JP2018102789A - 光干渉断層撮像装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 必ずしも装置構成を複雑にすることなく、特定部位に関する良好なＯＣＴ画像を取得できる。【解決手段】 光源から出射された光束を測定光と参照光に分割し、測定光を被検体に導き、参照光を参照光学系に導いた後、前記被検体から反射された測定光と参照光との干渉状態を検出器により検出するＯＣＴ光学系と、測定光と参照光の少なくともいずれかの偏光状態を調整する偏光調整手段と、前記検出器からの出力信号に基づいてＯＣＴ画像を取得する光干渉断層撮像装置において、前記偏光調整手段を制御して前記ＯＣＴ画像上に含まれる被検体の特定部位に対して前記偏光状態を調整し、前記特定部位に関する前記ＯＣＴ画像を取得する画像取得手段を備える。【選択図】 図９

Description

本開示は、被検体のＯＣＴ画像を得るための光干渉断層撮像装置に関する。

被検体（例えば、眼）のＯＣＴ画像を得るための光干渉断層撮像装置が知られており、被検体に対して位置合わせするアライメント調整、被検体に対するフォーカスを調整するフォーカス調整、測定光と参照光の偏光状態を調整するポラリゼーション調整等の各種調整が行われている（例えば、特許文献１参照）。

特開２０１２−２１３４８９号公報

ところで、従来は、ＯＣＴ画像全体の信号に基づいて偏光調整を行っていたので、画像全体が平均的に明るい状態に調整されている。しかしながら、被検体の各組織に応じて偏光特性が異なるので、検者が所望する特定部位の画像を適正な画質にて得ることが難しい場合があった。

一方、光干渉断層撮像装置としてＰＳ−ＯＣＴ（偏光感受ＯＣＴ）が知られているが、検出器を複数用意するか、深さ方向の信号を多重化させる等、装置構成が複雑になる。

本開示は、上記問題点を鑑み、必ずしも装置構成を複雑にすることなく、特定部位に関する良好なＯＣＴ画像を取得できる光干渉断層撮像装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。

光源から出射された光束を測定光と参照光に分割し、測定光を被検体に導き、参照光を参照光学系に導いた後、前記被検体から反射された測定光と参照光との干渉状態を検出器により検出するＯＣＴ光学系と、
測定光と参照光の少なくともいずれかの偏光状態を調整する偏光調整手段と、
前記検出器からの出力信号に基づいてＯＣＴ画像を取得する光干渉断層撮像装置において、
前記偏光調整手段を制御して前記ＯＣＴ画像上に含まれる被検体の特定部位に対して前記偏光状態を調整し、前記特定部位に関する前記ＯＣＴ画像を取得する画像取得手段を備えることを特徴とする。

本開示によれば、必ずしも装置構成を複雑にすることなく、特定の部位に関する良好なＯＣＴ画像を取得できる。

以下に、本開示に係る実施形態について図面に基づいて説明する。

＜概要＞
＜ＯＣＴ光学系＞
本実施形態に係る光干渉断層撮像装置は、例えば、測定光と参照光との干渉信号に基づいて被検体のＯＣＴ画像を得るためのＯＣＴ光学系（光コヒーレンストモグラフィー）であってもよい。ＯＣＴ光学系によって取得されるＯＣＴ画像としては、例えば、被検体の形態断層画像、モーションコントラスト画像（ＯＣＴアンジオ画像）であってもよい。この場合、ＯＣＴ画像としては、ＯＣＴ正面像（ＯＣＴエンフェイス画像）、３次元ＯＣＴ画像であってもよい。

ＯＣＴ光学系としては、例えば、光源から出射された光束を測定光と参照光に分割し、測定光を被検体に導き、参照光を参照光学系に導いた後、被検体から反射された測定光と参照光との干渉状態を検出器により検出する構成であってもよい。ＯＣＴ画像は、検出器からの出力信号に基づいて取得されてもよい。なお、測定光は、光スキャナによって走査されてもよい。

＜偏光調整部＞
ＯＣＴ光学系の光路には、例えば、偏光調整部（ポラライザ）が設けられてもよく、偏光調整部は、測定光と参照光の少なくともいずれかの偏光状態を調整するために設けられてもよい。偏光調整部は、測定光の光路と参照光の光路の少なくともいずれかに配置されてもよい。なお、偏光調整部は、測定光の光路と参照光の光路が分岐される後の光路に配置され、測定光と参照光の偏光状態を一致させるために用いられてもよい。

例えば、偏光調整部は、光路中の光ファイバーを回転させたり圧力を加えて、偏光方向を調整してもよい。また、偏光調整部は、１／２波長板又は１／４波長板を用いて偏光方向を調整してもよい。また、偏光調整部は、１／２波長板又は１／４波長板と同様の効果を持つプリズム（例えば、フレネルロム）等を組み合わせて実現してもよい。なお、偏光調整部は、少なくとも、Ｓ偏光の直線偏光、Ｐ偏光の直線偏光、円偏光との間で偏光方向を調整可能な構成であってもよい。

＜特定部位に対する偏光調整＞
画像取得部は、例えば、偏光調整部を制御し、ＯＣＴ画像上に含まれる被検体の特定部位に対して偏光状態を調整し、特定部位に関するＯＣＴ画像を取得してもよい。画像取得部は、例えば、偏光調整部を制御する制御部であってもよい。

特定部位に関するＯＣＴ画像を取得する場合、例えば、画像取得部は、特定部位が適正に画像化されたＯＣＴ画像が取得されるように偏光調整部を制御してもよい。この場合、画像取得部は、ＯＣＴ光学系によって取得されるＯＣＴ画像における特定部位での画像信号に基づいて、偏光調整部を制御してもよい。このような構成によれば、特定部位に関する良好なＯＣＴ画像を取得可能な偏光状態への調整を容易に行うことができる。

上記構成に限定されず、例えば、画像取得部は、偏光調整部を制御し、特定部位に対応して予め設定された偏光状態への調整を行うことによって、特定部位が適正に画像化されたＯＣＴ画像を取得してもよい。予め設定された偏光状態への調整を行う場合は、偏光調整部の駆動パラメータ（例えば、回転位置）を特定部位に応じて予め記憶部に記憶させておいてもよい。なお、特定部位に対応する駆動パラメータは、予め実験・シミュレーション等によって求めることが可能である。

特定部位に関するＯＣＴ画像を取得する場合、例えば、画像取得部は、偏光調整部を制御し、異なる偏光状態のＯＣＴ画像を複数取得し、特定部位が適正に画像化されたＯＣＴ画像を選別してもよい。この場合、画像取得部は、ＯＣＴ光学系によって取得されるＯＣＴ画像における特定部位での画像信号に基づいて、特定部位が適正に画像化されたＯＣＴ画像を選別してもよい。もちろん、これに限定されず、特定部位に対応して予め設定された偏光状態のＯＣＴ画像を、複数のＯＣＴ画像から選別するようにしてもよい。

なお、特定部位が適正に画像化されたＯＣＴ画像としては、他の偏光状態にて取得されるＯＣＴ画像よりも相対的に特定部位が適正に画像化されたＯＣＴ画像（例えば、特定部位の輝度値、コントラスト等の評価値が相対的に高い、又は、特定部位が相対的により良好に描画されている等）であってもよいし、特定部位の画質が所定の閾値を満たすＯＣＴ画像（例えば、特定部位の輝度値、コントラスト等の評価値が所定の閾値を満たす、又は特定部位と他の部位との境界が明確に検出可能である等）であってもよい。

なお、ＯＣＴ画像における特定部位での画像信号に基づいて特定部位に関するＯＣＴ画像を取得する場合、例えば、画像取得部は、ＯＣＴ画像上に含まれる被検体の特定部位を画像処理により検出し、検出された特定部位における画像信号を評価してもよい。画像取得部は、検出された特定部位における画像信号を評価する処理を行うことによって、特定部位が適正に画像化されたＯＣＴ画像を取得してもよい。このような構成によれば、特定部位を画像処理によって検出できるので、特定部位が適正に画像化されたＯＣＴ画像をより確実に取得できる。この場合、画像取得部は、特定部位の画質に関する評価値を取得し、取得された評価値が一定の条件を満たすＯＣＴ画像を取得してもよい。

なお、被検体の特定部位を画像処理により検出する構成に限定されず、表示部に表示されたＯＣＴ画像における特定部位に対する検者からの選択指示を受け付けることによって、被検体の特定部位を検出するようにしてもよい。

なお、被検体の特定部位は、検者によって操作される操作部からの走査信号に基づいて予め設定されてもよい。これにより、検者が所望する特定部位のＯＣＴ画像をスムーズに取得できる。また、これに限定されず、被検体の特定部位は、デフォルトとして所定の特定部位に設定された構成であってもよい。また、取得されたＯＣＴ画像に基づいて特定部位を設定する構成であってもよい（例えば、ＯＣＴ画像上での選択指示を受け付ける、病変部位を画像処理により検出し、特定部位として設定する等）。

なお、被検体としては、例えば、被検眼であってもよく、被検眼のＯＣＴ画像を取得可能な眼科用ＯＣＴ装置において、本実施形態の適用が可能である。この場合、被検眼の眼底又は前眼部であってもよいし、硝子体であってもよい。眼底の特定部位としては、例えば、眼底の網膜、脈絡膜、病変部位であってもよいし、黄斑部、乳頭部等の特徴部位であってもよい。この場合、眼底の特定部位がさらに細分化されてもよく、例えば、網膜の表層部、中層部、深層部のように細分化されてもよい。また、前眼部の特定部位としては、例えば、前眼部の角膜、強膜、水晶体、隅角、病変部位であってもよいし、シユレム管、繊維柱帯等の特徴部位であってもよい。この場合、前眼部の特定部位がさらに細分化されてもよく、例えば、角膜の上皮、内皮のように細分化されてもよいし、水晶体前面、水晶体後面のように細分化されてもよい。また、角膜と網膜を含むＯＣＴ画像を取得するような場合、角膜と眼底のいずれかが特定部位として設定されてもよい。この場合、角膜と眼底で感度が低い方が特定部位として設定され、設定された特定部位に対する偏光調整が行われてもよい。角膜と網膜を含むＯＣＴ画像は、眼軸長測定に用いられてもよい。

また、被検体としては、眼に限定されず、生体の他の部位（例えば、耳、皮膚）であってもよいし、生体以外の被検体であってもよく、被検体における注目部位が特定部位として設定されてもよい。

また、上記実施形態において、ＯＣＴ光学系によって取得される特定部位を含むＯＣＴ画像に基づいて被検体の特定部位をトラッキングし、特定部位に対する偏光調整を行うようにしてもよい。このようなトラッキング制御によって、被検体が動いても、偏光調整を確実に行うことが可能である。

この場合、例えば、画像取得部は、第１のＯＣＴ画像における特定部位の画像領域を基準画像として記憶し、後に取得される第２のＯＣＴ画像とのマッチング処理を行い、第２のＯＣＴ画像における特定部位の画像領域の画像信号に基づいて、偏光調整を行うようにしてもよい。また、これに限定されず、随時取得されるＯＣＴ画像を処理し、特定部位の画像領域を検出するための処理を行い、検出された特定部位の画像領域の画像信号に基づいて、偏光調整を行うようにしてもよい。

この場合、画像取得部は、例えば、正面観察光学系からの撮像光学系からの撮像信号に基づいて光スキャナを制御して特定部位を追尾するトラッキング制御を行ってもよく、これにより、特定部位が上下左右に移動しても、確実に特定部位を撮像できる。また、画像取得部は、例えば、ＯＣＴ光学系からの出力信号に基づいて、測定光と参照光の光路長差を調整する光路長差調整部を制御して特定部位を追尾するトラッキング制御を行ってもよく、これにより、特定部位が前後方向（深さ方向）に移動しても、確実に特定部位を撮像できる。

なお、特定部位に対する偏光調整を行う場合、制御部７０は、ＯＣＴ光学系とは異なる他の検査系によって得られた情報に基づいて、特定部位に対する偏光調整を行うようにしてもよい。他の検査系としては、例えば、ＳＬＯ（走査型レーザ検眼鏡）、眼底カメラ、視野計等であってもよく、本実施形態に係る装置にＯＣＴ光学系と共に搭載されてもよいし、別装置に搭載されてもよい。この場合、例えば、制御部７０は、ＯＣＴ光学系によって取得すべき特定部位を、他の検査系によって得られた情報に基づいて設定してもよく、設定された特定部位に対する偏光調整を行ってもよい。設定された特定部位に対する偏光調整は、特定部位での画像信号に基づいて調整されてもよいし、当該特定部位に対応して予め設定された偏光状態への調整を行うようにしてもよい。これによれば、例えば、ＯＣＴ光学系のみでは特定が難しい疾患に関し、当該疾患に関連する特定部位のＯＣＴ画像を他の検査系を用いて効果的に取得可能であり、複合的な診断が可能となる。

より具体的には、画像取得部は、他の検査系によって得られた情報に基づいて設定された特定部位に関して適正なＯＣＴ画像に得られるように、特定部位に対する偏光調整を行うようにしてもよい。当該手法は、例えば、他の装置によって特定された病変部位（例えば、緑内障発生時における乳頭部）であって当該病変部位に臨床的に関連する特定部位（例えば、篩状板）に関するＯＣＴ画像を得るために用いることが可能である。

なお、本実施形態に用いるＯＣＴ装置としては、診断用ＯＣＴとして用いられてもよいし、手術用ＯＣＴとして用いられてもよい。診断用ＯＣＴの場合、据置型であってもよいし、ハンディタイプであってもよい。手術用ＯＣＴの場合、例えば、プローブ型ＯＣＴであってもよいし、手術顕微鏡に搭載されたＯＣＴであってもよい。

＜実施例＞
本開示の実施例を図面に基づいて説明する。図１は、本実施形態に係る光干渉断層撮像装置の光学系及び制御系を示す図である。なお、以下の説明においては、眼科撮像装置を例にとって説明する。なお、眼底を撮像する場合を例とするが、前眼部を撮像してもよい。また、本実施例においては、被検眼の奥行き方向をＺ方向（光軸Ｌ１方向）、奥行き方向に垂直な平面上の水平方向成分をＸ方向、鉛直方向成分をＹ方向として説明する。

図１において、その光学系は、光源から出射された光束を測定光と参照光に分割し、測定光束を被検者眼眼底に導き，参照光を参照光学系に導いた後、前記眼底から反射された測定光と参照光との干渉状態を検出器により検出する干渉光学系（ＯＣＴ光学系）２００と、固視標投影ユニット３００と、を備える。干渉光学系２００は、測定光学系２００ａと参照光光学系２００ｂを含む。また、干渉光学系２００は、参照光と測定光による干渉光を周波数（波長）毎に分光し，分光された干渉光を受光手段（本実施形態においては、１次元受光素子）に受光させる分光光学系８００を有する。また、ダイクロイックミラー４０は、ＯＣＴ光学系２００の測定光として用いられる波長成分の光を反射し、固視標投影ユニット３００に用いられる波長成分の光を透過する特性を有する。なお、ＯＣＴ光学系２００は、例えば、スペクトラルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）であってもよいし、スウィプトソースＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ）であってもよいし、タイムドメインＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）であってもよい。

まず、ダイクロイックミラー４０の反射側に設けられたＯＣＴ光学系２００の構成について説明する。ＯＣＴ光源２７はＯＣＴ光学系２００の測定光及び参照光として用いられる低コヒーレントな光を発するＯＣＴ光源であり、例えばＳＬＤ光源等が用いられる。ＯＣＴ光源２７には、例えば、中心波長８４０ｎｍで５０ｎｍの帯域を持つ光源が用いられる。２６は光分割部材と光結合部材としての役割を兼用するファイバーカップラーである。ＯＣＴ光源２７から発せられた光は、導光路としての光ファイバ３８ａを介して、ファイバーカップラー２６によって参照光と測定光とに分割される。測定光は光ファイバ３８ｂを介して被検眼Ｅへと向かい、参照光は光ファイバ３８ｃ（ポラライザ（偏光素子）３３）を介して参照ミラー３１へと向かう。

測定光を被検眼Ｅへ向けて出射する光路には、測定光を出射する光ファイバ３８ｂの端部３９ｂ、被検者眼底に対する視度を補正するために光軸方向に移動可能なフォーカス用光学部材（フォーカシングレンズ）２４、走査駆動機構５１の駆動により眼底上でＸＹ方向に測定光を走査させることが可能な２つのガルバノミラーの組み合せからなる走査部（光スキャナ）２３と、リレーレンズ２２が配置されている。ダイクロイックミラー４０及び対物レンズ１０は、ＯＣＴ光学系２００からのＯＣＴ測定光を被検眼眼底へと導光する導光光学系としての役割を有する。

光ファイバ３８ｂの端部３９ｂから出射した測定光は、フォーカシングレンズ２４を介して、走査部２３に達し、２つのガルバノミラーの駆動により反射方向が変えられる。そして、走査部２３で反射された測定光は、リレーレンズ２２を介して、ダイクロイックミラー４０で反射された後、対物レンズ１０を介して、被検眼眼底に集光される。

そして、眼底で反射した測定光は、対物レンズ１０を介して、ダイクロイックミラー４０で反射し、ＯＣＴ光学系２００に向かい、リレーレンズ２２、走査部２３の２つのガルバノミラー、フォーカシングレンズ２４を介して、光ファイバ３８ｂの端部３９ｂに入射する。端部３９ｂに入射した測定光は、光ファイバ３８ｂ、ファイバーカップラー２６、光ファイバ３８ｄを介して、光ファイバ３８ｄの端部８４ａに達する。

一方、参照光を参照ミラー３１に向けて出射する光路には、光ファイバ３８ｃ、参照光を出射する光ファイバ３８ｃの端部３９ｃ、コリメータレンズ２９、参照ミラー３１が配置されている。光ファイバ３８ｃは、参照光の偏光方向を変化させるため、駆動機構３４により回転移動される。すなわち、光ファイバ３８ｃ及び駆動機構３４は、偏光方向を調整するためのポラライザ３３として用いられる。なお、ポラライザとしては、上記構成に限定されず、測定光の光路又は参照光の光路に配置されるポラライザを駆動させることにより、測定光と参照光の偏光状態を略一致させるものであればよい。例えば、１／２波長板や１／４波長板を用いることやファイバーに圧力を加えて変形させることで偏光状態を変えるもの等が適用できる。

なお、ポラライザ３３（偏光コントローラ）は、測定光と参照光の偏光方向を一致させるために、測定光と参照光の少なくともいずれかの偏光方向を調整する構成であればよい。例えば、ポラライザは、測定光の光路に配置された構成であってもよい。

また、参照ミラー駆動機構５０は、測定光又は参照光との光路長を調整するために測定光又は参照光の光路中に配置された参照ミラー３１を駆動させる。参照ミラー３１は、本実施形態においては、参照光の光路中に配置され、参照光の光路長を変化させるべく、光軸方向に移動可能な構成となっている。

光ファイバー３８ｃの端部３９ｃから出射した参照光は、コリメータレンズ２９で平行光束とされ、参照ミラー３１で反射された後、コリメータレンズ２９により集光されて光ファイバ３８ｃの端部３９ｃに入射する。端部３９ｃに入射した参照光は、光ファイバ３８ｃ、光ファイバ３８ｃ（ポラライザ３３）を介して、ファイバーカップラー２６に達する。

そして、光源２７から発せられた光によって前述のように生成される参照光と被検眼眼底に照射された測定光による眼底反射光は、ファイバーカップラー２６にて合成され干渉光とされた後、光ファイバ３８ｄを通じて端部８４ａから出射される。周波数毎の干渉信号を得るために干渉光を周波数成分に分光する分光光学系８００（スペクトロメータ部）は、コリメータレンズ８０、グレーティングミラー（回折格子）８１、集光レンズ８２、受光素子８３を有する。受光素子８３は、赤外域に感度を有する一次元素子（ラインセンサ）を用いている。

ここで、端部８４ａから出射された干渉光は、コリメータレンズ８０にて平行光とされた後、グレーティングミラー８１にて周波数成分に分光される。そして、周波数成分に分光された干渉光は、集光レンズ８２を介して、検出器（受光素子）８３の受光面に集光する。これにより、受光素子８３上で干渉縞のスペクトル情報が記録される。そして、受光素子８３からの出力信号に基づいて眼の断層画像を撮像する。すなわち、そのスペクトル情報が制御部７０へと入力され、フーリエ変換を用いて解析することで、被験者眼の深さ方向における情報が計測可能となる。ここで、制御部７０は、走査部２３により測定光を眼底上で所定の横断方向に走査することにより断層像を取得できる。例えば、Ｘ方向もしくはＹ方向に走査することにより、被検眼眼底のＸＺ面もしくはＹＺ面における断層像（眼底断層像）を取得できる（なお、本実施形態においては、このように測定光を眼底に対して一次元走査し、断層像を得る方式をＢスキャンとする）。なお、取得された眼底断層像は、制御部７０に接続されたメモリ７２に記憶される。さらに、走査部２３の駆動を制御して、測定光をＸＹ方向に二次元的に走査することにより、受光素子８３からの出力信号に基づき被検者眼眼底のＸＹ方向に関する二次元動画像や被検眼眼底の三次元画像を取得することも可能である。

参照ミラー３１は、駆動機構５０の駆動によって光軸方向に移動され、被検眼毎の眼軸長の違いに対応できるよう、その移動可能範囲が設定されている。図１において、参照ミラー３１は、参照光の光路長が短くなる方向における移動限界位置Ｋ１から参照光の光路長が長くなる方向における移動限界位置Ｋ２までの範囲を移動可能である。

自動光路長調整（第１自動光路長調整（詳しくは後述する））を開始する前の参照ミラー３１の初期位置（移動開始位置）は、移動限界位置Ｋ１又は移動限界位置Ｋ２に設定される。もちろん、初期化開始以前の途中位置を初期位置としてもよい。また、初期位置を任意に変更できる設定としてもよい。

フォーカシングレンズ２４は、駆動機構２４ａの駆動によって光軸方向に移動され、その移動可能範囲が設定されている。フォーカシングレンズ２４は、第１移動限界位置（例えば、屈折力が−１５Ｄに対応する位置、すなわち、−１５Ｄの屈折力でフォーカスが合う位置）から第２移動限界位置（例えば、屈折力が＋１５Ｄに対応する位置）までの範囲を移動可能である。

フォーカシングレンズ２４の初期位置は、被検眼の平均的な眼屈折力に対応する位置（例えば、０Ｄに対応する位置）としている。もちろん、初期位置に移動させる以前の位置を初期位置としてもよい。また、初期位置を任意に変更できる設定としてもよい。第１移動限界位置、第２移動限界位置のいずれかが初期位置であってもよい。

光ファイバ３８ｃは、駆動機構３４の駆動によって回転移動され、その移動可能範囲が設定されている。光ファイバ３８ｃは、第１移動限界位置（例えば、０°）から第２移動限界位置（例えば、１８０°）までの回転移動可能である。

光ファイバ３８ｃは、第１移動限界位置から第２移動限界位置までの間の途中位置に位置されており、第２自動光路長調整完了後までは移動されない。そのため、ポラライザ３３においては、途中位置が初期位置となる。

次に、固視標投影ユニット３００について説明する。固視標投影ユニット３００は、眼Ｅの視線方向を誘導するための光学系を有する。投影ユニット３００は、眼Ｅに呈示する固視標を有し、複数の方向に眼Ｅを誘導できる。

例えば、固視標投影ユニット３００は、可視光を発する可視光源を有し、視標の呈示位置を二次元的に変更させる。これにより、視線方向が変更され、結果的に撮像部位が変更される。例えば、撮影光軸と同方向から固視標が呈示されると、眼底の中心部が撮像部位として設定される。また、撮影光軸に対して固視標が上方に呈示されると、眼底の上部が撮像部位として設定される。すなわち、撮影光軸に対する視標の位置に応じて撮影部位が変更される。

固視標投影ユニット３００としては、例えば、マトリクス状に配列されたＬＥＤの点灯位置により固視位置を調整する構成、光源からの光を光スキャナを用いて走査させ、光源の点灯制御により固視位置を調整する構成、等、種々の構成が考えられる。また、投影ユニット３００は、内部固視灯タイプであってもよいし、外部固視灯タイプであってもよい。

また、制御部７０には、表示モニタ７５、メモリ７２、コントロール部７４、参照ミラー駆動機構５０、フォーカシングレンズ２４を光軸方向に移動させるための駆動機構２４ａ、駆動機構３４、等が接続されている。

図２はＯＣＴ光学系２００によって取得（形成）される断層画像の一例を示す図である。断層画像の画像データＧは、光路長一致位置より手前側に対応する第１の画像データＧ１と、光路長一致位置より奥側に対応する第２画像データＧ２からなり、測定光と参照光の光路長が一致する深度位置Ｓに関して互いに対称な画像となっている。

なお、上記構成において、測定光と参照光との光路長が一致する深度位置が網膜表面より前側に形成されるように参照ミラー３１が配置されると、脈絡膜側部分よりも網膜表面側の感度が高い眼底断層像（正像）が取得される。この場合、第１の画像データＧ１と第２画像データＧ２における眼底断層像は、向かい合った状態となる。この場合、第１の画像データＧ１において実像が取得され、第２画像データＧ２において虚像（ミラーイメージ）が取得される。

一方、測定光と参照光との光路長が一致する深度位置が網膜表面より奥側に形成されるように参照ミラー３１が配置されると、網膜表面側よりも脈絡膜側部分の感度が高い眼底断層像（逆像）が取得される。この場合、第１の画像データＧ１と第２画像データＧ２における眼底断層像は、互いに反対方向を向いた状態にある。この場合、第２の画像データＧ２において実像が取得され、第１の画像データＧ１において虚像（ミラーイメージ）が取得される。

制御部７０は、例えば、断層画像の画像データＧのうち、第１の画像データＧ１もしくは第２画像データＧ２のいずれかの画像データを抽出し、モニタ７５の画面上に表示する。なお、本実施形態では、第１の画像データＧ１を抽出する設定となっている。

本実施形態において、制御部７０は、受光素子８３から出力されるスペクトルデータに対しソフトウェアによる分散補正処理を施す。そして、分散補正後のスペクトルデータに基づいて深さプロファイルを得る。このため、実像と虚像との間で画質において差異が生じる。

例えば、実像に対する分散の影響を補正するための分散補正値として第１の分散補正値（正像用）をメモリ７２から取得し、受光素子８３から出力されるスペクトルデータを第１の分散補正値を用いて補正し、補正されたスペクトル強度データをフーリエ変換して断層画像データを形成する。これにより、第１の画像データＧ１において実像が取得されたとき、その実像は、高感度・高解像度の画像にて取得され、第１の画像データＧ１において虚像が取得されたとき、その虚像は、分散補正値の違いにより低解像度のぼやけた像となる。

もちろん、これに限定されず、虚像に対するソフトウェアの分散補正が行われても良い。また、第２の画像データＧ２を抽出する設定であってもよいし、もちろん第１の画像データＧ１と第２の画像データＧ２の両方を抽出する設定であってもよい。また、所定のスイッチにより任意に設定されてもよい。

以上のような構成を備える装置において、その制御動作について説明する。図３は、本装置における動作の流れを示すフローチャートである。検者は、固視標投影ユニット３００の固視標を注視するように被検者に指示した後、図示無き前眼部観察用カメラで撮影される前眼部観察像をモニタ７５で見ながら、被検眼の瞳孔中心に測定光軸がくるように、図示無きジョイスティックを用いて、アライメント操作を行う。

次いで、最適化を行うことによって、検者が所望する眼底部位が高感度・高解像度で観察できるようにする。なお、本実施形態において、最適化の制御は、光路長調整、フォーカス調整、偏光状態の調整（ポラライザ調整）、の制御である。

検者は、コントロール部７４に配置された最適化開始スイッチ（Ｏｐｔｉｍｉｚｅスイッチ）７４ａを押す。最適化開始スイッチ７４ａから操作信号が発せられると、制御部７０は、最適化制御を開始するためのトリガ信号を発し、最適化を開始する。

ここで、制御部７０は、第１光路長調整と第２光路長調整の間にＯＣＴ光学系２００を調整することにより撮影条件の最適化を行う。本実施形態における最適化としては、例えば、第１自動光路長調整、フォーカス調整、第２自動光路長調整、ポラライザ調整の順で行われる。最適化の完了後、検者により、図示無き撮影スイッチが押されると、眼底断層像が撮影され、メモリ７５に記憶される。

なお、本実施形態において、第１自動光路長調整、フォーカス調整、ポラライザ調整は、断層画像の信号強度を検出することによって行われる。以下の説明では、第１自動光路長調整、フォーカス調整では、信号強度を示す指標として所定の評価値Ｂが用いられ、ポラライザ調整では、特定部位の信号強度を示す指標として評価値Ｃが用いられてもよい（詳しくは、＜ポラライザ調整＞参照）。なお、第１自動光路長調整、フォーカス調整においても、評価値Ｃが用いられてもよい。

評価値Ｂは、Ｂ＝（（画像の平均最大輝度値）−（画像の背景領域の平均輝度値））／（背景領域の輝度値の標準偏差）の式より求められる。制御部７０は、受光素子８３からの出力信号に基づいて取得される断層画像の輝度分布データを取得する。例えば、図４は、参照ミラー、フォーカシングレンズ、ポラライザがある所定の位置に配置されている場合のモニタ７５の画面上に表示された画像を示す図である。

制御部７０は、初めに、深さ方向（Ａスキャン方向）に走査する複数の走査線を設定し、各走査線上における輝度分布データを求める。図４においては、画像を１０分割し、１０本の分割線を走査線としている。図５は、画像の深さ方向における輝度分布の変化を示す図である。

ここで、制御部７０は、各走査線に対応する輝度分布から輝度値の最大値（以下、最大輝度値と省略する）を算出する。そして、制御部７０は、眼底断層像における最大輝度値として、各走査線における最大輝度値の平均値を算出する。そして、制御部７０は、眼底断層像における背景領域の平均輝度値として、各走査線における背景領域の輝度値の平均値を算出する。

このようにして、算出された評価値Ｂは、第１自動光路長調整、フォーカス調整において利用される。なお、この場合、画像データＧ１内の断層画像にて、評価値Ｂを算出することが好ましい。

＜最適化制御＞
図６は、本実施形態に係る最適化制御について説明する図である。概して、制御部７０は、初期化の制御として、参照ミラー３１とフォーカシングレンズ２４の位置を初期位置に設定する。初期化完了後、制御部７０は、設定した初期位置から参照ミラー３１を一方向に所定ステップで移動させ、第１光路長調整を行う（第１自動光路長調整）。第１光路長調整完了後、制御部７０は、合焦位置情報を取得し、フォーカスシングレンズ２４を合焦位置に移動させ、オートフォーカス調整を行う。そして、オートフォーカス調整完了後、再度、参照ミラー３１を光軸方向に移動させ、光路長の再調整（光路長の微調整）をする第２光路長調整を行う。第２光路長調整完了後、制御部７０は、参照光の偏光状態を調節するためのポラライザ３３を駆動させ、測定光の偏光状態を調整する。

以下に、最適化制御の一例について詳細に説明する。

＜初期化＞
初めに、制御部７０は、初期化の制御を行う。初期化の制御は、参照ミラー３１とフォーカシングレンズ２４の位置を初期位置（移動開始位置）に移動させる。

そして、初期化の制御が開始されると、制御部７０は、移動限界位置Ｋ１又は移動限界位置Ｋ２のどちらかの位置を参照ミラー３１の初期位置として選択する。なお、初期位置の決定は、初期化の制御を開始する以前の参照ミラー３１の位置から移動限界位置Ｋ１又は移動限界位置Ｋ２により近い側の位置が選択される。そして、制御部７０は、移動限界位置Ｋ１又は移動限界位置Ｋ２の初期位置へ参照ミラー３１を移動させる。もちろん、異なる基準に基づいて、初期位置に設定するための移動方向の決定を行ってもよい。

また、制御部７０は、フォーカシングレンズ２４を初期位置（本実施形態においては、０Ｄに対応する位置）へ移動させる。

＜第１自動光路長調整（粗調整）＞
以上のようにして、初期化が完了すると、次いで、制御部７０は、第１自動光路長調整（自動粗光路長調整）を行う。図７は、第１自動光路長調整の制御動作の流れを示すフローチャートである。

制御部７０は、駆動機構５０の駆動を制御して参照ミラー３１を移動させると共に、参照ミラー３１の各位置にて受光素子８３から出力される出力信号に基づいて、眼底断層像が取得される位置に参照ミラー３１を移動させる。

具体的には、制御部７０は、初期位置にて断層画像を取得した後、初期位置とは逆の移動限界位置に向けて参照ミラー３１を移動させる。例えば、参照ミラー３１の初期位置として限界位置Ｋ１が選択（設定）された場合、限界位置Ｋ２に向けて方向へ移動させる。

ここで、制御部７０は、参照ミラー３１を所定のステップ（例えば、撮影範囲として２ｍｍステップ）で移動させ、各移動位置における断層画像を順次取得していき、眼底断層像が取得される位置を探索していく。

この場合、制御部７０は、離散的に設定された参照ミラー３１の移動位置において、参照ミラー３１が停止される度に断層像を取得する。そして、制御部７０は、各位置にて取得される断層画像を解析する。例えば、制御部７０は、各位置にて取得される断層像の評価値Ｂを算出する。そして、制御部７０は、参照ミラー３１の位置と断層像の評価値Ｂとを対応付けてメモリ７５に記憶する。

図８は、参照ミラー３１の位置ごとにおける評価値Ｂの算出結果の一例を示す図である。横軸は、参照ミラーの位置、縦軸は、参照ミラーの各位置における評価値Ｂを表記したものである。

ここで、制御部７０は、取得された参照ミラー３１の位置ごとにおける評価値Ｂの算出結果から、評価値Ｂのピークを検出する。そして、制御部７０は、ピークの検出位置に対応する参照ミラー３１の位置をメモリ７５に記憶させる。そして、制御部７０は、評価値Ｂのピークに対応する位置へ参照ミラー３１を移動させる。なお、一般的には、眼底の実像が断層画像中に現れるときの参照ミラー３１の位置が、評価値Ｂのピークが検出される位置となる。ただし、フォーカスがあっていない場合においては、虚像が断層画像中に現れるときの参照ミラー３１の位置が、評価値Ｂのピークが検出される位置となる場合もありえる。

以上のようにして光路長がラフに調整されると、モニタ７２上のいずれかの位置に眼底断層像の少なくとも一部が表示された状態となる。

なお、本実施形態においては、参照ミラー３１を所定のステップで移動させる場合、評価値Ｂの上昇がなくなり、下降をはじめた位置で、参照ミラー３１の駆動を停止するようにしてもよい。また、制御部７０は、参照ミラー３１の位置ごとにおける評価値Ｂの算出結果からピークに対応する参照ミラーの位置を推測するようにしてもよい。（例えば、評価値Ｂの変化を示す近似曲線を作成する）。

＜オートフォーカス調整＞
制御部７０は、第１自動光路長調整が完了すると、次いで、フォーカス調整を行う。

制御部７０は、第１自動光路長調整を経て、受光素子８３から出力される出力信号に基づいて、被検者眼眼底に対する合焦位置にフォーカシングレンズ２４を移動させる。

具体的には、制御部７０は、駆動部２４ａの駆動を制御し、所定の初期位置から所定のステップでレンズ２４を移動させる。そして、制御部７０は、各移動位置における断層画像を順次取得していき、合焦位置（眼底断層像のフォーカスが合う位置）を探索していく。

例えば、制御部７０は、ある移動限界位置に向けて０．５Ｄずつレンズ２４を移動させていき、合焦位置が見つかれなければ、反対方向にレンズ２４を移動させる。なお、レンズ２４の移動ステップは、これに限定されず、例えば、１Ｄでもよいし、２Ｄでもよく、任意に設定される構成でもよい。

合焦位置の探索は、離散的に設定されたフォーカシングレンズ２４の移動位置でフォーカシングレンズ２４が停止される度に、その位置にて取得される画像を解析する。例えば、制御部７０は、各位置にて取得される断層像の評価値Ｂを算出する。そして、制御部７０は、レンズ２４の位置と断層像の評価値Ｂとを対応付けてメモリ７５に記憶する。

ここで、制御部７０は、取得されたフォーカシングレンズ２４の位置ごとにおける評価値Ｂの算出結果から、評価値Ｂのピークを検出する。そして、制御部７０は、ピークの検出位置に対応する位置へフォーカシングレンズ２４を移動させる。以上のようにして、フォーカス調整が完了される。

＜第２光路長調整（微調整）＞
制御部７０は、フォーカス調整を経て、受光素子８３から出力される出力信号に基づいて、第１自動光路長調整によって調整された位置から参照ミラー３１の位置を再調整する。

具体的には、フォーカス調整が完了すると、制御部７０は、フォーカス調整によって取得された断層画像に基づいて、参照ミラー３１を移動させる第２自動光路長調整を行う。

ここで、制御部７０は、画像データＧ１において、フォーカス調整後に取得された眼底断層像が実像か虚像かを判定する。例えば、制御部７０は、深さ方向での輝度分布におけるピークに対する半値幅が所定の許容幅より小さいとき、眼底断層像を実像と判定し、半値幅が所定の許容幅が大きいとき、眼底断層像を虚像する。なお、断層像の実虚の判定については、実像と虚像との間の画質の差異が利用される手法であればよく、半値幅の他、例えば、断層像のコントラスト、断層像のエッジの立ち上がり度等が利用される。また、眼底断層像の形状が利用されてもよい。

制御部７０は、取得される眼底断層像が虚像と判定された場合、実像が取得される方向（参照光が短くなる方向）に向けて参照ミラー３１を移動させる。このとき、制御部７０は、光路長一致位置Ｓから像検出位置までの偏位量をゼロにする参照ミラー３１の移動量を算出し、さらに算出された移動量の２倍分参照ミラー３１を移動させる。これにより、実像のみが取得された状態となる。この場合、参照ミラー３１が一定量移動されたときの偏位量を予め求めておけばよい。これにより、制御部７０は、光路長断層像の深度位置から像検出位置までの偏位量が所定の偏位量となるように参照ミラー３１を移動させることが可能となり、眼底断層像を所定の表示位置に表示できる。なお、参照ミラー３１を移動させる手段はこれに限定されるものではない。例えば、虚像と判定された場合に、予め、参照ミラー３１を実像が取得される方向（参照光が短くなる方向）に向けて移動させる所定のオフセット量を設定しておく。そして、制御部７０は、眼底断層像が虚像と判定された場合、参照ミラー３１を所定のオフセット量分移動させる。

また、取得される眼底断層像が実像と判定された場合、制御部７０は、深さ方向における輝度分布のピークが検出された位置を像位置とみなし、予め設定された光路長調整位置と像位置との変位量を算出し、その変位量がなくなるように参照ミラー３１を移動させる（特開２０１０−１２１１１号公報参照）。

制御部７０は、上記のように画像データＧ１の断層像に対する実虚の判定を行うと共に、さらに、画像データＧ１において実像と虚像が並存するか否かを並行して判定するのが好ましい。例えば、制御部７０は、前述のように算出される各走査線における最大輝度値の検出位置の平均位置を眼底断層像の像位置Ｐ１として検出する。そして、制御部７０は、測定光と参照光の光路長が一致する深度位置Ｓ（第１の画像データの上端位置）から像検出位置Ｐ１までの偏位量を算出する。すなわち、制御部７０は、測定光と参照光の光路長が一致する深度位置Ｓを基準に眼底断層像の像位置を検出する。

そして、制御部７０は、前述のように算出される眼底断層像の像位置Ｐ１が断層画像の上端付近（例えば、断層画像の上端から１／４に相当する領域）にある場合、眼底断層像の実像と虚像が並存している状態であると判定する。この場合、制御部７０は、実像のみが取得される方向（参照光が短くなる方向）に向けて参照ミラー３１を所定量移動させる。この場合、実像と虚像が並存している状態から実像のみが取得された状態となるまでの参照ミラー３１の移動方向及び移動量を実験もしくはシミュレーションにより予め求めておき、メモリ７２に記憶しておけばよい。

以上のように、第１自動光路長調整、フォーカス調整、第２自動光路長調整という手順で最適化の制御を動作させる。本実施形態においては、第１自動光路長調整は、受光素子８３から出力される出力信号の信号強度に基づいて、断層画像中に眼底断層像が含まれるようにラフに光路長を調整するものである。一方、第２自動光路長調整は、受光素子８３から出力される出力信号に基づいて深さ方向における眼底断層像の位置情報を取得し、取得された位置情報に基づいて、眼底断層像が所定の深さ位置にて取得されるようにシビアに光路長を調整するものである。第１自動光路長調整がフォーカス調整を可能にするための光路長調整であるのに対し、第２自動光路長調整が撮影時の最適な光路長に調整するための光路長調整である。

例えば、フォーカス調整は、眼底断層像の輝度値に基づいて行われるため、断層画像の撮影範囲内に眼底断層像が含まれる必要がある。このため、フォーカス調整前に、第１自動光路長調整により粗く光路長を調整し、断層画像中に眼底断層像が取得されるようにしたので、フォーカスをスムーズに調整できる。

また、上記のように断層画像に基づくフォーカス調整後に光路長を再調整することにより、フォーカス調整によって画質（解像度、コントラストなど）が向上した眼底像を用いて光路長を調整できるため、所定の位置に向けて眼底像を確実に誘導できる。

すなわち、フォーカス調整前の光路長調整では、画像から検出される輝度が弱いために、実像・虚像の判定、適正な深さ位置への眼底断層像の誘導制御が適正に行わない場合がある。そこで、上記のようにフォーカス前とフォーカス後に自動光路長調整（ＯＰＬ）制御を行うことにより、光路長調整をスムーズかつ安定して行うことができる。

このようなことにより、ＳＬＯ光学系もしくは眼底カメラ光学系等の眼底正面撮影専用の光学系を利用しない光断層像撮影装置でも、スムーズに光路長調整とフォーカス調整を可能にする。

＜ポラライザ調整＞
制御部７０は、第２自動光路長調整後に受光素子８３から出力される出力信号に基づき、ポラライザ３３を駆動させ、偏光状態の調整を行う。

具体的には、制御部７０は、ポラライザ３３の位置を初期位置より、移動開始位置に移動させる。なお、ポラライザ３３の初期位置は、第１移動限界位置から第２移動限界位置までの間の途中の位置に配置されている。なお、ポラライザ調整の際の、ポラライザ３３の移動開始位置は、第１移動限界位置又は第２移動限界位置の位置となる。

制御部７０は、ポラライザ３３を途中位置から第１移動限界位置又は第２移動限界位置のどちらかの移動開始位置を選択し、移動させる。例えば、制御部７０は、第１移動限界位置を移動開始位置として選択し、ポラライザ３３を移動させる。そして、制御部７０は、ポラライザ３３を第１移動限界位置から第２移動限界位置方向へ移動させる。なお、移動開始位置が第２移動限界位置の場合には、第１移動限界位置方向へ移動させる。

なお、制御部７０は、例えば、移動開始位置とは、逆の移動限界位置まで、５°ずつポラライザ３３を移動させてもよい。なお、本実施形態では、５°ずつポラライザ３３を移動させる構成としたが、これに限定されない。例えば、１０°でもよいし、２０°でもよく、任意に設定できる構成でもよい。

以下、特定部位に対して偏光状態を調整する場合の一例を示す。この場合、検者が所望する特定部位が、予め設定されてもよく、例えば、複数の特定部位（例えば、網膜、脈絡膜、病変部位、前眼部の隅角又はシユレム管、等）が表示モニタ７５に選択可能に表示され、コントロール部７４を介して検者によって選択されてもよい。

特定部位を設定するタイミングとしては、上記アライメント、フォーカス等が行われる前段階において、撮影部位等の設定と同時に、検者によって操作されるコントロール部７４を介して設定されることで、スムーズな設定及び撮影が可能となる。もちろん、他のタイミングで設定されてもよい。

予め設定された特定部位に対する偏光調整を行う場合、例えば、制御部７０は、ポラライザ３３の各移動位置における断層画像を順次取得していき、予め設定された特定部位での信号強度がより強く検出される最適位置を探索してもよい。

最適位置は、例えば、結果として、特定部位での信号強度がより強く検出される位置であり、測定光による特定部位から反射光と参照光とがより干渉する位置である。特定部位からの反射光には、Ｐ偏光又はＳ偏光のいずれかの直線偏光のみ、あるいは、円偏光である場合もあり、特定部位への入射光の偏光特性、特定部位の偏光特性、特定部位まで光路における偏光特性等によって異なる。このため、ポラライザ３３の偏光特性が特定部位からの反射光の偏光特性に合致しない場合、特定部位の画質がよくない又は特定部位が画像化されない可能性がある。

そこで、ポラライザ３３の偏光特性を調整して特定部位からの反射光に合わせることによって特定部位からの反射光と参照光とがより干渉する位置（最適位置）での断層像を得ることで、結果として、特定部位に関して良好な断層像が得られる。例えば、干渉性が低い位置では特定部位の画質がよくない場合であっても、特定部位に対する偏光調整によって、特定部位がより鮮明に画像化された断層像が得られる。また、干渉性が低い位置では特定部位が画像化されない場合であっても、特定部位に対する偏光調整によって、特定部位が画像化された断層像が得られる。

なお、上記最適位置は、特定部位での信号強度が最も強く検出されるピーク位置に限定されるものではなく、ピーク位置の近傍であってもよく、これらによれば、より確実に特定部位の信号強度が強い断層像が得られる。また、最適位置としては、特定部位において許容できる一定強度の信号が検出される位置であってもよく、これによれば、偏光調整をより短時間で済ますことが可能である。

最適位置を探索する場合、制御部７０は、離散的に設定されたポラライザ３３の移動位置でポラライザ３３が停止される度に、その移動位置にて取得される画像を解析し、特定部位における評価値Ｃの算出を行ってもよい。

各移動位置にて特定部位における評価値Ｃを求める場合、制御部７０は、断層像に対して画像処理を行うことによって、特定部位を検出してもよい。網膜表層、脈絡膜等の層を検出する場合、制御部７０は、例えば、画像処理によって断層像を層毎に分離する（セグメンテーション）ことによって所定の層を検出してもよい。図９は特定部位として網膜表層が検出された場合の一例を示す図である（ハッチング参照）。

病変部位を特定する場合、制御部７０は、例えば、病変部位の形状、サイズ、輝度値等から画像処理により病変部位を検出してもよい。他の特徴部位（例えば、黄斑、乳頭、隅角、シュレム管）を検出する場合、制御部７０は、例えば、特徴部位の輝度、位置等から画像処理によって所定の特徴部位を検出してもよい。

特定部位が検出されると、制御部７０は、特定部位に対応する画像領域での信号強度に基づいて、特定部位における評価値Ｃを算出してもよい（図１０参照）。評価値Ｃとしては、例えば、特定部位に対応する画像領域での輝度値の累計値、平均値、コントラスト、先鋭度であってもよい。また、評価値Ｃは、深さ方向における信号強度の変化であってもよく、例えば、深さ方向における所定の閾値以上の輝度値を有する領域の広がり具合を評価値Ｃとしてもよい。また、特定部位における評価値を得る場合、画像処理によって検出された特定部位内での評価値Ｃであってもよいし、画像処理によって検出された特定部位を含む一定範囲内での評価値Ｃであってもよい。

制御部７０は、取得されたポラライザ３３の位置ごとにおける特定部位の評価値Ｃの算出結果から、最適位置に対応する移動位置（例えば、評価値Ｃがピークとなる位置、ピーク位置の近傍、評価値Ｃが所定の閾値を満たす位置等）を検出し、最適位置に対応する移動位置へポラライザ３３を移動させる。以上のようにして、ポラライザ調整が完了される。

ポラライザ調整が完了された後、撮像開始のトリガ信号が自動又は手動にて発せられた場合、制御部７０は、走査駆動機構５１の駆動を制御し、設定された走査領域に関して断層像をキャプチャーしてもよい。キャプチャーされた断層像は、図示無き記憶部に記憶される。この場合、制御部７０は、設定された走査領域において複数の断層像を取得してもよく、取得された複数の断層像に基づいて複合画像（例えば、加算平均画像、超解像画像）を取得してもよい。

上記によれば、特定の部位に対してポラライザ３３の位置を自動的に調整することによって、検者が所望する特定部位の断層像を容易に取得することができる。さらに、断層像の複合画像を得ることで、検者が所望する特定部位に関して、より鮮明な断層像が取得される。

なお、図１１は、特定部位として網膜表層が設定された場合のＯＣＴ画像の一例であり、図１２は、特定部位として脈絡膜が設定された場合のＯＣＴ画像の一例である。

なお、上記説明においては、一つの特定部位に関する断層像を取得したが、これに限定されず、複数の特定部位に関する断層像を取得するための偏光調整を行うようにしてもよい。この場合、制御部７０は、第１の特定部位（例えば、網膜表層）に対して偏光状態を調整することによって第１の特定部位に関する断層像を取得し、次に、第２の特定部位（例えば、脈絡膜）に対して偏光状態を調整することによって第２の特定部位に関する断層像を取得してもよい。

さらに、制御部７０は、第１の特定部位に関する第１の断層像と第２の特定部位に関する第２の断層像とを合成した複合画像（例えば、加算平均画像、超解像画像）を取得してもよい。また、複合画像としては、第１の断層像における第１の特定部位の画像領域と、第２の断層像における第２の特定部位の画像領域とを繋ぎ合わせた複合画像であってもよい。

なお、上記説明においては、特定部位を自動的に検出したが、これに限定されず、検者の手動によって検出してもよい。例えば、検者は、コントロール部７４を操作し、表示モニタ７５に表示された断層像上における特定部位に対応する領域を指定してもよい。制御部７０は、指定された領域に対する偏光調整を行ってもよい。これによって、断層像上で指定された特定部位の画質が良好な断層像を容易に取得できる。

なお、上記説明においては、特定部位が予め検者によって設定される例を示したが、これに限定されず、デフォルトとしてある特定部位が予め設定されており、予め設定された特定部位に対する偏光調整が行われてもよい。この場合、パラメータ設定により特定部位が変更できてもよい。また、病変部位が検出された場合、当該病変部位を特定部位として設定するようにしてもよい。

なお、上記説明においては、参照光の光路に配置されたポラライザ３３の偏光特性を調整して特定部位からの反射光に合わせたが、これに限定されず、測定光の光路に配置されたポラライザ３３の偏光特性を調整し、結果として、特定部位が良好に画像化された断層像が取得されてもよい。また、測定光の光路と参照光の光路の両方にポラライザ３３が配置され、各光路のポラライザが調整されることで、特定部位に対する偏光調整を行うようにしてもよい。

なお、被検眼の特定部位に対応するポラライザ３３の最適位置は、記憶部に記憶され、経過観察（フォローアップ）に用いられてもよい。つまり、制御部７０は、特定部位に対応するポラライザ３３の位置情報を記憶部から呼び出し、次回の撮影時に再現してもよい。この場合、各特定部位に応じてポラライザ３３の位置情報が記憶されてもよい。

フォローアップ撮影の場合、制御部７０は、上記位置情報を基準にして、一定範囲内（例えば、±１０度）を探索することによって、時間経過による変動に対応してもよい。なお、異なる装置間でフォローアップが行われてもよく、この場合、過去の最適位置に対し、ポラライザ３３を駆動させる際の個々の装置固有の偏光特性変化が考慮された位置にポラライザ３３が配置されてもよい。また、年齢や水晶体の混濁度等に基づいて、過去のポラライザの位置からのシフト量を推測し、フォローアップにおけるポラライザ３３の位置を求めてもよい。

また、例えば、制御部７０は、被検眼の特定部位に対応する最適位置にポラライザ３３が配置された状態において、装置のキャリブレーション処理を行うようにしてもよい。例えば、制御部７０は、特定部位での評価値Ｃがピークを示すように、ソフトウェアによる分散補正処理を行うようにしてもよい。これによって、特定部位に関してさらに良好なＯＣＴ画像が得られる。

なお、制御部７０は、ポラライザ３３の駆動前後のＯＣＴ画像、ポラライザ３３の駆動量に基づいて、被検体の特定部位における偏光特性に関する情報（例えば、複屈折量）を算出してもよい。例えば、制御部７０は、ポラライザ３３が最適位置（例えば、評価値Cが輝度のピークの位置）に配置された状態を基準としてポラライザ３３を駆動させ、特定部位の深さ方向への距離（厚み）とポラライザ３３の駆動量から複屈折量を算出してもよい。この場合、ポラライザ３３の単位駆動量あたりの偏光特性変化×ポラライザ駆動量＝複屈折量×深さ方向への距離としてみなすことができるので、複屈折量は、ポラライザ３３の単位駆動量あたりの偏光特性変化×ポラライザ３３の駆動量÷深さ方向への距離（厚み）によって求められる。なお、ポラライザ３３の単位駆動量あたりの偏光特性変化は、予め実験・シミュレーション等によって求められる。また、ポラライザ駆動量は、例えば、最適位置からの駆動量であってもよい。深さ方向への距離は、例えば、特定部位の厚みを画像処理によって求めることによって取得されてもよい。上記手法によれば、特定部位の偏光特性を簡単に測定できる。上記手法は、例えば、網膜表層（例えば、神経線維層）の複屈折量を測定するために用いることができる。

なお、上記手法に関し、特定部位の複屈折性を予め求めておくことで、特定部位に関するポラライザ３３の最適位置が逆算して求められてもよい。この場合、複数の被検体からの平均値が求められてもよいし、過去に取得された被検体の実際の複屈折性が用いられてもよい。

本実施例に係る光断層像撮影装置の光学系及び制御系を示す図である。 ＯＣＴ光学系によって取得される断層画像の一例を示す図である。 本装置における動作の流れを示すフローチャートである。 断層画像の輝度分布データを求めるために断層画像上を走査される走査線について説明する図である。 画像の深さ方向における輝度分布の変化を示す図である。 本実施形態に係る最適化制御について説明する図である。 第１自動光路長調整の制御動作の流れを示すフローチャートである。 参照ミラーの位置ごとにおける評価値の算出結果の一例を示す図である。 特定部位が設定された場合の一例を示す図である。 ポラライザの位置ごとにおける評価値の算出結果の一例を示す図である。 特定部位として網膜表層が設定された場合のＯＣＴ画像の一例である。 特定部位として脈絡膜が設定された場合のＯＣＴ画像の一例である。

３３ ポラライザ
７０ 制御部
７５ 表示モニタ
２００ ＯＣＴ光学系

Claims (5)

1. 光源から出射された光束を測定光と参照光に分割し、測定光を被検体に導き、参照光を参照光学系に導いた後、前記被検体から反射された測定光と参照光との干渉状態を検出器により検出するＯＣＴ光学系と、
   測定光と参照光の少なくともいずれかの偏光状態を調整する偏光調整手段と
   前記検出器からの出力信号に基づいてＯＣＴ画像を取得する光干渉断層撮像装置において、
   前記偏光調整手段を制御して前記ＯＣＴ画像上に含まれる被検体の特定部位に対して前記偏光状態を調整し、前記特定部位に関する前記ＯＣＴ画像を取得する画像取得手段を備えることを特徴とする光干渉断層撮像装置。
2. 前記画像取得手段は、前記特定部位が適正に画像化されたＯＣＴ画像が取得されるように前記偏光調整手段を制御することを特徴とする請求項１の光干渉断層撮像装置。
3. 前記画像取得手段は、前記ＯＣＴ画像上に含まれる被検体の特定部位を画像処理により検出し、検出された特定部位における画像信号を評価することを特徴とする請求項１〜２のいずれかの光干渉断層撮像装置。
4. 画像取得手段は、前記ＯＣＴ光学系によって取得される特定部位を含むＯＣＴ画像に基づいて被検体の特定部位に対するトラッキングを行い、特定部位に対する偏光調整を行うことを特徴とする請求項１〜３のいずれかの光干渉断層撮像装置。
5. 前記被検体は、被検眼であることを特徴とする請求項１〜４のいずれかの光干渉断層撮像装置。