CN109521435B - 距离计测装置 - Google Patents

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Abstract

实施方式提供能够高精度地判断检测的光是正规的反射光还是干扰光的距离计测装置。实施方式的距离计测装置具备：出射部，间歇地出射光；以及计测部，基于从上述出射部出射光开始到由被测定物反射后得到的反射光返回为止的时间，计测到上述被测定物的距离。上述出射部每规定周期延迟随机的时间长的偏移的量地出射光。而且，上述计测部使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计而生成累计检测信号，基于上述累计检测信号，判断上述检测信号中的光是否是从上述出射部出射并由上述被测定物反射后得到的反射光。

Description

距离计测装置
相关申请
本申请享受以日本专利申请2017－179411号(申请日：2017年9月19日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包括基础申请的全部内容。
技术领域
本发明的实施方式涉及距离计测装置。
背景技术
周知有称为LIDAR(Laser Imaging Detection And Ranging)的距离计测装置。该距离计测装置从光源对被测定物照射脉冲光并通过光检测器检测由被测定物反射(散射)的反射光(散射光)。从距离计测装置到被测定物的距离(光路长)越长，该情况的光的往复时间变得越长。因此，能够使用光源出射光的定时和检测到反射光的定时的时间差，来计测距离。
在上述的距离计测装置中，以规定周期出射脉冲光的情况下，例如，如果恶意的第三者等以相同的周期出射干扰光并检测到该干扰光的话，距离的计测结果会产生错误。
发明内容
本实施方式提供能够高精度地判断检测的光是正规的反射光还是干扰光的距离计测装置。
实施方式的距离计测装置具备：出射部，间歇地出射光；以及计测部，基于通过上述出射部出射光后到由被测定物反射的反射光返回来为止的时间，对从该距离计测装置到上述被测定物的距离进行计测。上述出射部使光每规定周期延迟随机的时间长的偏移的量后出射。而且，上述计测部使每个上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计，从而生成累计检测信号，基于上述累计检测信号，判断上述检测信号中的光是否是从上述出射部出射并由上述被测定物反射的反射光。
附图说明
图1是第1实施方式的距离计测装置的概略的整体构成图。
图2是第1实施方式的距离计测装置的整体构成图。
图3A是第1实施方式的发光定时的说明图。
图3B是第1实施方式的分时累计的说明图。
图4A是第2实施方式的有移位(shift)的分时累计的说明图。
图4B是第2实施方式的无移位的分时累计的说明图。
图5是第2实施方式的距离计测装置的概略的整体构成图。
图6是第3实施方式的距离计测装置的概略的整体构成图。
图7是第4实施方式的距离计测装置的概略的整体构成图。
图8是第5实施方式的光的发光定时等的说明图。
图9A是比较例的距离计测装置的整体动作的说明图。
图9B是比较例的距离计测装置的脉冲光和干扰光的发光定时的说明图。
图9C是比较例的距离计测装置的分时累计的说明图。
具体实施方式
以下，使用附带的附图，对实施方式的距离计测装置等进行说明。首先，为了有助于理解，对比较例进行说明。
(比较例)
图9A是比较例的距离计测装置的整体动作的说明图。在比较例的距离计测装置中，发光部对被测定物间歇地出射光并且进行扫描。检测部检测由被测定物反射的反射光。另外，恶意的第三者等通过激光产生装置等出射干扰光时，检测部也检测该干扰光。
图9B是比较例的距离计测装置的脉冲光和干扰光的发光定时的说明图。这里，比较例的距离计测装置的发光部以每一定间隔(一定的时间间隔。以下相同)的规定周期出射脉冲光(例如脉冲宽度为数ns(纳秒))。另外，干扰光也以相同的规定周期被出射。
图9C是比较例的距离计测装置的分时累计的说明图。检测部由受光元件A～I构成。此外，在图9C中，受光元件以3×3进行排列，但其纵、横的排列数量是一个例子，并不限于此。
这里，D→F的方向对应于脉冲光的扫描方向，按受光元件D、E、F的顺序检测到各脉冲光的反射光。该情况下，在各个受光元件D、E、F的检测信号(以下，也称为检测信号D、E、F。)中，以每规定周期的检测开始定时为基准时，干扰光的波和反射光的波在相同的定时出现。此外，在图9C的检测信号中，横轴是时间，纵轴是亮度。
而且，对检测信号D、E、F进行分时累计并生成累计检测信号时，干扰光的波和反射光的波双方被放大。这里，所谓分时累计是指，对多个检测信号，通过规定的基准(例如检测开始定时等)将时间轴对齐后再进行累计。此外，例如，对于检测信号D、E、F，也可以通过分别对检测信号A和G、B和H、C和I相加来进行插补。另外，例如，对于检测信号E也可以对检测信号A、B、C、D、F、G、H、I相加来进行插补。若进行那样的插补，就能使S/N(signal-to-noiseratio：信噪比)变得更好。
另外，在比较例的距离计测装置中，在累计检测信号中有规定的阈值以上的亮度的情况下判断为被测定物存在，计测部(未图示)基于光出射后反射光返回来之前的时间对到被测定物的距离进行计测。因此，如图9C所示，在累计检测信号中干扰光的亮度大时，由于该干扰光导致判断为存在被测定物。换句话说，距离的计测结果会产生错误。
此外，使用了毫米波等电波的距离计测的情况下，作为这样的干扰光的对策的一个例子，使电波的频率变化。但是，在LIDAR的情况下，脉冲宽度例如使用数ns(纳秒)这样的脉冲光，难以使光的频率变化。
(第1实施方式)
首先，对第1实施方式进行说明。图1是第1实施方式的距离计测装置1的概略的整体构成图。距离计测装置1，使用出射光的定时与由被测定物10反射(散射)而返回来的反射光(散射光)被检测到的定时的时间差，来计测距离。距离计测装置具有出射部100、光学机构***200、计测部300、图像处理部400。
出射部100出射具有规定的脉冲宽度的光。出射部100例如具有发出激光的光源，间歇地发出脉冲光。
光学机构***200使出射部100出射的脉冲光朝向被测定物10，并且，接受经被测定物10反射而返回来的脉冲光。更具体而言，光学机构***200对被测定物10扫描出射部100出射的脉冲光(出射光)，并且，使由被测定物10反射而返回来的脉冲光入射到计测部300。
计测部300基于通过出射部100出射光后到由被测定物10反射的反射光返回来的时间，计测从距离计测装置1到被测定物10的距离。更具体而言，计测部300针对反射光基于与经由光学机构***200接收到的反射光的强度相对应的大小的检测信号来进行处理(详细后述)。
图像处理部400进行噪声的去除、失真修正、插补处理等，输出最终的距离图像数据。此外，图像处理部400也可以设于距离计测装置1的壳体内。
图2是第1实施方式的距离计测装置1的整体构成图。距离计测装置1，使用扫描方式以及TOF(Time Of Flight：飞行时间)方式，生成到被测定物10的距离图像。即，距离计测装置1对被测定物10间歇地出射光L1，基于出射光L1后到由被测定物10反射的光L2返回来的时间，计测从距离计测装置1到被测定物10的距离。
出射部100具有光源102，振荡器104，驱动电路106、108，以及扫描控制部110(光扫描仪控制器)。
光学机构***200具有透镜202，光学元件204、206，以及反射设备208(反射镜)。
计测部300具有光检测器302、304，透镜306，放大器308，模拟电路部310，以及数字电路部312。
如后述那样，反射设备208是以扫描光为目的的部件。此外，作为扫描光的现有方法，除了使用反射设备208的方法外，还有使光源102、透镜202以及光检测器302、304、透镜306旋转的方法(以下，称为旋转方法)。另外，作为其它的扫描的现有方法，有OpticalPhased Array(光学相控阵)(以下，称为OPA方法。)。本实施方式由于不取决于扫描光的方法，因此除了使用反射设备208的方法外，也能用于旋转方法、OPA方法。
出射部100的振荡器104生成脉冲信号。驱动电路106基于该脉冲信号来驱动光源102。光源102例如是激光二极管等激光源，对应于驱动电路106进行的驱动而间歇地出射光L1。换句话说，光L1是脉冲光。
扫描控制部110进行驱动反射设备208使反射面208a的倾斜角度连续变更的控制。驱动电路108按照从扫描控制部110供给的驱动信号，驱动反射设备208。
在从光源102出射的光L1的光路上，光学机构***200的透镜202、光学元件204、光学元件206以及反射设备208依次被设置。透镜202对光L1进行照准并导向光学元件204。
光学元件204设于透镜202和光学元件206之间。光学元件204透射光L1，并且，使该光L1的一部分入射到光检测器302。光学元件204例如也可以是分光器等。
光学元件206使透射了光学元件204的光L1透射，并使该光L1入射到反射设备208。
反射设备208具有对从光源102出射的光L1进行反射的射面208a(镜面)。反射设备208驱动而反射面208a的倾斜角度连续地变化，由此，由反射面208a反射的光L1的行进方向连续变化，光L1在被测定物10上进行扫描。另外，反射面208a使由被测定物10反射而返回来的光L2反射。具有反射面208a的反射设备208例如能够以相互交叉的2个转动轴线RA1、RA2为中心转动。
反射面208a使光L1沿着被测定物10上的几乎平行的多个直线路径在垂直方向上错开(ずらす)的同时，在水平方向上依次扫描。换句话说，光L1，在直线路径P1上沿X方向(水平方向)扫描，接下来，在Y方向(垂直方向)上错开，在直线路径P2上沿X方向扫描。反复进行该动作，在各直线路径上照射脉冲光。此外，直线路径的数量、扫描方向并不特别限定。
照射到被测定物10的光L1在被测定物10上反射(散射)。在被测定物10上反射的光L1(以下，反射光L2)在与光L1的光路几乎相同的光路上反向前进。反射光L2是光子(photon)。由反射面208a反射的反射光L2入射到光学元件206。
此外，在图2中，为了容易视觉辨认而将光L1和反射光L2的光路分开图示，但实际上这些是几乎重叠的。另外，在图2中，图示了光L1的光束的中心的光路、以及入射到反射面208a的反射光L2的光束的中心的光路。在与反射光L2不同方向上前进的反射光L3不入射到反射面208a。
光学元件206改变由反射面208a反射的反射光L2的行进方向，计测部300的透镜306使反射光L2聚光并使其入射到光检测器304。光学元件206例如也可以是半透半反镜、开孔的镜。
光检测器304对从透镜306入射的反射光L2进行检测。模拟电路部310例如是放大器，将光检测器304的输出信号放大，并且进行带通滤波处理。
另一方面，光检测器302对从光学元件204入射的光L1进行检测。放大器308对光检测器302的输出信号进行放大，并且，进行带通滤波处理。
数字电路部312接收放大器308、模拟电路部310的输出信号，基于光检测器302、304的检测结果(输出信号)，对距离计测装置1到被测定物10的距离进行计测。具体而言，数字电路部312基于光检测器302检测光L1的定时和光检测器304检测反射光L2的定时的时间差，对从距离计测装置1到被测定物10的距离进行计测。即，此时间差越长，该距离越长地被计算。
接下来，参照图3A、图3B，对距离计测装置1的动作进行说明。图3A是第1实施方式的发光定时的说明图。出射部100每规定周期使光延迟随机的时间长的偏移(offset)的量后出射。换句话说，如图3A所示，出射部100每基于基准时钟的规定周期(一定间隔)使脉冲光延迟随机时间长的偏移(偏移D、E、F)的量后出射。偏移D、E、F的大小例如使用随机数来决定即可。另外，干扰光是以规定周期出射的光。
图3B是第1实施方式的分时累计的说明图。图3B所示的检测部304a(光检测器304)由受光元件A～I构成。此外，在图3B中，受光元件以3×3排列，但其纵、横的排列数量是一个例子，并不限于此。
这里，D→F的方向与脉冲光的扫描方向相对应，按受光元件D、E、F的顺序对各脉冲光的反射光进行检测。该情况下，对于检测信号D、E、F各个检测信号，每规定周期分别延迟偏移D、E、F的量而开始检测时，干扰光的波(附图标记J)的定时偏离(ずれる)，但反射光的波(附图标记R)的定时一致。此外，在图3B的检测信号中，横轴是时间，纵轴是亮度。
而且，计测部300使各个规定周期的光的多个检测信号错开各自的偏移的量地进行分时累计从而生成累计检测信号(第1累计检测信号)，基于累计检测信号，判断检测信号中的光是否是从出射部100出射而由被测定物10反射的反射光。具体而言，计测部300如上述那样对检测信号D、E、F进行分时累计而生成累计检测信号时，干扰光的波不被放大，但反射光的波被放大。此外，例如对于检测信号D、E、F，也可以分别通过对检测信号A和G、B和H、C和I相加来进行插补。另外，例如，对于检测信号E，也可以将检测信号A、B、C、D、F、G、H、I相加来进行插补。若进行那样的插补，就能使S/N变更好。
另外，在累计检测信号中有规定的阈值以上的亮度的情况下判断为被测定物10存在，计测部300基于光出射后到反射光返回来的时间，计测到被测定物10的距离。因此，如图3B所示，在累计检测信号中正规的反射光的亮度变大，适当地设定好上述阈值，由此，能够使通过干扰光而不判断为被测定物10存在、通过正规的反射光而判断为被测定物10存在的可能性提高。换句话说，能够提供能高精度地判断检测到的光是正规的反射光还是干扰光的距离计测装置1。
以往，例如有如下情况：在乘用车等车辆中使用距离计测装置，在检测到其他车辆、歩行者时，恶意的第三者等通过激光产生装置等出射干扰光时，距离计测装置由于检测该干扰光而误识别为在附近存在其他车辆或歩行者并使车辆强制停止的情况。根据第1实施方式的距离计测装置1，能够减少这样的情况的产生。
(第2实施方式)
接下来，参照图4A、图4B，对第2实施方式的距离计测装置1的动作进行说明。此外，对第2实施方式以后，与目前为止的实施方式等重复的事项的说明适当地省略。
图4A是第2实施方式的有移位的分时累计的说明图。图4A的动作与图3B的动作相同，省略说明。
图4B是第2实施方式的无移位的分时累计的说明图。在图4B的检测信号D、E、F的各个信号中，在不每规定周期延迟各自的偏移D、E、F的量而(换句话说，与偏移D、E、F无关地)开始检测时，干扰光的波(附图标记J)的定时是一致的，但反射光的波(附图标记R)的定时是偏离的。
而且，计测部300不错开各自的偏移的量地对每规定周期的光的多个检测信号进行分时累计而生成第2累计检测信号，基于第1累计检测信号以及第2累计检测信号，判断检测信号中的光是否是从出射部100出射并由被测定物10反射的反射光。具体而言，计测部300与偏移D、E、F无关地对检测信号D、E、F进行分时累计而生成第2累计检测信号时，干扰光的波被放大，但反射光的波不被放大。此外，检测信号D、E、F也可以分别通过对检测信号A和G、B和H、C和I相加来进行插补。
另外，计测部300通过比较图4A的第1累计检测信号以及图4B的第2累计检测信号，来判断检测信号中的光是否是从出射部100出射并由被测定物10反射的反射光。换句话说，计测部300判断为在图4A的第1累计检测信号不被放大而在图4B的第2累计检测信号被放大的波是干扰光的波，并判断为在图4A的第1累计检测信号被放大而在图4B的第2累计检测信号不被放大的波是正规的反射光的波。
一般地，正规的反射光因被测定物10的反射(散射)而变弱，另一方面，干扰光由于能够从发光装置直射到距离计测装置1因而强的情况较多。即使在那样的情况下，根据该第2实施方式的距离计测装置1，也能高精度地识别干扰光和正规的反射光。
接下来，参照图5，对第2实施方式的距离计测装置1的安装手段进行说明。图5是第2实施方式的距离计测装置1的概略的整体构成图。此外，在图5中，为了使附图简化，省略出射部100和光学机构***200的图示。
光检测器304输出与经由光学机构***200接收到的光的强度相对应的输出信号。光检测器304，作为多个受光元件的一个例子，具有多个SPAD(Single-Photon AvalancheDiode：单光子雪崩二极管)元件(cell)314。这里，SPAD元件314包含与SPAD和SPAD连接的电气要素(例如，电阻、电容器、半导体等)。以下，对SPAD的情况进行记载，但即使是其他设备，例如，APD(Avalanche Photo Diode：雪崩光电二极管)、PD(Photo Diode：光电二极管)也成立。
SPAD元件314例如是在盖革(Geiger)模式下使用雪崩光电二极管(APD：AvalanchePhoto Diode)的元件。SPAD元件314能够通过盖革放电而得到超过1万倍的大的获利。即，SPAD元件314分别输出与经由光学机构***200接收到的光的强度相对应的输出信号。
模拟电路部310将光检测器304具有的多个SPAD元件314各自的输出放大。模拟电路部310例如由模拟调谐器构成。
计测部300中的AD转换部316(ADC：Analog to Digital Converter：模拟数字转换器)，每从出射部100出射脉冲光时，在多个取样定时对与模拟电路部310放大的多个SPAD元件314各自的输出信号相对应的信号进行取样，转换为各自的数字检测信号。
另外，计测部300具有按多个SPAD元件314而对应的多个缓存器318。多个缓存器318分别能够保持分时累计前的数字检测信号。为了对相同的数据进行2次分时累计(图4A、图4B)，需要在缓存器保存好数字检测信号。另外，计测部300也具有能够保持移位量(偏移量)的缓存器。换句话说，缓存器318是存储每规定周期的光的多个检测信号和各自的偏移的存储部。
数字电路部312具备：有移位的分时累计部322、无移位的分时累计部324、判定部326。
有移位的分时累计部322，参照缓存器318，使每规定周期的光的多个检测信号错开各自的偏移的量地进行分时累计从而生成第1累计检测信号(图4A)。
无移位的分时累计部324参照缓存器318，使每规定周期的光的多个检测信号不错开各自的偏移的量而进行分时累计从而生成第2累计检测信号(图4B)。
判定部326基于第1累计检测信号以及第2累计检测信号，来判断检测信号中的光是否是从出射部100出射并由被测定物10反射的反射光。
这样，能够实现能高精度地识别干扰光和正规的反射光的距离计测装置1。
(第3实施方式)
接下来，对第3实施方式进行说明。图6是第3实施方式的距离计测装置1的概略的整体构成图。第3实施方式与第2实施方式相比，在识别了干扰光和正规的反射光之后，使用检测信号中的正规的反射光的峰值的附近但不进行分时累计地计测(计算)距离这一点是不同的。以下，对于与第2实施方式的不同点进行说明。
数字电路部312还具备距离计算部328。距离计算部328基于第1累计检测信号以及第2累计检测信号，判断为检测信号中的光是从出射部100出射并由被测定物10反射的反射光的情况下，使用检测信号中的该反射光的峰值附近，计测到被测定物10的距离。
这样，根据第3实施方式的距离计测装置1，在识别了干扰光和正规的反射光之后，通过使用检测信号中的正规的反射光的峰值的附近，能够以简洁的处理进行高精度的距离计测。
(第4实施方式)
接下来，对第4实施方式进行说明。图7是第4实施方式的距离计测装置1的概略的整体构成图。第4实施方式与第1～第3实施方式相比，在数字电路部312还具备第2有移位的分时累计部330以及峰值计算部332这一点，以及计测部300还具备TD转换部334(TDC：Timeto Digital Converter：时间-数字转换器)、干扰光检测部336、和处理部338这一点上是不同的。以下，对与第1～第3实施方式的不同点进行说明。
第2有移位的分时累计部330，使基于光检测器304的多个SPAD元件314中的成为测定中心的SPAD元件314(例如图7的检测部304a中的「E」)的信号的数字检测信号、和分别基于配置于自测定中心的SPAD元件314(「E」)的规定范围内的多个SPAD元件314(例如图7的检测部304a中的「B」和「H」)的输出的各个数字检测信号，错开上述的偏移的量而进行分时累计，作为累计数字检测信号输出。此外，这里进行累计时，可以用累计了累计值的次数来做除法，也可以不做除法。
峰值计算部332计算判定部326在检测信号中判断为正规的反射光的波的部分的峰值。距离计算部328使用检测信号中的正规的反射光的其峰值的附近，计测到被测定物10的距离。
另外，来自相同的或者接近的受光元件(SPAD元件314)的传感器输出被输入至AD转换部316和TD转换部334。TD转换部334使用该传感器输入等，测量从脉冲光出射后到由被测定物10反射的反射光被检测为止的时间差，输出其时间差信息。一般而言，TD转换部334与AD转换部316相比时间分辨率高，通过使用TD转换部334输出的时间差信息，能实现更高精度的处理的可能性高。
干扰光检测部336使用从TD转换部334接收的时间差信息，检测干扰光。干扰光检测部336是作为软件来执行与数字电路部312以硬件进行的处理相同或者类似的处理的单元。例如，干扰光检测部336(计测部)在每次出射实施距离的计测，将成为对象的出射的距离计测结果与在成为对象的出射的前后出射而得到的距离计测结果进行比较，通过这样来判断光是否是从出射部100出射并由被测定物10反射的反射光。
处理部338使用由数字电路部312进行的处理结果和由干扰光检测部336进行的处理结果双方，进行运算处理。例如，处理部338将由数字电路部312进行的是否是正规的反射光的判断和由干扰光检测部336进行的是否是正规的反射光的判断进行组合，来进行是否正规的反射光的判断。具体而言，例如，处理部338在数字电路部312和干扰光检测部336的一方中检测到干扰光的话，就判断为存在干扰光。但是，但并不局限于此，例如，处理部338也可以仅在数字电路部312和干扰光检测部336双方都检测到了干扰光时才判断为存在干扰光。
这样，根据第4实施方式的距离计测装置1，除了基于从AD转换部316得到的数据的处理以外，通过进行基于从TD转换部334得到的数据的处理，能够更高精度地识别干扰光和正规的反射光。另外，TD转换部334、干扰光检测部336是软件，追加它们所需的成本的增加得少。
(第5实施方式)
接下来，对第5实施方式进行说明。图8是第5实施方式中的光的发光定时等的说明图。第5实施方式与第1～第4实施方式相比，在对于1次的距离计测多次发出脉冲光这一点上是不同的。以下，对于与第1～第4实施方式的不同点进行说明。此外，没有对于图1、图2所示的构成的变更。
出射部100对于1次的距离计测间歇地出射多个光。另外，计测部300基于光的检测信号和与间歇地出射的多个光有关的假想信号(虚拟信号)的相关度，判断检测信号中的光是否是从出射部100出射并由被测定物10反射的反射光。
另外，例如，出射部100基于随机数来分别决定针对1次距离计测间歇地出射的多个光的时间间隔。此外，例如，出射部100基于随机数从预先准备的多个时间间隔的组中进行选择，由此来决定针对1次的距离计测间歇地出射的多个光的时间间隔。
具体而言，例如，如图8所示，出射部100对于1次的距离计测，作为脉冲光群P1而3次出射脉冲光。该3次的脉冲光的时间间隔是时间i11和时间i12。
另外，出射部100对于1次的距离计测，作为脉冲光群P2而3次出射脉冲光。该3次的脉冲光的时间间隔是时间i21和时间i22。
这里，时间i11和时间i12例如可以基于随机数来决定，或者也可以从预先准备的多个时间间隔的组中基于随机数进行选择由此来决定。对于时间i21和时间i22也一样。
而且，例如，计测部300基于检测信号R1和与脉冲光群P1有关的假想信号H1的相关度，来判断检测信号中的光是否是从出射部100出射并由被测定物10反射的反射光。对于检测信号R2和假想信号H2、检测信号J和假想信号H3也一样。这些3组的例子中，只有检测信号J和假想信号H3的组相关度低，计测部300将检测信号J判断为干扰光。
这样，根据第5实施方式的距离计测装置1，针对1次的距离计测间歇地出射多个光，基于检测信号和假想信号的相关度来判断是正规的反射光还是干扰光，通过这样，具有S/N得以提高并且必要的缓存器的容量小这一优点。
此外，将脉冲光群中的脉冲光的发光次数设为3次是一个例子，也可以是2次或4次以上。
对本发明的若干个实施方式进行了说明，这些实施方式是作为例子而提示的，并不意图限定发明的范围。这些新的实施方式能以其他各种形态实施，在不脱离发明的要旨的范围内，能进行各种省略、置换、变更。这些实施方式及其变形包含于发明的范围、要旨内，并且，包含于权利要求书的范围记载的发明及其均衡的范围内。
另外，本实施方式的距离计测装置1中执行的程序能够以可安装的形式或者可执行的形式的文件记录于CD(Compact Disc：光盘)－ROM(Read Only Memory：只读存储器)、软盘(FD)、CD－R(Recordable：可录光碟)、DVD(Digital Versatile Disk：数字多功能磁盘)等计算机装置可读取的记录介质中而提供。另外，也可以经由因特网等网络来提供或者分发本实施方式的距离计测装置1中执行的程序。

Claims (8)

1.一种距离计测装置，其特征在于，
具备：
出射部，每规定周期使光延迟随机的时间长的偏移的量后间歇地出射；以及
计测部，基于从上述出射部出射光开始到由被测定物反射后得到的反射光返回为止的时间以及使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计而生成的累计检测信号，计测到上述被测定物的距离，
上述计测部使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计从而生成第1累计检测信号，并且，使每上述规定周期的光的多个检测信号不错开各自的上述偏移的量而进行分时累计从而生成第2累计检测信号，基于上述第1累计检测信号以及上述第2累计检测信号，计测到上述被测定物的距离。
2.如权利要求1所述的距离计测装置，其特征在于，
上述计测部具有：
存储部，将每上述规定周期的光的多个检测信号与各自的上述偏移一起存储；
有移位的分时累计部，参照上述存储部，使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计从而生成第1累计检测信号；
无移位的分时累计部，参照上述存储部，使每上述规定周期的光的多个检测信号不错开各自的上述偏移的量而进行分时累计从而生成第2累计检测信号；以及
判定部，基于上述第1累计检测信号以及上述第2累计检测信号，判断上述检测信号中的光是否是从上述出射部出射并由上述被测定物反射后得到的反射光。
3.如权利要求1所述的距离计测装置，其特征在于，
上述计测部在基于上述第1累计检测信号以及上述第2累计检测信号判断为上述检测信号中的光是从上述出射部出射并由上述被测定物反射后得到的反射光的情况下，使用该反射光的峰值附近的检测信号，计测到上述被测定物的距离。
4.一种距离计测装置，其特征在于，
具备：
出射部，每规定周期使光延迟偏移的量后间歇地出射，上述偏移是从预先准备的多个偏移中基于随机数而选择的偏移；
计测部，基于从上述出射部出射光开始到由被测定物反射后得到的反射光返回为止的时间以及使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计而生成的累计检测信号，计测到上述被测定物的距离。
5.如权利要求4所述的距离计测装置，其特征在于，
上述出射部基于随机数，分别决定针对1次距离计测间歇地出射的多个光的时间间隔。
6.如权利要求4所述的距离计测装置，其特征在于，
上述出射部基于随机数从预先准备的多个时间间隔的组中进行选择，由此决定针对1次距离计测间歇地出射的多个光的时间间隔。
7.一种距离计测装置，其特征在于，
具备：
出射部，间歇地出射光；以及
计测部，基于从上述出射部出射光开始到由被测定物反射后得到的反射光返回为止的时间，计测到上述被测定物的距离，
上述出射部每规定周期使光延迟随机的时间长的偏移的量后出射，
上述计测部在每次出射时实施距离的计测，通过将成为对象的出射的距离计测结果与在成为上述对象的出射的前后出射而得到的距离计测结果进行比较，来判断光是否是从上述出射部出射并由上述被测定物反射后得到的反射光，
上述计测部具有：
存储部，将每上述规定周期的光的多个检测信号与各自的上述偏移一起存储；
有移位的分时累计部，参照上述存储部，使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计从而生成第1累计检测信号；
无移位的分时累计部，参照上述存储部，使每上述规定周期的光的多个检测信号不错开各自的上述偏移的量而进行分时累计从而生成第2累计检测信号；以及
判定部，基于上述第1累计检测信号以及上述第2累计检测信号，判断上述检测信号中的光是否是从上述出射部出射并由上述被测定物反射后得到的反射光。
8.一种距离计测装置，其特征在于，
将权利要求1到权利要求6的任一项所记载的距离计测装置所做的是否是正规的反射光的判断和权利要求7所记载的距离计测装置所做的是否是正规的反射光的判断组合，来进行是否是正规的反射光的判断。
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