JP2018142064A - 工作機械の誤差同定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】X,Y,Z軸方向に並進制御された直線3軸と、それぞれB,C軸回転制御された回転2軸とからなる5軸制御工作機械において、C軸側に基準球を設置し、B軸側にタッチプローブを取り付けるステップと、C軸を固定した状態でB軸角度を所定角度毎に割り出しながら基準球中心位置を計測する計測第1ステップと、前記タッチプローブの測定点の旋回半径を変えて前記計測第1ステップと同様に基準球中心位置を計測する計測第2ステップと、B軸を固定した状態でC軸角度を所定角度毎に割り出しながら基準球中心位置を計測する計測第3ステップと、前記基準球のZ方向初期位置を変えて前記計測第3ステップと同様に基準球中心位置を計測する計測第4ステップとを有することを特徴とする。
【選択図】 図1
Description
また、回転軸を割り出しながら基準球の中心位置をタッチプローブにて計測することで、幾何誤差を同定することも公知である。
しかし、同公報に関する同定方法は、例えば図1に示したターニングセンタモデルにおいて図5に示す13種類のうち、例えばαZY,βXB,γBS等の幾何誤差の同定が不充分である問題がある。
又は、図1のモデルにてC軸側のZ方向位置が異なる複数の基準球を用いて測定する方法でもよい。
また、同定する目的によっては、基準球のZ方向の初期位置を変えることと、タッチプローブの測定点の旋回半径を変えることの一方を採用してもよい。
幾何誤差の変化を計測することで、幾何誤差の影響を構造要素毎に分離して同定できるので、その補正により加工精度の向上が容易になる。
また、誤差同定の自動化を図ることで、工作機械のメンテナンスが容易になる。
図1,2に工作機械のモデルを模式的に示し、図2のL,R、2主軸対向ターニングセンタにおいて、L側の主軸の端面に図3に示すように基準球1を設置し、B軸側にタッチプローブ2を取り付ける。
タッチプローブ2には、旋回半径の異なるスタイラス2a〜2cが取り付けられた例になっている。
この種の工作機械は、主軸にてワークを保持し、B軸制御された工具主軸にツールを取り付け加工に供される。
基準球をL側に取り付けた場合,基準球中心位置計測値[X’Y’Z’]T[mm]は、次式で表せる。
基準球初期位置:[x0 0 z0]T[mm]
b:B軸角度 [°],c:C軸角度 [°]
B軸固定、C軸回転で基準球中心位置を計測する場合、基準球中心位置計測値[Xc’Yc’Zc’]T[mm]は、式(1)より次のように表せる。
ここでは、b=0°,Lz=0mmとする。
ここでは、c=0°とする。
1.C軸を固定し、B軸角度を一定間隔で割り出しながら基準球中心位置の計測データ(i)を得る。この時、B軸は0〜−90°の範囲で動かす。
2.タッチプローブの測定点を旋回半径の異なる位置に変え、手順1と同様の動作で基準球中心位置の計測データ(ii)を得る。データ(i)と(ii)の差を取ったものをデータ(i)’とする。
3.B軸を固定し、C軸角度を一定間隔で割り出しながら基準球中心位置の計測データ(iii)を得る。この時、C軸はちょうど1回転するように動かす。
4.基準球のZ方向初期位置を変え、手順3と同様の動作で基準球中心位置の計測データ(iv)を得る。データ(iii)と(iv)の差を取ったものをデータ(iv)’とする。
5.データ(iv)’と式(3)及び以下の公式(イ)より、幾何誤差αCZ,βCZが求まる。
7.式(5)をデータ(ii)’へフィッティングさせることにより、幾何誤差βZY,βXB,γBSが求まる。
8.手順5,6,7の結果を式(4)に代入したものを,データ(i)へフィッティングさせることにより、幾何誤差δxCZ,δyCZ,δxBS,δzBS,αXB,γXBが求まる。
B軸が0〜―90°の範囲で動かす間にC軸がちょうど1回転するように動かす。
すなわち、
したがって、式(1)より、基準球中心位置計測値[X1’Y1’Z1’]T[mm]は、次式で表せる。
ここでは、c0=0°とする。
1.式(6)が成り立つようにB軸角度、C軸角度を一定間隔で割り出し、基準球中心位置の計測データ(i)を得る。
2.タッチプローブの測定点を、旋回半径の異なる位置に変え,手順1と同様の動作で基準球中心位置の計測データ(ii)を得る。データ(i)と(ii)の差を取ったものをデータ(ii)’とする.
3.基準球のZ方向初期位置を変え、手順1と同様の動作で基準球中心位置の計測データ(iii)を得る。データ(i)と(iii)の差を取ったものをデータ(iii)’とする。
4.データ(iii)’と式(8)より、幾何誤差αCZ,βCZが求まる。
5.式(9)をデータ(ii)’へフィッティングさせることにより、幾何誤差βZY,βXB,γBSが求まる。
6.手順4,5の結果を式(7)へ代入したものを、データ(i)へフィッティングさせることにより、幾何誤差δxCZ,δyCZ,δxBS,δzBS,αZY,γYX,αXB,γXBが求まる。
図6の表中、設定値に示すように各幾何誤差の値を上記簡易モデルに与えた。
具体的には、タッチプローブ測定点と基準球中心を一致させた状態で、B軸,C軸角度を与え、X,Y,Z軸上のスライド位置座標を測定した。
図2に示したL側のC軸端面中心を原点とするXYZ座標で測定した。
その際に、基準球の位置をS1;[80,0,50],S2;[80,0,100]に設定し、タッチプローブ測定点の位置(B軸と工具主軸の交点から見た座標)をP1;[−300,0,0],P2;[−280,0,−20]とした。
(b)に測定点P1と基準球S2を一致させて、B軸,C軸角度を同時に割り出した場合の測定データ(2)を示す。
(c)に測定点P2と基準球S1を一致させて、B軸,C軸角度を同時に割り出した場合の測定データ(3)を示す。
なお、C軸角度は、B軸角度値の−4倍となる。
図8(a)に、測定データ(1)−(2)の差分を示し、(b)に測定データ(1)−(3)の差分を示す。
これらの値に基づいて、同定した値を図6の表の同定値として示す。
この結果、同定誤差が小さいことが検証できた。
2 タッチプローブ
2a スタイラス
Claims (3)
- X,Y,Z軸方向に並進制御された直線3軸と、それぞれB,C軸回転制御された回転2軸とからなる5軸制御工作機械において、C軸側に基準球を設置し、B軸側にタッチプローブを取り付けるステップと、
C軸を固定した状態でB軸角度を所定角度毎に割り出しながら基準球中心位置を計測する計測第1ステップと、
前記タッチプローブの測定点の旋回半径を変えて前記計測第1ステップと同様に基準球中心位置を計測する計測第2ステップと、
B軸を固定した状態でC軸角度を所定角度毎に割り出しながら基準球中心位置を計測する計測第3ステップと、
前記基準球のZ方向初期位置を変えて前記計測第3ステップと同様に基準球中心位置を計測する計測第4ステップとを有することを特徴とする工作機械の誤差同定方法。 - X,Y,Z軸方向に並進制御された直線3軸と、それぞれB,C軸回転制御された回転2軸とからなる5軸制御工作機械において、C軸側に基準球を設置し、B軸側にタッチプローブを取り付けるステップと、
B軸を0〜−90°の範囲にて割り出し旋回させながらその間にC軸が1回転するように割り出しながら基準球中心位置を計測する同時計測第1ステップと、
前記タッチプローブの測定点の旋回半径を変えて前記同時計測第1ステップと同様に基準球中心位置を計測する同時計測第2ステップと、前記基準球のZ方向初期位置を変えて前記同時計測第1ステップと同様に基準球中心位置を計測する同時計測第3ステップとを有することを特徴とする工作機械の誤差同定方法。 - 前記タッチプローブは、測定点の旋回半径が異なる複数のスタイラスを有し、又はC軸側のZ方向位置が異なる複数の基準球を用いて測定することで自動計測を可能にした請求項1又は2記載の工作機械の誤差同定方法。
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