JP2018025510A - Surface inspection system and surface inspection method - Google Patents
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Abstract
Description
本明細書開示の発明は、面検査装置及び面検査方法に関する。 The invention disclosed in this specification relates to a surface inspection apparatus and a surface inspection method.
従来、物品の表面の欠陥を検査する装置が種々提案されている。例えば、感光体ドラムや帯電ロールなどの表面の凹凸欠陥について凹凸判別可能な表面層欠陥検査装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。また、簡易的に感光ドラムの外観検査を行うことができる取扱性のよい外観検査装置も知られている(例えば、特許文献2参照)。これらは、いずれも検査光が照射された検査対象物の表面を撮像し、撮像された画像に基づいて検査を行う。 Conventionally, various apparatuses for inspecting defects on the surface of an article have been proposed. For example, there is known a surface layer defect inspection apparatus capable of determining unevenness on surface unevenness defects such as a photosensitive drum and a charging roll (see, for example, Patent Document 1). There is also known an appearance inspection apparatus with good handleability that can easily perform an appearance inspection of a photosensitive drum (for example, see Patent Document 2). Each of these images images the surface of an inspection object irradiated with inspection light, and performs an inspection based on the captured image.
ところで、検査対象物は種々想定され、その表面に生じることがある欠陥も種々の態様のものが想定される。このため、検査対象物への検査光の照射態様によっては、欠陥が適切に検出されない可能性がある。 By the way, various inspection objects are assumed, and defects that may occur on the surface thereof are assumed to have various aspects. For this reason, a defect may not be detected appropriately depending on the irradiation mode of the inspection light onto the inspection object.
特許文献1や特許文献2は、種々の態様の欠陥を検出する点において、改良の余地を有している。
1つの側面では、本明細書開示の面検査装置及び面検査方法は検査対象物における種々の態様の欠陥を検出することを課題とする。 In one aspect, an object of the surface inspection apparatus and the surface inspection method disclosed in the present specification is to detect various types of defects in an inspection object.
本明細書開示の面検査装置は、検査対象物の検査面の軸方向に対する傾きが異なる複数の線光源と、前記複数の線光源により照射され、複数の線形状の検出ラインが形成されている前記検査面を撮像する撮像部と、前記撮像部によって撮像された画像に表れた前記検出ラインのいずれかに線形状の乱れが検出された場合に、前記検査面上に欠陥が存在すると判断する検出部と、を備える。 The surface inspection apparatus disclosed in the present specification is irradiated with a plurality of line light sources having different inclinations with respect to the axial direction of the inspection surface of the inspection object, and a plurality of line-shaped detection lines are formed. It is determined that there is a defect on the inspection surface when a line shape disorder is detected in any of the imaging unit that images the inspection surface and the detection line that appears in the image captured by the imaging unit. A detection unit.
また、本明細書開示の面検査方法は、検査対象物の検査面の軸方向に対する傾きが異なる複数の線光源により前記検査面を照射する工程と、前記複数の線光源により照射され、複数の線形状の検出ラインが形成されている前記検査面を撮像部によって撮像する工程と、前記撮像部によって撮像された画像に表れた前記検出ラインの線形状を検査し、少なくともいずれか一方の線形状に乱れが検出された場合に、前記検査面上に欠陥が存在すると判断する工程と、を備える。 Further, the surface inspection method disclosed in the present specification includes a step of irradiating the inspection surface with a plurality of line light sources having different inclinations with respect to the axial direction of the inspection surface of the inspection object, The step of imaging the inspection surface on which the detection line having a line shape is formed by an imaging unit, and inspecting the line shape of the detection line that appears in the image captured by the imaging unit, and at least one of the line shapes And a step of determining that a defect is present on the inspection surface when a disturbance is detected.
本明細書開示の面検査装置及び面検査方法によれば、検査対象物における種々の態様の欠陥を検出することができる。 According to the surface inspection apparatus and the surface inspection method disclosed in the present specification, it is possible to detect various types of defects in the inspection object.
以下、本明細書開示の発明の実施形態について、添付図面を参照しつつ説明する。ただし、図面中、各部の寸法、比率等は、実際のものと完全に一致するようには図示されていない場合がある。また、図面によっては、説明の都合上、実際には存在する構成要素が省略されていたり、寸法が実際よりも誇張されて描かれていたりする場合がある。 Hereinafter, embodiments of the invention disclosed in this specification will be described with reference to the accompanying drawings. However, in the drawings, the dimensions, ratios, and the like of each part may not be shown so as to completely match the actual ones. Further, depending on the drawings, components that are actually present may be omitted for convenience of explanation, or dimensions may be exaggerated from the actual drawing.
(第1実施形態)
まず、図1乃至図8を参照しつつ、第1実施形態の面検査装置1について説明する。図1は第1実施形態の面検査装置のブロック図である。図2は第1実施形態の面検査装置が備える第1照明、第2照明及びカメラと検査対象物である電池との位置関係を模式的に示す説明図である。図3(A)は電池軸線方向から観た第1照明、第2照明及びカメラと検査対象物である電池との位置関係を示す説明図であり、図3(B)は図3(A)におけるX1方向から観た第1照明、第2照明及びカメラと検査対象物である電池との位置関係を示す説明図であり、図3(C)は図3(A)におけるX2方向から観た第1照明、第2照明及びカメラと検査対象物である電池との位置関係を示す説明図である。図4(A)は電池軸線に直交する方向に延びる皺の一例を示す説明図であり、図4(B)は電池軸線に沿う方向に延びる皺の一例を示す説明図であり、図4(C)は、電池軸線からずれた方向に延びる皺の一例を示す説明図である。図5は第1照明が検出できる欠陥の方向の一例を示す説明図である。図6は電池のラベルに表れる第1検出ライン及び第2検出ラインの一例を示す説明図である。図7(A)はラベルに生じている欠陥が凸状の皺であるときに検出ラインに生じる線形状の乱れの一例を模式的に示す説明図であり、図7(B)はラベルに生じている欠陥が凹状の皺であるときに検出ラインに生じる線形状の乱れの一例を模式的に示す説明図である。図8は第1照明と第2照明とを交差させて配置した例を示す説明図である。
(First embodiment)
First, the
図1を参照すると、面検査装置1は、制御部2を備えている。制御部2は、画像処理部3と検出部4とを備えている。面検査装置1は、カメラ5、回転駆動部6、第1照明10及び第2照明20を備える。カメラ5は、撮像部の一例である。第1照明10及び第2照明20は複数の光源の一例である。本実施形態における面検査装置1は、主として円筒形状の電池30の表面に貼付されるラベル30aに生じることがある欠陥を検出する。ラベル30aに生じることがある欠陥は、凸状や、凹状の皺である。回転駆動部6は、図2に示すように、検査対象物となる電池30を回転させる。電池30は、回転駆動部6によって回転させられ、検査面となるラベル30aの表面がカメラ5によって撮像される。
Referring to FIG. 1, the
図2、図3(A)乃至図3(C)を参照すると、第1照明10と第2照明20とは、検査面の軸方向に対する傾きが異なっている。すなわち、特に図3(B)によく表れているように、第1照明10の軸線AX1と第2照明20の軸線AX2とは重なっていない。なお、検査面の軸方向は任意に設定することができる。要は、第1照明10と第2照明20とが、いずれも検査面を照射することができ、かつ、軸線AX1と軸線AX2とが重ならない状態となっていればよい。本実施形態における検査面の軸方向は電池30の軸、すなわち、電池軸線AX0が延びる方向と一致している。
Referring to FIGS. 2 and 3A to 3C, the
本実施形態では、第1照明10の軸線AX1は、電池軸線AX0に対し傾いている。また、第2照明20の軸線AX2は、電池軸線AX0に対して軸線AX1と反対側に傾いている。図3(C)を参照すると、第1照明10は、蛍光灯10aを備えている。軸線AX1はこの蛍光灯10aの長手方向に一致している。同様に、第2照明20は蛍光灯20aを備えている。軸線AX2はこの蛍光灯20aの長手方向に一致している。電池軸線AX0は、円筒形状の電池の長手方向に沿って延びている。本実施形態では、軸線AX1と軸線AX2がそれぞれ電池軸線AX0に対して逆側に傾けて設定されていることにより、第1照明10と第2照明20とが重ならず、検査面の軸線に対する傾きが異なる状態に設定されている。なお、軸線AX1と軸線AX2とが平行となっていなければ、軸線AX1と軸線AX2のいずれか一方が電池軸線AX0と平行となっていてもよい。
In the present embodiment, the axis AX1 of the
蛍光灯10a及び蛍光灯10bは、拡散光照明の一例として採用されている。皺を検出は、拡散光照明を、電池30に巻かれ、貼付されているラベル30aの表面、すなわち、検査面に照射し、その検出ラインをカメラ5で撮像し、その画像を分析することで行われる。拡散光照明には、例えば、レーザ光のように直進する光源は含まれない。蛍光灯10a、10b以外では、例えば、LED球を直線状に配列して検出ラインを形成するようにしてもよい。
The
図4(A)乃至図4(C)を参照し、電池30のラベル30aに生じることがある皺の態様について説明する。ラベル30aに生じることがある皺は、種々の態様となることが想定される。皺は、例えば、図4(A)に示す皺31aのように、電池軸線AX0に直交する方向に延びている場合がある。また、皺は、図4(B)に示す皺31bのように、電池軸線AX0に沿う方向に延びている場合がある。さらに、皺は、図4(C)に示す皺31cは、電池軸線AX0からずれた方向に延びている場合がある。
With reference to FIG. 4 (A) thru | or FIG. 4 (C), the aspect of the wrinkles which may arise in the
このように、ラベル30aに生じ得る欠陥としての皺は、ラベル30aの全周のいずれの方向にも延びる可能性がある。これに対し、一つの線光源を用い、一本の検出ラインを形成するだけでは、検出できない角度が存在し、検出漏れが生じる可能性がある。例えば、本実施形態の第1照明10は、図5に示すように、軸線AX1に対する垂線PL1の前後30°の範囲内に延びる皺を検出することができない。そこで、本実施形態では、一本の照明では検出することができない範囲をカバーすることができるように、二本の照明を装備している。そして、本実施形態の場合は、第1照明10が検出できない範囲をカバーするために検査面の軸に対する傾きが第1照明10と異なる第2照明20を装備している。そして、第2照明20は、第1照明10がカバーすることができない軸線AX1を0°としたときの60°〜120°の範囲及び240°〜300°の範囲をカバーすべく、軸線AX2を軸線AX1に対し60°ずらしている。すなわち、軸線AX1は電池軸線AX0に対して30°ずれており、軸線AX2は電池軸線AX0に対して軸線AX1とは反対側に30°ずれている。これにより、図3(B)や図3(C)によく表れているように、第1照明10と第2照明20とは、いわゆるV字状に配置されている。
Thus, wrinkles as defects that may occur in the
本実施形態では、2本の照明10、20を備えるが、3本以上の照明を備えるようにしてもよい。すなわち、360°全域に亘って皺の存在を検出することができればよい。この際、各照明の検出可能範囲が重複していてもよい。
In the present embodiment, the two
検出部4は、カメラ5によって撮像された画像に表れた検出ラインDL1、DL2のいずれかに線形状の乱れが検出された場合に、検査面上に欠陥が存在すると判断する。図6を参照すると、ラベル30aには、第1照明10による第1検出ラインDL1と第2照明20による第2検出ラインDL2が表れる。ラベル30aに皺がない場合、第1検出ラインDL1の線形状は、ほぼ同一幅の一本の線であり、その線の長手方向に延びる両縁はほぼ平行である。第2検出ラインDL2についても同様である。
The
ところが、ラベル30aに皺が生じている場合、例えば、図7(A)や図7(B)に示すような線形状が観測される。図7(A)は、皺が凸状である場合に観測される線形状の一例である。皺がラベル30aの表面から突出するような凸状となっている場合、第1検出ラインDL1の線形状には、線形状の屈曲、すなわち、屈曲部DL11が観測される。また、図7(B)は、皺が凹状である場合に観測される線形状の一例である。皺がラベル30aの表面から窪むような凹状となっている場合、第1検出ラインDL1には、線幅の変化、すなわち、幅広部DL12が観測される。第2検出ラインDL2においても同様である。屈曲部DL11や幅広部DL12は、線形状の乱れの一例であり、屈曲部DL11や幅広部DL12が検出された場合、第2検出ラインDL2において同様の屈曲部や幅広部が検出された場合、検出部4は、線形状の乱れが検出されたと判断する。そして、検出部4は、検査面上に欠陥が存在すると判断する。なお、皺の態様により、皺が凸状であるのか凹状であるのかを判定することもできるが、本実施形態の場合、いずれかの形態の欠陥が検出された場合には、その態様を区別することなく不良品であるとして、その電池30を選り分ける。
However, when wrinkles occur in the
なお、図7(A)や図7(B)に示す線形状の乱れは、例示であり、他の態様の乱れが観測された場合にも、ラベル30aに欠陥があるとして、その電池30を選り分けるようにすることもできる。
7A and 7B are examples, and even when other forms of disturbance are observed, it is assumed that the
このような面検査装置1を用いることで、面検査を実行することができる。すなわち、検査対象物である電池30を回転駆動部6で回転させながら線光源である第1照明10と第2照明20によりラベル30aを照射する。そして、第1検出ラインDL1および第2検出ラインDL2が形成されている検査面をカメラ5により、撮像する。ついで、画像処理部3により、カメラ5で撮像された画像から第1検出ラインDL1および第2検出ラインDL2が抽出される。検出部4は、抽出した第1検出ラインDL1および第2検出ラインDL2を検査する。そして、少なくともいずれか一方の線形状に乱れが検出された場合に、検査面上に欠陥が存在すると判断する。このような面検査方法を実行することにより、検査対象における種々の態様の欠陥を検出することができる。
By using such a
本実施形態の第1照明10と第2照明20とは、いわゆるV字状に配置されているが、例えば、図8に示すように、いわゆるX字状に配置されている第1照明110と第2照明120としてもよい。
Although the
(第2実施形態)
つぎに、図9乃至図15を参照しつつ、第2実施形態について説明する。図9は第2実施形態の面検査装置のブロック図である。図10は第2実施形態の面検査装置が備える第1照明及び第2照明に装備されているLED球を示す説明図である。図11は電池の周囲に貼付されるラベルの展開図である。図12は第2実施形態において第1照明及び第2照明の調光情報を作成する際のフローチャートの一例である。図13(A)は第1照明の調光情報が割り振られるグリッドの一例を示す説明図であり、図13(B)は第2照明の調光情報が割り振られるグリッドの一例を示す説明図である。図14は第2実施形態の面検査装置により、面検査を実施する際のフローチャートの一例である。図15(A)は最初に撮像された画像の一例を示す説明図であり、図15(B)は検出開始位置を示す説明図である。なお、以下の説明において、電池30、ラベル30a、第1検出ラインDL1および第2検出ラインDL2については、第1実施形態と共通の参照番号を用いて説明する。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 9 is a block diagram of a surface inspection apparatus according to the second embodiment. FIG. 10 is an explanatory view showing LED spheres equipped in the first illumination and the second illumination included in the surface inspection apparatus of the second embodiment. FIG. 11 is a development view of a label affixed around the battery. FIG. 12 is an example of a flowchart for creating dimming information for the first illumination and the second illumination in the second embodiment. FIG. 13A is an explanatory diagram illustrating an example of a grid to which dimming information for the first illumination is allocated, and FIG. 13B is an explanatory diagram illustrating an example of a grid to which the dimming information for the second illumination is allocated. is there. FIG. 14 is an example of a flowchart when the surface inspection is performed by the surface inspection apparatus of the second embodiment. FIG. 15A is an explanatory diagram illustrating an example of an image captured first, and FIG. 15B is an explanatory diagram illustrating a detection start position. In the following description, the
図9を参照すると、面検査装置50は、制御部52を備えている。制御部52は、画像処理部53と検出部54とを備えている。面検査装置50は、カメラ55、回転駆動部56、第1照明60及び第2照明70を備える。カメラ55は、撮像部の一例である。第1照明60及び第2照明70は複数の光源の一例である。本実施形態における面検査装置50も第1実施形態の面検査装置1と同様に、主として円筒形状の電池30の表面に貼付されるラベル30aに生じることがある欠陥を検出する。回転駆動部56は、検査対象物となる電池30を回転させる。電池30は、回転駆動部56によって回転させられ、検査面となるラベル30aの表面がカメラ55によって撮像される。以上の構成は、基本的に第1実施形態と共通する。
Referring to FIG. 9, the
本実施形態の面検査装置50は、これらに加え、調光部57および記憶部58を備える。また、第1照明60および第2照明70は、以下の点において、第1実施形態の第1照明10および第2照明20と異なっている。
In addition to these, the
図10を参照すると、第1照明60および第2照明70は、それぞれ、拡散光照明であり、第1実施形態と同様に互いに60°隔てたいわゆるV字状に配置されている。しかしながら、第1照明60および第2照明70は、いずれも、蛍光灯に代えて、直線状に配置されている複数の光源、具体的にLED球60a乃至60h、70a乃至70hを備えている。第1照明60と第2照明70は、同一の構成であるので、以下の説明では、第1照明60を中心に説明する。
Referring to FIG. 10, each of the
LED球60a乃至60hは、それぞれ調光部57によって輝度調節可能にされている。調光部57は、複数のLED球60a乃至60hが検査面となるラベル30aを照射したときの輝度を検出ラインの全域に亘って予め設定されている基準輝度に調整する。ここで、基準輝度について説明する。本実施形態の面検査装置50は、第1実施形態の面検査装置1と同様に、撮像された画像に基づき、検出ラインに乱れがあるか否かによって欠陥を検出する。このため、検出ラインは、その全域に亘って均質に照射されていることが望ましい。ここで、本願実施形態の第1照明60および第2照明70はV字状に配置され、第1照明60の軸方向の位置によって検査面までの距離が異なることが想定される。第1照明60から検査面までの距離が軸方向に沿って異なっていると、画像中の検出ラインの輝度が軸方向に沿って変化している可能性がある。また、図11を参照すると、ラベル30aの全域を撮像し、展開した状態となるように撮影した保存画像80には、種々の文字が施され、場合によっては、模様も配されている。これらの文字や模様が色彩を有していると、画像中の検出ラインの輝度に影響を与える。例えば、保存画像80中の色彩が白色の箇所は、輝度が高く、黒色の箇所は輝度が低くなる。このように、画像中の輝度自体が異なっていると、その輝度の相違が、皺の検出に影響を与える可能性がある。そこで、本実施形態では、画像中の輝度が均質となるように調整する。このとき、輝度調整の目標値となるのが基準輝度である。例えば、保存画像80中の白色の箇所を照射するLED球の出力を落とすことで画像中のその個所の輝度を基準輝度に一致させることができる。これとは逆に、保存画像80中の黒色の箇所を照射するLED球の出力を上げることで画像中のその個所の輝度を基準輝度に一致させることができる。また、検査面に遠い位置にあるLED球の出力を上げることでそのLED球が照射する位置の輝度を基準輝度に一致させることができる。
The brightness of the
ここで、図12を参照しつつ、第1照明60及び第2照明70の調光情報の作成について説明する。調光情報の作成は、実際の電池30のラベル30aにおける欠陥検出を実施する準備作業として行われる。この調光情報の作成作業では、欠陥がないことが確認されている電池30を用いて実施される。また、この作業は、電池30の種類毎に実施される。すなわち、ラベル30aのデザインが異なる場合、電池30のサイズが異なる場合には、そのデザイン、寸法毎に調光状の作成作業が実施される。
Here, creation of dimming information of the
まず、ステップS1では、電池30に第1照明60および第2照明70を照射し、ラベル30a上に第1検出ラインDL1および第2検出ラインDL2を形成する。そして、ステップS2において、カメラ55によって電池30の表面を撮像し、その画像を記憶部58に保存する。保存された画像は、図11に示す保存画像である。これは、電池30を一周に亘って連続的に撮像したものであり、ラベル30aの展開図となる。
First, in step S1, the
ステップS3では、撮像画像を分割する。具体的に図13(A)や図13(B)に示すように、複数の行に分割し、さらに、各行内を軸方向に沿って分割してグリッドを形成する。図13(A)は第1照明60についての分割態様について示している。図13(B)は第2照明70についての分割態様について示している。図13(A)におけるθ1は、30°である。これは、第1照明60の軸線AX1が電池軸線AX0に対して30°傾いていることに一致させたものである。図13(B)におけるθ2は、30°である。これは、第2照明70の軸線AX2が電池軸線AX0に対して軸線AX1とは反対側に30°傾いていることに一致させたものである。図13(A)および図13(B)における横軸は、それぞれ回転方向に沿った位置を表している。図13(A)における縦軸は、第1照明60のLED球60a乃至60hに対応している。図13(B)における縦軸は、第2照明70のLED球70a乃至70hに対応している。
In step S3, the captured image is divided. Specifically, as shown in FIGS. 13A and 13B, a grid is formed by dividing into a plurality of rows and further dividing the inside of each row along the axial direction. FIG. 13A shows the division mode for the
つぎに、ステップS4では、行毎に各グリッドの算出輝度を取得する。例えば、図13(A)を参照して、保存画像80における1行60a列に対応する位置、1行60b列に対応する位置の輝度を算出輝度として取得する。算出輝度は全グリッドについて取得する。
Next, in step S4, the calculated luminance of each grid is acquired for each row. For example, with reference to FIG. 13A, the brightness at the position corresponding to the
つぎに、ステップS5では、行毎に各グリッドの算出輝度と基準輝度との比較を行う。そして、ステップS6では、例えば、1行60a列のグリッドに関し、算出輝度が基準輝度の範囲よりも低いか否かの判断を行う。ステップS6でYESと判断したときは、ステップS7へ進む。ステップS7では、算出輝度と基準輝度との輝度差に応じて電流値を上昇させる。一方、ステップS6でNOと判断したときは、ステップS8へ進む。ステップS8では、算出輝度が基準輝度の範囲よりも高いか否かの判断を行う。ステップS8でYESと判断したときは、ステップS9へ進む。ステップS9では、算出輝度と基準輝度との輝度差に応じて電流値を低下させる。
Next, in step S5, the calculated luminance of each grid is compared with the reference luminance for each row. In step S6, for example, it is determined whether or not the calculated luminance is lower than the reference luminance range with respect to the grid of one
ステップS8でNOと判断した場合は、ステップS10へ進む。また、ステップS7やステップS9を経由した後もステップS10で進む。ステップS10では、対象行についての調光が完了したか否かを判断する。ステップS10でNOと判断したときは、ステップS6からの処理を繰り返す。一方、ステップS10でYESと判断したときは、ステップS11へ進む。ステップS11では、対象行の調光結果を記憶部58に記憶する。ステップS11に引き続いて行われるステップS12では、電池一周分の保存が完了したか否かを判断する。ステップS12でNOと判断したときはステップS13へ進み、対象とする行を移行する。一方、ステップS12でYESと判断したときは、処理は終了する(END)。このようにして、グリッド毎の調光情報が作成される。調光情報は、第1照明60と第2照明70の双方に対して作成される。
If NO is determined in step S8, the process proceeds to step S10. Moreover, it progresses by step S10 also after passing through step S7 and step S9. In step S10, it is determined whether or not dimming has been completed for the target row. If NO is determined in step S10, the processing from step S6 is repeated. On the other hand, if YES is determined in the step S10, the process proceeds to a step S11. In step S <b> 11, the dimming result of the target row is stored in the
実際に欠陥の検査を行うときは、このようにして得られたグリッド毎の調光情報に基づいて、電池30の回転に同期させて第1照明60のLED球60a乃至60h、第2照明70のLED球70a乃至70hを点灯させる。これにより、ラベル30aに欠陥がない場合に、均質で乱れのない第1検出ラインDL1および第2検出ラインDL2が観測される状態となっている。
When actually inspecting defects, the
なお、本実施形態では、最初に保存画像80としてラベル30aの全体の展開図を得てから撮像画像を分割し、輝度調整のための演算を行っているが、電池30を回転させながら、順次輝度調整のための演算を行うようにしてもよい。
In the present embodiment, the developed image of the
つぎに、図14および図13を参照しつつ、実際の面検査の一例について説明する。なお、本実施形態では、まず、第1照明60を照射しての検査を行い、第1照明60を照射しての検査が電池30の全周に亘って完了した後、第2照明70を照射しての検査を行う。これは、第1照明60の軸線AX1と第2照明70の軸線AX2とがずれており、一台のカメラ55で同時に双方の傾きに対応した撮像を行うことが困難であることを考慮したためである。
Next, an example of actual surface inspection will be described with reference to FIGS. 14 and 13. In the present embodiment, first, an inspection is performed by irradiating the
まず、第1照明60を照射しての検査を行う。ステップS21では、カメラ55で電池30の表面を撮像する。このとき、カメラ55は、軸線AX1に対応させている。撮像された画像は、図15(A)に示すように、保存画像80の一部に相当する部分画像80aである。ステップS22では、ステップS21で撮像した部分画像80aがどの部分の画像であるのか判断し、その撮像位置を特定する。すなわち、図15(B)で示すように、予め保存されている保存画像80と部分画像80aとを比較して、部分画像80aと一致する位置を探し出し、撮像位置S0を特定する。
First, an inspection is performed by irradiating the
ステップS23では、検出開始位置S1を算出する。ここで、検出開始位置とは、調光情報と、第1検出ラインDL1または第2検出ラインDL2が形成されているラベル30a上の位置とを一致させ、欠陥の検出を開始する位置である。具体的に、回転駆動部56による電池30の回転速度と、これらの演算に費やされる時間から電池30の回転量を算出し、撮像位置S0からの距離を得ることで、検出開始位置S1を算出する。
In step S23, a detection start position S1 is calculated. Here, the detection start position is a position where the dimming information is matched with the position on the
ステップS24では、検出開始位置S1の調光情報を読み込む。例えば、検出開始位置S1が図13(A)における2行目に相当しているときは、その2行目に属するグリッドの調光情報を読み込む。 In step S24, the light control information at the detection start position S1 is read. For example, when the detection start position S1 corresponds to the second row in FIG. 13A, the dimming information of the grid belonging to the second row is read.
ステップS25では、ステップS24で読み込んだ調光状に基づいて、グリッドに対応するLED球60a乃至60h毎に出力調整をした照射を実行する。そして、ステップS26において第1検出ラインDL1は曲がっていないか、すなわち、図7(A)で示したような屈曲部DL11が観察されていないかを判断する。ステップS26でNOと判断したとき、すなわち、第1検出ラインDL1に曲がりが観察されたときは、ステップS27において、皺が発生しているとの判断をし、処理は、終了する(END)。
In step S25, based on the dimming state read in step S24, irradiation is performed with the output adjusted for each of the
一方、ステップS26でYESと判断したとき、すなわち、第1検出ラインDL1に曲がりが観察されなかったときは、ステップS28へ進む。ステップS28では、第1検出ラインDL1の幅が均一であるか、すなわち、図7(B)で示したような幅広部DL12が観察されていないかを判断する。ステップS28でNOと判断したとき、すなわち、検出ラインに幅の変化が観察されたときは、ステップS29において、皺が発生しているとの判断をし、処理は終了する。 On the other hand, when YES is determined in step S26, that is, when no bending is observed in the first detection line DL1, the process proceeds to step S28. In step S28, it is determined whether the width of the first detection line DL1 is uniform, that is, whether the wide portion DL12 as shown in FIG. 7B is not observed. When it is determined NO in step S28, that is, when a change in the width of the detection line is observed, it is determined in step S29 that wrinkles have occurred, and the process ends.
一方、ステップS28でYESと判断したとき、すなわち、第1検出ラインDL1に幅の変化が観察されなかったときは、ステップS30へ進む。ステップS30では、電池1周分の検査が完了したか否かを判断する、ステップS30でYESと判断したときは、ステップS31で正常判定を行う。なお、本実施形態の場合、この時点では、第1照明60を照射しての検査において、正常であるとの判定であり、第2照明70を照射しての検査において、皺が検出される可能性は残されている。すなわち、第1照明60を照射しての検査および第2照明70を照射しての検査の双方で正常と判断された場合に、検査対象となっている電池30について、完全に正常判定がなされる。
On the other hand, when YES is determined in the step S28, that is, when no change in the width is observed in the first detection line DL1, the process proceeds to a step S30. In step S30, it is determined whether or not the inspection for one round of the battery has been completed. If YES is determined in step S30, normal determination is performed in step S31. In the case of the present embodiment, at this time point, it is determined that the inspection is normal in the inspection with irradiation of the
ステップS30において、NOと判断したきは、ステップS32へ進み、次位置調光情報を読み込み、ステップS25からの処理を繰り返す。 If NO is determined in step S30, the process proceeds to step S32, the next position dimming information is read, and the processing from step S25 is repeated.
第1照明60を照射しての検査が完了した後、カメラ55の撮像位置を第2照明70の照射による第2検出ラインDL2に合わせ、再度、ステップS21〜ステップS32の処理を行う。これにより、検査対象物における種々の態様の欠陥を検出することができる。
After the inspection by irradiating the
なお、本実施形態では、一台のカメラ55を装備しているが、第1検出ラインDL1と第2検出ラインDL2の傾きが異なることから、これらの検出ライン毎に撮像できるように、二台のカメラを装備するようにしてもよい。
In the present embodiment, one
以上本発明の好ましい実施形態について詳述したが、本発明は係る特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形、変更が可能である。 Although the preferred embodiment of the present invention has been described in detail above, the present invention is not limited to the specific embodiment, and various modifications, within the scope of the gist of the present invention described in the claims, It can be changed.
1、50 面検査装置
2、52 制御部
3、53 画像処理部
4、54 検出部
5、55 カメラ
6、56 回転駆動部
57 調光部
58 記憶部
10、60 第1照明
20、70 第2照明
30 電池
30a ラベル
31a、31b、31c 皺
80 保存画像
AX0 電池軸線
AX1 第1照明軸線
AX2 第2照明軸線
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記複数の線光源により照射され、複数の線形状の検出ラインが形成されている前記検査面を撮像する撮像部と、
前記撮像部によって撮像された画像に表れた前記検出ラインのいずれかに線形状の乱れが検出された場合に、前記検査面上に欠陥が存在すると判断する検出部と、
を備える面検査装置。 A plurality of line light sources having different inclinations with respect to the axial direction of the inspection surface of the inspection object;
An imaging unit that images the inspection surface irradiated with the plurality of line light sources and formed with a plurality of line-shaped detection lines;
A detection unit that determines that a defect exists on the inspection surface when a disorder of a line shape is detected in any of the detection lines that appear in the image captured by the imaging unit;
A surface inspection apparatus comprising:
前記複数の線光源により照射され、複数の線形状の検出ラインが形成されている前記検査面を撮像部によって撮像する工程と、
前記撮像部によって撮像された画像に表れた前記検出ラインの線形状を検査し、少なくともいずれか一方の線形状に乱れが検出された場合に、前記検査面上に欠陥が存在すると判断する工程と、
を備える面検査方法。 Irradiating the inspection surface with a plurality of line light sources having different inclinations with respect to the axial direction of the inspection surface of the inspection object; and
Imaging the inspection surface irradiated with the plurality of line light sources and formed with a plurality of line-shaped detection lines;
Inspecting the line shape of the detection line appearing in the image captured by the imaging unit, and determining that a defect exists on the inspection surface when disturbance is detected in at least one of the line shapes; ,
A surface inspection method comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016158751A JP2018025510A (en) | 2016-08-12 | 2016-08-12 | Surface inspection system and surface inspection method |
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ID=61194551
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN109520441A (en) * | 2019-01-10 | 2019-03-26 | 英特维科技(深圳)有限公司 | Contour outline measuring set and its contour measuring method based on line laser |
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2016
- 2016-08-12 JP JP2016158751A patent/JP2018025510A/en active Pending
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