JP2018186930A - 眼科撮影装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 被検眼の眼底を効率よく撮影し、良好な断層像を得ることができる眼科撮影装置を提供する。【解決手段】 被検眼に照射された測定光と参照光によるＯＣＴ信号を検出するＯＣＴ光学系を有し、ＯＣＴ信号を処理することで被検眼のＯＣＴ画像データを取得する眼科撮影装置であって、被検眼の前眼部断面画像データを取得する取得手段と、取得手段によって取得された前眼部断面画像データに基づいて、測定光の走査位置を設定する走査位置設定手段と、ＯＣＴ光学系を制御し、走査位置設定手段によって設定された走査位置において、被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを取得する制御手段と、を備える。【選択図】 図１

Description

本開示は、被検眼の断層像を撮影する眼科撮影装置に関する。

被検眼の断層像を撮影する眼科撮影装置として、低コヒーレント光を用いた光断層干渉計（Optical Coherence Tomography: OCT）が知られている（特許文献１参照）。

特開２００８−２９４６７号公報

ところで、白内障等の疾患を患う被検眼には、その角膜や水晶体に混濁が生じている場合がある。例えば、このような被検眼に対しては、上記の装置を用いて被検眼の眼底に向けて測定光を入射させても、混濁部によって測定光が反射し、眼底の断層像を上手く撮影できないことがあった。

本開示は、上記従来技術に鑑み、被検眼の眼底を効率よく撮影し、良好な断層像を得ることができる眼科撮影装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するため、本開示は以下の構成を備えることを特徴とする。

（１） 本開示の第１態様に係る眼科撮影装置は、被検眼に照射された測定光と参照光によるＯＣＴ信号を検出するＯＣＴ光学系を有し、前記ＯＣＴ信号を処理することで被検眼のＯＣＴ画像データを取得する眼科撮影装置であって、被検眼の前眼部断面画像データを取得する取得手段と、前記取得手段によって取得された前記前眼部断面画像データに基づいて、前記測定光の走査位置を設定する走査位置設定手段と、前記ＯＣＴ光学系を制御し、前記走査位置設定手段によって設定された前記走査位置において、前記被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを取得する制御手段と、を備えることを特徴とする。
（２） 本開示の第２態様に係る眼科撮影装置は、被検眼に照射された測定光と参照光によるＯＣＴ信号を検出するＯＣＴ光学系を有し、前記ＯＣＴ信号を処理することで被検眼のＯＣＴ画像データを取得する眼科撮影装置において用いられる眼科撮影プログラムであって、前記眼科撮影装置のプロセッサによって実行されることで、被検眼の前眼部断面画像データを取得する取得ステップと、前記取得ステップによって取得された前記前眼部断面画像データに基づいて、前記測定光の走査位置を設定する走査位置設定ステップと、前記ＯＣＴ光学系を制御し、前記走査位置設定ステップによって設定された前記走査位置において、前記被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを取得する制御ステップと、を前記眼科撮影装置に実行させることを特徴とする。

本実施例に係る眼科撮影装置の外観構成図である。 本実施例に係る眼科撮影装置の光学系及び制御系を示す概略構成図であって、眼底撮影時の光学配置を示している。 本実施例に係る眼科撮影装置の光学系及び制御系を示す概略構成図であって、前眼部撮影時の光学配置を示している。 走査部を拡大して示す図である。 前眼部撮影時におけるＯＣＴ光学系の位置関係を示す図である。 眼底撮影時におけるＯＣＴ光学系の位置関係を示す図である。 制御動作を説明するためのフローチャートである。 被検眼の前眼部観察像を示す図である。 アライメント制御について説明する図である。 前眼部の正面画像データを示す図である。 混濁部の位置を特定する解析マップの一例を示す図である。 アライメント許容範囲を説明する図である。 被検眼における位置ずれの補正について説明する図である。

＜概要＞
以下、典型的な実施形態の１つについて、図面を参照して説明する。図１〜図１１は、本実施形態に係る眼科撮影装置を説明する図である。本実施形態においては、被検眼の水平方向をＸ方向、鉛直方向をＹ方向、軸方向をＺ方向として説明する。眼底の表面方向をＸＹ方向として考えてもよい。なお、以下の＜＞にて分類された項目は、独立または関連して利用され得る。

なお、本開示は、本実施例に記載する装置に限定されない。例えば、下記実施形態の機能を行う端末制御ソフトウェア（プログラム）を、ネットワークまたは各種記憶媒体等を介してシステムあるいは装置に供給し、システムあるいは装置の制御装置（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出して実行することも可能である。

例えば、本実施例における眼科撮影装置（例えば、眼科撮影装置１）は、ＯＣＴ光学系（例えば、ＯＣＴ光学系２）を有し、ＯＣＴ信号を処理することで被検眼のＯＣＴ画像データを取得する。例えば、ＯＣＴ光学系（ＯＣＴデバイス）は、フーリエドメイン光コヒーレンストモグラフィー（ＦＤ−ＯＣＴ）を基本的構成としてもよい。例えば、ＦＤ−ＯＣＴとしては、スペクトルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ）を用いてもよい。また、例えば、ＯＣＴデバイスは、タイムドメインＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）を基本構成としてもよい。なお、例えば、本開示の技術は、被検物の反射強度を検出するためのスダンダートＯＣＴ、被検物のモーションコントラストデータを検出するためのＯＣＴアンジオグラフィー（例えば、ドップラーＯＣＴ）、偏光感受ＯＣＴ（ＰＳ−ＯＣＴ：Polarization Sensitive OCT）等において適用されてもよい。また、スダンダートＯＣＴとＰＳ−ＯＣＴとが複合されたマルチファンクションＯＣＴにおいて適用されてもよい。

＜ＯＣＴ光学系＞
例えば、ＯＣＴ光学系は、被検眼に照射された測定光と参照光によるＯＣＴ信号を検出する。また、例えば、ＯＣＴ光学系は、被検眼の第１深度帯に対応する第１位置（例えば、被検眼の前眼部等）と、被検眼の第１深度帯とは異なる第２深度帯に対応する第２位置（例えば、被検眼の眼底等）と、におけるＯＣＴ画像データを取得できる。

なお、被検眼の前眼部は、ＯＣＴ光学系を用いて、その画像データを取得する構成であってもよい。もちろん、被検眼の前眼部は、ＳＬＯ（Scanning Laser Ophthalmoscope）やシャインプルークカメラ等を用いて、その画像データを取得する構成であってもよい。すなわち、被検眼に光束を照射し、被検眼からの反射光を受光する受光素子を有し、受光素子からの受光信号に基づいて、被検眼の正面像を得るものを利用してもよい。

例えば、ＯＣＴ光学系は、ＯＣＴ原理を用いて被検物の断層像を得るための干渉計に係る構成を備えていてもよい。例えば、ＯＣＴ光学系は、光源（例えば、光源１１）、分割器（例えば、カップラー１５）、コンバイナ（光合成器）（例えば、カップラー１５）、検出器（例えば、検出器４０）、参照光学系（例えば、参照光学系３０）を備えていてもよい。

例えば、分割器は、光源からの光を測定光と参照光に分割してもよい。例えば、コンバイナは、測定光と参照光とを合成（干渉）させてもよい。例えば、分割器とコンバイナは兼用されてもよい。また、例えば、分割器とコンバイナは別途設けられてもよい。例えば、分割器及びコンバイナには、ビームスプリッタ、ハーフミラー、ファイバーカップラー、サーキュレータ等のいずれかを用いてもよい。

例えば、検出器は、測定光と参照光との干渉により生じた干渉信号光を受光してもよい。例えば、参照光学系は、参照光を装置内で進行させ、測定光と干渉させるための構成を備えていてもよい。

＜測定光学系＞
例えば、測定光学系（例えば、測定光学系２０）は、測定光を被検眼の第１深度帯に対応する第１位置へ導くための構成であってもよい。また、例えば、測定光学系は、測定光を被検眼の第２深度帯に対応する第２位置へ導くための構成であってもよい。例えば、測定光学系は、走査部（光スキャナー）（例えば、走査部２４）を備えていてもよい。例えば、走査部は、測定光を被検眼の第１深度帯に対応する第１位置上で走査する。また、例えば、走査部は、測定光を被検眼の第２深度帯に対応する第２位置上で走査する。例えば、走査部は、互いに異なる方向へ測定光を偏向する２つの光スキャナ（例えば、ガルバノミラー２４１、ガルバノミラー２４２）を含んでいてもよい。例えば、走査部に含まれる光スキャナには、ＭＥＭＳスキャナ、レゾナントスキャナ、ポリゴンミラー等の反射型スキャナや、音響光学素子を用いてもよい。すなわち、走査部に含まれる光スキャナは、測定光を偏向することが可能なスキャナであればよい。

＜ＯＣＴ画像データ＞
例えば、ＯＣＴ画像データは、被検眼の反射強度特性を示す断層画像データ、被検眼のＯＣＴアンジオ画像データ（例えば、ＯＣＴモーションコントラスト画像データ）、被検眼のドップラー特性を示すドップラーＯＣＴ画像データ、被検眼の偏光特性を示す偏光特性画像データ、等の少なくともいずれかであってもよい。なお、各データは、生成された画像のデータであってもよいし、画像が生成される前の信号データであってもよい。

例えば、断層画像データは、Ａスキャン断層画像データであってもよい。また、例えば、断層画像データは、Ｂスキャン断層画像データであってもよい。なお、例えば、Ｂスキャン断層画像データは、走査ライン（横断位置）に沿って測定光をＸＹ方向のいずれかの方向（例えば、Ｘ方向）に走査させることによって取得される断層画像データであってもよい。また、例えば、断層画像データは、三次元断層画像データであってもよい。なお、例えば、三次元断層画像データは、測定光を二次元的に走査することによって取得される断層画像データであってもよい。例えば、ＯＣＴ画像データは、三次元断層画像データから取得されるＯＣＴ正面（Ｅｎｆａｃｅ）画像データ（例えば、深さ方向に関して積算された積算画像、ＸＹ各位置でのスペクトルデータの積算値、ある一定の深さ方向におけるＸＹ各位置での輝度データ、網膜表層画像、等）であってもよい。

例えば、ＯＣＴアンジオ画像データは、二次元ＯＣＴアンジオ画像データであってもよい。なお、例えば、二次元ＯＣＴアンジオ画像データは、走査ライン（横断位置）に沿って測定光をＸＹ方向のいずれかの方向（例えば、Ｘ方向）に走査させることによって取得されるＯＣＴアンジオ画像データであってもよい。また、例えば、ＯＣＴアンジオ画像データは、三次元ＯＣＴアンジオ画像データであってもよい。なお、例えば、三次元ＯＣＴアンジオ画像データは、測定光を二次元的に走査することによって取得されるＯＣＴアンジオ画像データであってもよい。また、例えば、ＯＣＴアンジオ画像データは、三次元モーションコントラストデータから取得される正面（Ｅｎ ｆａｃｅ）モーションコントラストデータであってもよい。

例えば、ＯＣＴ画像データは、被検眼の前眼部に対するＯＣＴ画像データ（前眼部ＯＣＴ画像データ）であってもよい。例えば、前眼部ＯＣＴ画像データは、前眼部断面画像データであってもよい。すなわち、前眼部断面画像データは、被検眼の角膜前面から水晶体後面までの間における断面画像データであってもよい。また、例えば、ＯＣＴ画像データは、被検眼の眼底に対するＯＣＴ画像データ（眼底ＯＣＴ画像データ）であってもよい。

例えば、本実施例において、眼科撮影装置は、被検眼の前眼部断面画像データを取得する取得手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。また、例えば、眼科撮影装置は、取得手段によって取得された前眼部断面画像データに基づいて、測定光の走査位置を設定する走査位置設定手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。また、例えば、眼科撮影装置は、ＯＣＴ光学系を制御し、走査位置設定手段によって設定された走査位置において、被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを取得する制御手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。このような構成によって、検者は、被検眼の前眼部と眼底におけるそれぞれの画像データを効率よく取得することができる。

＜走査位置設定手段＞
例えば、走査位置設定手段は、前眼部断面画像データを処理することによって、混濁部の二次元分布を示す解析情報を取得してもよい。例えば、走査位置設定手段は、前眼部断面画像データを処理することで、被検眼の深さ方向に対する解析情報を取得する構成であってもよい。また、例えば、走査位置設定手段は、前眼部断面画像データを積算した正面画像データを処理することによって、被検眼の上下左右方向に対する解析情報を取得する構成であってもよい。

例えば、解析情報は、前眼部断面画像データを解析処理することによって取得される二次元分布（解析マップ）であってもよい。なお、解析マップは、信号データであってもよいし、信号データが画像化された画像データであってもよい。

例えば、解析情報は、前眼部断面画像データの輝度分布を示す情報であってもよい。例えば、輝度分布を示す情報は、前眼部断面画像データを二値化処理することによって取得される二値化マップであってもよい。例えば、二値化マップは、前眼部断面画像データの画素ごとに輝度値を検出することで取得してもよいし、ＸＹＺ方向のいずれか一方向に対する輝度の立ち上がりや立ち下がりを検出することによって取得してもよい。二値化マップを取得する場合には、所定の輝度値が検出された場合と、検出されなかった場合と、で二値化処理がされるようにしてもよい。

また、例えば、解析情報は、混濁部を特定した混濁マップであってもよい。例えば、混濁マップは、前眼部断面画像データの輝度値を検出し、検出した輝度値に基づいて、混濁部の判定処理をすることで、取得されてもよい。例えば、混濁マップは、前眼部断面画像データから検出された輝度値が、所定の輝度値を満たすか否かを判定することによって、混濁部の判定を行うようにしてもよい。なお、判定処理に用いられる所定の輝度値は、予め、実験やシミュレーションによって取得されるようにしてもよい。なお、混濁マップは、他の解析情報に基づいて取得されるようにしてもよい。この場合には、例えば、二値化マップに基づいて、混濁部の判定処理を行うようにしてもよい。

なお、例えば、上記のようにして取得された解析情報は、モニタに表示されるようにしてもよい。

例えば、走査位置設定手段は、解析情報に基づいて、ＯＣＴ光学系における測定光の走査位置を設定する。例えば、このような構成によって、検者は、被検眼に生じた混濁部の位置を容易に判断することができる。また、検者は、測定光の走査位置を容易に設定することができる。

例えば、走査位置設定手段は、解析情報に基づいて光透過領域を特定し、光透過領域をＯＣＴ光学系における測定光が通過するように、ＯＣＴ光学系における測定光の走査位置を設定するようにしてもよい。これによって、検者は、被検眼に生じた混濁部を回避するように、測定光の走査位置を容易に設定することができる。

例えば、走査位置設定手段は、ＯＣＴ光学系における測定光の被検眼への入射位置を設定することで、測定光の走査位置を設定してもよい。例えば、走査位置の設定には、測定光の入射位置の設定と、測定光の入射角度（走査角度）の設定と、測定光の走査範囲の設定と、の少なくともいずれかが含まれる。例えば、走査位置設定手段は、これらの設定の少なくともいずれかを行ってもよいし、これらの設定を組み合わせて行ってもよい。例えば、走査位置設定手段は、走査位置を設定する構成として、ＯＣＴ光学系を移動させてもよい。また、走査位置を設定する構成として、ＯＣＴ光学系が備える光学部材を移動させてもよい。また、走査位置を設定する構成として、ＯＣＴ光学系の光路中に光学部材を挿脱してもよい。このような構成によって、検者は、被検眼の混濁部を回避するように測定光の被検眼への入射位置を設定し、効率よく眼底撮影を行うことができる。

＜被検眼とＯＣＴ光学系のアライメント＞
例えば、アライメント検出手段（例えば、制御部７０）は、被検眼とアライメント基準位置との位置ずれに基づいて、被検眼とＯＣＴ光学系の光軸とのアライメント状態を検出する。例えば、この場合、アライメント基準位置が設定され、アライメント基準位置からのずれ量が検出されることで、被検眼のアライメント状態が検出されてもよい。なお、アライメント基準位置には、アライメントの適否を判断するための許容範囲が設けられていてもよい。また、被検眼とアライメント基準位置との位置ずれが検出された場合には、位置ずれに基づいてＯＣＴ光学系における光軸の位置を補正するようにしてもよい。

例えば、アライメント状態の検出には、被検眼の前眼部観察像（例えば、前眼部観察像６０）を解析処理して用いてもよい。例えば、この場合、被検眼の角膜に形成された指標像が前眼部観察像から検出される構成であってもよい。また、例えば、前眼部における各部位（例えば、黒目部分、虹彩部分、瞳孔部分、強膜部分（白目部分）等）が前眼部観察像から検出される構成であってもよい。なお、前眼部観察像の解析処理は、指標像や各部位を画像処理によって検出できる処理であればよい。

また、例えば、アライメント検出手段は、走査位置設定手段によって設定された入射位置に測定光が照射されるように、アライメント基準位置を設定する構成であってもよい。これによって、検者は、測定光を被検眼に対してより正確な位置に入射させることができる。

例えば、アライメント制御手段（例えば、制御部７０）は、被検眼に対してＯＣＴ光学系を駆動させる駆動手段（例えば、移動台１０２、駆動部１０６）を駆動して、被検眼に対するＯＣＴ光学系の自動アライメントを行う構成であってもよい。例えば、この場合には、アライメント検出手段の検出結果に基づいて、アライメント基準位置の許容範囲内にＯＣＴ光学系の光軸が位置されるようにしてもよい。これによって、アライメントが精度よく行われ、検者は効率的に被検眼とＯＣＴ光学系とを位置合わせ（アライメント）することができる。

例えば、本実施例における眼科撮影装置は、前眼部断面画像データとして、ＯＣＴ光学系を制御して、第１位置において被検眼の前眼部ＯＣＴ画像データを取得するようにしてもよい。この場合には、例えば、取得手段が、第１位置における被検眼の前眼部ＯＣＴ画像データを取得してもよい。また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、ＯＣＴ光学系を制御して、第２位置において被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを取得するようにしてもよい。この場合には、例えば、制御手段が、第２位置における被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを取得してもよい。このような構成であることによって、新たな部材やアタッチメント等を必要とせず、深度帯が異なる部位を容易に撮影できるようになる。なお、例えば、第１位置における前眼部ＯＣＴ画像データと、第２位置における眼底ＯＣＴ画像データと、は異なるタイミングで取得する構成であってもよいし、同時に取得する構成であってもよい。この場合には、第１位置からの戻り光と参照光とが干渉した干渉信号と、第２位置からの戻り光と参照光とが干渉した干渉信号と、を同時に取得することができる光学系配置としてもよい。

また、例えば、制御手段は、取得手段によって前眼部ＯＣＴ画像を取得した後に、ＯＣＴ光学系を制御して、第２位置において被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを取得する構成であってもよい。これによって、検者は、被検眼の前眼部と眼底を連続して撮影し、効率よく測定を行うことができる。

例えば、本実施例における眼科撮影装置は、前眼部断面画像データに基づいて、測定光の走査位置を遂次設定するようにしてもよい。この場合には、例えば、取得手段が、被検眼の前眼部断面画像データをリアルタイムで取得するようにしてもよい。また、例えば、走査位置設定手段は、取得手段によってリアルタイムで取得された前眼部断面画像データに基づいて、測定光の走査位置を遂次設定してもよい。このような構成によって、所望する撮影部位に測定光が入射するように、走査位置が常に補正される。従って、検者は、眼底ＯＣＴ画像データをより正確に取得することができる。

例えば、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼の前眼部断面画像データとして、前眼部三次元断面画像データを取得してもよい。例えば、この場合には、取得手段が、被検眼の前眼部断面画像データとして、前眼部三次元断面画像データを取得する。このような構成によって、被検眼における混濁部の位置を、ＸＹ方向だけでなく、Ｚ方向においても特定することができる。従って、検者は、被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを精度よく取得することができる。

＜実施例＞
以下、本開示の実施例について図面を用いて説明する。図１は本実施例に係る眼科撮影装置１の外観構成図である。例えば、眼科撮影装置１は、基台１０１と、移動台１０２と、測定部１０３と、操作部材１０４と、顔支持ユニット１０５と、駆動部１０６と、モニタ７５と、を備える。例えば、移動台１０２は、基台１０１に対して左右方向（Ｘ方向）及び前後方向（Ｚ方向）に移動可能である。例えば、測定部１０３は後述する光学系を収納する。例えば、顔支持ユニット１０５は、被検者の顔を支持するために基台１０１に固設されている。例えば、駆動部１０６は、移動台１０２に対して上下方向（Ｙ方向）に移動可能である。例えば、モニタ７５は、後述するＯＣＴ画像データ等を表示する。

例えば、操作部材（ジョイスティック）１０４には、被検眼Ｅに対して測定部１０３を相対的に移動させる移動機構が設けられている。より詳細には、例えば、ジョイスティック１０４は、基台１０１上で移動台１０２をＸＺ方向に摺動させる図示なき摺動機構を備える。例えば、ジョイスティック１０４を操作すると、移動台１０２が基台１０１上をＸＺ方向に摺動する。また、ジョイスティック１０４には回転ノブが設けられている。例えば、ジョイスティック１０４を回転操作すると、駆動部１０６がＹ方向へ駆動し、測定部１０３がＹ方向に移動する。例えば、これによって、被検眼Ｅに対して測定部１０３を移動させることができる。

なお、本実施例においては、駆動部１０６によって測定部１０３をＹ方向へ移動させる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、測定部１０３には、測定部１０３をＸＹＺ方向に移動可能とする移動機構を設けてもよい。この場合には、例えば、被検眼Ｅに対して測定部１０３のＸＹＺ方向の移動機構が、測定部１０３を微動させる際に用いられ、移動台１０２の摺動機構が、測定部１０３を粗動させる際に用いられるようにしてもよい。

例えば、本実施例における眼科撮影装置１は、被検眼Ｅの深さ情報を取得する光断層干渉計（以下、ＯＣＴデバイス１と称す）である。例えば、ＯＣＴデバイス１は、フーリエドメイン光コヒーレンストモグラフィー（ＦＤ−ＯＣＴ：Fourier Domain OCT）であってもよいし、タイムドメインＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ：Time Domain OCT）であってもよい。ＦＤ−ＯＣＴとしては、スペクトルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ：Spectral Domain OCT）、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ：Swept Source OCT）が代表的であり、もちろん、それらの装置に対して本開示が適用され得る。

図２Ａ及び図２Ｂは、本実施例に係る眼科撮影装置１の光学系及び制御系を示す概略構成図である。図２Ａは眼底撮影時の光学配置を示し、図２Ｂは前眼部撮影時の光学配置を示している。図２Ａと図２Ｂに示すＯＣＴデバイス１は、主に、干渉光学系（ＯＣＴ光学系）２と、測定光学系（導光光学系）２０と、制御部７０と、を備える。本実施例におけるＯＣＴデバイス１は、さらに、固視標投影ユニット９０（第２光学系）と、記憶部（メモリ）７２と、操作部７４と、モニタ７５と、を備える。例えば、前述した測定部１０３には、ＯＣＴ光学系２と、測定光学系２０と、固視標投影ユニット９０と、が収納される。また、例えば、前述した移動台１０２には、制御部７０と、記憶部７２と、が収納される。

まず、ＯＣＴ光学系２について説明する。ＯＣＴ光学系２は、光源１１から発せられた光束を測定光と参照光に分割する。ＯＣＴ光学系２は、測定光を被検眼Ｅに導くと共に、参照光を参照光学系３０に導く。そして、ＯＣＴ光学系２は、被検眼Ｅに照射された測定光と参照光との干渉を検出器（光検出器）４０によって検出する。より具体的には、本実施例では、被検眼Ｅで反射（または後方散乱）された測定光、及び参照光の合成による干渉光が検出器４０によって検出され、干渉信号が取得される。

例えば、ＳＤ−ＯＣＴの場合、光源１１として低コヒーレント光源（広帯域光源）が用いられ、検出器４０には、干渉光を周波数成分に分光する分光光学系（スペクトルメータ）が設けられる。例えば、スペクトルメータは、回折格子とラインセンサからなる。

また、例えば、ＳＳ−ＯＣＴの場合、光源１１として出射波長を時間的に高速で変化させる波長走査型光源（波長可変光源）が用いられ、検出器４０には、例えば、単一の受光素子が設けられる。光源１１は、例えば、光源、ファイバーリング共振器、及び波長選択フィルタによって構成される。そして、波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたものが挙げられる。

ＯＣＴデバイス１では、測定光学系２０の光学配置が切り換わる。一例として、図２Ａに示す光学配置と、図２Ｂに示す光学配置とに切り換わってもよい。図２Ａ及び図２Ｂの光学配置では、ＯＣＴデバイス１によって断層像が撮像される部位の深度帯が互いに異なる。以下、本実施例においては、ＯＣＴデバイス１にＳＤ−ＯＣＴを適用した場合を例に挙げて説明する。

図２Ａと図２Ｂに例示するＯＣＴ光学系２は、光源１１と、光ファイバ１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄと、分割器１５と、参照光学系３０と、検出器４０と、を備える。

光源１１は、ＯＣＴ光学系２の測定光及び参照光として用いられる低コヒーレントの光を発する。光源１１としては、例えば、ＳＬＤ光源等が用いられてもよい。より詳細には、例えば、光源１１はλ＝８００ｎｍ〜１１００ｎｍの間に中心波長を持つ光を出射してもよい。光源１１からの光は、光ファイバ１５ａを介して、分割器１５へ導かれる。

なお、光ファイバ１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，１５ｄは、内部に光を通過させることで、分割器１５，光源１１，測定光学系２０，参照光学系３０，及び検出器４０等のそれぞれを繋ぐ。

分割器１５は、（光ファイバ１５ａを介して）光源１１から導かれた光を、測定光と参照光とに分割する。測定光は、光ファイバ１５ｂを通って、測定光学系２０へ導かれる。一方、参照光は、光ファイバ１５ｃ、及びポラライザ３１を介して、参照光学系３０へ導かれる。

図２Ａ，図２Ｂの例において、分割器１５は、被検眼Ｅへ導光された測定光の戻り光と、参照光との導光路を結合する結合部（コンバイナ）を兼用する（詳細は後述する）。このような分割器１５は、例えば、ファイバーカップラーであってもよい。以下、分割器１５をカップラー１５と示す。

便宜上、ここで、測定光学系２０について説明する。測定光学系２０は、例えば、測定光を被検眼Ｅに導く。一例として、図２Ａ，図２Ｂに示す測定光学系２０は、コリメータレンズ２１，光束径調節部２２，集光位置可変光学系（集光位置可変レンズ系）２３，走査部（光スキャナー）２４，ミラー２５，ダイクロイックミラー２６，及び対物光学系２７を有する。

コリメータレンズ２１は、光ファイバ１５ｂの端部１６ｂから出射される測定光をコリメートする。

光束径調節部２２は、ＯＣＴ光学系２と走査部２４（つまり、光スキャナ）との間の光路中に配置されており、その光路における測定光の光束径を変更するために利用される。図２Ａ，図２Ｂの例において、光束径調節部２２は、測定光学系２０におけるカップラー１５と、走査部２４と、の間の光路中に設けられる。光束径調節部２２は、例えば、挿脱機構によって光路から挿脱可能なアパーチャ、可変ビームエクスパンダ，及び開口の径を調整可能な可変アパーチャ等の少なくともいずれかであってもよい。例えば、本実施例において図２Ａ，図２Ｂに示す光束径調節部２２は、可変ビームエクスパンダである。図２Ａ，図２Ｂに示すように、可変ビームエクスパンダには、例えば、２つのレンズ２２ａ，２２ｂと、駆動部２２ｃと、が含まれてもよい。駆動部２２ｃは、互いのレンズ２２ａ，２２ｂにおける光軸方向の位置関係を、制御部７０からの制御信号に基づいて変更する。これにより、測定光の光束径（及び、開口数ＮＡ）が変更される。

集光位置可変光学系２３は、測定光の集光位置を、光軸Ｌ１方向に変更するために利用される。集光位置可変光学系２３は、少なくとも１つのレンズ２３ａを有し、レンズ２３ａを用いて測定光の集光位置を、光軸Ｌ１方向に関して調整する。図２Ａ，図２Ｂの例において、集光位置可変光学系２３は、カップラー１５と、走査部２４と、の間の光路中に設けられている。なお、本実施例では、光束径調節部２２と走査部２４との中間に集光位置可変光学系２３が配置される。しかし、光束径調節部２２と集光位置可変光学系２３の配置は、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、互いに置き換えられてもよい。また、両者の間にリレー光学系等が介在してもよい。レンズ２３ａは、光軸Ｌ１方向に関して、測定光の集光位置を定めるフォーカス光学系を構成する。集光位置可変光学系２３は、レンズ２３ａ単独で構成されてもよいし、レンズ２３ａと、それ以外の光学素子と共に構成されてもよい。集光位置可変光学系２３は、例えば、レンズ２３ａの屈折力，対物光学系２７とレンズ２３ａとの光軸Ｌ１方向に関する位置関係，のいずれかを調整する構成で実現される。なお、対物光学系２７とレンズ２３ａとの位置関係の調整は、例えば、光軸Ｌ１方向に関するレンズ２３ａの位置，レンズ２３ａと対物光学系２７ａとの間の光路長，及び，測定光路に対するレンズの挿脱，のいずれかによって実現されてもよい。この場合、レンズ２３ａを所期する方向に移動させる駆動部（アクチュエータ）が、制御部７０によって制御される。

図２Ａ，図２Ｂの例において、レンズ２３ａは、可変焦点レンズである。レンズ２３ａは、光軸Ｌ１に対して静止した状態で、焦点位置を変更可能である。レンズ２３ａは、制御部７０によって設定される印加電圧の大きさに応じて、屈折力を変化させる。典型的な可変焦点レンズとしては、液晶レンズ等が知られている。なお、屈折力可変のレンズとしては、液晶レンズに限られるものではなく、例えば、液体レンズ、非線形光学部材、分子部材、回転非対称な光学部材等であってもよい。

走査部２４は、測定光を走査するために、ＯＣＴ光学系からの測定光を偏向する光スキャナを有する。走査部２４は、例えば、２つのガルバノミラー２４１，２４２（光スキャナの一例）を有してもよい。図３の例において、２４１は、Ｘ走査用ガルバノミラーであり、２４２は、Ｙ走査用ガルバノミラーである。各ガルバノミラー２４１，２４２は、それぞれ、ミラー部２４１ａ，２４２ａと、それぞれの２４１ａ，２４２ａを回転させる駆動部２４１ｂ，２４２ｂ（例えば、モーター）を含んでいてもよい。制御部７０が、各々のガルバノミラー２４１，２４２の向きを独立に制御することで、測定光の進行方向を変更する。その結果、被検眼Ｅに対して、上下左右方向に測定光を走査することができる。なお、走査部２４は、ガルバノミラー２４１ｂ，２４２ｂ以外の光スキャナを用いることができる。例えば、反射型のスキャナ（例えば、ＭＥＭＳスキャナ、レゾナントスキャナ、ポリゴンミラー等）が用いられてもよいし、音響光学素子等が用いられてもよい。

図２Ａ，図２Ｂの例では、走査部２４によって進行方向が変えられた測定光は、各ミラー面が直角を挟んで配置されるミラー２５，及び，ダイクロイックミラー２６，のそれぞれで反射される。これにより、測定光は、走査部２４からの出射時とは反対向きに折り返される。その結果として、測定光が対物光学系２７へ導かれる。

本実施例において、対物光学系２７は、固定的に配置されている。より詳細には、対物光学系２７は、測定光学系２０において、走査部２４と被検眼Ｅとの間に配置されている。対物光学系２７は、光スキャナ（本実施例では、ガルバノミラー２４１，２４２）によって偏向された測定光を、被検眼Ｅに導く。本実施例において、対物光学系２７は、正のパワーを持つレンズ系（対物レンズ系）として形成されている。このため、走査部２４からの測定光は、対物光学系２７を通過することで、光軸Ｌ１側に折れ曲がる。なお、図２Ａ，図２Ｂでは、便宜上、対物光学系２７を、２枚のレンズ２７ａ，２７ｂからなる光学系として示しているが、対物光学系２７を構成するレンズの数は、これに限定されない。対物光学系２７は、１枚のレンズに置き換えてもよいし、３枚以上のレンズに置き換えてもよい（例えば、図４Ａ及び図４Ｂ参照）。また、対物光学系２７は、レンズ系に限られるものではなく、例えば、ミラー系であってもよいし、レンズとミラーとの組み合わせによる光学系であってもよいし、レンズ及びミラー以外の光学部材を含む光学系であってもよい。

このような測定光学系２０では、光ファイバ１５ｂの端部１６ｂから測定光が出射すると、コリメータレンズ２１によって測定光がコリメートされる。その後、測定光は、光束径調節部２２及び集光位置可変光学系２３を通過して、走査部２４に達する。測定光は、走査部２４に設けられた２つのガルバノミラーで反射された後、更に、ミラー２５及びダイクロイックミラー２６で反射される。その結果、測定光は、対物光学系２７に入射する。そして、測定光は、対物光学系２７を通過して、被検眼Ｅへ導光される。その後、測定光は、被検眼Ｅで反射または散乱され、その結果として、測定光学系２０を逆に辿って光ファイバ１５ｂの端部１６ｂに入射する。端部１６ｂに入射した測定光は、光ファイバ１５ｂを介して、カップラー１５に入射する。

ＯＣＴデバイス１は、駆動部（アクチュエータ）を備える。駆動部は、対物光学系２７に対する走査部２４（つまり、光スキャナであるガルバノミラー２４１，２４２）の相対位置であって、測定光学系２０の光軸Ｌ１方向に関する相対位置を変位させる。より詳細には、駆動部の駆動によって、対物光学系２７の後側焦点位置（又は、その共役位置）に対する走査部２４の相対位置が変更される。この相対位置の変位によって、測定光の旋回位置が光軸Ｌ１方向に関して変更される（詳細は後述する）。駆動部は、走査部２４、及び、対物光学系２７と走査部２４との間に配置される光学部材、の少なくとも一方を移動させることで、対物光学系２７に対する走査部２４の相対距離を変位させてもよい。図２Ａ，図２Ｂの例において、ＯＣＴデバイス１は、駆動部５０を有する。対物光学系２７と走査部２４との間隔（光路長）が、駆動部５０の駆動によって変更され、これにより、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置が変位される。この相対位置は、断層像が撮影される被検眼Ｅの深度帯と対応して変更される。

図２Ａ，図２Ｂの例において、駆動部５０は、それぞれのミラー面が直角を挟んで配置される２枚のミラー（ミラー２５及びダイクロイックミラー２６）を、所定の方向に一体的に移動させる。本実施例では、対物光学系２７の光軸方向に移動される。その結果、走査部２４から対物光学系２７までの光路長が変更される（例えば、図２Ａ→図２Ｂ，図２Ｂ→図２Ａ）。例えば、断層像が得られる深度帯を前眼部Ｅｃと眼底Ｅｒとの間で切り換える場合は、走査部２４から対物光学系２７までの光路長を比較的大きく変更する必要がある。これに対し、図２Ａの例において、走査部２４から出射した測定光は、２枚のミラーによって折り返されているので、２枚のミラーを移動させた場合、走査部２４から対物光学系２７までの光路長の変化（換言すれば、対物光学系２７に対する走査部２４の光軸Ｌ１方向に関する変位量）を、２枚のミラー２５，２６の移動量の２倍とることができる。故に、対物光学系２７に対する走査部２４の位置を、測定光学系２０の光軸Ｌ１方向に関して変位させるために必要なスペースを抑制できる。

また、図２Ａ，図２Ｂに示すように、ＯＣＴデバイス１は、対物光学系２７に対する走査部２４の位置を検出するためのセンサ５１を備えていてもよい。センサ５１としては、様々なデバイスを利用可能である。例えば、ポテンショメータ等のリニア変位センサがセンサ５１として適用されてもよい。

ここで、ＯＣＴ光学系２の説明に戻る。参照光学系３０は、参照光を生成する。参照光は、眼底Ｅｒによって反射された測定光の反射光と合成される光である。参照光学系３０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。図２Ａ，図２Ｂに例示する参照光学系３０は、反射光学系（例えば、参照ミラー３４）によって形成される。図２Ａ，図２Ｂの例では、カップラー１５からの光が、反射光学系によって反射されることで再度カップラー１５に戻され、結果として、検出器４０に導かれる。必ずしもこれに限られるものではなく、参照光学系３０は、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって形成されてもよい。この場合、参照光学系３０は、カップラー１５で分割された参照光を、カップラー１５へ戻さずに、透過させることで検出器４０へ導く。

図２Ａ，図２Ｂの例において、参照光学系３０は、分割器１５から、参照ミラー３４までの光路に、光ファイバ１５ｃ，光ファイバ１５ｃの端部１６ｃ，コリメータレンズ３３，参照ミラー３４，を有している。光ファイバ１５ｃは、参照光の偏光方向を変化させるため、駆動部３２により回転移動される。すなわち、光ファイバ１５ｃ及び駆動部３２は、偏光方向を調整するためのポラライザ３１として用いられる。なお、ポラライザとしては、上記構成に限定されず、測定光の光路または参照光の光路に配置されるポラライザを駆動させることにより、測定光と参照光の偏光状態を略一致させるものであればよい。例えば、１／２波長板や１／４波長板を用いることや光ファイバに圧力を加えて変形させることで偏光状態を変えるもの等が適用できる。

なお、ポラライザ３１（偏光コントローラ）は、測定光と参照光の偏光方向を一致させるために、測定光と参照光の少なくともいずれかの偏光方向を調整する構成であればよい。例えば、ポラライザ３１は、測定光の光路に配置された構成であってもよい。

また、参照ミラー３４は、参照ミラー駆動部３４ａによって、光軸方向Ｌ２に関して変位する。参照ミラー３４が変位することで、参照光の光路長が調整される。

光ファイバ１５ｃの端部１６ｃから出射した参照光は、コリメータレンズ３３で平行光束とされ、参照ミラー３４で反射される。その後、参照光はコリメータレンズ３３によって集光されて光ファイバ１５ｃの端部１６ｃに入射する。端部１６ｃに入射した参照光は、光ファイバ１５ｃ、光ファイバ３１（ポラライザ３１）を介して、カップラー１５に達する。

図２Ａ，図２Ｂの例では、参照ミラー３４で反射された参照光と、被検眼Ｅに導光された測定光の戻り光（つまり、被検眼Ｅで反射または散乱された測定光）とは、カップラー１５によって合成されて、干渉光とされる。この干渉光は、光ファイバ１５ｄを介して、端部１６ｄから出射される。その結果、干渉光が検出器４０に導かれる。

検出器（ここでは、スペクトロメータ部）４０は、周波数（波長）毎の干渉信号を得るために、参照光と測定光による干渉光を周波数（波長）毎に分光し、分光された干渉光を受光する。

図２Ａ，図２Ｂに示す検出器４０は、例えば、コリメータレンズ、グレーティングミラー（回折格子）、集光レンズ、等の光学系（いずれも図示せず）を含んでいてもよい。検出器４０の本体（受光素子部分）は、例えば、一次元受光素子（ラインセンサ）が適用されてもよい。検出器４０は、光源１１から出射される光の波長に対して、感度を有する。上述したように、光源１１から赤外域の光が出射される場合、赤外域の感度がある検出器４０を利用し得る。

端部１６ｂから出射された干渉光は、コリメータレンズ２１によって平行光とされ、その後、図示なきグレーティングミラーによって、周波数成分に分光される。そして、周波数成分に分光された干渉光は、図示なき集光レンズを介して、検出器４０の受光面に集光する。これによって、検出器４０上での干渉縞のスペクトル情報（スペクトル信号）が得られる。スペクトル情報は、制御部７０へ入力され、制御部７０において、フーリエ変換を用いて解析される。そして、解析結果として、被検眼Ｅの断層像が形成される。また、解析結果として、被検眼Ｅの深さ方向における情報が計測可能となる。

ここで、制御部７０は、走査部２４により測定光を被検眼Ｅの横断方向に走査することにで、断層像を取得できる。例えば、Ｘ方向もしくはＹ方向に走査することにより、被検眼眼底ＥｒのＸＺ面もしくはＹＺ面における断層像を取得できる（なお、本実施例においては、このように測定光を眼底Ｅｒに対して一次元走査し、断層像を得る方式をＢスキャンとする）。なお、取得された断層像は、制御部７０に接続された記憶部７２に記憶される。更に、走査部２４の駆動を制御して、測定光をＸＹ方向に二次元的に走査することにより、被検者眼眼底ＥｒのＸＹ方向に関する二次元動画像，及び，被検眼眼底Ｅｒの三次元画像を検出器４０からの出力信号に基づいて形成可能である。

次に、固視標投影ユニット９０について説明する。固視標投影ユニット９０は、被検眼Ｅの視線方向を誘導するための光学系を有する。固視標投影ユニット９０は、被検眼Ｅに呈示する固視標（固視光源９１）を有する。固視標投影ユニット９０は、複数の方向に被検眼Ｅを誘導する構成でもよい。ここで、ダイクロイックミラー２６は、ＯＣＴ光学系２の測定光として用いられる波長成分の光を透過し、固視標投影ユニット９０に用いられる波長成分の光を透過する特性を有する。故に、固視標投影ユニット９０から出射される固視標光束は、対物光学系２７を介して被検眼Ｅの眼底Ｅｒに照射される。これにより、被検者は固視が可能になる。

＜制御系＞
次に、ＯＣＴデバイス１の制御系を説明する。制御部（コントローラ）７０は、ＯＣＴデバイス１の各部を制御する。例えば、制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）及びメモリ等を含んで構成されてもよい。また、本実施例において、制御部７０は、例えば、検出器４０からの出力信号（つまり、干渉信号）を処理することによって、被検眼Ｅの深さ情報を取得する。深さ情報としては、断層像等の画像情報，被検眼Ｅの各部の寸法を示す寸法情報，測定光の照射部位における動き量を示す情報，偏光特性の情報を含む（複素数の）解析信号，等の少なくともいずれかであってもよい。本実施例では、制御部７０が、干渉信号に基づいて被検眼Ｅの断層像を形成する画像処理器を兼用している。また、本実施例の制御部７０は、断層像の形成以外にも、各種画像処理を行う。画像処理は、制御部７０に設けられた専用の電子回路（例えば、図示なき画像処理ＩＣ）によって行われてもよいし、プロセッサ（例えば、ＣＰＵ）によって行われてもよい。

制御部７０には、記憶部７２，操作部（ユーザインターフェイス）７４，及び，モニタ７５，が接続されている（図２Ａ及び図２Ｂ参照）。記憶部７２は、書き換え可能な非一過性の記憶媒体を含んでいてもよく、例えば、フラッシュメモリ及びハードディスク等のいずれかであってもよい。撮影及び測定の結果得られた画像及び測定データは、記憶部７２に保存される。ＯＣＴデバイス１における撮影シーケンスを規定するプログラム及び固定データは、この記憶部７２に記憶されていてもよいし、制御部７０内のＲＯＭに記憶されていてもよい。また、光源１１，検出器４０，及び，各種駆動部２２ｃ，２３ａ，２４１ａ，２４２ｂ，３２，３４ａ，５０のほか、センサ５１等が接続されている。

＜撮影深度帯の切換動作＞
次に、図４Ａ，図４Ｂを参照して、上記のような構成のＯＣＴデバイス１における、撮影深度帯の切換動作について説明する。本実施例では、撮影深度帯を切換えるために、制御部７０は、駆動部５０を制御し、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置を光軸Ｌ１方向に関して変位させる。旋回位置は、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置に応じて変位する。つまり、本実施例において、制御部７０は、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置を駆動部５０によって変更させ、その結果として、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置を光軸Ｌ１方向に関して調整する。その際、制御部７０は、測定光の旋回位置を、少なくとも、第１位置と、第２位置との間で変更する。第１位置は、被検眼Ｅの第１深度帯に対応し、第２位置は、第１深度帯とは異なる被検眼Ｅの第２深度帯に対応する。また、第２位置は、測定光学系の光軸方向（被検眼Ｅの深さ方向）に関して第１位置とは異なる。

また、第１位置と、第２位置とは、走査部２４から対物光学系２７における被検者側端部までの区間に形成される瞳のフーリエ変換像の数（又は、瞳像の数）が、互いに異なる旋回位置であってもよい。図４Ａ，図４Ｂにおいて、対物光学系２７における被検者側端部は、対物光学系２７において、最も被検眼Ｅの近くに配置されるレンズ面である。なお、仮に、対物光学系２７がミラー系である場合、最も被検眼Ｅの近くに配置されるミラー面が、被検者側端部である。第１位置と第２位置との間で旋回位置が切換わることで、上記区間における瞳のフーリエ変換像の数（又は、瞳像の数）の偶奇が切換わってもよい（詳細は後述する）。なお、このとき、瞳のフーリエ変換像の数，及び瞳像の数のうち、両方における偶奇が切換わってもよいし、一方だけが切換わってもよい。第１位置と第２位置とにおいて、上記区間における瞳のフーリエ変換像の数（又は、瞳像の数）の偶奇が切換わることで、例えば、第１位置と第２位置との一方では、前眼部の断層像が良好に撮像されやすくなり、他方では、眼底Ｅｒの断層像が良好に撮像されやすくなる。なお、瞳のフーリエ変換像は、瞳から出射される平行光束が集光する位置に形成される（例えば、図４ＢにおけるＦｒの位置）。

ここで、図４Ａは、前眼部（本実施例における第１深度帯）の撮影時における測定光学系２０の各部の位置関係を示す。図４Ｂは、眼底Ｅｒ（本実施例における第２深度帯）の撮影時における測定光学系２０の各部の位置関係を示す。なお、図４Ａ，図４Ｂでは、ミラー２５及びダイクロイックミラー２６の図示を省略している。なお、図４Ａ，図４Ｂにおいて、Ｆｆは、対物光学系２７の前側焦点を示し、Ｆｒは、対物光学系２７の後側焦点を示す。また、Ｉｃは、対物光学系２７に関し、被検眼Ｅの瞳孔と共役な位置を示している。

図４Ａ，図４Ｂの例において、制御部７０は、前眼部の撮影時と，眼底Ｅｒの撮影時と，において、駆動部５０を制御することで、測定光の旋回位置を光軸Ｌ１方向に関して切換える。このとき、対物光学系２７と走査部２４との相対位置の変更と連動して、制御部７０は、参照光学系３０における光路長を調整してもよい。また、このとき、制御部７０は、集光位置可変光学系２３を制御して、測定光の集光位置を切換えてもよい。また、更に、制御部７０は、光束径調節部２２を制御して、ＮＡを調節してもよい。このような走査部２４の位置変更（換言すれば、撮影深度帯の変更）は、例えば、操作部７４から制御部７０へ出力される切換信号に基づいて実行されてもよい。また、一連の撮影シーケンスにおいて、制御部７０が自動的に切換えを行ってもよい。以下、詳細を説明する。

＜前眼部撮影＞
図４Ａに示すように、前眼部撮影時において、制御部７０は、走査部２４を眼底撮影時（図４Ｂ参照）に対して対物光学系２７に近づける。結果、測定光の旋回位置を、瞳のフーリエ変換像の数が偶数となる位置に設定する。図４Ａの例では、瞳のフーリエ変換像の数は「０」である。この場合において、制御部７０は、走査部２４を、対物光学系２７の後側焦点位置Ｆｒに配置してもよい。例えば、制御部７０は、センサ５１の検出信号に基づいて、走査部２４を後側焦点位置Ｆｒへ位置決めする。位置決めの際、走査部２４を構成する光スキャナ（本実施例では、ガルバノミラー２４１，２４２）は、許容される測定精度（又は、断層像の画質）の範囲で、後側焦点位置Ｆｒの近傍に配置されることが望ましい。例えば、制御部７０は、２つの光スキャナ（本実施例では、ガルバノミラー２４１，２４２）の中間点Ｃｐ（図２参照）を、後側焦点位置Ｆｒに位置させてもよいし、いずれか一方の光スキャナの反射面を、後側焦点位置Ｆｒに位置させてもよい。もちろん、これら以外の配置もありうる。

走査部２４が対物光学系２７の後側焦点位置Ｆｒに配置された結果、対物光学系２７の物体側（被検眼側）において、測定光の主光線がテレセントリック（又は、略テレセントリック）となる。つまり、本実施例では、走査部２４と対物光学系２７からなる光学系（便宜上、スキャン光学系という）が、物体側テレセントリック光学系として形成される。この場合、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置（本実施例における第１位置）は、光軸Ｌ１上の無限遠点であるものと考えることができる。また、この場合、対物光学系２７の前面（つまり、最も被検眼側に配置されるレンズ面）から、被検眼Ｅの瞳孔面に照射される測定光の主光線は、走査部２４で反射される測定光の向きに関わらず、光軸Ｌ１と平行（略平行）となる。これにより、被検眼Ｅの位置の変化による撮影画像の倍率変化を低減させることができる。結果、撮影された前眼部断層像から、精度よく距離計測が行える。また、前眼撮影時にテレセントリックな測定光を照射することによって、被検眼Ｅの作動距離方向の位置ずれに起因する断層像の歪みが生じにくくなる。これによって、検者は、歪みの少ない断層像を観察することができ、断層像による診断を行い易くなる。更に、前眼部撮影時にテレセントリックな測定光を照射することによって、被測定部からの戻り光（反射光または後方散乱光）の回収効率が向上するため、画像の周辺部が暗くなることを低減できる。

なお、図４Ａの例では、テレセントリックな測定光を照射するために、駆動部５０の制御によって、走査部２４が対物光学系２７の後側焦点位置Ｆｒに配置される場合を例示したが、後側焦点位置Ｆｒとレンズ系等を関して共役な位置に走査部２４が配置されるように、駆動部５０が制御されてもよい。なお、本開示において、「共役」は、必ずしも光学的に完全な共役関係に限定されるものではない。本開示において、「共役」な関係は、完全な共役関係のほか、許容される測定精度（又は、断層像の画質）の範囲で完全な共役関係からずれた位置関係であってもよい。

また、本実施例では、制御部７０は、前眼部撮影時において、参照光学系３０の光路長を、前眼部から眼底Ｅｒまでの測定光の光路長に応じて、眼底撮影時に対して短く設定する。より詳細には、前眼部からの測定光の戻り光の光路長と、参照光学系３０の光路長とが同じになるように、参照光学系３０の光路長は調整される。これによって、測定光の戻り光と参照光とが良好に干渉した干渉信号が、検出器４０で良好に得られる。この干渉信号に基づいて制御部７０が画像を形成することによって、被検眼Ｅにおける前眼部Ｅｃの断層像が得られる。

また、図４Ａに示すように、制御部７０は、前眼部撮影時において、集光位置可変光学系２３を制御して、前眼部に測定光の集光位置を設定する。この場合、制御部７０は、レンズ２３ａから走査部２４へ入射する測定光が、若干拡散されるように、集光位置可変光学系２３を制御してもよい。具体例としては、制御部７０が、可変焦点レンズ（レンズ２３ａ）の屈折力を、負の値に設定してもよい。これにより、集光位置が、角膜前面と水晶体後面との中間（より好ましくは、水晶体前面と、水晶体後面の中間）に設定されることが好ましい。この場合、角膜面上に集光位置を設定する場合と比べて、断層像において比較的高い分解能を持つ領域が、より広くなる。

また、図４Ａに示すように、制御部７０は、前眼部撮影時において、光束径調節部２２を制御して、ＯＣＴ光学系２と走査部２４（つまり、光スキャナ）との間の光路における測定光の光束径を、眼底撮影時に対して細くする。これにより、被検眼Ｅに入射する光束のＮＡが小さくなる。つまり、対物光学系２７に関しての焦点深度が眼底撮影時に比べて増大される。結果、被検眼Ｅの深さ方向に関し、検出器４０からの干渉信号が良好に得られる範囲が広がる。よって、光干渉断層計１によって、前眼部の広範囲（例えば、角膜前面から水晶体後面まで）を良好に撮像しやすくなる。

＜眼底撮影＞
一方、図４Ｂに示すように、眼底撮影時において、制御部７０は、前眼部眼底撮影時（図４Ａ参照）に対して、走査部２４を対物光学系２７から遠ざける。その結果、測定光の旋回位置を、瞳のフーリエ変換像の数が奇数となる位置に設定する。図４Ｂの例では、瞳のフーリエ変換像の数は「１」である。この場合において、制御部７０は、走査部２４を、対物光学系２７に関して、被検眼Ｅの瞳孔と共役な位置Ｉｃに配置してもよい。例えば、制御部７０は、センサ５１の検出信号に基づいて、走査部２４を瞳孔共役位置Ｉｃへ位置決めする。例えば、走査部２４を構成する２つの光スキャナ（本実施例では、ガルバノミラー）の中間点Ｃｐ（図２参照）が対物光学系２７に関して瞳孔共役となるように、走査部２４は配置されてもよい。勿論、これ以外の配置もありうる。走査部２４が、瞳孔共役位置Ｉｃに配置されることによって、走査部２４の駆動に伴い、対物光学系２７の前面（最も被検眼側のレンズ面）から出た測定光が、瞳孔位置を中心（旋回点）として旋回する。つまり、この場合、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置（本実施例における第２位置）は、瞳孔位置に設定される。これにより、測定光のケラレを抑制しつつ、測定光を眼底Ｅｒで走査できるようになる。その結果、眼底Ｅｒの断層像を、眼底Ｅｒの広範囲において撮影可能となる。なお、本実施例において、眼底撮影時においては、走査部２４を瞳孔共役位置Ｉｃに配置する場合について説明したが、前眼部の所定部位と略共役な位置であればよく、例えば、角膜共役であってもよい。

また、本実施例において、制御部７０は、眼底撮影時において、参照光学系３０の光路長を、前眼部から眼底Ｅｒまでの測定光の光路長に応じて、前眼部撮影時に対して長く設定する。より詳細には、眼底Ｅｒからの測定光の戻り光の光路長と、参照光学系３０の光路長とが同じになるように、参照光学系３０の光路長は調整される。これによって、眼底Ｅｒからの測定光の戻り光と参照光とが良好に干渉した干渉信号が、検出器４０から良好に得られるようになる。この干渉信号に基づいて制御部７０が画像を形成することによって、被検眼Ｅにおける眼底Ｅｒの断層像が得られる。

図４Ｂに示すように、制御部７０は、眼底撮影時において、集光位置可変光学系２３を制御して、眼底Ｅｒに測定光の集光位置を設定する。この場合、制御部７０は、対物光学系２７における後側焦点位置Ｆｒにおいて、測定光が一旦集光するように、集光位置可変光学系２３を制御してもよい。例えば、制御部７０は、可変焦点レンズ（レンズ２３ａ）の屈折力を正の既定値に調整する。結果、測定光は、対物光学系２７によってコリメートされるので、屈折誤差がない被検眼Ｅであれば、眼底上で測定光が集光される。被検眼Ｅに屈折誤差がある場合は、その分だけ、制御部７０は集光位置をオフセットさせてもよい。結果として、眼底Ｅｒの断層像が、良好に取得されやすくなる。

また、図４Ｂに示すように、制御部７０は、眼底撮影時において、ＯＣＴ光学系２と走査部２４（つまり、光スキャナ）との間の光路における測定光の光束径を、前眼部撮影時に対して太くする。結果、対物光学系２７に入射する測定光のＮＡが大きくなるので、高解像の眼底断層像が得られやすくなる。なお、焦点深度は、前眼撮影時と比べて狭くなる。

このように、図４Ａ，図４Ｂの例において、制御部７０は、被検眼Ｅにおける測定光の旋回位置が第１位置に変位される場合、検出器４０からの出力信号に基づいて前眼部の断層像を生成する。また、測定光の旋回位置が第２位置に変位される場合、検出器４０からの出力信号に基づいて、制御部７０は、眼底Ｅｒの断層像を生成する。

前眼部Ｅｃの断層像と、眼底Ｅｒの断層像とが生成された場合において、制御部７０は、各断層像を、各断層像と対応する深度帯同士の距離（つまり、前眼部Ｅｃ（第１深度帯）と眼底Ｅｒ（第２深度帯）との距離）を示す距離情報に基づいて合成して、合成画像を生成してもよい。距離情報は、例えば、人眼における平均値，標準値等の固定値であってもよいし、眼軸長測定装置等の眼寸法測定装置によって得られた被検眼Ｅにおける実測値であってもよい。また、ＯＣＴデバイス１における検出器４０からの出力信号に基づいて距離情報を取得し、制御部７０が、この距離情報を用いて合成画像を生成してもよい。また、合成画像は、それぞれの断層像の全体を含む画像に限られるものではなく、それぞれの断層像の一部同士を合成した画像を示すものであってもよい。また、合成画像は、眼球を模した眼球モデル画像上に、各断層像が重畳された画像であってもよい。

また、本実施例では、対物レンズ系２７に対する走査部２４の相対位置が瞳共役位置Ｉｃに設定されることで、眼底Ｅｒの断層像が撮像可能となる。そこから、対物レンズ系２７の位置を固定したまま、走査部２４を対物光学系２７の後側焦点Ｆｒに設定すると、走査部２４と対物光学系２７からなるスキャン光学系が、物体側テレセントリック光学系となり、前眼部の断層像が撮像可能となる。このように、ＯＣＴデバイス１は、ワーキングディスタンス（例えば、被検眼Ｅの角膜から対物光学系２７における被検者側端部までの距離）を変えずに、前眼部の断層像と、眼底Ｅｒの断層像とを得ることができる。

また、本実施例では、制御部７０が集光位置可変光学系２３を制御することで、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置の変更と連動して測定光の集光位置を光軸Ｌ１方向に関して変更する。より詳細には、制御部７０は、測定光の集光位置を走査部２４の位置に対応する撮影深度帯に設定するように、集光位置可変光学系２３を制御する。即ち、制御部７０は、旋回位置が前眼部と対応する位置に変位される場合には、前眼部において測定光が集光するように、また、旋回位置が眼底Ｅｒと対応する位置に変位される場合には、眼底Ｅｒにおいて測定光が集光するように、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置と連動して集光位置可変光学系２３を制御する。その結果、各深度帯における断層像を良好に得ることができる。

また、本実施例のＯＣＴデバイス１は、対物光学系２７に対する走査部２４の相対位置の変更と連動して、制御部７０は、光束径調節部２２の駆動部５０（アジャスター）を制御する。これにより、ＯＣＴ光学系２と走査部２４（つまり、光スキャナ）との間の光路における測定光の光束径が、走査部２７の位置に応じて調整される。その結果、前述したように、本実施例では、撮影深度帯に応じた焦点深度が設定される。結果、断層像毎に、良好な解像度が得られる領域が深さ方向に関して適正に設定される。

＜制御動作＞
以下、図５に示すフローチャートを用いて、上記の構成を備えるＯＣＴデバイス１の制御動作を順に説明する。例えば、本実施例においては、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃと眼底Ｅｒとを連続的に撮影する前眼部・眼底撮影モードを設定した場合を例に挙げる。これによって、まず、制御部７０は、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃを撮影し、被検眼Ｅの前眼部ＯＣＴ画像データを取得するための設定を行う。なお、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃを撮影する前眼部撮影モードと、被検眼Ｅの眼底Ｅｒを撮影する眼底撮影モードと、はそれぞれ設けられていてもよい。この場合には、検者が撮影モードを切換えられる構成であってもよい。

例えば、検者は、固視標投影ユニット９０の固視標を注視するよう被検者に指示する。図示なき前眼部撮像光学系により被検眼Ｅの前眼部が検出されると、その前眼部観察像６０（図６参照）がモニタ７５に表示される。前眼部観察像６０上には、後述するアライメント指標像Ｍａ〜Ｍｈが現れている。例えば、この状態において、制御部７０は、移動台１０２及び駆動部１０６を制御し、測定部１０３を移動させることで、自動アライメントを開始する。

＜被検眼の前眼部に対するアライメント（Ｓ１）＞
例えば、制御部７０は、被検眼Ｅと後述するアライメント基準位置Ｏ１との位置ずれに基づいて、被検眼ＥとＯＣＴ光学系２における光軸Ｌ１とのアライメントを行う（Ｓ１）。図６は被検眼Ｅの前眼部観察像６０を示す図である。被検眼Ｅと測定光学系２０とのアライメント状態を検出する際には、図示なき指標投影光学系において光源が点灯する。これによって、被検眼Ｅには指標像Ｍａ〜Ｍｈがリング状に投影される。例えば、指標像Ｍａ及びＭｅは無限遠であり、指標像Ｍｈ及びＭｆは有限遠である。制御部７０は、指標像Ｍａ〜Ｍｈにおけるリング形状のＸＹ中心座標（図６に示す十字マーク）を略角膜頂点位置Ｋとして検出する。

例えば、被検眼Ｅの左右方向（Ｘ方向）及び上下方向（Ｙ方向）におけるアライメント状態は、予め設定されたアライメント基準位置Ｏ１（図７参照）を用いて判定される。例えば、本実施例においては、アライメント基準位置Ｏ１が、被検眼Ｅの略角膜頂点位置Ｋと光軸Ｌ１とが一致する位置に設定されている。

図７はアライメント制御について説明する図である。例えば、制御部７０は、検出した被検眼Ｅの略角膜頂点位置Ｋと、アライメント基準位置Ｏ１と、の偏位量Δｄを求めることによって、被検眼Ｅに対する光軸Ｌ１のＸＹ方向における位置ずれを検出する。例えば、被検眼Ｅに対してＸＹ方向の位置ずれが検出された場合、制御部７０は、偏位量Δｄが０となるようにＸ方向及びＹ方向のアライメントを調整する。すなわち、制御部７０は、被検眼Ｅの略角膜頂点位置Ｋと、アライメント基準位置Ｏ１と、が一致するように、Ｘ方向及びＹ方向のアライメントを調整する。

また、例えば、被検眼Ｅの前後方向（Ｚ方向）におけるアライメント状態は、前述した指標像を用いて判定される。例えば、本実施例においては、ＯＣＴデバイス１に対して被検眼Ｅが適切な位置にある場合（すなわち、被検眼Ｅに対してＺ方向の位置ずれがない場合）、無限遠の指標像ＭａからＭｅまでの像間隔ａと、有限遠の指標像ＭｈからＭｆまでの像間隔ｂと、がある一定の比率となるように設定されている。例えば、ＯＣＴデバイス１に対して被検眼Ｅが適切な位置にない場合（すなわち、被検眼Ｅに対してＺ方向の位置ずれがある場合）、無限遠の指標像ＭａからＭｅまでの像間隔ａはほとんど変化しないが、有限遠の指標像ＭｈからＭｆまでの像間隔ｂは変化する。例えば、制御部７０は、無限遠の指標像Ｍａ及びＭｅの像間隔ａと、有限遠の指標像Ｍｈ及びＭｆの像間隔ｂとの像比率（つまり、ａ／ｂ）を比較し、これが一定の比率となるようにＺ方向のアライメントを調整する。なお、上記構成の詳細については特開平６−４６９９９号公報を参照されたい。

例えば、制御部７０はこのようにして、被検眼Ｅに対してＯＣＴ光学系２を駆動させる。被検眼ＥとＯＣＴデバイス１とのＸＹＺ方向におけるアライメントが調整されると、制御部７０はアライメントが完了したと判断し、アライメント完了信号を出力する。

＜被検眼の前眼部撮影時における最適化制御（Ｓ２）＞
アライメント完了信号が出力されると、制御部７０は最適化を開始するためのトリガ信号を発し、最適化を開始する（Ｓ２）。例えば、最適化の制御を行うことによって、検者が所望する前眼部部位が高感度・高解像度で観察できるようになる。例えば、最適化の制御とは、光路長調整、フォーカス調整、偏光状態の調整（ポラライザ調整）である。

なお、例えば、本実施例においては、第１自動光路長調整、フォーカス調整、第２自動光路長調整、ポラライザ調整の順に最適化の制御が行われる。例えば、制御部７０は、参照ミラー３４の位置を初期位置に設定し、レンズ２３ａの屈折力を０Ｄにする。初期化が完了すると、制御部７０は、参照ミラー３４を初期位置から一方向に所定ステップで移動させ、第１光路長調整（第１自動光路長調整）を行う。第１光路長調整が完了すると、制御部７０は、被検眼Ｅの前眼部に合焦するようにレンズ２３ａの屈折力を変化させて、オートフォーカス調整（フォーカス調整）を行う。オートフォーカス調整が完了すると、制御部７０は参照ミラー３４を光軸Ｌ２方向に移動させ、光路長を再調整（光路長を微調整）するための第２光路長調整（第２自動光路長調整）を行う。第２光路長調整が完了すると、制御部７０は干渉光を強く受光できる位置（すなわち、測定光と参照光の偏光状態が合う位置）にポラライザ３１を移動させて、測定光の偏光状態を調整する。

＜前眼部三次元断面画像データの取得（Ｓ３）＞
例えば、制御部７０は、アライメント調整と最適化制御が行われた上記の状態において、ＯＣＴ光学系２を制御することにより、被検眼Ｅの第１深度帯に対応する第１位置（本実施例では、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃ）における被検眼Ｅの前眼部ＯＣＴ画像データを取得する（Ｓ３）。例えば、被検眼Ｅの前眼部ＯＣＴ画像データとしては、被検眼Ｅの前眼部断面画像データであってもよい。この場合、前眼部断面画像データは、二次元の断面画像データや三次元の断面画像データであってもよい。また、前眼部断面画像データは、これに基づいて積算された被検眼Ｅの正面画像データであってもよい。なお、例えば、本実施例では、被検眼Ｅの前眼部三次元断面画像データを取得し、これを用いる場合を例に挙げる。

なお、例えば、ＯＣＴデバイス１は、上記のような前眼部断面画像データとして、前眼部断面画像の信号（すなわち、画像化される前の信号）を用いる構成としてもよいし、前眼部断面画像を用いる構成としてもよい。

＜撮影部位の変更（Ｓ４）＞
被検眼Ｅにおける前眼部三次元断面画像データが取得されると、制御部７０は測定モードを自動的に切り換え、撮影部位を変更する（Ｓ４）。例えば、本実施例においては、被検眼Ｅの前眼部ＯＣＴ画像データを取得するための設定から、被検眼Ｅの眼底ＯＣＴ画像データを取得するための設定へと自動的に切り換わる。これによって、被検眼Ｅの撮影部位を前眼部Ｅｃから眼底Ｅｒに変更することができる。例えば、制御部７０は、撮影部位に変更にともなって、被検眼Ｅの眼底Ｅｒに対するアライメント及び最適化制御を実施する。

＜前眼部三次元断面画像データの解析（Ｓ５）＞
例えば、制御部７０は、取得した前眼部三次元断面画像データに基づいて、ＯＣＴ光学系２における測定光の走査位置を設定する。例えば、本実施例においては、制御部７０が前眼部三次元断面画像データを処理することによって、混濁部６５（図８参照）の二次元分布を示す解析情報を取得する（Ｓ５）。また、例えば、制御部７０は、混濁部６５の二次元分布を示す解析情報に基づいて、ＯＣＴ光学系２における測定光の走査位置を設定する（後述するＳ６参照）。以下、これについてより詳細に説明する。

例えば、制御部７０は、取得した前眼部三次元断面画像データを深さ方向に積算して、モニタ７５に前眼部Ｅｃの正面画像（Ｅｎ ｆａｃｅ画像）データ６２を表示してもよい。図８は前眼部の正面画像データ６２を示す図である。例えば、本実施例においては、ＯＣＴ撮影を利用して被検眼Ｅの前眼部三次元断面画像データを取得している。ＯＣＴ撮影は、被検眼Ｅにおける測定光の反射率に基づいて断層像を撮影するものである。被検眼Ｅに混濁が生じていた場合には、混濁部６５に入射した測定光が反射されるため、断層像上において混濁部６５が輝度の高い（明るい）像となって表れる。すなわち、前眼部Ｅｃの正面画像データ６２上では、混濁部６５が輝度の高い像として、混濁部でない部分（図８における斜線部）が輝度の低い（暗い）像として表れる。

なお、例えば、被検眼Ｅの眼底Ｅｒにおいて反射した測定光の戻り光に基づいて徹照像を撮影する場合（すなわち、徹照撮影を行う場合）には、測定光の戻り光が混濁部に遮られるため、徹照像上において混濁部が輝度の低い影となって表れる。

例えば、制御部７０は、解析処理を行うことによって、解析情報を取得する。なお、本実施例においては、解析情報として、混濁マップを取得する場合を例に挙げて説明する。初めに、例えば、制御部７０は、得られた前眼部Ｅｃの正面画像データ６２に対して二値化処理を行う。例えば、本実施例においては、制御部７０が前眼部Ｅｃの正面画像データ６２を画素位置ごとに分割し、それぞれの画素位置に対する輝度値を検出する。また、例えば、制御部７０は、検出された輝度値に基づいて、前眼部Ｅｃの正面画像データ６２を二値化処理するための閾値を設定する。例えば、このような閾値は、被検眼Ｅにおける前眼部の正面画像データごとに設定されてもよい。この場合には、全画素位置における輝度値の平均と標準偏差による統計情報を用いて閾値が設定されてもよいし、判別分析法を用いて閾値が設定されてもよい。また、例えば、このような閾値は、実験やシミュレーションによって、予め所定の閾値が設定されていてもよいし、検者が任意に設定することが可能な構成としてもよい。

例えば、制御部７０は、閾値以上の輝度値をもつ画素位置と、閾値未満の輝度値をもつ画素位置と、において、それぞれの輝度値を置き換える。例えば、この場合、輝度値が閾値以上の画素位置は、その輝度を最大の２５５（白色）に置き換えてもよい。また、輝度値が閾値未満の画素位置は、その輝度を最小の０（黒色）に置き換えてもよい。なお、輝度値は、閾値を境界として異なる２つの値を用いる構成であればよく、本実施例に限定されない。

例えば、二値化処理が完了すると、制御部７０は二値化処理の結果（二値化マップ）に基づいて混濁部６５を特定する。この場合、制御部７０は、輝度値が２５５に置き換えられた領域が混濁部６５に対応すると判断してもよい。また、制御部７０は、輝度値が０に置き換えられた領域は混濁部６５に対応しないと判断してもよい。

例えば、制御部７０は、上記のようにして取得された二値化マップを解析して、被検眼Ｅにおける混濁部６５の位置を特定できるような混濁マップを取得してもよい。なお、本実施例においては、混濁部６５の位置を特定する混濁マップを取得して、被検眼Ｅに対する測定光の走査位置を設定する場合を例に挙げる。例えば、図９は、混濁部６５の位置を特定する混濁マップ６３の一例である。例えば、混濁マップ６３には、被検眼Ｅにおける混濁部６５（図９における点線の内側）と、混濁部６５に対応しない領域（図９における点線の外側）と、が示されてもよい。

次いで、制御部７０は、取得した解析情報に基づいて、光透過領域６８を特定する。例えば、前述のように、被検眼Ｅに入射する測定光は混濁部６５によって反射されるため、本実施例では混濁部６５に対応しない領域が光透過領域６８として特定される。すなわち、制御部７０は、二値化処理において輝度値が０に置き換えられた画素位置を光透過領域６８として特定する。

なお、解析情報は、モニタ７５に表示される構成としてもよい。この場合、例えば、検者は、モニタ７５に表示された解析情報を観察し、走査位置を設定するようにしてもよい。

＜走査位置の設定（Ｓ６）＞
例えば、被検眼Ｅの略角膜頂点位置Ｋを通過する光軸Ｌ１上が光透過領域６８でない場合、制御部７０は、ＯＣＴ光学系２における測定光が光透過領域６８を通過するように、ＯＣＴ光学系２における測定光の走査位置を設定する（Ｓ６）。例えば、走査位置の設定としては、測定光の入射位置が設定されてもよいし、測定光の入射角度（走査角度）が設定されてもよいし、測定光の走査範囲が設定されてもよい。なお、被検眼Ｅにおける混濁部６５の位置や大きさ等に応じて、測定光の入射位置の設定、入射角度の設定、及び走査範囲の設定を組み合わせてもよい。もちろん、制御部７０は、測定光の入射位置の設定、入射角度の設定、及び走査範囲の設定の少なくともいずれかを行う構成としてもよい。例えば、本実施例では、制御部７０が被検眼Ｅに対してＯＣＴ光学系２における測定光の入射位置を設定することで、測定光の走査位置を設定する場合を例に挙げて説明する。

例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの略角膜頂点位置Ｋから、光透過領域６８でない領域（言い換えると、混濁部６５に対応すると判断された領域）の縁部６９までの距離を算出する。例えば、制御部７０は、略角膜頂点位置Ｋを基点として、３６０度すべての経線方向に対する縁部６９の座標位置（例えば、ピクセル座標）を取得する。例えば、略角膜頂点位置Ｋから経線方向へ１度刻みに座標位置を取得した場合、３６０個の点の座標位置を得ることができる。もちろん、縁部６９上において座標位置を取得する点の数は任意の数でもよく、３６０個に限定されない。例えば、制御部７０は、略角膜頂点位置Ｋの座標位置と、縁部上の各点における座標位置と、を比較し、これらの座標位置におけるＸ方向及びＹ方向の差分を求める。これによって、被検眼Ｅの略角膜頂点位置Ｋから縁部上の各点までの距離を算出することができる。

次いで、制御部７０は、略角膜頂点位置Ｋから縁部上の各点までの距離のうち、略角膜頂点位置Ｋから縁部６９までの距離がもっとも短くなる縁部上の点Ｐを選択する。さらに、制御部７０は、略角膜頂点位置Ｋと点Ｐを結ぶ直線の延長線上において、点Ｐから所定の距離Ｗだけ離れた位置を、被検眼Ｅに対する測定光の入射位置６４として設定する。例えば、所定の距離Ｗは、ＯＣＴ光学系２における測定光が、混濁部６５に干渉することを抑制するために設定された距離である。言い換えると、所定の距離Ｗは、被検眼Ｅに入射させた測定光が、混濁部６５に当たらないように設定された距離である。例えば、所定の距離Ｗは、予め実験やシミュレーションにより設定されていてもよい。

例えば、このようにして被検眼Ｅに対する測定光の入射位置６４が設定されると、制御部７０は、入射位置６４に測定光が照射されるように、アライメント基準位置を設定する。

＜被検眼の眼底に対するアライメント（Ｓ７）＞
例えば、前述したアライメント基準位置Ｏ１は、被検眼Ｅの略角膜頂点位置Ｋと、ＯＣＴ光学系２における光軸Ｌ１と、が一致する位置に設定されている。そこで、例えば、制御部７０は、上記のように設定された入射位置６４に測定光が照射されるように、アライメント基準位置を設定する。例えば、本実施例においては、制御部７０が、アライメント基準位置を、アライメント基準位置Ｏ１からアライメント基準位置Ｏ２へと変更する。

例えば、アライメント基準位置Ｏ２が設定されると、制御部７０は自動アライメントを開始する（Ｓ７）。このとき、例えば、制御部７０は、被検眼Ｅとアライメント基準位置との位置ずれを検出する。また、制御部７０は、検出した位置ずれに基づいて、被検眼ＥとＯＣＴ光学系２における光軸Ｌ１とのアライメント状態を検出する。

例えば、制御部７０は駆動部１０６を制御することにより、被検眼Ｅに対して測定部１０３を上下方向に移動させる。また、例えば、制御部７０は移動台１０２を駆動することにより、被検眼Ｅに対して測定部１０３を左右方向に移動させる。例えば、本実施例においては、１ピクセルの長さに対する実距離が予め決定されている。このため、制御部７０は、前述した略角膜頂点位置Ｋの座標位置と、入射位置６４の座標位置と、におけるＸ方向及びＹ方向の差分を、測定部１０３をＸ方向及びＹ方向に移動させるための移動量に換算することができる。例えば、制御部７０は、ＯＣＴ光学系２における光軸Ｌ１が、アライメント基準位置Ｏ２と一致するように、Ｘ方向及びＹ方向のアライメントを調整する。

例えば、制御部７０は、このようにして被検眼ＥとＯＣＴデバイス１とのアライメントを調整し、ＯＣＴ光学系２の光軸Ｌ１をアライメント基準位置Ｏ２に一致させることができる。すなわち、ＯＣＴ光学系２における測定光が被検眼Ｅに対して通過する位置を、混濁部６５から回避させることができる。また、制御部７０は、このようにしてアライメントを調整すると、アライメント完了信号を出力する。

＜被検眼の眼底撮影時における最適化制御（Ｓ８）＞
例えば、アライメント完了信号が出力されると、上述の最適化制御と同様にして、第１自動光路長調整、フォーカス調整、第２自動光路長調整、ポラライザ調整の順に最適化が行われる（Ｓ８）。これによって、検者が所望する眼底部位が高感度・高解像度で観察できるようになる。

＜眼底ＯＣＴ画像データの取得（Ｓ９）＞
例えば、制御部７０は、上記のように設定された走査位置において、ＯＣＴ光学系２を制御することにより、被検眼Ｅの第２深度帯に対応する第２位置（本実施例では、被検眼Ｅの眼底Ｅｒ）における被検眼Ｅの眼底ＯＣＴ画像データを取得する（Ｓ９）。例えば、被検眼Ｅの眼底ＯＣＴ画像データとしては、被検眼Ｅの断層画像データであってもよいし、モーションコントラストデータであってもよいし、偏光特性データであってもよい。例えば、本実施例においては、被検眼Ｅの眼底Ｅｒにおける断層画像データが取得される。もちろん、このような眼底ＯＣＴ画像データは、画像化される前の信号を用いる構成としてもよいし、眼底ＯＣＴ画像を用いる構成としてもよい。

以上説明したように、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼の前眼部断面画像データを取得する取得手段と、前眼部断面画像データに基づいて測定光の走査位置を設定する走査位置設定手段と、走査位置設定手段によって設定された走査位置において被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを取得する制御手段と、を備える。これによって、検者は、被検眼の前眼部と眼底におけるそれぞれの画像データを効率よく取得することができる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、前眼部断面画像データを処理することによって、混濁部の二次元分布を示す解析情報を取得し、解析情報に基づいてＯＣＴ光学系における測定光の走査位置を設定する。これによって、検者は、被検眼に生じた混濁部の位置を容易に判断することができる。また、検者は、測定光の走査位置を容易に設定することができる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、解析情報に基づいて光透過領域を特定し、光透過領域をＯＣＴ光学系における測定光が通過するように、ＯＣＴ光学系における測定光の走査位置を設定する。このため、検者は、被検眼に生じた混濁部を回避するように、測定光の走査位置を容易に設定することができる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、ＯＣＴ光学系における測定光の被検眼への入射位置を設定することで、測定光の走査位置を設定することができる。これによって、検者は、被検眼の混濁部を回避するように測定光の被検眼への入射位置を設定し、効率よく眼底撮影を行うことができる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼とアライメント基準位置との位置ずれに基づいて、被検眼とＯＣＴ光学系の光軸とのアライメント状態を検出するアライメント検出手段を備える。これによって、走査位置設定手段によって設定された入射位置に測定光が照射されるように、アライメント基準位置を設定することができる。従って、検者は、測定光を被検眼に対してより正確な位置に入射させることができる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼に対してＯＣＴ光学系を駆動させる駆動手段を備える。また、本実施例における眼科撮影装置は、アライメント検出手段の検出結果に基づいて、アライメント基準位置の許容範囲内にＯＣＴ光学系の光軸が位置されるように、被検眼に対するＯＣＴ光学系の自動アライメントを行うアライメント制御手段を備える。これによって、アライメントが精度よく行われ、検者は効率的に被検眼とＯＣＴ光学系とを位置合わせすることができる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼の第１深度帯に対応する第１位置と、被検眼の第２深度帯に対応する第２位置と、におけるＯＣＴ画像データを取得することができる。また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、前眼部断面画像データとして、第１位置における被検眼の前眼部ＯＣＴ画像データを取得し、ＯＣＴ光学系を制御して、第２位置における被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを取得することができる。これによって、新たな部材やアタッチメント等を必要とせず、深度帯が異なる部位を容易に撮影することができる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、取得手段によって前眼部ＯＣＴ画像データを取得した後に、ＯＣＴ光学系を制御して被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを取得することができる。これによって、検者は、被検眼の前眼部と眼底を連続して撮影し、効率よく測定を行うことができる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼の前記前眼部断面画像データとして、前眼部三次元断面画像データを取得する。このため、被検眼における混濁部の位置を、ＸＹ方向だけでなく、Ｚ方向（深さ方向）においても特定できる。従って、検者は、被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを精度よく取得することができる。

＜変容例＞
なお、本実施例においては、ＯＣＴデバイス１を用いて、被検眼Ｅの前眼部断面画像データを取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検眼Ｅの前眼部断面画像データは、光干渉以外の技術を利用して取得されてもよい。例えば、この場合には、ＳＬＯ（Scanning Laser Ophthalmoscope）やシャインプルークカメラ等の撮影装置により、前眼部断面画像データを取得する構成としてもよい。

なお、本実施例においては、眼科撮影装置１によって取得した前眼部断面画像データに基づいて、測定光の走査位置を決定する場合を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、測定光の走査位置は、徹照像データに基づいて決定してもよい。この場合には、本実施例における眼科撮影装置１に、被検眼Ｅの徹照像データを取得可能とする構成を備えてもよい。また、この場合には、別の装置を用いて、被検眼Ｅの徹照データを取得する構成であってもよい。例えば、別の装置としては、被検眼Ｅの眼底Ｅｒに投影した光束の反射光を受光することによって、被検眼Ｅの眼屈折力を他覚的に測定することが可能な装置を用いてもよい。

なお、本実施例においては、ＯＣＴ光学系２における光軸Ｌ１を、アライメント基準位置Ｏ１及びＯ２に一致させる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。本実施例においては、アライメント基準位置Ｏ１及びＯ２を中心としたＸＹ方向の所定の領域が、アライメントの適否を判定するためのアライメント許容範囲として設定されていてもよい。もちろん、アライメント基準位置を中心としたＺ方向の所定の領域についても、アライメント許容範囲が設定されていてもよい。例えば、制御部７０は、アライメント基準位置の許容範囲内にＯＣＴ光学系２の光軸Ｌ１が位置するように、被検眼Ｅに対するＯＣＴ光学系２の自動アライメントを行う。

図１０はアライメント許容範囲について説明する図である。例えば、アライメント基準位置Ｏ１には、アライメント基準位置Ｏ１を中心とした所定の領域が、アライメントの適否を判定するためのアライメント許容範囲Ａ１として設定されている。例えば、制御部７０は、ＯＣＴ光学系２における光軸Ｌ１の通過位置がアライメント許容範囲Ａ１におさまるように、Ｘ方向及びＹ方向のアライメントを調整する。例えば、図１０では、被検眼Ｅに対して光軸Ｌ１が通過する実際の位置Ｏ１´がアライメント許容範囲Ａ１内におさまっているので、制御部７０はアライメントが完了したと判断する。

同様に、例えば、アライメント基準位置Ｏ２に対しても、アライメント基準位置Ｏ２を中心とした所定の領域に、アライメント許容範囲Ａ２が設定されていてもよい。例えば、制御部７０は、ＯＣＴ光学系２における光軸Ｌ１の通過位置が、アライメント許容範囲Ａ２におさまるように、Ｘ方向及びＹ方向のアライメントを調整する。例えば、図１０では、被検眼Ｅに対して光軸Ｌ１が通過する実際の位置Ｏ２´がアライメント許容範囲Ａ２内におさまっているので、制御部７０はアライメントが完了したと判断する。

なお、本実施例においては説明を省略したが、前眼部撮影時と眼底撮影時において、被検眼Ｅの位置がずれている場合がある。この状態では、前眼部断面画像データを解析することで設定した入射位置６４に測定光を照射しても、測定光を所望の眼底部位に入射させることができず、良好な眼底ＯＣＴ画像データを取得することができない。例えば、このとき、制御部７０は、被検眼Ｅの位置ずれを検出し、これを補正する構成としてもよい。

図１１は被検眼Ｅにおける位置ずれの補正ついて説明する図である。例えば、図１１は、前眼部撮影後に被検眼ＥがＸ方向に移動した状態を示している。これにともなって、被検眼Ｅの混濁部６５は、点線で示す位置から実線で示す位置に移動する。なお、以下ではＸ方向における位置ずれの補正について説明するが、Ｙ方向及びＺ方向に位置ずれが生じていた場合には、Ｘ方向と同様に補正してもよい。

例えば、制御部７０は、前眼部撮影時における被検眼Ｅの位置と、眼底撮影前における被検眼Ｅの位置と、のアライメントずれを検出する。なお、本実施例における眼底撮影前とは、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃから眼底Ｅｒへと撮影部位を変更するために、自動的に設定が切換わったタイミングであってもよい。すなわち、制御部７０は、設定の切換わりをトリガ信号として図示なき前眼部撮像光学系を制御し、被検眼Ｅの前眼部を検出する。また、例えば、本実施例における眼底撮影前とは、被検眼Ｅの眼底Ｅｒを撮影する直前のタイミングであってもよい。この場合には、眼底Ｅｒに対するアライメント及び最適化制御の後に、制御部７０が被検眼Ｅの前眼部を検出するようにしてもよい。また、例えば、操作部７４が備える眼底撮影を行うための図示なき撮影スイッチが検者によって選択されたタイミングで、制御部７０が被検眼Ｅの前眼部を検出するようにしてもよい。なお、例えば、制御部７０は、このようなタイミングにおいて検出した被検眼Ｅの前眼部から略角膜頂点位置Ｋ´を検出する。

例えば、制御部７０は、検出した略角膜頂点位置Ｋ´と、前眼部撮影時に検出した略角膜頂点位置Ｋと、の位置ずれを補正量ΔＤとして検出する。また、例えば、制御部７０は、検出した補正量ΔＤに基づいて、測定光の入射位置６４を変更する。例えば、本実施例においては、測定光の入射位置６４が、補正量ΔＤと同じ距離だけ移動した入射位置６４´に設定される。これによって、前眼部撮影時と眼底撮影時における被検眼Ｅの位置ずれを補正することができる。

例えば、本実施例における眼科撮影装置は、前眼部撮影時と眼底撮影時における被検眼Ｅの位置ずれを検出し、このように補正することで、所望の眼底位置へ正確に測定光を照射でき、良好な眼底ＯＣＴ画像データを取得することが可能となる。

なお、位置ずれの補正の実施は、本実施例のように、混濁部６５の解析情報に基づいて測定光の走査位置を設定し、眼底Ｅｒを撮影する装置の適用のみに限定されない。例えば、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃから眼底Ｅｒへ撮影部位を切り換える際に、被検眼Ｅに位置ずれがあった場合には、上記のようにして補正を行ってもよい。例えば、このような構成であることによって、被検眼Ｅの前眼部撮影時と眼底撮影時における被検眼Ｅの位置ずれが自動的に補正されるので、検者はスムーズに撮影を進めることができる。

なお、被検眼Ｅにおける位置ずれの補正は、後述する追尾制御（トラッキング）において実施してもよい。この場合、被検眼Ｅの前眼部が常に検出され、前眼部撮影時に検出した略角膜頂点位置Ｋと、被検眼Ｅの移動にともなってずれた略角膜頂点位置Ｋ´との補正量ΔＤが、制御部７０によって常時算出される。また、測定光の入射位置６４´が、制御部７０によって遂次変更される。なお、このように検出された被検眼Ｅの前眼部は、制御部７０による解析処理に用いられるのみでもよいし、前眼部観察像６０としてモニタ７５に表示される構成としてもよい。

また、上記では、補正量ΔＤを検出してこれを補正する構成を例に挙げたが、補正量ΔＤがわずかであれば、被検眼Ｅの位置ずれを補正しなくてもよい場合がある。例えば、このときには、補正量ΔＤに対して許容範囲が設定されてもよい。このような許容範囲は、シミュレーションや実験等によって予め算出されていてもよい。例えば、制御部７０は、検出した補正量ΔＤが許容範囲を超えているか、あるいは許容範囲におさまっているかを判断し、その結果に基づいて、被検眼Ｅの位置ずれを補正するか否かを決定する構成であってもよい。

なお、本実施例では、Ｘ方向、Ｙ方向、及びＺ方向のすべてを調整するようにアライメント基準位置Ｏ１及びＯ２を設定する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。このようなアライメント基準位置は、ＸＹＺ方向の少なくともいずれかに対して設定されてもよい。同様に、本実施例では、Ｘ方向、Ｙ方向、及びＺ方向のすべてを調整するようにアライメント許容範囲Ａ１及びＡ２を設定したが、このようなアライメント基準範囲も、ＸＹＺ方向の少なくともいずれかに対して設定してもよい。

なお、本実施例では、被検眼Ｅとアライメント基準位置との位置ずれを検出する際に、被検眼Ｅにおける略角膜頂点位置Ｋを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。もちろん、位置ずれの検出には、被検眼Ｅの角膜頂点位置が用いられてもよい。また、例えば、位置ずれの検出には、被検眼Ｅの瞳孔位置が用いられてもよい。この場合には、制御部７０が、図示なき前眼部撮像光学系により撮像された前眼部正面像から、被検眼Ｅにおける瞳孔位置を検出してもよい。このとき、制御部７０は、検出した瞳孔位置を用いてアライメント基準位置との位置ずれを検出し、これに基づいて入射位置に測定光が照射されるように調整する構成であってもよい。

また、本実施例では、前眼部撮影時と眼底撮影時における被検眼Ｅの位置ずれを検出する場合においても、略角膜頂点位置Ｋを用いる構成を例に挙げて説明したが、被検眼Ｅの瞳孔位置を検出するようにしてもよい。

なお、本実施例においては、制御部７０が自動アライメントを実施する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、アライメントは、検者によって手動で実施されてもよい。例えば、測定部１０３は、ジョイスティック１０４等を操作することで、左右方向、上下方向、及び前後方向に移動可能となっている。アライメントを手動で行う際には、測定光の光軸Ｌ１が通過する位置と、アライメント基準位置と、を表示してもよい。これによって、検者は、モニタ７５をみながらジョイスティック１０４を操作し、ＯＣＴ光学系２における測定光の光軸Ｌ１を、アライメント基準位置に一致させることができる。あるいは、ＯＣＴ光学系２における測定光の光軸Ｌ１を、アライメント許容範囲内におさめることができる。

なお、本実施例においては、ＯＣＴデバイス１を移動させることによって、被検眼Ｅに対する測定光の入射位置を変更し、測定光の走査位置を設定する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、測定光の入射位置は、ＯＣＴ光学系２が備える光学部材を移動させることで変更してもよいし、ＯＣＴ光学系２の光路中に光学部材を挿脱させることで変更してもよい。例えば、光学部材を移動させる場合には、光束径調節部２２が備えるレンズ２２ａとレンズ２２ｂを、左右方向及び前後方向に移動可能とする構成が挙げられる。また、ダイクロイックミラー２６を上下方向に移動可能とする構成が挙げられる。例えば、光学部材を挿脱させる場合には、プリズムやミラー等を光軸Ｌ１上において挿脱可能とする構成が挙げられる。

また、本実施例においては、ＯＣＴデバイス１を移動させることによって、被検眼Ｅに対する測定光の入射位置を変更する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、固視標投影ユニット９０における固視標の位置を変更することで、被検眼Ｅに対する測定光の入射位置を変更してもよい。例えば、固視標の位置をずらすと、被検者の視線が移動し、被検眼Ｅが旋回するため、被検眼Ｅに生じた混濁部を回避して測定光を入射させることができる場合がある。

なお、本実施例においては、測定光の走査位置が自動的に設定される構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、測定光の走査位置は、検者が手動で設定してもよい。例えば、この場合、制御部７０は、前眼部三次元断面画像データを積算した正面画像をモニタ７５に表示してもよい。もちろん、被検眼Ｅにおける前眼部の正面画像データ６２に対して二値化処理を行った際の解析情報や、混濁部６５の位置を特定した二次元分布がマップとしてモニタ７５に表示されてもよい。例えば、検者は、モニタ７５をみて被検眼Ｅのどこに混濁部６５があるか判断し、操作部７４を操作して正面画像上で走査位置を選択する。制御部７０は、選択された正面画面上の走査位置における座標位置を検出し、これに基づいてＯＣＴデバイス１を移動させる。例えば、測定光の走査位置は、このようにして任意の位置に設定される構成であってもよい。

なお、本実施例においては、被検眼Ｅの第１深度帯に対応する第１位置（本実施例では、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃ）と、被検眼Ｅの第２深度帯に対応する第２位置（本実施例では、被検眼Ｅの眼底Ｅｒ）と、を連続的に撮影する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検眼Ｅの第１深度帯と第２深度帯は、同時に撮影してもよい。すなわち、被検眼Ｅにおける前眼部Ｅｃと眼底Ｅｒを同時に撮影してもよい。例えば、この場合には、ハーフミラー等を用いて参照光学系３０の光路を分岐し、それぞれに参照ミラーを配置してもよい。例えば、片方の参照ミラーは、前眼部Ｅｃからの測定光の戻り光における光路長と等しくなる位置に配置される。また、例えば、もう片方の参照ミラーは、眼底Ｅｒからの測定光の戻り光における光路長と等しくなる位置に配置される。これによって、前眼部Ｅｃからの戻り光と参照光とが干渉した干渉信号と、眼底Ｅｒからの戻り光と参照光とが干渉した干渉信号と、を検出器４０で同時に取得することができるようになる。

また、本実施例においては、被検眼Ｅとアライメント基準位置Ｏ１とのアライメントが完了した後に、前眼部三次元断面画像データを取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、前眼部三次元断面画像データがリアルタイムで取得され、これに基づいて測定光の走査位置が遂次設定されるようにしてもよい。この場合、制御部７０は、被検眼Ｅに対するアライメントが完了した後であっても、ＸＹＺ方向のアライメントずれを随時検出し、被検眼Ｅの移動を常に検出する追尾制御（トラッキング）を行う。これによって、前眼部三次元断面画像データをリアルタイムで繰り返し取得することができる。また、例えば、制御部７０は、前眼部三次元断面画像データが取得されるたびにデータを処理し、被検眼Ｅにおける混濁部６５を常に検出してもよい。これによって、被検眼Ｅが移動しても、混濁部６５を回避することができる位置に、眼底ＯＣＴ画像データを取得するための測定光の走査位置を遂次設定することができる。例えば、眼底ＯＣＴ画像データの取得位置は、リアルタイムの前眼部三次元断面画像データ上において表示される構成としてもよい。

例えば、このように、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼の前眼部断面画像データをリアルタイムで取得し、リアルタイムで取得された前眼部断面画像データに基づいて、測定光の走査位置を逐次設定することができる。これによって、検者が所望する撮影部位に測定光が入射するように、走査位置が常に補正される。従って、検者は、眼底ＯＣＴ画像データをより正確に取得することができるようになる。

なお、本実施例においては、被検眼Ｅの第１位置として前眼部Ｅｃを、被検眼Ｅの第２位置として眼底Ｅｒを撮影し、それぞれのＯＣＴ画像データを取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例における眼科撮影装置１は、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃにおいて、異なる深度帯のＯＣＴ画像データを取得してもよい。例えば、この場合には、第１位置として、被検眼Ｅの角膜前面から水晶体前面までを撮影してもよい。また、例えば、この場合には、第２位置として、被検眼Ｅの水晶体後面を撮影してもよい。もちろん、被検眼Ｅの角膜や水晶体前面に混濁が検出されたときには、混濁部の解析情報を利用して測定光の走査位置を決定し、水晶体後面を撮影してもよい。これによって、検者は、被検眼Ｅのより詳細な前眼部ＯＣＴ画像データを取得することができる。

１ 眼科撮影装置
１１ 光源
１５ 分割器
２０ 測定光学系
２２ 光束径調節部
２３ 集光位置可変光学系
２４ 走査部
２７ 対物光学系
３０ 参照光学系
４０ 検出器
５０ 駆動部
７０ 制御部
１０３ 測定部

Claims (11)

1. 被検眼に照射された測定光と参照光によるＯＣＴ信号を検出するＯＣＴ光学系を有し、前記ＯＣＴ信号を処理することで被検眼のＯＣＴ画像データを取得する眼科撮影装置であって、
   被検眼の前眼部断面画像データを取得する取得手段と、
   前記取得手段によって取得された前記前眼部断面画像データに基づいて、前記測定光の走査位置を設定する走査位置設定手段と、
   前記ＯＣＴ光学系を制御し、前記走査位置設定手段によって設定された前記走査位置において、前記被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを取得する制御手段と、
   を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
2. 請求項１の眼科撮影装置において、
   前記走査位置設定手段は、前記前眼部断面画像データを処理することによって、混濁部の二次元分布を示す解析情報を取得し、前記解析情報に基づいて、前記ＯＣＴ光学系における前記測定光の走査位置を設定することを特徴とする眼科撮影装置。
3. 請求項２の眼科撮影装置において、
   前記走査位置設定手段は、前記解析情報に基づいて光透過領域を特定して前記光透過領域を前記ＯＣＴ光学系における前記測定光が通過するように、前記ＯＣＴ光学系における前記測定光の走査位置を設定することを特徴とする眼科撮影装置。
4. 請求項１〜３のいずれかの眼科撮影装置において、
   前記走査位置設定手段は、前記ＯＣＴ光学系における前記測定光の前記被検眼への入射位置を設定することで、前記測定光の走査位置を設定することを特徴とする眼科撮影装置。
5. 請求項４の眼科撮影装置において、
   前記被検眼とアライメント基準位置との位置ずれに基づいて、前記被検眼と前記ＯＣＴ光学系の光軸とのアライメント状態を検出するアライメント検出手段と、
   前記アライメント検出手段は、前記走査位置設定手段によって設定された前記入射位置に前記測定光が照射されるように、前記アライメント基準位置を設定することを特徴とする眼科撮影装置。
6. 請求項５の眼科撮影装置において、
   前記被検眼に対して前記ＯＣＴ光学系を駆動させる駆動手段と、
   前記アライメント検出手段の検出結果に基づいて、前記アライメント基準位置の許容範囲内に前記ＯＣＴ光学系の光軸が位置されるように、前記駆動手段を駆動して、前記被検眼に対する前記ＯＣＴ光学系の自動アライメントを行うアライメント制御手段と、
   を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
7. 請求項１〜６のいずれかの眼科撮影装置において、
   前記ＯＣＴ光学系は、前記被検眼の第１深度帯に対応する第１位置と、前記被検眼の前記第１深度帯とは異なる前記第２深度帯に対応する第２位置と、におけるＯＣＴ画像データを取得できるＯＣＴ光学系であって、
   前記取得手段は、前記前眼部断面画像データとして、前記ＯＣＴ光学系を制御して、前記第１位置において前記被検眼の前記前眼部ＯＣＴ画像データを取得し、
   前記制御手段は、前記ＯＣＴ光学系を制御して、前記第２位置において前記被検眼の前記眼底ＯＣＴ画像データを取得することを特徴とする眼科撮影装置。
8. 請求項７の眼科撮影装置において、
   前記制御手段は、前記取得手段によって、前記前眼部ＯＣＴ画像データを取得した後に、
   前記ＯＣＴ光学系を制御して、前記第２位置において前記被検眼の前記眼底ＯＣＴ画像データを取得することを特徴とする眼科撮影装置。
9. 請求項１〜８のいずれかの眼科撮影装置において、
   前記取得手段は、前記被検眼の前記前眼部断面画像データをリアルタイムで取得し、
   前記走査位置設定手段は、前記取得手段によってリアルタイムで取得された前記前眼部断面画像データに基づいて、前記測定光の走査位置を逐次設定することを特徴とする眼科撮影装置。
10. 請求項１〜９のいずれかの眼科撮影装置において、
    前記取得手段は、前記被検眼の前記前眼部断面画像データとして、前眼部三次元断面画像データを取得することを特徴とする眼科撮影装置。
11. 被検眼に照射された測定光と参照光によるＯＣＴ信号を検出するＯＣＴ光学系を有し、前記ＯＣＴ信号を処理することで被検眼のＯＣＴ画像データを取得する眼科撮影装置において用いられる眼科撮影プログラムであって、前記眼科撮影装置のプロセッサによって実行されることで、
    被検眼の前眼部断面画像データを取得する取得ステップと、
    前記取得ステップによって取得された前記前眼部断面画像データに基づいて、前記測定光の走査位置を設定する走査位置設定ステップと、
    前記ＯＣＴ光学系を制御し、前記走査位置設定ステップによって設定された前記走査位置において、前記被検眼の眼底ＯＣＴ画像データを取得する制御ステップと、
    を前記眼科撮影装置に実行させることを特徴とする眼科撮影プログラム。