JP2019124491A - 計測用x線ct装置、及び、その校正方法 - Google Patents
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Abstract
Description
5…X線遮蔽ブース
21…X線源
22…X線源キャリッジ
23a、23b…X軸駆動部
25…X線
31…Xキャリッジ
32a、32b…回転テーブル
33a、33b…Yキャリッジ
35a、35b…Y軸駆動部(移動手段)
41…X線検出器
W1…マスタワーク(参照体)
W2…ワーク(被測定物)
Claims (5)
- 回転テーブル上に配置した測定対象を回転させながらX線を照射し、その投影画像を再構成して測定対象の断層画像を得るようにした計測用X線CT装置において、
タンデム状に設けられた複数の回転テーブルと、
該回転テーブルを搭載したキャリッジと、
該キャリッジをX線放射の中心軸と直交する方向に移動するための移動手段とを備え、
前記回転テーブルの1つが被測定物搭載用、他の1つが参照体搭載用とされている
ことを特徴とする計測用X線CT装置。 - 前記計測用X線CT装置で発生するX線が外部に漏れないようにするためのX線遮蔽ブースが設けられ、非測定状態のキャリッジが、該X線遮蔽ブースの外からアクセス可能とされていることを特徴とする請求項1に記載の計測用X線CT装置。
- 複数の互いに独立して移動可能なキャリッジが設けられ、各キャリッジ毎に前記回転テーブルが1台搭載されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の計測用X線CT装置。
- 前記参照体がマスタワーク又はゲージとされていることを特徴とする請求項1に記載の計測用X線CT装置。
- 請求項1乃至4のいずれかに記載の計測用X線CT装置の校正に際して、
タンデム状に設けられた回転テーブルの1つに被測定物を搭載し、他の1つに参照体を搭載して、
該参照体との比較照合により校正を行うことを特徴とする計測用X線CT装置の校正方法。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111060042A (zh) * | 2019-12-30 | 2020-04-24 | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 | 一种基于球模体进行工业ct几何尺寸测量不确定度的方法 |
CN112903729A (zh) * | 2021-01-26 | 2021-06-04 | 西安增材制造国家研究院有限公司 | 一种增材制造用工业在线ct |
CN113702406A (zh) * | 2021-08-27 | 2021-11-26 | 珠海格力智能装备有限公司 | 扫描检测设备 |
CN114113168A (zh) * | 2021-09-30 | 2022-03-01 | 北京申士丰禾检测技术有限公司 | 适用于2d/2.5d/3d的dr/ct检测装置 |
CN116892893A (zh) * | 2023-09-11 | 2023-10-17 | 上海福柯斯智能科技有限公司 | 工业ct锥束中心投影点量测方法及存储介质 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6267432A (ja) * | 1985-09-20 | 1987-03-27 | Hitachi Ltd | X線ct装置 |
JPH05306972A (ja) * | 1992-04-30 | 1993-11-19 | Toshiba Corp | 断層撮影装置 |
JP2006170876A (ja) * | 2004-12-17 | 2006-06-29 | Hitachi Ltd | Ct装置 |
JP2008185359A (ja) * | 2007-01-26 | 2008-08-14 | Shimadzu Corp | X線ct装置 |
JP2012189517A (ja) * | 2011-03-13 | 2012-10-04 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | X線ct装置の校正及び評価用の標準ゲージ、並びに該x線ct装置の校正及び評価用の標準ゲージを用いたx線ct装置の校正方法及び評価方法 |
JP2015531480A (ja) * | 2012-09-07 | 2015-11-02 | カール・ツァイス・エックス−レイ・マイクロスコピー・インコーポレイテッドCarl Zeiss X−Ray Microscopy, Inc. | 共焦点x線蛍光・x線コンピュータ断層撮影複合システムおよび方法 |
JP2017156243A (ja) * | 2016-03-02 | 2017-09-07 | 株式会社日立製作所 | コンピュータ断層撮影方法及びコンピュータ断層撮影装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5306972B2 (ja) | 2009-11-26 | 2013-10-02 | 古河電気工業株式会社 | ワイヤハーネス、ワイヤハーネスの製造方法 |
JP6267432B2 (ja) | 2013-03-23 | 2018-01-24 | 京セラ株式会社 | 光学デバイスの製造方法 |
-
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6267432A (ja) * | 1985-09-20 | 1987-03-27 | Hitachi Ltd | X線ct装置 |
JPH05306972A (ja) * | 1992-04-30 | 1993-11-19 | Toshiba Corp | 断層撮影装置 |
JP2006170876A (ja) * | 2004-12-17 | 2006-06-29 | Hitachi Ltd | Ct装置 |
JP2008185359A (ja) * | 2007-01-26 | 2008-08-14 | Shimadzu Corp | X線ct装置 |
JP2012189517A (ja) * | 2011-03-13 | 2012-10-04 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | X線ct装置の校正及び評価用の標準ゲージ、並びに該x線ct装置の校正及び評価用の標準ゲージを用いたx線ct装置の校正方法及び評価方法 |
JP2015531480A (ja) * | 2012-09-07 | 2015-11-02 | カール・ツァイス・エックス−レイ・マイクロスコピー・インコーポレイテッドCarl Zeiss X−Ray Microscopy, Inc. | 共焦点x線蛍光・x線コンピュータ断層撮影複合システムおよび方法 |
JP2017156243A (ja) * | 2016-03-02 | 2017-09-07 | 株式会社日立製作所 | コンピュータ断層撮影方法及びコンピュータ断層撮影装置 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111060042A (zh) * | 2019-12-30 | 2020-04-24 | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 | 一种基于球模体进行工业ct几何尺寸测量不确定度的方法 |
CN112903729A (zh) * | 2021-01-26 | 2021-06-04 | 西安增材制造国家研究院有限公司 | 一种增材制造用工业在线ct |
CN113702406A (zh) * | 2021-08-27 | 2021-11-26 | 珠海格力智能装备有限公司 | 扫描检测设备 |
CN114113168A (zh) * | 2021-09-30 | 2022-03-01 | 北京申士丰禾检测技术有限公司 | 适用于2d/2.5d/3d的dr/ct检测装置 |
CN114113168B (zh) * | 2021-09-30 | 2024-03-19 | 阿塔米智能装备(北京)有限公司 | 适用于2d/2.5d/3d的dr/ct检测装置 |
CN116892893A (zh) * | 2023-09-11 | 2023-10-17 | 上海福柯斯智能科技有限公司 | 工业ct锥束中心投影点量测方法及存储介质 |
CN116892893B (zh) * | 2023-09-11 | 2023-12-12 | 上海福柯斯智能科技有限公司 | 工业ct锥束中心投影点量测方法及存储介质 |
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