JP2019138666A - 測距装置 - Google Patents

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松井 俊樹
Toshiki Matsui
俊樹 松井
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Abstract

【課題】測距装置による計測範囲における欠損ポイントを抑制すること。【解決手段】測距装置は、閾値を用いて反射光の受光信号を検出し、検出した受光信号に基づいて距離を算出する。第1閾値を用いたときの欠損ポイントに関して、測距装置は、距離の算出を再度試みる再試行処理を実施する。再試行処理では、第1閾値の代わりに、第1閾値より低い第2閾値が用いられる。欠損ポイントが第1閾値未満且つ第2閾値以上の反射ピーク(減衰ピーク)を有している場合、その欠損ポイントは、救済可能な減衰ポイントである。減衰ポイントについては、第2閾値を用いて反射光の受光信号を検出し、検出した受光信号に基づいて距離を算出する。【選択図】図7

Description

本発明は、レーザパルスを用いて対象物までの距離を計測する測距装置に関する。
レーザパルスを用いて対象物までの距離を計測する測距装置が知られている。具体的には、測距装置は、複数の方向に向けてレーザパルスを順次出力(走査)する。レーザパルスが対象物上の反射点で反射すると、そのレーザパルスの反射光が測距装置に戻ってくる。測距装置は、そのレーザパルスの反射光を受光する。そして、測距装置は、レーザパルスの出力タイミングから反射光の受光タイミングまでの経過時間(TOF)に基づいて、反射点までの距離を各方向について算出する。
特許文献1は、レーザレーダ装置を開示している。当該技術によれば、信号処理回路は、画像生成回路により生成された複数のフレーム間の距離画像を比較して、パルスレーザ光の伝搬経路上に浮遊物が存在しているか否かを判定する。浮遊物が存在している場合、信号処理回路は、距離画像上で浮遊物が存在している位置の画素値を補間する。
特許文献2は、レーザスキャンセンサを開示している。当該レーザスキャンセンサは、距離情報取得部と、距離情報補間部とを有している。ある測定方向の距離が本来の検知対象よりも近距離側に位置している場合、距離情報補間部は、隣接測定方向の距離情報に基づいて補間を行い、当該距離を補間値で置換する。
特開2014−109537号公報 特開2014−59834号公報
測距装置の受光素子に十分な強度の反射光が届かない場合も考えられる。例えば、降雨、降雪、霧等の大気状態では、大気中においてレーザパルス及び反射光が減衰しやすい。他の例として、測距装置のセンサ窓が汚れて部分的に半透明になっている場合、その半透明部分を通過するレーザパルス及び反射光が減衰する。このように反射光が減衰した場合、測距装置の受光素子において反射光を良好に検出することができない。その結果、計測範囲の一部に、距離を算出することができなかった「欠損ポイント」が発生するおそれがある。欠損ポイントは、測距結果に基づく認識精度を低下させ、好ましくない。
本発明の1つの目的は、測距装置による計測範囲における欠損ポイントを抑制することができる技術を提供することにある。
本発明の1つの観点において、測距装置は、
レーザパルスを出力する発光ユニットと、
反射点からの前記レーザパルスの反射光を受光する受光ユニットと、
前記反射光の受光信号に基づいて、前記反射点までの距離を算出する制御ユニットと
を備える。
前記距離の計測範囲は、アレイ状に配置された複数の計測ポイントで表される。
反射ピークは、各計測ポイントにおける前記反射光の受光強度のピークである。
検出ポイントは、前記反射ピークが第1閾値以上である計測ポイントである。
欠損ポイントは、前記反射ピークが前記第1閾値未満である計測ポイントである。
減衰ポイントは、前記反射ピークが前記第1閾値未満であり、且つ、前記第1閾値より低い第2閾値以上である計測ポイントである。
前記制御ユニットは、
前記第1閾値を用いて前記受光信号を検出し、前記検出した受光信号に基づいて前記検出ポイントに関する前記距離を算出する第1距離算出処理と、
前記欠損ポイントに関して、前記距離の算出を再度試みる再試行処理と
を行う。
前記再試行処理は、
前記欠損ポイントに空間的及び時間的に隣接する周辺領域に前記検出ポイントが存在するか否かを判定する第1判定処理と、
前記周辺領域に前記検出ポイントが存在する場合、前記欠損ポイントについて得られた前記受光信号を分析して、前記欠損ポイントが前記減衰ポイントであるか否かを判定する第2判定処理と、
前記欠損ポイントが前記減衰ポイントである場合、前記第2閾値を用いて検出される前記受光信号に基づいて、前記減衰ポイントに関する前記距離を算出する第2距離算出処理と
を含む。
本発明によれば、第1閾値を用いたときの欠損ポイントに関して、距離の算出を再度試みる再試行処理が実施される。具体的には、再試行処理では、第1閾値の代わりに、第1閾値より低い第2閾値が用いられる。欠損ポイントが第1閾値未満且つ第2閾値以上の反射ピーク(減衰ピーク)を有している場合、その欠損ポイントは、救済可能な減衰ポイントである。減衰ポイントについては、第2閾値を用いて反射光の受光信号を検出し、検出した受光信号に基づいて距離を算出することができる。このような再試行処理により、計測範囲における欠損ポイントを抑制することが可能となる。
また、再試行処理において、欠損ポイントに空間的及び時間的に隣接する周辺領域に検出ポイントが存在するか否かの判定が予め行われる。周辺領域に有効な検出ポイントが存在していない場合、欠損ポイントの方向には何も対象物が無い可能性が極めて高いからである。このような判定を行うことにより、減衰ポイントではない欠損ポイントを、再試行処理の対象から予め除外することが可能となる。これにより、再試行処理を効率的に実施することが可能となる。
更に、本発明によれば、減衰ポイントに関する距離は、“補間”ではなく、減衰ポイントについて実際に得られた受光信号に基づいて算出される。従って、減衰ポイントに関する距離の算出精度が向上する。
本発明の実施の形態に係る測距装置を示す概念図である。 測距装置による距離の計測範囲を示す概念図である。 ある計測ポイントに関する反射光の受光信号の一例を示すタイミング図である。 反射光の減衰の原因を説明するための概念図である。 計測範囲における検出ポイントと欠損ポイントの一例を示す概念図である。 本発明の実施の形態に係る測距装置による再試行処理を説明するためのタイミング図である。 欠損ポイントの周辺領域を説明するための概念図である。 本発明の実施の形態に係る測距装置の構成例を示すブロック図である。 本発明の実施の形態に係る測距装置の制御ユニットによる距離算出処理を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態に係る再試行処理における探索時間範囲の設定例を説明するためのタイミング図である。 本発明の実施の形態に係る再試行処理における探索時間範囲の他の設定例を説明するためのタイミング図である。 本発明の実施の形態に係る再試行処理における信頼条件を説明するためのタイミング図である。
添付図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。
1.概要
図1は、本実施の形態に係る測距装置1を示している。測距装置1は、レーザパルスを用いて対象物までの距離(相対距離)を計測するリモートセンシング装置であり、ライダー(LIDAR: Laser Imaging Detection and Ranging)とも呼ばれる。
より詳細には、測距装置1は、複数の方向に向けてレーザパルスを順次出力(走査)する。レーザパルスが対象物上の反射点で反射すると、そのレーザパルスの反射光が測距装置1に戻ってくる。測距装置1は、そのレーザパルスの反射光を受光する。そして、測距装置1は、レーザパルスの出力タイミングから反射光の受光タイミングまでの経過時間(TOF)に基づいて、反射点までの距離を各方向について算出する。
図2は、測距装置1による距離の計測範囲を示す概念図である。距離を計測(算出)する単位は、以下「計測ポイントP」と呼ばれる。計測ポイントPは、セルあるいはピクセルと呼ぶこともできる。図2に示されるように、計測範囲は、アレイ状に配置された複数の計測ポイントPで表される。レイヤは、水平方向の計測ポイントPの集合である。レイヤが1つの場合も“アレイ状の配置”に含まれる。複数のレイヤが存在する場合、それら複数のレイヤは垂直方向に沿って配置される。
レーザパルスの出力方向を時間的に変化させることによって、複数の計測ポイントPを順番に走査することができる。以下の説明において、「フレーム」とは、全ての計測ポイントPに対する走査が一通り行われる時間単位を意味する。1つのフレームが完了すると、次のフレームが開始する。隣接するフレームは、時間軸上に並ぶ。
図3は、ある計測ポイントPに関する反射光の受光信号の一例を示すタイミング図である。横軸は、レーザパルスの出力タイミングからの経過時間を表している。縦軸は、反射光の受光強度(受光信号の強度)を表している。反射ピークは、受光強度のピーク(極大値)である。
図3中の符号WNは、反射光の受光信号の“通常の波形”を表している。通常の受光信号は、第1閾値TH1以上の反射ピークを有している。その第1閾値TH1は、機械的な検出限界よりも高い値である。測距装置1は、第1閾値TH1を用いることによって反射光の受光信号を検出する。つまり、反射光の受光強度が第1閾値TH1以上の場合、測距装置1は、「反射光を検出した」と判定する。そして、測距装置1は、第1閾値TH1を用いて検出した受光信号に基づいて、計測ポイントPに関する距離を算出する。距離の具体的な算出方法としては、様々な例が提案されている。本実施の形態において、その算出方法は特に限定されない。
ここで、反射光の“減衰”について考える。図4は、反射光の減衰の原因を説明するための概念図である。例えば、降雨、降雪、霧等の大気状態では、大気中においてレーザパルス及び反射光が減衰しやすい。他の例として、測距装置のセンサ窓が汚れて部分的に半透明になっている場合、その半透明部分を通過するレーザパルス及び反射光が減衰する。また、対象物の表面の反射率や形状に依っては、反射光が著しく減衰する場合もある。反射光が減衰すると、測距装置1の受光素子に十分な強度の反射光が届かなくなる。
再度図3を参照して、符号WAは、減衰した反射光の受光信号の波形を表している。減衰した反射光の受光信号も、明確な反射ピーク(以下、「減衰ピーク」と呼ばれる)を有している。しかしながら、その減衰ピークは、上記の第1閾値TH1には届いていない。従って、第1閾値TH1を用いる場合、測距装置1は、減衰した反射光の受光信号を検出することはできず、距離を算出することもできない。そのような計測ポイントPについては、距離データが“欠損”する。
図5は、計測範囲における「検出ポイントPD」と「欠損ポイントPM」の一例を示す概念図である。検出ポイントPDは、第1閾値TH1を用いたときに反射光の受光信号が検出され、距離を算出することができた有効な計測ポイントPである。つまり、検出ポイントPDは、反射ピークが第1閾値TH1以上である計測ポイントPである。一方、欠損ポイントPMは、第1閾値TH1を用いたときに反射光の受光信号が検出されず、距離を算出することができなかった計測ポイントPである。つまり、欠損ポイントPMは、反射ピークが第1閾値TH1未満である計測ポイントPである。
欠損ポイントPMは、測距結果に基づく認識精度を低下させ、好ましくない。そこで、本実施の形態は、欠損ポイントPMを可能な限り救済することができる技術を提案する。そのために、測距装置1は、欠損ポイントPMに関して距離の算出を再度試みる「再試行処理」を行う。
図6は、本実施の形態に係る再試行処理を説明するためのタイミング図である。上述の通り、反射光が減衰した場合であっても、その受光信号は明確な「減衰ピーク」を有している。従って、受光信号の検出に用いる閾値を第1閾値TH1から第2閾値TH2に下げることによって、減衰した反射光の受光信号を検出できる可能性がある。第2閾値TH2は、第1閾値TH1より低く、且つ、機械的な検出限界以上である。
第1閾値TH1未満であり、且つ、第2閾値TH2以上である減衰ピークを有する計測ポイントPは、以下「減衰ポイントPA」と呼ばれる。言い換えれば、減衰ポイントPAは、反射ピークが第1閾値TH1未満であり、且つ、第2閾値TH2以上である計測ポイントPである。減衰ポイントPAについては、第1閾値TH1の代わりに第2閾値TH2を用いることによって、受光信号を検出し、距離を算出することができる。すなわち、減衰ポイントPAは救済可能である。
但し、全ての欠損ポイントPMが必ずしも減衰ポイントPAであるわけではない。例えば、ある計測ポイントPの方向に対象物が存在しない場合、反射光も戻ってこないため、その計測ポイントPは欠損ポイントPMとなる。他の例として、ある計測ポイントPの方向におけるセンサ窓(図4参照)がレーザパルスを透過させない程汚れている場合、その計測ポイントPは欠損ポイントPMとなる。減衰ポイントPAではない欠損ポイントPMについては、第2閾値TH2を用いても救済することはできない。
全ての欠損ポイントPMについて第2閾値TH2を用いて受光信号を再分析することは、非効率的である。従って、本実施の形態によれば、減衰ポイントPAではない欠損ポイントPMは予め除外される。そのための1つの判断基準は、欠損ポイントPMの周囲に有効な検出ポイントPDが存在しているか否かである。欠損ポイントPMの周囲に有効な検出ポイントPDが存在していない場合、欠損ポイントPMの方向には何も対象物が無い可能性が極めて高いからである。そこで、測距装置1は、欠損ポイントPMに空間的及び時間的に隣接する「周辺領域」に検出ポイントPDが存在するか否かを判定する。
図7は、欠損ポイントPMに空間的に隣接する周辺領域を説明するための概念図である。例えば、欠損ポイントPMの左右2つの計測ポイントP4及びP6が、周辺領域として用いられる。他の例として、欠損ポイントPMの上下左右4つの計測ポイントP2、P4、P6、及びP8が、周辺領域として用いられてもよい。更に他の例として、欠損ポイントPMの周囲の計測ポイントP1〜P4、及びP6〜P9の全てが、周辺領域として用いられてもよい。
欠損ポイントPMに時間的に隣接する周辺領域とは、前フレームにおける欠損ポイントPMの位置に相当する計測ポイントPである。
欠損ポイントPMの周辺領域に検出ポイントPDが存在する場合、欠損ポイントPMの方向に対象物が何も無いわけではなく、減衰によって反射光の受光強度が弱まった可能性がある。その場合、測距装置1は、当該欠損ポイントPMについて得られた受光信号(図6参照)を分析して、第1閾値TH1未満且つ第2閾値TH2以上である減衰ピークが存在するか否かを判定する。言い換えれば、測距装置1は、当該欠損ポイントPMについて得られた受光信号を分析して、当該欠損ポイントPMが救済可能な減衰ポイントPAであるか否かを判定する。
欠損ポイントPMが救済可能な減衰ポイントPAである場合、測距装置1は、第2閾値TH2を用いて検出される受光信号に基づいて、減衰ポイントPAに関する距離を算出する。距離の具体的な算出方法は、検出ポイントPDの場合と同様である。減衰ポイントPAについては距離が算出されるため、測距装置1による計測範囲における欠損ポイントPMが抑制される。
<効果>
以上に説明されたように、本実施の形態によれば、第1閾値TH1を用いたときの欠損ポイントPMに関して、距離の算出を再度試みる再試行処理が実施される。具体的には、再試行処理では、第1閾値TH1の代わりに、第1閾値TH1より低い第2閾値TH2が用いられる。欠損ポイントPMが第1閾値TH1未満且つ第2閾値TH2以上の反射ピーク(減衰ピーク)を有している場合、その欠損ポイントPMは、救済可能な減衰ポイントPAである。減衰ポイントPAについては、第2閾値TH2を用いて反射光の受光信号を検出し、検出した受光信号に基づいて距離を算出することができる。このような再試行処理により、計測範囲における欠損ポイントPMを抑制することが可能となる。
また、再試行処理において、欠損ポイントPMに空間的及び時間的に隣接する周辺領域に検出ポイントPDが存在するか否かの判定が予め行われる。周辺領域に有効な検出ポイントPDが存在していない場合、欠損ポイントPMの方向には何も対象物が無い可能性が極めて高いからである。このような判定を行うことにより、減衰ポイントPAではない欠損ポイントPMを、再試行処理の対象から予め除外することが可能となる。これにより、再試行処理を効率的に実施することが可能となる。
更に、本実施の形態によれば、減衰ポイントPAに関する距離は、“補間”ではなく、減衰ポイントPAについて実際に得られた受光信号(生データ)に基づいて算出される。従って、減衰ポイントPAに関する距離の算出精度が向上する。
比較例として、上記の特許文献1及び特許文献2に開示されている技術を考える。比較例によれば、欠損ポイントPMにおける距離は、周囲の計測ポイントPについて算出された周囲距離に基づいて“補間”される。そのような補間が行われる場合、欠損ポイントPM自体について得られた受光信号は全く考慮されない。従って、補間により得られる欠損ポイントPMの距離の精度は低い。
本実施の形態に係る測距装置1は、例えば、車両に搭載される。その場合、測距装置1により得られる測距データは、車両周辺の状況の認識に用いられる。車両周辺の状況は、車両に搭載された自動運転システムや走行支援システムにおいて利用される。
以下、本実施の形態に係る測距装置1の具体例について説明する。
2.測距装置の具体例
2−1.構成例
図8は、本実施の形態に係る測距装置1の構成例を示すブロック図である。測距装置1は、発光ユニット10、受光ユニット20、及び制御ユニット30を備えている。
発光ユニット10は、レーザパルスL1を出力する。具体的には、発光ユニット10は、レーザパルスL1を生成する発光素子と、生成されたレーザパルスL1を外部に出力する光学系を含んでいる。光学系は、レンズやポリゴンミラーを含んでいる。ポリゴンミラーを回転させることによって、複数の方向に向けてレーザパルスL1を順次出力(走査)することができる。
受光ユニット20は、反射点からのレーザパルスL1の反射光L2を受光する。具体的には、受光ユニット20は、反射光L2を受光する受光素子と、反射光L2を受光素子にガイドする光学系とを含んでいる。複数の計測ポイントP(図2参照)に対応するように複数の受光素子がアレイ状に配置されている。受光ユニット20は、反射光L2の受光信号を制御ユニット30に送る。
制御ユニット30は、測距装置1による処理を制御する。この制御ユニット30は、発光制御部31、受光信号処理部32、及び記憶部33を有している。発光制御部31及び受光信号処理部32は、マイクロコンピュータにより実現される。記憶部33は、記憶装置により実現される。
発光制御部31は、発光ユニット10に制御信号を出力し、発光ユニット10の動作を制御する。具体的には、発光制御部31は、1フレームの間に複数の計測ポイントPの方向にレーザパルスL1が順次出力されるように、発光ユニット10の動作を制御する。
受光信号処理部32は、受光ユニット20から、反射光L2の受光信号を受け取る。受光信号処理部32は、反射光L2の受光信号に基づいて、反射点までの距離を算出する距離算出処理を行う。また、反射光L2の受光信号は、記憶部33にも送られ、格納される。距離算出処理では、記憶部33に格納されている過去のフレームの受光信号も適宜用いられる。
2−2.距離算出処理
図9は、制御ユニット30(受光信号処理部32)による距離算出処理を示すフローチャートである。距離算出処理は、1フレーム毎に行われる。
ステップS100:
まず、制御ユニット30は、第1閾値TH1を用いて距離算出処理(第1距離算出処理)を行う。具体的には、制御ユニット30は、第1閾値TH1を用いて反射光L2の受光信号を検出し(図3参照)、検出した受光信号に基づいて距離を算出する。このステップS100において距離が算出された計測ポイントPが、上記の検出ポイントPDである。一方、このステップS100において距離が算出されなかった計測ポイントPが、上記の欠損ポイントPMである。
ステップS200:
続いて、制御ユニット30は、計測範囲に欠損ポイントPMが存在するか否かを判定する。欠損ポイントPMが存在しない場合(ステップS200;No)、本フレームにおける距離算出処理を終了する。一方、欠損ポイントPMが存在する場合(ステップS200;Yes)、処理はステップS300に進む。
ステップS300:
制御ユニット30は、欠損ポイントPM毎に、距離の算出を再度試みる再試行処理を行う。具体的には次の通りである。
ステップS310:
制御ユニット30は、第1判定処理を行う。具体的には、制御ユニット30は、欠損ポイントPMに空間的及び時間的に隣接する周辺領域(図7参照)に検出ポイントPDが存在するか否かを判定する。欠損ポイントPMに時間的に隣接する周辺領域とは、前フレームにおける欠損ポイントPMの位置に相当する計測ポイントPである。そのような前フレームにおける受光信号は、記憶部33に格納されている。
周辺領域に検出ポイントPDが存在しない場合(ステップS310;No)、処理はステップS360に進む。一方、周辺領域に検出ポイントPDが存在する場合(ステップS310;Yes)、処理はステップS320に進む。
ステップS320:
制御ユニット30は、「探索時間範囲」を設定する。探索時間範囲とは、欠損ポイントPMについて得られた受光信号に減衰ピークが存在するか否かを探索する対象となる時間範囲である。
図10は、探索時間範囲の設定例を説明するためのタイミング図である。図10に示される例において、欠損ポイントPMの周辺領域は、欠損ポイントPMの上下左右4つの計測ポイントP2、P4、P6、及びP8(図7参照)である。それら4つの計測ポイントP2、P4、P6、及びP8の各々が検出ポイントPDであり、反射ピークは第1閾値TH1を超えている。制御ユニット30は、周辺領域に存在する全ての検出ポイントPDに関する反射ピーク時間位置を含むように、探索時間範囲を設定する。
図10に示される例では、制御ユニット30は、周辺領域の各検出ポイントPDについて得られた受光信号の波形が第1閾値TH1と交差する交差時間を収集する。そして、制御ユニット30は、最も早い交差時間を探索時間範囲の開始時間tsに設定し、最も遅い交差時間を探索時間範囲の終了時間teに設定する。
図11は、探索時間範囲の他の設定例を示している。図11に示される例では、制御ユニット30は、周辺領域の各検出ポイントPDについて得られた受光信号の反射ピーク時間を収集する。そして、制御ユニット30は、最も早い反射ピーク時間を探索時間範囲の開始時間tsに設定し、最も遅い反射ピーク時間を探索時間範囲の終了時間teに設定する。
あるいは、制御ユニット30は、欠損ポイントPMに対するレーザパルスL1の出力タイミングから一定期間を、探索時間範囲に設定してもよい。
ステップS330:
続いて、制御ユニット30は、第2判定処理を行う。具体的には、制御ユニット30は、欠損ポイントPMについて得られた受光信号を分析して、上記の探索時間範囲に減衰ピーク(図6参照)が存在するかを判定する。欠損ポイントPMについて得られた受光信号に減衰ピークが存在するか否か判定することは、欠損ポイントPMが減衰ポイントPAであるか否かを判定することと等価である。
減衰ピークが存在しない場合(ステップS330;No)、欠損ポイントPMは救済可能な減衰ポイントPAではない。この場合、処理はステップS360に進む。一方、減衰ピークが存在する場合(ステップS330;Yes)、欠損ポイントPMは救済可能な減衰ポイントPAである。この場合、処理はステップS340に進む。
ステップS340:
制御ユニット30は、減衰ポイントPAに関する信頼条件が成立するか否か判定する。
例えば、図12に示されるように、第1閾値TH1未満且つ第2閾値TH2以上の減衰ピークとして、第1ピークだけでなく、第1ピークよりも低い第2ピークも見つかる可能性がある。第1ピークと第2ピークとの差が小さい場合、受光タイミングを一意に決めることは難しい。そこで、制御ユニット30は、第1ピークに対する第2ピークの比率(=第2ピーク/第1ピーク)が所定値以下か否かを判定する。その比率が所定値以下である場合、第1ピークは、第2ピークに比べて十分に大きい。その場合、制御ユニット30は、減衰ポイントPAに関する信頼条件が成立すると判定する。
信頼条件が成立しない場合(ステップS340;No)、処理はステップS360に進む。一方、信頼条件が成立する場合(ステップS340;Yes)、処理はステップS350に進む。
ステップS350:
制御ユニット30は、第2閾値TH2を用いて距離算出処理(第2距離算出処理)を行う。具体的には、制御ユニット30は、第2閾値TH2を用いて検出される受光信号に基づいて、減衰ポイントPAに関する距離を算出する。これにより、減衰ポイントPAは欠損ポイントPMから検出ポイントPDに変化する。すなわち、欠損ポイントPMが抑制される。
ステップS360:
制御ユニット30は、欠損ポイントPMを、そのまま無効な欠損ポイントPMとして扱う。
1 測距装置
10 発光ユニット
20 受光ユニット
30 制御ユニット
31 発光制御部
32 受光信号処理部
33 記憶部
PA 減衰ポイント
PD 検出ポイント
PM 欠損ポイント
TH1 第1閾値
TH2 第2閾値

Claims (1)

  1. レーザパルスを出力する発光ユニットと、
    反射点からの前記レーザパルスの反射光を受光する受光ユニットと、
    前記反射光の受光信号に基づいて、前記反射点までの距離を算出する制御ユニットと
    を備え、
    前記距離の計測範囲は、アレイ状に配置された複数の計測ポイントで表され、
    反射ピークは、各計測ポイントにおける前記反射光の受光強度のピークであり、
    検出ポイントは、前記反射ピークが第1閾値以上である計測ポイントであり、
    欠損ポイントは、前記反射ピークが前記第1閾値未満である計測ポイントであり、
    減衰ポイントは、前記反射ピークが前記第1閾値未満であり、且つ、前記第1閾値より低い第2閾値以上である計測ポイントであり、
    前記制御ユニットは、
    前記第1閾値を用いて前記受光信号を検出し、前記検出した受光信号に基づいて前記検出ポイントに関する前記距離を算出する第1距離算出処理と、
    前記欠損ポイントに関して、前記距離の算出を再度試みる再試行処理と
    を行い、
    前記再試行処理は、
    前記欠損ポイントに空間的及び時間的に隣接する周辺領域に前記検出ポイントが存在するか否かを判定する第1判定処理と、
    前記周辺領域に前記検出ポイントが存在する場合、前記欠損ポイントについて得られた前記受光信号を分析して、前記欠損ポイントが前記減衰ポイントであるか否かを判定する第2判定処理と、
    前記欠損ポイントが前記減衰ポイントである場合、前記第2閾値を用いて検出される前記受光信号に基づいて、前記減衰ポイントに関する前記距離を算出する第2距離算出処理と
    を含む
    測距装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111708040A (zh) * 2020-06-02 2020-09-25 Oppo广东移动通信有限公司 测距装置、测距方法及电子设备

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CN111708040B (zh) * 2020-06-02 2023-08-11 Oppo广东移动通信有限公司 测距装置、测距方法及电子设备

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