JP2019132695A

JP2019132695A - 巻線試験装置

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Publication number: JP2019132695A
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Inventors: 弘沼倉; Hiroshi Numakura
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Filing date: 2018-01-31
Publication date: 2019-08-08
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Abstract

【課題】より高精度に試験の判定を行うことができる巻線試験装置を得る。【解決手段】被試験体に巻かれた巻線の絶縁不良を試験する巻線試験装置であって、巻線に電圧を印加する電圧発生制御部と、巻線において検出された検出電圧を出力する電圧検出部と、試験における被試験体の環境を表す物理量を検出する環境検出部と、電圧検出部の検出に係る検出電圧に基づいて、被試験体の良否を判定する試験制御部とを備え、環境検出部は、被試験体の温度を検出する被試験体温度センサを有し、被試験体温度センサは、被試験体の形状に合わせた形状の取り付け部を有する台座を備えるものである。【選択図】図５

Description

この発明は、コイルなどに巻かれる巻線に係る試験を行う巻線試験装置に関するものである。特に、モータなどにおける巻線の良否を判定する試験に係るものである。

巻線が何重にも巻かれたコイルを有する部品として、電動機の固定子、トランスなどがある。巻線はコイル状に巻かれている。部品の品質を確保するためには、コイルにおいて、巻線間の絶縁状態が確保され、絶縁状態の破れがないことが重要である。

そこで、たとえば、コイルが良好に絶縁されているかどうかを判定するインパルス試験が行われる。インパルス試験では、あらかじめ、巻線に異常がないマスターサンプルのコイルに対して、インパルス電流を流し、コイルに発生する過渡応答電圧の減衰振動波形のデータを採っておく。そして、被試験部品のコイルにもインパルス電流を流し、減衰振動波形のデータを得る。マスターサンプルのコイルにおける減衰振動波形と被試験部品のコイルにおける減衰振動波形とを比較して、巻線間の短絡、巻数の過不足などがないと判定されると、良品であるとされる。

特開２０１５−１１４１９５号公報

しかし、たとえば、インパルス試験において得られる、コイルの過渡応答電圧波形などは、インパルス試験時における環境の影響を受ける。このため、判定をより正確に行うには、試験時の環境の状態が、より精度高く検出できることが望ましい。

そこで、この発明は、上記の問題を解決するため、より高精度に試験の判定を行うことができる巻線試験装置を得ることを目的とするものである。

この発明に係る巻線試験装置は、被試験体に巻かれた巻線の絶縁不良を試験する巻線試験装置であって、巻線に電圧を印加する電圧発生制御部と、巻線において検出された検出電圧を出力する電圧検出部と、試験における被試験体の環境を表す物理量を検出する環境検出部と、電圧検出部の検出に係る検出電圧に基づいて、被試験体の良否を判定する試験制御部とを備え、環境検出部は、被試験体の温度を検出する被試験体温度センサを有し、被試験体温度センサは、被試験体の形状に合わせた形状の取り付け部を有する台座を備えるものである。

この発明によれば、環境検出部が、被試験体の形状に合わせた形状の取り付け部を有する台座を備える被試験体温度センサを有することで、被試験体の温度を、より正確に検出することができ、より高精度に試験の判定を行うことができる。

この発明の実施の形態１に係る巻線試験装置１００の構成を示す図である。この発明の実施の形態１に係る被試験体２００を有する整流子モータを説明する図である。この発明の実施の形態１に係る電機子２６０の構成を説明する図である。この発明の実施の形態１に係る検出電圧波形の一例を示す図である。この発明の実施の形態１に係る被試験体温度センサ１３１の被試験体２００への取り付けについて説明する図である。環境による放電電圧の違いを説明する図である。この発明の実施の形態２に係る制御処理部１４１の構成を示すブロック図である。この発明の実施の形態２に係る巻線試験装置１００において、制御処理部１４１が行う判定に係る処理の手順を示す図である。この発明の実施の形態２における巻線試験装置１００の補正に係るデータをテーブル形式で示す図である。

実施の形態１．
図１は、この発明の実施の形態１に係る巻線試験装置１００の構成を示す図である。図１に示すように、巻線試験装置１００と被試験体２００とは、たとえば、接続線で接続される。そして、巻線試験装置１００は、判定対象となる被試験体２００に、接続線を介してインパルス電圧を印加する。インパルス電圧とは、高電圧で、印加時間が短いパルス電圧である。また、巻線試験装置１００は、インパルス電圧の印加によって、検出した被試験体２００の両端電圧である検出電圧に基づいて、被試験体２００が有する巻線の断線、絶縁不良など、被試験体２００の良否状態を判定する。巻線試験装置１００は、電圧発生制御部１１０、電圧検出部１２０、環境検出部１３０および試験制御部１４０を有している。

電圧発生制御部１１０は、被試験体２００に供給するインパルス電圧を印加する制御を行う。電圧発生制御部１１０は、電圧発生回路１１１、コンデンサ１１２、サイリスタなどを有するスイッチング回路１１３およびスイッチング制御回路１１４を有する。

電圧発生回路１１１は、コンデンサ１１２に電荷を充電する。電圧発生回路１１１では、一般的なコイルの絶縁試験が可能な程度（通常、数ｋＶ）の高い電圧を発生する。コンデンサ１１２は、電圧発生回路１１１から供給される電荷を蓄積する。スイッチング回路１１３は、スイッチング動作を行う。スイッチング回路１１３が、オフ状態からオン状態に移行すると、コンデンサ１１２に蓄積されている電荷が瞬時に放出され、被試験体２００に、インパルス電圧が印加される。スイッチング制御回路１１４は、スイッチング回路１１３が行うスイッチング動作を制御する。

電圧検出部１２０は、たとえば、分圧器などを有する回路である。電圧検出部１２０は、電圧発生制御部１１０が発生したインパルス電圧が、被試験体２００に印加されたときの被試験体２００の端子間の電圧を検出電圧として検出する。

環境検出部１３０は、マスターサンプルの被試験体２００と判定対象の被試験体２００とのインパルス試験時における環境の違いを表す物理量を検出する。環境検出部１３０は、被試験体温度センサ１３１、湿度センサ１３２および気圧センサ１３３を有している。被試験体温度センサ１３１は、インパルス試験時における被試験体２００の温度を検出する。湿度センサ１３２は、インパルス試験の環境における湿度を検出する。気圧センサ１３３は、インパルス試験の環境における気圧を検出する。環境検出部１３０については後に詳述する。

試験制御部１４０は、巻線試験装置１００の制御を行う。特に、実施の形態１においては、電圧発生制御部１１０のインパルス電圧の発生タイミングなどを制御する。また、検出された被試験体２００の検出電圧などに基づいて、波形処理、判定処理、波形表示処理などを実行する。試験制御部１４０は、制御処理部１４１、インパルス電圧制御部１４２、操作入力部１４３、表示部１４４および記憶部１４５を備える。

インパルス電圧制御部１４２は、制御処理部１４１からの制御信号に基づき、電圧発生回路１１１に制御信号を出力する。操作入力部１４３は、ボタン、ダイヤル、スイッチなどの入力装置を有する。操作入力部１４３は、たとえば、巻線試験装置１００の操作者から、被試験体２００の試験を行う設定、操作などが入力されると、入力信号を制御処理部１４１に送る。表示部１４４は、たとえば、ＬＣＤなどの表示装置を有する。表示部１４４は、制御処理部１４１から送られる表示信号に基づき、被試験体２００に印加する電圧の波形、インパルス試験を行って得られる端子電圧の波形、判定結果などを表示する。

制御処理部１４１は、巻線試験装置１００内の機器を制御し、装置全体の制御を行う。特に、インパルス試験における制御を行う。また、インパルス試験によって得られたデータに基づき、被試験体２００の良否判定を行う。制御処理部１４１について、ハードウェアとしては、たとえば、ＣＰＵ（ＣｅｎｔｒａｌＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）などの制御演算処理装置を有するマイクロコンピュータなどで構成されている。

記憶部１４５は、制御処理部１４１が処理を行う際に必要となるデータを記憶する装置である。記憶部１４５は、たとえば、データを一時的に記憶できるランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）などの揮発性記憶装置（図示せず）、ハードディスク、データを長期的に記憶できるフラッシュメモリなどの不揮発性の補助記憶装置（図示せず）などを有している。記憶部１４５には、制御処理部１４１が行う処理手順をプログラムとしたデータを有している。そして、制御演算処理装置がプログラムのデータに基づいて処理を実行して各部の処理を実現する。

図２は、この発明の実施の形態１に係る被試験体２００を有する整流子モータを説明する図である。図２に示すように、実施の形態１では、掃除機、手乾燥機などに用いる整流子モータの電機子２６０が、被試験体２００となる。ここで、実施の形態１において、電機子２６０を有する整流子モータは、三相モータであるものとする。そして、巻線試験装置１００は、電機子２６０の各相間における巻線の絶縁状態などの判定を行うものとする。被試験体２００のうち、良否の判定の基準として用いられる被試験体２００が、マスターサンプルとなる。マスターサンプルは、判定対象となる被試験体２００のインパルス試験に先立って、あらかじめインパルス試験による計測などが行われる。マスターサンプルを被試験体２００としてインパルス試験を行ったときに得られたデータに基づいて、判定対象の被試験体２００を判定する基準となる判定基準値のデータを得る。判定基準値のデータは、前述した試験制御部１４０の記憶部１４５に記憶される。以下、実施の形態１においては、被試験体２００が電機子２６０であるものとして説明する。

図２に示すように、整流子モータは、フレーム２１０、軸受２２０、回転軸２３０、整流子２４０、ブラシ２５０、電機子（回転子）２６０、固定子２７０などを有している。

フレーム２１０は、モータ本体部分を覆って保護する。また、フレーム２１０には、回転軸２３０を回動自在に支持する軸受２２０が設けられている。また、回転軸２３０には、外周部に複数の歯部が形成された電機子鉄心２６１が設置されている。そして、各歯部には電機子巻線２６２が巻かれ、電機子２６０を構成している。また、回転軸２３０には、複数の整流子片で構成された整流子２４０が設置されている。各整流子片には、電機子鉄心２６１の歯部に巻かれた電機子巻線２６２が接続されている。そして、整流子２４０には、整流子片を介して電機子巻線２６２に電流を供給する二つのブラシ２５０が接触している。ブラシ２５０は、フレーム２１０に設けられたブラシホルダー２５１に取り付けられている。

一方、フレーム２１０の内周部には、電機子２６０の外周部と所定の間隙を介して、固定子２７０が設置されている。固定子２７０の内周部には、互いに対向した二つの磁極片２７１（図示せず）が形成されている。各磁極片２７１には、界磁巻線２７２が巻かれ、磁極を形成している。各界磁巻線２７２は、一端が整流子モータの端子（図示せず）に接続され、他端がブラシ２５０に接続されている。

図３は、この発明の実施の形態１に係る電機子２６０の構成を説明する図である。図３では、電機子２６０を回転軸２３０に沿った方向から見た図を示している。図３に示すように、電機子鉄心２６１は略円形状をしており、外周部には複数の歯部が形成されている。電機子鉄心２６１の略中心部には、回転軸２３０が挿入される貫通孔２６４が形成されている。また、電機子鉄心２６１は、１片が１極に対応する略扇形のｎ個の電機子片２６３−１〜電機子片２６３−ｎが、貫通孔の周りに円状に連接配置されて構成される。各電機子片２６３−１〜電機子片２６３−ｎは、方向性電磁鋼板で、プレスなどにより打ち抜いた薄板を積層して形成することができる。各電機子片２６３−１〜電機子片２６３−ｎの外周部分が、電機子鉄心２６１の歯部を形成する。そして、電機子鉄心２６１には、電機子巻線２６２が巻かれている。実施の形態１では、電機子巻線２６２にインパルス電圧を印加するなどして、インパルス試験を行う。

図４は、この発明の実施の形態１に係る検出電圧波形の一例を示す図である。被試験体２００の巻線にインパルス電圧を印加すると、検出電圧は、減衰発振し、図４のような波形となる。

次に、被試験体２００と環境検出部１３０との関係について説明する。前述したように、インパルス試験時の被試験体２００および被試験体２００近傍の環境は、検出に係る電圧値などに影響する。したがって、マスターサンプルとなる電機子２６０に対してインパルス試験を行ったときの環境と判定対象の電機子２６０に対してインパルス試験を行ったときの環境とを整える方がよい。環境を整えるには、インパルス試験における環境を、より正確に検出できた方がよい。

図５は、この発明の実施の形態１に係る被試験体温度センサ１３１の被試験体２００への取り付けについて説明する図である。被試験体２００の温度は、巻線の温度となる。巻線は温度によって抵抗率が変化する。このため、被試験体２００の温度を正確に検出することが必要となる。ここで、巻線に温度センサを直接接触させると、巻線を損傷するおそれがある。また、密着性および熱伝達性が損なわれるため、かえって温度の検出精度が悪くなる可能性がある。そこで、実施の形態１においては、被試験体温度センサ１３１を、被試験体２００となる電機子２６０の電機子鉄心２６１に密着させて取り付け、電機子巻線２６２の温度を検出する。

図５に示すように、被試験体温度センサ１３１は、取り付け部１３１Ｂをもつ台座１３１Ａを有する。取り付け部１３１Ｂは、電機子鉄心２６１における歯部の曲面に沿って密着させることができる曲面形状を有している。センサ本体（図示せず）は、台座１３１Ａ内に埋め込まれている。そして、台座１３１Ａの取り付け部１３１Ｂを、電機子鉄心２６１に密着させて取り付け、インパルス試験を行う。このため、電機子巻線２６２の温度である、被試験体２００となる電機子２６０の温度を、より正確に検出することができる。たとえば、台座１３１Ａにグリスなどを塗布して、被試験体２００となる電機子鉄心２６１との密着性および熱伝達性をさらに高めるようにしてもよい。

ここで、電機子２６０には、相が異なる巻線が複数ある。そして、異なる相間の絶縁などを試験する際には、電機子２６０上の位置が異なる巻線間に電圧を印加する。電機子２６０上の位置が異なることで、巻線の温度にも差が出る可能性がある。また、被試験体２００となる電機子２６０に複数回の試験を行うことで、電機子２６０の温度が変化する可能性がある。

そこで、実施の形態１の巻線試験装置１００では、被試験体温度センサ１３１を複数有している。そして、複数の被試験体温度センサ１３１により、電機子鉄心２６１の試験対象となる巻線に近い複数箇所の温度を検出する。図５では、被試験体温度センサ１３１を２箇所に取り付けている。

図６は、環境による放電電圧の違いを説明する図である。図６は、パッシェン曲線を示している。パッシェン曲線とは、パッシェンの法則に基づき、絶縁が破壊され放電が生じるときの電圧と気体の圧力×距離の関係を示す曲線である。インパルス試験において、巻線試験装置１００は、試験対象となる被試験体２００に、接続線を介してインパルス電圧を印加する。巻線間の距離が近いと、前述した図４に示すように、放電が起こる。このとき、たとえば、巻線に損傷などがあり、絶縁されていないと、放電が起こりやすくなる。したがって、電圧波形に現れた放電量、放電回数などから、巻線の状態がわかる。

ここで、電極間距離が同じであるとすると、図６に示すように、インパルス試験が行われる気圧によって、放電する電圧が変わる。また、湿度および被試験体２００の温度についても、放電に影響する。このため、実施の形態１の巻線試験装置１００は、被試験体温度センサ１３１だけでなく、湿度センサ１３２および気圧センサ１３３を有することが好ましい。そして、巻線試験装置１００では、湿度センサ１３２および気圧センサ１３３を、被試験体２００となる電機子２６０にできるだけ近い位置に配置し、インパルス試験時の電機子２６０における気圧および湿度の環境を、より正確に検出できるようにする。

以上のように、実施の形態１の巻線試験装置１００によれば、環境検出部１３０を有することで、インパルス試験時の被試験体温度などの環境を検出し、データとして記録することができる。特に、被試験体温度センサ１３１については、巻線の温度として検出可能な位置にある電機子鉄心２６１の曲面に合わせた取り付け部１３１Ｂをもつ台座１３１Ａを有するので、電機子鉄心２６１に密着して取り付けることができる。このため、被試験体２００となる電機子２６０の温度を、より正確に検出することができる。また、湿度センサ１３２および気圧センサ１３３についても、被試験体２００となる電機子２６０にできるだけ近い位置に配置することで、電機子２６０における気圧および湿度を、より正確に検出することができる。

実施の形態２．
図７は、この発明の実施の形態２に係る制御処理部１４１の構成を示すブロック図である。実施の形態２の巻線試験装置１００において、制御処理部１４１は、試験制御処理部１４１Ａ、検出制御処理部１４１Ｂ、演算処理部１４１Ｃ、判定基準値補正処理部１４１Ｄ、判定処理部１４１Ｅおよび表示処理部１４１Ｆを有している。

試験制御処理部１４１Ａは、巻線試験装置１００内の機器を制御する処理を行う。特に、インパルス電圧制御部１４２に制御信号を送り、電圧発生制御部１１０にインパルス電圧発生の制御を行わせる。検出制御処理部１４１Ｂは、電圧検出部１２０による電圧並びに環境検出部１３０による温度、湿度および気圧の検出を制御する。そして、検出に係る電圧などをデータとして記憶部１４５に記憶する処理を行う。また、演算処理部１４１Ｃは、たとえば、インパルス試験により、電圧検出部１２０が検出した、試験対象となる被試験体２００の検出電圧のデータに基づき、被試験体２００の判定値を算出する。判定基準値補正処理部１４１Ｄは、環境検出部１３０の検出に係るデータなどに基づいて、記憶部１４５に記憶された判定基準値を補正する処理を行う。判定処理部１４１Ｅは、演算処理部１４１Ｃが演算した判定値と判定基準値補正処理部１４１Ｄが補正した判定基準値とを比較するなどの処理を行い、被試験体２００の良否を判定する処理を行う。表示処理部１４１Ｆは、表示部１４４に表示信号に送り、被試験体２００の良否判定の結果、被試験体２００の検出電圧などのデータを表示する処理を行う。

マスターサンプルをインパルス試験したデータに基づいて得られた判定基準値が記憶部１４５に記憶されている。前述したように、マスターサンプルに対してインパルス試験を行ったときの環境と試験対象に対してインパルス試験を行ったときの環境とが異なる場合がある。このとき、マスターサンプルのインパルス試験における環境との差による判定結果の違いをなくせればよい。

そこで、実施の形態２の巻線試験装置１００は、試験対象の被試験体２００に対してインパルス試験を行ったときに、環境検出部１３０が検出した温度、湿度および気圧のデータに基づいて、判定基準値を補正する。そして、試験対象の被試験体２００の判定値と補正した判定基準値とを比較して、良否判定を行うものである。試験対象の被試験体２００のインパルス試験の環境に基づいて、計測に係る電圧値などではなく、判定基準値を補正することで、判定に係る処理を速く行うことができる。

図８は、この発明の実施の形態２に係る巻線試験装置１００において、制御処理部１４１が行う判定に係る処理の手順を示す図である。検出制御処理部１４１Ｂは、環境検出部１３０の検出に係る温度、湿度および気圧の環境データを記憶部１４５に記憶する（ステップＳ１）。

そして、試験制御処理部１４１Ａが、電圧発生制御部１１０を制御し、被試験体２００にインパルス試験を行う（ステップＳ２）。そして、検出制御処理部１４１Ｂは、電圧検出部１２０の検出に係る電圧をデータとして記憶部１４５に記憶する（ステップＳ３）。演算処理部１４１Ｃは、試験対象となる被試験体２００の検出電圧のデータに基づき、判定対象となる被試験体２００の判定値を算出する（ステップＳ４）。

図９は、この発明の実施の形態２における巻線試験装置１００の補正に係るデータをテーブル形式で示す図である。補正に係るデータは、判定基準値と同様に、記憶部１４５に記憶されている。図９では、マスターサンプルのインパルス試験における環境との差に基づいて、被試験体２００の温度、湿度および気圧を、それぞれ３つの区分に分け、補正値を定めている。中央の区分が、被試験体２００の温度、湿度および気圧のそれぞれについて、差が０の場合を含み、環境に係る値の差である環境差が、所定の範囲内にある場合の補正値を表している。また、右側の区分は、湿度および気圧のそれぞれについて、試験対象の被試験体２００のインパルス試験の環境に係る値の方が大きい場合の補正値を表している。一方、左側の区分は、湿度および気圧のそれぞれについて、マスターサンプルのインパルス試験の環境の方が大きい場合（試験対象の被試験体２００のインパルス試験の環境に係る値の方が小さい場合）の補正値を表している。ここでは、３つの区分に分け、補正値を定めているが、さらに多くの区分に分けるようにしてもよい。多くの区分に分けることで、判定基準値を細かく補正することができる。また、判定基準値および判定値を含め、補正値の桁数を多くしても、判定基準値を細かく補正することができる。

実施の形態２では、判定基準値補正処理部１４１Ｄが、記憶部１４５が記憶する環境データに基づいて、図９に示すテーブル形式のデータから、該当する区分の補正値を導き出し、判定基準値に加減算して、補正処理を行う（ステップＳ５）。

たとえば、被試験体温度センサ１３１の検出に係る温度が高いと、巻線の電気抵抗が高くなる。図９では、左側の区分よりも右側の区分の方が補正値が低い。したがって、試験対象の被試験体２００におけるインパルス試験の方が、被試験体２００の温度が高い場合には、判定基準値を下げる補正を行って、判定基準値を緩和する。同様に、湿度が高いと、放電電圧が低くなる。したがって、湿度が高い場合には、判定基準値を下げる。さらに、気圧について、前述した図６のようなパッシェン曲線では、圧力の範囲によって、下降傾向となる部分または上昇傾向となる部分があるが、被試験体２００となる電機子２６０における巻線間の距離および大気圧下においては上昇傾向となる。このため、気圧が低いと放電電圧が低く、気圧が高いと放電電圧が高くなる。したがって、気圧が低い場合には、判定基準値を下げる。

判定処理部１４１Ｅは、判定値と判定基準値とを比較し、判定値が判定基準値以上であるかどうかを判定する（ステップＳ６）。判定値が判定基準値以上であれば、判定結果は良であると判定する（ステップＳ７）。また、判定値が判定基準値以上でなく、判定基準値より低ければ、判定結果は否である判定する（ステップＳ８）。表示処理部１４１Ｆは、表示部１４４に表示信号に送り、判定処理部１４１Ｅの判定結果を表示させる（ステップＳ９）。

以上のように、実施の形態２の巻線試験装置１００では、環境検出部１３０の検出に係る環境データに基づいて、判定基準値補正処理部１４１Ｄが判定基準値を補正し、判定処理部１４１Ｅが、補正した判定基準値に基づいて判定処理を行うようにした。このため、マスターサンプルをインパルス試験したときと、判定対象の被試験体２００をインパルス試験したときの環境による判定結果の違いをなくすことができる。特に、試験対象の被試験体２００に対するインパルス試験のデータに対して、環境に基づく補正を行ってから、あらためて判定値を算出するよりも、処理を簡単にすることができる。

１００巻線試験装置、１１０電圧発生制御部、１１１電圧発生回路、１１２コンデンサ、１１３スイッチング回路、１１４スイッチング制御回路、１２０電圧検出部、１３０環境検出部、１３１被試験体温度センサ、１３１Ａ台座、１３１Ｂ取り付け部、１３２湿度センサ、１３３気圧センサ、１４０試験制御部、１４１制御処理部、１４１Ａ試験制御処理部、１４１Ｂ検出制御処理部、１４１Ｃ演算処理部、１４１Ｄ判定基準値補正処理部、１４１Ｅ判定処理部、１４１Ｆ表示処理部、１４２インパルス電圧制御部、１４３操作入力部、１４４表示部、１４５記憶部、２００被試験体、２１０フレーム、２２０軸受、２３０回転軸、２４０整流子、２５０ブラシ、２５１ブラシホルダー、２６０電機子、２６１電機子鉄心、２６２電機子巻線、２６３−１〜２６３−ｎ電機子片、２６４貫通孔、２７０固定子、２７１磁極片、２７２界磁巻線。

Claims

被試験体に巻かれた巻線の絶縁不良を試験する巻線試験装置であって、
前記巻線に電圧を印加する電圧発生制御部と、
前記巻線において検出された検出電圧を出力する電圧検出部と、
前記試験における前記被試験体の環境を表す物理量を検出する環境検出部と、
前記電圧検出部の検出に係る前記検出電圧に基づいて、前記被試験体の良否を判定する試験制御部とを備え、
前記環境検出部は、前記被試験体の温度を検出する被試験体温度センサを有し、
該被試験体温度センサは、前記被試験体の形状に合わせた形状の取り付け部を有する台座を備える巻線試験装置。
前記環境検出部は、前記判定の基準となる前記被試験体の前記試験時と環境の違いを検出する請求項１に記載の巻線試験装置。
前記環境検出部は、前記被試験体温度センサを複数有し、前記被試験体の複数箇所の温度を検出する請求項１または請求項２に記載の巻線試験装置。
前記環境検出部は、湿度センサおよび気圧センサをさらに有する請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の巻線試験装置。
前記被試験体は、モータの電機子であり、前記取り付け部は、前記電機子の電機子鉄心に合わせた形状である請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載の巻線試験装置。
前記試験制御部は、
前記電圧検出部の検出に係る前記検出電圧に基づいて、判定値を演算する演算処理部と、
前記環境検出部の検出に係るデータに基づいて、設定された判定基準値を補正する基準値補正処理部と、
該基準値補正処理部が補正した前記判定基準値と前記演算処理部が演算した前記判定値との比較に基づいて、前記被試験体の良否を前記判定する判定処理部と
を備える請求項１〜請求項５のいずれか一項に記載の巻線試験装置。