JP2019075557A - 光源一体型光センシングシステム、及びそれを含む電子機器 - Google Patents

光源一体型光センシングシステム、及びそれを含む電子機器 Download PDF

Info

Publication number
JP2019075557A
JP2019075557A JP2018188374A JP2018188374A JP2019075557A JP 2019075557 A JP2019075557 A JP 2019075557A JP 2018188374 A JP2018188374 A JP 2018188374A JP 2018188374 A JP2018188374 A JP 2018188374A JP 2019075557 A JP2019075557 A JP 2019075557A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light emitting
sensing system
elements
receiving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2018188374A
Other languages
English (en)
Inventor
銀 京 李
Eun-Kyung Lee
銀 京 李
▲てい▼ 祐 金
Jung-Woo Kim
▲てい▼ 祐 金
秉 龍 崔
Byoung Lyong Choi
秉 龍 崔
熙 善 尹
Hui Seon Yin
熙 善 尹
黄 仁 吾
In-Oh Hwang
仁 吾 黄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2019075557A publication Critical patent/JP2019075557A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G01S7/4811Constructional features, e.g. arrangements of optical elements common to transmitter and receiver
    • G01S7/4812Constructional features, e.g. arrangements of optical elements common to transmitter and receiver transmitted and received beams following a coaxial path
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/12Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto
    • H01L31/16Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto the semiconductor device sensitive to radiation being controlled by the light source or sources
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/12Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto
    • H01L31/16Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto the semiconductor device sensitive to radiation being controlled by the light source or sources
    • H01L31/167Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto the semiconductor device sensitive to radiation being controlled by the light source or sources the light sources and the devices sensitive to radiation all being semiconductor devices characterised by potential barriers
    • H01L31/173Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto the semiconductor device sensitive to radiation being controlled by the light source or sources the light sources and the devices sensitive to radiation all being semiconductor devices characterised by potential barriers formed in, or on, a common substrate
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
    • G01S17/42Simultaneous measurement of distance and other co-ordinates
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G01S7/4811Constructional features, e.g. arrangements of optical elements common to transmitter and receiver
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G01S7/4814Constructional features, e.g. arrangements of optical elements of transmitters alone
    • G01S7/4815Constructional features, e.g. arrangements of optical elements of transmitters alone using multiple transmitters
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0753Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0232Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L31/02327Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements being integrated or being directly associated to the device, e.g. back reflectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • H01L31/10Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
    • H01L31/101Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
    • H01L31/102Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier
    • H01L31/105Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier the potential barrier being of the PIN type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/18Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
    • H01S5/183Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/18Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
    • H01S5/185Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only horizontal cavities, e.g. horizontal cavity surface-emitting lasers [HCSEL]
    • H01S5/187Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only horizontal cavities, e.g. horizontal cavity surface-emitting lasers [HCSEL] using Bragg reflection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/3013AIIIBV compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/3018AIIBVI compounds
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/34Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
    • H01S5/3401Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers having no PN junction, e.g. unipolar lasers, intersubband lasers, quantum cascade lasers
    • H01S5/3402Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers having no PN junction, e.g. unipolar lasers, intersubband lasers, quantum cascade lasers intersubband lasers, e.g. transitions within the conduction or valence bands

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Abstract

【課題】光源一体型光センシングシステム、及びそれを含む電子機器を提供する。【解決手段】第1光軸OA1を有するように配列された複数の発光素子220、及び第1光軸と平行な第2光軸OA2を有するように配列された複数の受光素子320を含む光センシングシステムに係り、複数の発光素子220と複数の受光素子320は、一体型に集積された構造に形成され、第1光軸OA1と第2光軸OA2は、実質的に同軸に形成されていて、受光効率を高めることができる。【選択図】図2

Description

本発明は、光源一体型光センシングシステム、及びそれを含む電子機器に関する。
スマートカー、ロボットのような多様な自律駆動機器分野において、障害物を感知するためのセンサまたはスキャナとして利用されるライダー(LiDAR:light detection and ranging)システムは、一般的に、対象体に光を照射する光源と、対象体から反射された光を受信するセンサと、を含む。該光源から該対象体までの光経路、及び対象体からセンサまでの光経路には、多様な付加的な光学部品が配置され、それにより、システムがバルキー(bulky)になってしまい、光学部品を過ぎる間、光損失が発生してしまう。
特開2010−212347号公報
本発明が解決しようとする課題は、受光効率を高めることができる光源一体型光センシングシステムを提供することである。
本発明が解決しようとする課題は、また、光センシングシステムを含み、対象体の分析を効率的に行うことができるライダー装置を提供することである。
本発明の一類型によれば、基板と、前記基板上に位置し、第1光軸を有するように配列された複数の発光素子と、前記基板上に位置し、前記第1光軸と平行な第2光軸を有するように配列された複数の受光素子と、を含む光センシングシステムが提供される。
前記第1光軸と前記第2光軸は、実質的に同軸(coaxial)でもある。
前記複数の発光素子と前記複数の受光素子は、一体型に集積された構造にも形成されている。
前記複数の発光素子と、前記複数の受光素子との配列は、前記複数の発光素子のうち1以上の発光素子と、前記複数の受光素子のうち1以上の受光素子とからなる、複数の受発光単位素子(light receiving-emitting unit device)が反復的に配列された形態でもある。
前記受発光単位素子は、前記1以上の発光素子を、前記1以上の受光素子が取り囲む形態を有することができる。
前記受発光単位素子は、前記基板上に形成され、前記1以上の発光素子を含む発光領域と、前記1以上の発光素子の材質と同一材質を含む非発光領域と、を具備する発光物質層、及び前記非発光領域上に形成された前記1以上の受光素子を含んでもよい。
または、前記受発光単位素子は、前記基板上に形成され、前記1以上の受光素子を含む受光領域と、前記1以上の受光素子の材質と同一材質を含む非受光領域と、を具備する受光物質層、及び前記非受光領域上に形成された前記1以上の発光素子を含んでもよい。
前記光センシングシステムは、前記受発光単位素子上に位置し、前記1以上の発光素子から出射される光の出射角を調節するレンズ構造物をさらに含んでもよい。
前記レンズ構造物は、前記1以上の受光素子に向かう光の入射角を調節することができる形状を有することができる。
前記レンズ構造物は、前記複数の受発光単位素子それぞれの相対的位置によって異なる出射角を有する形状を有することができる。
前記光センシングシステムは、前記複数の受発光単位素子が配列される一面を具備し、前記一面上の位置により、前記複数の受発光単位素子それぞれの光軸方向が異なるように、前記一面形状が設定された支持構造物をさらに含んでもよい。
前記一面は、曲面、または角度が異なる複数の傾斜面を含む形状でもある。
前記複数の発光素子は、第1波長帯域の光を発光する第1発光素子と、前記第1波長帯域と異なる第2波長帯域の光を発光する第2発光素子と、を含んでもよい。
また、本発明の他の一類型によれば、対象体に向けて光を照射する複数の発光素子と、前記対象体に向けて照射された光の反射光を受光する複数の受光素子と、を含み、前記複数の発光素子は、第1光軸を有するように配列され、前記複数の受光素子は、第2光軸を有するように配列され、前記第1光軸と前記第2光軸とが平行である光センシングシステムを有して、前記光センシングシステムを制御し、前記光センシングシステムから受信された光を分析するプロセッサを有するライダー装置が提供される。
前記複数の発光素子の第1光軸と、前記複数の受光素子との第2光軸は、実質的に同軸でもある。
前記複数の発光素子と前記複数の受光素子は、一体型に集積された構造に形成されている。
前記複数の発光素子と、前記複数の受光素子との配列は、前記複数の発光素子のうち1以上の発光素子と、前記複数の受光素子のうち1以上の受光素子とからなる複数の受発光単位素子が反復的に配列された形態でもある。
前記プロセッサは、前記複数の発光素子が時間差を置いて発光されるように、前記光センシングシステムを制御することができる。
前記プロセッサは、前記複数の発光素子が同時に発光されるように、前記光センシングシステムを制御することができる。
前記複数の発光素子は、第1波長帯域の光を発光する第1発光素子と、前記第1波長帯域と異なる第2波長帯域の光を発光する第2発光素子と、を含んでもよい。
前記プロセッサは、前記第1発光素子と前記第2発光素子とが時間差を置いて発光するように、前記光センシングシステムを制御することができる。
本発明の光センシングシステムは、光源部と受光部とが一体化された構造を有し、従ってシステムを簡素化することができる。
前述の光センシングシステムは、光源部の光軸と、受光部の光軸とが実質的に同軸になるように、複数の発光素子と複数の受光素子とが配列されているので、受光効率が高い。
前述の光センシングシステムは、多様な光学装置、電子装置に採用され、例えば、ライダー装置に採用され、被写体に係わる情報を獲得することができる。
一実施形態による光センシングシステムを概略的に図示した概念図である。 図1の光センシングシステムの概略的な構成を示した平面図である。 光センシングシステムに具備される受発光単位素子の詳細な構成を示すためのA−A’断面図である。 図3Aの変形例である。 他の実施形態による光センシングシステムに具備される受発光単位素子を示す断面図である。 図4Aの変形例である。 他の実施形態による光センシングシステムに具備される受発光単位素子の例を示した平面図である。 さらに他の実施形態による光センシングシステムに具備される受発光単位素子のさらに他の例を示した平面図である。 さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した平面図である。 さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図である。 図8の光センシングシステムに具備された受発光単位素子の詳細な構成を示した断面図である。 図8の光センシングシステムに具備される受発光単位素子の変形された例を示す断面図である。 さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図である。 さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図である。 さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図である。 さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図である。 さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図である。 さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図である。 一実施形態によるライダー装置の概略的な構成を示すブロック図である。
以下、添付された図面を参照し、実施形態について詳細に説明する。説明される実施形態は、単に例示的なものに過ぎず、そのような実施形態から多様な変形が可能である。以下の図面において、同一参照符号は、同一構成要素を指し、図面上において、各構成要素の大きさは、説明の明瞭さ及び便宜のために誇張されている。
以下において、「上部」であったり「上」であったりと記載されたものは、接触して真上にあるものだけではなく、非接触で上にあるものも含まれる。
第1、第2のような用語は、多様な構成要素の説明に使用されるが、1つの構成要素を他の構成要素から区別する目的のみに使用される。そのような用語は、構成要素の物質または構造が異なるということを限定するものではない。
単数の表現は、文脈上明白に異なって意味しない限り、複数の表現を含む。また、ある部分がある構成要素を「含む」というとき、それは、特別に反対となる記載がない限り、他の構成要素を除くものではなく、他の構成要素をさらに含んでもよいということを意味する。
また、明細書に記載された「…部」、「モジュール」というような用語は、少なくとも1つの機能や動作を処理する単位を意味し、それは、ハードウェアまたはソフトウェアによって具現されるか、あるいはハードウェアとソフトウェアとの結合によっても具現されるのである。
図1は、一実施形態による光センシングシステムを概略的に図示した概念図であり、図2は、図1の光センシングシステムの概略的な構成を示した平面図であり、図3Aは、図2の光センシングシステムに具備される受発光単位素子(light receiving-emitting unit device)の詳細な構成を示すためのA−A’断面図である。
光センシングシステム1000は、光源一体型受光システムであり、対象体OBJに対する光の照射効率、及び対象体OBJから反射される光の受光効率を高めるように提案される。
光センシングシステム1000は、複数の発光素子220と、複数の受光素子320と、を含み、複数の発光素子220は、第1光軸OA1を有するように配列され、複数の受光素子320は、第2光軸OA2を有するように配列される。
図1においては、図示の便宜上、第1光軸OA1と第2光軸OA2とを分離させて離隔させるように図示されており、第1光軸OA1と第2光軸OA2は、平行である。この平行とは、第1光軸OA1と第2光軸OA2が、実質的に互いに平行であってもよいし、実質的に同軸(coaxial)であってもよい。
第1光軸OA1と第2光軸OA2とが実質的に同軸になるように、複数の発光素子220と複数の受光素子320とを配列することは、受光効率を可能な限り高めるためであり、「実質的に同軸」という意味は、第1光軸OA1と第2光軸OA2とが完全に同一であると限定されるものではなく、受光効率が所定値以上になるように、類似しているということを意味する。該所定値は、例えば、光源部と受光部とが別途に分離されたシステム、または光源部の光軸と、受光部の光軸とが異なるシステムと、本実施形態の光センシングシステム1000とを比較するとき、改善された受光効率を示すと見ることができる数値になることである。同様に、「実質的に平行」という意味も、第1光軸OA1と第2光軸OA2との方向が完全に平行であることに限定されるものではなく、受光効率が前記所定値以上になるように、方向が類似していることを意味する。
図2に図示されているように、複数の発光素子220と複数の受光素子330との配列は、複数の受発光単位素子500が反復的に配列された形態を有することができる。受発光単位素子500は、1以上の発光素子220と、1以上の受光素子320とを含む。図面においては、1つの発光素子220と、1つの受光素子320とが1つの受発光単位素子500を構成するように図示されているが、それは例示的なものに過ぎず、それに限定されるものではない。
そのような配列において、複数の発光素子220の配列の中心軸である第1光軸OA1と、複数の受光素子320の配列の中心軸である第2光軸OA2は、図2に図示されているように、複数の受発光単位素子500が配列された中の中心軸Cを間に置いて所定距離(離隔距離)離れていることがある。そのような配列の場合に、第1光軸OA1と第2光軸OA2との「実質的に同軸」の意味は、第1光軸OA1と第2光軸OA2との離隔距離が1つの受発光単位素子500の幅より小さいことを意味する。ただし、それに限定されるものではなく、第1光軸OA1と第2光軸OA2との離隔距離が、1つの受発光単位素子500の幅より大きい場合にも、例えば、前述の所定値の受光効率を満足する場合、「実質的に同軸」に該当すると見ることができる。従って、第1光軸OA1と第2光軸OA2との離隔距離が、受光効率を考慮して決められる所定の複数個の受発光単位素子500の幅の和より小さい場合、「実質的に同軸」に該当すると見ることができるのである。
そのような配列の光センシングシステム1000を具現するために、複数の発光素子220と複数の受光素子320は、一体型にも形成される。複数の発光素子220と、複数の受光素子320は、同じ基板100上に、一体型に集積されるようにも(monolithically integrated)形成される。そのような例示的な構造について、図3Aを参照して説明する。
図3Aを参照すれば、光センシングシステム1000は、基板100、基板100上に形成された発光物質層200、発光物質層200の一部領域上に形成された受光素子320を含む。発光物質層200の領域は、発光領域EAと非発光領域NEAとを含み、発光領域EAは、図2に表示された発光素子220に対応する。
光センシングシステム1000は、一体型に形成された受光・発光構造、発光素子220及び受光素子320を含む。ここで、「一体型」は、発光素子220、受光素子320が、転写や接着などの過程によって結合されるものではないことを意味する。例えば、発光素子220と受光素子320は、基板100上に、直接一連の順次工程、例えば、蒸着、フォトリソグラフィ(photo-lithography)、エッチングなどを含む半導体工程を介して形成され、基板100上に一体型に集積された(monolithically integrated)構造をなすことができる。
発光物質層200は、複数層の半導体物質からもなり、例えば、III−V族半導体化合物、II−VI族半導体化合物、IV族半導体物質を含んでもよい。発光物質層200は、利得層(gain layer)、クラッド層(clad layer)、キャビティ(cavity)を含むレーザ構造を有することができ、例えば、VCSEL(vertical cavity surface emitting laser)構造にも形成される。発光物質層200は、基板100上に、半導体工程を介して形成され、基板100としては、前述の半導体物質の形成に適する半導体基板が用いられる。例えば、基板100は、GaAs基板、サファイア基板、InP基板、Si基板、絶縁体基板などである。発光物質層200は、AlGaN、GaInN、ZnSSe、ZnCDSe、AlGaInP/GaAs、Ga0.5In0.5P/GaAs、GaAlAs/GaAs、GaAs/GaAs、InGaAs/GaAs、InGaAsP/InP、InGaAsSb、PbCdS、量子カスケード(quantum cascade)、PbSSe、PbSnTe、PbSnSe、などを含んでもよい。例えば、AlGaNは、350nm〜400nm、GaInNは、375nm〜440nm、ZnSSeは、447nm〜480nm、ZnCDSeは、490nm〜525nm、AlGaInP/GaAsは、620nm〜680nm、Ga0.5In0.5P/GaAsは、670nm〜680nm、GaAlAs/GaAsは、750nm〜900nm、GaAs/GaAsは、904nm、InGaAs/GaAsは、915nm〜1,050nm、InGaAsP/InPは、1,100nm〜1,650nm、InGaAsSbは、2μm〜5μm、PbCdSは、2.7μm〜4.2μm、量子カスケードは、3μm〜50μm、PbSSeは、4.2μm〜8μm、PbSnTeは、6.5μm〜30μm、PbSnSeは、8μm〜30μmの波長帯域の光を生成するために使用される。発光物質層200は、そのような物質が、P型(positive type)、I型(intrinsic type)、N型(negative type)に具現された複数層から構成される。半導体物質の具体的な組成は、発光領域EA、すなわち、発光素子220で生成、出射する光L1の波長帯域を考慮して決定される。
図面において、発光物質層200は、3層に図示されているが、それに限定されるものではなく、3層以上にも構成される。発光物質層200は、共振構造形成のためのミラー層を含んでもよい。例えば、屈折率が互いに異なる2つの物質の対によって構成された分散ブラッグ反射器(DBR:distributed Bragg reflector)が具備され、共振キャビティ(resonant cavity)を形成することができる。また、発光物質層200は、発振される光のモード調節やビームサイズを調節するための酸化物開口層(oxide aperture)を含んでもよい。また、電流注入のための電極構造を含んでもよい。また、電極との接触抵抗を低くするために、P型、N型のドーパントが高濃度にドーピングされたコンタクト層を含んでもよい。
発光物質層200の領域は、発光領域EAと非発光領域NEAとを含む。非発光領域NEAと発光領域EAは、同一半導体物質を含む。発光領域EAは、外部に光を出射することができる領域である。ただし、発光領域EA全体が光を出射する領域になるという意味に限定されるものではなく、発光領域EA内の一部領域が光を出射する領域にもなる。非発光領域NEAは、その上に、受光素子320が形成されるように設けられる領域であり、光を出射しない領域である。発光領域EAと非発光領域NEAは、発光のための電流注入構造の有無に差がある。例えば、発光領域EAには、電流注入のための電極(図示せず)が含まれ、非発光領域NEAは、そのような電極が含まれないようにも形成される。ただし、それに限定されるものではなく、例えば、発光領域EAと非発光領域NEAは、同一に電極構造を含むが、外部回路との連結から、非発光領域NEAの電極には、電流注入がなされないように構成される方式も可能である。
非発光領域NEA上に形成される受光素子320も、発光物質層200上に、直接一体型にも形成される。例えば、発光物質層200上の全面に、半導体物質からなる受光物質層を形成し、フォトリソグラフィ工程を介して、所定形状にパターニングし、受光素子320を形成することができる。受光素子320は、例えば、III−V族半導体化合物、II−VI族半導体化合物、IV族半導体物質を含んでもよく、フォトダイオードによっても構成される。受光素子320は、前記半導体物質が、P型(positive type)、I型(intrinsic type)、N型(negative type)に具現された複数層にも構成される。図面には、受光素子320が3層に図示されているが、それは例示的なものであり、それに限定されるものではない。受光素子320は、半導体物質以外に、光信号を電気的信号として検出するための電極構造を含んでもよい。
前述のように、発光物質層200の領域には、非発光領域NEAと発光領域EAとが相互に反復され、非発光領域NEA上に、受光素子320が形成された形態の単位構造が、一体型の受発光単位素子500を形成する。
図3Bは、図3Aの変形例である。
図4Aは、他の実施形態による光センシングシステムに具備される受発光単位素子を示す断面図である。
光センシングシステム1000’は、図2の光センシングシステム1000と同一平面図を有することができ、図4Aは、A−A’の断面図に対応する。
光センシングシステム1000’は、基板100、基板100上に形成された受光物質層300、受光物質層300の一部領域上に形成された発光素子221を含む。受光物質層300の領域は、受光領域RAと非受光領域NRAとを含み、受光領域RAは、受光素子321とも称される。
発光素子221と受光素子321は、基板100上に、直接一連の順次工程を介して形成され、基板100上に一体型に集積された(monolithically integrated)構造をなし、本実施形態の光センシングシステム1000’に具備される受発光単位素子501は、受光物質層300上に発光素子221が配置された点において、図3Aの受発光単位素子500と違いがある。
受光物質層300は、基板100上に、半導体工程を介しても形成される。受光物質層300は、III−V族半導体化合物、II−VI族半導体化合物またはIV族半導体物質を含んでもよく、基板100上に、直接一体型にも形成される。受光物質層300は、フォトダイオードを具現するようにも構成される。基板100は、前述の半導体物質の形成に適する半導体基板にもなる。例えば、基板100は、GaAs基板、サファイア基板、InP基板、Si基板、絶縁体基板などにもなる。図面には、受光物質層300が3層に図示されているが、それは例示的なものであり、それに限定されるものではない。受光物質層300は、半導体物質以外に、光信号を電気的信号として検出するための電極構造を含んでもよい。
受光物質層300の領域は、受光領域RAと非受光領域NRAとを含む。非受光領域NRAと受光領域RAは、同一半導体物質を含む。受光領域RAは、外部から入射された光を電気信号に変化させて出力することができる領域であり、非受光領域NRAは、その上に、発光素子221が形成されるように設けられ、外部から入射された光L2を電気信号として出力しない領域である。受光領域RAと非受光領域NRAは、電気信号の出力のための電極構造の有無で差がある。例えば、受光領域RAには、電気信号出力のための電極(図示せず)が含まれ、非受光領域NRAは、そのような電極が含まれないようにも形成される。ただし、それに限定されるものではなく、例えば、受光領域RAと非受光領域NRAは、同一電極構造を含むが、外部回路との連結において、非受光領域NRAの電極は、外部回路と連結されないように構成される方式も可能である。
非受光領域NRA上に位置した発光素子221の形成も、受光物質層300上に、直接一体型にも形成される。発光素子221は、受光物質層300上に、半導体工程を介しても形成される。例えば、受光物質層300上の全面に、半導体物質からなる発光物質層を形成し、フォトリソグラフィ工程を介して所定形状にパターニングし、発光素子221を形成することができる。
発光素子221は、複数層の半導体物質を含んでもよく、例えば、III−V族半導体化合物、II−VI族半導体化合物、IV族半導体物質を含んでもよい。発光素子221は、そのような物質が、P型、N型、I型に具現された複数層によっても構成される。図面において、発光素子221は、3層に図示されているが、それに限定されるものではなく、3層以上にも構成される。発光素子221は、共振構造形成のためのミラー層を含んでもよく、電流注入のための電極構造を含んでもよく、電極との接触抵抗を低くするために、P型、N型のドーパントが高濃度にドーピングされたコンタクト層を含んでもよい。発光素子221は、レーザ構造を有することができ、例えば、VCSEL構造にも形成される。
前述のように、受光物質層300の領域には、非受光領域NRAと受光領域RAとが相互に反復され、非受光領域NRA上に発光素子221が形成された形態の単位構造が、一体型の受発光単位素子501を形成する。
図4Bは、図4Aの変形例である。
図5は、他の実施形態による光センシングシステムに具備される受発光単位素子の例を示した平面図である。
受発光単位素子502は、発光素子222と、発光素子222を取り囲む複数の受光素子322と、を含んでもよい。発光素子222は、円形の断面形状を有することができ、複数の受光素子322は、発光素子222を取り囲むようにも配置される。受光素子322は、図示されているように、発光素子222を取り囲み、外形がほぼ四角形である形状が複数個、例えば、8個に等分された断面形状を有することができる。ただし、それは、例示的なものであり、受光素子322の断面形状は、円形または楕円形が複数個に等分された形状を有することもできる。
図6は、さらに他の実施形態による光センシングシステムに具備される受発光単位素子のさらに他の例を示した平面図である。
受発光単位素子503は、複数の発光素子223と、複数の発光素子223を取り囲む複数の受光素子323と、を含む。複数の発光素子223は、円形断面形状を有し、中心部側に配置され、受光素子323は、複数の発光素子223を取り囲み、外形がほぼ四角形である形状が二つに等分された形状を有することができる。ただし、それは、例示的なものであり、受光素子323の断面形状は、円形または楕円形が二つに等分された形状を有することもできる。
図5及び図6に例示した受発光単位素子502,503の断面形状は、図3や図4の断面図で説明したように、発光物質層200上に受光素子320が形成されるか、あるいは受光物質層300上に発光素子221が形成された形態が採用される。
受発光単位素子502,503について例示された形状は、一実施形態による光センシングシステムにおいて、受光領域と発光領域との面積を、必要や便宜性によって自由に構成することができるということについて説明するものであり、図示されている形状に制限されるものではない。
図7は、さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した平面図である。
光センシングシステム1001は、基板100上に一体型に形成された、複数の発光素子224と複数の受光素子324とを含む。複数の発光素子224と複数の受光素子324は、円形の断面形状を有することができる。複数の発光素子224の断面は、複数の受光素子324の断面サイズより小さく形成され、複数の発光素子224は、複数の受光素子324が2つの方向に沿って配列された間の空間にも配置される。複数の発光素子224は、2方向と平行な方向に沿って配列された形態になり、互いに互い違いに配置される。そのような配列は、受光素子324のfill factorを可能な限り高め、受光効率を高めることができる構造にもなる。
図8は、さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図であり、図9は、図8の光センシングシステムに具備された受発光単位素子の詳細な構成を示した断面図である。
光センシングシステム1002は、視野角を広げることができる支持構造物600をさらに含み、支持構造物600上に、複数の受発光単位素子504が配置される。
受発光単位素子504は、基板100上に形成され、受光領域RAと非受光領域NRAとを含む受光物質層300、非受光領域NRA上に形成された発光素子226を含む。受光領域RAは、受光素子326である。一実施形態の光センシングシステム1002に採用された受発光単位素子504は、単位構成を形成する受光素子326の個数及び配置形態においてのみ、図4で説明した受発光単位素子501と違いがあり、残りの構成は、実質的に同一である。受光物質層300、受光領域RA、非受光領域NRA、発光素子226の物質や構成は、図4で説明したところと実質的に同一である。非受光領域NRAの両側に、2つの受光領域RA、すなわち、2つの受光素子326が形成され、非受光領域NRA上に、発光素子226が形成された形態の単位構造が、一体型の受発光単位素子504を形成する。
支持構造物600は、複数の受発光単位素子504が配列される面を具備する。この面の形状は、配列される位置により、複数の受発光単位素子504それぞれの光軸方向が異なるようにも設定される。例えば、支持構造物600は、平坦な下面と、角度が互いに異なる複数の傾斜面601,602,603を含んでもよい。各傾斜面601,602,603上に配置される受発光単位素子504は、各傾斜面601,602,603の角度によって互いに異なる方向に光を出射し、光センシングシステム1002全体の視野角が広くなる。言い換えれば、光センシングシステム1002は、広い視野角を有するように、光L1を出射することができ、広い視野角で入射する光L2を受信することができる。
図10は、図8の光センシングシステムに具備される、変形された例の受発光単位素子を示す断面図である。
受発光単位素子505は、基板100上に形成され、発光領域EAと非発光領域NEAとを含む発光物質層200、非発光領域NEA上に形成された受光素子325を含む。発光領域EAは、発光素子225である。
受発光単位素子505は、単位構成を形成する受光素子325の個数及び配置形態においてのみ、図3で説明した受発光単位素子500と違いがあり、残り構成は、実質的に同一である。発光物質層200、発光領域EA、非発光領域NEA、受光素子325の物質や構成は、図3で説明したところと実質的に同一である。発光領域EA、すなわち発光素子225の両側に、非発光領域NEAが形成され、2つの非発光領域NEA上に、受光素子325がそれぞれ形成された形態の単位構造が、一体型の受発光単位素子505を形成する。そのような受発光単位素子505が、図8で説明した支持構造物600上に配列され、広い視野角を具現することができる。
図11は、さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図である。
光センシングシステム1004は、視野角を広げることができる支持構造物610をさらに含んでもよい。本実施形態の光センシングシステム1004に具備される支持構造物610は、受発光単位素子504が配置される一面610aが曲面形状を有することができる。支持構造物610は、図示されているように、平坦なプレートが反った形状にも形成される。一面610aが曲面形状を有することにより、そこに配置された受発光単位素子504から出射する光L1の方向は、その位置によって異なり、広い視野角で光を出射する。同様に、広い視野角で入射する光L2を受信することができる。平坦なプレートの反る程度を調節し、所望視野角が形成されるように、支持構造物610の曲面形状を形成することができる。
図12は、さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図である。
光センシングシステム1005は、反復配列された複数の受発光単位素子504を含み、複数の受発光単位素子504それぞれの上に、出射角を調節するレンズ構造物700がさらに形成されている。受発光単位素子504は、図9で例示した形状でもって説明するが、それに限定されるものではない。レンズ構造物700は、受発光単位素子504の発光素子226上にも形成される。レンズ構造物700は、所定屈折率を有する透明材質でもって、所定レンズ面形状を有するように形成され、受発光単位素子504から出射される光の出射角を、所望形態に調節することができる。
図13は、さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図である。
本実施形態の光センシングシステム1006は、レンズ構造物710が、受発光単位素子504から出射される光の出射角を調節するだけではなく、受発光単位素子504に入射される光の入射角を調節するように形成された点において、図12の光センシングシステム1005と違いがある。レンズ構造物710は、受発光単位素子504一つを全体的に覆うように、すなわち、発光素子226と2つの受光素子326とを共に覆うことができる形態にも形成される。
図14は、さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図である。
本実施形態の光センシングシステム1007は、レンズ構造物720の形状において、図13の光センシングシステム1006と違いがある。レンズ構造物720は、発光素子226からの出射角、受光素子326への入射角を調節することができる形態であり、このとき、レンズ面形状の中心軸が一方向に傾き、傾いた所定方向に向けて出射角、入射角を調節することができる。
図15は、さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図である。
本実施形態による光センシングシステム1007は、レンズ構造物の形状が複数の受発光単位素子504それぞれの相対的位置により、異なる方向に出射角、入射角を調節する形状である点で、図14の光センシングシステム1007と違いがある。
相対的に中心部に位置した受発光単位素子504上に形成されたレンズ構造物731に対して、中心部から外郭部に行くほど、出射角、入射角を調節する方向は、だんだんと傾くように、レンズ構造物732,733の形状が決められる。それにより、さらに広い視野角が具現される。
図16は、さらに他の実施形態による光センシングシステムの概略的な構成を示した断面図である。
本実施形態による光センシングシステム1009は、レンズ構造物740が、基板100下面に形成された点において、前述の他の実施形態と違いがある。
基板100下面のレンズ構造物740は、いずれも同じ形状に図示されているが、それに限定されるものではない。例えば、図14で説明したように、レンズ面形状が中心軸に対して所定方向に傾いた形状に変形され、または、図15で説明したように、レンズ面形状の中心軸が、中心部から外郭に行くほど、だんだんと傾く形態にも変形される。
図12ないし図16に図示されている受発光単位素子504は、いずれも図9で説明した形状に図示されているが、それに限定されるものではなく、図10で説明した受発光単位素子505の形状に変形され、他の類似変形も可能である。
前述の実施形態による光センシングシステムに具備される発光素子は、互いに異なる波長の光を出射する複数の発光素子を含んでもよい。例えば、第1波長帯域の光を出射する第1発光素子、第1波長帯域と異なる第2波長帯域の光を出射する第2発光素子を含む多波長光センシングシステムによっても具現される。互いに異なる波長帯域の光は、発光物質層をなす半導体物質の組成比を調節して形成することができる。互いに異なる波長の光が形成されるように、各受発光単位素子を複数種類に設定し、それらを相互に反復配する形態が採用される。
前述の実施形態による光センシングシステムは、多様な光学装置、電子装置にも採用される。
図17は、一実施形態によるライダー(LiDAR:light detection and ranging)装置の概略的な構成を示すブロック図である。
ライダー装置5000は、光センシングシステム5100と、光センシングシステム5100を制御し、光センシングシステム5100から受信された光を分析するプロセッサ5300と、を含む。
光センシングシステム5100は、前述の実施形態による光センシングシステム1000,1001,1002,1003,1004,1005、1006,1007,1008,1009のうちいずれか一つ、それらの組み合わせ、あるいは変更された形態を有することができる。また、そこに具備される受発光単位素子の形態も、前述の受発光単位素子500,501,502,503,504,505のうちいずれか一つ、またはそれらの組み合わせ、あるいは変更された形態にもなる。
光センシングシステム5100は、光源一体型の光センシングシステムであり、対象体OBJに向けて光を照射する複数の発光素子と、対象体OBJに向けて照射された光の反射光を受光する複数の受光素子と、を含み、複数の発光素子は、第1光軸OA1を有するように配列され、複数の受光素子は、第2光軸OA2を有するように配列され、第1光軸OA1と第2光軸OA2とが平行であり、実質的に同軸でもある。複数の発光素子と、複数の受光素子は、一体型に集積された構造に形成されている。
光センシングシステム5100に具備される発光素子は、対象体OBJの位置、形状の分析に使用する光を生成して出射することができる。該発光素子は、対象体OBJの位置、形状分析に適する波長帯域の光、例えば、赤外線帯域波長の光を生成することができる。光センシングシステム5100に具備される発光素子は、互いに異なる波長帯域の光を生成する複数の発光素子を含んでもよい。例えば、第1波長帯域の光を発光する第1発光素子と、前記第1波長帯域と異なる第2波長帯域の光を発光する第2発光素子と、を含んでもよい。波長帯域の個数は、それに限定されるものではなく、多種の波長帯域の光を生成する発光素子を含んでもよい。
プロセッサ5300は、ライダー装置5000の全般的な動作を制御するものであり、発光制御部5310と光信号分析部5340とを含んでもよい。
発光制御部5310は、光センシングシステム5100の発光素子を制御することができる。例えば、発光素子に対して、電源供給制御、オン/オフ制御、パルス波(PW:pulse wave)や連続波(CW:continuous wave)の発生制御などを行うことができる。また、複数の光センシングシステム5100に具備された複数の発光素子が同時に発光するように(flash type)、光センシングシステム5100を制御することができる。発光制御部5310は、または光センシングシステム5100に具備された複数の発光素子が時間差を置いて発光されるように、光センシングシステム5100を制御することができる。光センシングシステム5100が、波長帯域が異なる複数種類の発光素子を含む場合、例えば、第1波長帯域の光を発光する第1発光素子、第2波長帯域の光を発光する第2発光素子を含む場合、発光制御部5310は、第1発光素子と第2発光素子とが時間差を置いて発光するように、光センシングシステム5100を制御することができる。発光制御部5310は、また複数の波長帯域において、必要により、特定波長帯域の光を発光する発光素子を選択して駆動するように、光センシングシステム5100を制御することができる。
光センシングシステム5100は、対象体OBJから反射される光をセンシングする受光素子のアレイを含んでいるので、光センシングシステム5100から照射された光が、対象体OBJから反射されるのを受信することができる。受信された光信号は、対象体OBJの存在いかん、位置、形状、物性などの分析にも使用される。
光信号分析部5340は、光センシングシステム5100で受信した対象体OBJからの光信号を分析し、対象体OBJの存在いかん、位置、形状、物性などの分析を行うことができる。光信号分析部5340は、例えば、光飛行時間(time of flight)測定のための演算と、それによる対象体OBJの三次元形状判別とを行うことができる。光信号分析部5340は、また対象体OBJによる波長変移を検出するラマン分析法により、対象体OBJの種類、成分、濃度、物性分析を行うこともできる。
光信号分析部5340においては、多様な演算方法を使用することができる。例えば、直接時間測定方法は、対象体OBJにパルス光を投射し、対象体OBJによって反射されて光が戻る時間をタイマで測定して距離を求める。相関法(correlation)は、パルス光を対象体OBJに投射し、対象体OBJに反射されて戻ってくる反射光の明るさから、距離を測定する。位相遅延測定方法は、正弦波のような連続波(CW)光を対象体OBJに投射し、対象体OBJに反射されて戻ってくる反射光の位相差を感知し、距離に換算する方法である。
ライダー装置5000は、前記演算に必要なプログラム及びその他データが保存されるメモリ5500を含んでもよい。
光信号分析部5340は、演算結果を他のユニットに伝送することができる。例えば、対象体OBJの三次元形状や、動作、位置に係わる情報が必要な自律駆動機器に演算結果情報が伝送される。または、対象体OBJの物性情報、例えば、生体情報を活用する医療機器に演算結果情報が伝送される。または、結果が伝送される他のユニットは、結果を出力するディスプレイ装置やプリンタでもある。それ以外にも、スマートフォン、携帯電話、PDA(personal digital assistant)、ラップトップ(laptop)、PC(personal computer)、及びその他モバイルまたは非モバイルのコンピュータ装置でもあるが、それらに制限されるものではない。
ライダー装置5000は、前方物体に対する三次元情報をリアルタイムで獲得するセンサにも活用され、自律駆動機器、例えば、無人自動車、自律走行車、ロボット、ドローンなどに適用され、それ以外にも、小型歩行手段(自転車、バイク、ベビーカー、ボードなど)、人及び動物の補助手段(杖、ヘルメット、服、装身具、時計、かばんなど)、事物インターネット(IoT:internet of thing)機器、建物保安装置などにも適用される。
前述の光センシングシステム、及びそれを含むライダー装置は、図面に図示された実施形態を参照して説明されたが、それらは、例示的なものに過ぎず、当該分野で当業者であるならば、それらから多様な変形、及び均等な他の実施形態が可能であるという点を理解するであろう。従って、開示された実施形態は、限定的な観点ではなく、説明的な観点から考慮されなければならない。本明細書の範囲は、前述の説明ではなく、特許請求の範囲に示されており、それと同等な範囲内にある全ての差異が含まれていると解釈されなければならないのである。
本発明の、光源一体型光センシングシステム、及びそれを含む電子機器は、例えば、センサ関連の技術分野に効果的に適用可能である。
1000,1001,1002,1003,1004,1005,1006,1007,1008,1009,5100 光センシングシステム
100 基板
200 発光物質層
220,221,222,223,224,225,226 発光素子
300 受光物質層
320,321,322,323,324,324,326 受光素子
500,501,502,503,504,505 受発光単位素子
600,610 支持構造物
700,710,720,731,732,733,740 レンズ構造物
5000 ライダー装置

Claims (18)

  1. 基板と、
    前記基板上に位置し、第1光軸を有するように配列された複数の発光素子と、
    前記基板上に位置し、前記第1光軸と平行な第2光軸を有するように配列された複数の受光素子と、を含む光センシングシステム。
  2. 前記第1光軸と前記第2光軸は、実質的に同軸であることを特徴とする請求項1に記載の光センシングシステム。
  3. 前記複数の発光素子と前記複数の受光素子は、一体型に集積された構造に形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の光センシングシステム。
  4. 前記複数の発光素子と、前記複数の受光素子との配列は、
    前記複数の発光素子のうち1以上の発光素子と、前記複数の受光素子のうち1以上の受光素子とからなる複数の受発光単位素子が反復的に配列された形態であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の光センシングシステム。
  5. 前記受発光単位素子は、
    前記1以上の発光素子を、前記1以上の受光素子が取り囲む形態を有することを特徴とする請求項4に記載の光センシングシステム。
  6. 前記受発光単位素子は、
    前記基板上に形成され、前記1以上の発光素子を含む発光領域と、前記1以上の発光素子の材質と同一材質を含む非発光領域と、を具備する発光物質層と、
    前記非発光領域上に形成された前記1以上の受光素子と、を含むことを特徴とする請求項4に記載の光センシングシステム。
  7. 前記受発光単位素子は、
    前記基板上に形成され、前記1以上の受光素子を含む受光領域と、前記1以上の受光素子の材質と同一材質を含む非受光領域と、を具備する受光物質層と、
    前記非受光領域上に形成された前記1以上の発光素子と、を含むことを特徴とする請求項4に記載の光センシングシステム。
  8. 前記受発光単位素子上に位置し、
    前記1以上の発光素子から出射される光の出射角を調節するレンズ構造物をさらに含むことを特徴とする請求項4に記載の光センシングシステム。
  9. 前記レンズ構造物は、
    前記1以上の受光素子に向かう光の入射角を調節するように形成されていることを特徴とする請求項8に記載の光センシングシステム。
  10. 前記レンズ構造物は、
    前記複数の受発光単位素子それぞれの相対的位置によって異なる出射角を有する形状に形成されたことを特徴とする請求項8に記載の光センシングシステム。
  11. 前記複数の受発光単位素子が配列される一面を具備し、前記一面上の位置により、前記複数の受発光単位素子それぞれの光軸方向が異なるように、前記一面形状が設定された支持構造物をさらに含むことを特徴とする請求項4に記載の光センシングシステム。
  12. 前記一面は、曲面、または角度が異なる複数の傾斜面を含む形状であることを特徴とする請求項11に記載の光センシングシステム。
  13. 前記複数の発光素子は、
    第1波長帯域の光を発光する第1発光素子と、
    前記第1波長帯域と異なる第2波長帯域の光を発光する第2発光素子と、を含むことを特徴とする請求項1〜12のいずれか1つに記載の光センシングシステム。
  14. 請求項1〜12のいずれか1つに記載の光センシングシステムと、
    プロセッサと、を含み、
    前記光センシングシステムの複数の発光素子は対象体に向けて光を照射し、前記光センシングシステムの複数の受光素子は前記対象体に向けて照射された光の反射光を受光し、
    前記プロセッサは前記光センシングシステムを制御し、前記光センシングシステムから受信された光を分析する、ライダー装置。
  15. 前記プロセッサは、
    前記複数の発光素子が時間差を置いて発光されるように、前記光センシングシステムを制御することを特徴とする請求項14に記載のライダー装置。
  16. 前記プロセッサは、
    前記複数の発光素子が同時に発光されるように、前記光センシングシステムを制御することを特徴とする請求項14に記載のライダー装置。
  17. 前記複数の発光素子は、
    第1波長帯域の光を発光する第1発光素子と、
    前記第1波長帯域と異なる第2波長帯域の光を発光する第2発光素子と、を含むことを特徴とする請求項14に記載のライダー装置。
  18. 前記プロセッサは、
    前記第1発光素子と前記第2発光素子とが時間差を置いて発光するように、前記光センシングシステムを制御することを特徴とする請求項17に記載のライダー装置。
JP2018188374A 2017-10-11 2018-10-03 光源一体型光センシングシステム、及びそれを含む電子機器 Pending JP2019075557A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170131654A KR102523975B1 (ko) 2017-10-11 2017-10-11 광원 일체형 광 센싱 시스템 및 이를 포함하는 전자 기기
KR10-2017-0131654 2017-10-11

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2019075557A true JP2019075557A (ja) 2019-05-16

Family

ID=63079857

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018188374A Pending JP2019075557A (ja) 2017-10-11 2018-10-03 光源一体型光センシングシステム、及びそれを含む電子機器

Country Status (5)

Country Link
US (2) US10923615B2 (ja)
EP (1) EP3470873B1 (ja)
JP (1) JP2019075557A (ja)
KR (1) KR102523975B1 (ja)
CN (1) CN109659388B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024070803A1 (ja) * 2022-09-27 2024-04-04 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 測距装置及びその製造方法

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102523975B1 (ko) * 2017-10-11 2023-04-20 삼성전자주식회사 광원 일체형 광 센싱 시스템 및 이를 포함하는 전자 기기
US11047959B2 (en) * 2018-02-15 2021-06-29 Optilab, Llc Apparatus and method for generating multiple-wavelength distributed continuous wave and pulse optical transmission signal
TWI833846B (zh) * 2018-11-27 2024-03-01 晶元光電股份有限公司 光學感測模組
KR102393225B1 (ko) * 2020-11-16 2022-05-02 성균관대학교산학협력단 제어 회로 웨이퍼와 결합된 일체형 수발광 소자 및 제조 방법
US20220173088A1 (en) * 2020-12-02 2022-06-02 Asti Global Inc., Taiwan Method of manufacturing a display module and full screen image display device including a display module prepared in accordance with the aforementioned method
DE102021127038A1 (de) 2021-10-19 2023-04-20 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Detektorelement, lidar modul und verfahren zum betrieb eines lidar moduls

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6152280U (ja) * 1984-09-11 1986-04-08
JPH08288540A (ja) * 1995-04-19 1996-11-01 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 並列発光/受光アレイ一体化素子
EP1467224A1 (en) * 2003-04-07 2004-10-13 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA Optical proximity detector
JP2007214564A (ja) * 2006-02-06 2007-08-23 Avago Technologies General Ip (Singapore) Private Ltd 面発光レーザ(vcsel)アレイ・レーザスキャナ
JP2013073965A (ja) * 2011-09-26 2013-04-22 Toshiba Corp 光電変換装置及びその製造方法
US20140071427A1 (en) * 2012-09-07 2014-03-13 Apple Inc. Imaging range finder fabrication
JP2016502073A (ja) * 2012-11-12 2016-01-21 テヒニッシェ ウニヴェルズィテート ハンブルク−ハーブルクTechnische Universitaet Hamburg−Harburg ライダ測定システム及びライダ測定方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61267378A (ja) * 1985-05-21 1986-11-26 Nec Corp 発光受光素子
JPS62199072A (ja) * 1986-02-27 1987-09-02 Omron Tateisi Electronics Co 発光受光半導体素子
US5243553A (en) 1991-07-02 1993-09-07 Loral Vought Systems Corporation Gate array pulse capture device
US5319182A (en) * 1992-03-04 1994-06-07 Welch Allyn, Inc. Integrated solid state light emitting and detecting array and apparatus employing said array
KR100363243B1 (ko) 1995-06-29 2003-02-05 삼성전자 주식회사 광 검출기 일체형 면발광 반도체 레이저 다이오드 및 그 제조방법
JP3882210B2 (ja) 1995-09-13 2007-02-14 ソニー株式会社 光学装置
US8301027B2 (en) * 2008-05-02 2012-10-30 Massachusetts Institute Of Technology Agile-beam laser array transmitter
AT507872B1 (de) 2009-02-11 2015-02-15 Riegl Laser Measurement Sys Einrichtung zur abtastung eines objektraumes
US10038304B2 (en) 2009-02-17 2018-07-31 Trilumina Corp. Laser arrays for variable optical properties
JP2010212347A (ja) 2009-03-09 2010-09-24 Seiko Epson Corp 受発光装置
US8320423B2 (en) * 2010-08-24 2012-11-27 Alvin Gabriel Stern Compact, all solid-state, avalanche photodiode emitter-detector pixel with electronically selectable, passive or active detection mode, for large-scale, high resolution, imaging focal plane arrays
TWI567953B (zh) 2011-12-20 2017-01-21 新加坡恒立私人有限公司 光電模組及包含該模組之裝置
JP2013145174A (ja) * 2012-01-13 2013-07-25 Panasonic Corp 近接センサ
US9831630B2 (en) * 2014-02-06 2017-11-28 GM Global Technology Operations LLC Low cost small size LiDAR for automotive
US20160307881A1 (en) * 2015-04-20 2016-10-20 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Optical sensor module and method for manufacturing the same
JP2017003437A (ja) * 2015-06-10 2017-01-05 パナソニックIpマネジメント株式会社 電子デバイス
WO2017043706A1 (ko) * 2015-09-07 2017-03-16 엘지이노텍 주식회사 감지 장치
US10761195B2 (en) * 2016-04-22 2020-09-01 OPSYS Tech Ltd. Multi-wavelength LIDAR system
KR102523975B1 (ko) * 2017-10-11 2023-04-20 삼성전자주식회사 광원 일체형 광 센싱 시스템 및 이를 포함하는 전자 기기

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6152280U (ja) * 1984-09-11 1986-04-08
JPH08288540A (ja) * 1995-04-19 1996-11-01 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 並列発光/受光アレイ一体化素子
EP1467224A1 (en) * 2003-04-07 2004-10-13 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA Optical proximity detector
JP2007214564A (ja) * 2006-02-06 2007-08-23 Avago Technologies General Ip (Singapore) Private Ltd 面発光レーザ(vcsel)アレイ・レーザスキャナ
JP2013073965A (ja) * 2011-09-26 2013-04-22 Toshiba Corp 光電変換装置及びその製造方法
US20140071427A1 (en) * 2012-09-07 2014-03-13 Apple Inc. Imaging range finder fabrication
JP2016502073A (ja) * 2012-11-12 2016-01-21 テヒニッシェ ウニヴェルズィテート ハンブルク−ハーブルクTechnische Universitaet Hamburg−Harburg ライダ測定システム及びライダ測定方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2024070803A1 (ja) * 2022-09-27 2024-04-04 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 測距装置及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP3470873B1 (en) 2023-11-29
US10923615B2 (en) 2021-02-16
KR20190040832A (ko) 2019-04-19
US20190109256A1 (en) 2019-04-11
CN109659388B (zh) 2023-09-12
US11749775B2 (en) 2023-09-05
US20210167241A1 (en) 2021-06-03
CN109659388A (zh) 2019-04-19
KR102523975B1 (ko) 2023-04-20
EP3470873A1 (en) 2019-04-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2019075557A (ja) 光源一体型光センシングシステム、及びそれを含む電子機器
US20210396851A1 (en) Emitter structures for ultra-small vertical cavity surface emitting lasers (vcsels) and arrays incorporating the same
US11652334B2 (en) Back side emitting light source array device and electronic apparatus having the same
JP7180145B2 (ja) 発光素子アレイ、及び光計測システム
US20220114835A1 (en) Light-emitting device, optical device, and information processing device
US20220283270A1 (en) Optical sensing device
TWI805824B (zh) 低發散垂直空腔表面發射雷射及結合其之模組及主裝置
US20220115836A1 (en) Light-emitting device, optical device, and information processing device
US20210247504A1 (en) Three-dimensional imaging and sensing applications using polarization specific vcsels
US20230132771A1 (en) Surface-emitting laser device and distance measurement device having same
US20220123524A1 (en) Light-emitting device, optical device, and information processing device
KR20220000136A (ko) 표면발광 레이저소자 및 이를 구비한 거리측정 장치
KR20220038333A (ko) 발광 소자 및 측거 장치
CN113614562A (zh) 发光装置、光学装置以及信息处理装置
KR20200022312A (ko) 배면 발광 광원 어레이 소자 및 이를 포함한 전자 장치
KR20210116899A (ko) 표면발광 레이저소자 및 이를 구비한 거리측정장치
US11962119B2 (en) Light sensing system and electronic apparatus including the same
KR20210121912A (ko) 표면발광 레이저소자 및 이를 구비한 거리측정장치
CN117277057A (zh) 激光发射器件、激光发射模组及全固态激光雷达
KR20220147978A (ko) 표면발광 레이저소자 및 카메라 모듈
KR20230086505A (ko) 공간 광 변조기 및 이를 포함하는 전자 장치
KR20230117069A (ko) ToF 센서 장치 및 이를 이용한 거리 판단 방법
CN113454482A (zh) 发光装置、光学装置以及信息处理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210825

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220720

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220802

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221028

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20230307

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230703

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20230710

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20230929