JP2019040746A - 電気コネクタ - Google Patents

Abstract

【課題】コネクタの半嵌合を確実且つ容易に検出することのできる電気コネクタを提供する。【解決手段】第１コネクタ１０は、第２コネクタ３０が第１コネクタ１０に正規の嵌合位置Ｐ１に嵌合されているか否かを検出するための半嵌合検出部１３を有している。半嵌合検出部１３は、導電性の一対の検査部材４３ａ，４３ｂを含んでいる。第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されていないときには一対の検査部材４３ａ，４３ｂが絶縁される。第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されたことに伴い一対の検査部材４３ａ，４３ｂが互いに短絡される。【選択図】 図３

Description

本発明は、相手側の電気コネクタと半嵌合状態にあるときに当該半嵌合状態を検出可能な電気コネクタに関する。

電気コネクタとして、相手側電気コネクタと嵌合することにより当該相手側電気コネクタと電気的に接続される構成が知られている（例えば、特許文献１参照）。より具体的には、電気コネクタおよび相手側電気コネクタは、それぞれ、ハウジングおよびコンタクトを有している。そして、電気コネクタのハウジングに相手側電気コネクタのハウジングが嵌合することで、各コネクタのコンタクト同士が接触する。

特開２０１３−７７４４０号公報

電気コネクタへの相手側電気コネクタの挿入量が正規の挿入量よりも僅かに少ない場合、外見上は電気コネクタと相手側電気コネクタとが正規の嵌合状態にあるにもかかわらず、実際には相手側コネクタが電気コネクタの正規の嵌合状態に無い、いわゆる半嵌合状態となる。この場合、電気コネクタのコンタクトと相手側電気コネクタのコンタクトが接触していないか、または、不安定な接触状態となり、接触不良が生じてしまう。このような半嵌合を検知することができれば、コネクタ間の接触不良を防止できる。しかしながら、電気コネクタと相手側電気コネクタとが互いに組み付けられた状態で、これらのコネクタが半嵌合状態であるか否かを検査するためには、検査用のプローブをコネクタから延びるケーブルに刺す等の導通検査が必要であり、手間がかかる。

本発明は、上記実情に鑑みることにより、コネクタの半嵌合を確実且つ容易に検出することのできる電気コネクタを提供することを目的とする。

（１）上記目的を達成するための本発明のある局面に係る電気コネクタは、相手側電気コネクタに嵌合される電気コネクタであって、ハウジングと、前記ハウジングに取り付けられ前記相手側電気コネクタのコンタクトに接触するためのコンタクトと、前記相手側電気コネクタが前記電気コネクタに正規の嵌合位置に嵌合されているか否かを検出するための半嵌合検出部と、を備え、前記半嵌合検出部は、前記ハウジングに取り付けられた導電性の一対の検査部材を含んでおり、且つ、前記相手側電気コネクタが前記電気コネクタにおける前記正規の嵌合位置に配置されていないときには一対の前記検査部材を絶縁し、前記相手側電気コネクタが前記正規の嵌合位置に配置されたことに伴い一対の前記検査部材を互いに短絡させるように構成されている。

この構成によると、相手側電気コネクタが電気コネクタにおける正規の嵌合位置に配置されていないときには一対の検査部材が絶縁されている。一方、相手側電気コネクタが正規の嵌合位置に配置されたことに伴い、一対の検査部材は、互いに短絡される。この構成であれば、相手側電気コネクタが電気コネクタに嵌合しているけれども相手側電気コネクタが正規の嵌合位置に配置されていない状態である、いわゆる半嵌合状態では、一対の検査部材は、互いに絶縁されている。よって、半嵌合状態では、一対の検査部材間で電流が流れないので、検査機器等を用いた一対の検査部材間の導通状態の検査によって、導通状態でないこと、すなわち、半嵌合状態であることを、確実に検出できる。また、相手側電気コネクタと電気コネクタとが正規の嵌合状態であれば、一対の検査部材が互いに短絡しているので、上記の導通状態の検査によって、導通状態であること、すなわち、相手側電気コネクタと電気コネクタとが正規の嵌合状態であることを、確実に検出できる。しかも、上記の半嵌合検出のための検査は、検査機器のプローブを例えば相手側電気コネクタから延びる電線に刺して行う必要がなく、コネクタの半嵌合を確実且つ容易に検出することができる。

（２）各前記検査部材は、前記電気コネクタが実装される基板に固定される補強タブと、前記補強タブに電気的に接続された短絡用タブと、を含み、前記相手側電気コネクタが前記正規の嵌合位置に配置されたときに一対の前記短絡用タブが互いに短絡されるように構成されている場合がある。

この構成によると、電気コネクタを基板に固定するための補強タブを、半嵌合検出のための導通経路として用いることができる。これにより、半嵌合検出のための検査機器を電気コネクタの内部や、相手側電気コネクタから延びる電線内に進入させる必要がなく、半嵌合検査をより容易に行うことができる。

（３）各前記検査部材において、前記補強タブと前記短絡用タブとは別部材を用いて形成されている場合がある。

この構成によると、補強タブと短絡用タブとが別部材であることにより、検査部材の汎用性を格段に高くできる。より具体的には、電気コネクタの極数が多いほど、電気コネクタにおけるコンタクトの数が多くなるので、電気コネクタのハウジングの幅は長くなる。このとき、補強タブと短絡用タブとが一体成形されていると、電気コネクタの極数の種類毎に、短絡用タブの長さが異なる検査部材を用意する必要がある。その結果、検査部材の製造の手間、および、部品管理の手間が増えてしまい、電気コネクタの製造コストが高く付いてしまう。これに対して、補強タブと短絡用タブとが別部材であることにより、補強タブは、電気コネクタの極数にかかわらず同一種類の部品で構成できる。そして、検査部材のうちの短絡用タブの種類のみを電気コネクタの極数に合せて変更すればよい。その結果、検査部材の製造の手間、および、部品管理の手間を少なくでき、電気コネクタの製造コストが低くて済む。

（４）各前記短絡用タブは、互いに同じ形状に形成され、前記電気コネクタの幅方向に対称に配置されることで一対の前記検査部材が形成される場合がある。

この場合、電気コネクタの部品の種類をより低減でき、その結果、電気コネクタの製造コストをさらに低減できる。

（５）前記短絡用タブは、前記ハウジングの外表面に沿わされる沿い部を含み、前記沿い部には、貫通孔部が形成されており、前記短絡用タブは、前記貫通孔部の内周縁部から前記ハウジングに向けて延び前記ハウジングに固定される固定用片部を含んでいる場合がある。

この場合、短絡用タブの固定用片部によって、短絡用タブをハウジングに固定することができる。また、短絡用タブの貫通孔部の内周縁部から固定用片部が延びているので、固定用片部は、短絡用タブの外側にはみ出るように延びずに済む。これにより、短絡用タブをより小型にできる。また、例えば、短絡用タブをプレス加工で形成する場合、短絡用タブの内側部分を打ち抜き加工することで、固定用片部を形成できる。

（６）前記短絡用タブは、前記ハウジングの外表面に沿わされる沿い部を含み、前記沿い部には、前記ハウジングに固定される固定用片部と、前記相手側電気コネクタに設けられた相手側短絡用タブと接触するための短絡用片部と、が設けられており、前記固定用片部と前記短絡用片部とが前記沿い部から同じ方向に向けて延びている場合がある。

この場合、固定用片部と短絡用片部とが沿い部から同じ方向に向けて延びているので、短絡用タブ全体としての厚みをより薄くできる。また、短絡用タブがプレス加工によって製造される場合、固定用片部となる片部と短絡用片部となる片部とを同じ方向に曲げ加工することで、これら固定用片部と短絡用片部とを形成できる。これにより、短絡用タブの製造にかかる手間をより低減できる。

（７）前記相手側電気コネクタは、相手側電気コネクタハウジングと、この相手側電気コネクタハウジングに取り付けられ前記電気コネクタの前記コンタクトに接触するための相手側電気コネクタコンタクトと、前記相手側電気コネクタハウジングに取り付けられた相手側短絡用タブと、を有しており、前記相手側電気コネクタが前記正規の嵌合位置に配置されることにより前記相手側短絡用タブが一対の前記短絡用タブに接触することで、一対の前記短絡用タブが互いに短絡される場合がある。

この場合、相手側電気コネクタが正規の嵌合位置に配置されることで、一対の短絡用タブを確実に互いに短絡させることができる。

（８）前記ハウジングは、前記ハウジング内の空間を一対の前記検査部材に向けて開放する一対の短絡用孔部を有し、前記相手側電気コネクタが前記正規の嵌合位置に配置されたときに、前記相手側電気コネクタに設けられた導電性の相手側短絡用タブが対応する前記短絡用孔部を通して前記ハウジングの外側へ向かうことで、各前記検査部材が前記相手側短絡用タブに接触するように構成されている場合がある。

この場合、相手側電気コネクタが正規の嵌合位置に配置されることに伴い、相手側短絡用タブがハウジングの外側に向けて変位する。このような構成により、相手側電気コネクタが正規の嵌合位置に配置されたときに、相手側短絡用タブと検査部材とのより確実な接触を実現できる。

本発明によると、コネクタの半嵌合を確実且つ容易に検出することができる。

（Ａ）および（Ｂ）は、それぞれ、本発明の第１実施形態にかかる電気コネクタとしての第１コネクタを有する電気的接続装置の斜視図である。 （Ａ）は、電気的接続装置の平面図であり、（Ｂ）は電気的接続装置の主要部の正面図であり、（Ｃ）は、電気的接続装置の主要部の側面図であり、（Ｄ）は、電気的接続装置の主要部の背面図である。 （Ａ）は、電気的接続装置の主要部の断面図であり、電気的接続装置をコネクタ長さ方向に沿って見た状態を示している。（Ｂ）は、電気的接続装置の主要部の断面図であり、電気的接続装置をコネクタ幅方向に沿って見た状態を示している。 （Ａ）は、電気的接続装置のうちの第１コネクタが基板に実装された状態を示す斜視図であり、（Ｂ）は、図４（Ａ）の正面図である。 （Ａ）は、電気的接続装置の相手側電気コネクタとしての第２コネクタのハウジングとしての第２ハウジングの斜視図であり、（Ｂ）は、第２ハウジングの主要部の平面図であり、図５（Ｃ）は、第２ハウジングの主要部の正面図である。 （Ａ）は、本発明の第２実施形態にかかる第１コネクタを有する電気的接続装置の斜視図である。（Ｂ）は、第２実施形態に係る電気的接続装置の主要部の断面図であり、電気的接続装置をコネクタ長さ方向に沿って見た状態を示している。 （Ａ）は、本発明の第３実施形態にかかる第１コネクタを有する電気的接続装置の斜視図である。（Ｂ）は、第３実施形態に係る第１コネクタを基板とともに示す正面図である。 （Ａ）は、第３実施形態に係る電気的接続装置の半嵌合状態の主要部の断面図であり、電気的接続装置をコネクタ長さ方向に沿って見た状態を示している。（Ｂ）は、第３実施形態に係る電気的接続装置の半嵌合状態の主要部の断面図であり、電気的接続装置を電気コネクタの幅方向に沿って見た状態を示している。（Ｃ）は、第３実施形態に係る電気的接続装置の正規の嵌合状態の主要部の断面図であり、電気的接続装置を電気コネクタの長さ方向に沿って見た状態を示している。（Ｄ）は、第３実施形態に係る電気的接続装置の正規の嵌合状態の主要部の断面図であり、電気的接続装置を電気コネクタの幅方向に沿って見た状態を示している。 は、本発明の第４実施形態の主要部の構成を模式的に示す電気的接続装置の主要部の断面図であり、電気的接続装置をコネクタ厚み方向に沿って見た状態を示している。 第４実施形態の変形例を示す主要部の断面図であり、（Ａ）は、半嵌合状態を、（Ｂ）は、正規の嵌合状態をそれぞれ示している。

以下、本発明を実施するための形態について図面を参照しつつ説明する。

＜第１実施形態＞
図１（Ａ）および図１（Ｂ）は、それぞれ、本発明の第１実施形態にかかる電気コネクタとしての第１コネクタ１０を有する電気的接続装置１の斜視図である。図２（Ａ）は、電気的接続装置１の平面図であり、図２（Ｂ）は電気的接続装置１の主要部の正面図であり、図２（Ｃ）は、電気的接続装置１の主要部の側面図であり、図２（Ｄ）は、電気的接続装置１の主要部の背面図である。図３（Ａ）は、電気的接続装置１の主要部の断面図であり、電気的接続装置１をコネクタ長さ方向Ｙ１に沿って見た状態を示している。図３（Ｂ）は、電気的接続装置１の主要部の断面図であり、電気的接続装置１をコネクタ幅方向Ｘ１に沿って見た状態を示している。図４（Ａ）は、電気的接続装置１のうちの第１コネクタ１０が基板２に実装された状態を示す斜視図であり、図４（Ｂ）は、図４（Ａ）の正面図である。図５（Ａ）は、電気的接続装置１の相手側電気コネクタとしての第２コネクタ３０のハウジングとしての第２ハウジング３１の斜視図であり、図５（Ｂ）は、第２ハウジング３１の主要部の平面図であり、図５（Ｃ）は、第２ハウジング３１の主要部の正面図である。

図１（Ａ）〜図２（Ｄ）を参照して、電気的接続装置１は、２つの電気機器を電気的に接続するために用いられる。本実施形態では、電気的接続装置１は、制御基板、電源基板等の基板２と、複数の被覆電線３とを電気的に接続するボードトゥワイヤー式の電気的接続装置１として用いられている。被覆電線３の電線は、例えば、図示しない基板に接続されており、これにより、当該基板と、基板２とが電気的に接続されている。

基板２は、単層または多層の回路基板である。基板２の実装面（表面）には、複数の回路用導体パターン２ａと、検査用導体パターン２ｂと、が形成されている。

回路用導体パターン２ａは、電気的接続装置１の極数、すなわち、第１コネクタ１０の第１コンタクト１２の数と同じ数形成されており、対応する第１コンタクト１２とはんだ付け等によって導通可能に固定される。各回路用導体パターン２ａは、基板２に設けられた図示しない半導体等の回路素子に接続されている。検査用導体パターン２ｂは、後述する半嵌合検査のために用いられる導体パターンであり、本実施形態では、第１コネクタ１０と協働して無端状のループ形状を形成している。検査用導体パターン２ｂは、平面視で略Ｕ字状に形成された、有端環状部分である。検査用導体パターン２ｂの両端部は、補強タブ固定部２ｃ，２ｃを含んでいる。補強タブ固定部２ｃ，２ｃは、例えば矩形状に形成されており、第１コネクタ１０の後述する補強タブ４４ａ，４４ｂとは、はんだ付け等によって導通可能に固定されている。

電気的接続装置１は、電気コネクタとしての第１コネクタ１０と、相手側電気コネクタとしての第２コネクタ３０と、これらのコネクタ１０，４０に設けられた半嵌合検出機構４０と、を有している。

本実施形態では、第１コネクタ１０は、メスコネクタを構成しており、第２コネクタ３０は、オスコネクタを構成している。そして、第２コネクタ３０が第１コネクタ１０に対して正規の嵌合位置Ｐ１に配置されてこれらのコネクタ１０，３０が互いに嵌合されることで、第１コネクタ１０と第２コネクタ３０とが電気的に接続される。本実施形態では、第１コネクタ１０は、基板２に実装されており、第２コネクタ３０は、被覆電線３を取り付けられている。

各コネクタ１０，３０は、所定の幅方向Ｘ１に細長く、且つ、幅方向Ｘ１と直交する厚み方向Ｚ１に薄い偏平な形状に形成されている。また、各コネクタ１０，３０は、互いに接続された状態において、幅方向Ｘ１および厚み方向Ｚ１の双方と直交する長さ方向Ｙ１に対向している。

図３（Ａ）〜図４（Ｂ）を参照して、第１コネクタ１０は、第１ハウジング１１と、複数の第１コンタクト１２と、半嵌合検出機構４０の一部を構成する半嵌合検出部１３と、を有している。

第１ハウジング１１は、複数の第１コンタクト１２および半嵌合検出部１３を保持するために設けられている。第１ハウジング１１は、合成樹脂等の絶縁材料を用いて形成されている。第１ハウジング１１は、射出成形によって形成された一体成形品である。尚、第１ハウジング１１は、複数の部材を固定することにより形成されていてもよい。

第１ハウジング１１は、幅方向Ｘ１に細長く且つ長さ方向Ｙ１における一端が開放された箱形形状に形成されている。具体的には、第１ハウジング１１は、幅方向Ｘ１に離隔して配置された一対の側壁１１ａ，１１ｂと、一対の側壁１１ａ，１１ｂを繋ぐ底壁１１ｃおよび天壁１１ｄと、後壁１１ｅと、を含んでいる。

一対の側壁１１ａ，１１ｂは、幅方向Ｘ１と直交するように延びる壁部である。一対の側壁１１ａ，１１ｂの外側面には、補強タブ収容部１１ｆ，１１ｇが設けられている。補強タブ収容部１１ｆ，１１ｇは、対応する側壁１１ａ，１１ｂの一部を幅方向Ｘ１の外側に突出させるようにして形成されている。補強タブ収容部１１ｆ，１１ｇは、後述する補強タブ４４ａ，４４ｂを収容するための細長い溝を形成しており、この溝に補強タブ収容部１１ｆ，１１ｇが圧入固定等によって固定されている。補強タブ収容部１１ｆ，１１ｇは、長さ方向Ｙ１の中間部が切り欠かれた形状に形成されており、長さ方向Ｙ１における補強タブ収容部１１ｆ，１１ｇの中間部が、幅方向Ｘ１の外側に露呈している。

底壁１１ｃは、基板２に沿わされるように配置されている。この底壁１１ｃと厚み方向Ｚ１に離隔して天壁１１ｄが配置されている。底壁１１ｃおよび天壁１１ｄは、厚み方向Ｚ１と直交するように延びる、矩形状部分である。本実施形態では、天壁１１ｄは、幅方向Ｘ１に対称な形状に形成されている。

天壁１１ｄには、固定用孔部１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄと、短絡用孔部１５ａ，１５ｂと、が形成されている。

本実施形態では、固定用孔部１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄと、短絡用孔部１５ａ，１５ｂは、長さ方向Ｙ１における第１ハウジング１１の前端寄りに配置されている。

固定用孔部１４ａ〜１４ｄは、後述する第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂの固定用片部４９ａ，４９ｂ，４９ａ，４９ｂが固定される部分として設けられている。固定用孔部１４ａ，１４ｂは、一方の側壁１１ａ寄りに配置されており、固定用孔部１４ｃ，１４ｄは、他方の側壁１１ｂ寄りに配置されている。各固定用孔部１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄは、本実施形態では、天壁１１ｄを厚み方向Ｚ１に貫通する、平面視で矩形状の孔部である。固定用孔部１４ｂ，１４ｃ間に、短絡用孔部１５ａ，１５ｂが配置されている。

短絡用孔部１５ａ，１５ｂは、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂの後述する第２短絡用タブ３３，３３が通過する部分として設けられている。短絡用孔部１５ａは、一方の側壁１１ａ寄りに配置されており、短絡用孔部１５ｂは、他方の側壁１１ｂ寄りに配置されている。各短絡用孔部１５ａ，１５ｂは、本実施形態では、天壁１１ｄを厚み方向Ｚ１に貫通する、平面視で矩形状の孔部である。また、天壁１１ｄのうち、底壁１１ｃ側を向く内側面には、第１凹部１６と、一対の第２凹部１７，１７と、が形成されている。

第１凹部１６は、第２ハウジング３１の後述するロック片部３５が挿入される部分であり、幅方向Ｘ１における第１ハウジング１１の中央に配置されている。また、第１凹部１６における天壁１１ｄの内側面に、第１ロック爪部１８が形成されている。第１ロック爪部１８は、幅方向Ｘ１における主体部５１，５１の間に配置されており、天壁１１ｄの内側面から底壁１１ｃ側に向けて突出する突起状に形成されている。第１凹部１６を幅方向Ｘ１に挟むようにして、一対の第２凹部１７，１７が形成されている。

図１（Ｂ）、図３（Ｂ）および図４（Ｂ）を参照して、後壁１１ｅは、第１ハウジング１１の長さ方向Ｙ１における後端部を塞ぐように設けられた壁部である。後壁１１ｅには、複数の第１コンタクト貫通孔部が形成されており、本実施形態では、第１コンタクト貫通孔部が厚み方向Ｚ１に例えば二段に配置されおり、それぞれの段において、複数の第１コンタクト貫通孔部が幅方向Ｘ１に等ピッチに配置されている。

上記の構成により、第１ハウジング１１には、第２コネクタ３０の第２ハウジング３１を収容する収容孔部１９が形成されている。この収容孔部１９内に、第１コンタクト１２が突出している。

第１コンタクト１２は、第２コネクタ３０の対応する第２コンタクト３２に接触するために設けられている。第１コンタクト１２は、金属材料を曲げ加工すること等により形成された導電性の部材であり、細長い軸状に形成されている。各第１コンタクト１２は、後壁１１ｅの対応する第１コンタクト貫通孔部に圧入固定等によって固定されている。各第１コンタクト１２のうち、第１ハウジング１１の収容孔部１９内に配置されている部分は、概ね、長さ方向Ｙ１に沿って延びている。一方、各第１コンタクト１２のうち、第１コンタクト１２の外側に配置されている部分は、一部が湾曲した形状に形成されているとともに、基板２の対応する回路用導体パターン２ａにはんだ付けによって導通可能に固定されている。

次に、第２コネクタ３０について説明する。

図１（Ａ）〜図３（Ｂ）および図５（Ａ）〜図５（Ｃ）を参照して、第２コネクタ３０は、第２ハウジング３１と、複数の第２コンタクト３２と、半嵌合検出機構４０の一部を構成する第２短絡用タブ３３と、を有している。

第２コネクタ３０は、前述したように、本発明の「相手側電気コネクタ」の一例であり、第２ハウジング３１は、本発明の「相手側電気コネクタハウジング」の一例であり、第２コンタクト３２は、本発明の「相手側電気コネクタコンタクト」の一例であり、第２短絡用タブ３３は、本発明の「相手側短絡用タブ」の一例である。

第２ハウジング３１は、複数の第２コンタクト３２および一つの第２短絡用タブ３３を保持するために設けられている。第２ハウジング３１は、合成樹脂等の絶縁材料を用いて形成されている。第２ハウジング３１は、射出成形によって形成された一体成形品である。尚、第２ハウジング３１は、複数の部材を固定することにより形成されていてもよい。第２ハウジング３１の大部分が、第１ハウジング１１の収容孔部１９に収容される。

第２ハウジング３１は、第２ハウジング本体３４と、ロック片部３５と、を有している。

第２ハウジング本体３４は、概ね直方体状に形成されたブロック状部分である。第２ハウジング３１には、複数の第２コンタクト収容孔部が形成されている。第２コンタクト収容孔部は、厚み方向Ｚ１に例えば二段に配置されおり、それぞれの段において、複数の第２コンタクト収容孔部が幅方向Ｘ１に等ピッチに配置されている。各第２コンタクト収容孔部は、長さ方向Ｙ１に沿って第２ハウジング本体３４を貫通している。

第２コンタクト３２は、第１コネクタ１０の対応する第１コンタクト１２に接触するために設けられている。第２コンタクト３２は、金属材料を曲げ加工すること等により形成された導電性の部材であり、１つの第２コンタクト収容孔部に１つ配置されている。第２コンタクト３２は、第２コンタクト収容孔部内において、対応する被覆電線３の電線にかしめ固定等によって電気的且つ機械的に接続されている。

第２ハウジング本体３４のうち、厚み方向Ｚ１の一端側（上端側）には、一対の凸部３４ａ，３４ａが形成されている。一対の凸部３４ａ，３４ａは、長さ方向Ｙ１に沿って延びる凸条である。一対の凸部３４ａ，３４ａは、第１ハウジング１１の対応する第２凹部１７，１７に嵌合する。一対の凸部３４ａ，３４ａの間に、ロック片部３５が設けられている。

ロック片部３５は、第１ハウジング１１の第１ロック爪部１８に係合することで、第２ハウジング３１を第１ハウジング１１にロックするために設けられている。ロック片部３５は、弾性片部であり、第２ハウジング本体３４との連結部分３５ａを支点にして揺動変位可能である。ロック片部３５は、長さ方向Ｙ１における第２ハウジング本体３４の一端（先端）において第２ハウジング本体３４に連続しており、この連続部分から、長さ方向Ｙ１における他端（後端）に向けて延びている。

ロック片部３５は、当該ロック片部３５の基端部において厚み方向Ｚ１に立ち上がった後、長さ方向Ｙ１に沿って後方に進むレバー状に形成されている。幅方向Ｘ１におけるロック片部３５の長さは、第１ハウジング１１の第１凹部１６の長さと略同じに設定されており、ロック片部３５の大部分がこの第１凹部１６に挿入される。ロック片部３５の先端部（後端部）は、操作者が指でロック片部３５を揺動操作するための操作片部を含んでいる。

長さ方向Ｙ１におけるロック片部３５の中間部には、第２ロック爪部３６が設けられている。第２ロック爪部３６は、突起状部分として設けられている。第２ハウジング３１が第１ハウジング１１の収容孔部１９に収容されたときに、第２ロック爪部３６と第１ロック爪部１８とが互いに係合することで、第１ハウジング１１からの第２ハウジング３１の抜けを規制する。ロック片部３５の基端側部分には、保持溝部３７が形成されている。

保持溝部３７は、第２短絡用タブ３３を保持するために設けられている。保持溝部３７は、長さ方向Ｙ１におけるロック片部３５の前端側部分を後方に向けて窪むようにして設けられている。保持溝部３７は、正面視（長さ方向Ｙ１に沿って見たとき）において、略Ｕ字状に形成されている。保持溝部３７のうち幅方向Ｘ１の両端部が厚み方向Ｚ１に延びてロック片部３５の上方側に開放されているとともに、保持溝部３７のうち幅方向Ｘ１の中間部が幅方向Ｘ１に沿って延びている。

次に、半嵌合検出機構４０の構成を説明する。

半嵌合検出機構４０は、第２コネクタ３０が第１コネクタ１０における正規の嵌合位置Ｐ１に嵌合されているか否かを検出するために設けられている。

半嵌合検出機構４０は、第１ハウジング１１に取り付けられ第１コネクタ１０の一部を構成する半嵌合検出部１３と、第２ハウジング３１に取り付けられ第２コネクタ３０の一部を構成する第２短絡用タブ３３と、を有している。

図３（Ａ）、図３（Ｂ）、図５（Ａ）および図５（Ｂ）を参照して、第２短絡用タブ３３は、第１コネクタ１０の半嵌合検出部１３に短絡を生じさせるために設けられている。第２短絡用タブ３３は、第２コンタクト３２と同様の導電材料を用いて形成された一体成形品であり、本実施形態では、金属部材をプレス加工することで形成されている。なお、第２短絡用タブ３３は、複数の部材を組み合わせることで形成されていてもよい。

第２短絡用タブ３３は、ベース部４１と、ベース部４１から延びる一対の第２短絡用片部４２，４２と、を含んでいる。ベース部４１は、例えば矩形の平板状に形成されている。このベース部４１は、第２ハウジング３１のロック片部３５の保持溝部３７に圧入固定されている。これにより、第２短絡用タブ３３は、ロック片部３５の揺動変位に伴って揺動変位する。幅方向Ｘ１におけるベース部４１の両端部に、一対の第２短絡用片部４２，４２が設けられている。

一対の第２短絡用片部４２，４２は、半嵌合検出部１３の後述する一対の検査部材４３ａ，４３ｂに接触するために設けられている。一対の第２短絡用片部４２，４２は、保持溝部３７のうち幅方向Ｘ１の両端部に配置されている。各第２短絡用片部４２，４２のうち、長さ方向Ｙ１の後端部は、側面視（幅方向Ｘ１から見て）において上方に凸となる山形形状に形成されているとともにベース部４１に片持ち支持されており、弾性変形可能である。

次に、半嵌合検出部１３について説明する。

図３（Ａ）〜図４（Ｂ）を参照して、半嵌合検出部１３は、第１ハウジング１１に取り付けられた導電性の一対の検査部材４３ａ，４３ｂを含んでいる。

一対の検査部材４３ａ，４３ｂは、第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されていないときには互いに絶縁され、且つ、第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されたことに伴い互いに短絡されるように構成されている。本実施形態では、一対の検査部材４３ａ，４３ｂが第２短絡用タブ３３と接触することにより、これら一対の検査部材４３ａ，４３ｂが互いに短絡される。

一対の検査部材４３ａ，４３ｂは、第１ハウジング１１の外側に配置されて第１ハウジング１１に取り付けられており、第１ハウジング１１から露出している。本実施形態では、一対の検査部材４３ａ，４３ｂは、長さ方向Ｙ１における第１ハウジング１１の前部寄りに配置されている。本実施形態では、一対の検査部材４３ａ，４３ｂは、互いに同じ形状に形成されている。また、本実施形態では、一対の検査部材４３ａ，４３ｂは、幅方向Ｘ１に対称に配置されている。各検査部材４３ａ，４３ｂは、全体として、クランク形状に形成されている。各検査部材４３ａ，４３ｂは、第１コンタクト１２の材料と同様の導電性の金属板をプレス加工することにより形成されている。

一対の検査部材４３ａ，４３ｂは、第１コネクタ１０が実装される基板２に固定される補強タブ４４ａ，４４ｂと、対応する補強タブ４４ａ，４４ｂに電気的に接続された第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂと、を含んでいる。

補強タブ４４ａ，４４ｂは、基板２への第１コネクタ１０の結合強度を高めるために設けられている。補強タブ４４ａ，４４ｂは、幅方向Ｘ１における第１ハウジング１１の両端部に配置されており、対応する側壁１１ａ，１１ｂの外側面に沿わされている。補強タブ４４ａ，４４ｂは、それぞれ、本実施形態では、Ｌ字状に形成されている。各補強タブ４４ａ，４４ｂは、第１コンタクト１２の材料と同様の導電性の金属板をプレス加工することにより形成された一体成形品である。

各補強タブ４４ａ，４４ｂは、平行部４６と、平行部４６から起立する起立部４７と、を有している。

平行部４６は、基板２と略平行に配置される矩形平板状部分であり、基板２の対応する補強タブ固定部２ｃにはんだ付けによって導通可能に固定されている。平行部４６の一縁部から、起立部４７が延びている。

起立部４７は、基板２から立ち上がるように延びる矩形平板状に形成されており、本実施形態では、基板２に垂直に延びている。起立部４７は、第１ハウジング１１の対応する補強タブ収容部１１ｆ，１１ｇに嵌め込まれており、この補強タブ収容部１１ｆ，１１ｇに圧入等によって固定されている。また、長さ方向Ｙ１における起立部４７の中間部は、対応する補強タブ収容部１１ｆ，１１ｇから露呈している。起立部４７のうち、厚み方向Ｚ１における一端部（基板２から遠い先端部）は、対応する補強タブ収容部１１ｆ，１１ｇから厚み方向Ｚ１に突出している。起立部４７の例えば補強タブ収容部１１ｆ，１１ｇから突出する部分に、対応する第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂが導通可能に接触している。

第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されたときに、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂは、第２コネクタ３０の第２短絡用タブ３３との接触によって、これら一対の第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂが互いに短絡されるように構成されている。本実施形態では、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂは、補強タブ４４ａ，４４ｂとは別部材を用いて形成されている。各第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂは、全体としてＬ字状に形成されており、第１ハウジング１１の天壁１１ｄから対応する側壁１１ａ，１１ｂにかけて配置されている。各第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂは、第１コンタクト１２の材料と同様の導電性の金属板をプレス加工することにより形成された一体成形品である。

各第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂは、第１ハウジング１１の外表面に沿わされる沿い部４８と、沿い部４８から突出する固定用片部４９ａ，４９ｂおよび第１短絡用片部５０と、を有している。

各沿い部４８は、主体部５１と、主体部５１から延びる弾性片部５２と、を有している。

主体部５１は、第１ハウジング１１の天壁１１ｄと略平行に配置される矩形平板状部分である。長さ方向Ｙ１における主体部５１の長さは、第１コネクタ１０の極数に応じて設定される。第１コネクタ１０の極数が多いほど、長さ方向Ｙ１における主体部５１の長さが長くなる。このように、一対の検査部材４３ａ，４３ｂにおいては、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂにおける主体部５１，５１の長さを変更することで、他の部分の形状を変更することなく、第１コネクタ１０の極数に応じた構成を実現できる。各主体部５１には、貫通孔部５１ａが形成されている。

貫通孔部５１ａは、対応する主体部５１の内側に形成されて幅方向Ｘ１に細長く延びる平面視矩形状の孔部であり、主体部５１の外周縁部には開放されていない。貫通孔部５１ａの内周縁部から、固定用片部４９ａ，４９ｂが突出している。

固定用片部４９ａ，４９ｂは、第１ハウジング１１の天壁１１ｄに向けて延び第１ハウジング１１に固定される部分である。固定用片部４９ａ，４９ｂは、例えば、長さ方向Ｙ１における貫通孔部５１ａの両端部に設けられた鉤状の片持ち状突起であり、第１ハウジング１１の対応する固定用孔部１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄに掛けられている。これにより、各第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂは、第１ハウジング１１の天壁１１ｄに固定されている。固定用片部４９ｂに隣接して、第１短絡用片部５０が設けられている。

第１短絡用片部５０は、第１ハウジング１１に向けて延び第２コネクタ３０の第２短絡用タブ３３における対応する第２短絡用片部４２に接触するための部分である。各第１短絡用片部５０は、例えば、長さ方向Ｙ１における沿い部４８の一端部に設けられた片持ち状突起であり、沿い部４８の主体部５１の外周縁部から固定用片部４９ａ，４９ｂと同じ方向に延びている。各第１短絡用片部５０は、第１ハウジング１１の対応する短絡用孔部１５ａ，１５ｂに挿入されている。各第１短絡用片部５０の先端部は、第１ハウジング１１の収容孔部１９内に配置されており、正規の嵌合位置Ｐ１に配置された第２コネクタ３０の第２短絡用タブ３３の対応する第２短絡用片部４２，４２に接触する。これにより、各第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂが、第２コネクタ３０の第２短絡用タブ３３を介して互いに導通される。第２短絡用タブ３３とは幅方向Ｘ１に離隔して、弾性片部５２が設けられている。

弾性片部５２は、対応する補強タブ４４ａ，４４ｂの起立部４７のうち、幅方向Ｘ１の外側を向く外側面と接触することで当該補強タブ４４ａ，４４ｂと導通するために設けられている。弾性片部５２は、幅方向Ｘ１における沿い部４８の主体部５１の一縁部から基板２側に向けて延びる湾曲状部分である。本実施形態では、弾性片部５２は、Ｓ字形状に形成されており、沿い部４８の主体部５１から遠ざかるように延びた後、第１ハウジング１１側に向けて湾曲し、その後、第１ハウジング１１から遠ざかるように湾曲している。弾性片部５２の先端部の湾曲状部分が、対応する補強タブ４４ａ，４４ｂの外側面に弾性反発力を付与するように加圧接触している。

以上の構成を有する電気的接続装置１における第１コネクタ１０と第２コネクタ３０の接続動作について、次に説明する。

第１コネクタ１０に第２コネクタ３０が接続されていないとき、半嵌合検出部１３の一対の検査部材４３ａ，４３ｂにおいて、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂは、互いに離隔して配置されており、絶縁されている。この状態から、図１（Ａ）、図３（Ａ）および図３（Ｂ）に示すように、第１コネクタ１０に第２コネクタ３０が接続されるとき、第２コネクタ３０の第２ハウジング３１が、第１コネクタ１０の第１ハウジング１１の収容孔部１９に挿入される。

この挿入動作において、第２コネクタ３０が第１コネクタ１０に挿入されている途中のとき、第２コネクタ３０の第２短絡用タブ３３は、第１コネクタ１０の第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂには接触していない。このため、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂは絶縁されたままである。そして、第２コネクタ３０が第１コネクタ１０にさらに挿入されると、第２コネクタ３０のロック片部３５の第２ロック爪部３６が、第１コネクタ１０の第１ロック爪部１８を乗り上げ、これにより、ロック片部３５が揺動する。そして、第２ロック爪部３６が第１ロック爪部１８を乗り越えると、ロック片部３５が揺動前の位置側に揺り戻され、第１ロック爪部１８と第２ロック爪部３６とが互いに引っかかる。これにより、第１コネクタ１０と第２コネクタ３０とがロックされる。このとき、第１コネクタ１０の各第１コンタクト１２と第２コネクタ３０の対応する第２コンタクト３２とが互いに接触し、これらのコンタクト３１，３２が電気的に接続される。

第１コネクタ１０と第２コネクタ３０とがロックされる位置が、正規の嵌合位置Ｐ１である。第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されると、第２コネクタ３０の第２短絡用タブ３３の第２短絡用片部４２の山形部は、第１コネクタ１０の検査部材４３ａ，４３ｂの対応する第１短絡用片部５０に押し下げられることでロック部３５に突っ張るように配置され、対応する第１短絡用片部５０と接触する。これにより、一対の検査部材４３ａ，４３ｂは、第２短絡用タブ３３を介して導通可能となる。

すなわち、第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されることにより、第２コネクタ３０の第２短絡用タブ３３が一対の第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂに接触することで、一対の第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂが互いに短絡される。

第１コネクタ１０と第２コネクタ３０とが電気的に接続されたか否かを検査する検査工程では、例えば、図示しない検査機器を用いて、検査用導体パターン２ｂ、および、一対の検査部材４３ａ，４３ｂに閉回路が形成されているか否かを、導通検査によって、各コネクタ１０，３０の外部から検査する。

以上説明したように、本実施形態によると、第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されていないときには一対の検査部材４３ａ，４３ｂが絶縁されている。一方、第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されたことに伴い、一対の検査部材４３ａ，４３ｂは、互いに短絡される。この構成であれば、第２コネクタ３０が第１コネクタ１０に嵌合しているけれども第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されていない状態である、いわゆる半嵌合状態では、一対の検査部材４３ａ，４３ｂは、互いに絶縁されている。よって、半嵌合状態では、一対の検査部材４３ａ，４３ｂ間で電流が流れないので、検査機器等を用いた一対の検査部材４３ａ，４３ｂ間の導通状態の検査によって、導通状態でないこと、すなわち、半嵌合状態であることを、確実に検出できる。また、第２コネクタ３０と第１コネクタ１０とが正規の嵌合状態であれば、一対の検査部材４３ａ，４３ｂが互いに短絡しているので、上記の導通状態の検査によって、導通状態であること、すなわち、第２コネクタと第１コネクタ１０とが正規の嵌合状態であることを、確実に検出できる。しかも、上記の半嵌合検出のための検査は、検査機器のプローブを例えば第２コネクタ３０から延びる被覆電線３に刺して行う必要がなく、コネクタ１０，３０の半嵌合を確実且つ容易に検出することができる。

また、本実施形態によると、第１コネクタを基板２に固定するための補強タブ４４ａ，４４ｂを、半嵌合検出のための導通経路として用いることができる。これにより、半嵌合検出のための検査機器を第１コネクタ１０の内部や、第２コネクタ３０から延びる被覆電線３内に進入させる必要がなく、半嵌合検査をより容易に行うことができる。

また、本実施形態によると、補強タブ４４ａ，４４ｂと対応する第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂとが別部材であることにより、検査部材４３ａ，４３ｂの汎用性を格段に高くできる。より具体的には、第１コネクタ１０の極数が多いほど、第１コンタクト１２の数が多くなるので、第１ハウジング１１の幅は長くなる。このとき、補強タブと短絡用タブとが一体成形されていると、第１コネクタの極数の種類毎に、短絡用タブの長さが異なる検査部材を用意する必要がある。その結果、検査部材の製造の手間、および、部品管理の手間が増えてしまい、第１コネクタの製造コストが高く付いてしまう。これに対して、本実施形態によると、補強タブ４４ａ，４４ｂと第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂとが別部材であることにより、補強タブ４４ａ，４４ｂは、第１コネクタ１０の極数にかかわらず同一種類の部品で構成できる。そして、検査部材４３ａ，４３ｂのうちの第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂの種類のみを第１コネクタ１０の極数に合せて変更すればよい。その結果、検査部材４３ａ，４３ｂの製造の手間、および、部品管理の手間を少なくでき、第１コネクタ１０の製造コストが低くて済む。

ここで、補強タブ４４ａ，４４ｂと対応する第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂとが別部材であることの利点を、以下に、より詳細に説明する。補強タブ４４ａ，４４ｂと対応する第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂとが別部材であることで、補強タブ４４ａ，４４ｂとして、半嵌合検出部１３を備えていない従来の電気コネクタ用の補強タブをそのまま、補強タブ４４ａ，４４ｂとして利用することができる。これにより、補強タブ４４ａ，４４ｂの汎用性をより高くできる。

また、補強タブと短絡用タブとが一体成形されていると、短絡用タブ部分の展開長（曲げ加工前の長さ）が長く、製造コストが高く付く。これに対して、本実施形態では、補強タブ４４ａ，４４ｂと対応する第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂとが別部材であることで、各第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂの一部品としての長さを短くできる。よって、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂのプレス成形用の金型の組み替えにより、極数の異なる複数種類の第１コネクタ１０に対応する第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂを形成できる。

また、幅方向Ｘ１（左右）の形状が異なる検査部材が用いられる場合、金型が極数毎に二面必要で左右の部品毎に品番が必要となり、部品管理が繁雑になる。これに対して、本実施形態では、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂが同じ形状であることから金型が一面で済むとともに部品管理が簡易で済み、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂの製造コストを大幅に安くできる。

また、補強タブと短絡用タブとが一体成形されていると、一体成形部品の全長が長いため、この一体成形部品を自動挿入機で取り扱い可能に短くなるように曲げ加工を行う必要があり、一体成形部品の取り扱いが繁雑となる。これに対して、本実施形態では、補強タブ４４ａ，４４ｂを短くできるので、自動挿入機を、従来の短い補強タブ挿入用のままで対応可能である。その結果、第１コネクタ１０の製造コストを低くできる。その上、補強タブ４４ａ，４４ｂの全長が短いので、補強タブ４４ａ，４４ｂの製造時のめっき等の加工工程も簡単で且つ迅速に行うことができ、その上、補強タブ４４ａ，４４ｂの寸法の種類を少なくできる。よって、部品管理の簡素化等を通じて第１コネクタ１０の製造コストをより低減できる。

また、本実施形態によると、一対の第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂは、互いに同じ形状に形成され、幅方向Ｘ１に対称に配置されることで一対の検査部材４３ａ，４３ｂが形成されている。この構成によると、第１コネクタ１０の部品の種類をより低減でき、その結果、第１コネクタ１０の製造コストをさらに低減できる。

また、本実施形態によると、固定用片部４９ａ，４９ｂは、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂの貫通孔部５１ａの内周縁部から第１ハウジング１１に向けて延び第１ハウジング１１に固定される。この構成によると、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂの固定用片部４９ａ，４９ｂによって、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂを第１ハウジング１１に固定することができる。また、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂの貫通孔部５１ａの内周縁部から固定用片部４９ａ，４９ｂが延びているので、固定用片部４９ａ，４９ｂは、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂの外側にはみ出るように延びずに済む。これにより、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂをより小型にできる。また、例えば、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂをプレス加工で形成する場合、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂの内側部分を打ち抜き加工することで、固定用片部４９ａ，４９ｂを形成できる。

また、本実施形態によると、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂにおいて、固定用片部４９ａ，４９ｂと第１絡用片部５０とが沿い部４８から同じ方向に向けて延びている。この場合、固定用片部４９ａ，４９ｂと第１絡用片部５０とが沿い部４８から同じ方向に向けて延びているので、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂ全体としての厚みをより薄くできる。また、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂがプレス加工によって製造される場合、固定用片部４９ａ，４９ｂとなる片部と第１絡用片部５０となる片部とを同じ方向に曲げ加工することで、これら固定用片部４９ａ，４９ｂと第１絡用片部５０とを形成できる。これにより、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂの製造にかかる手間をより低減できる。

また、本実施形態によると、第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されることにより第２コネクタ３０の第２短絡用タブ３３が第１コネクタ１０の一対の第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂに接触することで、一対の第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂが互いに短絡される。この場合、第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されることで、一対の第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂを確実に互いに短絡させることができる。

なお、上記実施形態では、第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂが、対応する補強タブ４４ａ，４４ｂの外側面に接触する構成を例に説明した。しかしながら、この通りでなくてもよい。例えば、各補強タブ４４ａ，４４ｂの起立部４７の一端部（先端部）を第１ハウジング１１から離隔するように形成し、この起立部４７の内側面と第１ハウジング１１との間に第１短絡用タブ４５ａ，４５ｂの対応する弾性片部５２の先端部を配置し、弾性片部５２と対応する起立部４７の内側面とを接触させてもよい。

＜第２実施形態＞
図６（Ａ）は、本発明の第２実施形態にかかる第１コネクタ１０Ａを有する電気的接続装置１Ａの斜視図である。図６（Ｂ）は、第２実施形態に係る電気的接続装置１Ａの主要部の断面図であり、電気的接続装置１Ａの長さ方向Ｙ１に沿って見た状態を示している。

なお、以下では、第１実施形態の構成と異なる点について主に説明し、第１実施形態と同様の構成には図に同様の符号を付して詳細な説明は省略する場合がある。

図６（Ａ）および図６（Ｂ）を参照して、第２実施形態が第１実施形態と異なっている点は、補強タブ４４ａＡ，４４ｂＡと対応する第１短絡用タブ４５ａＡ，４５ｂＡが単一の材料を用いて一体成形されている点にある。

第１コネクタ１０Ａは、第１ハウジング１１Ａと、複数の第１コンタクト１２と、半嵌合検出機構４０の一部を構成する半嵌合検出部１３Ａと、を有している。

第１ハウジング１１Ａは、固定用孔部１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄが形成されていない点以外は、第１実施形態の第１ハウジング１１と同じ構成を有している。

半嵌合検出部１３Ａは、第１ハウジング１１に取り付けられた導電性の一対の検査部材４３ａＡ，４３ｂＡを含んでいる。

一対の検査部材４３ａＡ，４３ｂＡは、第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されていないときには互いに絶縁され、且つ、第２コネクタ３０が正規の嵌合位置Ｐ１に配置されたことに伴い互いに短絡されるように構成されている。本実施形態では、一対の検査部材４３ａＡ，４３ｂＡが第２短絡用タブ３３の第２短絡用片部４２と接触することにより、これら一対の検査部材４３ａＡ，４３ｂＡが互いに短絡される。

本実施形態では、一対の検査部材４３ａＡ，４３ｂＡは、幅方向Ｘ１に対称に配置されている。検査部材４３ａＡ，４３ｂＡは、それぞれ、全体として、クランク形状に形成されている。各検査部材４３ａＡ，４３ｂＡは、第１コンタクト１２の材料と同様の導電性の金属板をプレス加工することにより形成された一体成形品である。

一対の検査部材４３ａＡ，４３ｂＡは、第１コネクタ１０が実装される基板２に固定される補強タブ４４ａＡ，４４ｂＡと、対応する補強タブ４４ａＡ，４４ｂＡに連続する第１短絡用タブ４５ａＡ，４５ｂＡと、を含んでいる。

補強タブ４４ａＡ，４４ｂＡは、対応する第１短絡用タブ４５ａＡ，４５ｂＡに一体成形された点以外、第１実施形態の補強タブ４４ａ，４４ｂと同じ構成を有している。第１短絡用タブ４５ａＡ，４５ｂＡの起立部４７のうち例えば補強タブ収容部１１ｆ，１１ｇから突出する部分に、対応する第１短絡用タブ４５ａＡ，４５ｂＡが延びている。

各第１短絡用タブ４５ａＡ，４５ｂＡは、第１ハウジング１１の天壁１１ｄの外表面に沿わされる梁状の沿い部４８Ａと、沿い部４８Ａから突出する第１短絡用片部５０Ａと、を有している。

沿い部４８Ａの基端部は、対応する補強タブ４４ａＡ，４４ｂＡに連続している。沿い部４８Ａの先端部には、第１短絡用片部５０Ａが設けられている。

第１短絡用片部５０Ａは、第１ハウジング１１Ａに向けて延び第２コネクタ３０の対応する第２短絡用片部４２に接触するための部分である。第１短絡用片部５０Ａは、例えば、沿い部４８Ａに設けられた片持ち状突起であり、第１ハウジング１１Ａの対応する短絡用孔部１５ａ，１５ｂに挿入されている。第２短絡用タブ３３Ａの先端部は、収容孔部１９内に配置されており、正規の嵌合位置Ｐ１に配置された第２コネクタ３０の第２短絡用タブ３３の対応する第２短絡用片部４２に接触する。これにより、各第１短絡用タブ４５ａＡ，４５ｂＡが、第２コネクタ３０の第２短絡用タブ３３を介して互いに導通される。

以上説明したように、第２実施形態によると、各検査部材４３ａＡ，４３ｂＡを一部品で形成できる。

＜第３実施形態＞
図７（Ａ）は、本発明の第３実施形態にかかる第１コネクタ１０Ｂを有する電気的接続装置１Ｂの斜視図である。図７（Ｂ）は、第３実施形態に係る第１コネクタ１０Ｂを基板２とともに示す正面図である。図８（Ａ）は、第３実施形態に係る電気的接続装置１Ｂの半嵌合状態の主要部の断面図であり、電気的接続装置１Ｂを長さ方向Ｙ１に沿って見た状態を示している。図８（Ｂ）は、第３実施形態に係る電気的接続装置１Ｂの半嵌合状態の主要部の断面図であり、電気的接続装置１Ｂを幅方向Ｘ１に沿って見た状態を示している。図８（Ｃ）は、第３実施形態に係る電気的接続装置１Ｂの正規の嵌合状態の主要部の断面図であり、電気的接続装置１Ｂを長さ方向Ｙ１に沿って見た状態を示している。図８（Ｄ）は、第３実施形態に係る電気的接続装置１Ｂの正規の嵌合状態の主要部の断面図であり、電気的接続装置１Ｂを幅方向Ｘ１に沿って見た状態を示している。

図７（Ａ）〜図８（Ｄ）を参照して、第３実施形態が第１実施形態と異なっている点は、第２コネクタ３０Ｂの第２短絡用タブ３３Ｂが絶縁部材である合成樹脂によって形成されている点と、第１コネクタ１０Ｂの一対の検査部材４３ａＢ，４３ｂＢが第２短絡用タブ３３Ｂに対応した構成とされている点にある。以下、電気的接続装置１Ｂのより具体的な構成を説明する。

電気的接続装置１Ｂは、第１コネクタ１０Ｂと、第２コネクタ３０Ｂと、これらのコネクタ１０Ｂ，３０Ｂに設けられた半嵌合検出機構４０Ｂと、を有している。

第１コネクタ１０Ｂは、第１ハウジング１１Ｂと、複数の第１コンタクト１２と、半嵌合検出機構４０Ｂの一部を構成する半嵌合検出部１３Ｂと、を有している。

第１ハウジング１１Ｂは、短絡用孔部１５ａが形成されていない点と、短絡用孔部１５ｂが幅方向Ｘ１における天壁１１ｄの略中央に形成されている点以外は、第１実施形態の第１ハウジング１１と同じ構成を有している。

第２コネクタ３０Ｂは、第２ハウジング３１Ｂと、複数の第２コンタクト３２と、半嵌合検出機構４０Ｂの一部を構成する第２短絡用タブ３３Ｂと、を有している。

第２ハウジング３１Ｂは、第２短絡用タブ３３Ｂが一体成形されている点以外は、第１実施形態の第２ハウジング３１と同じ構成を有している。本実施形態では、第２ハウジング３１Ｂおよび第２短絡用タブ３３Ｂの全体が、射出成形によって形成された一体成形品である。尚、第２ハウジング３１Ｂは、複数の部材を固定することにより形成されていてもよい。

第２ハウジング３１Ｂは、第２ハウジング本体３４と、ロック片部３５Ｂと、を有している。

ロック片部３５Ｂは、第２短絡用タブ３３Ｂが一体成形されている点以外は、第１実施形態のロック片部３５と同じ構成を有している。ロック片部３５Ｂの前端側部分に、第２短絡用タブ３３Ｂが形成されている。

半嵌合検出機構４０Ｂは、第２コネクタ３０Ｂが第１コネクタ１０Ｂに正規の嵌合位置Ｐ１に嵌合されているか否かを検出するために設けられている。

半嵌合検出機構４０Ｂは、第１ハウジング１１Ｂに取り付けられ第１コネクタ１０Ｂの一部を構成する半嵌合検出部１３Ｂと、第２ハウジング３１Ｂに取り付けられ第２コネクタ３０Ｂの一部を構成する第２短絡用タブ３３Ｂと、を有している。

第２短絡用タブ３３Ｂは、第１コネクタ１０の半嵌合検出部１３Ｂに短絡を生じさせるために設けられている。

第２短絡用タブ３３Ｂは、ロック片部３５Ｂの幅方向Ｘ１中央に配置されており、本実施形態では、第２ロック爪部３６に隣接している。これにより、第２短絡用タブ３３Ｂは、ロック片部３５Ｂの揺動変位に伴って揺動変位する。第２短絡用タブ３３Ｂは、一対の検査部材４３ａＢ，４３ｂＢの他方４３ｂＢに接触するように構成されている。第２短絡用タブ３３Ｂは、ロック片部３５Ｂの上面から突出する突起状に形成されている。

半嵌合検出部１３Ｂは、第１ハウジング１１Ｂに取り付けられた導電性の一対の検査部材４３ａＢ，４３ｂＢを含んでいる。

一対の検査部材４３ａＢ，４３ｂＢは、第２コネクタ３０Ｂが正規の嵌合位置Ｐ１に配置されていないときには互いに絶縁され、且つ、第２コネクタ３０Ｂが正規の嵌合位置Ｐ１Ｂに配置されたことに伴い互いに短絡されるように構成されている。本第３実施形態では、検査部材４３ｂＢが第２短絡用タブ３３Ｂと接触することにより、これら一対の検査部材４３ａＢ，４３ｂＢが互いに直接接触することで短絡される。

一対の検査部材４３ａＢ，４３ｂＢは、幅方向Ｘ１に非対称に形成されている。各検査部材４３ａＢ，４３ｂＢは、第１コンタクト１２の材料と同様の導電性の金属板をプレス加工することにより形成されている。

一方の検査部材４３ａＢは、基板２に固定される補強タブ４４ａと、補強タブ４４ａに電気的に接続された第１短絡用タブ４５ａＢと、を含んでいる。

第１短絡用タブ４５ａＢは、第１短絡用片部５０Ｂ以外の構成が、第１実施形態の第１短絡用タブ４５ａと同様の構成を有している。具体的には、第１短絡用タブ４５ａＢは、第１ハウジング１１Ｂの外表面に沿わされる沿い部４８と、沿い部４８から突出する固定用片部４９ａ，４９ｂおよび第１短絡用片部５０Ｂと、を有している。

第１短絡用タブ４５ａＢは、第２コネクタ３０の第２短絡用タブ３３Ｂとは直接接触しないように配置されている。第１短絡用片部５０Ｂは、例えば、沿い部４８の一端部に設けられた片持ち状片部である。

他方の検査部材４３ｂＢは、補強タブ４４ｂＢと、補強タブ４４ｂＢから延びる第１短絡用タブ４５ｂＢと、を含んでいる。

他方の補強タブ４４ｂＢは、第１短絡用タブ４５ｂＢに一体成形された点以外、補強タブ４４ｂと同様の構成を有している。第１短絡用タブ４５ｂＢの起立部４７のうち例えば補強タブ収容部１１ｇから突出する部分に、第１短絡用タブ４５ｂＢが延びている。

他方の第１短絡用タブ４５ｂＢは、第１ハウジング１１Ｂの天壁１１ｄの外表面に沿わされる補強タブ４４ｂＢに連続する梁状の沿い部４８Ｂと、沿い部４８Ｂの先端から突出する第１短絡用片部５０Ａと、を有している。

第１短絡用片部５０Ａは、第１ハウジング１１Ｂに向けて延び第２コネクタ３０Ｂの第２短絡用タブ３３Ｂに接触するための部分である。第１短絡用片部５０Ａは、第１ハウジング１１Ｂの対応する短絡用孔部１５ｂに挿入されている。第１短絡用片部５０Ａの先端部は、収容孔部１９内に配置されており、正規の嵌合位置Ｐ１に配置された第２コネクタ３０Ｂの第２短絡用タブ３３Ｂに接触することで持ち上げられる。これにより、各第１短絡用タブ４５ａＢ，４５ｂＢが、直接接触して互いに導通可能となる。

以上説明したように、第３実施形態によると、第２コネクタ３０Ｂの第２短絡用タブ３３Ｂが絶縁部材であっても、一対の検査部材４３ａＢ，４３ｂＢを導通させることができる。

＜第４実施形態＞
図９は、本発明の第４実施形態の主要部の構成を模式的に示す電気的接続装置１Ｃの主要部の断面図であり、電気的接続装置１Ｃを厚み方向Ｚ１に沿って見た状態を示している。

図９を参照して、本実施形態では、第１ハウジング１１Ｃは、第１ハウジング１１Ｃ内の空間である収容孔部１９を一対の検査部材４３ａＣ，４３ｂＣに向けて開放する一対の短絡用孔部１５ａＣ，１５ｂＣを有している。そして、第２コネクタ３０Ｃが第１コネクタ１０Ｃにおける正規の嵌合位置Ｐ１に配置されたときに、各検査部材４３ａＣ，４３ｂＣが対応する短絡用孔部１５ａＣ，１５ｂＣを通して第２短絡用タブ３３Ｃに接触するように構成されている。以下、より具体的に説明する。

電気的接続装置１Ｃは、第１コネクタ１０Ｃと、第２コネクタ３０Ｃ、これらのコネクタ１０Ｃ，３０Ｃに設けられた半嵌合検出機構４０Ｃと、を有している。

第１コネクタ１０Ｃは、第１ハウジング１１Ｃと、複数の第１コンタクト１２と、半嵌合検出機構４０Ｃの一部を構成する半嵌合検出部１３Ｃと、を有している。

第１ハウジング１１Ｃは、側壁１１ａ，１１ｂに短絡用孔部１５ａＣ，１５ｂＣが形成されている点以外は、第１実施形態の第１ハウジング１１と同様の構成を有している。各短絡用孔部１５ａＣ，１５ｂＣは、対応する側壁１１ａ，１１ｂを幅方向Ｘ１に貫通している。

第２コネクタ３０Ｃは、第２ハウジング３１Ｃと、複数の第２コンタクト３２と、半嵌合検出機構４０Ｃの一部を構成する第２短絡用タブ３３Ｃと、を有している。

第２ハウジング３１Ｃは、第２短絡用タブ３３に代えて第２短絡用タブ３３Ｃを保持している点以外は、第１実施形態の第２ハウジング３１と同様の構成を有している。

半嵌合検出機構４０Ｃは、第２コネクタ３０Ｃが第１コネクタ１０Ｃに正規の嵌合位置Ｐ１に嵌合されているか否かを検出するために設けられている。

半嵌合検出機構４０Ｃは、第１ハウジング１１Ｃに取り付けられ第１コネクタ１０Ｃの一部を構成する半嵌合検出部１３Ｃと、第２ハウジング３１Ｃに取り付けられ第２コネクタ３０Ｃの一部を構成する第２短絡用タブ３３Ｃと、を有している。

第２短絡用タブ３３Ｃは、第２コンタクト３２と同様の導電材料を用いて形成されている。

第２短絡用タブ３３Ｃは、第２ハウジング３１Ｃに保持されたベース部４１Ｃと、ベース部４１Ｃから延びる一対の第２短絡用片部４２Ｃ，４２Ｃと、を含んでいる。ベース部４１Ｃは、幅方向Ｘ１に沿って延びている。幅方向Ｘ１におけるベース部４１Ｃの両端に、第２短絡用片部４２Ｃ，４２Ｃが設けられている。

一対の第２短絡用片部４２Ｃ，４２Ｃは、第２ハウジング３１Ｃから長さ方向Ｙ１の一方（第１ハウジング１１Ｃの奥側）に向けて凸となる突起状に形成されている。

半嵌合検出部１３Ｃは、第１ハウジング１１Ｃに取り付けられた導電性の一対の検査部材４３ａＣ，４３ｂＣを含んでいる。

一対の検査部材４３ａＣ，４３ｂＣは、第２コネクタ３０Ｃが正規の嵌合位置Ｐ１に配置されていないときには互いに絶縁され、且つ、第２コネクタ３０Ｃが正規の嵌合位置Ｐ１に配置されたことに伴い互いに短絡されるように構成されている。本実施形態では、一対の検査部材４３ａＣ，４３ｂＣが第２短絡用タブ３３Ｃの対応する第２短絡用片部４２Ｃ，４２Ｃと接触することにより、これら一対の検査部材４３ａＣ，４３ｂＣが互いに短絡される。

一対の検査部材４３ａＣ，４３ｂＣは、補強タブ４４ａ，４４ｂと、対応する補強タブ４４ａ，４４ｂと一体に形成された第１短絡用タブ４５ａＣ，４５ｂＣと、を含んでいる。

第１短絡用タブ４５ａＣ，４５ｂＣは、対応する補強タブ４４ａ，４４ｂの起立部４７から対応する短絡用孔部１５ａＣ，１５ｂＣを通って収容孔部１９内に延びている。各第１短絡用タブ４５ａＣ，４５ｂＣは、弾性変形可能な片持ちばね状に形成されている。

第２コネクタ３０Ｃが正規の嵌合位置Ｐ１に配置されたときに、第１短絡用タブ４５ａＣ，４５ｂＣは、第２コネクタ３０Ｃの第２短絡用タブ３３Ｃの対応する第２短絡用片部４２Ｃ，４２Ｃと接触することによって、これら一対の第１短絡用タブ４５ａＣ，４５ｂＣが互いに短絡される。

本第４実施形態によると、第１コネクタ１０Ｃの第１短絡用タブ４５ａＣ，４５ｂＣは、第１ハウジング１１Ｃの外部に露出せず、これにより、第１コネクタ１０Ｃをよりコンパクトにできる。

なお、上記第４実施形態では、第１コネクタ１０Ｃの第１短絡用タブ４５ａＣ，４５ｂＣが短絡用孔部１５ａＣ，１５ｂＣを通過する形態を例に説明した。しかしながら、この通りでなくてもよい。例えば、第４実施形態の変形例を示す図１０（Ａ）および図１０（Ｂ）を参照して、第１コネクタ１０Ｃにおける半嵌合検出部１３Ｃが、補強タブ４４ａ，４４ｂからなる一対の検査部材を含んでいてもよい。この場合、第２コネクタ３０Ｃに設けられた第２短絡用タブ３３Ｃ’が、第２ハウジング３１Ｃから幅方向Ｘ１の外側に突出する一対のばね状の第２短絡用片部４２Ｃ’，４２Ｃ’を有している。第２短絡用片部４２Ｃ’，４２Ｃ’は、コネクタ１０Ｃ，３０Ｃが半嵌合状態のときは補強タブ４４ａ，４４ｂには接触しない。一方、第２コネクタ３０Ｃが正規の嵌合位置Ｐ１に配置されたとき、第２短絡用片部４２Ｃ’，４２Ｃ’は、対応する短絡用孔部１５ａＣ，１５ｂＣを通って第１ハウジング１１Ｃの外側へ向かうことで、対応する補強タブ４４ａ，４４ｂの起立部４７の内側面に接触する。これにより、一対の補強タブ４４ａ，４４ｂが短絡される。

この変形例によると、第２コネクタ３０Ｃが正規の嵌合位置Ｐ１に配置されることに伴い、第２短絡用タブ３３Ｃ’が第１ハウジング１１Ｃの外側に向けて変位する。このような構成により、第２コネクタ３０Ｃが正規の嵌合位置Ｐ１に配置されたときに、第２短絡用タブ３０Ｃ’と検査部材（補強タブ４４ａ，４４ｂ）とのより確実な接触を実現できる。

以上、本発明の実施形態について説明したけれども、本発明は上述の実施形態に限られるものではなく、特許請求の範囲に記載した限りにおいて様々な変更が可能である。

（１）前述の各実施形態および変形例では、第１コネクタが回路基板の実装面上に配置される、表面実装（ＳＭＴ、Surface Mount Technology）タイプの電気コネクタの形態を例に説明したけれども、これに限定されない。第１コネクタは、回路基板のスルーホールにはめ込まれるＤＩＰ（Dual Inline Package）コネクタ等の、挿入実装タイプの電気コネクタであってもよい。

（２）前述の実施形態では、電気的接続装置が回路基板と電線とを電気的に接続するボード・トゥ・ワイヤタイプの接続装置である形態を例に説明したけれども、これに限定されない。本発明は、電線と電線を電気的に接続するワイヤー・トゥ・ワイヤータイプの電気的接続装置に適用することもできる。

本発明は、電気コネクタとして、広く適用することができる。

２ 基板
１０，１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃ 第１コネクタ（電気コネクタ）
１１，１１Ａ，１１Ｂ，１１Ｃ 第１ハウジング（ハウジング）
１２ 第１コンタクト（コンタクト）
１３，１３Ａ，１３Ｂ，１３Ｃ 半嵌合検出部
１５ａＣ，１５ｂＣ 短絡用孔部
３０，３０Ｂ，３０Ｃ 第２コネクタ（相手側電気コネクタ）
３１，３１Ｂ，３１Ｃ 第２ハウジング（相手側電気コネクタハウジング）
３２ 第２コンタクト（相手側電気コネクタのコンタクト）
３３，３３Ｂ，３３Ｃ 第２短絡用タブ（相手側短絡用タブ）
４３ａ，４３ｂ，４３ａＡ，４３ｂＡ，４３ａＢ，４３ｂＢ，４３ａＣ，４３ｂＣ 一対の検査部材
４４ａ，４４ｂ，４４ａＡ，４４ｂＡ，４４ｂＢ 補強タブ
４５ａ，４５ｂ，４５ａＡ，４５ｂＡ，４５ｂＢ，４５ａＣ，４５ｂＣ 第１短絡用タブ（短絡用タブ）
４８，４８Ａ，４８Ｂ 沿い部
４９ａ，４９ｂ 固定用片部
５０，５０Ａ，５０Ｂ 第１短絡用片部（短絡用片部）
５１ａ 貫通孔部
Ｐ１ 正規の嵌合位置
Ｘ１ 幅方向

Claims (8)

1. 相手側電気コネクタに嵌合される電気コネクタであって、
   ハウジングと、
   前記ハウジングに取り付けられ前記相手側電気コネクタのコンタクトに接触するためのコンタクトと、
   前記相手側電気コネクタが前記電気コネクタに正規の嵌合位置に嵌合されているか否かを検出するための半嵌合検出部と、を備え、
   前記半嵌合検出部は、前記ハウジングに取り付けられた導電性の一対の検査部材を含んでおり、且つ、前記相手側電気コネクタが前記電気コネクタにおける前記正規の嵌合位置に配置されていないときには一対の前記検査部材を絶縁し、前記相手側電気コネクタが前記正規の嵌合位置に配置されたことに伴い一対の前記検査部材を互いに短絡させるように構成されていることを特徴とする、電気コネクタ。
2. 請求項１に記載の電気コネクタであって、
   各前記検査部材は、前記電気コネクタが実装される基板に固定される補強タブと、前記補強タブに電気的に接続された短絡用タブと、を含み、
   前記相手側電気コネクタが前記正規の嵌合位置に配置されたときに一対の前記短絡用タブが互いに短絡されるように構成されていることを特徴とする、電気コネクタ。
3. 請求項２に記載の電気コネクタであって、
   各前記検査部材において、前記補強タブと前記短絡用タブとは別部材を用いて形成されていることを特徴とする、電気コネクタ。
4. 請求項３に記載の電気コネクタであって、
   各前記短絡用タブは、互いに同じ形状に形成され、前記電気コネクタの幅方向に対称に配置されることで一対の前記検査部材が形成されることを特徴とする、電気コネクタ。
5. 請求項３または請求項４に記載の電気コネクタであって、
   前記短絡用タブは、前記ハウジングの外表面に沿わされる沿い部を含み、
   前記沿い部には、貫通孔部が形成されており、
   前記短絡用タブは、前記貫通孔部の内周縁部から前記ハウジングに向けて延び前記ハウジングに固定される固定用片部を含んでいることを特徴とする、電気コネクタ。
6. 請求項３〜請求項５の何れか１項に記載の電気コネクタであって、
   前記短絡用タブは、前記ハウジングの外表面に沿わされる沿い部を含み、
   前記沿い部には、前記ハウジングに固定される固定用片部と、前記相手側電気コネクタに設けられた相手側短絡用タブと接触するための短絡用片部と、が設けられており、
   前記固定用片部と前記短絡用片部とが前記沿い部から同じ方向に向けて延びていることを特徴とする、電気コネクタ。
7. 請求項２〜請求項６の何れか１項に記載の電気コネクタであって、
   前記相手側電気コネクタは、相手側電気コネクタハウジングと、この相手側電気コネクタハウジングに取り付けられ前記電気コネクタの前記コンタクトに接触するための相手側電気コネクタコンタクトと、前記相手側電気コネクタハウジングに取り付けられた相手側短絡用タブと、を有しており、
   前記相手側電気コネクタが前記正規の嵌合位置に配置されることにより前記相手側短絡用タブが一対の前記短絡用タブに接触することで、一対の前記短絡用タブが互いに短絡されることを特徴とする、電気コネクタ。
8. 請求項１または請求項２に記載の電気コネクタであって、
   前記ハウジングは、前記ハウジング内の空間を一対の前記検査部材に向けて開放する一対の短絡用孔部を有し、
   前記相手側電気コネクタが前記正規の嵌合位置に配置されたときに、前記相手側電気コネクタに設けられた導電性の相手側短絡用タブが対応する前記短絡用孔部を通して前記ハウジングの外側へ向かうことで、各前記検査部材が前記相手側短絡用タブに接触するように構成されていることを特徴とする、電気コネクタ。

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