JP2018112532A - 計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム - Google Patents
計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】計測装置は、面に対して斜めに光を照射する照射部と、前記面からの反射光の強度分布を検出する検出部と、前記強度分布に基づいて前記面の二次元のBRDFを得る処理部と、前記処理部により得られた前記BRDFを表示する表示部と、を含み、前記検出部は、前記面からの正反射光の方向としての第1方向を含み、前記第1方向と前記面に直交する第2方向とのなす角度以上の角度を前記第1方向となす方向を含まない方向の範囲において前記強度分布を検出する。
【選択図】図5
Description
本発明に係る計測システム100(計測装置)の構成について、図1および図2を参照しながら説明する。図1は、計測システム100の外観図であり、図2は、計測システム100の構成を示すブロック図である。計測システム100は、例えば、計測装置10と情報処理装置18(コンピュータ)とを含みうる。情報処理装置18は、例えば、CPU等を有する処理部18a(第1処理部)と、メモリ等を有する記憶部18bと、画像を出力する出力部18c(第2処理部)と、マウスやキーボード等を有する入力部18dと、通信I/F18eを含みうる。出力部18cは、LCDなどの表示部18fに画像を出力する(表示させる)表示制御部としての機能も有する。情報処理装置18は、無線やケーブルにより通信I/F18eを介して計測装置10(制御部15)と接続され、計測装置10で計測された計測結果(反射特性)を取得しうる。
以下に、具体的な実施形態について説明する。
本実施形態の処理部15aは、前述のように検出部による検出結果(反射光の強度分布)に基づいて求めたBRDFを二次元の階調分布として表した画像(以下、二次元画像)を生成する。そして、出力部13が、処理部15aで生成された二次元画像を表示部13aに出力する(表示させる)。
第2実施形態の計測システムでは、処理部15aは、生成した二次元画像における二次元の階調分布に基づいて、予め定められた方向(所定方向)に当該二次元の階調分布を投影して得られる一次元の階調分布を表示部13aに出力する(表示させる)。当該二次元の階調分布の投影は、二次元の階調分布の積算または代表値抽出によって行われる。例えば、処理部15aは、生成した二次元画像に基づいて、当該二次元画像(二次元の階調分布)における所定方向の一次元分布を示す画像(以下、一次元画像)を生成し、生成した一次元画像と二次元画像とを表示部13aに出力する。第2実施形態の計測システムは、第1実施形態の計測システム100と構成が同様であるため、構成についての説明を省略する。
第3実施形態では、計測部12による複数回の反射特性の計測によって得られた複数の計測結果を、情報処理装置18において処理する方法について説明する。図8は、複数回(5回)にわたる反射特性の計測により得られた複数の計測結果の一覧が表示された表示部18fの画面(一覧ウィンドウ40)の一例を示す図である。処理部18aは、複数の計測結果の一覧を出力部18cによって表示部18fに表示する機能を有したソフトウェアを含みうる。ここで、本実施形態では、複数の計測結果を情報処理装置18において処理する方法について説明するが、例えば、複数の計測結果を計測装置10の制御部15において処理する場合にも同様の方法を適用することができる。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
Claims (20)
- 計測装置であって、
面に対して斜めに光を照射する照射部と、
前記面からの反射光の強度分布を検出する検出部と、
前記強度分布に基づいて前記面の二次元のBRDFを得る処理部と、
前記処理部により得られた前記BRDFを表示する表示部と、
を含み、
前記検出部は、前記面からの正反射光の方向としての第1方向を含み、前記第1方向と前記面に直交する第2方向とのなす角度以上の角度を前記第1方向となす方向を含まない方向の範囲において前記強度分布を検出することを特徴とする計測装置。 - 前記範囲は、前記反射光の反射角の範囲としての0度より大きく90度より小さい範囲に対応する範囲であることを特徴とする請求項1に記載の計測装置。
- 前記範囲は、前記正反射光を含む入射平面と、前記正反射光を含み且つ前記入射平面に直交する平面とのそれぞれにおける範囲であることを特徴とする請求項1又は2に記載の計測装置。
- 前記処理部は、前記BRDFを二次元の階調分布として前記表示部に表示させることを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記処理部は、予め定められた方向に前記階調分布を投影して得られる一次元の階調分布を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項4に記載の計測装置。
- 前記処理部は、前記二次元の階調分布の積算または代表値抽出により前記投影を行うことを特徴とする請求項5に記載の計測装置。
- 前記処理部は、前記二次元の階調分布を横切る線上の階調分布としての一次元の階調分布を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項5又は6に記載の計測装置。
- 前記処理部は、色の変化により前記階調分布を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項4乃至7のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記処理部は、パターンの変化により前記階調分布を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項4乃至7のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記処理部は、前記強度分布に基づいて前記面の鏡面光沢度、ヘイズ、DOI、写像性のうち少なくとも1つを得、前記少なくとも1つを前記表示部に表示させることを特徴とする請求項1乃至9のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記照射部と前記検出部とが設けられた筐体を含み、
前記表示部は、前記筐体の外部に設けられていることを特徴とする請求項1乃至10のうちいずれか1項に記載の計測装置。 - 面に対して斜めに光を照射して得られた前記面からの反射光の強度分布の情報を処理する情報処理装置であって、
前記情報に基づいて前記面の二次元のBRDFを得る第1処理部と、
前記BRDFを二次元の階調分布として表示部に表示させる第2処理部と、
を含み、
前記強度分布は、前記面からの正反射光の方向としての第1方向を含み、かつ前記第1方向と前記面に直交する第2方向とのなす角度以上の角度を前記第1方向となす方向を含まない方向の範囲において得られたものであることを特徴とする情報処理装置。 - 面に対して斜めに光を照射して得られた前記面からの反射光の強度分布の情報を処理する情報処理方法であって、
前記情報に基づいて前記面の二次元のBRDFを得る第1工程と、
前記BRDFを二次元の階調分布として表示部に表示させる第2工程と、
を含み、
前記強度分布は、前記面からの正反射光の方向としての第1方向を含み、かつ前記第1方向と前記面に直交する第2方向とのなす角度以上の角度を前記第1方向となす方向を含まない方向の範囲において得られたものであることを特徴とする情報処理方法。 - 請求項13に記載の情報処理方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
- 計測装置であって、
面に対して斜めに光を照射する照射部と、
前記面からの反射光の強度分布を検出する検出部と、
前記強度分布に基づいて前記面の二次元のBRDFを得、予め定められた方向に前記二次元のBRDFを投影して一次元の階調分布を得る処理部と、
前記処理部により得られた前記一次元の階調分布を表示する表示部と、
を含むことを特徴とする計測装置。 - 前記処理部は、前記二次元のBRDFの積算または代表値抽出により前記投影を行うことを特徴とする請求項15に記載の計測装置。
- 前記処理部は、前記二次元のBRDFを横切る線上の階調分布としての一次元の階調分布を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項15又は16に記載の計測装置。
- 面に対して斜めに光を照射して得られた前記面からの反射光の強度分布の情報を処理する情報処理装置であって、
前記情報に基づいて前記面の二次元のBRDFを得る第1処理部と、
予め定められた方向に前記二次元のBRDFを投影して得られる一次元の階調分布を表示部に表示させる第2処理部と、
を含むことを特徴とする情報処理装置。 - 面に対して斜めに光を照射して得られた前記面からの反射光の強度分布の情報を処理する情報処理方法であって、
前記情報に基づいて前記面の二次元のBRDFを得る第1工程と、
予め定められた方向に前記二次元のBRDFを投影して得られる一次元の階調分布を表示部に表示させる第2工程と、
を含むことを特徴とする情報処理方法。 - 請求項19に記載の情報処理方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017004614A JP6557688B2 (ja) | 2017-01-13 | 2017-01-13 | 計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム |
PCT/JP2017/042952 WO2018131308A1 (ja) | 2017-01-13 | 2017-11-30 | 計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム |
CN201780082738.9A CN110192099A (zh) | 2017-01-13 | 2017-11-30 | 测量装置、信息处理装置、信息处理方法和程序 |
EP17891867.8A EP3570010A4 (en) | 2017-01-13 | 2017-11-30 | MEASURING DEVICE, INFORMATION PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING PROCESS AND PROGRAM |
US16/506,197 US20190331600A1 (en) | 2017-01-13 | 2019-07-09 | Measurement apparatus, information processing apparatus, information processing method, and storage medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017004614A JP6557688B2 (ja) | 2017-01-13 | 2017-01-13 | 計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018112532A true JP2018112532A (ja) | 2018-07-19 |
JP6557688B2 JP6557688B2 (ja) | 2019-08-07 |
Family
ID=62839949
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017004614A Active JP6557688B2 (ja) | 2017-01-13 | 2017-01-13 | 計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20190331600A1 (ja) |
EP (1) | EP3570010A4 (ja) |
JP (1) | JP6557688B2 (ja) |
CN (1) | CN110192099A (ja) |
WO (1) | WO2018131308A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116402819B (zh) * | 2023-06-08 | 2023-09-12 | 季华实验室 | 类镜面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62197718A (ja) * | 1986-02-25 | 1987-09-01 | Agency Of Ind Science & Technol | 光ビ−ムパタ−ン測定方法 |
JPS62265537A (ja) * | 1986-05-13 | 1987-11-18 | Jeol Ltd | 時系列温度分布画像データの表示方法 |
JPH08501880A (ja) * | 1992-11-30 | 1996-02-27 | ブロート リサーチ オーガニゼイション インコーポレイテッド | 半球状に散乱あるいは放射された光を高速に測定する装置および方法 |
JP2009507537A (ja) * | 2005-09-09 | 2009-02-26 | カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト | 病変組織のより有意義な解剖学的特徴を明らかにする生体画像データの処理方法 |
JP2009150876A (ja) * | 2007-11-30 | 2009-07-09 | Hitachi High-Technologies Corp | スペクトル解析および表示 |
US20110234621A1 (en) * | 2009-04-24 | 2011-09-29 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Process for generating bidirectional reflectance distribution functions of gonioapparent materials with limited measurement data |
JP2014126408A (ja) * | 2012-12-25 | 2014-07-07 | Canon Inc | 反射特性の測定装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19954183C2 (de) * | 1999-11-08 | 2003-07-31 | Autronic Melchers Gmbh | Verfahren und Einrichtung zum Messen und Bewerten des Streuverhaltens von Oberflächen |
JP4745512B2 (ja) * | 2001-02-09 | 2011-08-10 | キヤノン株式会社 | カラー画像形成装置 |
JP4777992B2 (ja) * | 2004-10-08 | 2011-09-21 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 検査表面の光学検査 |
CN100494986C (zh) * | 2004-10-29 | 2009-06-03 | 夏普株式会社 | 镜面光泽预测装置、镜面光泽预测方法、控制程序及介质 |
WO2006116386A1 (en) * | 2005-04-25 | 2006-11-02 | X-Rite, Incorporated | Measuring an appearance property of a surface using a spatially under-sampled bidirectional reflectance distribution function |
JP2008256454A (ja) * | 2007-04-03 | 2008-10-23 | Konica Minolta Sensing Inc | 光学特性測定装置および該方法 |
WO2009024904A2 (en) * | 2007-08-22 | 2009-02-26 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Method and apparatus for the optical characterization of surfaces |
FR2986337B1 (fr) * | 2012-01-31 | 2014-09-05 | Jean-Pierre Lauret | Systeme optique destine a mesurer la brdf, bsdf et bdtf |
JP6410451B2 (ja) * | 2014-03-31 | 2018-10-24 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、計測システム、情報処理方法およびプログラム。 |
JP6635674B2 (ja) | 2015-05-11 | 2020-01-29 | キヤノン株式会社 | 計測装置、計測方法およびプログラム |
JP6560028B2 (ja) | 2015-06-04 | 2019-08-14 | 株式会社日本触媒 | 空気金属電池用電極及び空気金属電池 |
JP6614827B2 (ja) * | 2015-06-30 | 2019-12-04 | キヤノン株式会社 | 測長装置および物品製造方法 |
-
2017
- 2017-01-13 JP JP2017004614A patent/JP6557688B2/ja active Active
- 2017-11-30 WO PCT/JP2017/042952 patent/WO2018131308A1/ja unknown
- 2017-11-30 CN CN201780082738.9A patent/CN110192099A/zh active Pending
- 2017-11-30 EP EP17891867.8A patent/EP3570010A4/en not_active Withdrawn
-
2019
- 2019-07-09 US US16/506,197 patent/US20190331600A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62197718A (ja) * | 1986-02-25 | 1987-09-01 | Agency Of Ind Science & Technol | 光ビ−ムパタ−ン測定方法 |
JPS62265537A (ja) * | 1986-05-13 | 1987-11-18 | Jeol Ltd | 時系列温度分布画像データの表示方法 |
JPH08501880A (ja) * | 1992-11-30 | 1996-02-27 | ブロート リサーチ オーガニゼイション インコーポレイテッド | 半球状に散乱あるいは放射された光を高速に測定する装置および方法 |
JP2009507537A (ja) * | 2005-09-09 | 2009-02-26 | カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト | 病変組織のより有意義な解剖学的特徴を明らかにする生体画像データの処理方法 |
JP2009150876A (ja) * | 2007-11-30 | 2009-07-09 | Hitachi High-Technologies Corp | スペクトル解析および表示 |
US20110234621A1 (en) * | 2009-04-24 | 2011-09-29 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Process for generating bidirectional reflectance distribution functions of gonioapparent materials with limited measurement data |
JP2014126408A (ja) * | 2012-12-25 | 2014-07-07 | Canon Inc | 反射特性の測定装置 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
BECKER: "Evaluation and characterization of display reflectance", DISPLAYS, vol. VOLUME 19,NUMBER 1, JPN6018043921, 30 June 1998 (1998-06-30), pages 35 - 54, ISSN: 0003915510 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6557688B2 (ja) | 2019-08-07 |
EP3570010A4 (en) | 2020-10-07 |
EP3570010A1 (en) | 2019-11-20 |
CN110192099A (zh) | 2019-08-30 |
US20190331600A1 (en) | 2019-10-31 |
WO2018131308A1 (ja) | 2018-07-19 |
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