JP2019164920A - 電子銃 - Google Patents
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Abstract
Description
半導体(LSI)製造工程の回路パターンを描画するリソグラフィ分野で活用される電子ビーム描画技術において、処理能力を飛躍的に高めるために熱電子銃の熱電子放出電流強度の強い高輝度かつ長寿命の電子銃の実現を可能とする。現状において、電子ビーム描画装置では、処理速度を高速化するために、電子銃を多数個搭載したマルチコラム型電子ビーム描画装置を必要としているが、マルチコラム化する前に1個の電子銃の輝度と寿命の積を最大限高めることが望ましい。
リチャードソンダッシュマン係数は、電子放出面の電子発生効率を示すもので、この値が大きいほど、電子放出が大きい。この両者のつり合いによって、エミッション電流が最大となる。本実施形態では、主に仕事関数は小さくせず、リチャードソンダッシュマン係数を飛躍的に大きくすることを意図するものとする。
以下の文においてメタンガスとエタンガスの説明はほぼ同様であるためにメタンガスのみで説明するが、実施形態と効用においてメタンガスとエタンガスは、ほとんど同様である。また、LaB6とCeB6は説明がほぼ同様であるためにLaB6のみで説明するが、実施形態と効用においてLaB6とCeB6は、ほぼ同様である。
メタンガスボンベ101からメタンガスが臨機的または連続的に供給される。メタンガスはガス圧力調整器102をとおして、微小ガス流量制御機構103を用いて電子銃室に接続する真空室108(電子銃室側よりもガス分圧が高い下流側の真空室)に流入させられる。電子銃からエミッション電子流が出ている状態で、メタンガスに電子が当たると、メタンガスは電離してイオン化し、CH4 +,またはCH3 +というイオンとなる、このイオンは陰極である電子銃にぶつかりLaB6と反応する。供給するガスの量は、電子銃からの電子の放出量が大きいほど多くするとよい。
また、電子銃先端部は先鋭にとがらせてもよく、超微細パターンの描画装置や観察用電子顕微鏡に使用することも好適である。
102 ガス圧力調整器
103 微小ガス流量制御機構
104a、104b 真空室仕切り板
105 電子銃陰極材料
106 電子銃真空室
107a、107b、107c、 ターボ分子ポンプ
108 電子銃室に隣接する真空室
109 電子ビーム描画装置の電子レンズおよび偏向器を具備する真空室
110 粗引きポンプ
111 電子ビーム
112 静電偏向器
113 電子レンズまたは電磁偏向器
201 エミッションされた電子ビーム
202 メタンガスまたはエタンガス
203 メタンガスまたはエタンガスが分解してできたイオンでCH4 +またはCH3 +
301 酸素ガスボンベ
302 ガス圧力調整器
303 微小ガス流量調整機構
401 微小ガス流量制御機構に流入するガスの流れ
402 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
403 最小断面積S0の2倍の微細開口を具備した長さがLの微細流路
404 最小断面積S0の4倍の微細開口を具備した長さがLの微細流路
405 最小断面積S0の8倍の微細開口を具備した長さがLの微細流路
406 微小ガス流量制御機構から排出されるガスの流れ
407 電気信号によって駆動される微細開口402の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
408 電気信号によって駆動される微細開口403の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
409 電気信号によって駆動される微細開口404の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
410 電気信号によって駆動される微細開口405の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
411 電気信号によって駆動される微細開口402の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
412 電気信号によって駆動される微細開口403の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
413 電気信号によって駆動される微細開口404の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
414 電気信号によって駆動される微細開口405の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
501 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
502 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
503 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
504 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
505 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
506 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
507 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
508 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
509 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
510 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
511 併進駆動による弁であり、微細流路501はガスを通過せしめ、502から510の微細流路は全て遮断する併進駆動弁
512 併進駆動による弁であり、微細流路501から507まではガスを通過せしめ、508から510の微細流路は全て遮断する併進駆動弁
601 LaB6結晶
602 LaB6結晶上のランタン原子液滴層
603 LaB6結晶上のランタン原子液滴層内で炭素原子がランタン原子同士を相互に結合している様子
604 LaB6結晶上のランタン原子液滴層内で炭素原子と酸素原子がランタン原子同士を相互に結合している様子
605 LaB6結晶
606 メタン分子
607 モノボラン
608 ジボラン
609 LaB6結晶の硼素格子が水素原子と反応しモノボラン・ジボランを生成して蒸発し硼素格子が破壊したために、LaB6結晶の表面に析出したランタン原子液滴層
610 LaB6結晶上のランタン原子液滴層内で炭素原子がランタン原子同士を相互に結合している様子
611 酸素分子
612 酸素分子がランタン原子液滴層に衝突し酸素原子に分解し、炭素原子と酸素原子がランタン原子同士を相互に結合している様子
701 LaB6結晶
702 ランタン原子
703 炭素原子
704 CH4 +イオン
801 LaB6結晶で半径の異なる円柱からなる電子陰極材料
802 レニウムカバー
803a、803b PG(パイロリティック・グラファイト)ヒーター
804a,804b 把持具
805 レニウムカバーにLaB6結晶を固定するレニウムでできた裏蓋のめねじ
806 セラミック円板
リチャードソンダッシュマン係数は、電子放出面の電子発生効率を示すもので、この値が大きいほど、電子放出が大きい。この両者のつり合いによって、エミッション電流が最大となる。本実施形態では、主に仕事関数は小さくせず、リチャードソンダッシュマン係数を飛躍的に大きくすることを意図するものとする。
メタンガスボンベ101からメタンガスが臨機的または連続的に供給される。メタンガスはガス圧力調整器102をとおして、微小ガス流量制御機構103を用いて電子銃陰極室に接続する真空室108(電子銃陰極室側よりもガス分圧が高い下流側の真空室)に流入させられる。電子銃陰極からエミッション電子流が出ている状態で、メタンガスに電子が当たると、メタンガスは電離してイオン化し、CH4 +,またはCH3 +というイオンとなる、このイオンは陰極である電子銃陰極にぶつかりLaB6と反応する。供給するガスの量は、電子銃陰極からの電子の放出量が大きいほど多くするとよい。
また、電子銃陰極先端部は先鋭にとがらせてもよく、超微細パターンの描画装置や観察用電子顕微鏡に使用することも好適である。
102 ガス圧力調整器
103 微小ガス流量制御機構
104a、104b 真空室仕切り板
105 電子銃陰極材料
106 電子銃陰極室
107a、107b、107c、 ターボ分子ポンプ
108 電子銃陰極室に隣接する真空室
109 電子ビーム描画装置の電子レンズおよび偏向器を具備する真空室
110 粗引きポンプ
111 電子ビーム
112 静電偏向器
113 電子レンズまたは電磁偏向器
201 エミッションされた電子ビーム
202 メタンガスまたはエタンガス
203 メタンガスまたはエタンガスが分解してできたイオンでCH4 +またはCH3 +
301 酸素ガスボンベ
302 ガス圧力調整器
303 微小ガス流量調整機構
401 微小ガス流量制御機構に流入するガスの流れ
402 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
403 最小断面積S0の2倍の微細開口を具備した長さがLの微細流路
404 最小断面積S0の4倍の微細開口を具備した長さがLの微細流路
405 最小断面積S0の8倍の微細開口を具備した長さがLの微細流路
406 微小ガス流量制御機構から排出されるガスの流れ
407 電気信号によって駆動される微細開口402の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
408 電気信号によって駆動される微細開口403の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
409 電気信号によって駆動される微細開口404の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
410 電気信号によって駆動される微細開口405の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
411 電気信号によって駆動される微細開口402の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
412 電気信号によって駆動される微細開口403の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
413 電気信号によって駆動される微細開口404の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
414 電気信号によって駆動される微細開口405の流量を遮断または通過せしめる駆動弁
501 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
502 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
503 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
504 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
505 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
506 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
507 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
508 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
509 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
510 最小断面積S0を具備した微細開口で長さがLの微細流路
511 併進駆動による弁であり、微細流路501はガスを通過せしめ、502から510の微細流路は全て遮断する併進駆動弁
512 併進駆動による弁であり、微細流路501から507まではガスを通過せしめ、508から510の微細流路は全て遮断する併進駆動弁
601 LaB6結晶
602 LaB6結晶上のランタン原子液滴層
603 LaB6結晶上のランタン原子液滴層内で炭素原子がランタン原子同士を相互に結合している様子
604 LaB6結晶上のランタン原子液滴層内で炭素原子と酸素原子がランタン原子同士を相互に結合している様子
605 LaB6結晶
606 メタン分子
607 モノボラン
608 ジボラン
609 LaB6結晶の硼素格子が水素原子と反応しモノボラン・ジボランを生成して蒸発し硼素格子が破壊したために、LaB6結晶の表面に析出したランタン原子液滴層
610 LaB6結晶上のランタン原子液滴層内で炭素原子がランタン原子同士を相互に結合している様子
611 酸素分子
612 酸素分子がランタン原子液滴層に衝突し酸素原子に分解し、炭素原子と酸素原子がランタン原子同士を相互に結合している様子
701 LaB6結晶
702 ランタン原子
703 炭素原子
704 CH4 +イオン
801 LaB6結晶で半径の異なる円柱からなる電子陰極材料
802 レニウムカバー
803a、803b PG(パイロリティック・グラファイト)ヒーター
804a,804b 把持具
805 レニウムカバーにLaB6結晶を固定するレニウムでできた裏蓋のめねじ
806 セラミック円板
Claims (7)
- LaB6またはCeB6を含む電子銃陰極材料を用いて、加熱し、熱電子を放出する電子銃において、
電子銃陰極材料の温度が1000℃から1500℃に維持された状態において、
電子銃の存在する電子銃室と真空でつながれた真空室の内部に、メタンガスまたはエタンガスを真空室内部のガス分圧で1×10−4pascal以下の流量を臨機的または連続的に、流すことを特徴とする電子銃。 - 請求項1に記載の電子銃であって、
電子銃陰極材料に対面する微細開口で電子銃室に接続され、電子銃室側よりもガス分圧が高い下流側の真空室側から、メタンガスまたはエタンガスを流入せしめて、電子銃陰極材料に負電位を印加し、電子銃陰極材料の先端からのエミッション電流によって、メタンガスまたはエタンガスの気体を+の電荷を有するイオンとし、電子銃陰極材料と結合しやすくすることを特徴とする電子銃。 - 請求項1に記載の電子銃であって、
電子銃陰極材料を温度1000℃から1500℃の範囲の温度でメタンガスまたはエタンガスとともに酸素ガスを真空内部のガス分圧が2×10−5pascal以下となる流量で臨機的または連続的に、流すことを特徴とする電子銃。 - 請求項1に記載の電子銃であって、
電子を放出する先端部において、電子放出面側から見た実質的な先端部分以外の面の大部分をカバーする金属からなり、カバーが電子銃陰極材料であるLaB6またはCeB6と直接反応しない高融点金属からなることを特徴とする電子銃。 - 請求項4に記載の電子銃であって、
カバーを構成する高融点金属がレニウムであることを特徴とする電子銃。 - 請求項1に記載の電子銃であって、
電子銃の電子放出量に応じて、電子銃室の内部に流れるガス分圧を変化せしめることを特徴とする電子銃。 - 請求項1から請求項6に記載の電子銃であって、元となるLaB6またはCeB6の結晶の表面近傍の硼素原子格子をメタンガスまたはエタンガスで破壊し、ランタン原子液滴またはセリウム原子液滴を、LaB6またはCeB6の結晶の表面に析出せしめて、炭素原子もしくは酸素原子もしくは炭素原子と酸素原子の両者を用いて、ランタン原子またはセリウム原子の融点を超えて温度を上げても、ランタン原子同士またはセリウム原子同士を強力に結合せしめ、さらにLaB6またはCeB6の結晶の表面に強力に付着せしめ、蒸発を抑えた状態でエミッション電流を放出させることを特徴とする電子銃。
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018051579A JP6548179B1 (ja) | 2018-03-19 | 2018-03-19 | 電子銃 |
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JP6548179B1 JP6548179B1 (ja) | 2019-07-24 |
JP2019164920A true JP2019164920A (ja) | 2019-09-26 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018051579A Expired - Fee Related JP6548179B1 (ja) | 2018-03-19 | 2018-03-19 | 電子銃 |
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JP2005190758A (ja) * | 2003-12-25 | 2005-07-14 | Denki Kagaku Kogyo Kk | 電子源 |
JP2005235469A (ja) * | 2004-02-18 | 2005-09-02 | Jeol Ltd | 荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビーム装置の制御方法 |
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JP2017063048A (ja) * | 2008-06-20 | 2017-03-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線装置、及びその制御方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH05136097A (ja) * | 1991-11-08 | 1993-06-01 | Nec Corp | 微細加工方法および微細加工装置 |
JP5525104B2 (ja) * | 2011-02-25 | 2014-06-18 | 株式会社Param | 電子銃および電子ビーム装置 |
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2018
- 2018-03-19 JP JP2018051579A patent/JP6548179B1/ja not_active Expired - Fee Related
-
2019
- 2019-03-18 WO PCT/JP2019/011053 patent/WO2019181820A1/ja active Application Filing
Patent Citations (5)
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---|---|
WO2019181820A1 (ja) | 2019-09-26 |
JP6548179B1 (ja) | 2019-07-24 |
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