図面では、特に断わらない限り、半導体積層ユニットにおける半導体モジュールと冷却管との積層方向である第1方向を矢印Xで示し、半導体積層ユニットにおける半導体モジュールの幅方向及び冷却管の長手方向である第2方向を矢印Yで示すものとする。   In the drawings of the present specification, unless otherwise specified, the first direction which is the laminating direction of the semiconductor module and the cooling pipe in the semiconductor laminated unit is indicated by an arrow X, and the width direction of the semiconductor module and the cooling pipe in the semiconductor laminated unit. The second direction, which is the longitudinal direction, is indicated by an arrow Y.

本実施形態の電力変換装置1は、例えば、電気自動車やハイブリッド自動車等に搭載され、直流の電源電力を駆動用モータの駆動に必要な交流電力に変換するインバータとして用いられる。   The power conversion device 1 of the present embodiment is mounted on, for example, an electric vehicle or a hybrid vehicle, and is used as an inverter that converts a DC power supply into an AC power required for driving a driving motor.

図1に示されるように、電力変換装置1は、半導体積層ユニット40を備えている。この半導体積層ユニット40は、それぞれが半導体素子11を内蔵した複数の半導体モジュール10と、複数の半導体モジュール10を冷却する冷却器30と、を備えている。   As shown in FIG. 1, the power conversion device 1 includes a semiconductor multilayer unit 40. The semiconductor stacking unit 40 includes a plurality of semiconductor modules 10 each having a built-in semiconductor element 11 and a cooler 30 for cooling the plurality of semiconductor modules 10.

冷却器30は、流入管31、複数の冷却管32、及び流出管33を備えている。図1では、冷却管32の数が15である。この冷却器30において、流入管31を通じて流入した冷媒は、複数の冷却管32のそれぞれを上流側端部32aから下流側端部32bに向けて流れた後、流出管33を通じて流出する。即ち、複数の冷却管32を冷媒が並列的に流れる。冷媒として、例えば、水やアンモニア等の自然冷媒、エチレングリコール系の不凍液を混入した水、フロリナート(登録商標)等のフッ化炭素系冷媒、HCFC123、HFC134a等のフロン系冷媒、メタノール、アルコール等のアルコール系冷媒、アセトン等のケトン系冷媒等を用いることができる。   The cooler 30 includes an inflow pipe 31, a plurality of cooling pipes 32, and an outflow pipe 33. In FIG. 1, the number of the cooling pipes 32 is fifteen. In the cooler 30, the refrigerant flowing through the inflow pipe 31 flows through each of the plurality of cooling pipes 32 from the upstream end 32a to the downstream end 32b, and then flows out through the outflow pipe 33. That is, the refrigerant flows through the plurality of cooling pipes 32 in parallel. Examples of the refrigerant include natural refrigerants such as water and ammonia; water mixed with an ethylene glycol-based antifreeze; fluorocarbon-based refrigerants such as Fluorinert (registered trademark); chlorofluorocarbon-based refrigerants such as HCFC123 and HFC134a; Alcohol-based refrigerants, ketone-based refrigerants such as acetone, and the like can be used.

半導体積層ユニット40において、冷却器30の複数の冷却管32と複数の半導体モジュール10とが第1方向Xに交互に積層配置されている。複数の冷却管32は、第2方向Yを長手方向として互いに隙間34を隔てて第1方向Xに平行配置されている。そして、互いに隣接する2つの冷却管32,32の間の隙間34に半導体モジュール10が介装されている。   In the semiconductor stacking unit 40, a plurality of cooling pipes 32 of the cooler 30 and a plurality of semiconductor modules 10 are alternately stacked in the first direction X. The plurality of cooling pipes 32 are arranged parallel to the first direction X with a gap 34 therebetween with the second direction Y as a longitudinal direction. The semiconductor module 10 is interposed in a gap 34 between two cooling pipes 32 adjacent to each other.

半導体モジュール10は、隙間34に介装された状態で2つの冷却管32,32によって第1方向Xの両側面から挟持される。このとき、2つの冷却管32,32を流れる冷媒によって半導体モジュール10が第1方向Xの両側面から冷却される。すなわち、半導体モジュール10は、該半導体モジュール10で生じた熱が2つの冷却管32,32のそれぞれを流れる冷媒側へと移動することによって冷却される。このような冷却器30は、「積層型冷却器」とも称呼され、冷却に有効な表面積を増やすのに有効である。   The semiconductor module 10 is sandwiched by the two cooling pipes 32 from both sides in the first direction X while being interposed in the gap 34. At this time, the semiconductor module 10 is cooled from both sides in the first direction X by the refrigerant flowing through the two cooling pipes 32, 32. That is, the semiconductor module 10 is cooled by the heat generated in the semiconductor module 10 moving to the refrigerant flowing through each of the two cooling pipes 32. Such a cooler 30 is also called a “stacked cooler”, and is effective in increasing a surface area effective for cooling.

図2に示されるように、半導体モジュール10において、IGBT(絶縁ゲートバイポーラトランジスタ)等の半導体素子(「スイッチング素子」ともいう。)11の2つが直列接続されている。各半導体素子11のコレクタ−エミッタ間には、エミッタ側からコレクタ側へ電流を流すダイオード12が接続されている。   As shown in FIG. 2, in the semiconductor module 10, two semiconductor elements (also referred to as "switching elements") 11, such as IGBTs (insulated gate bipolar transistors), are connected in series. A diode 12 that allows current to flow from the emitter side to the collector side is connected between the collector and the emitter of each semiconductor element 11.

また、この半導体モジュール10は、各半導体素子11の素子温度に関する温度情報を検出する検出素子としての感温ダイオード13を備えている。この半導体モジュール10は、半導体素子11のスイッチング動作を制御する制御部(図3中の制御部8)に電気的に接続されている。このため、感温ダイオード13によって検出された温度情報が制御部8に伝送される。ここでいう「温度情報」には、半導体素子11の素子温度を導出することが可能な各種の情報が包含される。   Further, the semiconductor module 10 includes a temperature-sensitive diode 13 as a detecting element for detecting temperature information on the element temperature of each semiconductor element 11. The semiconductor module 10 is electrically connected to a control unit (the control unit 8 in FIG. 3) that controls the switching operation of the semiconductor element 11. Therefore, the temperature information detected by the temperature-sensitive diode 13 is transmitted to the control unit 8. Here, the “temperature information” includes various kinds of information from which the element temperature of the semiconductor element 11 can be derived.

図3に示されるように、電力変換装置1のインバータ回路としての電力変換回路2は、図2中の半導体モジュール10を複数組み合わせることによって構成されている(本実施形態では半導体モジュール10の数が14である。)。また、この電力変換回路2には、電源3、コンデンサ14,16、リアクトル15が含まれている。制御部8は、電子制御ユニット(ECU)によって構成されている。   As shown in FIG. 3, the power conversion circuit 2 as an inverter circuit of the power conversion device 1 is configured by combining a plurality of semiconductor modules 10 in FIG. 2 (in the present embodiment, the number of semiconductor modules 10 is 14). The power conversion circuit 2 includes a power supply 3, capacitors 14, 16 and a reactor 15. The control unit 8 is configured by an electronic control unit (ECU).

電力変換回路2において、上アーム2aは、各半導体モジュール10において電源3の高電位側配線3aに接続された部位である。下アーム2bは、各半導体モジュール10において電源3の低電位側配線3bに接続された部位である。この電力変換回路2は、冷却器30の冷却管32に接合されている。   In the power conversion circuit 2, the upper arm 2 a is a portion of each semiconductor module 10 connected to the high-potential-side wiring 3 a of the power supply 3. The lower arm 2b is a portion connected to the low potential side wiring 3b of the power supply 3 in each semiconductor module 10. This power conversion circuit 2 is joined to a cooling pipe 32 of a cooler 30.

電源3は、例えばニッケル水素電池やリチウムイオン電池などの二次電池セルが複数直列に接続されてなる高電圧の直流のバッテリとして構成される。なお、この電源3を、二次電池以外に、キャパシタ、コンデンサ、或いは燃料電池などで構成することもできる。   The power supply 3 is configured as a high-voltage DC battery in which a plurality of secondary battery cells such as a nickel-metal hydride battery and a lithium-ion battery are connected in series. The power supply 3 may be constituted by a capacitor, a capacitor, a fuel cell, or the like, in addition to the secondary battery.

電源3の電圧は、2つの半導体モジュール10のそれぞれの回路、コンデンサ14及びリアクトル15を含む昇圧回路によって昇圧される。このとき、コンデンサ14は、電源電流に含まれるリプル電流を吸収して、電源電圧を安定化させる機能を果たす。リアクトル15は、電気エネルギーを磁気エネルギーに変換するインダクタ(受動素子であるコイル)によって構成されている。コンデンサ16は、昇圧回路から出力された電圧を平滑化する機能を果たす。   The voltage of the power supply 3 is boosted by the booster circuit including the respective circuits of the two semiconductor modules 10, the capacitor 14 and the reactor 15. At this time, the capacitor 14 functions to absorb the ripple current included in the power supply current and stabilize the power supply voltage. The reactor 15 is configured by an inductor (a coil that is a passive element) that converts electric energy into magnetic energy. The capacitor 16 has a function of smoothing the voltage output from the booster circuit.

複数の半導体モジュール10は、昇圧用モジュール4、モータ用モジュール5,6,7に分類される。   The plurality of semiconductor modules 10 are classified into a step-up module 4 and motor modules 5, 6, and 7.

昇圧用モジュール4は、電源3の電圧の昇圧のためのものであり、図1中の左から第1列目及び第2列目の2つの半導体モジュール10によって構成されている。これら2つの半導体モジュール10の回路によって1つの相4aが形成されている。この相4aは、上アーム2aの2つの半導体素子11,11が互いに並列接続され、且つ下アーム2bの2つの半導体素子11,11が互いに並列接続された並列接続相である。即ち、この昇圧用モジュール4において、1つの相4aが、上アーム2aと下アーム2bとのそれぞれにおいて2つの半導体素子11,11が互いに並列接続された並列接続相として構成されている。   The boosting module 4 is for boosting the voltage of the power supply 3 and is composed of two semiconductor modules 10 in the first and second columns from the left in FIG. One phase 4a is formed by the circuits of these two semiconductor modules 10. This phase 4a is a parallel connection phase in which the two semiconductor elements 11 of the upper arm 2a are connected in parallel with each other and the two semiconductor elements 11 of the lower arm 2b are connected in parallel with each other. That is, in the boosting module 4, one phase 4a is configured as a parallel connection phase in which the two semiconductor elements 11, 11 are connected in parallel to each other in the upper arm 2a and the lower arm 2b.

モータ用モジュール5は、三相交流モータ51のためのものであり、図1中の左から第3列目から第5列目までの3つの半導体モジュール10によって構成されている。これら3つの半導体モジュール10の回路によって3つの相5a,5b,5cが形成されている。第一相5aは、三相交流モータ51のV相である。第二相5bは、三相交流モータ51のU相である。第三相5cは、三相交流モータ51のW相である。   The motor module 5 is for a three-phase AC motor 51, and includes three semiconductor modules 10 in the third to fifth columns from the left in FIG. Three phases 5a, 5b, 5c are formed by the circuits of these three semiconductor modules 10. The first phase 5a is the V phase of the three-phase AC motor 51. The second phase 5b is the U phase of the three-phase AC motor 51. The third phase 5c is the W phase of the three-phase AC motor 51.

モータ用モジュール6は、三相交流モータ52のためのものであり、図1中の左から第6列目から第11列目までの6つの半導体モジュール10によって構成されている。これら6つの半導体モジュール10の回路によって3つの相6a,6b,6cが形成されている。第一相6aは、三相交流モータ52のV相である。第二相6bは、三相交流モータ52のU相である。第三相6cは、三相交流モータ52のW相である。   The motor module 6 is for the three-phase AC motor 52, and includes six semiconductor modules 10 in the sixth to eleventh columns from the left in FIG. Three phases 6a, 6b, 6c are formed by the circuits of these six semiconductor modules 10. The first phase 6a is the V phase of the three-phase AC motor 52. The second phase 6b is a U-phase of the three-phase AC motor 52. The third phase 6c is the W phase of the three-phase AC motor 52.

モータ用モジュール7は、三相交流モータ53のためのものであり、図1中の左から第12列目から第14列目までの3つの半導体モジュール10によって構成されている。これら3つの半導体モジュール10の回路によって3つの相7a,7b,7cが形成されている。第一相7aは、三相交流モータ53のV相である。第二相7bは、三相交流モータ53のU相である。第三相7cは、三相交流モータ53のW相である。   The motor module 7 is for the three-phase AC motor 53, and is composed of three semiconductor modules 10 in the 12th to 14th columns from the left in FIG. The three phases 7a, 7b, 7c are formed by the circuits of these three semiconductor modules 10. The first phase 7a is the V phase of the three-phase AC motor 53. The second phase 7b is the U phase of the three-phase AC motor 53. The third phase 7c is the W phase of the three-phase AC motor 53.

図4に示されるように、上記のモータ用モジュール6において、1つの第一相6aが、上アーム2aと下アーム2bとのそれぞれにおいて2つの半導体素子11,11が互いに並列接続された並列接続相として構成されている。また、1つの第二相6bが、上アーム2aと下アーム2bとのそれぞれにおいて2つの半導体素子11,11が互いに並列接続された並列接続相として構成されている。更に、1つの第三相6cが、上アーム2aと下アーム2bとのそれぞれにおいて2つの半導体素子11,11が互いに並列接続された並列接続相として構成されている。   As shown in FIG. 4, in the above-described motor module 6, one first phase 6a is connected in parallel with two semiconductor elements 11, 11 connected in parallel to each other in the upper arm 2a and the lower arm 2b. It is configured as a phase. One second phase 6b is configured as a parallel connection phase in which the two semiconductor elements 11, 11 are connected in parallel to each other in each of the upper arm 2a and the lower arm 2b. Further, one third phase 6c is configured as a parallel connection phase in which the two semiconductor elements 11, 11 are connected in parallel to each other in each of the upper arm 2a and the lower arm 2b.

上記の電力変換回路2において、各半導体モジュール10の半導体素子11のスイッチング動作によって該半導体素子11に電流が流れる。このとき、半導体素子11の発熱によってその素子温度が上昇する。この素子温度の上昇を抑制するために、電力変換回路2を冷却する上記の冷却器30が設けられているが、この冷却器30による冷却効果のみでは半導体素子11の素子温度が上昇し過ぎる場合がある。   In the power conversion circuit 2 described above, a current flows through the semiconductor element 11 by the switching operation of the semiconductor element 11 of each semiconductor module 10. At this time, the heat of the semiconductor element 11 causes the element temperature to rise. In order to suppress the rise in the element temperature, the above-described cooler 30 for cooling the power conversion circuit 2 is provided. However, when the element temperature of the semiconductor element 11 is excessively increased only by the cooling effect of the cooler 30 There is.

このため、制御部8は、半導体素子11の素子温度に応じて電力変換回路2の過熱保護制御を行うように構成されている。この過熱保護制御は、半導体素子11の過熱を抑制するための制御である。   For this reason, the control unit 8 is configured to perform overheat protection control of the power conversion circuit 2 according to the element temperature of the semiconductor element 11. This overheat protection control is control for suppressing overheating of the semiconductor element 11.

また、電力変換回路2は、上アーム2a及び下アーム2bのそれぞれにおいて2つの半導体素子11,11が互いに並列接続された並列接続相(以下、単に「相」という。)4a,6a,6b,6cを有する。これらの相4a,6a,6b,6cにおいて、2つの半導体素子11,11のそれぞれを大きさの異なる電流が流れる場合に電流アンバランス状態になる。ここで、「電流アンバランス状態」とは、半導体モジュール10や半導体素子11の個体差などが原因で、半導体モジュール10のスイッチング動作時に半導体素子11ごとに異なる大きさの電流が流れる状態をいう。このような場合、電流が小さい方の半導体素子11のみの温度情報を検出してしまうと、流れる電流が大きい方の半導体素子11の素子温度が予め設定された管理温度(閾値)を大きく上回ることが想定される。このため、電流アンバランス状態を考慮する必要がある。   The power conversion circuit 2 has parallel connection phases (hereinafter, simply referred to as “phases”) 4a, 6a, 6b in which the two semiconductor elements 11, 11 are connected in parallel in each of the upper arm 2a and the lower arm 2b. 6c. In these phases 4a, 6a, 6b, 6c, when currents having different magnitudes flow through the two semiconductor elements 11, 11, a current imbalance state is established. Here, the “current imbalance state” refers to a state in which a current having a different magnitude flows for each semiconductor element 11 during the switching operation of the semiconductor module 10 due to individual differences between the semiconductor module 10 and the semiconductor element 11. In such a case, if the temperature information of only the semiconductor element 11 with the smaller current is detected, the element temperature of the semiconductor element 11 with the larger flowing current greatly exceeds the preset management temperature (threshold). Is assumed. Therefore, it is necessary to consider the current imbalance state.

そこで、本実施形態では、上記の過熱保護制御に際して、三相交流モータ52のモータ用モジュール6の3つの相6a,6b,6cに着目し、これら3つの相6a,6b,6cのうちの1つにおいて、上アーム2a及び下アーム2bのいずれか一方の対象アームの2つの半導体素子11,11の全ての素子温度に関する温度情報を制御部8によって検出するようにしている。   Therefore, in the present embodiment, at the time of the above-mentioned overheat protection control, attention is paid to three phases 6a, 6b, 6c of the motor module 6 of the three-phase AC motor 52, and one of these three phases 6a, 6b, 6c is focused on. In the first embodiment, the control unit 8 detects temperature information on all the element temperatures of the two semiconductor elements 11 of the target arm of one of the upper arm 2a and the lower arm 2b.

そして、制御部8は、検出した温度情報に基づいて、2つの半導体素子11,11の素子温度の最高値が予め設定された予め設定された管理温度(以下、「閾値」という。)に達したと判定したときに、電力変換回路2の出力を下げる負荷調整処理を行う。この負荷調整処理として、2つの半導体素子11,11に対応している半導体モジュール10の出力を下げる処理(第1の処理)、全ての半導体モジュール10をスイッチオフにする処理(第2の処理)、電源3から供給される電力を下げる処理(第3の処理)、電源3から供給される電力を停止させる(第4の処理)などを用いることができる。   Then, based on the detected temperature information, the control unit 8 causes the maximum value of the element temperatures of the two semiconductor elements 11 to reach a preset management temperature (hereinafter, referred to as a “threshold”). When it is determined that the output has been performed, a load adjustment process for reducing the output of the power conversion circuit 2 is performed. As the load adjustment process, a process of lowering the output of the semiconductor module 10 corresponding to the two semiconductor elements 11 (first process), a process of turning off all the semiconductor modules 10 (second process) , A process of lowering the power supplied from the power supply 3 (third process), and a process of stopping the power supplied from the power source 3 (fourth process) can be used.

以下、電力変換回路2の過熱保護制御に上記の第1の処理を用いた場合について、具体的に説明する。   Hereinafter, a case where the above-described first processing is used for the overheat protection control of the power conversion circuit 2 will be specifically described.

図5に示されるように、この過熱保護制御では、制御部8によってステップS1〜ステップS3までの処理が順次実行される。これらのステップに必要に応じて別のステップが追加されてもよい。   As shown in FIG. 5, in the overheat protection control, the control unit 8 sequentially executes the processing of steps S1 to S3. Other steps may be added to these steps as needed.

第1ステップS1は、予め選択した2つの半導体素子11,11のそれぞれの感温ダイオード13によって検出される温度情報に基づいて、これら2つの半導体素子11,11のそれぞれの素子温度の検出を行うステップである。この第1ステップS1によれば、電力変換装置1の使用時において、2つの半導体素子11,11のそれぞれの素子温度が継続的に検出される。   In a first step S1, based on temperature information detected by the respective temperature-sensitive diodes 13 of the two semiconductor elements 11, 11, the element temperatures of the two semiconductor elements 11, 11 are detected. Step. According to the first step S1, when the power converter 1 is used, the element temperatures of the two semiconductor elements 11, 11 are continuously detected.

第2ステップS2は、第1ステップS1で検出した素子温度の最大値Tmaxを閾値Trと比較して、最大値Tmaxが閾値Trに達したか否かを判定するステップである。この場合、2つの半導体素子11,11の一方の素子温度と他方の素子温度とを比較して、高い方を素子温度の最大値Tmaxとする。この第2ステップS2によれば、素子温度の最大値Tmaxが閾値Trに達した場合(第2ステップS2の「Yes」の場合)に第3ステップS3にすすむ。素子温度の最大値Tmaxが閾値Trに達していない場合(第2ステップS2の「No」の場合)、第1ステップS1に戻り、素子温度の最大値Tmaxが閾値Trに達したと判定するまで、第1ステップS1から第2ステップS2までの処理を繰り返す。   The second step S2 is a step of comparing the maximum value Tmax of the element temperature detected in the first step S1 with a threshold value Tr to determine whether the maximum value Tmax has reached the threshold value Tr. In this case, one element temperature of the two semiconductor elements 11 and 11 is compared with the other element temperature, and the higher one is set as the maximum value Tmax of the element temperature. According to the second step S2, when the maximum value Tmax of the element temperature has reached the threshold value Tr (in the case of "Yes" in the second step S2), the process proceeds to the third step S3. When the maximum value Tmax of the element temperature has not reached the threshold value Tr (in the case of "No" in the second step S2), the process returns to the first step S1 until the determination that the maximum value Tmax of the element temperature has reached the threshold value Tr. , The processing from the first step S1 to the second step S2 is repeated.

第3ステップS3は、電力変換回路2の負荷調整処理を行うステップである。この第3ステップS3によれば、2つの半導体素子11,11に対応している半導体モジュール10の負荷を下げる負荷調整処理が行われる。   The third step S3 is a step of performing a load adjustment process of the power conversion circuit 2. According to the third step S3, a load adjustment process for reducing the load on the semiconductor module 10 corresponding to the two semiconductor elements 11, 11 is performed.

この負荷調整処理において、例えば図6に示される相関が使用される。この相関は、2つの半導体素子11,11の素子温度の最大値Tmax[℃]と、対応している半導体モジュール10の出力である負荷P[%]との関係を示すものであり、制御部8に予め記憶されている。この相関によれば、素子温度の最大値Tmaxが閾値Trに達するまでは負荷Pを最大(100%)に維持する。そして、素子温度の最大値Tmaxが閾値Trに達した場合、その最大値Tmaxの値に応じて負荷Pを調整する。素子温度の最大値Tmaxが例えばTaであるとき、負荷PがPaに調整される。例えば、温度検出対象として第二相(U相)23の下アーム2bの2つの半導体素子11,11が選択されている場合、モータ用モジュール6を構成する半導体モジュール10の負荷が調整される。
なお、図6に示される相関図は一例であり、必要に応じて適宜に変更が可能である。
In the load adjustment processing, for example, the correlation shown in FIG. 6 is used. This correlation shows the relationship between the maximum value Tmax [° C.] of the element temperatures of the two semiconductor elements 11 and 11 and the load P [%] which is the output of the corresponding semiconductor module 10. 8 is stored in advance. According to this correlation, the load P is maintained at the maximum (100%) until the maximum value Tmax of the element temperature reaches the threshold value Tr. Then, when the maximum value Tmax of the element temperature reaches the threshold value Tr, the load P is adjusted according to the value of the maximum value Tmax. When the maximum value Tmax of the element temperature is, for example, Ta, the load P is adjusted to Pa. For example, when the two semiconductor elements 11, 11 of the lower arm 2b of the second phase (U phase) 23 are selected as temperature detection targets, the load of the semiconductor module 10 constituting the motor module 6 is adjusted.
The correlation diagram shown in FIG. 6 is an example, and can be appropriately changed as needed.

上記の過熱保護制御においては、予め設定された周期で半導体素子11の素子温度を検出し、その都度、負荷調整処理が必要か否かを判定する。検出した素子温度の最大値Tmaxが閾値Tr以下になった時点で、若しくは閾値Trを下回った時点で負荷調整処理が必要でないと判定して、過熱保護制御を終了する。   In the overheat protection control described above, the device temperature of the semiconductor device 11 is detected at a preset cycle, and it is determined each time whether or not the load adjustment process is necessary. When the detected maximum value Tmax of the element temperature becomes equal to or less than the threshold value Tr or falls below the threshold value Tr, it is determined that the load adjustment processing is not necessary, and the overheat protection control is ended.

次に、上記の第1ステップS1を実行するに際し、三相交流モータ52の3つの相6a,6b,6cに属する複数の半導体素子11の中から温度検出対象を選択するロジックについて説明する。   Next, a description will be given of a logic for selecting a temperature detection target from the plurality of semiconductor elements 11 belonging to the three phases 6a, 6b, 6c of the three-phase AC motor 52 when performing the first step S1.

図7及び図8に示されるように、3つの相6a,6b,6cについて、冷却器30の流入管31から流入した冷媒は、上アーム2a側(一方のアーム側)を相6aから相6cに向けて流れる。この冷媒は、3つの相6a,6b,6cのそれぞれに対応した冷却管32を上アーム2a側から下アーム2b側(他方のアーム側)へと流れる。その後、下アーム2b側を相6cから相6aに向けて流れた冷媒は流出管33から流出する。   As shown in FIGS. 7 and 8, for the three phases 6a, 6b, and 6c, the refrigerant flowing from the inflow pipe 31 of the cooler 30 moves the upper arm 2a side (one arm side) from the phase 6a to the phase 6c. Flows towards This refrigerant flows through the cooling pipes 32 corresponding to each of the three phases 6a, 6b, 6c from the upper arm 2a side to the lower arm 2b side (the other arm side). Thereafter, the refrigerant flowing from the lower arm 2b side to the phase 6a from the phase 6c flows out of the outflow pipe 33.

上記のような冷媒の流れに基づいた場合、3つの相6a,6b,6cの中で相6cは、冷却器30において冷却性能が最も低い位置にある相である。また、相6cの上アーム2aと下アーム2bの中で下アーム2bは、最も下流側に位置するアームである。即ち、相6cの両側の冷却管32,32のそれぞれは、上アーム2a側から下アーム2b側へと冷媒が流れるように構成されている。   Based on the flow of the refrigerant as described above, the phase 6c among the three phases 6a, 6b, 6c is a phase at the position where the cooling performance is the lowest in the cooler 30. The lower arm 2b of the upper arm 2a and the lower arm 2b of the phase 6c is the arm located at the most downstream side. That is, each of the cooling pipes 32 on both sides of the phase 6c is configured such that the refrigerant flows from the upper arm 2a side to the lower arm 2b side.

従って、相6cの下アーム2b及び2つの半導体素子11,11は、冷却器30において冷却性能が最も低い位置、具体的には冷却器30の冷却管32のうち流入管31から最も離れた位置に設けられている。このため、2つの半導体素子11,11は、他の半導体素子11よりも冷却され難く素子温度が上昇し易い条件下にあり、使用時の素子温度が最も高いと予測される半導体素子である。   Therefore, the lower arm 2 b of the phase 6 c and the two semiconductor elements 11, 11 are located at the position where the cooling performance is lowest in the cooler 30, specifically, the position of the cooling pipe 32 of the cooler 30 that is farthest from the inlet pipe 31. It is provided in. For this reason, the two semiconductor elements 11 and 11 are semiconductor elements under conditions where cooling is more difficult than the other semiconductor elements 11 and the element temperature tends to rise, and the element temperature during use is expected to be the highest.

そこで、上記の冷却器30による冷却性能に基づいた場合、3つの相6a,6b,6cの各アームのうちW相である相6cの下アーム2bを対象アームとし、この下アーム2bに属する2つの半導体素子11,11(図8中の斜線で示される2つの半導体素子11a,11a)を温度検出対象として選択するのが好ましい。この場合、対象アームである下アーム2bは、使用時の素子温度が最も高い2つの半導体素子11a,11aを備える。   Therefore, based on the cooling performance of the cooler 30, the lower arm 2b of the phase 6c, which is the W phase, of the three phase arms 6a, 6b, and 6c is set as the target arm, and the lower arm 2b belonging to the lower arm 2b It is preferable that one semiconductor element 11, 11 (two semiconductor elements 11a, 11a indicated by oblique lines in FIG. 8) is selected as a temperature detection target. In this case, the lower arm 2b, which is the target arm, includes two semiconductor elements 11a, 11a having the highest element temperature during use.

なお、冷却器30において冷却性能が最も低い位置は、冷却器30の具体的な構造などに応じて変わる。このため、冷却管32のうち流入管31から最も離れた位置以外の位置であっても冷却性能が最も低い位置に成り得る。   The position where the cooling performance is lowest in the cooler 30 changes depending on the specific structure of the cooler 30 and the like. Therefore, even in a position other than the position of the cooling pipe 32 farthest from the inflow pipe 31, the cooling performance may be the lowest position.

また、半導体素子11の使用時の素子温度は、冷却器30による冷却性能のみならず、他の要因によっても変わる。このため、冷却器30による冷却性能に代えて或いは加えて、別の要因に基づいて温度検出対象となる半導体素子11を選択することもできる。   In addition, the element temperature at the time of using the semiconductor element 11 varies depending on not only the cooling performance of the cooler 30 but also other factors. Therefore, instead of or in addition to the cooling performance of the cooler 30, the semiconductor element 11 to be subjected to temperature detection can be selected based on another factor.

図9に示されるように、三相交流モータ52の3つの相6a,6b,6cの中で相6cは、蓄電部品であるコンデンサ16から最も離れている。従って、単位配線長さあたりのインダクタンスLを考慮した場合、相6cは、コンデンサ16からのインダクタンスが最も大きく半導体素子11の損失が最も大きい相である。つまり、相6cに属する半導体素子11は、他の2つの相6a,6bに属する半導体素子11よりも素子温度が上昇し易い条件下にあり、使用時の素子温度が最も高いと予測される半導体素子である。   As shown in FIG. 9, of the three phases 6a, 6b, 6c of three-phase AC motor 52, phase 6c is farthest from capacitor 16 which is a power storage component. Therefore, when the inductance L per unit wiring length is considered, the phase 6c is the phase in which the inductance from the capacitor 16 is the largest and the loss of the semiconductor element 11 is the largest. That is, the semiconductor element 11 belonging to the phase 6c is under a condition in which the element temperature is more likely to rise than the semiconductor elements 11 belonging to the other two phases 6a and 6b, and the semiconductor element in use is predicted to have the highest element temperature. Element.

そこで、コンデンサ16からのインダクタンスに基づいた場合、3つの相6a,6b,6cのうちW相である相6cの上アーム2a或いは下アーム2bを対象アームとし、この対象アームに属する2つの半導体素子11,11(図9中の2つの半導体素子11a,11a)を温度検出対象として選択するのが好ましい。この場合、対象アームは、コンデンサ16からのインダクタンスが最も大きい位置に設けられており、使用時の素子温度が最も高い2つの半導体素子11a,11aを備える。   Therefore, based on the inductance from the capacitor 16, the upper arm 2a or the lower arm 2b of the phase 6c, which is the W phase, of the three phases 6a, 6b, 6c is set as a target arm, and two semiconductor elements belonging to the target arm are used. It is preferable to select 11, 11 (the two semiconductor elements 11a, 11a in FIG. 9) as temperature detection targets. In this case, the target arm is provided at a position where the inductance from the capacitor 16 is the largest, and includes two semiconductor elements 11a, 11a having the highest element temperature during use.

なお、蓄電部品からのインダクタンスを考慮する場合、蓄電部品としてコンデンサ以外の部品、例えば電池やキャパシタなどを用いることもできる。   When the inductance from the power storage component is considered, a component other than the capacitor, such as a battery or a capacitor, can be used as the power storage component.

次に、上記の電力変換装置1の作用効果について説明する。   Next, the operation and effect of the power conversion device 1 will be described.

電力変換装置1によれば、過熱保護制御に際して対象アームの2つの半導体素子11,11の全ての素子温度に関する温度情報が検出される。そして、この温度情報に基づいて過熱保護制御が行われる。このため、これら2つの半導体素子11,11の間で電流アンバランス状態が生じても各半導体素子11の素子温度が上昇し過ぎるのを防ぐことができる。要するに、電流アンバランス状態が生じた場合でも温度の高い半導体素子の過熱保護制御を行うことができる。   According to the power conversion device 1, temperature information on all element temperatures of the two semiconductor elements 11, 11 of the target arm is detected at the time of overheat protection control. Then, overheat protection control is performed based on this temperature information. For this reason, even if a current imbalance state occurs between these two semiconductor elements 11, 11, it is possible to prevent the element temperatures of the respective semiconductor elements 11 from excessively rising. In short, even when a current imbalance state occurs, overheat protection control of a semiconductor element having a high temperature can be performed.

電力変換装置1によれば、上アーム2a及び下アーム2bのうち対象アームのみの半導体素子11を温度検出対象とするため、両アーム2a,2bの半導体素子11を温度検出対象とする場合に比べて、温度検出対象の数が少なくて済む。このため、制御部8の処理負荷を下げることができ効率的である。   According to the power converter 1, since the semiconductor element 11 of only the target arm of the upper arm 2a and the lower arm 2b is targeted for temperature detection, compared with the case where the semiconductor elements 11 of both arms 2a and 2b are targeted for temperature detection. Thus, the number of temperature detection targets can be reduced. For this reason, the processing load on the control unit 8 can be reduced, which is efficient.

電力変換装置1によれば、三相交流モータ52のモータ用モジュール6について半導体素子11の過熱保護制御を行うことができる。   According to the power converter 1, overheat protection control of the semiconductor element 11 can be performed for the motor module 6 of the three-phase AC motor 52.

電力変換装置1によれば、冷却器30の冷却性能やコンデンサ16からのインダクタンスに基づいて温度検出対象となる半導体素子11を選択することによって、使用時の素子温度が最も高い半導体素子11の温度情報を用いた過熱保護制御を行うことができる。   According to the power converter 1, the temperature of the semiconductor element 11 having the highest element temperature during use is selected by selecting the semiconductor element 11 to be subjected to temperature detection based on the cooling performance of the cooler 30 and the inductance from the capacitor 16. Overheat protection control using information can be performed.

本発明は、上記の典型的な実施形態のみに限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の応用や変形が考えられる。例えば、上記の実施形態を応用した次の各形態を実施することもできる。   The present invention is not limited to only the above-described exemplary embodiments, and various applications and modifications can be considered without departing from the purpose of the present invention. For example, each of the following embodiments to which the above embodiment is applied can be implemented.

上記の実施形態では、相4a,6a,6b,6cのそれぞれの上アーム2a及び下アーム2bにおいて互いに並列接続される半導体素子11の数が2つである場合について例示したが、この数は3つ以上であってもよい。   In the above embodiment, the case where the number of the semiconductor elements 11 connected in parallel to each other in the upper arm 2a and the lower arm 2b of each of the phases 4a, 6a, 6b, and 6c is two is exemplified. There may be more than one.

上記の実施形態では、三相交流モータ51,52,53を使用する場合について例示したが、これらの三相交流モータに代えて単相交流モータを使用することもできる。この場合、単相交流モータのための相の数が2つになる。   In the above embodiment, the case where the three-phase AC motors 51, 52, 53 are used has been illustrated, but a single-phase AC motor can be used instead of these three-phase AC motors. In this case, the number of phases for the single-phase AC motor is two.

上記の実施形態では、三相交流モータ52の相6cに属する半導体素子11を温度検出対象とする場合について例示したが、この相6cに代えて或いは加えて、三相交流モータ52の別の相6a,6bの少なくとも一方に属する半導体素子11や、電源3の電圧を昇圧するための相4aに属する半導体素子11を温度検出対象とすることもできる。   In the above embodiment, the case where the semiconductor element 11 belonging to the phase 6c of the three-phase AC motor 52 is to be subjected to the temperature detection has been exemplified. However, instead of or in addition to this phase 6c, another phase of the three-phase AC motor 52 may be used. The semiconductor element 11 belonging to at least one of 6a and 6b and the semiconductor element 11 belonging to the phase 4a for boosting the voltage of the power supply 3 can be subjected to temperature detection.

上記の実施形態では、半導体素子11の素子温度に関与する条件として、冷却器30の冷却性能や蓄電部品からのインダクタンスについて例示したが、これらに代えて、半導体素子11の素子温度に関与するその他の条件を採用することもできる。   In the above-described embodiment, the cooling performance of the cooler 30 and the inductance from the power storage component have been exemplified as the conditions relating to the element temperature of the semiconductor element 11. The following condition can also be adopted.

上記の実施形態では、直流電力を交流電力に変換する電力変換装置における過熱保護制御について例示したが、この過熱保護制御を、交流電力を交流電力に変換する電力変換装置に適用することもできる。   In the above embodiment, the overheat protection control in the power converter that converts DC power into AC power has been described as an example. However, the overheat protection control can be applied to a power converter that converts AC power into AC power.

上記の実施形態では、半導体モジュール10を冷却する冷却器30として冷媒を使用した積層型冷却器を用いる場合について例示したが、この積層型冷却器に代えて別の形式の冷却器を用いることもできる。   In the above-described embodiment, the case where a stacked cooler using a refrigerant is used as the cooler 30 for cooling the semiconductor module 10 has been described, but another type of cooler may be used instead of the stacked cooler. it can.

1 電力変換装置
2 電力変換回路
2a 上アーム
2b 下アーム
3 電源
3a 高電位側配線
3b 低電位側配線
4a,6a,6b,6c 相(並列接続相)
8 制御部
11,11a 半導体素子
16 コンデンサ(蓄電部品)
30 冷却器
31 流入管
32 冷却管
52 三相交流モータ
Tmax 最大値
Tr 閾値
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Power conversion device 2 Power conversion circuit 2a Upper arm 2b Lower arm 3 Power supply 3a High potential side wiring 3b Low potential side wiring 4a, 6a, 6b, 6c phase (parallel connection phase)
8 Control part 11, 11a Semiconductor element 16 Capacitor (power storage component)
Reference Signs List 30 cooler 31 inflow pipe 32 cooling pipe 52 three-phase AC motor Tmax maximum value Tr threshold

Claims (8)

電源(3)から供給される電力を変換して出力する電力変換回路(2)と、上記電力変換回路を制御する制御部(8)と、を備えた電力変換装置(1)であって、
上記電力変換回路は、1つの相(4a,6a,6b,6c)が、上記電源の高電位側端子(3a)に接続された上アーム(2a)と上記電源の低電位側端子(3b)に接続された下アーム(2b)とのそれぞれにおいて複数の半導体素子(11)が互いに並列接続された並列接続相(4a,6a,6b,6c)として構成されており、
上記制御部は、上記並列接続相の上記上アーム及び上記下アームのいずれか一方である対象アームの上記複数の半導体素子の全ての素子温度についての温度情報を検出し、互いに並列接続された複数の半導体素子(11)の間に異なる大きさの電流が流れる電流アンバランス状態を考慮して温度の閾値(Tr)を設定し、検出した上記温度情報と設定した上記閾値とに基づいて上記電力変換回路の過熱保護制御を行う、電力変換装置(1)。
A power conversion device (1) including a power conversion circuit (2) that converts and outputs power supplied from a power supply (3), and a control unit (8) that controls the power conversion circuit,
In the power conversion circuit, one phase (4a, 6a, 6b, 6c) includes an upper arm (2a) connected to a high-potential terminal (3a) of the power supply and a low-potential terminal (3b) of the power supply. A plurality of semiconductor elements (11) are connected in parallel with each other with each of the lower arms (2b) connected to the second arm (2b), and are configured as parallel connection phases (4a, 6a, 6b, 6c).
The control unit detects temperature information on all the element temperatures of the plurality of semiconductor elements of the target arm, which is one of the upper arm and the lower arm of the parallel connection phase, and detects a plurality of the plurality of semiconductor elements connected in parallel to each other. A temperature threshold (Tr) is set in consideration of a current imbalance state in which currents of different magnitudes flow between the semiconductor elements (11), and the power is set based on the detected temperature information and the set threshold. A power conversion device (1) for performing overheat protection control of a conversion circuit.
上記電力変換回路は、三相交流モータ(52)のための3つの相(6a,6b,6c)を有し、上記並列接続相は、上記3つの相のうちの少なくとも1つである、請求項1に記載の電力変換装置。   The power conversion circuit has three phases (6a, 6b, 6c) for a three-phase AC motor (52), and the parallel connection phase is at least one of the three phases. Item 2. The power converter according to Item 1. 上記対象アームは、使用時の素子温度が最も高い半導体素子(11a)を備える、請求項1または2に記載の電力変換装置。   The power converter according to claim 1, wherein the target arm includes a semiconductor device having the highest device temperature during use. 上記電力変換回路を冷却する冷却器(30)を備え、
上記対象アームは、上記冷却器において冷却性能が最も低い位置に設けられている、請求項3に記載の電力変換装置。
A cooler (30) for cooling the power conversion circuit;
The power converter according to claim 3, wherein the target arm is provided at a position where cooling performance is lowest in the cooler.
上記電力変換回路は、上記冷却器の流入管(31)から流入した冷媒が流れる冷却管(32)に接合されており、
上記対象アームは、上記冷却器の上記冷却管のうち上記流入管から最も離れた位置に設けられている、請求項4に記載の電力変換装置。
The power conversion circuit is joined to a cooling pipe (32) through which a refrigerant flowing from an inflow pipe (31) of the cooler flows,
The power converter according to claim 4, wherein the target arm is provided at a position farthest from the inflow pipe among the cooling pipes of the cooler.
上記冷却器の上記冷却管は、上記上アーム及び上記下アームのうちの一方のアーム側から他方のアーム側へと冷媒が流れるように構成されており、上記他方のアームが上記対象アームである、請求項5に記載の電力変換装置。   The cooling pipe of the cooler is configured such that a refrigerant flows from one arm side of the upper arm and the lower arm to the other arm side, and the other arm is the target arm. The power converter according to claim 5. 上記電力変換回路は、蓄電部品(16)を有し、
上記対象アームは、上記蓄電部品からのインダクタンスが最も大きい位置に設けられている、請求項3に記載の電力変換装置。
The power conversion circuit has a power storage component (16),
The power converter according to claim 3, wherein the target arm is provided at a position where the inductance from the power storage component is largest.
上記制御部は、上記対象アームの上記複数の半導体素子の全ての素子温度の中の最大値(Tmax)が予め設定された上記閾値に達したことを検出したときに上記過熱保護制御として上記電力変換回路の出力を下げる処理を行う、請求項1〜7のいずれか一項に記載の電力変換装置。   The controller controls the power as the overheat protection control when detecting that the maximum value (Tmax) among all the element temperatures of the plurality of semiconductor elements of the target arm has reached the preset threshold. The power conversion device according to any one of claims 1 to 7, wherein the power conversion device performs a process of reducing an output of the conversion circuit.
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