JP2017152858A - Radiation imaging apparatus, radiation imaging system, and processing method of radiation imaging apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、放射線撮像装置、放射線撮像システム及び放射線撮像装置の処理方法に関する。 The present invention relates to a radiation imaging apparatus, a radiation imaging system, and a processing method for the radiation imaging apparatus.
近年、デジタル画像として被写体のX線画像を撮像するX線撮像システムが開発されている。このX線撮像システムは、銀塩写真を用いるX線写真システムと比較して、極めて広範囲のX線露出域に渡って画像を記録できるという実用的な利点を有している。具体的には、X線撮像システムは、極めて広範囲のダイナミックレンジのX線を、例えば蛍光体を介して光電変換して電気信号として読み取り、その電気信号を更にデジタル信号に変換する。そして、X線撮像システムは、デジタル信号を処理して、写真感光材料等の記録材料やCRT等の表示装置に、可視画像としてX線画像を出力することにより、X線露光量がある程度変動しても良好なX線画像を得ることができる。 In recent years, an X-ray imaging system that captures an X-ray image of a subject as a digital image has been developed. This X-ray imaging system has a practical advantage that an image can be recorded over an extremely wide X-ray exposure area as compared with an X-ray photography system using a silver salt photograph. Specifically, the X-ray imaging system photoelectrically converts X-rays in a very wide dynamic range through, for example, a phosphor and reads them as electrical signals, and further converts the electrical signals into digital signals. The X-ray imaging system processes the digital signal and outputs an X-ray image as a visible image to a recording material such as a photographic photosensitive material or a display device such as a CRT. However, a good X-ray image can be obtained.
近年、撮像装置は、画素の高精細化と大画素数化が進み、例えば、横方向2000画素×縦方向2000画素を超える画素数を有する撮像装置が開発されている。このような撮像装置には、正常な出力値が得られない欠陥画素が存在する。この欠陥画素を補正するために、特許文献1には、撮像条件(画素加算設定)に応じて、欠陥画素情報を切り替え、画像データを補正する方法が開示されている。また、特許文献2には、撮像部への高電圧印加開始に起因して出現する欠陥画素に対して、高電圧印加からの経過時間に応じた補正方法が開示されている。 In recent years, image pickup devices have been developed with higher definition and larger number of pixels, and for example, image pickup devices having a number of pixels exceeding 2000 pixels in the horizontal direction × 2000 pixels in the vertical direction have been developed. In such an imaging apparatus, there are defective pixels for which a normal output value cannot be obtained. In order to correct this defective pixel, Patent Document 1 discloses a method for correcting image data by switching defective pixel information according to an imaging condition (pixel addition setting). Patent Document 2 discloses a correction method according to the elapsed time from high voltage application for a defective pixel that appears due to the start of high voltage application to the imaging unit.
X線撮像装置には、正しい画素値が出力されない欠陥画素が存在する場合がある。しかし、欠陥画素の種類によっては、引用文献1及び2では、適切な欠陥補正を行えない場合がある。 In the X-ray imaging apparatus, there may be a defective pixel for which a correct pixel value is not output. However, depending on the type of defective pixel, there are cases in which the cited reference 1 and 2 cannot perform appropriate defect correction.
本発明の目的は、撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素に対して、適切な補正を行うことができる放射線撮像装置、放射線撮像システム及び放射線撮像装置の処理方法を提供することである。 An object of the present invention is to provide a radiation imaging apparatus, a radiation imaging system, and a processing method for the radiation imaging apparatus that can perform appropriate correction on a defective pixel whose normal output or abnormal output changes depending on the number of images to be captured. That is.
本発明の放射線撮像装置は、撮像のために各々が放射線を電荷に変換することにより画素データを生成する複数の画素と、撮像枚数に応じて、欠陥画素情報を用いて、前記複数の画素のうちの欠陥画素の画素データを補正する欠陥補正処理部とを有する。 The radiation imaging apparatus of the present invention uses a plurality of pixels that generate pixel data by converting radiation into electric charges for imaging, and defective pixel information according to the number of images to be captured. A defect correction processing unit for correcting pixel data of the defective pixels.
本発明によれば、撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素に対して、適切な補正を行うことができる。 According to the present invention, it is possible to perform appropriate correction on a defective pixel whose normal output or abnormal output changes depending on the number of captured images.
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態による大面積フラットパネル式の放射線撮像システムの構成例を示す図である。放射線撮像システムは、大面積フラットパネル式の放射線動画撮像システムであり、放射線撮像装置100、システム制御装置101、画像表示装置102、X線発生装置103、及びX線管104を有する。撮像時には、システム制御装置101は、放射線撮像装置100とX線発生装置103を同期制御する。X線管104は、放射線源であり、X線発生装置103の制御の下、被写体を介して放射線撮像装置100に放射線(X線)を照射する。放射線撮像装置100は、被写体を透過したX線をシンチレータにより可視光に変換し、光電変換素子により光量に応じた電荷を生成し、アナログ画像をデジタル画像に変換し、X線照射に対応したフレーム画像データをシステム制御装置101に出力する。システム制御装置101は、画像処理を行い、画像表示装置102に放射線画像をリアルタイムで表示する。
(First embodiment)
FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of a large area flat panel radiation imaging system according to the first embodiment of the present invention. The radiation imaging system is a large area flat panel radiographic imaging system, and includes a
放射線撮像装置100は、フラットパネルセンサ105と、差動増幅器107と、A/D変換器108と、撮像制御部109とを有する。フラットパネルセンサ105は、16列×2行の行列状の複数の矩形半導体基板120を有する。矩形半導体基板120は、シリコン半導体ウエハ上の二次元行列状の画素(光電変換素子を含む)を短冊状に切り出したCMOS型撮像素子であり、平面基台上に16列×2行の行列状にタイリングされている。複数の矩形半導体基板120の各々は、シンチレータと、等ピッチで二次元行列状に配置された複数の画素とを有する。シンチレータは、放射線を光に変換する。複数の画素の各々は、光電変換素子により、その光を電荷に変換し、画素信号を出力する。すなわち、複数の画素は、撮像のために各々が放射線を電荷に変換することにより画素データを生成する。隣接する矩形半導体基板120の境界を挟む領域の画素は、矩形半導体基板120上の画素と同じピッチになるように、隣接する矩形半導体基板120がタイリングされている。フラットパネルセンサ105の上辺部と下辺部には、矩形半導体基板120の外部端子(電極パット)が一列に並んでいる。矩形半導体基板120の電極パットは、フライングリード式プリント配線板で外部の回路に接続される。
The
複数の矩形半導体基板120は、それぞれ、行列状の複数の画素により、複数の画素信号を複数の差動増幅器107に出力する。複数の差動増幅器107は、それぞれ、複数の矩形半導体基板120が出力する画素信号を増幅してA/D変換器108に出力する。複数のA/D変換器108は、それぞれ、複数の差動増幅器107が出力する画素信号をアナログからデジタルに変換し、デジタルの画素信号を撮像制御部109に出力する。この時、1個の矩形半導体基板120に対して、1個の差動増幅器107及び1個のA/D変換器108を設けることにより、各矩形半導体基板120の画素信号を並行して同時読み出し制御することが可能となり、画素読み出し処理の高速化が達成できる。
Each of the plurality of
撮像制御部109は、システム制御装置101に対して、制御コマンドの通信、同期信号の通信、画像データの送信を行う。また、撮像制御部109は、フラットパネルセンサ105に対して駆動制御及び撮像モード制御を行い、複数のA/D変換器108から入力されたデジタル画像データをフレームデータに合成し、システム制御装置101に出力する。
The
コマンド制御用インターフェース110は、システム制御装置101から撮像制御部109への撮像モードの設定、各種パラメータの設定、撮像開始設定、撮像終了設定等を通信する。また、コマンド制御用インターフェース110は、撮像制御部109からシステム制御装置101への放射線撮像装置100の状態等を通信する。画像データインターフェース111は、撮像制御部109からシステム制御装置101へ画像データを送信する。READY信号112は、放射線撮像装置100が撮像可能状態になったことを撮像制御部109からシステム制御装置101へ伝える信号である。外部同期信号113は、システム制御装置101が撮像制御部109のREADY信号112を受けると、システム制御装置101が撮像制御部109にX線照射のタイミングを知らせる信号である。照射許可信号114は、照射許可信号114がイネーブルの間にシステム制御装置101からX線発生装置103に照射信号が送信され、放射線撮像装置100は、X線管104から照射されたX線に基づくX線画像を形成する。
The
放射線撮像装置100は、画素数が増え、画像処理のデータ量及び通信のデータ量が増えているため、フレームレートの高速化が求められている。なお、放射線撮像装置100とシステム制御装置101との通信系は、放射線撮像装置100とシステム制御装置101との間の信号線数を考慮し、双方向シリアル通信系にしてもよい。
The
図2は、図1の撮像制御部109の構成例を示す図である。撮像制御部109は、FPGA200と、メモリ210と、不揮発性メモリ211とを有する。FPGA200は、欠陥補正処理を行う欠陥補正処理部である。FPGA200は、コントローラ201と、複数の欠陥処理モジュール202と、画像データ結合モジュール209とを有する。メモリ210は、欠陥画素情報を記憶する。コントローラ201は、メモリ210から欠陥画素情報を読み出す。メモリ210は、高速読み出しを可能とするために、DDRメモリ等が使用される。放射線撮像装置100は、電源起動時や撮像動作設定時に、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリ211から、欠陥画素情報を読み出してDDRメモリ210にコピーする。複数の欠陥処理モジュール202は、それぞれ、複数のA/D変換器108から入力した画像データに対して、欠陥補正処理を行う。また、複数の欠陥処理モジュール202は、複数のA/D変換器108が同時出力した画像データを並行処理するために、画像データ系統数分設けられる。例えば、図1のように、矩形半導体基板120が16列×2行分の数だけ構成された場合は、32系統分の欠陥処理モジュール202が設けられる。
FIG. 2 is a diagram illustrating a configuration example of the
コントローラ201は、読み出し制御モジュール203と、FIFO204と、セレクタ205とを有する。読み出し制御モジュール203は、メモリ210から欠陥画素情報を読み出す。詳細は後述するが、矩形半導体基板120は、1ライン毎、順次画像データを出力するため、読み出し制御モジュール203も、ライン方向の欠陥画素情報をメモリ210から順次読み出す。そして、読み出し制御モジュール203は、読み出した欠陥画素情報を、FIFO204及びセレクタ205を介して、複数の欠陥処理モジュール206内のシフトレジスタ207に書き込む。このシフトレジスタ207への欠陥画素情報の書き込み処理は、矩形半導体基板120から出力される画像データの欠陥補正処理のタイミングに間に合うように実施する。ここで、FIFO204及びシフトレジスタ207の容量は、1画像フレーム分用意する必要はなく、容量削減のため、ライン毎の各データ処理に間に合う範囲で、複数ライン分用意すればよい。
The
欠陥処理モジュール202は、FIFO206と、シフトレジスタ207と、欠陥処理部208とを有する。欠陥処理モジュール202は、A/D変換器108から入力した画像データをFIFO206に順次書き込む。欠陥処理部208は、FIFO206の画像データに対して、シフトレジスタ207に書き込まれた欠陥画素情報を用いながら、欠陥補正処理を行い、欠陥補正処理後の画像データを画像データ結合モジュール209へ出力する。欠陥補正処理は、例えば、矩形半導体基板120の欠陥画素の画素値を0へ置き換えたり、欠陥画素の周辺画素の画素値を用いた補正値に欠陥画素の画素値を置き換えたりする処理である。欠陥画素の画素値を0へ置き換える処理方法においては、画像データと欠陥画素情報との論理積(AND)を順番に演算することにより、欠陥画素の画素値を0へ変換することができる。欠陥画素情報は画素毎に設けられ、欠陥画素の欠陥画素情報は0であり、正常画素の欠陥画素情報は1にすればよい。
The
複数の欠陥処理モジュール202は、それぞれ、並列処理された欠陥補正処理後の画像データを画像データ結合モジュール209に出力する。画像データ結合モジュール209は、欠陥補正処理後の画像データに対してフレーム化等の結合処理を行い、システム制御装置101との画像データ通信プロトコルに応じて、結合処理された画像データをシステム制御装置101へ出力する。
Each of the plurality of
フラットパネルセンサ105は、例えば、11インチ×11インチ等の大サイズの撮像領域を有するが、正しい画素値が出力されない欠陥画素が存在する。図3に示すように、動画撮像において、この欠陥画素のうち、1枚目の撮像では異常出力となり、2枚目以降の撮像を繰り返すうちに、出力異常の程度が低減していく。例えば、撮像枚数が10枚を過ぎると、正常出力となるような振る舞いをする欠陥画素が見つかっている。このような振る舞いの欠陥画素を、特許文献1のように、定常的な欠陥情報として定義する方法だと、正常出力となった後も、過剰に無駄な欠陥補正を行ってしまう。また、特許文献2のように、撮像部への高電圧印加からの経過時間によって、欠陥補正サイズを変更する方法では、高電圧印加からしばらく時間が経過した後に1枚目の動画撮像を開始する操作に対しては、適切な欠陥補正を行えない。
The
以下、図3のような欠陥画素を適切に欠陥補正処理する方法を説明する。放射線撮像装置100の出荷前の検査工程にて、欠陥画素を抽出する作業を行うが、その際、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素と、定常的に異常出力となる通常の欠陥画素とを、区別して抽出する。また、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素においては、何枚で正常出力となるかを検査する。次に、放射線撮像装置100は、上記の撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素及び通常の欠陥画素が登録された欠陥画素情報と、通常の欠陥画素のみが登録された欠陥画素情報とを、それぞれ用意し、不揮発性メモリ211上に保存する。また、放射線撮像装置100は、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素が、何枚で正常出力となるかの検査結果の撮像枚数nを、不揮発性メモリ211上に保存する。放射線撮像装置100は、電源起動時に、不揮発性メモリ211上の欠陥画素情報及び検査結果をメモリ210にコピーする。
Hereinafter, a method of appropriately performing defect correction processing on a defective pixel as shown in FIG. 3 will be described. In the inspection process before shipment of the
図4は、不揮発性メモリ211及びメモリ210のアドレスマップの一例を示す図である。不揮発性メモリ211は、画素加算モード及びゲイン設定等によって、複数の欠陥画素情報を記憶する。不揮発性メモリ211は、画素加算モード及びゲイン設定等の各々に対して、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素及び通常の欠陥画素の両者が登録された欠陥画素情報と、通常の欠陥画素のみが登録された欠陥画素情報とを、異なるアドレス領域に記憶する。メモリ210は、不揮発性メモリ211と同じ情報を記憶する。
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of an address map of the
なお、その他の欠陥画素情報の構成例としては、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素のみが登録された欠陥画素情報と、通常の欠陥画素のみが登録された欠陥画素情報とを、別々のアドレスに保存しておいてもよい。その場合、欠陥補正処理時に、後述するフローチャートの欠陥画素情報切り替え処理に応じて、両者の欠陥画素情報を読み出し時に重ねあわせて、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素及び通常の欠陥画素が登録された欠陥画素情として扱ってもよい。 As other configuration examples of defective pixel information, defective pixel information in which only defective pixels that are normally output according to the number of captured images are registered and defective pixel information in which only normal defective pixels are registered are separately provided. You may save it at the address. In that case, during the defect correction process, the defective pixel information and the normal defective pixel that are normally output according to the number of captured images are obtained by superimposing the defective pixel information of both in accordance with the defective pixel information switching process of the flowchart described later. It may be handled as registered defective pixel information.
図5は、本実施形態による放射線撮像システムの処理方法を示すフローチャートである。放射線撮像システムの電源がオンされた後、ステップS31では、システム制御装置101は、放射線撮像装置100に対して、撮像モードを設定する。撮像モードの設定パラメータとしては、駆動方法設定、電荷蓄積時間設定、フレームレート設定、画素加算設定、ゲイン設定、等が挙げられる。次に、ステップS32では、放射線撮像装置100は、動画撮像開始が指示されると、1枚目から順に動画の撮像を開始する。次に、ステップS33では、FPGA200は、メモリ210内の欠陥画素情報Aを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ここで、欠陥画素情報Aは、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素及び通常欠陥画素が登録された欠陥画素情報である。次に、ステップS34では、FPGA200は、動画撮像の撮像枚数が、検査結果の撮像枚数n(例えば10枚)に達したか否かを判定し、達していない場合にはステップS33に処理を戻し、達した場合にはステップS35に処理を進める。ステップS33では、FPGA200は、再び、欠陥画素情報Aを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ステップS35では、FPGA200は、メモリ210内の欠陥画素情報Bを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ここで、欠陥画素情報Bは、通常欠陥画素のみが登録された欠陥画素情報である。
FIG. 5 is a flowchart showing the processing method of the radiation imaging system according to the present embodiment. After the radiation imaging system is turned on, the
図3の欠陥画素は、1〜9枚目の撮像では異常出力となり、10枚目以降の撮像では正常出力となる。FPGA200は、1〜9枚目の撮像では、ステップS33において欠陥画素情報Aを用いて欠陥補正処理を行う(図3の欠陥画素の欠陥補正を行う)。また、FPGA200は、10枚目以降の撮像では、ステップS35において欠陥画素情報Bを用いて欠陥補正処理を行う(図3の欠陥画素の欠陥補正を行わない)。このように、FPGA200は、撮像枚数に応じて、欠陥画素情報を切り替えて、フラットパネルセンサ105内の複数の画素のうちの欠陥画素の画素データを補正する。これにより、撮像枚数に応じて正常画素となる欠陥画素に対して、適切な欠陥補正処理を行うことができる。
The defective pixel in FIG. 3 becomes an abnormal output in the first to ninth imaging, and becomes a normal output in the tenth and subsequent imaging. In the first to ninth imaging operations, the
FPGA200が補正する欠陥画素の数は、撮像枚数に応じて変わる。FPGA200は、撮像枚数に応じて、図3の撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素の画素データを補正する。具体的には、FPGA200は、撮像枚数nより少ない第1の撮像枚数の場合には、ステップS33において、撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素と常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正する。また、FPGA200は、撮像枚数nより多い第2の撮像枚数の場合には、ステップS35において、常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正する。
The number of defective pixels to be corrected by the
(第2の実施形態)
図6は、本発明の第2の実施形態による放射線撮像システムの処理方法を示すフローチャートである。本実施形態では、ある特定の撮像モードAのみ撮像枚数に応じて欠陥画素情報を切り替える処理と、欠陥画素情報の切り替えを複数回行う処理を示す。撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素は、図3に示したように、撮像枚数に応じて段階的に異常範囲が狭くなる特性があるので、より適切な欠陥補正を行うために、段階的に欠陥画素情報を切り替えることが効果的である。また、正常出力となる撮像枚数が、対象の複数の欠陥画素によってばらつきがある場合は、欠陥画素情報の切り替わり撮像枚数のポイントを複数用意することが効果的である。いずれの場合も、検査工程の欠陥画素情報抽出過程において、上記の欠陥画素の内容に応じた欠陥画素情報を複数用意する必要がある。また、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素の振る舞いが、特定の撮像モードAでのみ出現した場合は、その特定の撮像モードAでの撮像時のみ、撮像枚数に応じた欠陥画素情報の切り替えを行うことができる。
(Second Embodiment)
FIG. 6 is a flowchart showing a processing method of the radiation imaging system according to the second embodiment of the present invention. In the present embodiment, a process of switching defective pixel information according to the number of captured images only in a specific imaging mode A and a process of switching defective pixel information a plurality of times are shown. As shown in FIG. 3, a defective pixel that normally outputs in accordance with the number of images to be picked up has a characteristic that the abnormal range narrows step by step in accordance with the number of images to be picked up. In particular, it is effective to switch defective pixel information. In addition, when the number of images for normal output varies depending on a plurality of target defective pixels, it is effective to prepare a plurality of points for the number of images to be captured for switching defective pixel information. In any case, it is necessary to prepare a plurality of pieces of defective pixel information corresponding to the contents of the defective pixels in the defective pixel information extraction process in the inspection process. In addition, when the behavior of a defective pixel that is normally output in accordance with the number of captured images appears only in a specific imaging mode A, the defective pixel information corresponding to the number of captured images is displayed only when imaging in the specific imaging mode A. Switching can be done.
放射線撮像システムの電源がオンされた後、ステップS51では、システム制御装置101は、放射線撮像装置100に対して、撮像モードを設定する。撮像モードの設定パラメータとしては、駆動方法設定、電荷蓄積時間設定、フレームレート設定、画素加算設定、ゲイン設定、等が挙げられる。次に、ステップS52では、放射線撮像装置100は、設定された撮像モードが撮像モードAであるか否かを判定し、撮像モードAである場合にはステップS53に処理を進め、撮像モードAでない場合にはステップS59に処理を進める。ステップS59では、放射線撮像装置100は、動画撮像開始が指示されると、1枚目から順に動画の撮像を開始し、ステップS58に処理を進める。ステップS53では、放射線撮像装置100は、動画撮像開始が指示されると、1枚目から順に動画の撮像を開始し、ステップS54に処理を進める。
After the power of the radiation imaging system is turned on, the
ステップS54では、FPGA200は、メモリ210内の欠陥画素情報Xを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ここで、欠陥画素情報Xは、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素Kと撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素Lと通常欠陥画素が登録された欠陥画素情報である。次に、ステップS55では、FPGA200は、動画撮像の撮像枚数が、検査結果の撮像枚数n(例えば10枚)に達したか否かを判定し、達していない場合にはステップS54に処理を戻し、達した場合にはステップS56に処理を進める。ステップS54では、FPGA200は、再び、欠陥画素情報Xを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ステップS56では、FPGA200は、メモリ210内の欠陥画素情報Yを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ここで、欠陥画素情報Yは、撮像枚数に応じて正常出力となる欠陥画素Lと通常欠陥画素が登録された欠陥画素情報である。
In step S <b> 54, the
次に、ステップS57では、FPGA200は、動画撮像の撮像枚数が、検査結果の撮像枚数m(mはnより大きい)に達したか否かを判定し、達していない場合にはステップS56に処理を戻し、達した場合にはステップS58に処理を進める。ステップS56では、FPGA200は、再び、欠陥画素情報Yを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ステップS58では、FPGA200は、メモリ210内の欠陥画素情報Zを用いて、画像データの欠陥補正処理を行う。ここで、欠陥画素情報Zは、通常欠陥画素のみが登録された欠陥画素情報である。
Next, in step S57, the
以上のように、1〜n−1枚目の撮像では、ステップS54において、欠陥画素Kと欠陥画素Lと通常欠陥画素が異常出力となるので、FPGA200は、欠陥画素情報Xを用いて、欠陥画素Kと欠陥画素Lと通常欠陥画素の欠陥補正を行う。n〜m−1枚目の撮像では、ステップS56において、欠陥画素Lと通常欠陥画素が異常出力となるので、FPGA200は、欠陥画素情報Yを用いて、欠陥画素Lと通常欠陥画素の欠陥補正を行う。m枚目以降の撮像では、ステップS58において、通常欠陥画素が異常出力となるので、FPGA200は、欠陥画素情報Zを用いて、通常欠陥画素の欠陥補正を行う。
As described above, in the first to (n−1) -th imaging, the defective pixel K, the defective pixel L, and the normal defective pixel are abnormally output in step S54. Therefore, the
また、撮像モードAの場合には、FPGA200は、ステップS54,S56,S58において、欠陥画素Kと欠陥画素Lと通常欠陥画素の欠陥補正を行う。撮像モードA以外の撮像モードである場合には、FPGA200は、ステップS58において、通常欠陥画素の欠陥補正を行う。FPGA200は、第1の撮像モードAにおいて、撮像枚数mより少ない第1の撮像枚数の場合には、ステップS54及びS56において、撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素と常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正する。また、FPGA200は、第1の撮像モードAにおいて、撮像枚数mより多い第2の撮像枚数の場合には、ステップS58において、常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正する。また、FPGA200は、第1の撮像モードA以外の第2の撮像モードでは、ステップS58において、常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正する。
In the case of the imaging mode A, the
撮像枚数が第1の閾値撮像枚数nより少ない場合に補正する欠陥画素の数は、撮像枚数が第1の閾値撮像枚数nより多い場合に補正する欠陥画素の数より多い。また、撮像枚数が第1の閾値撮像枚数nより多くかつ第2の閾値撮像枚数mより少ない場合に補正する欠陥画素の数は、撮像枚数が第2の閾値撮像枚数mより多い場合に補正する欠陥画素の数より多い。 The number of defective pixels to be corrected when the number of captured images is smaller than the first threshold number of captured images n is larger than the number of defective pixels to be corrected when the number of captured images is greater than the first threshold number of captured images n. In addition, the number of defective pixels to be corrected when the number of captured images is larger than the first threshold image-capturing number n and smaller than the second threshold image-capturing number m is corrected when the number of captured images is greater than the second threshold image-capturing number m. More than the number of defective pixels.
なお、第1及び第2の実施形態では、撮像枚数に応じて、異常出力から正常出力へと変化していく振る舞いの欠陥画素について述べたが、撮像枚数に応じて、正常出力から異常出力へと変化していく振る舞いの欠陥画素にも適用することができる。その場合、欠陥画素情報を切り替える手段は同じであり、切り替える順番を欠陥画素の振る舞いに応じて変更することにより、適切な欠陥補正を行うことができる。 In the first and second embodiments, the defective pixel whose behavior is changed from the abnormal output to the normal output according to the number of captured images has been described, but from the normal output to the abnormal output according to the number of captured images. It can also be applied to defective pixels with changing behavior. In this case, the means for switching the defective pixel information is the same, and appropriate defect correction can be performed by changing the switching order according to the behavior of the defective pixel.
その場合、撮像枚数が第1の閾値撮像枚数nより少ない場合に補正する欠陥画素の数は、撮像枚数が第1の閾値撮像枚数nより多い場合に補正する欠陥画素の数より少ない。また、撮像枚数が第1の閾値撮像枚数nより多くかつ第2の閾値撮像枚数mより少ない場合に補正する欠陥画素の数は、撮像枚数が第2の閾値撮像枚数mより多い場合に補正する欠陥画素の数より少ない。 In this case, the number of defective pixels to be corrected when the number of captured images is smaller than the first threshold number of captured images n is smaller than the number of defective pixels to be corrected when the number of captured images is greater than the first threshold number of captured images n. In addition, the number of defective pixels to be corrected when the number of captured images is larger than the first threshold image-capturing number n and smaller than the second threshold image-capturing number m is corrected when the number of captured images is greater than the second threshold image-capturing number m. Less than the number of defective pixels.
また、第1及び第2の実施形態は、画像の読み出し順番や、欠陥画素情報の配置方法に限定されるものではなく、目的、状態、用途及び機能その他の仕様に応じて、適宜、変更が可能である。 In addition, the first and second embodiments are not limited to the image reading order and the arrangement method of defective pixel information, and can be appropriately changed according to the purpose, state, application, function, and other specifications. Is possible.
なお、上記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。 The above-described embodiments are merely examples of implementation in carrying out the present invention, and the technical scope of the present invention should not be construed in a limited manner. That is, the present invention can be implemented in various forms without departing from the technical idea or the main features thereof.
100 放射線撮像装置、101 システム制御装置、102 画像表示装置、103 X線発生装置、104 X線管、105 フラットパネルセンサ、107 差動増幅器、108 A/D変換器、109 撮像制御部、120 矩形半導体基板
DESCRIPTION OF
Claims (11)
撮像枚数に応じて、欠陥画素情報を用いて、前記複数の画素のうちの欠陥画素の画素データを補正する欠陥補正処理部と
を有することを特徴とする放射線撮像装置。 A plurality of pixels each generating pixel data by converting radiation into charge for imaging;
A radiation imaging apparatus comprising: a defect correction processing unit that corrects pixel data of a defective pixel among the plurality of pixels using defective pixel information in accordance with the number of images to be captured.
第1の撮像モードでは、第1の撮像枚数の場合には、前記撮像枚数に応じて正常出力か異常出力かが変わる欠陥画素と常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正し、第2の撮像枚数の場合には、常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正し、
第2の撮像モードでは、常に異常出力する欠陥画素の画素データを補正することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の放射線撮像装置。 The defect correction processing unit
In the first imaging mode, in the case of the first imaging number, the pixel data of the defective pixel whose normal output or abnormal output changes according to the number of imaging and the defective pixel that always outputs abnormally are corrected, and the second In the case of the number of captured images, correct the pixel data of defective pixels that always output abnormally,
5. The radiation imaging apparatus according to claim 1, wherein in the second imaging mode, pixel data of a defective pixel that is always abnormally output is corrected.
放射線を照射する放射線源と
を有することを特徴とする放射線撮像システム。 The radiation imaging apparatus according to any one of claims 1 to 9,
A radiation imaging system comprising: a radiation source for irradiating radiation.
欠陥補正処理部により、撮像枚数に応じて、欠陥画素情報を用いて、前記複数の画素のうちの欠陥画素の画素データを補正する欠陥補正処理ステップを有することを特徴とする放射線撮像装置の処理方法。 A method for processing a radiation imaging apparatus having a plurality of pixels, each of which generates pixel data by converting radiation into electric charge for imaging,
Processing of a radiation imaging apparatus comprising a defect correction processing step of correcting pixel data of a defective pixel among the plurality of pixels by using a defective pixel information according to the number of captured images by a defect correction processing unit Method.
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