JP2018163048A - 表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査システム - Google Patents
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Abstract
Description
表面欠陥検査装置の他に、ピンホール計やガウジセンサー(介在物センサともいう)を併設し、ピンホール及びガウジについてはこれらの検査装置にて品質保証を行う場合もある。特にピンホールは微小欠陥であることが多いため、ピンホール計を併設しているラインが多い。なお、鋼鈑のプロセスラインにおいて一般的に使用されるピンホール計及びガウジセンサーの検出原理は、以下の通りである。
表面欠陥検査装置自体で微小欠陥を検出できるようにするための技術としては、以下のような技術がある。
ピンホール計及びガウジセンサーについては、以下の理由により表面欠陥を過検出することがある。
(2−1)の方法によれば、微小な凹凸欠陥を検出しやすくはなるが、表面の粗度パターンの影響を完全になくせる訳ではない。また、表面欠陥によっては乱反射光で検出しやすい表面欠陥(主に模様状欠陥)があるため、鏡面反射が支配的な条件下ではこれらの表面欠陥の検出能が損なわれる可能性がある。また、照射光の波長が高波長側に限定されるため、使用する光源が制約される可能性があり、短波長側の青色系の光で検出しやすい表面欠陥については検出能が損なわれる可能性がある。また、光源の入射角が大きい側に限定されるため、鋼鈑表面に照射される光源の位置が板厚によって変わりやすく、検査可能な板厚範囲が小さくなってしまう。
図1は、本発明の一実施形態である表面欠陥検査システムの構成を示すブロック図である。図1に示すように、本発明の一実施形態である表面欠陥検査システム1は、移動する鋼板の表面欠陥を検査する装置であり、ピンホール計2、ガウジセンサー3、ピンホール計制御盤4、ガウジセンサー制御盤5、パルス信号生成器(PLG)6、表面欠陥検査装置リレー盤7、及び表面欠陥検査装置8を主な構成要素として備えている。
図2は、本発明の一実施形態である表面欠陥検査処理の流れを示すフローチャートである。図2に示すフローチャートは、表面欠陥検査装置8に対して表面欠陥検査処理の実行指示が入力されたタイミングで開始となり、表面欠陥検査処理はステップS1の処理に進む。
(2)ピンホール計やガウジセンサーの検出が過検出か否かを判断できるようになる。
(3)欠陥混入率の判定がしやすくなる(表面検査装置だけで判定できるようになる)。
2 ピンホール計
3 ガウジセンサー
4 ピンホール計制御盤
5 ガウジセンサー制御盤
6 パルス信号生成器(PLG)
7 表面欠陥検査装置リレー盤
8 表面欠陥検査装置
Claims (5)
- 移動する鋼板の表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置の鋼板移動方向上流側に、前記鋼板を貫通した光を検出することによって前記鋼板に形成されたピンホールを検出するピンホール計を設置するステップと、
前記ピンホール計が前記ピンホールを検出している間、前記ピンホール計が前記表面欠陥検査装置に検出信号を出力するステップと、
前記ピンホール計から前記検出信号が出力されている間、前記表面欠陥検査装置が前記ピンホールの検査を行う時に表面欠陥の過検出を抑制するピクセルフィルターの設定を解除又は緩和するステップと、
を含むことを特徴とする表面欠陥検査方法。 - 前記ピンホール計から前記検出信号が出力されている間、前記表面欠陥検査装置が軽度のランクの微小欠陥を重大欠陥として分類するように欠陥分類テーブルを変更するステップを含むことを特徴とする請求項1に記載の表面欠陥検査方法。
- 移動する鋼板の表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置の鋼板移動方向上流側に、前記鋼板を貫通した光を検出することによって前記鋼板に形成されたピンホールを検出するピンホール計及び前記鋼板の漏洩磁束を検出することによって前記鋼板のガウジを検出するガウジセンサーを設置するステップと、
前記ピンホール計又は前記ガウジセンサーから前記検出信号が出力されている間、前記表面欠陥検査装置が前記ピンホール又は前記ガウジの検査を行う時に表面欠陥の過検出を抑制するピクセルフィルターの設定を解除又は緩和するステップと、
を含むことを特徴とする表面欠陥検査方法。 - 前記ピンホール計又は前記ガウジセンサーから前記検出信号が出力されている間、前記表面欠陥検査装置が軽度のランクの微小欠陥を重大欠陥として分類するように欠陥分類テーブルを変更するステップを含むことを特徴とする請求項3に記載の表面欠陥検査方法。
- 移動する鋼板の表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置と、
前記表面欠陥検査装置の鋼板移動方向上流側に設置された、前記鋼板を貫通した光を検出することによって前記鋼板に形成されたピンホールを検出するピンホール計と、
を備え、
前記ピンホール計は、前記ピンホールを検出している間、前記表面欠陥検査装置に検出信号を出力し、
前記表面欠陥検査装置は、前記ピンホール計から前記検出信号が出力されている間、前記ピンホールの検査を行う時に表面欠陥の過検出を抑制するピクセルフィルターの設定を解除又は緩和する
ことを特徴とする表面欠陥検査システム。
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