JP2019004364A - 弾性波フィルタ及びマルチプレクサ - Google Patents

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Sunao Yamazaki
直 山崎
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Abstract

【課題】減衰特性を改善できる弾性波フィルタを提供する。
【解決手段】ラダー型の弾性波フィルタ10は、第1入出力端子20と第2入出力端子21とを結ぶ経路とグランドとの間に接続された並列腕回路を3つ以上備え、3つ以上の並列腕回路はそれぞれ、直列に接続された並列腕共振子とインダクタとを有し、並列腕共振子は、圧電体層を有する基板と当該基板上に形成されたIDT電極とで構成され、3つ以上の並列腕回路が有する並列腕共振子のそれぞれのIDT電極を構成する複数の電極指の繰り返しピッチPは、互いに異なり、3つ以上の並列腕回路が有する並列腕共振子のうち繰り返しピッチPが最も大きい並列腕共振子P4に接続されたインダクタL4のインダクタンス値は、3つ以上の並列腕回路が有するインダクタのインダクタンス値の中で最も小さい。
【選択図】図1

Description

本発明は、弾性波フィルタ及びマルチプレクサに関する。
近年の携帯電話には、一端末で複数の周波数帯域及び複数の無線方式で同時に送受信すること、いわゆるキャリアアグリゲーション(CA)化に対応すること、が要求されている。これに対応すべく、1つのアンテナの直下には、複数の無線搬送周波数を有する高周波信号を分波するマルチプレクサ(分波器)が配置される。マルチプレクサは、複数の帯域通過フィルタから構成される。当該複数の帯域通過フィルタとしては、例えば通過帯域内における低損失性及び通過帯域周辺における急峻な通過特性等のフィルタ特性を有する、弾性波共振子から構成される弾性波フィルタ等が用いられる。
特許文献1には、このような弾性波フィルタ(例えばSAW(Surface Acoustic Wave)フィルタ)に関する技術が開示されている。
特開2000−201053号公報
ところで、弾性波フィルタを構成する弾性波共振子には、上述したフィルタ特性を実現するための主モード以外に、高次モード等の不要モードも同時に発生する。弾性波共振子に高次モードが発生することで、当該弾性波共振子のインピーダンス特性が減衰帯域における特定の周波数で局所的に変化してスプリアスが発生し、弾性波フィルタの減衰特性が劣化する。これにより、例えば、スプリアスが発生した周波数と他のフィルタの通過帯域とが重複した場合、当該他のフィルタの通過帯域における通過特性が劣化することがある。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、減衰特性を改善できる弾性波フィルタ及びマルチプレクサを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の一態様に係る弾性波フィルタは、ラダー型の弾性波フィルタであって、第1入出力端子と第2入出力端子とを結ぶ経路とグランドとの間に接続された並列腕回路を3つ以上備え、前記3つ以上の並列腕回路はそれぞれ、直列に接続された並列腕共振子とインダクタとを有し、前記並列腕共振子は、圧電体層を有する基板と当該基板上に形成されたIDT電極とで構成され、前記3つ以上の並列腕回路が有する並列腕共振子のそれぞれの前記IDT電極を構成する複数の電極指の繰り返しピッチは、互いに異なり、前記3つ以上の並列腕回路が有する並列腕共振子のうち前記繰り返しピッチが最も大きい並列腕共振子に接続されたインダクタのインダクタンス値は、前記3つ以上の並列腕回路が有するインダクタのインダクタンス値の中で最も小さい。
並列腕共振子のIDT電極を構成する複数の電極指の繰り返しピッチは、並列腕共振子の波長に対応しており、弾性波フィルタの通過帯域の低域側を規定する。また、並列腕共振子に直列に接続されたインダクタによって、当該並列腕共振子の共振周波数を低域側へ移動させることができ、通過帯域の帯域幅を調整できる。このとき、並列腕共振子の繰り返しピッチによって、弾性波フィルタの高次モードの周波数も決まり、繰り返しピッチが大きい並列腕共振子に直列に接続されたインダクタは、高次モードによるスプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度に、より大きな影響を与える。つまり、繰り返しピッチが大きい並列腕共振子に直列に接続されたインダクタのインダクタンス値が大きい場合、スプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度が低くなってしまい(言い換えると、スプリアスの裾が広がってしまい)、弾性波フィルタの減衰特性が劣化してしまう。これに対して、繰り返しピッチが最も大きい並列腕共振子に接続されたインダクタのインダクタンス値は、3つ以上の並列腕回路が有するインダクタのインダクタンス値の中で最も小さいことで、スプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度を高くすることができる。
また、3つ以上の並列腕回路が有する並列腕共振子のそれぞれのIDT電極を構成する複数の電極指の繰り返しピッチが同じ場合、各並列腕共振子の***振周波数は重なってしまい、それに伴い、高次モードの周波数が一点に集中するためスプリアスが大きくなってしまう。これに対して、各並列腕共振子の繰り返しピッチが異なるため、高次モードの周波数が一点に集中しにくくなりスプリアスを小さくすることができる。
このように、高次モードによるスプリアスを小さくでき、かつ、スプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度を高くすることができるため、弾性波フィルタの減衰特性を改善できる。
また、前記3つ以上の並列腕回路において、前記繰り返しピッチが大きい並列腕共振子ほど、インダクタンス値の小さいインダクタが接続されてもよい。
3つ以上の並列腕回路が有する並列腕共振子において、繰り返しピッチPが大きい並列腕共振子ほど、高次モードによるスプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度に影響を与えやすい。例えば、3つ以上の並列腕回路が有する並列腕共振子のうち2番目に繰り返しピッチの大きい並列腕共振子に接続されたインダクタは、高次モードによるスプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度に影響を与えやすい。しかし、当該インダクタのインダクタンス値は、繰り返しピッチの大きさが3番目以降の並列腕共振子に接続されたインダクタのインダクタンス値よりも小さいため、スプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度への影響を抑制でき、弾性波フィルタの減衰特性をより改善できる。
また、前記弾性波フィルタは、LiNbOからなる前記圧電体層を伝搬するレイリー波、又は、LiNbOからなる前記圧電体層を伝搬するラブ波を弾性表面波として利用してもよい。
これにより、本発明の一態様に係る弾性波フィルタによれば、レイリー波又はラブ波により発生する高次モードによる減衰特性の劣化を抑制できる。
また、本発明の一態様に係るマルチプレクサは、上記の弾性波フィルタと、共通接続点である前記第1入出力端子で前記弾性波フィルタに接続され、前記弾性波フィルタの通過帯域よりも高い周波数を通過帯域とするフィルタと、を備える。
これにより、弾性波フィルタの減衰特性を改善できるマルチプレクサを提供できる。具体的には、弾性波フィルタの減衰特性が改善されることで、共通接続点で当該弾性波フィルタに接続され、当該弾性波フィルタの通過帯域よりも高い周波数を通過帯域とするフィルタの通過特性を改善できる。
本発明に係る弾性波フィルタ及びマルチプレクサによれば、減衰特性を改善できる。
図1は、実施の形態に係るマルチプレクサの一例を示す構成図である。 図2は、実施の形態に係る弾性波フィルタの共振子を模式的に表す平面図及び断面図である。 図3は、比較例1に係る弾性波フィルタの通過特性及び比較例2に係る弾性波フィルタの通過特性を示す図である。 図4は、実施例に係る弾性波フィルタの通過特性、比較例1に係る弾性波フィルタの通過特性及び比較例3に係る弾性波フィルタの通過特性を示す図である。 図5は、図4に示すスプリアスの低域側の減衰スロープ周辺を拡大した図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下で説明する実施の形態は、いずれも包括的又は具体的な例を示すものである。以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置及び接続形態などは、一例であり、本発明を限定する主旨ではない。以下の実施の形態における構成要素のうち、独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。また、図面に示される構成要素の大きさ、又は大きさの比は、必ずしも厳密ではない。また、各図において、実質的に同一の構成に対しては同一の符号を付しており、重複する説明は省略又は簡略化する場合がある。また、以下の実施の形態において、「接続される」とは、直接接続される場合だけでなく、他の素子等を介して電気的に接続される場合も含まれる。
(実施の形態)
実施の形態に係るマルチプレクサ1について、図1から図5を用いて説明する。
[1.マルチプレクサの基本構成]
まず、実施の形態1に係るマルチプレクサ1の構成について図1を用いて説明する。
図1は、実施の形態1に係るマルチプレクサ1の一例を示す構成図である。なお、図1には、マルチプレクサ1の共通接続点Nに接続されたアンテナ素子ANT及びインダクタLantも図示されている。アンテナ素子ANTは、高周波信号を送受信する、例えばLTE(Long Term Evolution)等の通信規格に準拠したマルチバンド対応のアンテナである。
マルチプレクサ1は、通過帯域が互いに異なる複数のフィルタを備え、これらのフィルタのアンテナANT側の端子が共通接続点である第1入出力端子20に共通に接続された分波・合波器である。本実施の形態では、マルチプレクサ1は、4つのフィルタを備えるクアッドプレクサである。図1に示されるように、マルチプレクサ1は、弾性波フィルタ10、フィルタ100〜300を備える。マルチプレクサ1のアンテナANTとは反対側(図1の右側)には、例えば、スイッチ回路、又は、パワーアンプ、ローノイズアンプ等の増幅回路等を介してRF信号処理回路(RFIC:Radio Frequency Integrated Circuit)が接続される。
弾性波フィルタ10は、ラダー型の弾性波フィルタであって、第1入出力端子20と第2入出力端子21とを結ぶ経路にそれぞれ直列に接続された直列腕共振子S1〜S4と、当該経路とグランドとの間に接続された並列腕回路11〜14を備える。弾性波フィルタ10は、並列腕回路を3つ以上備えていればよく、本実施の形態では4つの並列腕回路を備える。並列腕回路11は、直列に接続された並列腕共振子P1とインダクタL1とを有する。同じように、並列腕回路12は、直列に接続された並列腕共振子P2とインダクタL2とを有し、並列腕回路13は、直列に接続された並列腕共振子P3とインダクタL3とを有し、並列腕回路14は、直列に接続された並列腕共振子P4とインダクタL4とを有する。弾性波フィルタ10は、このようなラダー型のフィルタ構造を有することで、弾性波フィルタ10の通過特性を細かく調整することが可能となる。
直列腕共振子S1〜S4及び並列腕共振子P1〜P4は、例えば、SAW共振子であり、圧電体層を有する基板と当該基板上に形成されたIDT電極とで構成される。各共振子の構造については、後述する図2で詳細に説明する。
弾性波フィルタ10は、例えば、バンドパスフィルタ(BPF)であり、LTEのBand3の送信帯域(1710−1785MHz)を通過帯域とするフィルタである。
インダクタL1〜L4は、並列腕共振子P1〜P4に直列に接続されることで、弾性波フィルタ10の通過帯域を調整することが可能となる。具体的には、各並列腕共振子に直列に接続された各インダクタによって、インダクタンス値が大きいほど各並列腕共振子の共振周波数を低域側へ移動させることができ、通過帯域の帯域幅を広くすることができる。
フィルタ100は、共通接続点である第1入出力端子20で弾性波フィルタ10を含む他のフィルタに接続され、第1入出力端子20と第3入出力端子22とを結ぶ経路に設けられている。フィルタ100は、弾性波フィルタ10の通過帯域よりも高い周波数を通過帯域とするフィルタである。フィルタ100は、例えば弾性波フィルタであるが、LC共振回路から構成されるフィルタであってもよい。フィルタ100は、例えば、BPFであり、LTEのBand1の受信帯域(2110−2170MHz)を通過帯域とするフィルタである。
フィルタ200は、共通接続点である第1入出力端子20で弾性波フィルタ10を含む他のフィルタに接続され、第1入出力端子20と第4入出力端子23とを結ぶ経路に設けられている。フィルタ200は、例えば弾性波フィルタであるが、LC共振回路から構成されるフィルタであってもよい。フィルタ200は、例えば、BPFであり、LTEのBand1の送信帯域(1920−1980MHz)を通過帯域とするフィルタである。
フィルタ300は、共通接続点である第1入出力端子20で弾性波フィルタ10を含む他のフィルタに接続され、第1入出力端子20と第5入出力端子24とを結ぶ経路に設けられている。フィルタ300は、例えば弾性波フィルタであるが、LC共振回路から構成されるフィルタであってもよい。フィルタ200は、例えば、BPFであり、LTEのBand3の受信帯域(1805−1880MHz)を通過帯域とするフィルタである。
弾性波フィルタ10は、LiNbOからなる圧電体層を伝搬するレイリー波、又は、LiNbOからなる圧電体層を伝搬するラブ波を弾性表面波として利用する。これらの弾性表面波を利用する際に、高次モードも同時に発生する。弾性波共振子に高次モードが発生することで、当該弾性波共振子のインピーダンス特性が弾性波フィルタ10の減衰帯域における特定の周波数で局所的に変化してスプリアスが発生し、弾性波フィルタ10の減衰特性が劣化する。これにより、例えば、スプリアスが発生した周波数と、弾性波フィルタ10の通過帯域よりも高い周波数を通過帯域とするフィルタ(例えばフィルタ100)の通過帯域とが重複した場合、当該フィルタの通過帯域における通過特性が劣化することがある。
インダクタLantは、第1入出力端子20とグランドとの間に接続されている。これにより、アンテナ素子ANTと、弾性波フィルタ10及びフィルタ100〜300とのインピーダンス整合が行われる。
[2.共振子の基本構造]
次に、弾性波フィルタ10を構成する各共振子(直列腕共振子及び並列腕共振子)の基本構造について説明する。
図2は、実施の形態に係る弾性波フィルタ10の共振子を模式的に表す平面図及び断面図である。同図には、弾性波フィルタ10を構成する複数の共振子のうち、並列腕共振子P1の構造を表す平面摸式図及び断面模式図が例示されている。なお、図2に示された並列腕共振子P1は、上記複数の共振子の典型的な構造を説明するためのものであって、電極を構成する電極指の本数や長さなどは、これに限定されない。
図2の平面図に示されるように、並列腕共振子P1は、互いに対向する一対の櫛歯状電極11a及び11bを有する。また、図示していないが、並列腕共振子P1は、さらに、一対の櫛歯状電極11a及び11bに対して弾性波の伝搬方向に隣り合って配置された反射器を有する。一対の櫛歯状電極11a及び11bは、IDT電極を構成している。
櫛歯状電極11aは、櫛歯形状に配置され、互いに平行な複数の電極指110aと、複数の電極指110aのそれぞれの一端同士を接続するバスバー電極111aとで構成されている。また、櫛歯状電極11bは、櫛歯形状に配置され、互いに平行な複数の電極指110bと、複数の電極指110bのそれぞれの一端同士を接続するバスバー電極111bとで構成されている。複数の電極指110a及び110bは、弾性波伝搬方向の直交方向に延びるように形成されている。
なお、櫛歯状電極11a及び11bは、上記構成に限られず、例えば、オフセット電極指を有していてもよい。また、並列腕共振子P1は、バスバー電極111a及び111bが弾性波伝搬方向に対して傾斜している、いわゆる傾斜IDTを有していてもよい。さらには、電極指110a及び110bが所定の間隔で間引かれた、いわゆる間引き電極を有していてもよい。
また、複数の電極指110a及び110b、ならびに、バスバー電極111a及び111bで構成されるIDT電極は、図2の断面図に示されるように、密着層51と主電極層52との積層構造となっている。
密着層51は、圧電基板50と主電極層52との密着性を向上させるための層であり、材料として、例えば、Tiが用いられる。主電極層52は、材料として、例えば、Cuを1%含有したAlが用いられる。保護層53は、IDT電極を覆うように形成されている。保護層53は、主電極層52を外部環境から保護する、周波数温度特性を調整する、及び、耐湿性を高めるなどを目的とする層であり、例えば、二酸化ケイ素を主成分とする膜である。
なお、密着層51、主電極層52及び保護層53を構成する材料は、上述した材料に限定されない。さらに、IDT電極は、上記積層構造でなくてもよい。IDT電極は、例えば、Ti、Al、Cu、Pt、Au、Ag、Pdなどの金属又は合金から構成されてもよく、また、上記の金属又は合金から構成される複数の積層体から構成されてもよい。また、保護層53は、形成されていなくてもよい。
圧電基板50は、IDT電極ならびに反射器が主面上に配置された圧電性基板であり、例えば、LiNbOからなる基板である。
弾性波共振子の波長とは、図2に示されるIDT電極を構成する複数の電極指110a又は110bの繰り返し周期である波長λで規定される。また、電極指の繰り返しピッチPは、波長λの1/2であり、櫛歯状電極11a及び11bを構成する電極指110a及び110bのライン幅をWとし、隣り合う電極指110aと電極指110bとの間のスペース幅をSとした場合、(W+S)で定義される。
本実施の形態では、3つ以上の並列腕回路(ここでは並列腕回路11〜14)が有する並列腕共振子P1〜P4のそれぞれのIDT電極を構成する複数の電極指の繰り返しピッチPは、互いに異なる。また、3つ以上の並列腕回路(ここでは並列腕回路11〜14)が有する並列腕共振子P1〜P4のうち繰り返しピッチPが最も大きい並列腕共振子に接続されたインダクタのインダクタンス値は、3つ以上の並列腕回路が有するインダクタL1〜L4のインダクタンス値の中で最も小さい。これらについては、後述する図3〜図5で詳細に説明する。
[3.弾性波フィルタの通過特性]
次に、比較例1〜3に係る弾性波フィルタと、実施例に係る弾性波フィルタ10の通過特性について説明する。なお、比較例1〜3の弾性波フィルタの回路構成は、図1に示される弾性波フィルタ10の回路構成と同じであり、それぞれ直列腕共振子S1〜S4及び並列腕共振子P1〜P4を備え、並列腕共振子P1〜P4にはインダクタL1〜L4が直列に接続されている。
表1に、比較例1の各共振子の繰り返しピッチ及び比較例2の各共振子の繰り返しピッチを示す。なお、比較例1及び2では、インダクタL1〜L4のインダクタンス値は、全て1.5nHと同じ値である。
Figure 2019004364
表1に示されるように、比較例1では、並列腕共振子P1〜P4のそれぞれのIDT電極を構成する複数の電極指の繰り返しピッチPは、互いに異なる。一方、比較例2では、並列腕共振子P1〜P4のそれぞれのIDT電極を構成する複数の電極指の繰り返しピッチPは、互いに同じである。このときの比較例1に係る弾性波フィルタの通過特性と比較例2に係る弾性波フィルタの通過特性について図3を用いて説明する。
図3は、比較例1に係る弾性波フィルタの通過特性と比較例2に係る弾性波フィルタの通過特性を示す図である。図3に示されるように、2200−2300MHz付近において高次モードによるスプリアスが発生していることがわかる。図3において丸で囲った箇所に示されるように、比較例2の繰り返しピッチPが互いに同じ場合には、比較例1の互いに異なるときと比べてスプリアスが大きくなっていることがわかる。これは、繰り返しピッチPが互いに同じ場合、並列腕共振子P1〜P4の***振周波数は重なってしまい、それに伴い、高次モードの周波数が一点に集中するためスプリアスが大きくなってしまうためである。比較例1では、並列腕共振子P1〜P4の繰り返しピッチが互いに異なるため、高次モードの周波数が一点に集中しにくくなりスプリアスを小さくすることができる。
このように、並列腕回路11〜14が有する並列腕共振子P1〜P4のそれぞれのIDT電極を構成する複数の電極指の繰り返しピッチPが互いに異なることで、高次モードによるスプリアスを小さくでき、弾性波フィルタの減衰特性を改善できる。
なお、繰り返しピッチPが互いに異なるとは、例えば、各並列腕共振子のうち、最も小さい繰り返しピッチPに対して最も大きい繰り返しピッチPが0.3%以上異なっており、その範囲内で各並列腕共振子の繰り返しピッチPが互いに異なっていることを意味する。これにより、スプリアスを1.0dB以上小さくすることができる。
また、並列腕共振子P1〜P4の繰り返しピッチPが互いに異なるときの影響を説明するために、比較例1及び比較例2では、インダクタL1〜L4のインダクタンス値をそれぞれ同じ値にしている。一方、本実施の形態では、繰り返しピッチPの最も大きい並列腕共振子に直列に接続されたインダクタのインダクタンス値を並列腕回路11〜14が有するインダクタL1〜L4のインダクタンス値の中で最も小さくする。
表2に、実施例、比較例1及び比較例3のインダクタL1〜L4のインダクタンス値を示す。なお、実施例及び比較例3では、各共振子の繰り返しピッチPは、表1に示される比較例1におけるものと同じである。つまり、実施例及び比較例3についても、並列腕共振子P1〜P4のそれぞれのIDT電極を構成する複数の電極指の繰り返しピッチPは、互いに異なる。
Figure 2019004364
表2に示されるように、実施例では、並列腕共振子P1〜P4のうち繰り返しピッチPが最も大きい並列腕共振子P4に接続されたインダクタL4のインダクタンス値は、並列腕回路11〜14が有するインダクタL1〜L4のインダクタンス値の中で最も小さい。なお、表2における実施例に示されるように、繰り返しピッチPが最も大きい並列腕共振子P4以外にも、インダクタンス値が最も小さいインダクタが接続された並列腕共振子があってもよい。実施例では、並列腕共振子P2およびP3に接続されたインダクタL2およびL3もインダクタンス値が最も小さくなっている。比較例1では、上述したように、インダクタL1〜L4のインダクタンス値は全て同じ値である。比較例3では、並列腕共振子P1〜P4のうち繰り返しピッチPが最も大きい並列腕共振子P4に接続されたインダクタL4のインダクタンス値は、他の並列腕共振子に接続されたインダクタのインダクタンス値よりも大きい。
このときの実施例に係る弾性波フィルタ10の通過特性、比較例1に係る弾性波フィルタの通過特性、及び、比較例3に係る弾性波フィルタの通過特性について図4及び図5を用いて説明する。
図4は、実施例に係る弾性波フィルタ10の通過特性、比較例1に係る弾性波フィルタの通過特性及び比較例3に係る弾性波フィルタの通過特性を示す図である。図5は、図4に示すスプリアスの低域側の減衰スロープ周辺を拡大した図である。ここでの減衰スロープは、図4及び図5に示されるように、2200MHz周辺で周波数が低くなるにつれて挿入損失が大きくなっている箇所である。
比較例1では、インダクタL1〜L4のインダクタンス値は全て同じ値である。これに対して、実施例では、インダクタL1のインダクタンス値は2.5nHであり、インダクタL2〜L4のインダクタンス値は1.5nHである。比較例3では、インダクタL4のインダクタンス値は2.5nHであり、インダクタL1〜L3のインダクタンス値は1.5nHである。図5において丸で囲った箇所に示されるように、実施例は、比較例1に比べて減衰スロープの急峻度が高くなっている(言い換えると、スプリアスの裾が狭くなっている)。一方、比較例3は、比較例1に比べて減衰スロープの急峻度が低くなっている(言い換えると、スプリアスの裾が広がっている)。
これは、繰り返しピッチPによって、弾性波フィルタの高次モードの周波数が決まり、繰り返しピッチPが大きい(つまり波長が大きい)並列腕共振子に直列に接続されたインダクタは、高次モードによるスプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度に、より大きな影響を与えるためである。つまり、比較例3のように、繰り返しピッチPが大きい並列腕共振子P4に直列に接続されたインダクタL4のインダクタンス値が他の並列腕共振子P1〜P3に直列に接続されたインダクタL1〜L3のインダクタンス値よりも大きい場合、スプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度が低くなってしまい(言い換えると、スプリアスの裾が広がってしまい)、弾性波フィルタの減衰特性が劣化してしまう。これに対して、実施例のように、繰り返しピッチPが最も大きい並列腕共振子P4に接続されたインダクタL4のインダクタンス値は、並列腕回路11〜14が有するインダクタL1〜L4のインダクタンス値の中で最も小さいことで、スプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度を高くすることができる。
このように、並列腕回路11〜14が有する並列腕共振子P1〜P4のうち繰り返しピッチPが最も大きい並列腕共振子P4に接続されたインダクタL4のインダクタンス値が、並列腕回路11〜14が有するインダクタL1〜L4のインダクタンス値の中で最も小さいことで、スプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度を高くすることができるため、弾性波フィルタの減衰特性を改善できる。
以上により、並列腕共振子P1〜P4のそれぞれのIDT電極を構成する複数の電極指の繰り返しピッチPが互いに異なることで、共通接続点である第1入出力端子20で弾性波フィルタ10に接続され、弾性波フィルタ10の高次モードによるスプリアスが発生している周波数帯域を通過帯域とするフィルタの通過特性が劣化することを抑制できる。また、並列腕共振子P1〜P4のうち繰り返しピッチPが最も大きい並列腕共振子P4に接続されたインダクタL4のインダクタンス値が、並列腕回路11〜14が有するインダクタL1〜L4のインダクタンス値の中で最も小さいことで、第1入出力端子20で弾性波フィルタ10に接続され、弾性波フィルタ10の高次モードによるスプリアスの低域側の減衰スロープに近い周波数帯域を通過帯域とするフィルタの通過特性が劣化することを抑制できる。例えば、フィルタ100は、LTEのBand1の受信帯域(2110−2170MHz)を通過帯域とするため、当該減衰スロープの急峻度が高くなることで、フィルタ100の通過特性が劣化することを抑制できる。このように、共通接続点である第1入出力端子20で弾性波フィルタ10に接続され、弾性波フィルタ10の通過帯域よりも高い周波数を通過帯域とするフィルタの通過特性が劣化することを抑制できる。また、例えば、当該スプリアスが発生している周波数帯域周辺における他の通信の質が劣化することを抑制できる。
なお、並列腕回路11〜14において、繰り返しピッチPが大きい並列腕共振子ほど、インダクタンス値の小さいインダクタが接続されることが好ましい。つまり、弾性波フィルタ10において、繰り返しピッチPが大きい順序は並列腕共振子P4、P2、P3、P1の順序となるため、インダクタL4、L2、L3、L1の順序でインダクタンス値が小さいことが好ましい。これは、並列腕回路11〜14のうち繰り返しピッチPが大きい並列腕共振子ほど、高次モードによるスプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度に影響を与えやすいためである。例えば、並列腕共振子P1〜P4のうち2番目に繰り返しピッチPの大きい並列腕共振子P2に接続されたインダクタL2は、高次モードによるスプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度に影響を与えやすい。したがって、インダクタL2のインダクタンス値は、繰り返しピッチPの大きさが3番目以降の並列腕共振子P3、P1に接続されたインダクタL3、L1のインダクタンス値よりも小さいことで、スプリアスの低域側の減衰スロープの急峻度が低くなることを抑制でき、弾性波フィルタの減衰特性をより改善できる。
(その他の実施の形態)
以上、本発明の実施の形態に係る弾性波フィルタ及びマルチプレクサについて、上記実施の形態を挙げて説明したが、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではない。上記実施の形態における任意の構成要素を組み合わせて実現される別の実施の形態や、上記実施の形態に対して本発明の主旨を逸脱しない範囲で当業者が思いつく各種変形を施して得られる変形例も本発明に含まれる。
例えば、上記実施の形態では、弾性波フィルタ10は、4つの直列腕共振子S1〜S4を備えたが、1〜3つ又は5つ以上の直列腕共振子を備えていてもよい。また、弾性波フィルタ10は、3つ以上の並列腕回路に加え、インダクタが接続されず並列腕共振子が接続された並列腕を有していてもよい。
また、例えば、弾性波フィルタ10、フィルタ100〜300の通過帯域は、上述した通過帯域に限らない。
また、例えば、マルチプレクサ1は、クアッドプレクサに限らず、少なくとも弾性波フィルタ10及びフィルタ100を備える、デュプレクサ又はトリプレクサ等であってもよい。
また、例えば、弾性波フィルタ10は、マルチプレクサ1に適用されなくてもよい。
また、例えば、上記実施の形態では、弾性波フィルタ10は、レイリー波又はラブ波を弾性表面波として利用したが、リーキー波を利用してもよい。なお、弾性波フィルタ10がリーキー波を利用した場合でも、高次モードが発生するが、本発明によれば、リーキー波により発生する高次モードによる減衰特性の劣化を抑制できる。
弾性波フィルタ10がリーキー波を弾性表面波として利用する場合、各共振子を構成する圧電基板50は、高音速支持基板と、低音速膜と、圧電膜とがこの順で積層された積層構造を有する。圧電膜は、例えば、50°YカットX伝搬LiTaO圧電単結晶又は圧電セラミックス(X軸を中心軸としてY軸から50°回転した軸を法線とする面で切断したタンタル酸リチウム単結晶、又はセラミックスであって、X軸方向に弾性表面波が伝搬する単結晶又はセラミックス)からなる。圧電膜は、例えば、厚みが600nmである。高音速支持基板は、低音速膜、圧電膜及びIDT電極を支持する基板である。高音速支持基板は、さらに、圧電膜を伝搬する表面波や境界波の弾性波よりも、高音速支持基板中のバルク波の音速が高速となる基板であり、弾性表面波を圧電膜及び低音速膜が積層されている部分に閉じ込め、高音速支持基板より下方に漏れないように機能する。高音速支持基板は、例えば、シリコン基板であり、厚みは、例えば200μmである。低音速膜は、圧電膜を伝搬するバルク波よりも、低音速膜中のバルク波の音速が低速となる膜であり、圧電膜と高音速支持基板との間に配置される。この構造と、弾性波が本質的に低音速な媒質にエネルギーが集中するという性質とにより、弾性表面波エネルギーのIDT電極外への漏れが抑制される。低音速膜は、例えば、二酸化ケイ素を主成分とする膜であり、厚みは、例えば670nmである。この積層構造によれば、圧電基板50を単層で使用している構造と比較して、共振周波数及び***振周波数におけるQ値を大幅に高めることが可能となる。すなわち、Q値が高い弾性表面波共振子を構成し得るので、当該弾性表面波共振子を用いて、挿入損失が小さいフィルタを構成することが可能となる。
なお、高音速支持基板は、支持基板と、圧電膜を伝搬する表面波や境界波の弾性波よりも、伝搬するバルク波の音速が高速となる高音速膜とが積層された構造を有していてもよい。この場合、支持基板は、サファイア、リチウムタンタレート、リチュウムニオベイト、水晶等の圧電体、アルミナ、マグネシア、窒化ケイ素、窒化アルミニウム、炭化ケイ素、ジルコニア、コージライト、ムライト、ステアタイト、フォルステライト等の各種セラミック、ガラス等の誘電体又はシリコン、窒化ガリウム等の半導体及び樹脂基板等を用いることができる。また、高音速膜は、窒化アルミニウム、酸化アルミニウム、炭化ケイ素、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素、DLC膜又はダイヤモンド、上記材料を主成分とする媒質、上記材料の混合物を主成分とする媒質等、様々な高音速材料を用いることができる。
本発明は、マルチバンドシステムに適用できる弾性波フィルタ及びマルチプレクサとして、携帯電話などの通信機器に広く利用できる。
1 マルチプレクサ
10 弾性波フィルタ
11〜14 並列腕回路
11a、11b 櫛歯状電極
20 第1入出力端子
21 第2入出力端子
22 第3入出力端子
23 第4入出力端子
24 第5入出力端子
50 圧電基板
51 密着層
52 主電極層
53 保護層
100、200、300 フィルタ
110a、110b 電極指
111a、111b バスバー電極
P1〜P4 並列腕共振子
S1〜S4 直列腕共振子
L1〜L4、Lant インダクタ
ANT アンテナ素子

Claims (4)

  1. ラダー型の弾性波フィルタであって、
    第1入出力端子と第2入出力端子とを結ぶ経路とグランドとの間に接続された並列腕回路を3つ以上備え、
    前記3つ以上の並列腕回路はそれぞれ、直列に接続された並列腕共振子とインダクタとを有し、
    前記並列腕共振子は、圧電体層を有する基板と当該基板上に形成されたIDT電極とで構成され、
    前記3つ以上の並列腕回路が有する並列腕共振子のそれぞれの前記IDT電極を構成する複数の電極指の繰り返しピッチは、互いに異なり、
    前記3つ以上の並列腕回路が有する並列腕共振子のうち前記繰り返しピッチが最も大きい並列腕共振子に接続されたインダクタのインダクタンス値は、前記3つ以上の並列腕回路が有するインダクタのインダクタンス値の中で最も小さい、
    弾性波フィルタ。
  2. 前記3つ以上の並列腕回路において、前記繰り返しピッチが大きい並列腕共振子ほど、インダクタンス値の小さいインダクタが接続される、
    請求項1に記載の弾性波フィルタ。
  3. 前記弾性波フィルタは、LiNbOからなる前記圧電体層を伝搬するレイリー波、又は、LiNbOからなる前記圧電体層を伝搬するラブ波を弾性表面波として利用する、
    請求項1又は2に記載の弾性波フィルタ。
  4. 請求項1〜3のいずれか1項に記載の弾性波フィルタと、
    共通接続点である前記第1入出力端子で前記弾性波フィルタに接続され、前記弾性波フィルタの通過帯域よりも高い周波数を通過帯域とするフィルタと、を備える、
    マルチプレクサ。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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