JP2018205108A - 製品の欠陥検出方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】非線形位置合せを使用して製品の欠陥を正確かつ迅速に検出することが可能な製品の欠陥検出方法を提供する。【解決手段】無欠陥の正常製品を複数撮影してこれら撮影画像を非線形位置合せによって合成し、合成画像中で輝度が上限値より高い領域と輝度が下限値より低い領域をマスキングした基準画像を作成し、当該基準画像と、正常製品と同種の、検査対象製品を撮影して得られた検査画像とを非線形位置合せによって比較してその差分画像より検査対象製品の欠陥の有無を検出する【選択図】 図3
Description
本発明は製品の欠陥検出方法に関し、特にCCDカメラ等の画像を使用した製品欠陥の検出に好適に使用できる方法に関するものである。
CCDカメラ等でライン上を移動する製品の欠陥を検出する場合、検出領域に到来した製品の位置決め誤差や製品の個体差等に起因して、欠陥検出が正確にできないという問題があった。なお、特許文献1には、良品とされる画像群に基づいて、検査対象物の欠陥部分を検出するための欠陥閾値および良否判定を行うための判定閾値を設定するようにした外観検査装置が提案されている。
そこで本発明は、検出領域に到来した製品の位置決め誤差や製品の個体差等によらずに、製品の欠陥を正確に検出することが可能な製品の欠陥検出方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本第1発明では、無欠陥の正常製品を複数撮影してこれら撮影画像を非線形位置合せしたのち合成し、合成画像中で輝度が上限値より高い領域と輝度が下限値より低い領域をマスキングした基準画像を作成し、当該基準画像と、正常製品と同種の、検査対象製品を撮影して得られた検査画像とを非線形位置合せによって比較してその差分画像より検査対象製品の欠陥の有無を検出する。
本第1発明によれば、正常製品を複数撮影し合成した合成画像の中で、輝度が上限値と下限値を越える領域をマスキングによって排除して基準画像を作成しているから、適正な基準画像に基づいて正確かつ迅速に製品欠陥を検出することができる。
本第2発明では、前記上限値と下限値の間の輝度を示す領域のうち、相対的に輝度が低い領域についてさらに前記撮影画像の位置合せを行って前記基準画像とする。
本第2発明によれば、さらに適正な基準画像が得られるから、当該基準画像に基づいてさらに正確かつ迅速な製品欠陥の検出が可能になる。
以上のように、本発明の製品の欠陥検出方法によれば、非線形位置合せを使用して製品の欠陥を正確かつ迅速に検出することができる。
図1には本発明方法を実施する欠陥検出装置の構成を示す。欠陥検出装置は画像保存装置1および判定装置2で構成されている。ライン上を移動する製品(図示略)は所定の検査領域で一時的に停止させられ、CCD1で撮影される。撮影された画像は画像保存装置2の画像保存サーバ21に蓄積される。当該保存サーバ21には画像確認用のモニタ22が付設されている。
撮影画像は判定装置3を構成するクライアントPC31に送られてRAW画像に変換される。クライアントPC31にはモニタ32、データベース用サーバ33および外部記憶装置(NAS)34が接続されている。以下、クライアントPC31で実行される処理を図2のフローチャートに従って説明する。
図2のステップ101でRAW画像ファイルを読み込み、ステップ102では各製品のRAW画像について非線形位置合せ画像を生成する。非線形位置合せ画像を生成するに際しては例えば、検査対象の各製品のRAW画像(検査画像)にテンプレート関心領域(ROI)を設定するとともに、これと同種の無欠陥の正常製品を予め撮影して得られたRAW画像(基準画像)に探索関心領域(ROI)を設定する。
この場合、探索ROIはテンプレートROIより大きく設定され、テンプレートROIを探索ROI内で移動させつつ両領域の相互相関値を計算する。そして相互相関値が最大となる領域が互いに対応する領域であるとして非線形位置合せを行う。この操作は例えば特開2005−176402号公報に説明されている公知の方法である。
ここで、本実施形態における上記基準画像の作成方法を図3のフローチャートを参照しつつ以下に説明する。最初に、複数(多ければ多いほど良いが例えば100)の無欠陥の正常製品を撮影し、これら撮影画像D1,D2,…Dn-1,Dn(図4)を非線形位置合わせによって合成する(ステップ201)。合成画像中で輝度が上限値より高い領域(図5のX領域)については、ハレーション等によって白抜けした検査不感帯としてマスキングする(ステップ202,204)。また、合成画像中で輝度が下限値より低い領域(図6のY領域)も検査不感帯としてマスキングする(ステップ203,204)。
そして、本実施形態では、輝度の下限値と上限値の間にさらに判定閾値を設定し、当該判定閾値よりも輝度が低い領域(図6のZ領域)についてはミクロ的な線形位置合せあるいは非線形位置合せを行った後にこれを基準画像として採用する(ステップ205,206,207)。なお、このような領域が生じる原因は、多数の撮影画像を合成する際に互いに位置ずれを生じるからである。一方、判定閾値以上の輝度を有する残る領域についてはそのまま基準画像として採用する。
なお、図8、図9、図10に示すように、基準画像の輝度で100%を最大として30%〜75%を閾値範囲とし、その上限値を75%、下限値を30%として、X領域、Y領域、Z領域を特定する。具体的には、輝度が上限値より高い領域(図5のX領域)は図8のX領域に該当し、輝度が下限値より低い領域(図6のY領域)は図9のY領域に該当する。輝度の下限値と上限値の間にさらに判定閾値を設定して、当該判定閾値よりも輝度が低い領域(図6のZ領域)は図9のZ領域に該当する。そして、図10は図8と図9を合成したものである。また、図9では基準画像の輝度において、100%を最大として輝度の下限値と上限値の間にさらに判定閾値を設定した場合の上限値を75%、下限値を50%とし、図6のZ領域は下限値50%以下となっている。
なお、ステップ204でマスキングされた領域については、当該領域を別角度から撮影した撮影画像(図7)について上記ステップ201〜207を行って基準画像を作成する。図2のステップ103では、以上の処理で生成された基準画像を使用して欠陥検出を行う。この欠陥検出は、ステップ102で得られた非線形位置合せ画像について基準画像との差分画像(非線形位置合せ差分画像)を算出し生成するものである。差分画像の生成に当たっては、背景輝度の補正を行ったのち、所定のスレッショールド値で二値化する。そして二値化された画像中に残った図形のピクセル数を解析し、ピクセル数が所定値以上の場合に上記図形を欠陥と判定する。
1…CCD、2…画像保存装置、3…判定装置、31…クライアントPC。
Claims (2)
- 無欠陥の正常製品を複数撮影してこれら撮影画像を非線形位置合せしたのち合成し、合成画像中で輝度が上限値より高い領域と輝度が下限値より低い領域をマスキングした基準画像を作成し、当該基準画像と、正常製品と同種の、検査対象製品を撮影して得られた検査画像とを非線形位置合せによって比較してその差分画像より検査対象製品の欠陥の有無を検出することを特徴とする製品の欠陥検出方法。
- 前記上限値と下限値の間の輝度を示す領域のうち、相対的に輝度が低い領域についてさらに前記撮影画像の位置合せを行って前記基準画像とする請求項1に記載の製品の欠陥検出方法。
Priority Applications (1)
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JP2017110622A JP2018205108A (ja) | 2017-06-05 | 2017-06-05 | 製品の欠陥検出方法 |
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JP2017110622A JP2018205108A (ja) | 2017-06-05 | 2017-06-05 | 製品の欠陥検出方法 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110737253A (zh) * | 2019-10-15 | 2020-01-31 | 浙江隐齿丽医学技术有限公司 | 具有自动适配功能的备膜装置、自动适配***及方法 |
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2017
- 2017-06-05 JP JP2017110622A patent/JP2018205108A/ja active Pending
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