JP2017198611A - 撮像装置、認識装置、および物品製造方法 - Google Patents
撮像装置、認識装置、および物品製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017198611A JP2017198611A JP2016091583A JP2016091583A JP2017198611A JP 2017198611 A JP2017198611 A JP 2017198611A JP 2016091583 A JP2016091583 A JP 2016091583A JP 2016091583 A JP2016091583 A JP 2016091583A JP 2017198611 A JP2017198611 A JP 2017198611A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- illumination
- imaging
- control unit
- shutter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Image Input (AREA)
Abstract
【課題】 撮像の効率と光量の正確さとの両立の点で有利な撮像装置を提供する。【解決手段】 撮像装置は、物体の照明を行う照明部(1、4、7)と、撮像素子(100a)を含み、照明を行われた物体を撮像素子で撮像する撮像部(100)と、照明部からの光パルスの数および幅のうち少なくとも一方での変調により照明の光量を得、照明部による当該光量での当該照明の終了に合わせて撮像素子のシャッタが閉じるように、照明部と撮像部とを制御する制御部(2、3、5、6)と、を有する。【選択図】 図2
Description
本発明は、撮像装置、認識装置、および物品製造方法に関する。
撮像と照明との同期をとって画像情報を取込むのに、特許文献1に記載の技術が知られている。特許文献1に記載の検査装置は、撮像装置と、照明装置と、照明制御装置と、画像取込み装置とを備える。撮像装置は、撮像対象物の撮像が終了する毎に同期信号を出力し、同期信号を出力した後に撮像した画像情報の出力を開始し、画像情報の出力を行いながら次の撮像を開始する。また、照明制御装置は、複数の照明パターンが入力され、同期信号の入力と同時に照明パターンを切り替え、切り替えた照明パターンに基づいた照明駆動信号を照明装置に出力する。
特許文献1の検査装置は、照明パターンに依らずに一定の周期で撮像を行うものであって、必要な照明の光量が小さくなっても撮像に要する時間は変わらないため、撮像の効率の点では不利となりうる。そこで、撮像の効率を改善するため、照明の光量に依る可変の時点に撮像を終了させる場合、例えば発光の遅延等の動作の遅延を考慮しないと、撮像と照明との正確な同期、もって照明の光量(露光量)の正確さの点で不利となりうる。
本発明は、例えば、撮像の効率と光量の正確さとの両立の点で有利な撮像装置を提供することを目的とする。
本発明の一つの側面は、撮像装置であって、
物体の照明を行う照明部と、
撮像素子を含み、前記照明を行われた前記物体を前記撮像素子で撮像する撮像部と、
前記照明部からの光パルスの数および幅のうち少なくとも一方での変調により前記照明の光量を得、前記照明部による前記光量での前記照明の終了に合わせて前記撮像素子のシャッタが閉じるように、前記照明部と前記撮像部とを制御する制御部と、
を有することを特徴とする撮像装置である。
物体の照明を行う照明部と、
撮像素子を含み、前記照明を行われた前記物体を前記撮像素子で撮像する撮像部と、
前記照明部からの光パルスの数および幅のうち少なくとも一方での変調により前記照明の光量を得、前記照明部による前記光量での前記照明の終了に合わせて前記撮像素子のシャッタが閉じるように、前記照明部と前記撮像部とを制御する制御部と、
を有することを特徴とする撮像装置である。
本発明によれば、例えば、撮像の効率と光量の正確さとの両立の点で有利な撮像装置を提供することができる。
以下、添付図面を参照して本発明の実施形態を説明する。なお、実施形態を説明するための全図を通して、原則として(断りのない限り)、同一の部材等には同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
〔実施形態1〕
まず、図7は、比較例における照明部の構成例を示す図であり、59はスイッチング素子(ここではMOS FET)、64は発光素子(ここではLED)を示している。60ないし63は、電源VCC9、LED64、およびMOS FET59に接続されたケーブル等により生ずる寄生素子(寄生抵抗、寄生インダクタンス、寄生容量)である。これらの寄生素子により、図8に示すように、I10から入力された発光用のパルスP11は、LED64に到達したときにはP12のように鈍って形状が変化し、Td分の尾を引く波形となってしまう。また、I10から連続するパルスを入力した場合には、図9に示すように連続するパルスP31およびP32が互いに重なり合ってしまう場合も生じうる。このように、パルス同士が重畳してしまうと、個々のパルスP31またはP32の発光で独立した正確な照明の光量(露光量)での撮像ができなくなってしまう。
まず、図7は、比較例における照明部の構成例を示す図であり、59はスイッチング素子(ここではMOS FET)、64は発光素子(ここではLED)を示している。60ないし63は、電源VCC9、LED64、およびMOS FET59に接続されたケーブル等により生ずる寄生素子(寄生抵抗、寄生インダクタンス、寄生容量)である。これらの寄生素子により、図8に示すように、I10から入力された発光用のパルスP11は、LED64に到達したときにはP12のように鈍って形状が変化し、Td分の尾を引く波形となってしまう。また、I10から連続するパルスを入力した場合には、図9に示すように連続するパルスP31およびP32が互いに重なり合ってしまう場合も生じうる。このように、パルス同士が重畳してしまうと、個々のパルスP31またはP32の発光で独立した正確な照明の光量(露光量)での撮像ができなくなってしまう。
そのような課題を解決するため、本実施形態では、以下のような構成を採用している。ここで、図1は、実施形態1に係る信号を例示する図であり、図2は、実施形態1に係る撮像装置の構成例を示す図である。図2の撮像装置は、物体の照明を行う照明部(1、4、7)と、撮像素子(100a)を含み、照明を行われた物体を撮像素子で撮像する撮像部(100)と、照明部および撮像部を制御する制御部(2、3、5、6)とを含んで構成されている。図2において、I1は、パルス幅変調(Pulse Width Modulation;PWM)により照明の光量を制御するための、図1に示されるパルス信号I1(パルスの周期はT1)である。信号I1の各パルスの幅は,光量を制御するため、例えば、256段階で変更しうる。信号I2は、パルス数に対応する信号であり、当該パルス数だけパルスが入力されるまで、その出力がハイレベルを維持する計数器2に入力される。当該パルス数は、必要な光量を1パルスの光量で除して決定しうる。したがって、本実施形態では、パルス幅変調とパルス数変調との組合せにより、照明の光量を制御する。計数器2は、信号I1のパルスの数がI2に対応するパルスの数に達するまで論理積部3への出力をハイレベルとする(ハイレベルとする期間はT2)。論理積部3は、信号I1と計数器2の出力との論理積を得、電気抵抗4(以下単に抵抗ともいう)を介してMOS FET1のゲート入力へ、必要な光量に対応した複数のパルスを供給する。これにより、MOS FET1は、図1に示すように、1からnまでのパルス信号でLED7の駆動(点灯)を行うことになる。ここで、LEDの発光の遅延が無ければ、1からnまでのパルス信号の期間だけ撮像部100の撮像素子100aのシャッタを開いた撮像を行うことにより、正確な照明の光量(露光量)での画像が得られることになる。しかしながら、上述した寄生素子の存在により、パルス信号I1は、LED7では波形が崩れて発光の遅延を生じるため、正確な光量での画像を得ることが困難であった。
そこで、本実施形態では、制御部は、図2の信号遅延部5と論理和部6を用いて、図1に示すようなシャッタ開信号O1(撮像素子のシャッタが開いている期間T3を撮像部に指示する信号)を生成することにより、正確な光量での画像を得るようにしている。すなわち、制御部は、照明部からの光パルスの数および幅のうち少なくとも一方(本実施形態では両方)での変調により照明の光量を得、照明部による当該光量での照明の終了に合わせて、撮像素子のシャッタが閉じるように、照明部と撮像部とを制御する。信号遅延部5による遅延時間は、図1において、照明部(LED)へのn個分のパルスに関するパルス信号終了時刻からシャッタ開信号終了時刻(O1がオフになる時刻)までの時間T4として示されている。この遅延時間T4は、信号遅延部5(単に遅延部ともいう)に設定される。この遅延部は、遅延時間T4に対応する時間だけシャッタが閉じる時点を遅延させる機能を有する。ここで、当該遅延時間T4は、例えば、寄生素子が図7における電気抵抗60および静電容量63(以下単に容量ともいう)だけであれば、次式(1)で示される時定数に基づいて決定しうる。
[時定数](s)=[静電容量](F)×[電気抵抗](Ω)・・・(1)
[時定数](s)=[静電容量](F)×[電気抵抗](Ω)・・・(1)
なお、時定数τは、CR回路の場合は、上述のようにτ=CRとしうるが、RL回路の場合は、τ=L/Rとしうる。また、RLC回路の場合は、各素子の値に依存して、減衰振動、臨界減衰、または過減衰をとり得、τ=R/2Lとしうる。制御部は、光パルスの数、幅、および周期のうち少なくとも一つに基づいて、シャッタが閉じる時点を遅延部が遅延させる時間(遅延時間T4)を決定しうる。
以上の構成により、照明部(LED)へのパルス信号をn個分のパルスで終了させ、シャッタ開信号O1がオフになる時刻を当該パルス信号終了時刻から遅延時間T4だけ遅れた時刻としている。そのため、連続する撮像のための発光時間が重畳して光量が超過したり、遅延した発光により光量が不足したりする不利や、照明期間に対して撮像期間に無用な余裕を持たせる不利を軽減できる。よって、本実施形態によれば、例えば、撮像の効率と光量の正確さとの両立の点で有利な撮像装置を提供することができる。
〔実施形態2〕
実施形態2について以下に説明する。実施形態1では、撮像部での1回の撮像を行うのに照明部に対して制御部が複数のパルスを出力したが、本実施形態では、撮像部での1回の撮像を行うのに照明部に対して制御部が単数のパルスを出力する。よって、信号I3は、単一のパルスからなる信号である。ここで、図3は、実施形態2に係る撮像装置の構成例を示す図である。図3において、単一のパルス信号I3は、抵抗11を介してMOS FET8のゲート入力へ供給される。よって、MOS FET8は、この単一のパルス信号I3に基づいてLED10の発光(点灯)を制御する。
実施形態2について以下に説明する。実施形態1では、撮像部での1回の撮像を行うのに照明部に対して制御部が複数のパルスを出力したが、本実施形態では、撮像部での1回の撮像を行うのに照明部に対して制御部が単数のパルスを出力する。よって、信号I3は、単一のパルスからなる信号である。ここで、図3は、実施形態2に係る撮像装置の構成例を示す図である。図3において、単一のパルス信号I3は、抵抗11を介してMOS FET8のゲート入力へ供給される。よって、MOS FET8は、この単一のパルス信号I3に基づいてLED10の発光(点灯)を制御する。
一方、制御部は、光電変換素子18を含み、光電変換素子18を介してLED10からの光の強度を検出する。なお、スイッチング素子17および抵抗12ないし14は、光電変換素子18とともに検出部を構成している。比較器19は、比較器19の(−)端子に接続された抵抗15および抵抗16により設定される閾値に基づいて、LED10からの光の強度が当該閾値を超えている間、その出力をハイレベルとする。論理和部9は、当該出力信号と、単一のパルス信号I3との間で論理和を得、シャッタ開信号O2として出力する。これにより、LED10からの光の強度が閾値より大きい場合は、撮像素子のシャッタは閉じられず、正確な光量での画像を得ることができる。
次に、図4は、実施形態2に係る撮像装置の変形例を示す図である。図4において、計数器21は、実施形態1(図2)の計数器2に相当し、論理積部22は、実施形態1の論理積部3に相当する。また、信号I4は、信号I1に相当し、信号I5は、信号I2に相当する。さらに、LED23は、LED7に相当し、MOS FET20は、MOS FET8に相当し、抵抗24は、抵抗4に相当する。したがって、LED23の発光の制御は、実施の形態1のLED7の場合と同様になされる。
また、図4において、LEDからの光の強度を検出するための構成(素子25ないし32)は、図3におおけるそれ(素子12ないし19)に相当する。さらに、論理和部33は、論理和部9に相当する。したがって、論理和部33は、比較器32の出力信号と、計数器21の出力との間で論理和を得、シャッタ開信号O3として出力する。これにより、LED23からの光の強度が閾値より大きい場合は、撮像素子のシャッタは閉じられず、もって正確な光量での画像を得ることができる。よって、本実施形態によれば、例えば、撮像の効率と光量の正確さとの両立の点で有利な撮像装置を提供することができる。
なお、本実施形態における以上の説明では、制御部は、照明部からの出力を検出する検出部を有し、当該検出部からの出力に基づいて、シャッタが閉じる時点を制御するようにした。しかしながら、制御部は、照明部への入力(例えばLEDの電流)を検出する検出部を有し、当該検出部からの出力に基づいて、シャッタが閉じる時点を制御するようにしてもよい。
〔実施形態3〕
実施形態3について以下に説明する。ここで、図5は、実施形態3に係る撮像装置の構成例を示す図である。図5おいて、シャッタ開信号の期間を決めるのに、制御部は、LED36からの光量の累積値を計測するための光電変換素子41,抵抗38、当該光電変換素子での変換により得られた電荷を蓄積するための容量44(累積部または積分部)を含んでいる。また、当該容量に蓄積された電荷の放出(放電)のためのMOS FET45を含んでいる。また、制御部は、蓄積された電荷の情報の確度を増すために増幅演算器44を含んでいる。さらに、制御部は、比較器43を含み、その閾値を設定するため、その(−)端子に接続された抵抗39および抵抗40を含んでいる。以上の構成により、LED36からの光の強度の累積値(積分値)は、設定された閾値と比較器43で比較され、その結果、シャッタ開信号O4が得られ出力される。これにより、当該累積値が当該閾値より小さい場合は、撮像素子のシャッタは閉じられず、もって正確な光量での画像を得ることができる。よって、本実施形態によれば、例えば、撮像の効率と光量の正確さとの両立の点で有利な撮像装置を提供することができる。
実施形態3について以下に説明する。ここで、図5は、実施形態3に係る撮像装置の構成例を示す図である。図5おいて、シャッタ開信号の期間を決めるのに、制御部は、LED36からの光量の累積値を計測するための光電変換素子41,抵抗38、当該光電変換素子での変換により得られた電荷を蓄積するための容量44(累積部または積分部)を含んでいる。また、当該容量に蓄積された電荷の放出(放電)のためのMOS FET45を含んでいる。また、制御部は、蓄積された電荷の情報の確度を増すために増幅演算器44を含んでいる。さらに、制御部は、比較器43を含み、その閾値を設定するため、その(−)端子に接続された抵抗39および抵抗40を含んでいる。以上の構成により、LED36からの光の強度の累積値(積分値)は、設定された閾値と比較器43で比較され、その結果、シャッタ開信号O4が得られ出力される。これにより、当該累積値が当該閾値より小さい場合は、撮像素子のシャッタは閉じられず、もって正確な光量での画像を得ることができる。よって、本実施形態によれば、例えば、撮像の効率と光量の正確さとの両立の点で有利な撮像装置を提供することができる。
〔実施形態4〕
実施形態4について以下に説明する。ここで、図6は、実施形態4に係る撮像装置の構成例を示す図である。図6おいて、シャッタ開信号の期間を決めるのに、制御部は、LED49の電流(LEDの発する光の強度に対応)の累積値を計測するための演算増幅器54,当該電流を累積するための容量56(累積部または積分部)を含んでいる。また、当該容量に蓄積された電荷の放出(放電)のためのMOS FET57を含んでいる。さらに、制御部は、比較器55を含み、その閾値を設定するため、その(−)端子に接続された抵抗52および抵抗53を含む。以上の構成により、LED49の電流の累積値(積分値)は、設定された閾値と比較器55で比較され、その結果、シャッタ開信号O5が得られ出力される。これにより、当該累積値が当該閾値より小さい場合は、撮像素子のシャッタは閉じられず、もって正確な光量での画像を得ることができる。よって、本実施形態によれば、例えば、撮像の効率と光量の正確さとの両立の点で有利な撮像装置を提供することができる。
実施形態4について以下に説明する。ここで、図6は、実施形態4に係る撮像装置の構成例を示す図である。図6おいて、シャッタ開信号の期間を決めるのに、制御部は、LED49の電流(LEDの発する光の強度に対応)の累積値を計測するための演算増幅器54,当該電流を累積するための容量56(累積部または積分部)を含んでいる。また、当該容量に蓄積された電荷の放出(放電)のためのMOS FET57を含んでいる。さらに、制御部は、比較器55を含み、その閾値を設定するため、その(−)端子に接続された抵抗52および抵抗53を含む。以上の構成により、LED49の電流の累積値(積分値)は、設定された閾値と比較器55で比較され、その結果、シャッタ開信号O5が得られ出力される。これにより、当該累積値が当該閾値より小さい場合は、撮像素子のシャッタは閉じられず、もって正確な光量での画像を得ることができる。よって、本実施形態によれば、例えば、撮像の効率と光量の正確さとの両立の点で有利な撮像装置を提供することができる。
〔実施形態5〕
図10は、認識装置1000の構成例を示す図である。認識装置1000は、ここでは、物体(認識対象物)としてのワーク1011の外観を認識(検査)するものであるが、物体に関する認識の対象は外観には限定されず、人間には不可視の物体の特性(例えば表面粗さ等)であってもよい。また、認識対象は、物体の他の特性、例えば、物体の位置および姿勢等であってもよい。認識装置1000は、搬送部としてのコンベア1012により搬送されたワーク1011を認識するものとしうる。ワーク1011は、例えば、工業製品に利用される金属部品や樹脂部品等としうる。ワーク1011の表面には、線状の傷や、むら(表面の表面粗さや構成成分、膜厚等に依存する光反射特性の2次元的な不均一性や、非線状もしくは等方的な傷、打痕等)、吸光性の異物等の欠陥を有する場合がある。認識装置1000は、そのような欠陥を認識してワーク1011を処理する(例えば、良品と不良品とに分別する)。なお、搬送部としてのコンベア1012は、ロボットや手動等により代替されうる。
図10は、認識装置1000の構成例を示す図である。認識装置1000は、ここでは、物体(認識対象物)としてのワーク1011の外観を認識(検査)するものであるが、物体に関する認識の対象は外観には限定されず、人間には不可視の物体の特性(例えば表面粗さ等)であってもよい。また、認識対象は、物体の他の特性、例えば、物体の位置および姿勢等であってもよい。認識装置1000は、搬送部としてのコンベア1012により搬送されたワーク1011を認識するものとしうる。ワーク1011は、例えば、工業製品に利用される金属部品や樹脂部品等としうる。ワーク1011の表面には、線状の傷や、むら(表面の表面粗さや構成成分、膜厚等に依存する光反射特性の2次元的な不均一性や、非線状もしくは等方的な傷、打痕等)、吸光性の異物等の欠陥を有する場合がある。認識装置1000は、そのような欠陥を認識してワーク1011を処理する(例えば、良品と不良品とに分別する)。なお、搬送部としてのコンベア1012は、ロボットや手動等により代替されうる。
認識装置1000は、照明部1001、撮像部1002、処理部1003(PCで構成されうる)、制御部1004、表示部1005、および入力部(不図示)等を含みうる。ここで、照明部1001、撮像部1002、および制御部1004は、上述した実施形態1ないし4のうちいずれかの撮像装置におけるものとしうる。制御部1004は、例えば、処理部1003により予め設定された照明および撮像パターンに基づいて、照明部1001と撮像部1002とを同期させて制御する。照明部1001の頂部には、撮像部1002によるワーク1011の撮像が可能となるように、開口部1010が形成されている。撮像部1002は、カメラ本体と、カメラ本体内の撮像素子(上記100aに相当)にワーク1011を結像するための光学系等とから構成され、撮像により得られた画像は処理部1003に転送(送信)される。なお、処理部は、汎用のPCに限らず、専用のデバイスであってもよい。また、処理部1003と制御部1004とは、一体として構成されていてもよい。処理部1003は、撮像部1002から転送された画像(データ)に基づいて、ワーク1011の認識のための処理を行う(例えば、ワーク1011の表面(外観)の欠陥を検出する)。なお、処理部1003(処理装置)は、例えば、撮像部1002からの画像データに対して処理を行って得られた画像データの画素値に対する許容条件に基づいて当該認識を行いうる。表示部1005は、処理部1003から送信された画像や認識結果などの情報を表示する。入力部は、キーボードやマウス等から構成され、ユーザーによる入力情報等を処理部1003に送信する。
照明部1001は、複数のLED(発光部または光源)を含む。なお、発光部は、LEDに限定されるものではない。複数のLEDは、制御部1004により独立に光量と発光タイミングとを制御できる。LEDは、例えば、3つの異なる仰角に配置され、低い仰角(ローアングル)・中程度の仰角(ミドルアングル)・高い仰角(ハイアングル)からワーク1011を照明しうる。LEDは、例えば、周方向に沿って複数配置されている。このような構成により、照明部1001は、物体の明視野照明および物体の暗視野照明を含む複数の種類の照明を行う機能を有する。ここで、明視野照明の場合と暗視野照明の場合とでは、撮像に寄与する光量が互いに異なりうるため、照明の光量(パルス光の数および幅のうち少なくとも一方)が異なりうる。予め設定されたLEDを順次点灯させ、当該点灯に同期して撮像部1002による撮像を行わせることにより、様々な照明条件(仰角および方位角の組合せ等)でワーク1011を照明した場合の画像を取得することができる。これにより、多様な種類の欠陥の認識に有利となりうる。
制御部1004は、照明部1001の行う複数の種類の照明のうちの1つに基づいて、照明の光量の変調に用いるパルス光の数および幅のうち少なくとも一方を決定しうる。
また、制御部1004は、照明部1001の行う複数の種類の照明のうちの1つに基づいて、撮像素子のシャッタが閉じる時点を遅延部5が遅延させる時間(遅延時間T4)を決定しうる。
〔実施形態6〕
上述した実施形態5における認識装置1000は、物品の製造方法に使用しうる。かかる物品の製造方法は、認識装置1000を用いて物体の認識を行う工程と、当該工程で認識を行われた物体を(当該認識の結果に基づいて)処理する工程と、を含みうる。当該処理は、例えば、加工、切断、搬送、組立(組付)、検査、および選別のうちの少なくともいずれか一つを含みうる。本実施形態の物品製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストのうちの少なくとも1つにおいて有利である。
上述した実施形態5における認識装置1000は、物品の製造方法に使用しうる。かかる物品の製造方法は、認識装置1000を用いて物体の認識を行う工程と、当該工程で認識を行われた物体を(当該認識の結果に基づいて)処理する工程と、を含みうる。当該処理は、例えば、加工、切断、搬送、組立(組付)、検査、および選別のうちの少なくともいずれか一つを含みうる。本実施形態の物品製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストのうちの少なくとも1つにおいて有利である。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。例えば、上述の各実施形態において、制御部は、撮像素子のシャッタが開くのが遅延する時間に基づいて、照明部への信号を遅延させるようにしてもよい。
1、4、7 照明部
100 撮像部
100a 撮像素子
2、3、5、6 制御部
100 撮像部
100a 撮像素子
2、3、5、6 制御部
Claims (14)
- 撮像装置であって、
物体の照明を行う照明部と、
撮像素子を含み、前記照明を行われた前記物体を前記撮像素子で撮像する撮像部と、
前記照明部からの光パルスの数および幅のうち少なくとも一方での変調により前記照明の光量を得、前記照明部による前記光量での前記照明の終了に合わせて前記撮像素子のシャッタが閉じるように、前記照明部と前記撮像部とを制御する制御部と、
を有することを特徴とする撮像装置。 - 前記制御部は、前記数および前記幅の両方で前記変調を行うことを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記制御部は、前記光パルスの遅延時間に基づいて、前記シャッタが閉じる時点を制御することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記制御部は、前記シャッタが閉じる時点を、前記光パルスの周期と前記数と前記遅延時間とに基づいて制御することを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。
- 前記制御部は、前記遅延時間に対応する時間だけ前記シャッタが閉じる時点を遅延させる遅延部を含み、前記光パルスの数、幅、および周期のうち少なくとも一つに基づいて、前記遅延部が前記時点を遅延させる前記時間を決定することを特徴とする請求項3に記載の撮像装置。
- 前記照明部からの出力を検出する検出部を有し、
前記制御部は、前記検出部からの出力に基づいて、前記シャッタが閉じる時点を制御することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記照明部への入力を検出する検出部を有し、
前記制御部は、前記検出部からの出力に基づいて、前記シャッタが閉じる時点を制御することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記照明部からの出力を累積する累積部を有し、
前記制御部は、前記累積部からの出力に基づいて、前記シャッタが閉じる時点を制御することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記照明部への入力を累積する累積部を有し、
前記制御部は、前記累積部からの出力に基づいて、前記シャッタが閉じる時点を制御することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 - 前記制御部は、前記シャッタが開くのが遅延する時間に基づいて、前記前記照明部への信号を遅延させることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 物体に関する認識を行う認識装置であって、
前記物体を撮像する請求項1に記載の撮像装置と、
前記撮像装置により得られた画像データの処理を行う処理装置と、
を有することを特徴とする認識装置。 - 前記照明部は、前記物体の明視野照明および前記物体の暗視野照明を含む複数の種類の照明を行う機能を有し、
前記制御部は、前記照明部の行う前記複数の種類の照明のうちの1つに基づいて、前記変調に用いる前記数および前記幅のうち少なくとも一方を決定することを特徴とする請求項11に記載の認識装置。 - 前記制御部は、前記光パルスの遅延時間に対応する時間だけ前記シャッタが閉じる時点を遅延させる遅延部を含み、前記照明部の行う前記複数の種類の照明のうちの1つに基づいて、前記遅延部が前記時点を遅延させる前記時間を決定することを特徴とする請求項12に記載の認識装置。
- 請求項11に記載の認識装置を用いて物体に関する認識を行う工程と、
前記工程で前記認識を行われた前記物体を処理する工程と、
を含むことを特徴とする物品製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016091583A JP2017198611A (ja) | 2016-04-28 | 2016-04-28 | 撮像装置、認識装置、および物品製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016091583A JP2017198611A (ja) | 2016-04-28 | 2016-04-28 | 撮像装置、認識装置、および物品製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017198611A true JP2017198611A (ja) | 2017-11-02 |
Family
ID=60237766
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016091583A Pending JP2017198611A (ja) | 2016-04-28 | 2016-04-28 | 撮像装置、認識装置、および物品製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2017198611A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020183842A1 (ja) * | 2019-03-12 | 2020-09-17 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 制御回路および測距システム |
-
2016
- 2016-04-28 JP JP2016091583A patent/JP2017198611A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020183842A1 (ja) * | 2019-03-12 | 2020-09-17 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 制御回路および測距システム |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN112557408B (zh) | 频闪阶梯照明缺陷检测*** | |
JP7476145B2 (ja) | 画像処理方法および撮影装置 | |
US10416086B2 (en) | Image inspection device | |
WO1991010111A1 (en) | Apparatus for measuring three-dimensional coordinate | |
US20040223053A1 (en) | Machine vision inspection system and method having improved operations for increased precision inspection throughput | |
JPH0325740B2 (ja) | ||
JP2016501426A5 (ja) | ||
US11367225B2 (en) | Image inspection apparatus | |
JP5028567B2 (ja) | 光照射装置及び調光方法 | |
US10887506B2 (en) | Image inspection device, image inspection method and computer readable recording medium | |
JP2015035715A5 (ja) | ||
IL276335B1 (en) | Inspection of any drug based on camera | |
KR20140013818A (ko) | 카메라 이동형 자동 광학 검사 장치 | |
JP2015059810A (ja) | 外観検査システム | |
CN104793449A (zh) | 滤光片切换装置及其切换方法 | |
JP2017198611A (ja) | 撮像装置、認識装置、および物品製造方法 | |
US11040452B2 (en) | Depth sensing robotic hand-eye camera using structured light | |
CN102387321A (zh) | 摄像装置 | |
US20210400252A1 (en) | Imaging method, imaging system, manufacturing system, and method for manufacturing a product | |
US20200146117A1 (en) | Method for parameterizing a machine-vision lighting device | |
JP6774641B2 (ja) | 塗布装置および塗布方法 | |
JP2008217303A (ja) | 画像取得方法、画像取得装置及び物品検査装置 | |
JP2006210531A (ja) | 部品実装機の画像認識装置 | |
JP2020036226A (ja) | 撮影タイミング制御装置、撮像システムおよび撮像方法 | |
CN104125401A (zh) | 控制图像传感器工作的方法和拍摄装置 |