JP2017201755A - 読取装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】原稿の流し読み時に発生する異常画素の補正と回転補正を併用した際の読取画像の品質を向上させることができる読取装置を提供する。
【解決手段】読取装置(10)は、読取ガラス(118)上に搬送された原稿に対して光源(119,120)から光を照射して原稿の画像を読み取り、読み取りにより得られた画像データから読取ガラス上に付着した異物による異常画素を検知して異常画素情報を生成する。また、搬送された原稿の斜行量を検知し、検知された斜行量に基づいて画像データを回転補正する。また、生成された異常画素情報を斜行量に応じて補正する。さらに、回転補正された画像データに含まれる異常画素を補正後の異常画素情報に基づいて補正する。
【選択図】図3
【解決手段】読取装置(10)は、読取ガラス(118)上に搬送された原稿に対して光源(119,120)から光を照射して原稿の画像を読み取り、読み取りにより得られた画像データから読取ガラス上に付着した異物による異常画素を検知して異常画素情報を生成する。また、搬送された原稿の斜行量を検知し、検知された斜行量に基づいて画像データを回転補正する。また、生成された異常画素情報を斜行量に応じて補正する。さらに、回転補正された画像データに含まれる異常画素を補正後の異常画素情報に基づいて補正する。
【選択図】図3
Description
本発明は、原稿に記録された画像情報を読み取る読取装置の技術に関する。
自動原稿搬送装置を有する原稿画像を読み取る読取装置には、当該原稿表面に光を照射する光走査部を所定の原稿読取位置に停止させて原稿を1枚ずつ移動させながら読み取る、いわゆる流し読み機能を有するものがある。
このような装置で流し読みを行う際に、読取ガラス上の原稿読取位置にゴミや汚れなどの異物が付着していると、読み取り画像にスジ状の異常画像が発生してしまう。このため、流し読み機能を有する画像読取装置には、スジ状の異常画像の連続性を基に異常画像を検出し、周囲の画素を用いて異常画素を補正する機能を有するものがある(特許文献1)。
このような装置で流し読みを行う際に、読取ガラス上の原稿読取位置にゴミや汚れなどの異物が付着していると、読み取り画像にスジ状の異常画像が発生してしまう。このため、流し読み機能を有する画像読取装置には、スジ状の異常画像の連続性を基に異常画像を検出し、周囲の画素を用いて異常画素を補正する機能を有するものがある(特許文献1)。
一方、原稿の流し読みを行う際には、原稿の状態などによって原稿が原稿読取位置に対して斜めに搬送され、読み取り画像が傾いてしまうことがある。この対策として、流し読み機能を有する読取装置には、原稿の斜行量を検出してこの斜行量に基づいて画像を回転して補正する機能を有するものがある(特許文献2)。また、回転後の画素値は、バイリニア法やバイキュービック法などを用いて回転前の注目画素の周囲画素から補完するなどしている。
また、特許文献3に開示された装置は、異常画素の補正機能と回転補正機能の両方を有する。この装置は、原稿を斜行搬送させて読み取り、スジ状の異常画素と現行の区別をつきやすくした状態で異常画素の検知を行う。そして、異常画素であるか否かを示した異常画素情報と画像の両方を回転させた後に異常画素情報に基づいて異常画素の補正を行っている。
図20は、従来の読取装置が行う異常画素情報に基づいた異常画素の補正を説明するための図である。図20(a)は回転前の異常画像を示し、(b)は、回転前の異常画素情報を示し、(c)は、回転補正後の異常画像を示し、(d)は、回転後の異常画素情報、(e)は、異常画素補正後の画像を示している。
図20(a)に示すような異常画像における異常画素情報は、図20(b)に示すように各画素位置に対応した異常画素であるか否かを表す2値情報である。また、回転補正を行った後の異常画素情報は、図20(d)に示すように階段状になる。
図20(a)に示すような異常画像における異常画素情報は、図20(b)に示すように各画素位置に対応した異常画素であるか否かを表す2値情報である。また、回転補正を行った後の異常画素情報は、図20(d)に示すように階段状になる。
一方、画像の回転補正に際して補完処理を行うと、図20(a)の異常画像は図20(c)に示すように、原稿の搬送方向(以下、副走査方向と称す)に直交する方向(以下、主走査方向と称す)の複数画素に渡って輝度値が徐々に変化する滑らかな斜線になる。
そのため、回転補正後の異常画像(図20(c))を回転させた異常画素情報(図20(d))を用いて補正を行った場合、主走査方向の段差付近での異常画素と異常画素情報の位置ずれが大きくなる。その結果、図20(e)に示すように異常画素の補正が不完全になってしまう、という課題が残る。
そのため、回転補正後の異常画像(図20(c))を回転させた異常画素情報(図20(d))を用いて補正を行った場合、主走査方向の段差付近での異常画素と異常画素情報の位置ずれが大きくなる。その結果、図20(e)に示すように異常画素の補正が不完全になってしまう、という課題が残る。
本発明は、原稿の流し読み時に発生する異常画素の補正と回転補正を併用した際の読取画像の品質を向上させることができる読取装置を提供することを、主たる課題とする。
本発明の読取装置は、原稿を搬送する搬送手段と、読取ガラス上に搬送された原稿に対して光源から光を照射して、当該原稿の画像を読み取る読取手段と、前記読取手段の読み取りにより得られた画像データから前記読取ガラス上に付着した異物による異常画素を検知して異常画素情報を生成する異常画素検知手段と、前記搬送手段によって搬送された原稿の斜行量を検知する斜行量検知手段と、前記斜行量検知手段により検知された斜行量に基づいて画像データを回転補正する回転補正手段と、前記生成された異常画素情報を、前記斜行量検知手段が検知した斜行量に応じて補正する異常画素情報補正手段と、前記回転補正手段により回転補正された画像データに含まれる異常画素を、前記異常画素情報補正手段による補正後の異常画素情報に基づいて補正する異常画素補正手段と、を有することを特徴とする。
本発明によれば、原稿の流し読み時に発生する異常画素の補正と回転補正を併用した際の読取画像の品質を向上させることができる。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本発明を原稿画像を読み取る読取装置に適用した場合を例に挙げて説明する。また、この読取装置は画像形成装置に接続可能に構成される。また、読取装置を複写機やファクシミリ、あるいは他の複合機の一部として構成することもできる。
[第1実施形態]
図1は、本実施形態に係る読取装置の構成の一例を示す概略縦断面図である。
図1に示す読取装置10は、原稿を読み取るリーダーユニット101、原稿を搬送するADF102、原稿トレイ104、幅規制板105、ピックアップローラ106、分離パッド107、分離ローラ108、第1レジストローラ109、第2レジストローラ110を有する。
読取装置10は、また、第1搬送ローラ111、第2搬送ローラ112、第3搬送ローラ113、白色対向部材114、第4搬送ローラ115、排紙ローラ116、原稿排紙トレイ117、読取ガラス118、読取ユニット127を有する。
図1は、本実施形態に係る読取装置の構成の一例を示す概略縦断面図である。
図1に示す読取装置10は、原稿を読み取るリーダーユニット101、原稿を搬送するADF102、原稿トレイ104、幅規制板105、ピックアップローラ106、分離パッド107、分離ローラ108、第1レジストローラ109、第2レジストローラ110を有する。
読取装置10は、また、第1搬送ローラ111、第2搬送ローラ112、第3搬送ローラ113、白色対向部材114、第4搬送ローラ115、排紙ローラ116、原稿排紙トレイ117、読取ガラス118、読取ユニット127を有する。
原稿束103は、原稿トレイ104に載置される。幅規制板105は、原稿束103に当接して配備される。これにより原稿の斜行搬送を抑制することができる。なお、原稿束103は、ピックアップローラ106を介して分離部に向けて搬送される。
分離部では、分離パッド107、分離ローラ108により原稿束103の最上紙から1枚ずつ分離され、分離された1枚の原稿は、第1レジストローラ109を介して当該原稿の斜め搬送が修正される。その後、第2レジストローラ110、第1搬送ローラ111、第2搬送ローラ112、第3搬送ローラ113を介してさらに搬送される。
搬送された原稿はその後、第2搬送ローラ112を通過し、対向して配備された白色対向部材114と読取ガラス118の間の読取位置Tを通過して、さらに第3搬送ローラ113を通過する。原稿が読取位置Tを通過する際に原稿画像を読み取って画像情報を取得する。
第3搬送ローラ113を通過した原稿は、第4搬送ローラ115、排紙ローラ116を介してさらに搬送され、その後原稿排紙トレイ117に排紙される。以下、読取装置10による原稿の読み取り動作について説明する。
読取ユニット127は、原稿が読取位置Tを通過する際に光源119、120を介して当該原稿に光を照射し、その反射光が反射ミラー121、122、123を介して結像レンズ124へ導かれるように構成される。結像レンズ124で収束された光は、CCD(Charge Coupled Device)などの撮像素子をライン上に配置したラインセンサ125に結像される。結像された光信号はラインセンサ125を介して電気信号(アナログ信号)に変換される。また、この電気信号を信号処理基板126を介してデジタル信号に変換した後に画像処理が行われる。
図2は、信号処理基板126の主たる機能構成の一例を示すブロック図である。
信号処理基板126は、A/Dコンバータ(アナログ/デジタル変換回路)201、CPU(Central Processing Unit)202、RAM(Random Access Memory)203、画像処理部206を含んで構成される。信号処理基板126は、また、ラインセンサ125、操作パネル204、搬送制御部205と接続される。
信号処理基板126は、A/Dコンバータ(アナログ/デジタル変換回路)201、CPU(Central Processing Unit)202、RAM(Random Access Memory)203、画像処理部206を含んで構成される。信号処理基板126は、また、ラインセンサ125、操作パネル204、搬送制御部205と接続される。
A/Dコンバータ201は、ラインセンサ125から出力された電気信号(アナログ信号)をデジタル信号に変換する。A/Dコンバータ201は、また、変換後のデータを画像データとして画像処理部206に送信する。CPU202は、主としてラインセンサ125、操作パネル204、搬送制御部205、画像処理部206などを制御する制御手段として機能する。RAM203は、画像処理部206における回転補正処理などの画像処理に必要な画像データを記憶する記憶手段として機能する。操作パネル204は、ユーザからの操作の受け付け、ユーザに向けてメッセージを通知するなどユーザインタフェースとして機能する。搬送制御部205は、CPU202と協働して、原稿を搬送する各ローラの動作を制御する。
図3は、図2に示す画像処理部206の機能構成の一例を示すブロック図である。
画像処理部206は、RAM制御部301、斜行量検知部302、異常画素検知部303、回転補正部304、異常画素補正部305、異常画素情報補正部306、異常画素情報記憶部307を含んで構成される。
画像処理部206は、RAM制御部301、斜行量検知部302、異常画素検知部303、回転補正部304、異常画素補正部305、異常画素情報補正部306、異常画素情報記憶部307を含んで構成される。
RAM制御部301は、CPU202と協働して、A/Dコンバータ201から出力された画像データをRAM203に記憶したり、回転補正部304からの要求にしたがってRAM203から画像データを読み出すための制御を行う。
斜行量検知部302は、画像データから原稿の斜行量を検知し、検知結果を斜行量情報として回転補正部304、異常画素情報補正部306に送信する。
異常画素検知部303は、画像データから異常画素を検知し、検知結果を異常画素情報として異常画素情報記憶部307へ格納する。異常画素情報は、画像データの各画素位置に対応した異常画素であるか否かを表す2値情報である。詳細は、後述する。
斜行量検知部302は、画像データから原稿の斜行量を検知し、検知結果を斜行量情報として回転補正部304、異常画素情報補正部306に送信する。
異常画素検知部303は、画像データから異常画素を検知し、検知結果を異常画素情報として異常画素情報記憶部307へ格納する。異常画素情報は、画像データの各画素位置に対応した異常画素であるか否かを表す2値情報である。詳細は、後述する。
回転補正部304は、斜行量情報に基づいてRAM制御部301に画像データ要求を行い、送られてきた画像データに対して回転補正を行う。異常画素情報記憶部307は、異常画素検知部303で生成された異常画素情報を記憶する。
異常画素情報補正部306は、斜行量情報に基づいて異常画素情報記憶部307から読み出した異常画素情報を補正し、補正された異常画素情報を異常画素補正部305に送る。
異常画素補正部305は、回転補正部304により回転補正された補正後の画像データと、異常画素情報補正部306により補正された補正後の異常画素情報に基づいて異常画素の補正を行う。
異常画素情報補正部306は、斜行量情報に基づいて異常画素情報記憶部307から読み出した異常画素情報を補正し、補正された異常画素情報を異常画素補正部305に送る。
異常画素補正部305は、回転補正部304により回転補正された補正後の画像データと、異常画素情報補正部306により補正された補正後の異常画素情報に基づいて異常画素の補正を行う。
図4は、読取装置10による原稿の読み取り動作の一例を示すフローチャートである。なお、図4に示す各処理は、主としてCPU202により行われる。
CPU202は、操作パネル204を介して、ユーザからの読み取り開始を指示する読取開始信号を検知する(S401)。CPU202は、原稿の読み取りを開始する(S402)。読取位置Tにおいて読み取られた画像データは、画像処理部206に送信される。
CPU202は、画像処理部206を介して、受け付けた画像データに対して異常画素の検知、異常画素の補正、回転補正などの画像処理を行う(S403)。以下、画像処理部206で行われる画像処理の詳細について説明する。
CPU202は、操作パネル204を介して、ユーザからの読み取り開始を指示する読取開始信号を検知する(S401)。CPU202は、原稿の読み取りを開始する(S402)。読取位置Tにおいて読み取られた画像データは、画像処理部206に送信される。
CPU202は、画像処理部206を介して、受け付けた画像データに対して異常画素の検知、異常画素の補正、回転補正などの画像処理を行う(S403)。以下、画像処理部206で行われる画像処理の詳細について説明する。
図5は、図4に示すステップS403の処理(画像処理)の詳細を説明するためのフローチャートである。なお、図5に示す各処理は、主としてCPU202の制御に基づいて行われる。また、図5に示すステップS501、ステップS502、ステップS503の各処理は並行して行われる処理である。
CPU202は、RAM制御部301を介して、受け付けた画像データをRAM203に格納する(S501)。
CPU202は、異常画素検知部303を介して、受け付けた画像データが異常画素であるか否かを検知し、検知結果に応じた異常画素情報を生成する(S502)。詳細については後述する。
CPU202は、異常画素検知部303を介して、受け付けた画像データが異常画素であるか否かを検知し、検知結果に応じた異常画素情報を生成する(S502)。詳細については後述する。
CPU202は、斜行量検知部302を介して、受け付けた画像データに基づいて原稿の斜行量を検知し、検知結果に応じた斜行量情報を生成する(S503)。詳細については後述する。
CPU202は、異常画素情報補正部306を介して、ステップS503の処理において生成された斜行量情報に基づいて、ステップS502の処理において生成された異常画素情報を補正する(S504)。詳細については後述する。
CPU202は、異常画素情報補正部306を介して、ステップS503の処理において生成された斜行量情報に基づいて、ステップS502の処理において生成された異常画素情報を補正する(S504)。詳細については後述する。
CPU202は、回転補正部304を介して、ステップS503の処理において生成された斜行量情報に基づいて回転補正を行う(S505)。以下、その手順の一例について説明する。
CPU202は、斜行量情報に基づいて、アフィン変換により出力座標に対応するRAM203からの読出座標を算出する。次に、算出した読出座標の周囲8画素四方のデータに基づいてバイキュービック法による補完処理を行って出力画素値を確定させる。なお、本実形態においては補完方法に参照範囲が8画素四方のバイキュービック法を用いているが、参照範囲や補完方法は別の方法であっても良い。
CPU202は、斜行量情報に基づいて、アフィン変換により出力座標に対応するRAM203からの読出座標を算出する。次に、算出した読出座標の周囲8画素四方のデータに基づいてバイキュービック法による補完処理を行って出力画素値を確定させる。なお、本実形態においては補完方法に参照範囲が8画素四方のバイキュービック法を用いているが、参照範囲や補完方法は別の方法であっても良い。
CPU202は、異常画素補正部305を介して、ステップS504の処理において補正された補正後の異常画素情報に基づいて異常画素の補正を行う(S506)。詳細については後述する。
以下、図5に示すステップS502の処理内容である異常画素検知の詳細について説明する。
以下、図5に示すステップS502の処理内容である異常画素検知の詳細について説明する。
図6は、図5に示すステップS502の処理の詳細を説明するための図である。
ここで、原稿の搬送方向を副走査方向とし、副走査方向に直交する方向を主走査方向と称す。図6(a)はゴミや汚れなどの異物の有無による輝度値の差を説明するためのグラフであり、縦軸を輝度値とし、横軸を主走査位置としている。また、図6(b)は異物の付着先を説明するための図である。
ここで、原稿の搬送方向を副走査方向とし、副走査方向に直交する方向を主走査方向と称す。図6(a)はゴミや汚れなどの異物の有無による輝度値の差を説明するためのグラフであり、縦軸を輝度値とし、横軸を主走査位置としている。また、図6(b)は異物の付着先を説明するための図である。
図6(a)上段のグラフに示すように、異物が付着していない場合に白色対向部材114を読み取った際の輝度値601は、ほぼ一定の高い値になる。一方、異物が付着していた場合には光源119、120から照射された光が異物によって遮られる。そのため、図6(a)下段のグラフに示すように、白色対向部材114からの反射光は異物が付着していない場合と比べて弱くなる。そのため、輝度値602では、光が異物によって遮られた画素の輝度値はそうでない画素の輝度値と比べて相対的に低い値になっている。
そこで、予め異物が付着していない場合の白色対向部材114の輝度値601を取得しておき、これにマージンを持たせて所定の輝度値603を決定しておく。そして、検知した輝度値が所定の輝度値603以下の輝度値である場合には異常画素候補とし、所定の輝度値603より高い輝度値である場合には正常画素と判断することが可能になる。
そこで、予め異物が付着していない場合の白色対向部材114の輝度値601を取得しておき、これにマージンを持たせて所定の輝度値603を決定しておく。そして、検知した輝度値が所定の輝度値603以下の輝度値である場合には異常画素候補とし、所定の輝度値603より高い輝度値である場合には正常画素と判断することが可能になる。
また、原稿は読取ガラス118と白色対向部材114の間を通過するため、白色対向部材114に付着した異物は原稿によって遮られ、スジ状の異常画像発生の原因とはならない。一方、読取ガラス上に異物が付着している場合、流し読みモードで読み取られる画像データには副走査方向にスジ状の異常画像が発生する。このため、白色対向部材114に付着した異物による異常画素候補は補正の対象外とし、正常画素として扱う。つまり、読取ガラス上に付着した異物による異常画素候補のみを補正対象画素(異常画素)として扱う。
また、図6(b)に示すように、読取ガラス118面上に異物が付着している場合、原稿先端位置が読み取られた後も途切れることの無いスジ状の異常画像(実線604)が生じる。これに対し、白色対向部材114上に異物が付着している場合、読み取り開始位置から原稿先端位置までのスジ状の異常画像(実線605)が生じ、原稿先端位置から後にはスジ状の異常画像が現れない。つまり、原稿の先端を基準に前方の領域においてのみスジ状の異常画像が現れる。このため、検知された異常画素候補の主走査位置を原稿先端位置を基準にして前後の領域で比較し、比較結果から異常画素候補が原稿先端の前後両方の領域において存在するか否かを判断する。これにより、異物が読取ガラス118と白色対向部材114のどちらに付着したものであるかを判断することが可能になる。
図7は、図5に示すステップS502の処理(異常画素情報の生成)の詳細を説明するためのフローチャートである。なお、図6(b)を参照しながら説明を進める。
CPU202は、副走査カウンタyの値を初期化(y=0)する(S701)。CPU202は、副走査カウンタyの値が原稿先端より前の領域にあらかじめ設定したラインy0(図6(b)参照)であるか否かを判断する(S702)。y=y0の場合(S702:Yes)、CPU202は、ステップS704の処理に進む。また、そうでない場合(S702:No)、ステップS703の処理に進む。
CPU202は、原稿先端より前の領域であるy=y0のラインにおける、1ライン分の異常画素候補判定(第1の異常画素候補判定)を行う(S704)。詳細について後述する。
CPU202は、副走査カウンタyの値を初期化(y=0)する(S701)。CPU202は、副走査カウンタyの値が原稿先端より前の領域にあらかじめ設定したラインy0(図6(b)参照)であるか否かを判断する(S702)。y=y0の場合(S702:Yes)、CPU202は、ステップS704の処理に進む。また、そうでない場合(S702:No)、ステップS703の処理に進む。
CPU202は、原稿先端より前の領域であるy=y0のラインにおける、1ライン分の異常画素候補判定(第1の異常画素候補判定)を行う(S704)。詳細について後述する。
CPU202は、ステップS703では副走査カウンタyの値がy1の値より大きく、且つ、y2の値未満の範囲にあるか否かを判断する(S703)。範囲内であると判断した場合(S703:Yes)、CPU202は、ステップS705の処理に進む。また、そうでない場合(S703:No)、ステップS706の処理に進む。ここで、y2の値はy1の値より相対的に大きな値であり、両者とも原稿先端位置よりも後の原稿領域にある位置を設定する。
CPU202は、原稿先端より後の領域(y1<y<y2)における複数ラインに対する異常画素判定を行い、ステップS704の処理における異常画素候補判定の結果と比較して、最終的に異常画素であるか否かを判定(第2の異常画素候補判定)する(S705)。詳細については後述する。
CPU202は、副走査カウンタyの値が画像読取領域の副走査サイズheightの値未満であるか否かを判断する(S706)。y<heightである場合(S706:Yes)、CPU202は、副走査カウンタyの値をインクリメント(y=y+1)してその後、ステップS702の処理に戻る(S707)。また、そうでない場合(S706:No)、一連の処理を終了する。
以下、図7に示すステップS704の処理(第1の異常画素候補判定)について説明する。
以下、図7に示すステップS704の処理(第1の異常画素候補判定)について説明する。
図8は、図7に示すステップS704の処理(第1の異常画素候補判定)の詳細を説明するためのフローチャートである。
CPU202は、主走査カウンタxの値を初期化(x=0)する(S801)。CPU202は、注目画素が所定の輝度値以下であるか否かを判断する(S802)。所定の輝度値以下である場合(S802:Yes)、CPU202は、第1判定値に異常画素を示す値を設定する(S803)。ここでは、異常画素を示す値として第1判定値=1を設定するものとする。また、そうでない場合(S802:No)、第1判定値に正常画素を示す値を設定する。ここでは、正常画素を示す値として第1判定値=0を設定するものとする。
CPU202は、主走査カウンタxの値を初期化(x=0)する(S801)。CPU202は、注目画素が所定の輝度値以下であるか否かを判断する(S802)。所定の輝度値以下である場合(S802:Yes)、CPU202は、第1判定値に異常画素を示す値を設定する(S803)。ここでは、異常画素を示す値として第1判定値=1を設定するものとする。また、そうでない場合(S802:No)、第1判定値に正常画素を示す値を設定する。ここでは、正常画素を示す値として第1判定値=0を設定するものとする。
CPU202は、ステップS803、あるいはステップS804の処理において設定された第1判定値を主走査位置毎に異常画素情報記憶部307に格納する(S805)。
CPU202は、主走査カウンタxの値が主走査サイズwidthの値未満であるか否かを判断する(S806)。主走査サイズwidthの値未満である場合(S806:Yes)、CPU202は、主走査カウンタxの値をインクリメント(x=x+1)し、ステップS802に戻る(S807)。また、そうでない場合(S807:No)、一連の処理を終了する。
以下、図7に示すステップS705の処理(第2の異常画素候補判定)について説明する。
CPU202は、主走査カウンタxの値が主走査サイズwidthの値未満であるか否かを判断する(S806)。主走査サイズwidthの値未満である場合(S806:Yes)、CPU202は、主走査カウンタxの値をインクリメント(x=x+1)し、ステップS802に戻る(S807)。また、そうでない場合(S807:No)、一連の処理を終了する。
以下、図7に示すステップS705の処理(第2の異常画素候補判定)について説明する。
図9は、図7に示すステップS705の処理(第2の異常画素候補判定)の詳細を説明するためのフローチャートである。また、図10は、異常画素情報記憶部307に格納された異常画素情報の変換の一例を説明するための図である。
なお、図9に示すステップS901、S902、S909、S910の各処理は、図8に示すステップS801、S802、S806、S807の各処理と同様であるため、その説明を省略する。
なお、図9に示すステップS901、S902、S909、S910の各処理は、図8に示すステップS801、S802、S806、S807の各処理と同様であるため、その説明を省略する。
CPU202は、異常画素候補が副走査方向に連続する画素数を計数し、その長さが所定の長さ以上であるか否かを判断する(S903)。これは原稿画像内の罫線や文字を表す正常画素と異物の影響を受けた異常画素とを切り分けるための処理であり、異常画素は読取画像の全域に現れる。そのため、判定領域全域における副走査方向において異常と判定されるものを異常画素候補、そうではないものを正常画素として扱う。
CPU202は、所定の長さより長い場合(S903:Yes)、第2判定値に異常画素を示す値を設定する(S904)。ここでは、異常画素を示す値として第2判定値=1を設定する。また、そうではない場合(S903:No)、ステップS907の処理に進む。
CPU202は、ステップS805の処理において主走査位置毎に異常画素情報記憶部307に格納された第1判定値の中から主走査位置xに対応する第1判定値を取得する(S905)。
CPU202は、ステップS805の処理において主走査位置毎に異常画素情報記憶部307に格納された第1判定値の中から主走査位置xに対応する第1判定値を取得する(S905)。
CPU202は、取得した第1判定値と第2判定値が等しいか否かを判断する(S906)。等しいと判断した場合(S906:Yes)、CPU202は、主走査位置毎に、異常画素情報記憶部307の情報を第2判定値に書き換えて格納する(S908)。また、そうでない場合(S906:No)、第2判定値に正常画素を示す値を設定する(S907)。ここでは、正常画素を示す値として第2判定値=0を設定する。
CPU202は、ステップS908の処理において異常画素情報記憶部307に格納された異常画素情報を、図10に示すような異常画素の主走査開始位置sと連続幅wで表す形式の情報に変換する(S911)。
以下、図5に示すステップS503の処理内容である斜行量検知の詳細について説明する。
以下、図5に示すステップS503の処理内容である斜行量検知の詳細について説明する。
図11は、斜行量検知部302の機能構成の一例を示すブロック図である。
斜行量検知部302は、エッジ検出部1101、エッジ検出データ用メモリ1102、斜行量検出部1103を含んで構成される。
エッジ検出部1101は、画像データにエッジ検出処理を行い画像のエッジを検出し、その結果をエッジ検出データ用メモリ1102に転送して保持するように構成される。
斜行量検知部302は、エッジ検出部1101、エッジ検出データ用メモリ1102、斜行量検出部1103を含んで構成される。
エッジ検出部1101は、画像データにエッジ検出処理を行い画像のエッジを検出し、その結果をエッジ検出データ用メモリ1102に転送して保持するように構成される。
図12は、エッジ検出部1101によるエッジ検出の一例を説明するための図である。図12(a)は、読み取られた原稿の画像データ及びエッジ検出の範囲設定の一例であり、(b)は、この原稿のエッジ検出結果(エッジ検出された画像データ)の一例である。また、図13は、斜行量検出の動作の一例を説明するための図である。
エッジ検出部1101は、エッジ検出された画像データをエッジ検出後データとしてエッジ検出データ用メモリ1102に出力する。
斜行量検出部1103は、エッジ検出部1101が生成したエッジ検出後データをエッジ検出データ用メモリ1102から読み出して、原稿の左上座標と斜行角を求める演算処理を受け持つ。以下、図12(b)に示すエッジ検出結果に基づいて、斜行量検出部1103が原稿の左上座標と斜行角を導出する処理の詳細について説明する。
斜行量検出部1103は、エッジ検出部1101が生成したエッジ検出後データをエッジ検出データ用メモリ1102から読み出して、原稿の左上座標と斜行角を求める演算処理を受け持つ。以下、図12(b)に示すエッジ検出結果に基づいて、斜行量検出部1103が原稿の左上座標と斜行角を導出する処理の詳細について説明する。
斜行量検出部1103は、エッジ検出された画像データに対し図13の矢印(1)に示すようにエッジ検出範囲のx座標最小ポジションから所定座標プラス側にオフセットしたx座標にてy方向にエッジデータが最初に見つかるy座標をサーチする。例えばここで、y座標が最大となってもエッジデータが見つからない場合には、更に所定座標プラス側にオフセットしたx座標にてエッジデータが最初に見つかるy座標をサーチする。ここでエッジデータが見つかった場合はこの座標を座標L(1)temp(x、y)として一旦保持する。なお、所定x座標までオフセットしてもエッジデータが見つからなかった場合はエラーとして処理する。
次に斜行量検出部1103は、エッジ検出範囲のx座標最大ポジションから所定座標マイナス側にオフセットしたx座標にてy方向にエッジデータが最初に見つかるy座標をサーチする。例えばここで、y座標が最大となってもエッジデータが見つからない場合、更に所定座標マイナス側にオフセットしたx座標にてエッジデータが最初に見つかるy座標をサーチする。なお、エッジデータが見つかった場合はこの座標を座標R(2)temp(x、y)として一旦保持する。また、所定x座標までオフセットしてもエッジデータが見つからなかった場合はエラーとして処理する。
斜行量検出部1103は、座標L(1)temp(x、y)、座標R(2)temp(x、y)に基づいて、図13に示す直線Fを表す一次式:y=ax+bを導出する。
斜行量検出部1103は、座標L(1)temp(x、y)、座標R(2)temp(x、y)に基づいて、図13に示す直線Fを表す一次式:y=ax+bを導出する。
斜行量検出部1103は、座標L(1)temp(x、y)を検出したy座標から所定y座標進んだ位置のエッジ検出範囲のx座標最小ポジションからx方向にエッジデータが最初に見つかるx座標をサーチする。ここでエッジデータが見つかった場合にはこの座標を座標L(3)temp(x、y)として一旦保持する。また、エッジデータが見つからなかった場合はエラーとして処理する。
斜行量検出部1103は、座標L(3)temp(x、y)を導出したy座標から更に所定y座標進んだ位置のエッジ検出範囲のx座標最小ポジションからx方向にエッジデータが最初に見つかるx座標をサーチする。ここでエッジデータが見つかった場合、この座標を座標L(4)temp(x、y)として一旦保持する。また、エッジデータが見つからなかった場合にはエラーとして処理する。この座標L(3)temp(x、y)、座標L(4)temp(x、y)に基づいて図13に示す直線Lを示す一次式:y=ax+bを導出する。
斜行量検出部1103は、直線F、直線Lの交点を導出して、図13に示す原稿左上座標L(x、y)を導出する。斜行量検出部1103は、導出した座標データを回転中心座標(xofst, yofst)、直線Fの傾きaを回転角度θに対応するtanθとして回転補正部304及び異常画素情報補正部306に出力する。なお、エラーの際はエラー情報をCPU202に出力する。
次に、図5中ステップS504において、異常画素情報補正部306内で行われる異常画素情報補正動作について説明する。
次に、図5中ステップS504において、異常画素情報補正部306内で行われる異常画素情報補正動作について説明する。
図14は、読取装置10が行う異常画素情報に基づいた異常画素の補正を説明するための図である。図14(a)は回転前の異常画素情報を示し、(b)は、回転させた異常画素情報を示し、(c)は、補正した異常画素情報を示し、(d)は、回転前の異常画像、(e)は、回転補正後の異常画像を示し、(f)は、異常画素補正後の画像を示している。
図14(d)に示すような異常画像に対応する異常画素情報(図14(a))に対して、斜行量情報に基づいて回転補正を行う。回転補正により図14(b)に示すような階段状のデータとなる。これに対してさらに異常画素情報の2値情報のうち異常画素を表す画素に対して左右に1画素分拡張させる補正を行う(図14(c))。
1画素分拡張させる補正が行われた異常画素情報に基づいて、図14(e)に示すような回転補正された異常画像を補正する。これにより図14(f)に示すように異常画素を完全に補正することができる。以下、異常画素情報に基づいた異常画像補正の処理の詳細について図15を用いて説明する。
図14(d)に示すような異常画像に対応する異常画素情報(図14(a))に対して、斜行量情報に基づいて回転補正を行う。回転補正により図14(b)に示すような階段状のデータとなる。これに対してさらに異常画素情報の2値情報のうち異常画素を表す画素に対して左右に1画素分拡張させる補正を行う(図14(c))。
1画素分拡張させる補正が行われた異常画素情報に基づいて、図14(e)に示すような回転補正された異常画像を補正する。これにより図14(f)に示すように異常画素を完全に補正することができる。以下、異常画素情報に基づいた異常画像補正の処理の詳細について図15を用いて説明する。
図15は、異常画像の補正処理を説明するための図である。
最初に回転補正について説明する。図15に示すように、主走査方向に角度θ傾いた原稿を回転補正した場合、副走査方向に沿った直線1501であった異常画素は、回転補正後には副走査方向に対して角度θだけ傾いた斜線1502となる。
したがって、回転補正後の異常画素は、副走査方向に1ライン進むとtanθ画素だけ主走査方向にずれることになる。また、回転補正後の先頭ラインにおける主走査開始位置s’は、回転前の主走査開始位置をs、回転角度をθ、回転中心のx座標をxofstとしたときに以下の式(1)で表すことができる。
最初に回転補正について説明する。図15に示すように、主走査方向に角度θ傾いた原稿を回転補正した場合、副走査方向に沿った直線1501であった異常画素は、回転補正後には副走査方向に対して角度θだけ傾いた斜線1502となる。
したがって、回転補正後の異常画素は、副走査方向に1ライン進むとtanθ画素だけ主走査方向にずれることになる。また、回転補正後の先頭ラインにおける主走査開始位置s’は、回転前の主走査開始位置をs、回転角度をθ、回転中心のx座標をxofstとしたときに以下の式(1)で表すことができる。
従って、yoライン目における回転補正した異常画素の主走査開始位置s’は、下記式(2)で求めることができる。
なお、下記数3は、xを超えない最大の整数を表すものとし、式(2)における+0.5の項と組み合わせて演算結果を小数第1位で四捨五入している。また、この演算は単に演算結果を整数に丸めるためのものであり、切り捨てでも切り上げでもよい。
ここで、異常画素情報の拡張補正(図14(c)参照)について説明する。異常画素情報を左右に1画素分拡張した場合、主走査開始位置s’は1画素左にずれることになる。従って、式(1)の回転補正と合わせて異常画素の主走査開始位置s’は最終的に以下の式(3)により導出することができる。
また、拡張補正後の異常画素連続幅w’は、左右の計2画素分拡張されるため、異常画素連続幅w’は、拡張前の異常画素連続幅をwとしたときに下記式(4)により導出することができる。
このようにして異常画素情報の回転補正、及び、拡張補正が行われる。
なお、斜行量検知部302から送られてくる斜行量情報はtanθに相当する情報であるため、tanθから式中のcosθ及びsinθは演算によって求めるか、予め演算した結果を格納したルックアップテーブルを参照するように構成してもよい。
なお、斜行量検知部302から送られてくる斜行量情報はtanθに相当する情報であるため、tanθから式中のcosθ及びsinθは演算によって求めるか、予め演算した結果を格納したルックアップテーブルを参照するように構成してもよい。
次に、図5に示すステップS506の処理において、異常画素補正部305が行う異常画素補正動作について説明する。本実施形態では、補正領域の境界画素を用いて補正領域全体の画素を線形補完するものとする。なお、ステップS504の処理において異常画素情報補正が行われている。そのため、境界画素の値は正常な範囲になっていることから補正処理に用いることができる。
図16は、異常画素補正部305による異常画素補正の動作を説明するための図である。
図16に示すように、補正領域がX0画素目からXL画素目にあり、X0画素目の輝度値をB0、XL画素目の輝度値をBLとする。この際、主走査位置XKにおける補正値BKは下記式(5)によって求めることが出来る。
図16に示すように、補正領域がX0画素目からXL画素目にあり、X0画素目の輝度値をB0、XL画素目の輝度値をBLとする。この際、主走査位置XKにおける補正値BKは下記式(5)によって求めることが出来る。
異常画素補正部305は、式(5)に基づいてX0画素目からXL画素目までのすべての画素の輝度値を補正する。
このように、本実施系形態に係る読取装置10は、原稿の流し読み時に発生する異常画素の補正と回転補正を併用した際の読取画像の品質を向上させることができる。
[第2実施形態]
本実施形態では、第1実施形態における図5に示すステップS504の処理における異常画素情報に対する補正動作のうち拡張補正の方法が異なる場合を挙げて説明する。
なお、第1実施形態において既に説明した機能構成と同じものは、同一の符号を付すとともにその説明を省略する。
本実施形態では、第1実施形態における図5に示すステップS504の処理における異常画素情報に対する補正動作のうち拡張補正の方法が異なる場合を挙げて説明する。
なお、第1実施形態において既に説明した機能構成と同じものは、同一の符号を付すとともにその説明を省略する。
図17は、本実施形態に係る異常画素情報の拡張補正の動作を説明するための図である。 図18は、本実施形態における異常画素情報に基づいた異常画素の補正を説明するための図である。図18(a)は回転させた異常画素情報を示し、(b)は、補正した異常画素情報を示し、(c)は、回転補正後の異常画像を示し、(d)は、異常画素補正後の画像を示している。
図17(a)に示す異常画素に隣接する画素(主走査位置1701)における副走査方向の輝度値は、図17(b)に示すグラフのようになる。図17(b)に示すように正常画素の範囲から異常画素の範囲へと徐々に輝度値が変化していくことが見て取れる。また、異常画素の主走査開始位置が1画素シフトしたラインから次に1画素シフトするラインまでの周期は、斜行角度をθとしたとき1/tanθである。そのため、異常画素情報を左右に一律に拡張することなく、図18に示すように、異常画素であるか否かを識別するための閾値Lthを下回った部分のみを拡張補正するように構成する。詳細は後述する。
図19は、本実施形態における異常画素情報の拡張補正動作の一例を示すフローチャートである。
なお、図19に示す各処理では、主走査方向へ1画素シフトしたラインを起点として、閾値Lthを下回る画素までの距離を距離ythとすると1/tanθ周期で増減する副走査部分カウンタy’の値が距離ythの値を超えたラインは異常画素情報を拡張補正する。また、それ以下の部分では拡張補正を行わない。
なお、図19に示す各処理では、主走査方向へ1画素シフトしたラインを起点として、閾値Lthを下回る画素までの距離を距離ythとすると1/tanθ周期で増減する副走査部分カウンタy’の値が距離ythの値を超えたラインは異常画素情報を拡張補正する。また、それ以下の部分では拡張補正を行わない。
また、この時の距離ythの値は斜行量に応じて変更する。本実施形態では、輝度値の変化が線形であると仮定し、白地部の輝度値をLwスジ画像の輝度値をLb、異常画素と判定する閾値をLthとする。この場合、距離ythは下記式(6)により導出することができる。
以下、図19に示す各処理について説明する。
CPU202は、副走査全体カウンタy及び副走査部分カウンタ値y’の値を0に初期化する(S1901)。
CPU202は、y’の値が1/tanθより大きいか否かを判断する(S1902)。大きいと判断した場合(S1902:Yes)、ステップS1903の処理に進む。また、そうでない場合(S1902:No)、ステップS1904に進む。
CPU202は、副走査全体カウンタy及び副走査部分カウンタ値y’の値を0に初期化する(S1901)。
CPU202は、y’の値が1/tanθより大きいか否かを判断する(S1902)。大きいと判断した場合(S1902:Yes)、ステップS1903の処理に進む。また、そうでない場合(S1902:No)、ステップS1904に進む。
CPU202は、y’の値を0に初期化する(S1903)。CPU202は、y’の値が距離ythの値より大きいか否かを判断する(S1904)。大きいと判断した場合(S1904:Yes)、CPU202は、異常画素情報の回転補正、及び、拡張補正を行う(S1905)。また、そうでない場合(S1904:No)、異常画素情報の回転補正のみを行う(S1906)。
CPU202は、yの値、及び、y’の値に1加算する(S1907)。CPU202は、yの値が画像読取領域の副走査サイズheight未満であるか否かを判断する(S1908)。y<heightであると判断した場合(S1908:No)、ステップS1902の処理に戻る。また、そうでない場合(S1908:Yes)、異常画素情報補正動作を終了する。つまり、この場合の異常画素情報の補正は、斜行量に基づいて決定された一定の周期で変更されることになる。
上記説明した実施形態は、本発明をより具体的に説明するためのものであり、本発明の範囲が、これらの例に限定されるものではない。
101・・・リーダーユニット、102・・・ADF、118・・・読取ガラス、119、120・・・光源、125・・・ラインセンサ、126・・・信号処理基板、302・・・斜行量検知部、303・・・異常画素検知部、304・・・回転補正部、305・・・異常画素補正部、306・・・異常画素情報補正部。
Claims (7)
- 原稿を搬送する搬送手段と、
読取ガラス上に搬送された原稿に対して光源から光を照射して、当該原稿の画像を読み取る読取手段と、
前記読取手段の読み取りにより得られた画像データから前記読取ガラス上に付着した異物による異常画素を検知して異常画素情報を生成する異常画素検知手段と、
前記搬送手段によって搬送された原稿の斜行量を検知する斜行量検知手段と、
前記斜行量検知手段により検知された斜行量に基づいて画像データを回転補正する回転補正手段と、
前記生成された異常画素情報を、前記斜行量検知手段が検知した斜行量に応じて補正する異常画素情報補正手段と、
前記回転補正手段により回転補正された画像データに含まれる異常画素を、前記異常画素情報補正手段による補正後の異常画素情報に基づいて補正する異常画素補正手段と、を有することを特徴とする、
読取装置。 - 前記異常画素情報補正手段による異常画素情報の補正により、前記異常画素補正手段による補正対象画素の範囲が拡張されることを特徴とする、
請求項1に記載の読取装置。 - 前記異常画素情報は、前記画像データにおける各画素位置に対応した異常画素であるか否かを表す情報であり、
前記異常画素情報補正手段による補正は、前記異常画素情報のうち異常画素を表すものを前記原稿が搬送される方向に直交する方向に拡張する補正を含む補正であることを特徴とする、
請求項1又は2に記載の読取装置。 - 前記異常画素情報補正手段による前記異常画素情報の補正は、前記原稿が搬送される方向において、前記斜行量に基づいて決定された一定の周期で変更されることを特徴とする、
請求項3に記載の読取装置。 - 前記異常画素検知手段は、前記読取手段が所定の読取位置で読み取りを行った画像データから前記搬送される原稿の先端を基準に前後両方の領域において異常画素を検知した場合、前記読取ガラス上に付着した異物による異常画素として前記異常画素情報を生成することを特徴とする、
請求項1乃至4いずれか一項に記載の読取装置。 - 前記異常画素検知手段は、前記搬送される原稿の先端を基準に前方の領域においてのみ異常画素を検知した場合には前記異常画素情報を生成しないことを特徴とする、
請求項5に記載の読取装置。 - 前記異常画素検知手段が生成した異常画素情報を記憶する記憶手段を有することを特徴とする、
請求項1乃至6いずれか一項に記載の読取装置。
Priority Applications (1)
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11032443B2 (en) | 2018-03-12 | 2021-06-08 | Pfu Limited | Image reading apparatus for detecting a dirt substance from a white reference image and a document image |
-
2016
- 2016-05-06 JP JP2016093016A patent/JP2017201755A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US11032443B2 (en) | 2018-03-12 | 2021-06-08 | Pfu Limited | Image reading apparatus for detecting a dirt substance from a white reference image and a document image |
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