JP2018025510A - Surface inspection system and surface inspection method - Google Patents

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface inspection system capable of detecting various kinds of defects on an inspection object.SOLUTION: The surface inspection system includes: plural linear light sources different from each other in inclination with respect to an axial direction of an inspection surface of an inspection object; an imaging unit that picks up an image of the inspection surface on which plural linear detection lines are formed being illuminated by the plural linear light sources; and a detection part that, when detecting a disturbance on any linear line of the detection line in the image picked up by the imaging unit determines there is a defect on the inspection surface. With this, various kinds of defects on an inspection object can be detected.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本明細書開示の発明は、面検査装置及び面検査方法に関する。   The invention disclosed in this specification relates to a surface inspection apparatus and a surface inspection method.

従来、物品の表面の欠陥を検査する装置が種々提案されている。例えば、感光体ドラムや帯電ロールなどの表面の凹凸欠陥について凹凸判別可能な表面層欠陥検査装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。また、簡易的に感光ドラムの外観検査を行うことができる取扱性のよい外観検査装置も知られている（例えば、特許文献２参照）。これらは、いずれも検査光が照射された検査対象物の表面を撮像し、撮像された画像に基づいて検査を行う。   Conventionally, various apparatuses for inspecting defects on the surface of an article have been proposed. For example, there is known a surface layer defect inspection apparatus capable of determining unevenness on surface unevenness defects such as a photosensitive drum and a charging roll (see, for example, Patent Document 1). There is also known an appearance inspection apparatus with good handleability that can easily perform an appearance inspection of a photosensitive drum (for example, see Patent Document 2). Each of these images images the surface of an inspection object irradiated with inspection light, and performs an inspection based on the captured image.

特開平７−２３９３０４号公報JP 7-239304 A 特開２００８−２９２３６７号公報JP 2008-292367 A

ところで、検査対象物は種々想定され、その表面に生じることがある欠陥も種々の態様のものが想定される。このため、検査対象物への検査光の照射態様によっては、欠陥が適切に検出されない可能性がある。   By the way, various inspection objects are assumed, and defects that may occur on the surface thereof are assumed to have various aspects. For this reason, a defect may not be detected appropriately depending on the irradiation mode of the inspection light onto the inspection object.

特許文献１や特許文献２は、種々の態様の欠陥を検出する点において、改良の余地を有している。   Patent Document 1 and Patent Document 2 have room for improvement in terms of detecting defects of various modes.

１つの側面では、本明細書開示の面検査装置及び面検査方法は検査対象物における種々の態様の欠陥を検出することを課題とする。   In one aspect, an object of the surface inspection apparatus and the surface inspection method disclosed in the present specification is to detect various types of defects in an inspection object.

本明細書開示の面検査装置は、検査対象物の検査面の軸方向に対する傾きが異なる複数の線光源と、前記複数の線光源により照射され、複数の線形状の検出ラインが形成されている前記検査面を撮像する撮像部と、前記撮像部によって撮像された画像に表れた前記検出ラインのいずれかに線形状の乱れが検出された場合に、前記検査面上に欠陥が存在すると判断する検出部と、を備える。   The surface inspection apparatus disclosed in the present specification is irradiated with a plurality of line light sources having different inclinations with respect to the axial direction of the inspection surface of the inspection object, and a plurality of line-shaped detection lines are formed. It is determined that there is a defect on the inspection surface when a line shape disorder is detected in any of the imaging unit that images the inspection surface and the detection line that appears in the image captured by the imaging unit. A detection unit.

また、本明細書開示の面検査方法は、検査対象物の検査面の軸方向に対する傾きが異なる複数の線光源により前記検査面を照射する工程と、前記複数の線光源により照射され、複数の線形状の検出ラインが形成されている前記検査面を撮像部によって撮像する工程と、前記撮像部によって撮像された画像に表れた前記検出ラインの線形状を検査し、少なくともいずれか一方の線形状に乱れが検出された場合に、前記検査面上に欠陥が存在すると判断する工程と、を備える。   Further, the surface inspection method disclosed in the present specification includes a step of irradiating the inspection surface with a plurality of line light sources having different inclinations with respect to the axial direction of the inspection surface of the inspection object, The step of imaging the inspection surface on which the detection line having a line shape is formed by an imaging unit, and inspecting the line shape of the detection line that appears in the image captured by the imaging unit, and at least one of the line shapes And a step of determining that a defect is present on the inspection surface when a disturbance is detected.

本明細書開示の面検査装置及び面検査方法によれば、検査対象物における種々の態様の欠陥を検出することができる。   According to the surface inspection apparatus and the surface inspection method disclosed in the present specification, it is possible to detect various types of defects in the inspection object.

図１は第１実施形態の面検査装置のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of a surface inspection apparatus according to the first embodiment. 図２は第１実施形態の面検査装置が備える第１照明、第２照明及びカメラと検査対象物である電池との位置関係を模式的に示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram schematically showing a positional relationship between the first illumination, the second illumination, and the camera provided in the surface inspection apparatus of the first embodiment and a battery that is an inspection object. 図３（Ａ）は電池軸線方向から観た第１照明、第２照明及びカメラと検査対象物である電池との位置関係を示す説明図であり、図３（Ｂ）は図３（Ａ）におけるＸ１方向から観た第１照明、第２照明及びカメラと検査対象物である電池との位置関係を示す説明図であり、図３（Ｃ）は図３（Ａ）におけるＸ２方向から観た第１照明、第２照明及びカメラと検査対象物である電池との位置関係を示す説明図である。FIG. 3A is an explanatory view showing the first illumination, the second illumination, and the positional relationship between the camera and the battery that is the inspection object, as seen from the battery axial direction, and FIG. It is explanatory drawing which shows the positional relationship of the 1st illumination seen from the X1 direction, 2nd illumination, and a camera, and the battery which is a test object, FIG.3 (C) was seen from the X2 direction in FIG. 3 (A). It is explanatory drawing which shows the positional relationship of 1st illumination, 2nd illumination, a camera, and the battery which is a test object. 図４（Ａ）は電池軸線に直交する方向に延びる皺の一例を示す説明図であり、図４（Ｂ）は電池軸線に沿う方向に延びる皺の一例を示す説明図であり、図４（Ｃ）は、電池軸線からずれた方向に延びる皺の一例を示す説明図である。4A is an explanatory view showing an example of a ridge extending in a direction perpendicular to the battery axis, and FIG. 4B is an explanatory view showing an example of a ridge extending in a direction along the battery axis. (C) is explanatory drawing which shows an example of the ridge extending in the direction shifted from the battery axis. 図５は第１照明が検出できる欠陥の方向の一例を示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram illustrating an example of a defect direction that can be detected by the first illumination. 図６は電池のラベルに表れる第１検出ライン及び第２検出ラインの一例を示す説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram showing an example of the first detection line and the second detection line that appear on the label of the battery. 図７（Ａ）はラベルに生じている欠陥が凸状の皺であるときに検出ラインに生じる線形状の乱れの一例を模式的に示す説明図であり、図７（Ｂ）はラベルに生じている欠陥が凹状の皺であるときに検出ラインに生じる線形状の乱れの一例を模式的に示す説明図である。FIG. 7A is an explanatory diagram schematically showing an example of the line shape disturbance generated in the detection line when the defect generated in the label is a convex flaw, and FIG. 7B is generated in the label. It is explanatory drawing which shows typically an example of the disorder | damage | failure of the line shape which arises in a detection line when the defect which is a concave ridge. 図８は第１照明と第２照明とを交差させて配置した例を示す説明図である。FIG. 8 is an explanatory diagram illustrating an example in which the first illumination and the second illumination are arranged to intersect each other. 図９は第２実施形態の面検査装置のブロック図である。FIG. 9 is a block diagram of a surface inspection apparatus according to the second embodiment. 図１０は第２実施形態の面検査装置が備える第１照明及び第２照明に装備されているＬＥＤ球を示す説明図である。FIG. 10 is an explanatory view showing LED spheres equipped in the first illumination and the second illumination included in the surface inspection apparatus of the second embodiment. 図１１は電池の周囲に貼付されるラベルの展開図である。FIG. 11 is a development view of a label affixed around the battery. 図１２は第２実施形態において第１照明及び第２照明の調光情報を作成する際のフローチャートの一例である。FIG. 12 is an example of a flowchart for creating dimming information for the first illumination and the second illumination in the second embodiment. 図１３（Ａ）は第１照明の調光情報が割り振られるグリッドの一例を示す説明図であり、図１３（Ｂ）は第２照明の調光情報が割り振られるグリッドの一例を示す説明図である。FIG. 13A is an explanatory diagram illustrating an example of a grid to which dimming information for the first illumination is allocated, and FIG. 13B is an explanatory diagram illustrating an example of a grid to which the dimming information for the second illumination is allocated. is there. 図１４は第２実施形態の面検査装置により、面検査を実施する際のフローチャートの一例である。FIG. 14 is an example of a flowchart when the surface inspection is performed by the surface inspection apparatus of the second embodiment. 図１５（Ａ）は最初に撮像された画像の一例を示す説明図であり、図１５（Ｂ）は検出開始位置を示す説明図である。FIG. 15A is an explanatory diagram illustrating an example of an image captured first, and FIG. 15B is an explanatory diagram illustrating a detection start position.

以下、本明細書開示の発明の実施形態について、添付図面を参照しつつ説明する。ただし、図面中、各部の寸法、比率等は、実際のものと完全に一致するようには図示されていない場合がある。また、図面によっては、説明の都合上、実際には存在する構成要素が省略されていたり、寸法が実際よりも誇張されて描かれていたりする場合がある。   Hereinafter, embodiments of the invention disclosed in this specification will be described with reference to the accompanying drawings. However, in the drawings, the dimensions, ratios, and the like of each part may not be shown so as to completely match the actual ones. Further, depending on the drawings, components that are actually present may be omitted for convenience of explanation, or dimensions may be exaggerated from the actual drawing.

（第１実施形態）
まず、図１乃至図８を参照しつつ、第１実施形態の面検査装置１について説明する。図１は第１実施形態の面検査装置のブロック図である。図２は第１実施形態の面検査装置が備える第１照明、第２照明及びカメラと検査対象物である電池との位置関係を模式的に示す説明図である。図３（Ａ）は電池軸線方向から観た第１照明、第２照明及びカメラと検査対象物である電池との位置関係を示す説明図であり、図３（Ｂ）は図３（Ａ）におけるＸ１方向から観た第１照明、第２照明及びカメラと検査対象物である電池との位置関係を示す説明図であり、図３（Ｃ）は図３（Ａ）におけるＸ２方向から観た第１照明、第２照明及びカメラと検査対象物である電池との位置関係を示す説明図である。図４（Ａ）は電池軸線に直交する方向に延びる皺の一例を示す説明図であり、図４（Ｂ）は電池軸線に沿う方向に延びる皺の一例を示す説明図であり、図４（Ｃ）は、電池軸線からずれた方向に延びる皺の一例を示す説明図である。図５は第１照明が検出できる欠陥の方向の一例を示す説明図である。図６は電池のラベルに表れる第１検出ライン及び第２検出ラインの一例を示す説明図である。図７（Ａ）はラベルに生じている欠陥が凸状の皺であるときに検出ラインに生じる線形状の乱れの一例を模式的に示す説明図であり、図７（Ｂ）はラベルに生じている欠陥が凹状の皺であるときに検出ラインに生じる線形状の乱れの一例を模式的に示す説明図である。図８は第１照明と第２照明とを交差させて配置した例を示す説明図である。 (First embodiment)
First, the surface inspection apparatus 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 8. FIG. 1 is a block diagram of a surface inspection apparatus according to the first embodiment. FIG. 2 is an explanatory diagram schematically showing a positional relationship between the first illumination, the second illumination, and the camera provided in the surface inspection apparatus of the first embodiment and a battery that is an inspection object. FIG. 3A is an explanatory view showing the first illumination, the second illumination, and the positional relationship between the camera and the battery that is the inspection object, as seen from the battery axial direction, and FIG. It is explanatory drawing which shows the positional relationship of the 1st illumination seen from the X1 direction, 2nd illumination, and a camera, and the battery which is a test object, FIG.3 (C) was seen from the X2 direction in FIG. 3 (A). It is explanatory drawing which shows the positional relationship of 1st illumination, 2nd illumination, a camera, and the battery which is a test object. 4A is an explanatory view showing an example of a ridge extending in a direction perpendicular to the battery axis, and FIG. 4B is an explanatory view showing an example of a ridge extending in a direction along the battery axis. (C) is explanatory drawing which shows an example of the ridge extending in the direction shifted from the battery axis. FIG. 5 is an explanatory diagram illustrating an example of a defect direction that can be detected by the first illumination. FIG. 6 is an explanatory diagram showing an example of the first detection line and the second detection line that appear on the label of the battery. FIG. 7A is an explanatory diagram schematically showing an example of the line shape disturbance generated in the detection line when the defect generated in the label is a convex flaw, and FIG. 7B is generated in the label. It is explanatory drawing which shows typically an example of the disorder | damage | failure of the line shape which arises in a detection line when the defect which is a concave ridge. FIG. 8 is an explanatory diagram illustrating an example in which the first illumination and the second illumination are arranged to intersect each other.

図１を参照すると、面検査装置１は、制御部２を備えている。制御部２は、画像処理部３と検出部４とを備えている。面検査装置１は、カメラ５、回転駆動部６、第１照明１０及び第２照明２０を備える。カメラ５は、撮像部の一例である。第１照明１０及び第２照明２０は複数の光源の一例である。本実施形態における面検査装置１は、主として円筒形状の電池３０の表面に貼付されるラベル３０ａに生じることがある欠陥を検出する。ラベル３０ａに生じることがある欠陥は、凸状や、凹状の皺である。回転駆動部６は、図２に示すように、検査対象物となる電池３０を回転させる。電池３０は、回転駆動部６によって回転させられ、検査面となるラベル３０ａの表面がカメラ５によって撮像される。   Referring to FIG. 1, the surface inspection apparatus 1 includes a control unit 2. The control unit 2 includes an image processing unit 3 and a detection unit 4. The surface inspection apparatus 1 includes a camera 5, a rotation drive unit 6, a first illumination 10, and a second illumination 20. The camera 5 is an example of an imaging unit. The first illumination 10 and the second illumination 20 are examples of a plurality of light sources. The surface inspection apparatus 1 according to the present embodiment detects defects that may occur on the label 30 a that is affixed to the surface of the cylindrical battery 30. Defects that may occur in the label 30a are convex or concave wrinkles. As shown in FIG. 2, the rotation driving unit 6 rotates the battery 30 that is an inspection object. The battery 30 is rotated by the rotation drive unit 6, and the surface of the label 30 a serving as the inspection surface is imaged by the camera 5.

図２、図３（Ａ）乃至図３（Ｃ）を参照すると、第１照明１０と第２照明２０とは、検査面の軸方向に対する傾きが異なっている。すなわち、特に図３（Ｂ）によく表れているように、第１照明１０の軸線ＡＸ１と第２照明２０の軸線ＡＸ２とは重なっていない。なお、検査面の軸方向は任意に設定することができる。要は、第１照明１０と第２照明２０とが、いずれも検査面を照射することができ、かつ、軸線ＡＸ１と軸線ＡＸ２とが重ならない状態となっていればよい。本実施形態における検査面の軸方向は電池３０の軸、すなわち、電池軸線ＡＸ０が延びる方向と一致している。   Referring to FIGS. 2 and 3A to 3C, the first illumination 10 and the second illumination 20 have different inclinations with respect to the axial direction of the inspection surface. That is, as can be seen particularly well in FIG. 3B, the axis AX1 of the first illumination 10 and the axis AX2 of the second illumination 20 do not overlap. The axial direction of the inspection surface can be set arbitrarily. In short, it is only necessary that both the first illumination 10 and the second illumination 20 can irradiate the inspection surface and the axes AX1 and AX2 do not overlap. The axial direction of the inspection surface in the present embodiment coincides with the axis of the battery 30, that is, the direction in which the battery axis AX0 extends.

本実施形態では、第１照明１０の軸線ＡＸ１は、電池軸線ＡＸ０に対し傾いている。また、第２照明２０の軸線ＡＸ２は、電池軸線ＡＸ０に対して軸線ＡＸ１と反対側に傾いている。図３（Ｃ）を参照すると、第１照明１０は、蛍光灯１０ａを備えている。軸線ＡＸ１はこの蛍光灯１０ａの長手方向に一致している。同様に、第２照明２０は蛍光灯２０ａを備えている。軸線ＡＸ２はこの蛍光灯２０ａの長手方向に一致している。電池軸線ＡＸ０は、円筒形状の電池の長手方向に沿って延びている。本実施形態では、軸線ＡＸ１と軸線ＡＸ２がそれぞれ電池軸線ＡＸ０に対して逆側に傾けて設定されていることにより、第１照明１０と第２照明２０とが重ならず、検査面の軸線に対する傾きが異なる状態に設定されている。なお、軸線ＡＸ１と軸線ＡＸ２とが平行となっていなければ、軸線ＡＸ１と軸線ＡＸ２のいずれか一方が電池軸線ＡＸ０と平行となっていてもよい。   In the present embodiment, the axis AX1 of the first illumination 10 is inclined with respect to the battery axis AX0. Further, the axis AX2 of the second illumination 20 is inclined to the opposite side of the axis AX1 with respect to the battery axis AX0. Referring to FIG. 3C, the first illumination 10 includes a fluorescent lamp 10a. The axis AX1 coincides with the longitudinal direction of the fluorescent lamp 10a. Similarly, the second illumination 20 includes a fluorescent lamp 20a. The axis AX2 coincides with the longitudinal direction of the fluorescent lamp 20a. The battery axis AX0 extends along the longitudinal direction of the cylindrical battery. In the present embodiment, since the axis AX1 and the axis AX2 are set to be inclined to the opposite side with respect to the battery axis AX0, the first illumination 10 and the second illumination 20 do not overlap, and the axis of the inspection surface The tilt is set differently. Note that, if the axis AX1 and the axis AX2 are not parallel, either the axis AX1 or the axis AX2 may be parallel to the battery axis AX0.

蛍光灯１０ａ及び蛍光灯１０ｂは、拡散光照明の一例として採用されている。皺を検出は、拡散光照明を、電池３０に巻かれ、貼付されているラベル３０ａの表面、すなわち、検査面に照射し、その検出ラインをカメラ５で撮像し、その画像を分析することで行われる。拡散光照明には、例えば、レーザ光のように直進する光源は含まれない。蛍光灯１０ａ、１０ｂ以外では、例えば、ＬＥＤ球を直線状に配列して検出ラインを形成するようにしてもよい。   The fluorescent lamp 10a and the fluorescent lamp 10b are employed as an example of diffused light illumination. Detecting wrinkles is performed by irradiating diffused light illumination on the surface of the label 30a attached to the battery 30, that is, the inspection surface, imaging the detection line with the camera 5, and analyzing the image. Done. The diffused light illumination does not include a light source that goes straight like laser light, for example. Other than the fluorescent lamps 10a and 10b, for example, LED spheres may be arranged in a straight line to form a detection line.

図４（Ａ）乃至図４（Ｃ）を参照し、電池３０のラベル３０ａに生じることがある皺の態様について説明する。ラベル３０ａに生じることがある皺は、種々の態様となることが想定される。皺は、例えば、図４（Ａ）に示す皺３１ａのように、電池軸線ＡＸ０に直交する方向に延びている場合がある。また、皺は、図４（Ｂ）に示す皺３１ｂのように、電池軸線ＡＸ０に沿う方向に延びている場合がある。さらに、皺は、図４（Ｃ）に示す皺３１ｃは、電池軸線ＡＸ０からずれた方向に延びている場合がある。   With reference to FIG. 4 (A) thru | or FIG. 4 (C), the aspect of the wrinkles which may arise in the label 30a of the battery 30 is demonstrated. The wrinkles that may occur on the label 30a are assumed to be in various forms. For example, the ridge may extend in a direction orthogonal to the battery axis AX0 as in the ridge 31a shown in FIG. Further, the ridge may extend in a direction along the battery axis AX0 as in the ridge 31b shown in FIG. Furthermore, the ridge 31c shown in FIG. 4C may extend in a direction shifted from the battery axis AX0.

このように、ラベル３０ａに生じ得る欠陥としての皺は、ラベル３０ａの全周のいずれの方向にも延びる可能性がある。これに対し、一つの線光源を用い、一本の検出ラインを形成するだけでは、検出できない角度が存在し、検出漏れが生じる可能性がある。例えば、本実施形態の第１照明１０は、図５に示すように、軸線ＡＸ１に対する垂線ＰＬ１の前後３０°の範囲内に延びる皺を検出することができない。そこで、本実施形態では、一本の照明では検出することができない範囲をカバーすることができるように、二本の照明を装備している。そして、本実施形態の場合は、第１照明１０が検出できない範囲をカバーするために検査面の軸に対する傾きが第１照明１０と異なる第２照明２０を装備している。そして、第２照明２０は、第１照明１０がカバーすることができない軸線ＡＸ１を０°としたときの６０°〜１２０°の範囲及び２４０°〜３００°の範囲をカバーすべく、軸線ＡＸ２を軸線ＡＸ１に対し６０°ずらしている。すなわち、軸線ＡＸ１は電池軸線ＡＸ０に対して３０°ずれており、軸線ＡＸ２は電池軸線ＡＸ０に対して軸線ＡＸ１とは反対側に３０°ずれている。これにより、図３（Ｂ）や図３（Ｃ）によく表れているように、第１照明１０と第２照明２０とは、いわゆるＶ字状に配置されている。   Thus, wrinkles as defects that may occur in the label 30a may extend in any direction along the entire circumference of the label 30a. On the other hand, if a single line light source is used and only one detection line is formed, an angle that cannot be detected exists, and detection may be missed. For example, as shown in FIG. 5, the first illumination 10 of the present embodiment cannot detect wrinkles that extend within a range of 30 ° before and after the perpendicular PL1 with respect to the axis AX1. Therefore, in this embodiment, two lights are provided so as to cover a range that cannot be detected by one light. In the case of the present embodiment, in order to cover a range in which the first illumination 10 cannot be detected, the second illumination 20 that is different from the first illumination 10 in inclination with respect to the axis of the inspection surface is provided. And the 2nd illumination 20 sets axis line AX2 to cover the range of 60 degrees-120 degrees when the axis line AX1 which the 1st illumination 10 cannot cover is 0 degree, and the range of 240 degrees-300 degrees. It is shifted by 60 ° with respect to the axis AX1. That is, the axis AX1 is offset by 30 ° with respect to the battery axis AX0, and the axis AX2 is offset by 30 ° on the opposite side of the axis AX1 with respect to the battery axis AX0. Thereby, as it appears well in FIG. 3B and FIG. 3C, the first illumination 10 and the second illumination 20 are arranged in a so-called V-shape.

本実施形態では、２本の照明１０、２０を備えるが、３本以上の照明を備えるようにしてもよい。すなわち、３６０°全域に亘って皺の存在を検出することができればよい。この際、各照明の検出可能範囲が重複していてもよい。   In the present embodiment, the two illuminations 10 and 20 are provided, but three or more illuminations may be provided. That is, it is only necessary to detect the presence of wrinkles over the entire 360 ° range. At this time, the detectable range of each illumination may overlap.

検出部４は、カメラ５によって撮像された画像に表れた検出ラインＤＬ１、ＤＬ２のいずれかに線形状の乱れが検出された場合に、検査面上に欠陥が存在すると判断する。図６を参照すると、ラベル３０ａには、第１照明１０による第１検出ラインＤＬ１と第２照明２０による第２検出ラインＤＬ２が表れる。ラベル３０ａに皺がない場合、第１検出ラインＤＬ１の線形状は、ほぼ同一幅の一本の線であり、その線の長手方向に延びる両縁はほぼ平行である。第２検出ラインＤＬ２についても同様である。   The detection unit 4 determines that a defect exists on the inspection surface when a line shape disorder is detected in any of the detection lines DL1 and DL2 that appear in the image captured by the camera 5. Referring to FIG. 6, the first detection line DL1 due to the first illumination 10 and the second detection line DL2 due to the second illumination 20 appear on the label 30a. When the label 30a has no wrinkles, the line shape of the first detection line DL1 is a single line having substantially the same width, and both edges extending in the longitudinal direction of the line are substantially parallel. The same applies to the second detection line DL2.

ところが、ラベル３０ａに皺が生じている場合、例えば、図７（Ａ）や図７（Ｂ）に示すような線形状が観測される。図７（Ａ）は、皺が凸状である場合に観測される線形状の一例である。皺がラベル３０ａの表面から突出するような凸状となっている場合、第１検出ラインＤＬ１の線形状には、線形状の屈曲、すなわち、屈曲部ＤＬ１１が観測される。また、図７（Ｂ）は、皺が凹状である場合に観測される線形状の一例である。皺がラベル３０ａの表面から窪むような凹状となっている場合、第１検出ラインＤＬ１には、線幅の変化、すなわち、幅広部ＤＬ１２が観測される。第２検出ラインＤＬ２においても同様である。屈曲部ＤＬ１１や幅広部ＤＬ１２は、線形状の乱れの一例であり、屈曲部ＤＬ１１や幅広部ＤＬ１２が検出された場合、第２検出ラインＤＬ２において同様の屈曲部や幅広部が検出された場合、検出部４は、線形状の乱れが検出されたと判断する。そして、検出部４は、検査面上に欠陥が存在すると判断する。なお、皺の態様により、皺が凸状であるのか凹状であるのかを判定することもできるが、本実施形態の場合、いずれかの形態の欠陥が検出された場合には、その態様を区別することなく不良品であるとして、その電池３０を選り分ける。   However, when wrinkles occur in the label 30a, for example, a line shape as shown in FIG. 7A or 7B is observed. FIG. 7A is an example of a line shape observed when the ridge is convex. When the wrinkle has a convex shape that protrudes from the surface of the label 30a, a linear bend, that is, a bent portion DL11 is observed in the line shape of the first detection line DL1. FIG. 7B is an example of a line shape observed when the ridge is concave. When the wrinkle has a concave shape that is recessed from the surface of the label 30a, a change in line width, that is, a wide portion DL12 is observed in the first detection line DL1. The same applies to the second detection line DL2. The bent portion DL11 and the wide portion DL12 are examples of line shape irregularities. When the bent portion DL11 and the wide portion DL12 are detected, when the same bent portion or wide portion is detected in the second detection line DL2, The detection unit 4 determines that a line shape disturbance has been detected. Then, the detection unit 4 determines that there is a defect on the inspection surface. Note that it is possible to determine whether the wrinkle is convex or concave according to the form of the wrinkles. However, in the case of this embodiment, when any form of defect is detected, the form is distinguished. The battery 30 is selected as a defective product without doing so.

なお、図７（Ａ）や図７（Ｂ）に示す線形状の乱れは、例示であり、他の態様の乱れが観測された場合にも、ラベル３０ａに欠陥があるとして、その電池３０を選り分けるようにすることもできる。   7A and 7B are examples, and even when other forms of disturbance are observed, it is assumed that the label 30a is defective and the battery 30 is It can also be selected.

このような面検査装置１を用いることで、面検査を実行することができる。すなわち、検査対象物である電池３０を回転駆動部６で回転させながら線光源である第１照明１０と第２照明２０によりラベル３０ａを照射する。そして、第１検出ラインＤＬ１および第２検出ラインＤＬ２が形成されている検査面をカメラ５により、撮像する。ついで、画像処理部３により、カメラ５で撮像された画像から第１検出ラインＤＬ１および第２検出ラインＤＬ２が抽出される。検出部４は、抽出した第１検出ラインＤＬ１および第２検出ラインＤＬ２を検査する。そして、少なくともいずれか一方の線形状に乱れが検出された場合に、検査面上に欠陥が存在すると判断する。このような面検査方法を実行することにより、検査対象における種々の態様の欠陥を検出することができる。   By using such a surface inspection apparatus 1, a surface inspection can be performed. That is, the label 30 a is irradiated by the first illumination 10 and the second illumination 20 that are line light sources while the battery 30 that is the inspection object is rotated by the rotation driving unit 6. Then, the camera 5 captures an image of the inspection surface on which the first detection line DL1 and the second detection line DL2 are formed. Next, the first detection line DL1 and the second detection line DL2 are extracted from the image captured by the camera 5 by the image processing unit 3. The detection unit 4 inspects the extracted first detection line DL1 and second detection line DL2. Then, when a disturbance is detected in at least one of the line shapes, it is determined that a defect exists on the inspection surface. By executing such a surface inspection method, it is possible to detect various types of defects in the inspection object.

本実施形態の第１照明１０と第２照明２０とは、いわゆるＶ字状に配置されているが、例えば、図８に示すように、いわゆるＸ字状に配置されている第１照明１１０と第２照明１２０としてもよい。   Although the 1st illumination 10 and the 2nd illumination 20 of this embodiment are arrange | positioned in what is called V shape, for example, as shown in FIG. 8, with the 1st illumination 110 arrange | positioned in what is called X shape. The second illumination 120 may be used.

（第２実施形態）
つぎに、図９乃至図１５を参照しつつ、第２実施形態について説明する。図９は第２実施形態の面検査装置のブロック図である。図１０は第２実施形態の面検査装置が備える第１照明及び第２照明に装備されているＬＥＤ球を示す説明図である。図１１は電池の周囲に貼付されるラベルの展開図である。図１２は第２実施形態において第１照明及び第２照明の調光情報を作成する際のフローチャートの一例である。図１３（Ａ）は第１照明の調光情報が割り振られるグリッドの一例を示す説明図であり、図１３（Ｂ）は第２照明の調光情報が割り振られるグリッドの一例を示す説明図である。図１４は第２実施形態の面検査装置により、面検査を実施する際のフローチャートの一例である。図１５（Ａ）は最初に撮像された画像の一例を示す説明図であり、図１５（Ｂ）は検出開始位置を示す説明図である。なお、以下の説明において、電池３０、ラベル３０ａ、第１検出ラインＤＬ１および第２検出ラインＤＬ２については、第１実施形態と共通の参照番号を用いて説明する。 (Second Embodiment)
Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 9 is a block diagram of a surface inspection apparatus according to the second embodiment. FIG. 10 is an explanatory view showing LED spheres equipped in the first illumination and the second illumination included in the surface inspection apparatus of the second embodiment. FIG. 11 is a development view of a label affixed around the battery. FIG. 12 is an example of a flowchart for creating dimming information for the first illumination and the second illumination in the second embodiment. FIG. 13A is an explanatory diagram illustrating an example of a grid to which dimming information for the first illumination is allocated, and FIG. 13B is an explanatory diagram illustrating an example of a grid to which the dimming information for the second illumination is allocated. is there. FIG. 14 is an example of a flowchart when the surface inspection is performed by the surface inspection apparatus of the second embodiment. FIG. 15A is an explanatory diagram illustrating an example of an image captured first, and FIG. 15B is an explanatory diagram illustrating a detection start position. In the following description, the battery 30, the label 30a, the first detection line DL1, and the second detection line DL2 will be described using the same reference numerals as those in the first embodiment.

図９を参照すると、面検査装置５０は、制御部５２を備えている。制御部５２は、画像処理部５３と検出部５４とを備えている。面検査装置５０は、カメラ５５、回転駆動部５６、第１照明６０及び第２照明７０を備える。カメラ５５は、撮像部の一例である。第１照明６０及び第２照明７０は複数の光源の一例である。本実施形態における面検査装置５０も第１実施形態の面検査装置１と同様に、主として円筒形状の電池３０の表面に貼付されるラベル３０ａに生じることがある欠陥を検出する。回転駆動部５６は、検査対象物となる電池３０を回転させる。電池３０は、回転駆動部５６によって回転させられ、検査面となるラベル３０ａの表面がカメラ５５によって撮像される。以上の構成は、基本的に第１実施形態と共通する。   Referring to FIG. 9, the surface inspection apparatus 50 includes a control unit 52. The control unit 52 includes an image processing unit 53 and a detection unit 54. The surface inspection apparatus 50 includes a camera 55, a rotation drive unit 56, a first illumination 60, and a second illumination 70. The camera 55 is an example of an imaging unit. The first illumination 60 and the second illumination 70 are examples of a plurality of light sources. Similar to the surface inspection apparatus 1 of the first embodiment, the surface inspection apparatus 50 in the present embodiment also detects defects that may occur on the label 30a that is affixed mainly to the surface of the cylindrical battery 30. The rotation drive unit 56 rotates the battery 30 that is an inspection object. The battery 30 is rotated by the rotation drive unit 56, and the surface of the label 30 a serving as the inspection surface is imaged by the camera 55. The above configuration is basically the same as that of the first embodiment.

本実施形態の面検査装置５０は、これらに加え、調光部５７および記憶部５８を備える。また、第１照明６０および第２照明７０は、以下の点において、第１実施形態の第１照明１０および第２照明２０と異なっている。   In addition to these, the surface inspection apparatus 50 of the present embodiment includes a light control unit 57 and a storage unit 58. The first illumination 60 and the second illumination 70 differ from the first illumination 10 and the second illumination 20 of the first embodiment in the following points.

図１０を参照すると、第１照明６０および第２照明７０は、それぞれ、拡散光照明であり、第１実施形態と同様に互いに６０°隔てたいわゆるＶ字状に配置されている。しかしながら、第１照明６０および第２照明７０は、いずれも、蛍光灯に代えて、直線状に配置されている複数の光源、具体的にＬＥＤ球６０ａ乃至６０ｈ、７０ａ乃至７０ｈを備えている。第１照明６０と第２照明７０は、同一の構成であるので、以下の説明では、第１照明６０を中心に説明する。   Referring to FIG. 10, each of the first illumination 60 and the second illumination 70 is a diffused light illumination, and is arranged in a so-called V shape that is separated from each other by 60 ° as in the first embodiment. However, each of the first illumination 60 and the second illumination 70 includes a plurality of light sources arranged in a straight line, specifically LED spheres 60a to 60h, 70a to 70h, instead of the fluorescent lamps. Since the 1st illumination 60 and the 2nd illumination 70 are the same structures, in the following description, it demonstrates focusing on the 1st illumination 60. FIG.

ＬＥＤ球６０ａ乃至６０ｈは、それぞれ調光部５７によって輝度調節可能にされている。調光部５７は、複数のＬＥＤ球６０ａ乃至６０ｈが検査面となるラベル３０ａを照射したときの輝度を検出ラインの全域に亘って予め設定されている基準輝度に調整する。ここで、基準輝度について説明する。本実施形態の面検査装置５０は、第１実施形態の面検査装置１と同様に、撮像された画像に基づき、検出ラインに乱れがあるか否かによって欠陥を検出する。このため、検出ラインは、その全域に亘って均質に照射されていることが望ましい。ここで、本願実施形態の第１照明６０および第２照明７０はＶ字状に配置され、第１照明６０の軸方向の位置によって検査面までの距離が異なることが想定される。第１照明６０から検査面までの距離が軸方向に沿って異なっていると、画像中の検出ラインの輝度が軸方向に沿って変化している可能性がある。また、図１１を参照すると、ラベル３０ａの全域を撮像し、展開した状態となるように撮影した保存画像８０には、種々の文字が施され、場合によっては、模様も配されている。これらの文字や模様が色彩を有していると、画像中の検出ラインの輝度に影響を与える。例えば、保存画像８０中の色彩が白色の箇所は、輝度が高く、黒色の箇所は輝度が低くなる。このように、画像中の輝度自体が異なっていると、その輝度の相違が、皺の検出に影響を与える可能性がある。そこで、本実施形態では、画像中の輝度が均質となるように調整する。このとき、輝度調整の目標値となるのが基準輝度である。例えば、保存画像８０中の白色の箇所を照射するＬＥＤ球の出力を落とすことで画像中のその個所の輝度を基準輝度に一致させることができる。これとは逆に、保存画像８０中の黒色の箇所を照射するＬＥＤ球の出力を上げることで画像中のその個所の輝度を基準輝度に一致させることができる。また、検査面に遠い位置にあるＬＥＤ球の出力を上げることでそのＬＥＤ球が照射する位置の輝度を基準輝度に一致させることができる。   The brightness of the LED spheres 60 a to 60 h can be adjusted by the light control unit 57. The light adjusting unit 57 adjusts the luminance when the plurality of LED spheres 60a to 60h irradiate the label 30a serving as the inspection surface to a reference luminance set in advance over the entire detection line. Here, the reference luminance will be described. Similar to the surface inspection apparatus 1 of the first embodiment, the surface inspection apparatus 50 of the present embodiment detects defects based on whether or not the detection line is disturbed based on the captured image. For this reason, it is desirable that the detection line is uniformly irradiated over the entire region. Here, the first illumination 60 and the second illumination 70 of the present embodiment are arranged in a V shape, and the distance to the inspection surface is assumed to be different depending on the position of the first illumination 60 in the axial direction. If the distance from the first illumination 60 to the inspection surface is different along the axial direction, the luminance of the detection line in the image may change along the axial direction. Referring to FIG. 11, the entire image of the label 30 a is imaged, and the saved image 80 photographed so as to be unfolded is provided with various characters, and in some cases, a pattern is also arranged. If these characters and patterns have colors, the luminance of the detection line in the image is affected. For example, a portion where the color of the stored image 80 is white has a high luminance, and a portion where the color is black has a low luminance. Thus, if the luminances themselves in the images are different, the difference in luminance may affect the detection of wrinkles. Therefore, in the present embodiment, adjustment is performed so that the luminance in the image is uniform. At this time, the reference luminance is a target value for luminance adjustment. For example, by reducing the output of the LED sphere that irradiates a white spot in the stored image 80, the luminance at that spot in the image can be matched with the reference brightness. On the contrary, by increasing the output of the LED sphere that irradiates the black portion in the stored image 80, the luminance of the portion in the image can be matched with the reference luminance. Moreover, the brightness | luminance of the position which the LED bulb | ball irradiates can be made to correspond with reference | standard brightness | luminance by raising the output of the LED bulb | ball in a position far from a test surface.

ここで、図１２を参照しつつ、第１照明６０及び第２照明７０の調光情報の作成について説明する。調光情報の作成は、実際の電池３０のラベル３０ａにおける欠陥検出を実施する準備作業として行われる。この調光情報の作成作業では、欠陥がないことが確認されている電池３０を用いて実施される。また、この作業は、電池３０の種類毎に実施される。すなわち、ラベル３０ａのデザインが異なる場合、電池３０のサイズが異なる場合には、そのデザイン、寸法毎に調光状の作成作業が実施される。   Here, creation of dimming information of the first illumination 60 and the second illumination 70 will be described with reference to FIG. The creation of the dimming information is performed as a preparatory work for detecting a defect in the label 30a of the actual battery 30. This dimming information creation operation is performed using a battery 30 that has been confirmed to be free of defects. This operation is performed for each type of battery 30. That is, when the design of the label 30a is different or the size of the battery 30 is different, a dimming creation operation is performed for each design and dimension.

まず、ステップＳ１では、電池３０に第１照明６０および第２照明７０を照射し、ラベル３０ａ上に第１検出ラインＤＬ１および第２検出ラインＤＬ２を形成する。そして、ステップＳ２において、カメラ５５によって電池３０の表面を撮像し、その画像を記憶部５８に保存する。保存された画像は、図１１に示す保存画像である。これは、電池３０を一周に亘って連続的に撮像したものであり、ラベル３０ａの展開図となる。   First, in step S1, the battery 30 is irradiated with the first illumination 60 and the second illumination 70, and the first detection line DL1 and the second detection line DL2 are formed on the label 30a. In step S 2, the surface of the battery 30 is imaged by the camera 55 and the image is stored in the storage unit 58. The stored image is the stored image shown in FIG. This is a continuous image of the battery 30 over one round, and is a development view of the label 30a.

ステップＳ３では、撮像画像を分割する。具体的に図１３（Ａ）や図１３（Ｂ）に示すように、複数の行に分割し、さらに、各行内を軸方向に沿って分割してグリッドを形成する。図１３（Ａ）は第１照明６０についての分割態様について示している。図１３（Ｂ）は第２照明７０についての分割態様について示している。図１３（Ａ）におけるθ１は、３０°である。これは、第１照明６０の軸線ＡＸ１が電池軸線ＡＸ０に対して３０°傾いていることに一致させたものである。図１３（Ｂ）におけるθ２は、３０°である。これは、第２照明７０の軸線ＡＸ２が電池軸線ＡＸ０に対して軸線ＡＸ１とは反対側に３０°傾いていることに一致させたものである。図１３（Ａ）および図１３（Ｂ）における横軸は、それぞれ回転方向に沿った位置を表している。図１３（Ａ）における縦軸は、第１照明６０のＬＥＤ球６０ａ乃至６０ｈに対応している。図１３（Ｂ）における縦軸は、第２照明７０のＬＥＤ球７０ａ乃至７０ｈに対応している。   In step S3, the captured image is divided. Specifically, as shown in FIGS. 13A and 13B, a grid is formed by dividing into a plurality of rows and further dividing the inside of each row along the axial direction. FIG. 13A shows the division mode for the first illumination 60. FIG. 13B shows a division mode for the second illumination 70. In FIG. 13A, θ1 is 30 °. This coincides with the fact that the axis AX1 of the first illumination 60 is inclined by 30 ° with respect to the battery axis AX0. In FIG. 13B, θ2 is 30 °. This coincides with the fact that the axis AX2 of the second illumination 70 is inclined 30 ° to the opposite side of the axis AX1 with respect to the battery axis AX0. The horizontal axes in FIGS. 13A and 13B each represent a position along the rotational direction. The vertical axis in FIG. 13A corresponds to the LED spheres 60 a to 60 h of the first illumination 60. The vertical axis in FIG. 13B corresponds to the LED spheres 70 a to 70 h of the second illumination 70.

つぎに、ステップＳ４では、行毎に各グリッドの算出輝度を取得する。例えば、図１３（Ａ）を参照して、保存画像８０における１行６０ａ列に対応する位置、１行６０ｂ列に対応する位置の輝度を算出輝度として取得する。算出輝度は全グリッドについて取得する。   Next, in step S4, the calculated luminance of each grid is acquired for each row. For example, with reference to FIG. 13A, the brightness at the position corresponding to the first row 60a column and the position corresponding to the first row 60b column in the saved image 80 is acquired as the calculated luminance. The calculated luminance is acquired for all grids.

つぎに、ステップＳ５では、行毎に各グリッドの算出輝度と基準輝度との比較を行う。そして、ステップＳ６では、例えば、１行６０ａ列のグリッドに関し、算出輝度が基準輝度の範囲よりも低いか否かの判断を行う。ステップＳ６でＹＥＳと判断したときは、ステップＳ７へ進む。ステップＳ７では、算出輝度と基準輝度との輝度差に応じて電流値を上昇させる。一方、ステップＳ６でＮＯと判断したときは、ステップＳ８へ進む。ステップＳ８では、算出輝度が基準輝度の範囲よりも高いか否かの判断を行う。ステップＳ８でＹＥＳと判断したときは、ステップＳ９へ進む。ステップＳ９では、算出輝度と基準輝度との輝度差に応じて電流値を低下させる。   Next, in step S5, the calculated luminance of each grid is compared with the reference luminance for each row. In step S6, for example, it is determined whether or not the calculated luminance is lower than the reference luminance range with respect to the grid of one row 60a column. If YES is determined in the step S6, the process proceeds to a step S7. In step S7, the current value is increased according to the luminance difference between the calculated luminance and the reference luminance. On the other hand, if NO is determined in step S6, the process proceeds to step S8. In step S8, it is determined whether or not the calculated luminance is higher than the reference luminance range. If YES is determined in the step S8, the process proceeds to a step S9. In step S9, the current value is decreased according to the luminance difference between the calculated luminance and the reference luminance.

ステップＳ８でＮＯと判断した場合は、ステップＳ１０へ進む。また、ステップＳ７やステップＳ９を経由した後もステップＳ１０で進む。ステップＳ１０では、対象行についての調光が完了したか否かを判断する。ステップＳ１０でＮＯと判断したときは、ステップＳ６からの処理を繰り返す。一方、ステップＳ１０でＹＥＳと判断したときは、ステップＳ１１へ進む。ステップＳ１１では、対象行の調光結果を記憶部５８に記憶する。ステップＳ１１に引き続いて行われるステップＳ１２では、電池一周分の保存が完了したか否かを判断する。ステップＳ１２でＮＯと判断したときはステップＳ１３へ進み、対象とする行を移行する。一方、ステップＳ１２でＹＥＳと判断したときは、処理は終了する（ＥＮＤ）。このようにして、グリッド毎の調光情報が作成される。調光情報は、第１照明６０と第２照明７０の双方に対して作成される。   If NO is determined in step S8, the process proceeds to step S10. Moreover, it progresses by step S10 also after passing through step S7 and step S9. In step S10, it is determined whether or not dimming has been completed for the target row. If NO is determined in step S10, the processing from step S6 is repeated. On the other hand, if YES is determined in the step S10, the process proceeds to a step S11. In step S <b> 11, the dimming result of the target row is stored in the storage unit 58. In step S12, which is performed subsequent to step S11, it is determined whether or not storage for one round of the battery has been completed. When NO is determined in step S12, the process proceeds to step S13, and the target row is shifted. On the other hand, if YES is determined in the step S12, the process ends (END). In this way, dimming information for each grid is created. The dimming information is created for both the first illumination 60 and the second illumination 70.

実際に欠陥の検査を行うときは、このようにして得られたグリッド毎の調光情報に基づいて、電池３０の回転に同期させて第１照明６０のＬＥＤ球６０ａ乃至６０ｈ、第２照明７０のＬＥＤ球７０ａ乃至７０ｈを点灯させる。これにより、ラベル３０ａに欠陥がない場合に、均質で乱れのない第１検出ラインＤＬ１および第２検出ラインＤＬ２が観測される状態となっている。   When actually inspecting defects, the LED balls 60a to 60h of the first illumination 60 and the second illumination 70 are synchronized with the rotation of the battery 30 based on the dimming information for each grid obtained in this way. LED spheres 70a to 70h are turned on. Thereby, when there is no defect in the label 30a, the first detection line DL1 and the second detection line DL2 that are homogeneous and have no disturbance are observed.

なお、本実施形態では、最初に保存画像８０としてラベル３０ａの全体の展開図を得てから撮像画像を分割し、輝度調整のための演算を行っているが、電池３０を回転させながら、順次輝度調整のための演算を行うようにしてもよい。   In the present embodiment, the developed image of the label 30a is first obtained as the saved image 80, and then the captured image is divided and calculation for brightness adjustment is performed. You may make it perform the calculation for brightness | luminance adjustment.

つぎに、図１４および図１３を参照しつつ、実際の面検査の一例について説明する。なお、本実施形態では、まず、第１照明６０を照射しての検査を行い、第１照明６０を照射しての検査が電池３０の全周に亘って完了した後、第２照明７０を照射しての検査を行う。これは、第１照明６０の軸線ＡＸ１と第２照明７０の軸線ＡＸ２とがずれており、一台のカメラ５５で同時に双方の傾きに対応した撮像を行うことが困難であることを考慮したためである。   Next, an example of actual surface inspection will be described with reference to FIGS. 14 and 13. In the present embodiment, first, an inspection is performed by irradiating the first illumination 60, and after the inspection by irradiating the first illumination 60 is completed over the entire circumference of the battery 30, the second illumination 70 is turned on. Perform an inspection after irradiation. This is because the axial line AX1 of the first illumination 60 and the axial line AX2 of the second illumination 70 are misaligned, and it is difficult to perform imaging corresponding to both inclinations simultaneously with one camera 55. is there.

まず、第１照明６０を照射しての検査を行う。ステップＳ２１では、カメラ５５で電池３０の表面を撮像する。このとき、カメラ５５は、軸線ＡＸ１に対応させている。撮像された画像は、図１５（Ａ）に示すように、保存画像８０の一部に相当する部分画像８０ａである。ステップＳ２２では、ステップＳ２１で撮像した部分画像８０ａがどの部分の画像であるのか判断し、その撮像位置を特定する。すなわち、図１５（Ｂ）で示すように、予め保存されている保存画像８０と部分画像８０ａとを比較して、部分画像８０ａと一致する位置を探し出し、撮像位置Ｓ０を特定する。   First, an inspection is performed by irradiating the first illumination 60. In step S <b> 21, the surface of the battery 30 is imaged by the camera 55. At this time, the camera 55 is associated with the axis AX1. The captured image is a partial image 80a corresponding to a part of the saved image 80, as shown in FIG. In step S22, it is determined which part of the partial image 80a imaged in step S21 is, and the imaging position is specified. That is, as shown in FIG. 15B, the stored image 80 stored in advance and the partial image 80a are compared to find a position that matches the partial image 80a, and the imaging position S0 is specified.

ステップＳ２３では、検出開始位置Ｓ１を算出する。ここで、検出開始位置とは、調光情報と、第１検出ラインＤＬ１または第２検出ラインＤＬ２が形成されているラベル３０ａ上の位置とを一致させ、欠陥の検出を開始する位置である。具体的に、回転駆動部５６による電池３０の回転速度と、これらの演算に費やされる時間から電池３０の回転量を算出し、撮像位置Ｓ０からの距離を得ることで、検出開始位置Ｓ１を算出する。   In step S23, a detection start position S1 is calculated. Here, the detection start position is a position where the dimming information is matched with the position on the label 30a where the first detection line DL1 or the second detection line DL2 is formed, and defect detection is started. Specifically, the detection start position S1 is calculated by calculating the rotation amount of the battery 30 from the rotation speed of the battery 30 by the rotation driving unit 56 and the time spent for these calculations and obtaining the distance from the imaging position S0. To do.

ステップＳ２４では、検出開始位置Ｓ１の調光情報を読み込む。例えば、検出開始位置Ｓ１が図１３（Ａ）における２行目に相当しているときは、その２行目に属するグリッドの調光情報を読み込む。   In step S24, the light control information at the detection start position S1 is read. For example, when the detection start position S1 corresponds to the second row in FIG. 13A, the dimming information of the grid belonging to the second row is read.

ステップＳ２５では、ステップＳ２４で読み込んだ調光状に基づいて、グリッドに対応するＬＥＤ球６０ａ乃至６０ｈ毎に出力調整をした照射を実行する。そして、ステップＳ２６において第１検出ラインＤＬ１は曲がっていないか、すなわち、図７（Ａ）で示したような屈曲部ＤＬ１１が観察されていないかを判断する。ステップＳ２６でＮＯと判断したとき、すなわち、第１検出ラインＤＬ１に曲がりが観察されたときは、ステップＳ２７において、皺が発生しているとの判断をし、処理は、終了する（ＥＮＤ）。   In step S25, based on the dimming state read in step S24, irradiation is performed with the output adjusted for each of the LED spheres 60a to 60h corresponding to the grid. In step S26, it is determined whether or not the first detection line DL1 is bent, that is, whether or not the bent portion DL11 as shown in FIG. 7A is observed. When NO is determined in step S26, that is, when bending is observed in the first detection line DL1, it is determined in step S27 that a wrinkle has occurred, and the process ends (END).

一方、ステップＳ２６でＹＥＳと判断したとき、すなわち、第１検出ラインＤＬ１に曲がりが観察されなかったときは、ステップＳ２８へ進む。ステップＳ２８では、第１検出ラインＤＬ１の幅が均一であるか、すなわち、図７（Ｂ）で示したような幅広部ＤＬ１２が観察されていないかを判断する。ステップＳ２８でＮＯと判断したとき、すなわち、検出ラインに幅の変化が観察されたときは、ステップＳ２９において、皺が発生しているとの判断をし、処理は終了する。   On the other hand, when YES is determined in step S26, that is, when no bending is observed in the first detection line DL1, the process proceeds to step S28. In step S28, it is determined whether the width of the first detection line DL1 is uniform, that is, whether the wide portion DL12 as shown in FIG. 7B is not observed. When it is determined NO in step S28, that is, when a change in the width of the detection line is observed, it is determined in step S29 that wrinkles have occurred, and the process ends.

一方、ステップＳ２８でＹＥＳと判断したとき、すなわち、第１検出ラインＤＬ１に幅の変化が観察されなかったときは、ステップＳ３０へ進む。ステップＳ３０では、電池１周分の検査が完了したか否かを判断する、ステップＳ３０でＹＥＳと判断したときは、ステップＳ３１で正常判定を行う。なお、本実施形態の場合、この時点では、第１照明６０を照射しての検査において、正常であるとの判定であり、第２照明７０を照射しての検査において、皺が検出される可能性は残されている。すなわち、第１照明６０を照射しての検査および第２照明７０を照射しての検査の双方で正常と判断された場合に、検査対象となっている電池３０について、完全に正常判定がなされる。   On the other hand, when YES is determined in the step S28, that is, when no change in the width is observed in the first detection line DL1, the process proceeds to a step S30. In step S30, it is determined whether or not the inspection for one round of the battery has been completed. If YES is determined in step S30, normal determination is performed in step S31. In the case of the present embodiment, at this time point, it is determined that the inspection is normal in the inspection with irradiation of the first illumination 60, and soot is detected in the inspection with the irradiation of the second illumination 70. The potential remains. That is, when it is determined that both the inspection using the first illumination 60 and the inspection using the second illumination 70 are normal, the battery 30 that is the inspection target is determined to be completely normal. The

ステップＳ３０において、ＮＯと判断したきは、ステップＳ３２へ進み、次位置調光情報を読み込み、ステップＳ２５からの処理を繰り返す。   If NO is determined in step S30, the process proceeds to step S32, the next position dimming information is read, and the processing from step S25 is repeated.

第１照明６０を照射しての検査が完了した後、カメラ５５の撮像位置を第２照明７０の照射による第２検出ラインＤＬ２に合わせ、再度、ステップＳ２１〜ステップＳ３２の処理を行う。これにより、検査対象物における種々の態様の欠陥を検出することができる。   After the inspection by irradiating the first illumination 60 is completed, the imaging position of the camera 55 is aligned with the second detection line DL2 by the irradiation of the second illumination 70, and the processes of step S21 to step S32 are performed again. Thereby, the defect of the various aspects in a test target object can be detected.

なお、本実施形態では、一台のカメラ５５を装備しているが、第１検出ラインＤＬ１と第２検出ラインＤＬ２の傾きが異なることから、これらの検出ライン毎に撮像できるように、二台のカメラを装備するようにしてもよい。   In the present embodiment, one camera 55 is provided. However, since the inclinations of the first detection line DL1 and the second detection line DL2 are different, two cameras 55 are provided so that an image can be captured for each of these detection lines. You may make it equip with the camera of.

以上本発明の好ましい実施形態について詳述したが、本発明は係る特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形、変更が可能である。   Although the preferred embodiment of the present invention has been described in detail above, the present invention is not limited to the specific embodiment, and various modifications, within the scope of the gist of the present invention described in the claims, It can be changed.

１、５０ 面検査装置
２、５２ 制御部
３、５３ 画像処理部
４、５４ 検出部
５、５５ カメラ
６、５６ 回転駆動部
５７ 調光部
５８ 記憶部
１０、６０ 第１照明
２０、７０ 第２照明
３０ 電池
３０ａ ラベル
３１ａ、３１ｂ、３１ｃ 皺
８０ 保存画像
ＡＸ０ 電池軸線
ＡＸ１ 第1照明軸線
ＡＸ２ 第２照明軸線 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 50 Surface inspection apparatus 2, 52 Control part 3, 53 Image processing part 4, 54 Detection part 5, 55 Camera 6, 56 Rotation drive part 57 Light control part 58 Storage part 10, 60 1st illumination 20, 70 2nd Illumination 30 Battery 30a Label 31a, 31b, 31c ８０ 80 Saved image AX0 Battery axis AX1 First illumination axis AX2 Second illumination axis

Claims (4)

検査対象物の検査面の軸方向に対する傾きが異なる複数の線光源と、
前記複数の線光源により照射され、複数の線形状の検出ラインが形成されている前記検査面を撮像する撮像部と、
前記撮像部によって撮像された画像に表れた前記検出ラインのいずれかに線形状の乱れが検出された場合に、前記検査面上に欠陥が存在すると判断する検出部と、
を備える面検査装置。 A plurality of line light sources having different inclinations with respect to the axial direction of the inspection surface of the inspection object;
An imaging unit that images the inspection surface irradiated with the plurality of line light sources and formed with a plurality of line-shaped detection lines;
A detection unit that determines that a defect exists on the inspection surface when a disorder of a line shape is detected in any of the detection lines that appear in the image captured by the imaging unit;
A surface inspection apparatus comprising: 前記線光源は、拡散光照明であり、前記検出部は、前記検出ラインの線形状の屈曲、又は線幅の変化を検出した場合に前記検査面上に欠陥が存在すると判断する請求項１に記載の面検査装置。   2. The line light source according to claim 1, wherein the line light source is diffused light illumination, and the detection unit determines that a defect exists on the inspection surface when detecting a bending of a line shape of the detection line or a change in line width. The surface inspection device described. 前記複数の線光源は、それぞれ直線状に配置され、それぞれ調光部によって輝度調節可能に設けられている複数の光源を備え、前記調光部は、前記複数の光源が前記検査面を照射したときの輝度を前記検出ラインの全域に亘って予め設定されている基準輝度に調整する請求項１又は２に記載の面検査装置。   Each of the plurality of line light sources includes a plurality of light sources that are arranged in a straight line and are provided so as to be capable of adjusting the luminance by a light control unit, and the light control unit includes the plurality of light sources that irradiate the inspection surface. The surface inspection apparatus according to claim 1, wherein the luminance of the time is adjusted to a reference luminance set in advance over the entire area of the detection line. 検査対象物の検査面の軸方向に対する傾きが異なる複数の線光源により前記検査面を照射する工程と、
前記複数の線光源により照射され、複数の線形状の検出ラインが形成されている前記検査面を撮像部によって撮像する工程と、
前記撮像部によって撮像された画像に表れた前記検出ラインの線形状を検査し、少なくともいずれか一方の線形状に乱れが検出された場合に、前記検査面上に欠陥が存在すると判断する工程と、
を備える面検査方法。 Irradiating the inspection surface with a plurality of line light sources having different inclinations with respect to the axial direction of the inspection surface of the inspection object; and
Imaging the inspection surface irradiated with the plurality of line light sources and formed with a plurality of line-shaped detection lines;
Inspecting the line shape of the detection line appearing in the image captured by the imaging unit, and determining that a defect exists on the inspection surface when disturbance is detected in at least one of the line shapes; ,
A surface inspection method comprising:

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